KR100964593B1

KR100964593B1 - Ｒｆｉｄ 시스템 및 ｒｆｉｄ 태그

Info

Publication number: KR100964593B1
Application number: KR1020080019620A
Authority: KR
Inventors: 도모히코 마에다; 가즈오 사토; 요시타카 무라오카; 히데히코 후치다; 슈코 사이토
Original assignee: 후지쯔 가부시끼가이샤
Priority date: 2007-03-08
Filing date: 2008-03-03
Publication date: 2010-06-21
Also published as: KR100963323B1; CN101261688B; KR20080082465A; US8274367B2; TW200839618A; CN101261688A; JP5033447B2; KR20100029226A; EP1967928A2; EP1967928A3; EP1967928B1; JP2008225588A; TWI383321B; US20080218349A1

Abstract

RFID 태그마다 실행해야 할 처리를 RFID 시스템에서 인식하여 실행할 수 있는 기술을 제공하는 것을 과제로 한다.

RFID 태그(10)를 검출하기 위한 검출부, 및 RFID 태그에 관계되는 제어를 실행하는 제어부를 구비하는 RFID 시스템(1)에서, 판단 수단은, ID 정보를 저장하는 제1 영역 및 커맨드 정보를 저장하는 제2 영역을 포함하는 기억 영역을 구비하는 RFID 태그의 제2 영역에 액세스해야 할지의 여부를 판단한다. 추출 수단은, 제2 영역에 액세스한다고 판단되었을 때에, 그 제2 영역으로부터 커맨드 정보를 추출한다. 실행 수단은 추출 수단에 의해 추출된 커맨드 정보에 대응하는 처리를 실행한다.

Description

ＲＦＩＤ 시스템 및 ＲＦＩＤ 태그{RFID SYSTEM AND RFID TAG}

본 발명은 RFID(Radio Frequency IDentification)에 의한 개체 식별 기술을 사용하여 제품 등의 관리를 행하는 기술에 관한 것이다.

현재, RFID에 의한 개체 식별 기술은, 제조, 물류, 의류 등의 각종 분야에 적용되고 있다. 제조 라인에 RFID 시스템을 도입하는 경우를 예로 들면, 미리 제품이나 제품의 구성 부품에 RFID 태그를 부착해 둔다. 제조 라인 상에서 작업자가 제조 공정이나 제품의 시험 공정 등의 작업을 수행하고 있을 때에, 제조 라인을 따라 배치되어 있는 안테나에 의해 RFID 태그가 검출되면, 그 RFID 태그에, 그 작업 내용이나 테스트 결과 등의 제품이나 부품에 관한 정보를 순차로 기록한다. RFID 태그에 저장되어 있는 데이터를 참조함으로써, 그 RFID 태그가 부착되어 있는 부품 또는 제품의 상태를 관리한다.

도 15는 종래의 RFID 시스템을 제조 라인에 도입한 경우의 각 공정의 처리를 설명하는 도면이다. 제품(150)은 작업 영역 1, 작업 영역 2, …으로 순차로 이송되어 가며, 각 작업 영역에서 소정의 처리가 이루어진다. 도 15의 예에 있어서, 작업 영역 1에서는 제품의 이력 데이터를 RFID 태그에 기록하는 처리를 실행하고, 작업 영역 2에서는 시험 영역에서의 시험에 사용하는 임계치를 구하기 위한 처리를 실행하며, 작업 영역 3에서는 공정 관리를 실행하고, 작업 영역 4에서는 기능 테스트를 실행한다. 이와 같이, 작업 영역마다 RFID 시스템의 제어부가 RFID 태그에 대하여 실행하는 처리 내용이 정해져 있다.

종래의 RFID 시스템에 있어서는, 각 작업 영역에서 RFID 태그에 대하여 실행하는 처리 기능은 모두 제어부측, 즉 RFID 시스템측에서 유지하고 있다. RFID 태그는 처리에 필요한 데이터를 유지하고 있으며, RFID 시스템이 안테나로 RFID 태그를 검출하면, 제어부는 RFID 시스템으로부터 필요한 데이터를 판독하여 각종 처리를 실행한다.

도 16은 종래에 있어서의 제어 시스템의 처리 방법을 설명하는 도면이다. 종래는 처리해야 할 내용 및 처리 순서에 대한 정보를 제어부, 즉 시스템측에서 갖고 있다. 이 때문에, 제어부는 소유 장치의 지배하에 있는 안테나에서 RFID 태그가 검출된 것을 계기로 해서, 유지하고 있는 정보에 따라 서브 루틴을 순차로 실행한다.

도 17은, 종래 기술에 있어서의 RFID 시스템의 문제점을 설명하는 도면이다. 작업 영역 1에서는 이력 데이터를 RFID 태그에 기록하는 처리를 실행한다. 작업 영역 2에서는 시험에 사용하는 임계치를 구하기 위한 처리를, RFID 태그가 부착된 부품 또는 제품 등에 대하여 실행한다. 작업 영역 3에서는 간판 발행 등의 공정 관리 처리를 실행한다. 시험 영역에서는 기능 테스트를 RFID 태그가 부착된 부품 또는 제품 등에 대하여 실행한다.

우선, 이력 데이터를 RFID 태그에 기록할 때의 문제점에 대하여 설명한다. 도 18은 이력 데이터 입력 처리를 실행할 때에 발생하는 문제를 설명하는 도면이다.

제조 라인에서는, 미리 이력을 기록해야 할 부품 등(부품이나 제품 등)에 대하여, 이력을 마스터에 등록해 둔다. 그리고, 그 부품이 작업 영역의 소정의 선반에 반송되어 와서 안테나로 그 존재가 검출되면, 마스터 데이터베이스(DB)에 등록되어 있는 판수(version number)를 RFID 태그에 기록한다. RFID 태그가 부착된 부품 등은 순차로 선반에 놓여진 소정의 상자에 격납되며, 상자에의 격납이 완료되면, 다음 작업 영역으로 송출된다. 상자가 놓여져 있던 장소에는 다음 상자가 새롭게 놓여지고, 그 새롭게 놓여진 상자에 격납해야 할 부품이 격납된다.

종래는, RFID 태그에의 이력 데이터의 기록은 RFID 시스템의 제어부에 의해 실행되지만, 기록하는 판수를 관리하는 마스터의 갱신은, 바코드를 사용한 판독이나 시스템 관리자 등의 수동 입력에 의해 수동으로 행해지고 있었다. 즉, 부품이 충전된 상자가 작업 라인 밖으로 반출되고 나서 다음 상자가 동일한 위치에 배치되기까지의 동안에 마스터를 갱신하지 않으면 안되고, 마스터를 갱신하는 타이밍이 지연되면, 마스터 상의 부품의 배치와 실제 배치가 일치하지 않게 되며, RFID 태그에는 이미 반출된 부품의 판수가 기록되게 된다.

도 19는 테스트 실행시에 발생하는 문제를 설명하는 도면이다. 부품 등에 대하여 테스트를 실행할 때, RFID 태그 자체는 연산 기능을 갖고 있지 않기 때문에, RFID 시스템측에서, 테스트에 사용하는 데이터를 연산하고, 테스트 프로그램을 다운로드하여 구한 데이터를 사용해서 시험한다.

테스트나 결과를 해석하고 있는 동안에도, 테스트 대상 제품은 반송 라인 상에서 이동하지만, 시험이나 그 해석 처리 등에는 시간을 필요로 한다. 이 때문에, 시험 결과 이상이 검출된 경우에, 시험 라인 상에서 제품이 이동하고 있는 동안에 제어부에서의 시험 결과의 해석 처리가 종료되지 않는 경우가 있다. 제어부에서의 처리가 라인의 이동 속도를 따라잡지 못하는 경우, 다른 시스템에서 필요한 연산을 행하는 경우가 있으나, 이 경우는 다른 시스템으로부터의 연산 결과를 기다릴 필요가 발생한다. 이러한 경우는 시스템 측의 연산이 완료될 때까지 반송 라인을 일단 정지시킬 필요가 있었다.

도 20은 공정 관리시에 발생하는 문제를 설명하는 도면이다. 여기에서는, 제조 라인 중 작업 영역 3에서, 최초에 제품 1에 대하여 조립 등의 소정의 작업을 행하고, 다음에 제품 2에 대하여 작업을 행하는 것으로 한다. 또한, 제품 1에 대해서는 부품 A를, 제품 2에 대해서는 부품 B를 사용하고 있는 것으로 한다.

저스트 인 타임(JIT : Just-In-Time) 방식에 따르면, 어떤 작업 영역에서 어떤 부품이 필요할 때에 조달할 수 있도록, 그 부품의 조달로부터 제조, 시험에 요하는 기간을 고려하여 「간판」을 발행한다. 도 20의 예에서는, 부품 A를 작업 영역 3에 조달하기 위해서는 작업 영역 2에 부품 A가 있을 때에 간판을 발행할 필요가 있고, 부품 B에 대해서는, 작업 영역 1에 부품 B가 있을 때에 간판을 발행할 필요가 있다. 이와 같이, 간판을 발행하는 타이밍은 제품(워크)의 종류에 의존하며, 서로 다르다.

또한, 작업 영역이나 부품의 종류, 및 각각 인도 시간(lead time)이 다르기 때문에, 간판을 발행하는 타이밍은 매일 다른 경우가 있다. 그러나, 종래의 경우 제어부에서 간판 발행 타이밍을 제어하고 있었기 때문에, 간판 발행 타이밍을 매일 변경하기 위해서는, 제어부에서 유지하는 데이터를 매일 갱신할 필요가 발생한다.

상기의 문제는, RFID 시스템의 제어부에서 RFID 태그를 검출한 것을 계기로 해서 처리를 개시하지만, 처리를 개시하고 나서 처리 결과를 RFID 태그에 기록할 때까지는 제어부에서 순차로 서브 루틴이 실행되기 때문에, RFID 태그는 처리 결과가 기록되는 것을 라인 상에서 대기하게 된다. 공정에서 실행해야 할 처리 내용이나 처리에 사용하는 데이터를 RFID 태그측에서 유지하지 않고, RFID 시스템측에서 제어를 하고 있기 때문에, RFID 태그에 따른 처리를 적절한 타이밍에서 실행할 수 없다는 과제가 있었다.

본 발명은, RFID 태그마다 실행해야 할 처리를 RFID 시스템에서 인식하여 실행할 수 있는 기술을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상기 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은, RFID 태그를 검출하기 위한 검출부, 및 RFID 태그에 관계되는 제어를 실행하는 제어부를 구비하는 RFID 시스템으로서, 상기 제어부는, ID 정보를 저장하는 제1 영역 및 커맨드 정보를 저장하는 제2 영역을 포함하는 기억 영역을 구비하는 RFID 태그의 상기 제2 영역에 액세스해야 할지의 여부를 판단하는 판단 수단과, 상기 제2 영역에 액세스한다고 판단되었을 때에, 그 제2 영역으로부터 커맨드 정보를 추출하는 추출 수단과, 상기 추출 수단에 의해 추출된 커맨드 정보에 대응하는 처리를 실행하는 실행 수단을 갖도록 구성된다.

판단 수단에 의해, RFID 태그에 고유의 데이터인 ID 정보 또는 제어부에서 실행해야 할 커맨드를 포함하는 커맨드 정보 중 어떠한 것을 사용해서 제어를 행할지를 결정한다. 커맨드 정보를 사용해서 제어할 때는, 또한, 실행해야 할 커맨드 정보를 추출한다. 추출된 커맨드를 실행한다. 이에 따라, RFID 태그를 검출한 타이밍에서, 제어부에서 소정의 처리를 실행하는 것이 가능해진다.

상기 추출 수단은, 상기 기억 영역에 상기 커맨드 정보와 대응하여 저장되어 있는 결과 정보와 실행되는 처리를 식별하기 위한 식별 정보를 참조하여, 미처리이며 상기 제어부에서 실행해야 할 처리를 나타내는 식별 정보에 대응한 커맨드 정보를 추출하도록 구성되어도 좋다. 제2 영역에 복수의 커맨드 정보가 저장되어 있는 경우라도, 어떠한 처리를 실행해야 하는지를 제어부에서 판단할 수 있다.

상기 커맨드 정보는, 제조 라인에서 제1 물품에 대한 제조 공정 및 시험 공정에 관계되는 처리를 나타내는 커맨드, 및 그 커맨드를 실행할 때에 사용하는 파라미터 데이터를 포함하도록 구성되어도 좋다.

또한, 상기 제1 물품 및 그 제1 물품의 판수 정보를, 그 제1 물품을 구분하여 보관하는 장소를 나타내는 위치 정보와 대응시켜, 상기 제1 물품의 구분마다 저장하는 데이터베이스를 더 구비하고, 상기 제1 물품을 구분하여 수용하기 위한 제2 물품에 부착된 RFID 태그가 상기 검출 수단에 의해 검출되면, 상기 제어부는, 상기 제2 물품에 부착된 RFID 태그에 저장되어 있는 상기 제1 물품, 상기 판수 정보 및 상기 제1 물품의 위치 정보를 상기 데이터베이스에 반영시키기 위한 처리를 실행하며, 상기 제1 물품에 부착된 RFID 태그가 상기 검출 수단에 의해 검출되면, 상기 추출 수단은, 상기 제1 물품에 부착된 RFID 태그의 기억 영역으로부터, 상기 판수 정보를 상기 데이터베이스로부터 판독하여 상기 RFID 태그에 기록하는 처리를 나타내는 커맨드 정보를 추출하는 것으로 해도 좋다.

상기 검출 수단에 의해 상기 RFID 태그가 검출되면, 상기 제어부는, 시험용 데이터를 취득하기 위한 연산 처리, 시험 및 시험 결과의 해석 처리의 커맨드에 따라서, 앞서 커맨드를 실행하여 얻은 반환값을 사용해서 다음에 실행해야 할 처리를 순차로 실행하는 것으로 해도 좋다.

상기 검출 수단에 의해 상기 RFID 태그가 검출되면, 상기 제어부는, 저스트 인 타임 방식으로 나중 공정에 대하여 생산 지시를 하기 위한 처리를 실행하는 것으로 해도 좋다.

본 발명에 따르면, RFID 태그를 인식할 수 있었을 때에, RFID 태그의 제2 영역에 저장되어 있는 정보에 기초하여, 실행해야 할 처리를 적절한 타이밍에서 실행하는 것이 가능하다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시형태에 대하여, 도면을 참조하면서 상세히 설명한다.

도 1은 본 실시형태에 따른 RFID 시스템의 개념도이다. RFID 시스템은, 도 1에 도시하는 바와 같이, 예컨대 제조 라인에 적용되며, 제품(50)에 부착한 RFID 태그(10)와 제어 시스템(1)을 포함하여 구성된다.

제조 라인에는, 공정에 따라서 복수의 작업용 영역이 형성되고, 작업 영역과 작업 영역 사이에는 적절하게 버퍼 영역이 형성되어 있다. 각 작업 영역에서는 작업자가 제품(50)의 조립 작업이나 포장 등의 공정마다 미리 정해진 작업을 한다.

RFID 시스템(1)은 안테나(2) 및 제어부(3)를 포함하여 구성되며, 제조 라인을 따라 RFID 태그(10)와의 통신이 필요한 작업 개소마다 설치된다. 예컨대, 도 1에 도시하는 시스템 구성예에 있어서는 작업 영역 1로부터 4 각각에 배치되어 있다. 작업 영역 1에 놓여지는 안테나를 안테나 2A, 제어부를 제어부 3A라고 표기한다. 마찬가지로, 작업 영역 2, 3 및 4의 안테나를 각각 2B, 2C 및 2D라고 표기하고, 제어부를 각각 3B, 3C 및 3D라고 표기한다.

또, 도 1에 도시하는 시스템 구성예에서는 도시를 생략하고 있으나, 버퍼 영역에 RFID 시스템(1)을 구비하는 구성으로 할 수도 있다. 제품(50)이 버퍼 영역에 있을 때, 즉 제조 라인에서 제품(50)에 대하여 작업을 하지 않을 때에, RFID 태그(10)에의 기록 등을 행할 필요가 있는 경우에는, 버퍼 영역에 RFID 시스템(1)을 구비하도록 구성한다.

도 1에 도시하는 RFID 시스템(1)은, RFID 태그(10)가 송출하는 전자파를 RFID 시스템(1)의 안테나(2)에서 검출하면, 제어부(3)의 각각에서 RFID 태그(10)에 저장되어 있는 정보에 따라서 처리를 실행하고, 실행 결과를 RFID 태그(10)에 기록한다.

도 2는 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)의 처리 방법을 설명하는 도면이다. 우선, 어떤 작업 영역 또는 시험 영역에서 RFID 태그(10)가 안테나(2)에 의해 검출되면, (1) RFID 시스템(1)은 RFID 태그(10)로부터 지시된 실행해야 할 처리를 판독한다. (2) 다음으로, RFID 시스템(1)에서는 지시된 내용에 따라서, 실행해야 할 서브 루틴을 선택하고, 선택한 서브 루틴을 실행한다. (3) 마지막으로, RFID 시스템(1)은 서브 루틴을 실행한 결과를 RFID 태그(10)에 기록한다.

이와 같이, 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)의 제어부(3)는 RFID 태그(10)에 유지되어 있는 배치(batch) 처리 루틴에 따라서, 소유 장치에 유지되는 서브 루틴 중, 처리해야 할 서브 루틴을 판단하여 실행한다.

도 3은 RFID 태그(10)의 데이터 구조 및 RFID 태그(10)와 제어부(3)와의 데이터 송수신 방법을 설명하는 도면이다. 그 중 도 3의 (a)는 본 실시형태에 따른 RFID 태그(10)의 데이터 구조의 예이다.

도 3의 (a)에 도시하는 바와 같이, RFID 태그(10)의 메모리에는, 시스템 데이터 영역, 고정 데이터 영역 및 커맨드 데이터 영역을 구비한다. 이들 데이터 영역 중, 시스템 데이터 영역은 제품(50)에 관한 정보를 저장하기 위한 영역이며, 예컨대 제품(50)의 제조자나 부착되어 있는 RFID 태그(10)의 식별 정보 등을 저장한다. 고정 데이터 영역은 RFID 시스템에서 사용하기 위한 데이터를 저장한다. 이들 시스템 데이터 영역 및 고정 데이터 영역은 종래의 RFID 태그에도 구비되어 있다.

커맨드 데이터 영역은 제어부(3)에서 실행해야 할 처리에 관계되는 정보를 저장하기 위한 영역이며, 커맨드 데이터 영역에는, 공정 식별 정보에 대응시켜 데이터 종별 정보, 데이터 및 결과 정보가 저장되어 있다. 본 실시형태에서는 커맨드 데이터 영역에 배치 처리 루틴이 저장된다.

공정 식별 정보는, RFID 태그(10)에 대하여 처리를 실행해야 할 타이밍이, 제품(50) 즉 RFID 태그(10)가 제조 라인 상의 어디에 있을 때인지를 나타내는 정보이다. 데이터 종별 정보는, 그 행에 기술되어 있는 데이터가, 제어부(3)에 대하여 실행해야 할 커맨드를 나타내는지 또는 제어부(3)에서 사용하는 파라미터 데이터를 나타내는지를 제어부(3)에서 식별하기 위한 정보이다. 데이터는 제어부(3)에서 처리해야 할 데이터이며, 커맨드 데이터 또는 파라미터 데이터로 이루어진다. 커맨드 데이터는 처리 내용에 따라서 파라미터 데이터와 함께 저장된다. 결과 정보는 제어부(3)에서의 처리 결과로 이루어진다.

또, 도 3의 (a)에서는 공정 식별 정보로서 「02」가 설정되어 있는 행이 2행 존재한다. 즉, 커맨드 데이터 영역에는 「공정 02」에서 실행하는 처리가 2가지 기재되어 있다. 이 경우는, 예컨대 제어부(3)에서 커맨드 데이터 영역의 선두로부터 순서대로 판독하며, 판독한 순서로 처리를 실행하는 사양으로 함으로써, 우선 디스크 이력의 카피 커맨드가 실행되고, 다음으로 기판 정보의 카피 커맨드가 실행된다.

또한, 도 3의 (a)에 도시하는 커맨드 데이터 영역의 기술예 중, 공정 식별 정보로서 「03-04」가 설정되어 있는 행이 있으나, 이 행의 고장 판별 커맨드에 대해서는, 공정 03과 공정 04 사이의 버퍼에서 실행해야 할 것을 나타내고 있다.

도 3의 (b)는 제어부(3)와 RFID 태그(10)와의 데이터 송수신의 순서를 설명하는 도면이다. 도면에서 (1)에서 (4)의 번호는, 각 제어부(3)와 RFID 태그(10) 사이에서 데이터를 송수신하는 순서를 나타내고 있다. RFID 태그(10)를 부착한 제 품(50)에 대해서는 도면에서 도시를 생략하고 있다.

예컨대 공정 「01」에서는, 우선 (1) 제어부(3A)는, RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역으로부터 공정 식별 정보를 취득한다. 도 3의 (a)에 도시하는 바와 같이, 공정 「01」의 데이터 종별은 「데이터」이다. 이것으로부터, (2) 제어부(3A)는 파라미터 데이터인 「VC-0902-110」을 취득한다. (3) 마지막으로, 제어부(3A)는 처리가 정상적으로 종료된 것을 표시하는 「OK」를 나타내는 정보를 RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역의 공정 식별 정보 「01」의 행의 결과 정보에 기록하고, 제어부(3A)에서의 처리를 종료한다. 다른 제어부(3B, 3C, 3D)에 대해서도 마찬가지로, 각각의 제어부 지배하에 있는 안테나(2)에서 RFID 태그(10)를 검출하면, 커맨드 데이터 영역으로부터 소유 공정의 커맨드나 파라미터를 판독하여 처리를 실행하고, 처리 결과에 따라서 RFID 태그(10)에 값을 설정한다.

도 3의 (a)에 도시하는 구조를 구비한 RFID 태그(10)에 따르면, 제어부(3)에서는 제어 프로그램 중 서브 루틴부만 유지하고, 배치 처리 루틴에 대하여 RFID 태그(10) 측에서 유지한다. RFID 태그(10)에서 이러한 데이터 구조를 구비하고 있음으로써, 도 3의 (b)에 도시하는 바와 같이, RFID 태그(10)가 안테나(2)에서 검출되면, RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역에 저장되어 있는 배치 처리 루틴에 기초하여, 제어부(3)에서의 각종 제어 처리가 실행되고, RFID 태그(10)의 이동에 적합한 제어 프로그램의 실행이 가능해진다.

커맨드 데이터 영역에 저장되어 있는 데이터는, 배치의 각각에 대하여 처리한 결과에 대한 정보를 유지하고 있다. 이에 따라, 제어부(3)에서 결과 정보를 참 조함으로써, 배치의 각각에 대하여 실행이 완료되었는지의 여부를 판단할 수 있으며, 이에 따라, 제어부(3)에서의 시퀀스 제어가 가능해진다.

도 4는 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)의 제어부(3)에서의 기본 동작을 나타내는 흐름도이다. 도 4에 나타내는 처리는 각 제어부(3)와 접속되어 있는 안테나(2)를 통하여, 제어부(3)에서 RFID 태그(10)를 인식한 것을 계기로 해서 개시된다.

우선, 단계 S1에서, 커맨드 접수 플래그의 값을 참조한다. 커맨드 접수 플래그란, 제어부(3)에서 유지하는 플래그이며, 제어부(3)는 이 플래그의 값을 참조하여, 그리고 소유 공정에서의 커맨드 데이터 영역의 배치 처리 루틴을 참조해 처리를 실행할지의 여부를 판별한다.

커맨드 접수 플래그가 오프로 설정되어 있는 경우는, 단계 S2로 진행하여, RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역은 참조하지 않고, 고정 데이터 영역에 저장되어 있는 정보만을 참조하여 처리를 실행한다.

커맨드 접수 플래그가 온으로 설정되어 있는 경우는, 단계 S3으로 진행하여, 커맨드 데이터 영역 배치 처리 루틴 중, 결과 정보에 Null값이 설정되어 있는 행을 추출한다. Null값이 설정되어 있는 행이 추출되지 않은 경우는, 단계 S2로 진행하여, 고정 데이터 영역에 저장되어 있는 정보를 사용해서 처리를 실행한다.

단계 S3에서, Null값이 설정되어 있는 행이 추출된 경우는, 단계 S4로 진행하여, 추출한 행의 공정 식별 정보(공정 ID)의 값을 참조해서, 소유 공정의 번호와 일치할 때는, 단계 S5에서, 그 공정의 정형 처리를 실행하고, 단계 S6에서, 커맨드 데이터 영역의 데이터 종별 정보를 참조한다.

단계 S6에서 데이터 종별 정보를 참조한 결과, 「커맨드」가 설정되어 있을 때는, 단계 S7로 진행하고, 제어부(3)는 커맨드 데이터 영역 중 「데이터」에 저장되어 있는 커맨드 데이터를 판독해서 그 커맨드를 실행한다. 그리고, 단계 S8에서 처리 결과를 체크하고, 이상 종료인 경우는 단계 S9에서 결과 정보로서 「NG」를 RFID 태그(10)에 기록하여 단계 S3으로 되돌아간다. 정상 종료인 경우는 단계 S12에서 결과 정보로서 「OK」를 RFID 태그(10)에 기록하고, 단계 S3으로 되돌아간다.

단계 S6에서 데이터 종별 정보를 참조한 결과, 데이터 종별로서 「데이터」가 설정되어 있을 때는, 단계 S10으로 진행하여, RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역의 추출하는 행 중, 「데이터」에 저장되어 있는 파라미터 데이터를 취득하여 값을 체크한다. 그리고, 단계 S11에서 취득한 파라미터 데이터를 사용하여 소정의 처리를 실행하면, 단계 S12로 진행하여, 결과 정보로서 「OK」를 기록하고, 단계 S3으로 되돌아간다.

이하, 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)을 제조 라인에 도입한 경우의 각 공정에서의 구체적인 처리 방법에 대하여 설명한다.

도 5는 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)을 이용하여 이력 관리를 하는 방법을 설명하는 도면이다. 예컨대, 창고 영역 등의 외부로부터 순차로 반송되어 온 각종의 부품 A, B, C는 공정 「01」의 작업 영역의 부품 선반(21)의 각각 소정의 위치에 충전되어 간다. 부품 A, B, C의 각각의 위치에는 부품 상자 등이 놓여져 있으며, 부품 상자의 각각에 RFID 태그가 부착되어 있다. 부품 상자에 부착된 RFID 태그(10C, 10D, 10E)는 부품 선반(21) 상의 위치를 나타내는 선반 정보, 피수용물인 부품 정보 및 부품 상자에 수용하는 부품의 판수 정보를 저장하고 있다.

부품 상자에 부품의 충전이 완료되면, 그 부품 상자에 대해서는 부품 선반(21)의 소정의 위치를 벗어나서 외부로 송출되고, 외부로 송출된 부품 상자가 놓여져 있던 위치에는 이어서 부품을 충전해야 할 부품 상자가 배치된다. 도 5에 도시하는 예에서는, 앞서 배치되어 있던 부품 상자에는 부품 C가 충전되고, 부품 C의 부품 상자에의 충전이 완료되면, 그 부품 상자는 외부로 나가고, 그 장소에는 새롭게 부품 C'를 충전하기 위한 다른 부품 상자가 배치되게 된다.

이와 같이, 제조 라인에서 부품 선반(21)에 순차로 부품 상자를 배치하여 소정의 부품을 충전하는 경우에, 앞의 부품 상자와 뒤의 부품 상자에 충전되는 부품의 종류는 반드시 동일한 것은 아니다. 부품 선반(21) 상의 부품 상자를 배치해야 할 장소(위치 정보)와 그 장소에 놓여진 부품 상자에 충전해야 할 부품과의 관계는, RFID 시스템(1)의 마스터 데이터베이스(4)에서 관리한다. 그 경우, 부품과 그 판수 정보에 대해서도 서로 관련시켜서 정보를 유지한다. 부품 상자가 외부로 송출되고 새로운 부품 상자가 놓여졌을 때는, 새로운 부품 상자에 부착된 RFID 태그(10)의 데이터에 기초하여, 마스터 데이터베이스(4)의 데이터를 갱신한다.

한편, 제조 라인에서는 제품(50)(여기에서는 부품 A, B, C 등)에 대하여 작업하고 있으며, 제품(50)이 작업의 라인 상에서 반송될 때에, 안테나(2) 근방을 통과하는 제품(50)의 RFID 태그(10)에 대하여 순차로 이력을 기록한다.

본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)에서는, 안테나(2)에서 검출한 RFID 태 그(10)가 부품 상자에 부착된 RFID 태그(10)일 때는, RFID 태그(10)에 유지하고 있는 정보를 마스터 데이터베이스(4)에 반영시키는 처리를 실행한다. 검출한 RFID 태그(10)가 제품(50)에 부착된 RFID 태그(10)일 때는, 그 커맨드 데이터 영역의 정보를 판독하여, 판수 카피의 처리를 실행한다.

도 6은 RFID 시스템(1)의 제어부(3)에서의 이력 관리 처리를 나타내는 흐름도이다.

우선, 단계 S21은 RFID 태그(10)의 대기 상태이다. 새로운 RFID 태그(10)를 검출하면, 단계 S22로 진행하여, 검출한 RFID 태그(10)의 시스템 데이터로부터 RFID 태그(10)에 대한 식별 정보를 취득한다. 그리고, 단계 S23에서, 취득한 식별 정보를 참조하여, 검출한 RFID 태그(10)는 워크 상의 제품(50)에 부착된 것인지, 또는 부품 선반(21) 상의 부품 상자에 부착된 것인지를 판정한다.

제품(50)에 부착된 RFID 태그(10)에 대해서는, 판수 카피 처리 대상으로 하여, 단계 S24로 진행한다. 판수 카피 처리를 실행하면, 단계 S21의 RFID 태그(10)의 대기 상태로 되돌아간다. 또, 단계 S24의 판수 카피 처리는 도 4에 나타내는 기본 동작에 상당하며, RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역에 기술된 배치 처리 루틴 중, 「판수 카피 처리」를 기술한 행을 도 4의 단계 S3에서 추출하여 실행된다. 판수 카피 처리의 상세한 것에 대해서는 후술한다.

부품 상자에 부착된 RFID 태그(10)에 대해서는, 단계 S25로 진행하여, RFID 태그(10)로부터 선반의 위치 정보, 부품 정보 및 판수 정보를 추출한다. 그리고, 단계 S26에서, 추출한 데이터를 마스터 데이터베이스(4)에 반영시킨다. 단계 S27에 서, 마스터 데이터베이스(4)의 갱신 처리 결과를 체크하고, 이상 종료되어 있는 경우는, 단계 S28에서 RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역의 결과 정보에 「NG」를 기록하여 단계 S21로 되돌아간다. 마스터 데이터베이스(4)의 갱신 처리가 정상 종료되어 있는 경우는, 단계 S29로 진행하여, 결과 정보로서 「OK」를 기록하고, 단계 S21로 되돌아간다.

도 7은 판수 카피 처리를 나타내는 흐름도이다. 또, 도 7에서는 도 4에 나타내는 일련의 처리 중, 단계 S7의 커맨드 실행 처리의 부분에 대해서만 기재하고 있으며, 커맨드 접수 플래그의 값 판정이나 판수 카피 배치(batch)의 추출 및 정형 처리 등의 이전 처리에 대해서는 그 기재를 생략하고 있다.

단계 S31에서, RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역으로부터 판수 카피 커맨드 및 파라미터 데이터를 취득한다. 도 5에 나타내는 예에서는, RFID 태그(10)로부터 추출되는 커맨드는 「판수 카피」이며, 추출되는 파라미터 데이터는 선반의 위치 정보 「03」 및 어드레스 정보 「45」이다. 여기에서, 어드레스 정보란, RFID 태그(10)의 메모리의 어드레스를 가리키고, 판수 카피 처리와 관련해서는, 취득한 판수 정보에 대한 카피처(copy destination)의 어드레스로 이루어진다.

단계 S32에서, 선반의 위치 정보를 키로 하여 마스터 데이터베이스(4)를 검색해, 판수 정보를 취득한다. 단계 S33에서, 제어부(3)는, 판수 카피 커맨드의 반환값으로서 「09판」을 나타내는 값을 얻는다. 단계 S34에서, RFID 태그(10)의 45번지에 판수 정보 「09」를 기록하고, 판수 카피 처리를 종료한다.

이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)을 사용한 이력 관리 방법에 따르면, 검출한 RFID 태그(10)가 부품 상자에 부착된 것인지 제품(50)에 부착된 것인지를 판단하고, 부품 상자의 RFID 태그(10)에 대해서는 RFID 태그(10)로부터 데이터를 판독하여 마스터 데이터베이스(4)를 갱신하며, 제품(50)의 RFID 태그(10)에 대해서는 커맨드 데이터 영역으로부터 판수 카피 커맨드를 기술한 배치(batch)를 판독하여 마스터 데이터베이스(4)의 판수 정보를 RFID 태그(10)에 카피한다.

상기와 같이, 마스터 데이터베이스(4)의 갱신에 있어서 관리자 등의 수동 조작이 불필요하고, 부품 선반(21) 상의 부품 선반이 교체되어 RFID 시스템(1)에서 새로운 부품 상자의 RFID 태그(10)를 검출하면, 자동적으로 RFID 태그(10)의 데이터가 마스터 데이터베이스(4)에 반영된다. 마스터 데이터베이스의 갱신의 계기로 부품 상자의 RFID 태그(10)를 검출함으로써, 마스터 데이터베이스(4)의 갱신을 위한 프로그램을 이력 관리 프로그램과 제휴시키는 것이 불필요하게 되고, 이에 따라, RFID 시스템(1)의 프로그램의 대용량화를 방지하면서, 제품(50)에 기록해야 할 판수 정보와 마스터 데이터베이스(4)의 판수 정보 간의 불일치를 방지할 수 있다.

도 8은 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)을 이용하여 제품(50)을 시험하는 방법을 설명하는 도면이다. 도 8에 도시하는 시스템 구성예에서는, 공정 01, 버퍼(01B), 공정 02 및 버퍼(02B)의 영역에 제어부(3) 및 안테나(2)를 구비한다. 각 영역에 설치된 제어부(3) 및 안테나(2)를, 각각 제어부(3A, 3B, 3C, 3D) 및 안테나(2A, 2B, 2C, 2D)와 알파벳 기호를 붙여서 구별한다.

각 공정에서는, 제품(50)의 조립 등의 각각 정해진 작업을 하고, RFID 시스 템(1)은 제품(50)이 라인 상의 안테나(2)의 태그 검출 영역을 통과하면, 제품(50)의 시험이나 시험에 필요한 계산, 및 시험 결과의 해석 등을 수행한다.

도 9는, 도 8에 도시하는 시스템 구성으로 제품(50)에 대하여 시험한 경우의 각 단계에서의 RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역의 상태를 나타내는 도면이다. 또, 도 9에 나타내는 태그의 배치 처리 루틴은 시험에 관련되는 행만 기재하고 있다. 제어부(3A, 3B, 3C, 3D)는 RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역에 기술되어 있는 배치(batch)에 따라서 각각 처리를 실행하고, RFID 태그(10)에 처리 결과를 기록한다.

이하, 도 8과 도 9를 대응시켜서, 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)에 의한 시험의 실행 방법에 대하여 설명한다.

우선, 제품(50)이 공정 01에 있을 때에 안테나(2A)에서 RFID 태그(10)를 검출하면, 제어부(3A)에서는 나중에 수행할 기능 시험에 필요한 임계치 관리 시험을 하고, 임계치 데이터를 RFID 태그(10)에 기록한다. 또, 임계치 관리 시험 및 결과의 기록은, 공정 01에서의 작업 내용에 따라서, 예컨대 제품(50)에 대하여 공정의 소정의 작업이 완료된 후에 실행된다. 타이밍이 적절하면, 작업 전이나 작업 중이어도 좋다.

도 9의 상태 1은 임계치 관리 시험을 실행하기 전의 커맨드 데이터 영역의 상태이고, 상태 2는 임계치 관리 시험을 실행한 후의 상태이다. 품질 해석 커맨드를 제어부(3A)에서 실행함으로써, 시험에 필요한 임계치(3 ㎌, 0.05 V, 980 Å)가 얻어지고, 그 임계치는 공정 식별 정보 「01-01B」의 품질 해석 커맨드의 파라미터 데이터로서 설정되어 있다. 또, 공정 식별 정보 「01-01B」는, 공정 01과 공정 01 후의 버퍼(01B)에서 처리되어야 하는 배치(batch)인 것을 나타내고 있다. 결과 정보로서는, 품질 해석 처리 실행중인 것을 나타내는 「CHK」가 저장된다.

제품(50)이 공정 01 후의 버퍼(01B)에 있을 때에 안테나(2B)에서 RFID 태그(10)를 검출하면, 제어부(3B)에서는 취득한 임계치 데이터를 사용하여 품질 해석 시험을 수행하고, 결과를 RFID 태그(10)에 기록한다.

도 9의 상태 3은 품질 해석 시험 실행 후의 상태를 나타낸다. 품질 해석 시험에 의해, 「93dB」이 얻어지고, 이것은 품질 해석 커맨드의 파라미터 데이터로 설정되어 있다. 얻어진 값의 저장처는 앞서 파라미터 데이터로서 건네준 값에 따라서, 메모리의 「50」번지이다. 또한, 품질 해석 처리가 완료된 것을 나타내는 「OK」가 결과 정보로서 설정된다.

제품(50)이 공정 02에 있을 때에 안테나(2C)에서 RFID 태그(10)를 검출하면, 제어부(3C)에서는 필요한 테스트 프로그램을 다운로드하여, 품질 해석 시험의 결과 얻어진 값을 사용해서 기능 시험을 수행하고, 시험 결과를 RFID 태그(10)에 기록한다. 공정 02에서의 기능 시험을 수행하는 타이밍에 대해서도, 공정 01의 경우와 마찬가지로, 그 공정에서 작업자 등이 수행해야 할 작업의 내용에 따라서, 작업 전, 작업 후, 작업 중 등의 적절한 타이밍에서 실행된다.

도 9의 상태 4는 기능 시험을 실행한 후의 상태를 나타낸다. 공정 식별 정보 「02」의 테스트 커맨드의 파라미터에, 시험 결과가 실패로 끝난 것을 나타내는 「NG」가 저장되어 있다. 또, 시험의 결과는 실패이지만, 테스트 프로그램은 정상적 으로 실행되어, 정상 종료하고 있기 때문에, 결과 정보로서는 「OK」가 설정되어 있다.

제품(50)이 공정 02 후의 버퍼(02B)에 있을 때에 안테나(2D)에서 RFID 태그(10)를 검출하면, 제어부(3D)에서는, 이전 공정 02에서의 시험 결과를 판정한다. 예컨대, 공정 02에서의 시험 결과가 「NG」였던 제품(50)에 대해서는 기능 시험의 결과를 판독하여 시험 결과를 검증하고, NG의 제품에 대해서는 알람을 출력하거나, 다음 공정으로의 반송을 정지시키는 등으로 대처한다. 또, 시험 결과가 「OK」였던 제품(50)에 대해서는, 도 8의 예에서는 특별히 처리하지 않고 그대로 다음 공정으로 반송하는 것으로 하고 있다.

도 9의 상태 5는, 시험 결과가 NG인 제품(50)에 대하여 버퍼(02B)에서 시험 결과를 해석한 후의 상태를 나타낸다. 앞서 공정 01 및 버퍼(01B)에서 실행한 품질 해석 커맨드의 처리 결과로서는 「90dB」이 설정되어 있다. 상기와 같이, 품질 해석 결과는 93dB 초과로 시험 결과 OK가 되기 때문에, 공정 02의 라인 상의 제품 중, 2번째의 제품에 대해서는 불량품이라고 판정된다.

이에 비해서, 도 9의 상태 6은 시험 결과가 OK인 제품(50)에 대한 RFID 태그(10)의 상태를 나타낸다. 품질 해석 커맨드의 처리 결과로서 「120dB」이 저장되어 있으며, 상기 제품의 양호/불량을 판정하는 임계치인 93dB보다 크기 때문에, 여기에서는 특별히 해석 처리를 행하지 않고, 그대로 다음 공정 03으로 반송된다.

도 10 내지 도 12는 RFID 시스템(1)의 제어부(3)에서의 시험 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 10의 단계 S41 내지 단계 S44의 처리는 각각 도 6의 단계 S21 내지 단계 S24의 처리와 대응하고 있다. 단, 도 10에 나타내는 흐름도에서 검출한 RFID 태그(10)는 모두 시험 대상이며, 도 6의 단계 S23과 같이 검출한 RFID 태그(10)에 따라 다른 처리를 실행하는 일은 없다.

단계 S44에서는 도 8을 참조하여 설명한 바와 같이, 제어부(3)의 설치 개소에 따라 다른 처리가 실행된다.

도 11 및 도 12는 각각의 제어부에서 실행하는 처리를 나타내는 흐름도이다. 도 11의 (a), 도 11의 (b), 도 12의 (a) 및 도 12의 (b)는 모두 각 제어부(3)에서 실행되는 도 10의 단계 S44의 처리 A를 상세히 나타내는 도면이다. 도 11 및 도 12를 사용하여, 도 8에 도시하는 제어부(3A, 3B, 3C, 3D)의 각각에서 실행하는 처리를 구체적으로 설명한다.

도 11의 (a)는 제어부(3A)에서의 기능 시험 처리를 나타내는 흐름도이다.

단계 S51에서, RFID 태그(10)의 공정 식별 정보 「01-01B」의 행으로부터 커맨드 「품질 해석」 및 파라미터 데이터 「0, 0, 0, 50」을 취득한다. 단계 S52에서, 취득한 파라미터 데이터를 사용하여, 취득한 커맨드가 나타내는 품질 해석 시험에 사용하는 임계치를 얻기 위해서, 기능 시험 처리를 실행한다. 단계 S53에서, 기능 시험의 결과로서 반환값 「3 ㎌, 0.05 V, 980 Å, 50」을 수취하면, 단계 S54에서, RFID 태그(10)의 대응하는 행의 파라미터 데이터에 취득한 반환값을 기록하고, 처리를 종료한다.

도 11의 (b)는 제어부(3B)에서의 품질 해석 처리를 나타내는 흐름도이다.

단계 S61에서, 공정 식별 정보 「01-01B」의 행으로부터 커맨드 「품질 해석」 및 파라미터 데이터 「3 ㎌, 0.05 V, 980 Å, 50」을 취득한다. 단계 S62에서, 취득한 파라미터 데이터를 사용하여, 취득한 커맨드가 나타내는 바와 같이 품질 해석 프로그램을 실행한다. 단계 S63에서, 품질 해석 프로그램을 실행한 결과로서 반환값 「93dB」을 수취하면, 단계 S64에서, RFID 태그(10)의 대응하는 행의 파라미터 데이터에 취득한 반환값을 기록하고, 처리를 종료한다.

도 12의 (a)는 제어부(3C)에서의 시험 프로그램 실행 처리를 나타내는 흐름도이다.

단계 S71에서, 공정 식별 정보 「02」의 행으로부터 커맨드 「테스트」 및 파라미터 데이터 「50, 0」을 취득한다. 단계 S72에서, 취득한 파라미터 데이터를 사용하여, 메모리의 「50번지」에 저장되어 있는 값 「93dB」을 사용해 테스트 프로그램을 실행한다. 단계 S73에서, 테스트 프로그램을 실행한 결과로서 반환값 「NG」를 수취하면, 단계 S74에서, RFID 태그(10)의 대응하는 행의 파라미터 데이터에 취득한 반환값을 기록하고, 처리를 종료한다.

도 12의 (b)는 제어부(3D)에서의 데이터 처리를 나타내는 흐름도이다.

단계 S81에서, 메모리의 50번지에 저장되어 있는 데이터를 참조한다. 단계 S82에서, 버퍼(02B)에서 수행한 시험 결과가 「NG」인지의 여부를 판정하고, 시험 결과가 NG인 경우에는, 단계 S83에서, 라인아웃 알람을 출력하고, 처리를 종료한다.

이상 설명한 바와 같이, 각각의 제어부(3)는 검출한 RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역으로부터, 소유 공정에서 실행해야 할 커맨드 또는 취득해야 할 파라미터 데이터가 기술되어 있는 행을 추출하고, 그 행에 기술되어 있는 내용에 따라서 처리를 실행한다. 이 때문에, 예컨대 라인 상에 복수 종류의 제품이 놓여지는 경우라도, RFID 태그(10)는 각 제품에 따른 커맨드나 파라미터 데이터를 유지하기 때문에, 제품의 종류, 즉 워크에 따른 처리가 가능해진다.

라인 상의 복수 개소에 안테나(2) 및 제어부(3)를 설치하고, 각 제어부(3)에 대하여 실행해야 할 처리를 커맨드 데이터 영역에 기술한다. 각 제어부에서는 커맨드 데이터 영역으로부터 판독한 커맨드에 대응하는 처리를, 파라미터로서 설정되어 있는 값을 사용하여 실행한다.

시험에 필요한 임계치의 계산 처리, 품질 해석 처리를 순차로 실행하고, 필요한 데이터는 커맨드 데이터 영역에 기술되어 있는 파라미터 데이터의 값을 사용할 수 있다. 예컨대 품질 해석 처리에서, 제어부(3)는 취득한 파라미터(3 ㎌, 0.05 V, 980 Å, 50)를 품질 해석 프로그램에 전송하고, 반환값을 취득하여 커맨드 데이터 영역의 파라미터로 설정한다. 종래에 있어서는 공정의 작업 중에 임계치의 계산 및 품질 해석을 할 필요가 있었으나, RFID 태그(10)에 품질 해석에 필요한 데이터를 유지함으로써, 이러한 품질 해석 프로그램을 버퍼 영역에서 실행하는 것이 가능해진다.

시험에 대해서는, 제품(50)의 테스트 프로그램은 실제 기계에 취입되어 독립적으로 실행된다. 종래는, 테스트 프로그램에서 품질 해석 결과를 사용할 필요가 있을 때는, 테스트 프로그램이 품질 해석 프로그램에 액세스하여 품질 해석 결과를 취득해 올 필요가 있었다. 이에 비해서, 본 실시형태에 따른 시험 방법에 따르면, 필요한 데이터가 RFID 태그(10)에 설정되어 있기 때문에, 테스트 프로그램 실행시에는 RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역으로부터 데이터를 판독하는 것만으로 충분하다. 이에 따라, 테스트 프로그램의 사이즈를 억제하고, 또한, 시험에 소요되는 시간을 단축화시킬 수 있다.

또한, 라인 상의 제품(50)에 부착된 RFID 태그(10)의 각각에 시험 결과가 저장되어 있기 때문에, 시험 종료 후, 다음 공정으로 제품(50)이 반입되기 전에, 버퍼에서 시험 결과를 해석하고, 시험 결과가 NG인 제품을 특정하여 라인에서 빼내거나, 또는 라인을 정지시키는 등을 처치하여, 불량품이 후공정으로 가는 것을 미연에 방지하는 것이 가능해진다.

도 13은 본 실시형태에 따른 RFID 시스템(1)을 이용하여 JIT(저스트 인 타임) 지시를 행하는 방법을 설명하는 도면이다. 예컨대 작업 영역 3에서는 제품(50)을 조립하는 작업을 하고 있다. 이때, 어떤 제품(제품 A)에 대해서는 부품 A를 사용하지만, 다른 제품(제품 B)에 대해서는 부품 B를 사용한다고 하자. 설명을 위하여, 부품 A에 대해서, 작업 영역 3에서 사용하기 위해서는, 작업 영역 1에 부품 A가 있을 때에 간판을 발행할 필요가 있다. 이에 비해서, 부품 B에 대해서, 작업 영역 3에서 사용하기 위해서는, 작업 영역 2에 부품 B가 있을 때에 간판을 발행할 필요가 있다고 하자.

이때, 제품 B에 부착된 RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역에는, 예컨대 도 13에 도시하는 바와 같이, 작업 영역 2에서의 공정 식별 정보를 나타내는 「01」, 데이터 종별은 「커맨드」, 커맨드의 내용은 「간판 발행 커맨드」, 커맨드의 파라미터에는「POST2, 부품 A, B, C」, 결과 정보에는 Null값이 설정되어 있다.

제품 B의 RFID 태그(10)의 예에 나타내는 바와 같이, RFID 시스템(1)은, 공정이나 버퍼의 각 지점에 설치한 안테나(2)에서 RFID 태그(10)를 검출하면, 커맨드 데이터 영역의 데이터를 참조해서, 소유 공정에서 실행해야 할 간판 발행 커맨드에 대하여 기술되어 있을 때는, 파라미터 데이터에 따라서, 간판을 발행한다.

도 14는 RFID 시스템(1)의 제어부(3)에서의 간판 발행 처리를 나타내는 흐름도이다. 또, 도 14에 나타내는 처리의 이전 단계로서, 도 10에 나타내는 처리가 실행되고 있으며, 새롭게 검출된 RFID 태그(10)에 대하여 시스템 데이터를 체크하고, 제어 대상이라고 판정된 RFID 태그에 대하여 소정의 처리 A, 여기에서는 간판 발행 처리를 실행하는 것으로 하고 있다.

단계 S91에서, 제어부(3)는 RFID 태그(10)의 커맨드 데이터 영역으로부터 커맨드 및 파라미터 데이터를 취득한다. 여기에서 취득하는 커맨드는 「간판」이며, 파라미터 데이터는, 도 13에 나타내는 예에서는 「POST2, 부품 A, B, C」이다. 파라미터 데이터는, 간판 발행처 정보 및 부품 정보로 이루어진다. 간판 발행처 정보로서는, 여기에서는 단말 명칭을 설정하는 것으로 하고 있으나, 이것에 제한하지 않는다. 예컨대, 네트워크명, IP 어드레스, 포트명 등이어도 좋다. 부품 정보는 조달해야 할 부품을 나타낸다.

단계 S92에서, RFID 태그(10)로부터 취득한 데이터에 기초하여, 간판 발행처 정보를 나타내는 수신처, 상기의 예에서는 POST2 단말에 대하여, 메시지 「부품 A, B, C」를 송신한다. 단계 S93에서, 간판이 발행된 것을 나타내는 반환값을 취득하고, 단계 S94에서, 정상 종료된 것을 나타내는 값을 RFID 태그(10)의 커맨드 영역 데이터의 결과 정보에 저장하며, 처리를 종료한다.

이와 같이, RFID 태그(10)에 간판 발행처나 필요한 부품에 대한 정보를 유지함으로써, 그 RFID 태그(10)가 부착된 제품(50)이 간판 발행 처리를 실행해야 할 작업 영역의 안테나(2)에 의해 검출되면, 그 안테나(2)와 접속되어 있는 제어부(3)는, 커맨드 데이터 영역의 데이터를 판독하여 간판 발행 처리를 실행한다. 이에 따라, RFID 시스템(1) 측에서, 제품마다 간판 발행 타이밍을 관리하는 것이 불필요하게 되고, 미리 간판 발행해야 할 타이밍, 즉 공정을 커맨드 데이터 영역에 기술해 둠으로써 최적 타이밍에서의 간판 발행이 가능해진다.

이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 따른 RFID 시스템에 따르면, 각 공정에서 RFID 태그를 인식할 수 있었을 때에, RFID 태그의 커맨드 데이터 영역에 저장되어 있는 정보에 기초하여, 그 공정에서 실행해야 할 처리를 적절한 타이밍에서 실행하는 것이 가능해진다. 또한, 각 처리에서 필요한 데이터에 대해서도 커맨드 데이터 영역에 저장할 수 있기 때문에, 처리에 필요한 시간을 단축화하는 것이 가능해진다.

(부기 1)

RFID 태그를 검출하기 위한 검출부, 및 RFID 태그에 관계되는 제어를 실행하는 제어부를 구비하는 RFID 시스템에 있어서,

상기 제어부는,

ID 정보를 저장하는 제1 영역 및 커맨드 정보를 저장하는 제2 영역을 포함하는 기억 영역을 구비하는 RFID 태그의 상기 제2 영역에 액세스해야 할지의 여부를 판단하는 판단 수단과,

상기 제2 영역에 액세스한다고 판단되었을 때에, 그 제2 영역으로부터 커맨드 정보를 추출하는 추출 수단과,

상기 추출 수단에 의해 추출된 커맨드 정보에 대응하는 처리를 실행하는 실행 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템.

(부기 2)

상기 추출 수단은, 상기 기억 영역에 상기 커맨드 정보와 대응하여 저장되어 있는 결과 정보와 실행되는 처리를 식별하기 위한 식별 정보를 참조하여, 미처리이며 상기 제어부에서 실행해야 할 처리를 나타내는 식별 정보에 대응하는 커맨드 정보를 추출하는 것을 특징으로 하는 부기 1에 기재된 RFID 시스템.

(부기 3)

상기 제어부는,

상기 RFID 태그의 기억 영역에, 상기 추출된 커맨드를 실행한 결과를 결과 정보로 하여 상기 커맨드 정보와 대응시켜 기록하는 기록 수단을 더 갖는 것을 특징으로 하는 부기 2에 기재된 RFID 시스템.

(부기 4)

상기 기록 수단은, 상기 추출 수단에 의해 추출된 커맨드를 실행한 결과의 반환값을 상기 RFID 태그에 대하여 기록하는 것을 특징으로 하는 부기 3에 기재된 RFID 시스템.

(부기 5)

상기 커맨드 정보는, 제조 라인에서 제1 물품에 대한 제조 공정 및 시험 공정에 관계되는 처리를 나타내는 커맨드 및 상기 커맨드를 실행할 때에 사용하는 파라미터 데이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 부기 2에 기재된 RFID 시스템.

(부기 6)

상기 제1 물품 및 그 제1 물품의 판수 정보를, 그 제1 물품을 구분하여 보관하는 장소를 나타내는 위치 정보와 대응시켜, 그 제1 물품의 구분마다 저장하는 데이터베이스를 더 구비하고,

상기 제1 물품을 구분하여 수용하기 위한 제2 물품에 부착된 RFID 태그가 상기 검출 수단에 의해 검출되면, 상기 제어부는, 그 제2 물품에 부착된 RFID 태그에 저장되어 있는 상기 제1 물품, 상기 판수 정보 및 상기 제1 물품의 위치 정보를 상기 데이터베이스에 반영시키기 위한 처리를 실행하며,

상기 제1 물품에 부착된 RFID 태그가 상기 검출 수단에 의해 검출되면, 상기 추출 수단은, 상기 제1 물품에 부착된 RFID 태그의 기억 영역으로부터, 상기 판수 정보를 상기 데이터베이스로부터 판독하여 그 RFID 태그에 기록하는 처리를 나타내는 커맨드 정보를 추출하는 것을 특징으로 하는 부기 5에 기재된 RFID 시스템.

(부기 7)

상기 검출 수단에 의해 상기 RFID 태그가 검출되면, 상기 제어부는, 시험용 데이터를 취득하기 위한 연산 처리, 시험 및 시험 결과의 해석 처리의 커맨드에 따 라서, 앞서 커맨드를 실행하여 얻은 반환값을 사용해서 다음에 실행해야 할 처리를 순차로 실행하는 것을 특징으로 하는 부기 5에 기재된 RFID 시스템.

(부기 8)

상기 검출 수단에 의해 상기 RFID 태그가 검출되면, 상기 제어부는, 저스트 인 타임 방식으로 나중 공정에 대하여 생산 지시를 하기 위한 처리를 실행하는 것을 특징으로 하는 부기 5에 기재된 RFID 시스템.

(부기 9)

상기 제어부는, 상기 RFID 시스템에서 유지하는 플래그를 참조하여, 상기 RFID 태그의 기억 영역에 기술되어 있는 커맨드 정보에 기초해 처리를 실행할지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 부기 1에 기재된 RFID 시스템.

(부기 10)

RFID 태그를 검출하기 위한 검출부, 및 RFID 태그에 관계되는 제어를 실행하는 제어부를 구비하는 RFID 시스템에서 실행되는 제어 방법으로서,

상기 제어부는,

ID 정보를 저장하는 제1 영역 및 커맨드 정보를 저장하는 제2 영역을 포함하는 기억 영역을 구비하는 RFID 태그의 상기 제2 영역에 액세스해야 할지의 여부를 판단하고,

상기 제2 영역에 액세스한다고 판단되었을 때에, 그 제2 영역으로부터 커맨드 정보를 추출하며,

상기 추출 수단에 의해 추출된 커맨드 정보에 대응하는 처리를 실행하는 처 리를 하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템에서의 제어 방법.

(부기 11)

기억 영역을 구비한 RFID 태그에 있어서,

상기 기억 영역은,

RFID 시스템에서 공정을 식별하기 위한 공정 식별 정보와,

상기 처리를 RFID 시스템에서 실행하도록 지시하는 커맨드를 나타내는 커맨드 정보와,

상기 커맨드 정보가 나타내는 커맨드를 상기 RFID 시스템에서 실행한 결과를 나타내는 결과 정보를 가지며,

상기 RFID 시스템에서 상기 정보들을 갖는 RFID 태그가 검출되었을 때는, 상기 RFID 시스템에서는, 상기 공정 식별 정보에 따라서 실행해야 할 처리가 판단되고, 상기 처리에 대응하는 상기 커맨드 정보가 추출되어 실행되며, 실행 결과가 상기 결과 정보에 저장되는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.

도 1은 본 실시형태에 따른 RFID 시스템의 개념도이다.

도 2는 본 실시형태에 따른 RFID 시스템의 처리 방법을 설명하는 도면이다.

도 3은 RFID 태그의 데이터 구조, 및 RFID 태그와 제어부와의 데이터의 송수신 방법을 설명하는 도면이다.

도 4는 본 실시형태에 따른 RFID 시스템의 기본 동작을 나타내는 흐름도이다.

도 5는 본 실시형태에 따른 RFID 시스템을 이용하여 이력 관리를 하는 방법을 설명하는 도면이다.

도 6은 RFID 시스템에서의 이력 관리 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 7은 판수 카피 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 8은 본 실시형태에 따른 RFID 시스템을 이용하여 제품의 시험을 행하는 방법을 설명하는 도면이다.

도 9는 커맨드 데이터 영역의 상태를 나타내는 도면이다.

도 10은 RFID 시스템에서의 시험 처리를 나타내는 흐름도(부분 1)이다.

도 11은 RFID 시스템에서의 시험 처리를 나타내는 흐름도(부분 2)이다.

도 12는 RFID 시스템에서의 시험 처리를 나타내는 흐름도(부분 3)이다.

도 13은 본 실시형태에 따른 RFID 시스템을 이용하여 JIT 지시를 행하는 방법을 설명하는 도면이다.

도 14는 RFID 시스템에서의 간판 발행 처리를 나타내는 흐름도이다.

도 15는 종래의 RFID 시스템을 제조 라인에 도입한 경우의 각 공정의 처리를 설명하는 도면이다.

도 16은 종래에 있어서의 제어 시스템의 처리 방법을 설명하는 도면이다.

도 17은 종래 기술에 있어서의 RFID 시스템의 문제점을 설명하는 도면이다.

도 18은 이력 데이터 입력 처리를 실행할 때에 발생하는 문제를 설명하는 도면이다.

도 19는 테스트 실행시에 발생하는 문제를 설명하는 도면이다.

도 20은 공정 관리시에 발생하는 문제를 설명하는 도면이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

1: RFID 시스템 2: 안테나

3: 제어부 4: 마스터 데이터베이스

10: RFID 태그 21: 부품 선반

50: 제품

Claims

RFID 태그를 검출하기 위한 검출부, 및 RFID 태그에 관계되는 제어를 실행하는 제어부를 구비하는 RFID 시스템에 있어서,

상기 제어부는,

ID 정보를 저장하는 제1 영역 및 커맨드 정보를 저장하는 제2 영역을 포함하는 기억 영역을 구비하는 RFID 태그의 상기 제2 영역에 액세스해야 할지의 여부를 판단하는 판단 수단과,

상기 제2 영역에 액세스한다고 판단되었을 때에, 그 제2 영역으로부터 커맨드 정보를 추출하는 추출 수단과,

상기 추출 수단에 의해 추출된 커맨드 정보에 대응하는 처리를 실행하는 실행 수단

을 포함하고,

상기 커맨드 정보는, 제조 라인에서 제1 물품에 대한 제조 공정 및 시험 공정에 관계되는 처리를 나타내는 커맨드, 및 그 커맨드를 실행할 때에 사용하는 파라미터 데이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템.
제1항에 있어서, 상기 추출 수단은, 상기 기억 영역에 상기 커맨드 정보와 대응하여 저장되어 있는 결과 정보와 실행되는 처리를 식별하기 위한 식별 정보를 참조하여, 미처리이며 상기 제어부에서 실행해야 할 처리를 나타내는 식별 정보에 대응하는 커맨드 정보를 추출하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템.
제2항에 있어서, 상기 제어부는,

상기 RFID 태그의 기억 영역에, 상기 추출된 커맨드 정보를 실행한 결과를 결과 정보로 하여 상기 커맨드 정보와 대응시켜 기록하는 기록 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템.
삭제
제1항에 있어서, 상기 제1 물품 및 그 제1 물품의 판수(version number) 정보를, 그 제1 물품을 구분하여 보관하는 장소를 나타내는 위치 정보와 대응시켜, 그 제1 물품의 구분마다 저장하는 데이터베이스를 더 구비하고,

상기 제1 물품을 구분하여 수용하기 위한 제2 물품에 부착된 RFID 태그가 상기 검출부에 의해 검출되면, 상기 제어부는, 그 제2 물품에 부착된 RFID 태그에 저장되어 있는 상기 제1 물품, 상기 판수 정보 및 그 제1 물품의 위치 정보를 상기 데이터베이스에 반영시키기 위한 처리를 실행하며,

상기 제1 물품에 부착된 RFID 태그가 상기 검출부에 의해 검출되면, 상기 추출 수단은, 그 제1 물품에 부착된 RFID 태그의 기억 영역으로부터, 상기 판수 정보를 상기 데이터베이스로부터 판독하여 그 RFID 태그에 기록하는 처리를 나타내는 커맨드 정보를 추출하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템.
제1항에 있어서, 상기 검출부에 의해 상기 RFID 태그가 검출되면, 상기 제어부는, 시험용 데이터를 취득하기 위한 연산 처리, 시험 및 시험 결과의 해석 처리의 커맨드에 따라서, 앞서 커맨드를 실행하여 얻은 반환값을 사용해서 다음에 실행해야 할 처리를 순차로 실행하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템.
제1항에 있어서, 상기 검출부에 의해 상기 RFID 태그가 검출되면, 상기 제어부는, 저스트 인 타임(Just In Time : JIT) 방식으로 나중 공정에 대하여 생산 지시를 하기 위한 처리를 실행하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템.
제1항에 있어서, 상기 제어부는, 상기 RFID 시스템에서 유지하는 플래그를 참조해서, 상기 RFID 태그의 기억 영역에 기술되어 있는 커맨드 정보에 기초하여 처리를 실행할지의 여부를 판정하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템.
RFID 태그를 검출하기 위한 검출부, 및 RFID 태그에 관계되는 제어를 실행하는 제어부를 구비하는 RFID 시스템에서 실행되는 제어 방법으로서,

상기 제어부는,

ID 정보를 저장하는 제1 영역 및 커맨드 정보를 저장하는 제2 영역을 포함하는 기억 영역을 구비하는 RFID 태그의 상기 제2 영역에 액세스해야 할지의 여부를 판단하고,

상기 제2 영역에 액세스한다고 판단되었을 때에, 그 제2 영역으로부터 커맨드 정보를 추출하며,

상기 추출된 커맨드 정보에 대응하는 처리를 실행하고,

상기 커맨드 정보는, 제조 라인에서 제1 물품에 대한 제조 공정 및 시험 공정에 관계되는 처리를 나타내는 커맨드, 및 그 커맨드를 실행할 때에 사용하는 파라미터 데이터를 포함하는 것을 특징으로 하는 RFID 시스템에서의 제어 방법.
기억 영역을 구비한 RFID 태그에 있어서,

상기 기억 영역은,

RFID 시스템에서의 처리를 식별하기 위한 공정 식별 정보와,

상기 처리를 RFID 시스템에서 실행하도록 지시하는 커맨드를 나타내는 커맨드 정보와,

상기 커맨드 정보가 나타내는 커맨드를 상기 RFID 시스템에서 실행한 결과를 나타내는 결과 정보

를 가지며,

상기 RFID 시스템에서 상기 정보들을 갖는 RFID 태그가 검출되었을 때는, 상기 RFID 시스템에서는, 상기 공정 식별 정보에 따라서 실행해야 할 처리가 판단되고, 상기 처리에 대응하는 상기 커맨드 정보가 추출되어 실행되며, 실행 결과가 상기 결과 정보에 저장되는 것을 특징으로 하는 RFID 태그.