KR100956837B1 - 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치 - Google Patents

마이크로미터 치수 정밀도 검사장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 마이크로미터의 측정 정밀도를 검사시에 마이크로미터를 고정시켜 지지하게되는 고정수단을 포함한 측정지그를 검사장치로 구성하여 사람이 손으로 마이크로미터 및 표준물을 잡지 않고 한명의 작업자만으로도 신속하면서 정밀하게 측정할 수 있도록 한 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치에 관한 것이다.
마이크로미터, 게이지블럭, 마이크로미터 정밀도

Description

마이크로미터 치수 정밀도 검사장치{Micrometer measure detailed drawing Apparatus for inspecting}
본 발명은 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 길이 측정기구로 사용되는 마이크로미터의 측정 정밀도를 검사시에 마이크로미터의 크기에 상관없이 마이크로미터를 고정시켜 지지하게되는 고정수단을 포함한 측정지그를 검사장치로 구성하여 사람이 손으로 마이크로미터 및 표준물을 잡지 않고 한명의 작업자만으로도 신속하면서 정밀하게 측정할 수 있도록 한 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로 마이크로미터는 각종 금속가공물 등의 직경 및 길이 치수를 정밀하게 측정할때 사용되는 것이다.
상기와 같이 마이크로미터는 생산되는 가공제품의 치수를 측정하는데 사용됨에 따라 대 소 구분없이 다양한 크기로 생산되고 있으며 마이크로미터 자체의 치수가 검사대상물의 기준이 되기 때문에 품질에 큰 영향을 미치므로 측정 정밀도를 유지하는 것이 가장 중요하다.
그러므로 종래에는 마이크로미터의 치수 정밀도를 측정하기 위해 마이크로미터의 앤빌(anvil)과 스핀들 사이에 게이지블럭(일정한 길이로 제조된 블럭 또는, 표준물 이라 한다.)을 끼워서 정밀도를 정확하게 측정하게 된다.
그러나, 이와 같은 종래의 마이크로미터의 측정 정밀도를 검사하는 데에 있어서는, 마이크로미터가 소형일 경우는 마이크로미터의 프레임부를 고정치부로 쉽게 장착시켜 간편한게 측정할 수 있지만, 마이크로미터의 크기가 대형일수록 최소한 2명 이상의 작업자가 필요하고 작업자 한사람은 대형 마이크로미터를 들고, 다른 작업자는 게이지블럭을 들어서 교정하기 때문에, 작업자의 측정시 미세한 움직임이 손쉽게 발생되면서, 피교정 게이지블럭 단면과 스핀들, 앤빌의 중심이 일정하게 일직선으로 유지되지 않아 전체적으로 마이크로미터의 교정시 오차를 발생시키는 문제가 발생되고, 가장 큰 문제는 작업자가 치수의 기준이 되는 게이지블럭을 만질시에 온도에 따라 금속이 늘어나는 금속의 특성으로 인해 정밀한 측정을 할 수 없을뿐더러 늘어난 상태의 금속이 정상적인 상태로 복구되기까지는 몇 십분이 걸려 교정시간이 또한 장시간 필요하게 되는 등의 여러 문제점들이 있었다.
본 발명은 전술한 종래의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 마이크로미터의 측정 정밀도를 검사시에 마이크로미터를 고정시켜 지지하게되는 고정수단을 포함한 측정지그를 검사장치로 구성하여 사람이 손으로 마이크로미터 및 표준물을 잡지 않고 한명의 작업자만으로도 신속하면서 정밀하게 측정할 수 있도록 한 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치에 관한 것이다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 의하면, 본 발명은 마이크로미터(200)의 앤빌(1), 스핀들(2)의 간격에 따라 조절하며, 마이크로미터(200)를 안착시키도록 하는 마이크로미터(200) 지지수단(20)과, 상기 마이크로미터(200)의 측정수단이 되는 게이지블럭(B)을 수용하는 고정부재(30)와, 상기 마이크로미터(200) 지지수단(20)과 고정부재(30)을 고정시켜 지지하게 되는 베이스판(10)으로 이루어진 측정지그(50)가 구성되고, 상기 측정지그(50)로 마이크로미터(200)를 수평되게 안착시 마이크로미터(200)의 프레임 부위에서 수평되게 조정하며 고정할 수 있도록 하는 수평고정지그(60)를 포함하여 구성된 것이다.
이와 같은 본 발명에 따른 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치에서 상기 측정지그를 구성하는 마이크로미터(200) 지지수단(20)은 베이스판(10)의 상부 일측에 하우징(26)이 형성되고, 상기 하우징(26) 내측 중앙부위로 고정스토퍼(23)가 설치되며 상기 고정스토퍼(23)를 중심으로 하우징(26)의 양 측면방향으로 회전식 가이 드스크류(22)가 각각 관통되게 연결되어 하우징(26) 외부 양측면으로 구비되는 손잡이(21a)가 형성된 간격조정좌(21)와 결합하게 되며,
마이크로미터(M)의 앤빌(1), 스핀들(2) 부위를 안착할 수 있도록 하는 안착구(24a)가 일체로 형성되고, 하우징(26) 전면에 뚫린 안내구(26a) 외측으로 관통 돌출되는 가이드스토퍼(24)가 가이드스크류(22)로 결합되어 상기 하우징(26)의 외부 양측면에 구비되는 간격조정좌(21)의 회전방향에 따라 가이드스토퍼(24)가 가이드스크류(22)의 길이방향으로 안내되어지며 왕복 이동할 수 있게 되며, 상기 하우징(26)의 전면부로 뚫린 안내구(26a)의 윗쪽에 수치가 표시된 표준자(27)가 구비되며, 상기 하우징(26)의 양측면 상단에 덥개(25)가 연결 구성된 것을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명에 따른 마이크로미터(200) 치수 정밀도 검사장치에서 상기 측정지그(20)를 구성하는 고정부재(30)는 일측에 상.하조절좌(41)가 설치된 베이스블럭(31)이 베이스판(10) 상부측에 설치되고, 상기 베이스블럭(31)의 전면측과 배면측으로 블록지지대(32)가 각가 베이스판 상부측으로 나사 조립되며, 상기 베이스블럭(31)의 상부측에 전면부와 배면부로 하나 이상의 볼베어링(33a)이 내측에 스프링(33b)과 함께 설치된 유동블럭(33)이 설치되며, 상기 유동블럭(33)의 상부측에 격벽 형성되는 고정블럭(34)이 결합되고, 상기 고정블럭(34)의 일측으로 간격조절구(43)의 길이방향에 따라 좌.우측으로 이동되는 보조블럭(35)이 설치되어 구성된 것을 특징으로 한다.
이와 같은 본 발명에 따른 마이크로미터(200) 치수 정밀도 검사장치에서 상 기 수평고정지그(60)는 마그네틱 소재의 베이스(61) 상부측으로 일측부에 ㄷ형상의 개구부(62a)가 형성된 블럭(62)이 결합되고, 개구부(62a) 내측 하단부에 상.하 높이 조절 가능한 회전조정좌(63)가 결합되며, 블럭 상부측에서 개구부(62a) 상단부를 관통하여 조임레버(64)가 구성된 것을 특징으로 한다.
본 발명의 마이크로미터용 정밀도 검사장치 의하면 크기에 상관없이 마이크로미터(M)를 수평되게 고정시켜 검사장치를 통해 신속하면서 정밀하게 치수 측정검사를 수행할 수 있어 검사시간의 단축은 물론 마이크로미터 자체의 치수 측정 정밀도를 높이는 우수한 효과를 제공한다.
본 발명은 마이크로미터(200)의 앤빌(1), 스핀들(2)의 간격에 따라 조절하며, 마이크로미터(200)를 안착시키도록 하는 마이크로미터(200) 지지수단(20)과,
상기 마이크로미터(200)의 측정수단이 되는 게이지블럭(B)을 수용하는 고정부재(30)와,
상기 마이크로미터(200) 지지수단(20)과 고정부재(30)을 고정시켜 지지하게 되는 베이스판(10)으로 이루어진 측정지그(50)가 구성되고,
상기 측정지그(50)로 마이크로미터(200)를 수평되게 안착시 마이크로미터(200)의 프레임 부위에서 수평되게 조정하며 고정할 수 있도록 하는 수평고정지그(60)를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 본 발명은 대형 마이크로미터(200)의 치수 정밀도를 측정시에 여러 작업자가 마이크로미터(200)에 측정수단을 끼움식으로 이루어지는 수작업을 통한 검사방법으로 인해 정밀도가 저하되는 불안한 문제점들을 해소하기 위해 마이크로미터(200)의 크기에 상관없이 마이크로미터(200)를 수평되게 안정적으로 안착시키고 측정수단이 되는 게이지블럭(B)를 고정 장착시킨 상태에서 간단한 조작에 의해 수평 및 간격을 조절하며 검사할 수 있도록 하는 검사장치를 구성하여 작업자가 수작업으로 마이크로미터(200) 및 게이지블럭(또는 표준물)에 물리적인 힘을 가하지 않고 한명의 작업자만으로도 신속하면서 정밀하게 검사를 수행할 수 있어 마이크로미터(200)의 치수 정밀도를 높일 수 있도록 한 것에 기술적 특징이 있다.
이하, 본 발명에 따른 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 4에 의거하여 상세히 설명하며, 도 1 내지 도 4에 있어서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다. 한편, 각 도면 및 상세한 설명에서 일반적인 길이를 측정하는 검사장치로부터 이 분야의 종사자들이 용이하게 알 수 있는 구성 및 작용에 대한 도시 및 언급은 간략히 하거나 생략하였다. 특히 도면의 도시 및 상세한 설명에 있어서 본 발명의 기술적 특징과 직접적으로 연관되지 않는 요소의 구체적인 기술적 구성 및 작용에 대한 상세한 설명 및 도시는 생략하고, 본 발명과 관련되는 기술적 구성만을 간략하게 도시하거나 설명하였다. 그리고 도면의 도시에 있어서 요소들 사이의 크기 비가 다소 상이하게 표현되거나 서로 결합되는 부품들 사이의 크기가 상이하게 표현된 부분도 있으나, 이와 같은 도면의 표현 차이는 이 분야의 종사자들이 용이하게 이해할 수 있는 부분들이므로 별도의 설명을 생략 한 다.
도 1은 본 발명의 따른 실시예를 보인 전체사시도를 나타낸 것이고, 도 2는 본 발명의 따른 실시예의 사용상태를 보인 전체사시도를 나타낸 것이며, 도 3은 본 발명의 측정지그를 구성하는 고정부재의 분리사시도를 나타낸 것이고, 도 4는 본 발명의 정면에서 보인 단면도를 나타낸 것이다.
본 발명은 베이스판(10)의 상부측에 마이크로미터(200)가 안착되는 마이크로미터 지지수단(20)과, 측정기준이 되는 게이지블럭(B)을 고정하게 되는 고정부재(30)의 결합으로 이루어진 측정지그(50)가 구성되고, 별도로 마이크로미터(200)의 프레임부(3)를 수평되도록 하며 고정시키게 되는 수평고정지그(60)를 포함하여 마이크로미터(200) 치수 정밀도 검사장치를 구성한 것이며,
여기에 상기 마이크로미터(200)의 프레임부(3)를 수평으로 맞춤시에 또 다른 수평부재로서 수평조절기(70)를 선택적으로 사용할 수 있어 정밀도 검사시에 더욱 용이하게 보조장치로서 사용할 수 있게 된다.
본 발명의 마이크로미터(200) 수치 측정 검사장치는 도 1에서 보인바와 같이 크게 측정지그(50)와 수평고정지그(60)로 나눠질 수 있고,
상기 측정지그(50)는 베이스판(10) 상부로 설치되는 마이크로미터 지지수단(20)과, 고정부재(30)와, 상기 고정부재(30)의 이물질이 침투되는 것을 방지하기 위한 덥개(25)로 이루어져 있다.
상기 측정지그(50)를 구성하는 마이크로미터 지지수단(20)은 베이스판(10)의 상부 일측에 하우징(26)이 형성되고, 상기 하우징(26) 내측 중앙부위로 고정스토퍼(23)가 설치되며 상기 고정스토퍼(23)를 중심으로 하우징(26)의 양 측면방향으로 회전식 가이드스크류(22)가 각각 관통되게 연결되어 하우징(26) 외부 양측면으로 구비되는 손잡이(21a)가 형성된 간격조정좌(21)와 결합하게 된다.
또한 마이크로미터(200)의 앤빌(1), 스핀들(2) 부위를 안착할 수 있도록 하는 안착구(24a)가 일체로 형성되고, 하우징(26) 전면에 뚫린 안내구(26a) 외측으로 관통 돌출되는 가이드스토퍼(24)가 가이드스크류(22)로 결합되어진다. 이에 상기 하우징(26)의 외부 양측면에 구비되는 간격조정좌(21)의 회전방향에 따라 가이드스토퍼(24)가 가이드스크류(22)의 길이방향으로 안내되어지며 왕복 이동하게 된다. 이는 마이크로미터(200)의 앤빌(1)과 스핀들(2)의 간격에 따라 가이드스토퍼(24) 위치를 조절하여 마이크로미터를 안착구(24a)로 안착시킬 수 있게 한 것이다.
또한, 상기 하우징(26)의 전면부로 뚫린 안내구(26a)의 윗쪽에 수치가 표시된 표준자(27)를 구비하여 하우징(26) 양측면 각 간격조정좌(21)에 의해 가이드스토퍼(24)를 이동시에 마이크로미터(200)의 앤빌(1)과 스핀들(2)의 간격과 동일한 간격만큼 미리 이동시켜 마이크로미터(200)를안착시킬 수 있도록 한 것이다.
또한, 상기 하우징(26)의 양측면 상단에 덥개(25)가 연결되어 하우징(26) 반대측을 덮을 수 있도록 하여 베이스판(10) 상부측 하우징(26) 전면부 앞쪽에 설치되는 고정부재(30)로 먼지나 이물질이 침투되는 것을 방지할 수 있게 된다.
상기 고정부재(30)는 도 3에 보인바와 같이 일측에 상.하조절좌(41)가 설치된 베이이스블럭(31)이 베이스판(10) 상부측에 설치되고, 상기 베이스블럭(31)의 전면측과 배면측으로 블록지지대(32)가 각가 베이스판 상부측으로 나사 조립되며, 상기 베이스블럭(31)의 상부측에 전면부와 배면부로 하나 이상의 볼베어링(33a)이 내측에 스프링(33b)과 함께 설치된 유동블럭(33)이 설치되며, 상기 유동블럭(33)의 상부측에 격벽 형성되는 고정블럭(34)이 결합되고, 상기 고정블럭(34)의 일측으로 간격조절구(43)의 길이방향에 따라 좌.우측으로 이동되는 보조블럭(35)이 설치되어 있다.
상기 고정부재(30)는 마이크로미터(200)의 치수 정밀도 측정시에 측정기준이 되는 게이지블럭(B)을 삽입 고정시켜 정확하게 측정할 수 있도록 한 것이다.
또한 상기 고정부재(30)를 구성하는 상.하조절좌(41)가 구비된 베이스블럭(31)의 일측부위는 상.하조절좌(41)의 회전방향에 따라 유동할 수 있게된다.
여기서 상기 상.하조절좌(41)는 도 4에 보인바와 같이 하부측에 나사기둥(41a)이 일체로 형성되어 나사조립식으로 베이스블럭(31) 일측에 결합되는 것이며. 상기 상.하조절좌(41)를 회전방향에 따라 조임시에 나사기둥(41a)이 베이스블럭(31)을 관통하여 베이스판(10)의 상면으로부터 지지되며 베이스블럭(31) 일측이 나사기둥(41a)의 나사산을 따라 상.하 수직왕복하며 유동할 수 있게 된다.
또한, 상기 베이스블럭(31)의 상부측으로 설치되는 유동블럭(33)은 베이스블럭(31)의 전면부에 설치된 블럭지지대(32)의 일측에 마련된 전.후조절좌(42)에 의해 유동블럭(33)이 전.후방으로 유동할 수 있다. 상기 전.후조절좌(42)의 회전방향에 따라 나사기둥(41a)이 블럭지지대(32)를 관통하여 나사기둥(41a)의 끝단부가 유동블럭(33)의 일측을 강제로 밀어서 유동되어지게 되며, 이때에 유동블럭(33)의 전 면과 배면부위에 스프링(33b)을 내측으로하여 볼베어링(33a)이 설치되어 전.후조절좌(42)에 의해 유동블럭(33)이 탄력적으로 유동할 수 있게 된다.
상기와 같이 고정부재(30)를 구성하는 베이스블럭(31), 유동블럭(33)이 상.하 및 전.후방으로 유동되는 것은 마이크로미터(200) 수치 정밀도를 검사시에 정밀하게 수평을 맞추어 마이크로미터(200)가 수평유지하는 상태에서 정확한 수치를 측정할 수 있게 한 것이다.
또한, 상기 고정블럭(34) 일측으로 마련되는 보조블럭(35)은 격벽 형성되는 고정블럭(34)의 요입홈으로 삽입되는 게이지블럭(B)의 길이가 클경우 간격조절구(43)에 의해 좌.우측으로 이동시켜 게이지블럭(B)을 삽입 및 고정시킬 수 있도록 한 것이다.
상기 본 발명을 구성하는 수평고정지그(60)는 마그네틱 소재의 베이스(61) 상부측으로 일측부에 ㄷ형상의 개구부(62a)가 형성된 블럭(62)이 결합되고, 개구부(62a) 내측 하단부에 상.하 높이 조절 가능한 회전조정좌(63)가 결합되며, 블럭 상부측에서 개구부(62a) 상단부를 관통하여 조임레버(64)가 설치되어 있다.
상기 수평고정지그(60)는 마이크로미터(200)의 앤빌(1)과 스핀들(2)이 측정지그(50)로 수평되게 안착시에 수평고정지그(60)의 블럭(62)으로 형성된 개구부(62a)로 마이크로미터(200)를 구성하는 프레임(3)부위가 삽입됨과 동시에 프레임(3)의 하면이 회전조정좌(63)의 윗쪽에 거치되도록 하여 마이크로미터(200)가 수평이 되게 회전조정좌(63)로 상.하 높이를 조절하여 블럭(62) 상부측에 마련된 조임레버(64)를 통해 프레임(3) 상단부를 고정시켜 수평을 유지하게 되며 상기 수 평고정지그(60)가 설치되는 바닥면으로 견고히 고정될 수 있게 하부측이 마그네틱 소재로 구성됨에 따라 마이크로미터(200)의 수평을 유지는 물론 미세한 흔들림에도 유동을 방지할 수 있게 된다.
한편, 상기 마이크로미터(200)의 수평을 맞춤시에 또 다른 수평부재로서 수평조절기(70)를 선택적으로 사용할 수 있으며, 이는 해당 분야의 종사자들이 용이하게 알 수 있는 측정공구임에 따라 구성 및 작용에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
한편, 본 발명에서 측정기준 수단으로 사용되는 게이지블럭(B)은 계측검사장치 분야에서 다양하게 사용되고 있는 측정도구로서 정밀한 표준치수를 가지는 사각형상의 블럭을 표준물로 사용하는 것으로 이 또한 해당 분야의 종사자들이 용이하게 알 수 있는 것임에 따라 도면에 상세한 도시는 생략하였다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 작용을 상세하게 설명하면 다음과 같다.
본 발명의 마이크로미터(200) 측정 정밀도 검사장치를 사용하여 마이크로미터(200)의 자체 치수 정밀도 검사방법은 다음과 같다.
먼저, 도 2에 보인바와 같이 측정 정밀도를 검사할 대상이 되는 마이크로미터(200)의 치수규격에 따라 측정지그(50)의 하우징(26) 양측면에 마련된 간격조정좌(21)를 사용하여 하우징 전면부로 돌출되어 있는 안착구가 검사할 마이크로미터(200)의 앤빌과 스핀들을 안착시킬 수 있는 거리만큼 이격되게 조절하여 위치시키게 된다.
이때에 안착구(24a)는 가이드스토퍼(24)에 일체로 형성되어 가이드스크류(22)로 결합된 가이드스토퍼(24)가 양측면의 간격조정좌(21)의 회전방향에 따라 좌.우측을 왕복하며 조정할 수 있으며, 양측면의 각 간격조정좌(21)에 의해 가이드스토퍼(24)는 각각 조정할 수 있다.
상기 안착구(24a)의 간격조절이 완료되면, 마이크로미터(200)를 수평되게 하여 앤빌(1)과 스핀들(2)부위를 가이드스토퍼(24)의 안착구(24a)로 안착시키고, 마이크로미터의 프레임(3) 부위를 수평고정지그(60)의 개구부(62a)로 삽입시켜 수평조절기(70)와 함께 마이크로미터(200)가 수평이 되도록 회전조정좌(63)로 조절하며 수평이 되면 조임레버(64)로 프레임(3) 부위를 고정시키게 된다.
마이크로미터(200)가 안착되어 수평이 이루어지면 측정하고자 하는 길이의 게이지블럭(B)을 고정부재(30)의 고정블럭(34)사이로 넣고, 게이지블럭(bb)의 양 끝단부로 마이크로미터(200)의 앤빌(1)과 스핀들(2)부와 접촉되어 치수를 측정할 수 있도록 하는 수직게이지블럭(BB)을 넣고 거리조정좌로 안착구에 안착된 앤빌과 스핀들이 수직게이지블럭과 접촉되도록 미세조정하게 된다.
또한, 고정부재(30)의 각 상.하조절좌(41)와 전.후조절좌(42)를 사용하여 미세조정하여 수직게이지블럭(BB)과 마이크로미터(200)가 정확하게 일직선이 되도록 하여 오차가 없는 상태에서 정밀하게 치수를 측정하여 마이크로미터(200)의 치수 정밀도를 측정하게 된다.
상술한 바와 같은, 본 발명의 실시예에 따른 마이크로미터(200) 치수 정밀도 검사장치를 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만, 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능하다는 것을 이 분야의 통상적인 기술자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 따른 실시예를 보인 전체사시도.
도 2는 본 발명의 따른 실시예의 사용상태를 보인 전체사시도.
도 3은 본 발명의 측정지그를 구성하는 고정부재의 분리사시도.
도 4는 본 발명의 정면에서 보인 단면도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
200 : 마이크로미터 1 : 앤빌 2 : 스핀들 3 : 프레임부
10 : 베이스판
20 : 지지수단 21 : 간격조정좌 22 : 가이드스크류 23 : 고정스토퍼 24 : 가이드스토퍼 25 : 덥개 26 : 하우징
30 : 고정부재 31 : 베이스블럭 32 : 블럭지지대 33 : 유동블럭 34 : 고정블럭 35 : 보조블럭
41 : 상.하조절좌 42 : 전.후조절좌 43 ; 간격조절구
50 : 측정지그
60 : 수평고정지그 61 : 베이스 62 : 블럭 63 : 회전조정자
64 : 조임레버 70 : 수평조절기

Claims (4)

  1. 마이크로미터(200)를 안착시키도록 하는 마이크로미터(200) 지지수단(20)과, 상기 마이크로미터(200)의 측정수단이 되는 게이지블럭(B)을 수용하는 고정부재(30)와, 상기 마이크로미터(200) 지지수단(20)과, 고정부재(30)를 고정시켜 지지하게 되는 베이스판(10)으로 이루어진 측정지그(50)와, 상기 측정지그(50)로 마이크로미터(200)를 수평되게 안착시 마이크로미터(200)의 프레임 부위에서 수평되게 조정하며 고정할 수 있도록 하는 수평고정지그(60)로 이루어진 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치에 있어서,
    상기 측정지그(50)를 구성하는 마이크로미터(200) 지지수단(20)은 베이스판(10)의 상부 일측에 하우징(26)이 형성되고, 상기 하우징(26) 내측 중앙부위로 고정스토퍼(23)가 설치되며 상기 고정스토퍼(23)를 중심으로 하우징(26)의 양 측면방향으로 회전식 가이드스크류(22)가 각각 관통되게 연결되어 하우징(26) 외부 양측면으로 구비되는 손잡이(21a)가 형성된 간격조정좌(21)와 결합하게 되며, 마이크로미터(200)의 앤빌(1), 스핀들(2) 부위를 안착할 수 있도록 하는 안착구(24a)가 일체로 형성되고, 하우징(26) 전면에 뚫린 안내구(26a) 외측으로 관통 돌출되는 가이드스토퍼(24)가 가이드스크류(22)로 결합되어 상기 하우징(26)의 외부 양측면에 구비되는 간격조정좌(21)의 회전방향에 따라 가이드스토퍼(24)가 가이드스크류(22)의 길이방향으로 안내되어지며 왕복 이동할 수 있게 되며, 상기 하우징(26)의 전면부로 뚫린 안내구(26a)의 윗쪽에 수치가 표시된 표준자(27)가 구비되며, 상기 하우징(26)의 양측면 상단에 덥개(25)가 형성되고,
    상기 측정지그(50)를 구성하는 고정부재(30)는 일측에 상.하조절좌(41)가 설치된 베이이스블럭(31)이 베이스판(10) 상부측에 설치되고, 상기 베이스블럭(31)의 전면측과 배면측으로 블록지지대(32)가 각가 베이스판 상부측으로 나사 조립되며, 상기 베이스블럭(31)의 상부측에 전면부와 배면부로 하나 이상의 볼베어링(33a)이 내측에 스프링(33b)과 함께 설치된 유동블럭(33)이 설치되며, 상기 유동블럭(33)의 상부측에 격벽 형성되는 고정블럭(34)이 결합되고, 상기 고정블럭(34)의 일측으로 간격조절구(43)의 길이방향에 따라 좌.우측으로 이동되는 보조블럭(35)이 설치되어 형성되며,
    상기 수평고정지그(60)는 마그네틱 소재의 베이스(61) 상부측으로 일측부에 ㄷ형상의 개구부(62a)가 형성된 블럭(62)이 결합되고, 개구부(62a) 내측 하단부에 상.하 높이 조절 가능한 회전조정좌(63)가 결합되며, 블럭 상부측에서 개구부(62a) 상단부를 관통하여 조임레버(64)가 형성된 것을 특징으로 하는 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치.
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