KR101016965B1 - 쓰기동작 수행 시 저전력 소모를 갖는 반도체메모리소자 - Google Patents
쓰기동작 수행 시 저전력 소모를 갖는 반도체메모리소자 Download PDFInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4093—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. data buffers
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- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1051—Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
- G11C7/1066—Output synchronization
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- H03L7/00—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation
- H03L7/06—Automatic control of frequency or phase; Synchronisation using a reference signal applied to a frequency- or phase-locked loop
- H03L7/08—Details of the phase-locked loop
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Abstract
Description
도 1은 종래기술에 따른 반도체메모리소자의 블록 구성도.
도 2는 도 1의 아이들제어신호 생성부의 내부 회로도.
도 3은 도 1의 구동제어신호 생성부의 내부 회로도.
도 4는 도 2의 동작파형도.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체메모리소자의 블록 구성도.
도 6는 도 4의 구동제어신호 생성부의 내부 회로도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명
220 : 아이들 제어신호호 생성부
240 : 구동제어신호 생성부
본 발명은 반도체 설계 기술에 관한 것으로, 특히 쓰기동작 수행 시 저전력 소모를 갖는 반도체메모리소자에 관한 것이다.
최근 그린 라운드(Green Round)의 흐름에 따라 반도체 메모리소자들도 전력 절감형 기능들을 탑재하는 흐름이 일반화 되었다. 동기식 디램에서도 그런 경향을 반영하여 다양한 전력 절감모드를 수행하도록 스펙들이 정해졌으며, 그 중의 하나가 파워다운모드(Power Down Mode)이다.
파워다운모드는 반도체 메모리 소자의 스탠드바이 상태(Standby State)에서 진입할 수 있으며, 또한 액티브상태(Active State)에서도 진입할 수 있다. 이와같이 파워다운모드는 DRAM을 사용하지 않는 대기상태를 말하며, 이때 전류소모를 최소화시켜 컴퓨터의 파워 소모를 최대한 줄일 수 있다.
또한, 일반 노말모드에서도 전력소모를 줄이기 위한 방법으로, 소자 내 실질적 동작 수행이 없는 아이들상태의 경우 DLL(Delay Locked Loop)을 턴오프시키므로 소모되는 전류를 줄인다.
도 1은 종래기술에 따른 반도체메모리소자의 블록 구성도이다.
도 1을 참조하면, 종래기술에 따른 반도체메모리소자는 내부클럭(int_clk)을 외부클럭(Ext_clk)과 동기시키기 위한 DLL(10)과, 아이들감지신호(rasidle)에 응답하여 DLL(10)의 내부클럭(int_clk)의 출력 여부를 제어하기 위한 제어신호를 생성하기 위한 DLL 출력제어부(20)를 구비한다.
그리고 DLL 출력제어부(20)는 아이들감지신호(rasidle)에 응답하여 지연고정루프(10)의 내부클럭(int_clk)의 출력여부를 제어하기 위한 아이들제어신호(chipact)를 생성하는 아이들제어신호 생성부(22)와, 아이들제어신호(chipact)를 구동제어신호(en)로 전달하기 위한 구동제어신호 생성부(24)를 구비한다.
또한, DLL 출력제어부(20)는 출력제어신호(en)를 통해 DLL(10) 내 출력드라이버(12)를 턴온/턴오프하여 내부클럭(int_clk)의 출력여부를 제어한다.
도 2는 도 1의 아이들감지신호 생성부(22)의 내부 회로도이다.
도 2를 참조하면, 아이들감지신호 생성부(22)는 아이들감지신호(rasidle)를 지연시키기 위한 인버터(I1, I2)와, 인버터(I2)의 출력신호를 소정시간 지연시키기 위한 시작지연부(22a) 및 종료지연부(22b)와, 인버터(I2)와 시작지연부(22)의 출력신호를 입력으로 갖는 노어게이트(NR1)와, 노어게이트(NR1)의 출력신호를 반전시키기 위한 인버터(I3)와, 인버터(I3)의 출력신호와 종료지연부(24)의 출력신호를 입력으로 가져 아이들제어신호를 출력하기 위한 낸드게이트(ND1)를 구비한다.
도 3은 구동제어신호 생성부(24)의 내부회로도이다.
도 3를 참조하면, 구동제어신호 생성부(24)는 아이들제어신호(chipact)를 지연시켜 구동제어신호(en)로 출력하기 위해 복수의 인버터(I4, I5)를 구비하는 인버터 체인으로 구현된다.
도 4는 도 2의 동작파형도로서, 이를 참조하여 종래기술에 따른 반도체메모리소자의 동작을 살펴보도록 한다.
먼저, 아이들상태에서는 아이들감지신호(rasidle)가 활성화되며, 아이들제어신호 생성부(22)가 이에 응답하여 아이들제어신호(chipact)를 비활성화시킨다. 이 어, 구동제어신호 생성부(24)가 이에 응답하여 구동제어신호(en)를 비활성화시키므로, DLL(10)의 내부클럭(int_clk)이 공급되지 않도록 한다.
또한, 액티브 커맨드(ACT)가 인가되어 아이들감지신호(rasidle)가 비활성화되면, 아이들제어신호 생성부(22)가 이에 응답하여 아이들제어신호(rasidle)를 활성화시킨다. 이어, 구동제어신호 생성부(24)가 이에 응답하여 구동제어신호(en)를 활성화시키켜, DLL(10)의 내부클럭(int_clk)이 공급되도록 한다. 한편, 구동제어신호(en)는 시작지연부(22) 및 구동제어신호 생성부(24) 내 인버터(I4, I5) 체인에 의해 지연되어 활성화된다.
이후, 프리차지커맨드(PCG)가 인가되어 아이들감지신호(rasidle)가 활성화되면, DLL 출력제어부(20)가 구동제어신호(en)를 비활성화시키되 종료지연부(24)가 갖는 지연시간 이후 비활성화되도록 하여, DLL(10)의 내부클럭(int_clk)이 공급되지 않도록 한다.
참고적으로, 시작지연부(22)가 갖는 지연시간에 비해 종료지연부(24)가 갖는 지연시간이 긴데, 이는 프리차지커맨드(PCG)로 인해 아이들감지신호(rasidle)가 활성화되더라도 읽기동작에 의한 데이터가 외부로 완전히 출력될 때까지 DLL(10)이 구동되도록 하기 위해 종료지연부(24)의 지연시간을 충분히 보장해 주는 것이다.
이와같이, 전술한 본 발명은 반도체메모리소자 내 실질적인 동작이 없는 아이들 상태를 감지하여 DLL을 오프시키므로, 불필요한 전류소모를 줄인다.
한편, 이러한 종래기술에 따른 반도체메모리소자를 이용하여 쓰기동작을 수행하는 경우, 쓰기동작과는 관계없는 DLL이 구동되어 이로인해 불필요한 전류가 소 모된다. 즉, DLL은 DRAM 내부의 회로에 의해 지연된 위상을 보상하여 내부에서 외부로 나가는 데이터의 위상이 클럭과 위상차가 나지 않도록 하기 위한 것으로, 읽기동작과 같이 외부로 데이터가 출력되는 경우에는 DLL의 구동이 필요하나, 쓰기동작과 같이 데이터가 외부로 출력되지 않는 경우에는 DLL의 구동이 불필요하게 된다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 쓰기동작 수행 동안에 소모되는 전류를 줄일 수 있는 반도체메모리소자를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기의 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체메모리소자는 내부클럭을 외부클럭과 동기시키기 위한 지연고정루프; 및 아이들상태 또는 쓰기동작을 감지하여 상기 지연고정루프의 내부클럭이 출력되지 않도록 제어하는 지연고정루프 출력제어수단을 구비한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체메모리소자의 블록 구성도이다.
도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 반도체메모리소자는 내부클럭(int_clk)을 외부클럭(Ext_clk)과 동기시키기 위한 DLL(100)과, 아이들감지신호(rasidle)와 쓰기동작신호(WT12bWEN)에 응답하여 DLL의 내부클럭이 출력되지 않도록 제어하는 DLL 출력제어부(200)를 구비한다.
그리고 DLL 출력제어부(200)는 아이들감지신호(rasidle)에 응답하여 DLL(100)의 내부클럭(int_clk)의 출력 여부를 제어하기 위한 아이들제어신호(chipact)를 생성하기 위한 아이들제어신호 생성부(220)와, 쓰기동작신호(WT12bWEN)의 활성화 시 구동제어신호(en)를 활성화시키고, 쓰기동작신호(WT12bWEN)의 비활성화 시에는 아이들제어신호(chipact)를 구동제어신호(en)로 전달하는 구동제어신호 생성부(240)를 구비한다.
참고적으로, 쓰기동작신호(WT12bWEN)는 외부에서 쓰기커맨드가 인가되면 활성화되며, 이외의 경우에는 비활성화되는 신호이다.
도 5는 도 4의 구동제어신호 생성부(240)의 내부 회로도이다.
도 5를 참조하면, 구동제어신호 생성부(240)는 쓰기동작신호(WT12bWEN)를 반전시키기 위한 인버터(I6)와, 아이들제어신호(chipact)와 인버터(I6)의 출력신호를 입력으로 갖는 낸드게이트(ND2)와, 낸드게이트(ND2)의 출력신호를 반전시켜 구동제어신호(en)로 출력하기 위한 인버터(I7)를 구비한다.
간략히 동작을 살펴보면, 외부에서 쓰기커맨드가 인가된 경우에는 아이들감지신호(rasidle)가 비활성화되며, 쓰기동작신호(WT12bWEN)가 활성화된다. 따라서, 구동제어신호 생성부(240)는 아이들제어신호 생성부(220)의 아이들제어신호(chipact)의 논리레벨과는 관계없이 구동제어신호(en)를 비활성화시켜 DLL(100)의 내부클럭(int_clk)이 출력되지 않도록 한다.
또한, 소자의 실질적 동작이 없는 아이들상태에서는 아이들감지신호(rasidle)가 활성화되고, 쓰기동작신호(WT12bWEN)가 비활성화된다. 따라서, 아이들제어신호 생성부(220)가 아이들제어신호(chipact)를 비활성화시키며, 구동제어신호 생성부(240)가 이를 구동제어신호(en)로 전달하여 DLL(100)의 내부클럭(int_clk)이 공급되지 않도록 한다.
그러므로, 전술한 본 발명에 따른 반도체메모리소자는 아이들상태 뿐만아니라, 쓰기동작을 수행하는 동안에도 DLL 출력드라이버를 오프시켜 쓰기동작을 수행하는 동안 소모되는 전류를 줄일 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속한 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
전술한 본 발명은 쓰기 동작을 감지하여 쓰기동작을 수행하는 동안 DLL의 구동을 오프시키므로, 쓰기동작에 의해 소모되는 전류를 줄일 수 있다.
Claims (4)
- 삭제
- 내부클럭을 외부클럭과 동기시키기 위한 지연고정루프; 및아이들상태 또는 쓰기동작을 감지하여 상기 지연고정루프의 내부클럭이 출력되지 않도록 제어하는 지연고정루프 출력제어수단을 구비하며,상기 지연고정루프 출력제어수단은,아이들감지신호에 응답하여 상기 지연고정루프의 내부클럭의 출력여부를 제어하기 위한 아이들제어신호 생성하는 아이들제어신호 생성부와,쓰기동작신호의 활성화 시에는 상기 아이들제어신호의 레벨과 상관없이 상기 지연고정루프의 내부클럭이 출력되지 않도록 제어하는 구동제어신호를 활성화시키고, 상기 쓰기동작신호의 비활성화 시에는 상기 아이들제어신호를 상기 구동제어신호로 전달하는 구동제어신호 생성부를 구비하는 반도체메모리소자.
- 제2항에 있어서,상기 구동제어신호 생성부는상기 쓰기동작신호를 반전시키기 위한 제1 인버터와, 상기 아이들제어신호와 제1 인버터의 출력신호를 입력으로 갖는 제1 낸드게이트와, 제1 낸드게이트의 출력신호를 반전시켜 상기 지연고정루프의 내부클럭의 출력을 제어하기 위한 구동제어신호를 출력하기 위한 제2 인버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
- 제2항에 있어서,상기 아이들제어신호 생성부는,상기 아이들감지신호를 지연시키기 위한 제1 및 제2 인버터와, 상기 제2 인버터의 출력신호를 소정시간 지연시키기 위한 제1 지연부 및 제2 지연부와, 상기 제2 인버터와 제1 시작지연부의 출력신호를 입력으로 갖는 노어게이트와, 상기 노어게이트의 출력신호를 반전시키기 위한 제3 인버터와, 상기 제3 인버터의 출력신호와 상기 제2 지연부의 출력신호를 입력으로 갖는 낸드게이트와, 상기 낸드게이트의 출력신호를 지연시켜 상기 아이들제어신호를 출력하기 위한 제4 및 제5 인버터를 구비하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리소자.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040048703A KR101016965B1 (ko) | 2004-06-26 | 2004-06-26 | 쓰기동작 수행 시 저전력 소모를 갖는 반도체메모리소자 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040048703A KR101016965B1 (ko) | 2004-06-26 | 2004-06-26 | 쓰기동작 수행 시 저전력 소모를 갖는 반도체메모리소자 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20050123003A KR20050123003A (ko) | 2005-12-29 |
KR101016965B1 true KR101016965B1 (ko) | 2011-02-25 |
Family
ID=37294747
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040048703A KR101016965B1 (ko) | 2004-06-26 | 2004-06-26 | 쓰기동작 수행 시 저전력 소모를 갖는 반도체메모리소자 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101016965B1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101092995B1 (ko) | 2009-04-30 | 2011-12-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | 반도체 메모리 장치와 그의 구동 방법 |
US9047237B2 (en) * | 2012-08-03 | 2015-06-02 | Cypress Semiconductor Corporation | Power savings apparatus and method for memory device using delay locked loop |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000293429A (ja) * | 1999-04-01 | 2000-10-20 | Nec Corp | クロック位相制御回路及びそれを用いた装置 |
-
2004
- 2004-06-26 KR KR1020040048703A patent/KR101016965B1/ko not_active IP Right Cessation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000293429A (ja) * | 1999-04-01 | 2000-10-20 | Nec Corp | クロック位相制御回路及びそれを用いた装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20050123003A (ko) | 2005-12-29 |
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