KR101788129B1 - 마이크로미터 세팅지그 - Google Patents

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KR101788129B1
KR101788129B1 KR1020150150029A KR20150150029A KR101788129B1 KR 101788129 B1 KR101788129 B1 KR 101788129B1 KR 1020150150029 A KR1020150150029 A KR 1020150150029A KR 20150150029 A KR20150150029 A KR 20150150029A KR 101788129 B1 KR101788129 B1 KR 101788129B1
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이량훈
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두산중공업 주식회사
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Abstract

마이크로미터 세팅지그가 개시된다. 본 발명의 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그(100)는, 지지부(120)의 상부에 위치변경 가능하도록 장착되고, 마이크로미터(111)를 일단부에 장착하여 고정시키는 마이크로미터 고정부(110); 평면상 판상형 구조이고, 상부에 마이크로미터 고정부(110)를 장착한 지지부(120); 및 상기 지지부(120)의 일측부에 장착되고, 마이크로미터 고정부(110)의 위치를 변경시키는 위치변경부(130);를 포함하는 것을 구성의 요지로 한다.
본 발명의 마이크로미터 세팅지그에 따르면, 한 명의 작업자에 의해 마이크로미터를 세팅할 수 있고, 측정 작업시 작업자에 관계없이 일관성 있는 측정결과값을 획득할 수 있으며, 더욱 손쉬운 방법으로 마이크로미터를 운용할 수 있다.

Description

마이크로미터 세팅지그{Setting Jig for Micrometer}
본 발명은 마이크로미터 세팅지그에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 한 명의 작업자에 의해 측정대상을 측정하거나 마이크로미터를 세팅할 수 있는 구조를 포함하는 마이크로미터 세팅지그에 관한 것이다.
도 1에는 종래기술에 따른 방법에 의해 내경 마이크로미터를 세팅하는 모습을 나타내는 사진이 도시되어 있다.
종래기술에 따르면, 내경 마이크로미터를 세팅할 경우, 도 1의 (a)에 도시된 사진과 같이 한 작업자가 내경 마이크로미터를 잡아 고정하고, 다른 작업자가 도 1의 (b)에 도시된 사진과 같이 마이크로미터를 조정하여 내경 마이크로미터를 세팅한다.
이와 마찬가지로, 내경 마이크로미터가 아닌 측정대상을 측정할 경우, 상기 언급한 바와 같이, 측정대상을 한 작업자가 잡아 고정하고, 다른 작업자가 마이크로미터를 조정하여 측정대상의 길이를 측정한다.
상기 언급한 종래기술에 따른 방법은, 두 사람의 작업자가 필요하다는 문제점을 가지고 있다.
또한, 종래기술에 따른 방법은, 비교적 짧은 길이의 내경 마이크로미터 또는 짧은 길이의 측정대상일 경우에는 비교적 일관성 있는 측정결과값을 획득할 수 있다.
그러나, 비교적 긴 길이의 내경 마이크로미터 또는 긴 길이의 측정대상일 경우, 측정 작업자의 숙련도에 따라 결과값이 달라지게 되는 문제점이 발생한다.
따라서, 마이크로미터 정밀도 측정 또는 비교측정을 위해 마이크로미터를 세팅할 경우 다수의 작업자가 필요하지 않고, 측정 작업시 작업자의 숙련도에 따라 측정값이 달라지는 문제를 해결할 수 있는 구조를 포함하는 마이크로미터 세팅지그에 대한 기술이 필요한 실정이다.
한국공개특허 제10-2002-0047615호 (2002년 06월 22일 공개)
본 발명의 목적은, 마이크로미터 정밀도 측정 또는 비교측정을 위해 마이크로미터를 세팅할 경우 다수의 작업자가 필요하지 않고, 측정 작업시 작업자의 숙련도에 따라 측정값이 달라지는 문제를 해결할 수 있는 구조를 포함하는 마이크로미터 세팅지그를 제공하는 것이다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 측면에 따른 세팅지그는: 지지부의 상부에 위치변경 가능하도록 장착되고, 마이크로미터를 일단부에 장착하여 고정시키는 마이크로미터 고정부; 평면상 판상형 구조이고, 상부에 마이크로미터 고정부를 장착한 지지부; 및 상기 지지부의 일측부에 장착되고, 마이크로미터 고정부의 위치를 변경시키는 위치변경부;를 포함하는 구성일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 마이크로미터 고정부는: 마이크로미터의 좌측과 우측을 각각 장착하여 고정하는 한 쌍의 좌우고정부; 및 마이크로미터의 중앙을 장착하여 고정하는 중앙고정부;를 포함하는 구성일 수 있다.
또한, 상기 마이크로미터 고정부의 일단부에는 마이크로미터를 잡아 고정하는 집게가 장착될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 지지부의 상부면에는 일렬로 형성된 레일이 장착되어 있고, 상기 레일에 마이크로미터 고정부가 슬라이딩하여 위치변경 가능하도록 장착될 수 있다.
이 경우, 상기 위치변경부는: 상기 레일의 연장방향과 평행한 방향으로 레일의 길이와 대응되는 길이로 레일에 장착되고, 회전동작에 의해 마이크로미터 고정부의 위치를 변경시키는 회전 샤프트를 포함하는 구성일 수 있다.
또한, 상기 회전 샤프트의 일측부에는 회전핸들이 장착될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 세팅지그는, 지지부의 일측부에 장착되고 측정대상의 위치를 고정시키는 측정대상 고정부를 더 포함하는 구성일 수 있다.
이 경우, 상기 측정대상 고정부는: 상기 지지부로부터 소정 높이만큼 연장되어 지지부의 상부에 장착되는 수직연장부; 상기 수직연장부와 평행하도록 지지부로부터 소정 높이만큼 연장되어 지지부의 상부에 회전 가능하도록 장착되고, 상단부에 회전핸들이 장착된 회전축; 상기 수직연장부에 상하이동 가능하도록 장착되고, 회전축의 회전동작에 의해 상하 위치 변경되는 상하이동지지부; 및 상기 상하이동지지부의 일측부에 장착되고, 측정대상의 위치를 고정시키는 측정대상 지지부;를 포함하는 구성일 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 세팅지그는, 마이크로미터의 앤빌의 외경과 대응되는 내경이 일측부에 형성되고 소정길이만큼 연장되어 형성된 파이프형 가이드를 더 포함하고, 상기 파이프형 가이드의 타측부에는 측정대상의 외경과 대응되는 내경이 형성될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 세팅지그는: 마이크로미터의 앤빌의 외경과 대응되는 내경이 일측부에 형성되고 소정길이만큼 연장되어 형성된 파이프형 가이드를 포함하고, 상기 파이프형 가이드의 타측부에 볼조인트 구조로 장착되고, 측정대상의 외경과 대응되는 내경이 형성되어 있는 볼조인트형 가이드를 더 포함하는 구성일 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 마이크로미터 세팅지그에 따르면, 특정 구조의 마이크로미터 고정부, 지지부 및 위치변경부를 구비하고 있어, 한 명의 작업자에 의해 마이크로미터를 세팅할 수 있다.
또한, 본 발명의 마이크로미터 세팅지그에 따르면, 마이크로미터를 일단부에 장착하여 안정적으로 고정시키는 마이크로미터 고정부 및 마이크로미터 고정부의 위치를 변경시키는 위치변경부를 구비함으로써, 측정 작업시 작업자에 관계없이 일관성 있는 측정결과값을 획득할 수 있는 마이크로미터 세팅지그를 제공할 수 있다.
또한, 본 발명의 마이크로미터 세팅지그에 따르면, 특정구조의 파이프형 가이드를 구비하고 있어, 더욱 손쉬운 방법으로 마이크로미터를 운용할 수 있다.
도 1은 종래기술에 따른 방법에 의해 내경 마이크로미터를 세팅하는 모습을 나타내는 사진이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그를 나타내는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그를 나타내는 사시도이다.
도 4는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그를 나타내는 사시도이다.
도 5는 도 4에 도시된 파이프형 가이드의 상세 구조를 나타내는 정면도이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그를 나타내는 사시도이다.
도 7은 도 6에 도시된 측정대상 고정부의 상세 구조를 나타내는 사시도이다.
도 8은 도 7에 도시된 측정대상 지지부의 또 다른 실시예들을 나타내는 사시도 및 각각의 측면도이다.
이하 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정하여 해석되어서는 아니되며, 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
본 명세서 전체에서, 어떤 부재가 다른 부재 "상에" 위치하고 있다고 할 때, 이는 어떤 부재가 다른 부재에 접해 있는 경우뿐 아니라 두 부재 사이에 또 다른 부재가 존재하는 경우도 포함한다.
본 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함" 한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 2에는 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그를 나타내는 사시도가 도시되어 있다.
도 2를 참조하면, 본 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그(100)는, 마이크로미터 고정부(110), 지지부(120) 및 위치변경부(130)를 포함하는 구성일 수 있다.
구체적으로, 마이크로미터 고정부(110)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 지지부(120)의 상부에 위치변경 가능하도록 장착되고, 마이크로미터(111)를 일단부에 장착하여 고정시킬 수 있다.
마이크로미터 고정부(110)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 마이크로미터(111)의 좌측과 우측을 각각 장착하여 고정하는 한 쌍의 좌우고정부(112) 및 마이크로미터(111)의 중앙을 장착하여 고정하는 중앙고정부(113)를 포함하는 구성일 수 있다.
이때, 마이크로미터 고정부(110)의 일단부에는 마이크로미터(111)를 잡아 고정하는 집게(114)가 장착될 수 있다. 상기 언급한 집게(114)는 하나의 예시일 뿐, 마이크로미터 고정부(110)의 일단부에 마이크로미터(111)를 잡아 고정시킬 수 있는 장치라면 특별히 제한되는 것은 아니다.
경우에 따라서, 상기 집게(114)는 마이크로미터 고정부(110)의 일단부와 힌지구조에 의해 결속될 수 있다. 이 경우, 사용자의 의도에 따라 집게(114)의 장착 방향과 고정 방향을 설정할 수 있어, 더욱 손쉽게 마이크로미터 센팅지그(100)를 운용할 수 있다.
한편, 지지부(120)는 평면상 판상형 구조이고, 상부에 마이크로미터 고정부(110)를 장착할 수 있다.
구체적으로, 지지부(120)의 상부면에는 일렬로 형성된 레일(121)이 장착되어 있고, 레일(121)에 마이크로미터 고정부(110)가 슬라이딩하여 위치변경 가능하도록 장착될 수 있다.
위치변경부(130)는, 지지부(120)의 일측부에 장착되고, 마이크로미터 고정부(110)의 위치를 변경시킬 수 있다.
구체적으로, 위치변경부(130)는, 도 2에 도시된 바와 같이, 레일(121)의 연장방향과 평행한 방향으로 레일(121)의 길이와 대응되는 길이로 레일(121)에 장착되고, 회전동작에 의해 마이크로미터 고정부(110)의 위치를 변경시키는 회전 샤프트(122)를 포함하는 구조일 수 있다.
이때, 회전 샤프트(122)의 일측부에는 회전핸들(123)이 장착되어 마이크로미터 고정부(110)의 위치를 손쉽게 조정할 수 있다.
더욱 구체적으로, 회전 샤프트(122)의 외주면에는 나사산이 형성될 수 있다. 또한, 마이크로미터 고정부(110)의 하단부에는 회전 샤프트(122)와 결속되는 결속구가 형성되어 있고, 마이크로미터 고정부(110)의 하단부에 형성된 결속구 내부에는 회전 샤프트(122)의 외주면에 형성된 나사산과 대응되는 구조의 나사산이 형성될 수 있다. 따라서, 이러한 구조를 포함하는 본 실시예에 따른 위치변경부(130)는 회전핸들(123)을 이용하여 회전 샤프트(122)를 회전시킴으로써 마이크로미터 고정부(110)의 위치를 손쉽게 변경시킬 수 있다.
경우에 따라서, 회전 샤프트(122)의 회전 방향에 따라 좌우고정부(112)와 중앙고정부(113)의 위치변경 방향을 달리 설정할 수 있다.
예를 들어, 좌우고정부(112)의 하단부에 각각 형성되는 결속구에는 서로 다른 방향의 나사산을 형성시켜, 회전 샤프트(122)의 회전에 따라 좌우고정부(112) 사이의 간격을 더 증가시키거나 감소시킬 수 있다. 이 경우, 중앙고정부(113)의 하단부는 레일에 고정되어 위치변경되지 않음이 바람직하다.
또한, 마이크로미터 고정부(110)는, 상단부에 장착된 집게(114)의 상하위치를 조정할 수 있는 연장부(116)가 더 장착될 수 있다. 이때 연장부(116)의 구조는 마이크로미터 고정부(110)의 상하 길이를 변경할 수 있는 구조라면 특별히 제한되는 것은 아니며, 예를 들어 도 2에 도시된 바와 같이, 슬라이딩 동작에 의해 상방프레임이 하방프레임에 도입되거나 도출되어 고정될 수 있는 구조일 수 있다. 상기 언급한 구조는 하나의 예시일 뿐, 이에 한정되지 않음은 물론이다.
따라서, 본 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그(110)에 따르면, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 언급한 특정 구조의 마이크로미터 고정부(110), 지지부(120) 및 위치변경부(130)를 구비하고 있어, 한 명의 작업자에 의해 마이크로미터(10)를 세팅할 수 있다. 또한, 도 2에 도시된 바와 같이, 마이크로미터(111)를 안정적으로 고정할 수 있어, 보다 더 정확한 측정작업 및 세팅작업을 수행할 수 있다.
도 3에는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그를 나타내는 사시도가 도시되어 있다.
도 3을 참조하면, 본 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그(100)는 파이프형 가이드(150)를 더 포함하는 구성일 수 있다.
종래기술에 따른 방법은 측정대상의 일단부를 마이크로미터(111)의 엔빌(115)에 접촉시킨 후 측정대상의 타단부를 스핀들과 접촉시켜 측정대상의 길이를 측정한다. 이때, 측정대상의 일단부가 마이크로미터(111)의 엔빌(115)의 정중앙에 접촉해야 정확한 측정 결과값을 획득할 수 있다.
그러나, 종래기술에 따른 방법은 측정 작업자의 숙련도에 따라 측정대상을 엔빌(115)에 접촉시키므로, 측정 작업자가 변경될 경우 측정 결과값이 달라질 수 있는 문제점을 가지고 있다.
본 실시예에 따른 파이프형 가이드(150)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 측정대상의 일단부를 마이크로미터(111)의 엔빌(115)의 정중앙에 접촉시킬 수 있도록 유도하는 부재이다.
구체적으로, 본 실시예에 따른 파이프형 가이드(150)는 마이크로미터(111)의 앤빌(115)의 외경과 대응되는 내경이 일측부에 형성되고 소정길이만큼 연장되어 형성된 구조일 수 있다. 또한, 파이프형 가이드(150)의 타측부에는 측정대상의 외경과 대응되는 내경이 형성된 구조일 수 있다.
따라서, 본 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그(110)에 따르면, 특정구조의 파이프형 가이드(150)를 구비하고 있어, 더욱 손쉬운 방법으로 마이크로미터를 운용할 수 있고, 측정 작업시 작업자에 관계없이 일관성 있는 측정결과값을 획득할 수 있다.
도 4에는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그를 나타내는 사시도가 도시되어 있고, 도 5에는 도 4에 도시된 파이프형 가이드의 상세 구조를 나타내는 정면도가 도시되어 있다.
이들 도면을 참조하면, 본 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그(100)는 볼조인트형 가이드(152)를 더 포함하는 구성일 수 있다.
구체적으로, 도 5에 도시된 바와 같이, 측정대상(10)의 길이를 측정하기 위해서는, 측정대상의 일단부를 마이크로미터(111)의 엔빌(115)에 접촉시킨 후, 측정대상의 타단부를 상하 또는 좌우로 위치변경시키며 측정대상의 길이를 측정해야 한다.
이 경우, 숙련도가 부족한 측정 작업자에 의해 측정작업이 수행될 경우, 측정대상의 일단부가 마이크로미터(111)의 엔빌(115)과 접촉되지 않거나 이격될 수 있어, 결과적으로 부정확한 측정 결과값을 획득하게 된다.
그러나, 본 실시예에 따른 볼조인트형 가이드(152)는 파이프형 가이드(150)의 타측부에 볼조인트 구조(151)로 장착되고, 측정대상의 외경과 대응되는 내경이 형성되어 있어, 측정대상(10)의 측정작업을 더욱 손쉽게 보조해줄 수 있다.
따라서, 특정 구조의 파이프형 가이드(150) 및 볼조인트형 가이드(152)를 포함하는 본 실시예에 따른 세팅지그(100)는, 측정 작업시 작업자에 관계없이 일관성 있는 측정결과값을 획득할 수 있다.
도 6에는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 마이크로미터 세팅지그를 나타내는 사시도가 도시되어 있고, 도 7에는 도 6에 도시된 측정대상 고정부의 상세 구조를 나타내는 사시도가 도시되어 있다.
이들 도면을 참조하면, 본 실시예에 따른 세팅지그(100)는, 지지부(120)의 일측부에 장착되고 측정대상의 위치를 고정시키는 측정대상 고정부(140)를 더 포함하는 구성일 수 있다.
구체적으로, 측정대상 고정부(140)는, 도 6 및 도 7에 도시된 바와 같이, 수직연장부(141), 회전축(142), 상하이동지지부(144) 및 측정대상 지지부(145)를 포함하는 구성일 수 있다.
수직연장부(141)는 지지부(120)로부터 소정 높이만큼 연장되어 지지부(120)의 상부에 장착되는 구조일 수 있다.
회전축(142)은 수직연장부(141)와 평행하도록 지지부(120)로부터 소정 높이만큼 연장되어 지지부(120)의 상부에 회전 가능하도록 장착되고, 상단부에 회전핸들(143)이 장착되는 구조일 수 있다.
상하이동지지부(144)는 수직연장부(141)에 상하이동 가능하도록 장착되고, 회전축(142)의 회전동작에 의해 상하 위치 변경될 수 있다.
측정대상 지지부(145)는 상하이동지지부(144)의 일측부에 장착되고, 측정대상의 위치를 고정시킬 수 있다.
운용자는 측정대상 지지부(145)의 상부에 측정대상을 얹혀놓아 고정시킨 후, 회전핸들(143)과 회전축(142)을 이용하여 사하이동지지부(144)의 위치를 조정함으로써 측정대상의 위치를 손쉽게 변경할 수 있다.
도 8에는 도 7에 도시된 측정대상 지지부의 또 다른 실시예들을 나타내는 사시도 및 각각의 측면도가 도시되어 있다.
도 8을 도 7과 함께 참조하면, 본 실시예예 따른 측정대상 지지부(145)는 측정대상의 크기 또는 종류에 따라 다양한 구조로 변경할 수 있다.
예를 들어, 도 8의 (a) 및 (b)에 도시된 바와 같이, 측정대상은 V자 형상의 홈이 형성된 지지대(147)에 안착되어 안정적으로 고정될 수 있다. 또한, 지지대(147)의 하부에는 지지대(147)의 상하 위치를 조정할 수 있는 위치조정부재(148)가 더 장착될 수 있다.
또한, 측정대상 지지부(145)의 상부에는 레일(146)이 형성되어 있고, 레일(146)에 지지대(147)가 슬라이딩하여 위치변경 가능하도록 장착될 수 있다.
경우에 따라서, 도 8의 (c)에 도시된 바와 같이, 추가지지대(149)를 더 장착하여 측정대상을 더욱 안정적으로 지지하여 고정할 수 있다.
따라서, 상기 구성을 포함하는 본 실시예에 따른 세팅지그(100)는 운용자의 의도에 따라 측정대상의 상하 위치를 손쉽게 변경할 수 있고, 더욱 안정적으로 측정대상의 위치를 고정하여 지지할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 마이크로미터 세팅지그에 따르면, 특정 구조의 마이크로미터 고정부, 지지부 및 위치변경부를 구비하고 있어, 한 명의 작업자에 의해 마이크로미터를 세팅할 수 있다.
또한, 본 발명의 마이크로미터 세팅지그에 따르면, 마이크로미터를 일단부에 장착하여 안정적으로 고정시키는 마이크로미터 고정부 및 마이크로미터 고정부의 위치를 변경시키는 위치변경부를 구비함으로써, 측정 작업시 작업자에 관계없이 일관성 있는 측정결과값을 획득할 수 있는 마이크로미터 세팅지그를 제공할 수 있다.
또한, 본 발명의 마이크로미터 세팅지그에 따르면, 특정구조의 파이프형 가이드를 구비하고 있어, 더욱 손쉬운 방법으로 마이크로미터를 운용할 수 있다.
이상의 본 발명의 상세한 설명에서는 그에 따른 특별한 실시예에 대해서만 기술하였다. 하지만 본 발명은 상세한 설명에서 언급되는 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 첨부된 청구범위에 의해 정의되는 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물과 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
즉, 본 발명은 상술한 특정의 실시예 및 설명에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형 실시가 가능하며, 그와 같은 변형은 본 발명의 보호 범위 내에 있게 된다.
10: 내경 마이크로미터
100: 세팅지그
110: 마이크로미터 고정부
111: 마이크로미터
112: 좌우고정부
113: 중앙고정부
114: 집게
115: 앤빌
116: 연장부
120: 지지부
121: 레일
122: 회전 샤프트
123: 회전핸들
130: 위치변경부
140: 측정대상 고정부
141: 수직연장부
142: 회전축
143: 회전핸들
144: 상하이동지지부
145: 측정대상 지지부
146: 레일
147: 지지대
148: 위치조정부재
149: 추가지지대
150: 파이프형 가이드
151: 볼조인트 구조
152: 볼조인트형 가이드

Claims (10)

  1. 지지부(120)의 상부에 위치변경 가능하도록 상방으로 소정 높이만큼 돌출된 구조로 장착되고, 상단부에 마이크로미터(111)를 장착하여 고정시키는 마이크로미터 고정부(110);
    평면상 판상형 구조이고, 상부에 마이크로미터 고정부(110)를 장착한 지지부(120); 및
    상기 지지부(120)의 일측부에 회전 가능하도록 축 구조로 장착되고, 마이크로미터 고정부(110)의 하단부와 결속되어 회전동작에 의해 마이크로미터 고정부(110)의 위치를 변경시키는 위치변경부(130);
    마이크로미터(111)의 앤빌(115)의 외경과 대응되는 내경이 일측부에 형성되고 소정 길이만큼 연장되어 형성된 파이프형 가이드(150); 및
    상기 파이프형 가이드(150)의 타측부에 볼조인트 구조(151)로 장착되고, 측정대상의 외경과 대응되는 내경이 형성되어 있는 볼조인트형 가이드(152);
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 세팅지그(100).
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 마이크로미터 고정부(110)는:
    마이크로미터(111)의 좌측과 우측을 각각 장착하여 고정하는 한 쌍의 좌우고정부(112); 및
    마이크로미터(111)의 중앙을 장착하여 고정하는 중앙고정부(113);
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 세팅지그.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 마이크로미터 고정부(110)의 일단부에는 마이크로미터(111)를 잡아 고정하는 집게(114)가 장착되어 있는 것을 특징으로 하는 세팅지그.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 지지부(120)의 상부면에는 일렬로 형성된 레일(121)이 장착되어 있고,
    상기 레일(121)에 마이크로미터 고정부(110)가 슬라이딩하여 위치변경 가능하도록 장착되는 것을 특징으로 하는 세팅지그.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 위치변경부(130)는:
    상기 레일(121)의 연장방향과 평행한 방향으로 레일(121)의 길이와 대응되는 길이로 레일(121)에 장착되고, 회전동작에 의해 마이크로미터 고정부(110)의 위치를 변경시키는 회전 샤프트(122)를 포함하는 것을 특징으로 하는 세팅지그.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 회전 샤프트(122)의 일측부에는 회전핸들(123)이 장착되는 것을 특징으로 하는 세팅지그.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 세팅지그(100)는, 지지부(120)의 일측부에 장착되고 측정대상의 위치를 고정시키는 측정대상 고정부(140)를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 세팅지그.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 측정대상 고정부(140)는:
    상기 지지부(120)로부터 소정 높이만큼 연장되어 지지부(120)의 상부에 장착되는 수직연장부(141);
    상기 수직연장부(141)와 평행하도록 지지부(120)로부터 소정 높이만큼 연장되어 지지부(120)의 상부에 회전 가능하도록 장착되고, 상단부에 회전핸들(143)이 장착된 회전축(142);
    상기 수직연장부(141)에 상하이동 가능하도록 장착되고, 회전축(142)의 회전동작에 의해 상하 위치 변경되는 상하이동지지부(144); 및
    상기 상하이동지지부(144)의 일측부에 장착되고, 측정대상의 위치를 고정시키는 측정대상 지지부(145);
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 세팅지그.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 세팅지그(100)는,
    마이크로미터(111)의 앤빌(115)의 외경과 대응되는 내경이 일측부에 형성되고 소정길이만큼 연장되어 형성된 파이프형 가이드(150)를 더 포함하고,
    상기 파이프형 가이드(150)의 타측부에는 측정대상의 외경과 대응되는 내경이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 세팅지그.
  10. 삭제
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102037634B1 (ko) * 2019-06-03 2019-12-02 주식회사 세원전자 도전성 물체의 치수를 측정하기 위한 마이크로미터
KR20200072320A (ko) 2018-12-12 2020-06-22 삼성중공업 주식회사 마이크로미터의 영점 조정 기구
KR20200072909A (ko) 2018-12-13 2020-06-23 삼성중공업 주식회사 마이크로미터를 활용한 테이퍼축 외경 검사 방법
US11280602B1 (en) 2020-09-11 2022-03-22 Sewon Electronics Co., Ltd. Micrometer for measuring dimension of a conductive object

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113566770A (zh) * 2021-06-18 2021-10-29 宁波昌扬机械工业有限公司 一种全自动检测弯曲度的设备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2709305A (en) 1951-12-15 1955-05-31 Meyer Hans Micrometer indicator for measuring devices
KR100956837B1 (ko) * 2008-11-13 2010-05-07 박상현 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치
EP2378237B1 (en) 2010-04-08 2012-07-18 Mitutoyo Corporation Micrometer

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2709305A (en) 1951-12-15 1955-05-31 Meyer Hans Micrometer indicator for measuring devices
KR100956837B1 (ko) * 2008-11-13 2010-05-07 박상현 마이크로미터 치수 정밀도 검사장치
EP2378237B1 (en) 2010-04-08 2012-07-18 Mitutoyo Corporation Micrometer

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200072320A (ko) 2018-12-12 2020-06-22 삼성중공업 주식회사 마이크로미터의 영점 조정 기구
KR20200072909A (ko) 2018-12-13 2020-06-23 삼성중공업 주식회사 마이크로미터를 활용한 테이퍼축 외경 검사 방법
KR102037634B1 (ko) * 2019-06-03 2019-12-02 주식회사 세원전자 도전성 물체의 치수를 측정하기 위한 마이크로미터
US11280602B1 (en) 2020-09-11 2022-03-22 Sewon Electronics Co., Ltd. Micrometer for measuring dimension of a conductive object

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