JP7407529B2 - 基板載置台、基板処理装置及び温度制御方法 - Google Patents
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Description
図1は、第1実施形態に係る基板処理装置全体を示す模式図である。図1に示すように、基板処理装置1は、基板3が載置される基板載置台5と、基板載置台5が設けられた処理室6と、基板3を処理するための処理ガスを処理室6に供給する処理ガス供給部7と、基板3と基板載置台5との間の閉空間(伝熱ガス空間)に伝熱ガスとしての伝熱ガスを供給する伝熱ガス供給部8と、処理室6内から処理ガスを排出するための処理ガス排出部9と、を備える。
1)外側領域F1内の外側流路26の穴から、コンダクタンスバンド23までの経路
2)コンダクタンスバンド23と基板3との間の空隙Gを通る経路
3)コンダクタンスバンド23から、内側領域F2内の内側流路27の穴までの経路
が直列につながった流体経路と見なす。各部位のコンダクタンスを計算すると、
1)6×10-6[m3/sec]、2)1×10-6[m3/sec]、3)1×10-4[m3/sec]となる。全体の圧力差は、50[Torr]-40[Torr]=10[Torr]である。この圧力差は、コンダクタンスの逆数の比になるように分配されるので、本実施形態のコンダクタンスバンド23の外周と内周では全体の圧力差の85[%]に相当する8.5[Torr]の圧力差が生じることとなる。このとき、全体の圧力差である10[Torr]によって生じる伝熱ガスの流量は、標準大気圧下において毎分0.67[cc]である。
図3は、第1実施形態に係る基板載置台5を示す平面図である。図4は、第1実施形態に係る基板載置台5を示す縦断面図であり、図3におけるA-A線に沿う縦断面図である。図3及び図4に示すように、基板載置台5は、基板3が載置される載置面21aを有する基部21と、基板3の外周側に沿って基板3を支持する環状の支持部材としてのシールバンド22と、載置面21aに載置される基板3の径方向(以下、単に基板3の径方向とも称する。)において載置面21aを外側領域F1と内側領域F2とを隔てる環状の隔壁としてのコンダクタンスバンド23と、を備える。また、基板載置台5は、コンダクタンスバンド23の上端面23aと基板3との間に空隙Gをあけて基板3を支持する複数の第1突起24及び複数の第2突起25と、を備える。
そして、基板載置台5は、図3及び図4に示すように、伝熱ガスをコンダクタンスバンド23の周方向に沿って拡散させる環状の拡散部28を備える。拡散部28は、基部21の載置面21aに開口する凹部として設けられており、断面形状が角溝状に形成されている。拡散部28は、外側領域F1と連通して設けられた外側拡散部28aと、内側領域F2と連通して設けられた内側拡散部28bと、を含む。
上述したように、第1外側拡散部28a1、第2外側拡散部28a2、及び連結路29aにより、外側領域F1内のコンダクタンスが向上する。このため、外側領域F1内において伝熱ガスの圧力勾配が生じることが抑えられ、外側領域F1内における伝熱ガスの圧力が均一化される。これと同様に、第1内側拡散部28b1、第2内側拡散部28b2、及び連結路29bにより、内側領域F2内のコンダクタンスが向上する。このため、内側領域F2内において伝熱ガスの圧力勾配が生じることが抑えられ、内側領域F2内における伝熱ガスの圧力が均一化される。
実施形態に係る温度制御方法は、基板3が載置される載置面21aを有する基部21に設けられた環状のシールバンド22に、基板3の外周側に沿って基板3を支持することと、載置面21a上に設けられた環状のコンダクタンスバンド23によって、載置面21aに載置される基板3の径方向において載置面21aを外側領域F1と内側領域F2とを隔てると共に、コンダクタンスバンド23に設けられた第1突起24によって、コンダクタンスバンド23の上端面23aと基板3との間に空隙Gをあけて基板3を支持することと、を有する。そして、温度制御方法は、外側領域F1及び内側領域F2とそれぞれ連通して基部21に設けられた外側領域F1及び内側領域F2を介して基板3と載置面21aとの間の空間に供給される伝熱ガスを、基部21に設けられた環状の拡散部28によってコンダクタンスバンド23の周方向に沿って拡散させることと、を有する。
第1実施形態に係る基板載置台5は、基板3を支持するシールバンド22と、載置面21aを外側領域F1と内側領域F2とを隔てるコンダクタンスバンド23と、コンダクタンスバンド23と基板3との間に空隙Gをあけて基板3を支持する複数の第2突起25と、伝熱ガスが流れる外側流路26及び内側流路27と、伝熱ガスをコンダクタンスバンド23の周方向に沿って拡散させる環状の拡散部28と、を備える。拡散部28によって、伝熱ガスがコンダクタンスバンド23の周方向にスムーズに拡散されることにより、外側領域F1及び内側領域F2のコンダクタンスが向上し、コンダクタンスバンド23と相対的に大きなコンダクタンス比になるので、コンダクタンスバンド23によって隔てられる外側領域F1と内側領域F2との圧力差を大きく確保することができる。これにより、伝熱ガスによって温度が制御される基板3の温度分布(圧力分布)を、外側領域F1と内側領域F2とで急峻に変化するように制御することができる。したがって、伝熱ガスを用いて基板3の温度を制御する精度を高めることができる。特に、基板3のプロセス特性の制御では、基板3の局所的な温度分布に対して制御することが必要な場合があるので、コンダクタンスバンドを境として急峻な圧力差を与えることができることによって、プロセス特性の制御の範囲を広げることができる。
図6は、第2実施形態に係る基板載置台を示す平面図である。図7は、第2実施形態に係る基板載置台を示す縦断面図であり、図6におけるB-B線に沿う縦断面図である。第2実施形態は、拡散部が基部21の内部に設けられた点が、第1実施形態における拡散部28と異なる。
図8は、第2実施形態に係る基板載置台の要部を示す横断面図であり、図7におけるC-C線に沿う横断面図である。図9は、第2実施形態に係る基板載置台の要部を拡大して示す断面図である。図7及び図9に示すように、外側拡散部38aは、外側流路26と連通して基部21の内部に設けられている。また、内側拡散部38bは、内側流路27と連通して基部21の内部に設けられている。
第2実施形態においても、第1実施形態の拡散部28と同様に、外側拡散部38aがコンダクタンスバンド23の周方向に沿って形成されているので、外側流路26を通って外側領域F1に供給される伝熱ガスが、外側拡散部38aを通ってコンダクタンスバンド23の周方向に流れて、外側分岐流路26b及び内側分岐流路26cを介して、外側領域F1内にスムーズに行き渡る。このため、外側領域F1内において伝熱ガスの圧力勾配が生じることが抑えられ、外側領域F1内における伝熱ガスの圧力が均一化される。これと同様に、内側拡散部38bがコンダクタンスバンド23の周方向に沿って形成されているので、内側流路27を通って内側領域F2に供給される伝熱ガスが、内側拡散部38bを通ってコンダクタンスバンド23の周方向に流れて、外側分岐流路27b及び内側分岐流路27cを介して、内側領域F2内にスムーズに行き渡る。このため、内側領域F2内において伝熱ガスの圧力勾配が生じることが抑えられ、内側領域F2内における伝熱ガスの圧力が均一化される。
第2実施形態に係る基板載置台35は、拡散部38を備えることにより、第1実施形態と同様に、コンダクタンスバンド23によって隔てられる外側領域F1と内側領域F2との圧力差を大きく確保することができるので、基板3の温度分布を、外側領域F1と内側領域F2とで急峻に変化するように制御することができる。したがって、伝熱ガスを用いて基板3の温度を制御する精度を高めることができる。
3 基板
5 基板載置台
6 処理室
7 処理ガス供給部
8 伝熱ガス供給部
21 基部
21a 載置面
22 シールバンド(支持部材)
23 コンダクタンスバンド(隔壁)
23a 上端面
24 第1突起(突起)
25 第2突起(突起)
26 外側流路
26a 主流路
26b 外側分岐流路
26c 内側分岐流路
27 内側流路
27a 主流路
27b 外側分岐流路
27c 内側分岐流路
28 拡散部
28a 外側拡散部
28b 内側拡散部
28a1 第1外側拡散部
28a2 第2外側拡散部
28b1 第1内側拡散部
28b2 第2内側拡散部
29a、29b 連結路
38 拡散部
38a 外側拡散部
38b 内側拡散部
F1 外側領域
F2 内側領域
G 空隙
Claims (11)
- 基板が載置される基板載置台と、
伝熱ガスを供給する伝熱ガス供給部と、
ガスを排気する排気機構と、
前記伝熱ガス供給部と前記排気機構とを接続する第1配管と、
前記伝熱ガス供給部と前記排気機構とを接続する第2配管と、
前記第1配管に設けられた第1バルブと、
前記第2配管に設けられた第2バルブと
を備え、
前記基板載置台は、
基板が載置される載置面を有する基部と、
前記基部に設けられ、前記基板の外周側に沿って前記基板を支持する環状の支持部材と、
前記載置面上に設けられ、前記載置面に載置される前記基板の径方向において前記載置面を外側領域と内側領域とを隔てる環状の隔壁と、
前記外側領域及び前記内側領域における前記載置面上に設けられ、前記隔壁の上端面と前記基板との間に空隙をあけて前記基板を支持する複数の突起と、
前記外側領域と連通して前記基部に設けられ、前記基板と前記載置面との間の空間に、前記第2配管に接続された第2接続管を介して前記伝熱ガス供給部から供給される伝熱ガスが流れる外側流路と、
前記内側領域と連通して前記基部に設けられ、前記第1配管に接続された第1接続管を介して前記伝熱ガス供給部から供給される前記伝熱ガスが流れる内側流路と、
前記基部に設けられ、前記伝熱ガスを前記隔壁の周方向に沿って拡散させる環状の拡散部と、
を備え、
前記第1バルブは、前記第1配管と前記第1接続管との接続部と前記排気機構との間の前記第1配管に設けられ、
前記第2バルブは、前記第2配管と前記第2接続管との接続部と前記排気機構との間の前記第2配管に設けられ、
前記第1配管と前記第1接続管との接続部と前記第1バルブとの間の前記第1配管と、前記第1バルブと前記排気機構との間の前記第1配管とを接続する第3配管と、
前記第3配管に設けられた第3バルブと、
前記第3バルブと前記排気機構との間の前記第3配管に設けられた第1オリフィスと、
前記第2配管と前記第2接続管との接続部と前記第2バルブとの間の前記第2配管と、前記第2バルブと前記排気機構との間の前記第2配管とを接続する第4配管と、
前記第4配管に設けられた第4バルブと、
前記第4バルブと前記排気機構との間の前記第4配管に設けられた第2オリフィスと
を備える、基板処理装置。 - 前記拡散部は、前記外側領域と連通して設けられて前記伝熱ガスを前記隔壁の外周側の周方向に沿って拡散させる外側拡散部と、前記内側領域と連通して設けられて前記伝熱ガスを前記隔壁の内周側の周方向に沿って拡散させる内側拡散部と、を含む、請求項1に記載の基板処理装置。
- 前記外側拡散部は、前記載置面に開口して前記隔壁の外周面に沿って設けられた第1外側拡散部と、前記載置面に開口して前記外側流路の端部に設けられた第2外側拡散部と、を含む、請求項2に記載の基板処理装置。
- 前記内側拡散部は、前記載置面に開口して前記隔壁の内周面に沿って設けられた第1内側拡散部と、前記載置面に開口して前記内側流路の端部に設けられた第2内側拡散部と、を含む、請求項2に記載の基板処理装置。
- 前記基部には、前記第1外側拡散部と前記第2外側拡散部とを連通する連結路が設けられている、請求項3に記載の基板処理装置。
- 前記基部には、前記第1内側拡散部と前記第2内側拡散部とを連通する連結路が設けられている、請求項4に記載の基板処理装置。
- 前記隔壁には、前記隔壁の上端面と前記基板との間に空隙をあけて前記基板を支持する複数の突起が設けられている、請求項1ないし6のいずれか1項に記載の基板処理装置。
- 基板が載置される載置面を有する基部と、
前記基部に設けられ、前記基板の外周側に沿って前記基板を支持する環状の支持部材と、
前記載置面上に設けられ、前記載置面に載置される前記基板の径方向において前記載置面を外側領域と内側領域とを隔てる環状の隔壁と、
前記外側領域及び前記内側領域における前記載置面上に設けられ、前記隔壁の上端面と前記基板との間に空隙をあけて前記基板を支持する複数の突起と、
前記外側領域と連通して前記基部に設けられ、前記基板と前記載置面との間の空間に供給される伝熱ガスが流れる外側流路と、
前記内側領域と連通して前記基部に設けられ、前記伝熱ガスが流れる内側流路と、
前記基部に設けられ、前記伝熱ガスを前記隔壁の周方向に沿って拡散させる環状の拡散部と、
を備え、
前記拡散部は、前記外側流路と前記内側流路のいずれか一方の流路と連通して前記基部の内部に設けられ、
前記いずれか一方の流路は、前記拡散部の外周側から前記載置面まで延びる外側分岐流路と、前記拡散部の内周側から前記載置面まで延びる内側分岐流路と、を有する、基板載置台。 - 前記隔壁には、前記隔壁の上端面と前記基板との間に空隙をあけて前記基板を支持する複数の突起が設けられている、請求項8に記載の基板載置台。
- 請求項8または9に記載の基板載置台と、
前記伝熱ガスを供給する伝熱ガス供給部と、
ガスを排気する排気機構と、
前記伝熱ガス供給部と前記排気機構とを接続する第1配管と、
前記伝熱ガス供給部と前記排気機構とを接続する第2配管と、
前記第1配管に設けられた第1バルブと、
前記第2配管に設けられた第2バルブと
を備え、
前記内側流路には、前記第1配管に接続された第1接続管を介して前記伝熱ガス供給部から供給される前記伝熱ガスが流れ、
前記外側流路には、前記第2配管に接続された第2接続管を介して前記伝熱ガス供給部から供給される前記伝熱ガスが流れ、
前記第1バルブは、前記第1配管と前記第1接続管との接続部と前記排気機構との間の前記第1配管に設けられ、
前記第2バルブは、前記第2配管と前記第2接続管との接続部と前記排気機構との間の前記第2配管に設けられる、基板処理装置。 - 基板が載置される載置面を有する基部に設けられた環状の支持部材に、前記基板の外周側に沿って前記基板を支持することと、
前記載置面上に設けられた環状の隔壁によって、前記載置面に載置される前記基板の径方向において前記載置面を外側領域と内側領域とを隔てると共に、前記外側領域及び前記内側領域における前記載置面上に設けられた複数の突起によって、前記隔壁の上端面と前記基板との間に空隙をあけて前記基板を支持することと、
前記外側領域及び前記内側領域とそれぞれ連通して前記基部に設けられた外側流路及び内側流路を介して前記基板と前記載置面との間の空間に供給される伝熱ガスを、前記基部に設けられた環状の拡散部によって前記隔壁の周方向に沿って拡散させることと、
前記外側流路及び前記内側流路のいずれか一方の流路に連通して前記基部の内部に設けられた前記拡散部によって、前記伝熱ガスを前記隔壁の周方向に沿って拡散させることと、
前記拡散部の外周側から前記載置面まで延びる外側分岐流路と、前記拡散部の内周側から前記載置面まで延びる内側分岐流路と、を有する前記いずれか一方の流路によって、前記基板と前記載置面との間の空間に前記伝熱ガスを供給することと、
を有する、温度制御方法。
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Citations (4)
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---|---|---|---|---|
JP2003347283A (ja) | 2002-05-30 | 2003-12-05 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理装置 |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2003347283A (ja) | 2002-05-30 | 2003-12-05 | Tokyo Electron Ltd | 真空処理装置 |
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