KR200456100Y1

KR200456100Y1 - 마이크로미터류 치수 검사지그

Info

Publication number: KR200456100Y1
Application number: KR2020110004284U
Authority: KR
Inventors: 박상현
Original assignee: 박상현
Priority date: 2011-05-18
Filing date: 2011-05-18
Publication date: 2011-10-13

Abstract

본 고안은 마이크로미터류 치수 검사지그에 관한 것으로, 마이크로미터의 종류 및 크기에 상관없이 마이크로미터 자체가 가지는 치수를 정밀하게 검사할 수 있도록 하기 위해 치수측정의 표준물이 되는 게이지블럭을 안정적으로 수용 및 고정시키면서 마이크로미터 자체를 안정적으로 지지 및 고정시켜 게이지블럭에 맞추어 마이크로미터의 치수 정밀도를 검사시 오차발생을 최소화하여 검사할 수 있도록 한 것을 특징으로 하는 마이크로미터류 치수 검사지그를 구성한 것이다.

Description

마이크로미터류 치수 검사지그{TESTING JIG FOR MICROMETER MEASURE}

본 고안은 마이크로미터류 치수 검사지그에 관한 것으로, 측정용도에 따라 다양하게 구분되는 마이크로미터의 종류 및 크기에 제한없이 마이크로미터가 가지는 치수가 정밀한지 여부를 신속하고 안정적으로 검사할 수 있는 마이크로미터류 치수 검사지그에 관한 것이다.

일반적으로, 마이크로미터는 각종 금속가공물 등의 직경 및 길이 치수를 정밀하게 측정할때 사용되는 것이다.

이러한 마이크로미터는 측정용도에 따라 종류 및 크기가 다양하게 사용되고 있다. 이에 마이크로미터가 제공하는 측정치수가 검사대상물의 치수기준이 되기 때문에 측정 치수에 대한 정밀도는 매우 중요하다.

이와같은 마이크로미터의 치수 정밀도를 측정하기 위해서 종래에는 마이크로미터의 앤빌(anvil)과 스핀들 사이에 게이지블럭(일정한 길이로 제조된 블럭 또는, 표준물 이라 한다.)을 끼워서 정밀도를 측정하여 0점 교정하고 있다.

그러나, 종래의 마이크로미터의 측정 정밀도를 검사하는 데에 있어서는, 마이크로미터가 소형일 경우는 마이크로미터의 프레임부를 고정치부로 쉽게 장착시켜 간편한게 측정할 수 있지만, 마이크로미터의 크기가 대형일수록 최소한 2명 이상의 작업자가 필요하고 작업자 한사람은 대형 마이크로미터를 들고, 다른 작업자는 게이지블럭을 들어서 교정하기 때문에, 작업자의 측정시 미세한 움직임이 손쉽게 발생되면서, 피교정 게이지블럭 단면과 스핀들, 앤빌의 중심이 일정하게 일직선으로 유지되지 않아 전체적으로 마이크로미터의 교정시 오차를 발생되는 문제가 있었다.

특히, 봉형 마이크로미터의 경우 최대 5m이상 연장시켜 사용할 수 있도록 한 것으로 길이가 길어 측정치수를 검사할 수 있는 검사장치가 현재까지 없는 실정이며, 이에 측정치수만큼의 게이지블럭을 연결하여 검사자가 연장된 마이크로미터를 잡은상태에서 게이지블럭에 접촉시켜 측정함으로써 검사 자체에 오류가 많이 발생되고, 가장 큰 문제는 작업자가 치수의 기준이 되는 게이지블럭을 만질시에 온도에 따라 금속이 늘어나는 금속의 특성으로 인해 정밀한 측정이 어려운 문제점이 있었다.

따라서 본 고안은 이와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 측정용도에 따라 다양하게 사용되는 마이크로미터의 종류나 크기에 제한없이 마이크로미터가 가지는 치수의 정밀 여부를 정확하게 검사할 수 있고, 측정검사 대상물과 비교 기준이되는 표준물을 쉽게 거치하여 안정적으로 고정시켜 검사가 간편하면서 측정 정밀도를 보다 향상시킨 각종 마이크로미터류의 치수 검사지그를 제공하는데 그 목적이 있다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 고안의 특징에 의하면, 본 고안은 양측면부에 연결홈이 형성된 베이스판이 구비되고, 상기 베이스판의 상부 일측부에 일체 형성되며, 중앙부위에는 게이지블럭을 삽입하여 고정하기 위한 삽입홈이 형성된 수용블럭으로 이루어진 한 쌍의 고정지그;와 상기 한 쌍의 고정지그의 각 베이스판에 서로 대향되도록 설치되며 마이크로미터를 거치시켜 지지하는 한 쌍의 마이크로미터지지수단;을 포함하여 구성한 것을 특징으로 한다.

이와 같은 본 고안에 따른 마이크로미터 치수 검사지그에서 상기 한 쌍의 고정지그 사이에 추가 설치하며, 마이크로미터의 크기에 대응하여 다수의 게이지블럭을 연장 수용할 수 있도록 양측면부에 결합홈이 형성된 연장베이스판이 형성되고, 상기 연장베이스판 상부면에 상부에 연장삽입홈이 형성된 연장블럭이 일체 형성된 다수의 보조지그를 더 구성한 것을 특징으로 한다.

이와 같은 본 고안에 따른 마이크로미터 치수 검사지그에서 상기 마이크로미터지지수단은 고정지그의 수용블럭 후방부 베이스판 상부에 레일이 설치되고, 상기 레일의 양측면에 제1고정블럭과 제2고정블럭이 일정간격 이격되도록 설치되며, 상기 제1고정블럭 및 제2고정블럭 사이에 회전스크류바가 설치되고, 상기 레일 및 회전스크류바를 따라 직선왕복운동 하는 가동블럭이 전방 상부측에 마이크로미터를 거치하기 위한 지지체를 포함하여 설치되며, 상기 제1고정블럭의 외측에 회전스크류바에 정·역 회전을 가할 수 있도록 하는 회전조절부가 회전스크류바의 일측 끝단부에 연결 설치하여 구성된 것을 특징으로 한다.

본 고안에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그에 의하면, 용도에 따라 다양하게 사용되는 마이크로미터의 종류 및 크기에 제한없이 마이크로미터가 가지는 치수를 정밀하게 검사할 수 있는 검사지그를 제공함으로써, 마이크로미터의 치수 검사시 신속하면서 정밀하게 검사가 가능하며 마이크로미터의 치수 정밀도를 보다 향상시키는 효과를 제공하게 된다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그를 보인 사시도.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그를 보인 확대사시도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그의 사용상태를 보인 사시도.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그의 다른 사용상태를 보인 정면도.

본 고안은 측정용도에 따라 다양하게 사용되는 마이크로미터의 종류나 크기에 제한없이 마이크로미터 자체가 가지는 치수를 정밀하게 검사할 수 있도록 한 것으로, 치수측정의 표준물이 되는 게이지블럭과 측정대상물인 마이크로미터 자체를 안정적으로 지지 및 고정시켜 마이크로미터의 치수 정밀도를 검사시 오차발생을 최소화하여 검사 가능한 마이크로미터류 치수 검사지그를 구성한데 기술적 특징이 있다.

이와 같은 본 고안의 마이크로미터류 치수 검사지그는 고정지그, 마이크로미터지지수단, 보조지그로 이루어진다.

특히, 본 고안의 마이크로미터류 치수 검사지그의 경우 종류나 크기에 제한없이 치수측정 검사가 정밀하게 이루어지도록 마이크로미터의 크기에 따라 표준물인 게이지블럭을 연장할 수 있게 고정블럭에 분할 구성된 보조지그를 추가하여 연장설치 하도록 구성된다.

이하, 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 우선 각 도면의 구성 요소들에 참조 부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 고안을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 고안의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다. 또한, 이하에서 본 고안의 바람직한 실시예를 설명할 것이나, 본 고안의 기술적 사상은 이에 한정하거나 제한되지 않고 당업자에 의해 변형되어 다양하게 실시될 수 있음은 물론이다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그를 보인 사시도를 나타낸 것이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그를 보인 확대사시도를 나타낸 것이다.

본 고안에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그는 베이스판(11)이 구비되고, 상기 베이스판(11)에 일체 형성되며 게이지블럭(55)을 수용하는 삽입홈(12a)이 형성된 수용블럭(12)으로 이루어진 한 쌍의 고정지그(10)와, 상기 한 쌍의 고정지그(10) 사이에 추가 설치하며, 마이크로미터의 크기 및 치수에 대응하여 게이지블럭(55)을 수용할 수 있도록 연장베이스판(21)의 상부에 연장블럭(22)이 일체 형성된 다수의 보조지그(20)와, 상기 고정지그(10)의 베이스판(11)에 대향되도록 설치되며 마이크로미터(200)를 거치시켜 지지하는 한 쌍의 마이크로미터지지수단(30)을 포함하여 구성된다.

상기 고정지그(10)는 마이크로미터 치수의 검사시 비교대상의 표준물이 되는 게이지블럭(55)을 수용하여 고정시키도록 한 것이다.

이러한 고정지그(10)는 양측면부에 연결홈(11a)이 형성된 베이스판(11)이 구비되고, 상기 베이스판(11)의 상부 일측부에 수용블럭(12)이 일체 형성되며, 상기 수용블럭(12)의 중앙부위에는 게이지블럭(55)을 삽입하여 고정하기 위한 삽입홈(12a)이 형성되고, 한 쌍으로 이루어져 서로 대향하도록 구성하게 된다.

상기 보조지그(20)는 고정지그(10)의 베이스판(11) 및 수용블럭(12)을 연장하여 설치할 수 있도록 양측면부에 결합홈(21a)이 형성된 연장베이스판(21)의 상부에 중앙에 연장삽입홈(22a)이 형성된 연장블럭(22)이 일체 형성되어 이루어진 것이며, 이에 한 쌍의 고정지그(10) 사이에 보조지그(20)를 추가 설치하여 마이크로미터(200)의 크기에 대응하여 표준물인 게이지블럭(55)의 수용이 가능하도록 구성된다. 즉, 마이크로미터(200)의 크기와 비례하여 다수의 게이지블럭(55)을 연장 설치하여 수용 가능하도록 고정지그(10) 사이에 다수의 보조지그(20)를 추가 설치하여 사용 있도록 구성한 것이다.

이와같은 고정지그(10)와 보조지그(20)의 연결 구성은 고정지그(10)의 베이스판(11) 양측면부와 보조지그(20)의 연장베이스판(21) 양측면부에 형성된 연결홈(11a)과 결합홈(21a)을 연결부재(40)에 의해 나사 결합함으로써 쉽게 연장 결합하게 된다.

여기서 서로 연장 결합하는 고정지그(10) 및 보조지그(20)의 구성시 게이지블럭(55)을 수용하게 되는 삽입홈(11a)과 연장삽입홈(22a)간에 측정오차의 발생을 방지하도록 가공하는 것이 중요하다. 즉 삽입홈(11a) 및 연장삽입홈(22a)의 형성시 게이지블럭(55)의 크기와 폭에 대응하도록 정밀하게 형성되는 것이 바람직한 것이다. 이는 삽입홈(11a) 및 연장삽입홈(22a)에 게이지블럭(55)을 삽입할 경우 내측에서 게이지블럭이 유동되는 현상이 전혀 없어야 하며, 고정지그(10) 사이에 다수의 보조지그(20)를 추가하여 연장연결시 삽입홈(11a) 및 연장삽입홈(22a)간에 폭 및 너비의 오차발생이 없이 정밀하게 연결구성이 이루어져야 한다. 이에 따라 마이크로미터의 크기에 비례하여 삽입시키게 되는 다수의 게이지블럭(55)의 끝단부끼리 서로 정확하게 밀착하도록 설치함으로써, 게이지블럭(55)에 의한 표준치수가 정밀하게 제공되어야 한다.

상기 마이크로미터지지수단(30)은 마이크로미터(200)의 앤빌(201)과 스핀들(202) 부위를 거치시켜 지지할 수 있도록 한 것으로, 각 고정지그(10)의 수용블럭(12) 후방부에서 간격 조절이 가능하도록 서로 대향하게 한 쌍이 설치된다.

이러한 마이크로미터지지수단(30)은 고정지그(10)의 수용블럭(12) 후방부 베이스판(11) 상부에 레일(31)이 설치되고, 상기 레일(31)의 양측면에 제1고정블럭(32)과 제2고정블럭(33)이 일정간격 이격되도록 설치되며, 상기 제1고정블럭(32) 및 제2고정블럭(33) 사이에 회전스크류바(34)가 설치되고, 상기 레일(31) 및 회전스크류바(34)를 따라 직선왕복운동 하는 가동블럭(35)이 전방 상부측에 지지체(36)를 포함하여 설치되며, 상기 제1고정블럭(32)의 외측에 회전스크류바(34)에 정·역 회전을 가할 수 있도록 하는 회전조절부(37)가 회전스크류바(34)의 일측 끝단부에 연결 설치된다.

여기서, 상기 회전스크류바(34)의 일측은 회전을 가하기 위한 회전조절부(37)가 연결되는 반면, 회전스크류바(34)의 타측 끝단부가 설치되는 제2고정블럭(33)에는 베어링을 설치함으로써, 회전스크류바(34)의 회전시 도움을 주게 된다.

이와같은 마이크로미터지지수단(30)은 서로 대향하도록 설치되는 한 쌍의 고정지그(10)에 각각 한 쌍이 서로 대향되도록 설치되어, 가동블럭(35)의 전방부에 설치된 각 지지체(36)에 마이크로미터의 앤빌 및 스핀들을 안정적으로 거치시켜 지지하게 된다. 그리고 가동블럭(35)을 회전스크류바(34) 범위안에서 회전조절부(37)에 의해 직선왕복이동하면서 간격조정이 가능함으로써, 상기 가동블럭(35)의 이동에 따라 앤빌(201) 및 스핀들(202)이 거치되는 지지체(36)를 조절하면서 마이크로미터(200)의 크기에 따라 앤빌(201) 및 스핀들(202) 부위를 용이하게 거치하여 치수를 검사하게 된다.

이하, 본 고안에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그(100)에 의한 검사방법을 설명하면,

도 3에 보인바와 같이, 먼저 마이크로미터지지수단(30)이 설치된 한 쌍의 고정지그(10)를 서로 대향하도록 설치한다. 이때 마이크로미터의 종류 및 크기에 따라 한 쌍의 고정지그(10) 사이로 분할 구성된 다수의 보조지그(20)를 블럭식으로 추가하면서 연장 설치할 수 있게 된다. 그리고 고정지그(20) 및 보조지그(20)의 결합과 보조지그(20)간의 결합 설치는 베이스판(11) 및 연장베이스판(21)의 양측면에 형성된 연결홈(11a) 및 연장삽입홈(22a)(21a)을 연결부재(40)에 의해 나사 조립함으로써 쉽게 설치할 수 있게 된다.

그리고, 고정지그(10)와 보조지그(20)의 결합에 따라 고정블럭(12)에 연장블럭(22)이 연장되어 삽입홈(12a) 및 연장삽입홈(22a)이 동일하게 연장되는 구조를 가지고 되고, 상기 삽입홈 및 연장삽입홈(22a)으로 검사하고자 하는 마이크로미터(200) 치수 크기와 비례하여 다수의 게이지블럭(55)을 삽입하여 고정시키고, 삽입된 게이지블럭(55)의 양끝단부에는 마이크로미터(200)의 앤빌(201)과 스핀들(202)의 끝부위와 긴밀하게 접촉시켜 치수를 점검할 수 있도록 하는 수직게이지블럭(56)을 삽입하여 구성하게 된다.

상기와 같이 게이지블럭(55)의 삽입이 완료되면, 마이크로미터(200)의 앤빌(201)과 스핀들(202) 부위를 마이크로미터지지수단(30)의 지지체(36)에 각각 거치시키게 된다. 이때 양측 각 회전조절부(37)에 의해 가동블럭(35)을 레일(31) 및 회전스크류바(34)를 따라 이동시켜 간격을 조정하면서 마이크로미터(200)의 크기에 따라 앤빌(201) 및 스핀들(202) 부위를 지지체(36)가 안정적으로 거치시키게 된다.

그리고, 지지체(36)에 거치된 앤빌(201)과 스핀들(202) 부위가 수직게이지블럭(56)의 측면과 긴밀하게 밀착되도록 회전조절부(37)에 의해 지지체(36)의 간격을 미세조정하면서 표준물인 게이지블럭(55)의 수치와 마이크로미터(200)의 눈금 확인을 통해 마이크로미터(200)가 가지는 치수가 정밀하지 여부를 검사하게 된다.

한편, 봉형 마이크로미터(300)를 검사할 경우 도 4에 보인바와 같이, 봉형 마이크로미터(300) 자체가 직선 형태를 취하고 있어 이때는 지지수단의 사용이 필요없이 봉형 마이크로미터(300)의 크기만큼 고정지그(10)와 보조지그(20)를 연결 구성하고, 치수 크기만큼의 게이지블럭(55)을 삽입한 후, 게이지블럭(55)의 상부면에 봉형 마이크로미터(300) 자체를 안착시킨 상태에서 양 끝단에 수직게이지(56)를 삽입하여 봉형 마이크로미터(300)의 양 끝단부와 밀착되도록 구성함으로써, 간단하게 측정치수를 검사할 수 있게 된다.

상술한바와 같이 본 고안에 따른 마이크로미터류 치수 검사지그(100)는 용도에 따라 다양하게 사용되는 마이크로미터의 종류 및 크기에 제한없이 안정적으로 마이크로미터를 거치시켜 치수 정밀도를 용이하게 검사할 수 있게 되며, 고정지그(10)에 게이지블럭(55)을 삽입하여 고정시키고 나면, 게이지블럭(55) 자체에는 작업자의 손길이 닿지 않아 정밀한 측정 검사가 이루어지게 된다.

이상의 설명은 본 고안의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 고안이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 고안의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정, 변경 및 치환이 가능할 것이다. 따라서, 본 고안에 개시된 실시예 및 첨부된 도면들은 본 고안의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예 및 첨부된 도면에 의하여 본 고안의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 고안의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 고안의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

10 : 고정지그 11 : 베이스판 12 : 수용블럭
20 : 보조지그 21 : 연장베이스판 22 : 연장블럭
30 : 마이크로미터지지수단 31 : 레일
32 : 제1고정블럭 33 : 제2고정블럭 34 : 회전스크류바
35 : 가동블럭 36 : 지지체 37 : 회전조절부
40 : 연결부재
55 : 게이지블럭 56 : 수직게이지블럭

Claims

양측면부에 연결홈(11a)이 형성된 베이스판(11)이 구비되고, 상기 베이스판(11)의 상부 일측부에 일체 형성되며, 중앙부위에는 게이지블럭(55)을 삽입하여 고정하기 위한 삽입홈(12a)이 형성된 수용블럭(12)으로 이루어진 한 쌍의 고정지그(10)와, 상기 한 쌍의 고정지그(10)의 각 베이스판(11)에 서로 대향되도록 설치되며 마이크로미터를 거치시켜 지지하는 한 쌍의 마이크로미터지지수단(30)과, 상기 한 쌍의 고정지그(10) 사이에 추가 설치하며 마이크로미터의 크기에 대응하여 다수의 게이지블럭(55)을 연장 수용할 수 있도록 양측면부에 결합홈(21a)이 형성된 연장베이스판(21)이 형성되고 상기 연장베이스판 상부면에 상부에 연장삽입홈(22a)이 형성된 연장블럭(22)이 일체 형성된 다수의 보조지그(20)로 구성된 마이크로미터류 치수 검사지그에 있어서,
상기 마이크로미터지지수단(30)은 고정지그(10)의 수용블럭(12) 후방부 베이스판(11) 상부에 레일(31)이 설치되고, 상기 레일(31)의 양측면에 제1고정블럭(32)과 제2고정블럭(33)이 일정간격 이격되도록 설치되며, 상기 제1고정블럭(32) 및 제2고정블럭(33) 사이에 회전스크류바(34)가 설치되고, 상기 레일(31) 및 회전스크류바(34)를 따라 직선왕복운동 하는 가동블럭(35)이 전방 상부측에 마이크로미터를 거치하기 위한 지지체(36)를 포함하여 설치하며, 상기 제1고정블럭(32)의 외측에 회전스크류바(34)에 정·역 회전을 가할 수 있도록 하는 회전조절부(37)가 회전스크류바(34)의 일측 끝단부에 연결 설치하여 구성된 것을 특징으로 하는 마이크로미터류 치수 검사지그.
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