CN210833303U - 一种测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种测量装置，包括：至少两个固定架，平衡杆和若干测量件；至少两个固定架设置在待测量构件的基准平面上；平衡杆设置在固定架上，并与待测量构件的待测量面相对；若干测量件设置在平衡杆上且能够与待测量构件的待测量面接触。本实用新型通过在待测量构件的基准平面上设置固定架，并在固定架上设置与待测量构件的待测量面相对的平衡杆，由于平衡杆上设置有测量件，通过测量件测量待测量面的尺寸。该装置根据待测量构件的基准进行待测量面的尺寸检测，保证了检测结果的准确性，同时本装置通过测量件对待测量面进行检测，可以根据实际需要对测量件进行设置，从而获得有效的检测尺寸，该装置简单方便，易操作。

Description

一种测量装置

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域，特别是涉及一种测量装置。

背景技术

目前大型构件使用后存在磨损问题，需要将缺损尺寸修复至新件方可再次使用，检测员采用一般量具（如游标卡尺等），但是对大型构件不能准确测量，尤其是存在异性曲面或者斜面时，因此在未知缺损尺寸时采取的修复不准确，浪费人力物力；在修复后也不能进行准确测量，导致构件修复后的尺寸和变形量无法评价，存在修复后尺寸不能满足新件尺寸要求的风险，不能真实反映修复后的尺寸。

实用新型内容

为了克服现有技术中对构件检测不准确的问题，进而提供一种测量装置，从而满足不同的设计需要。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种测量装置，包括：

至少两个固定架，至少两个固定架设置在待测量构件的基准平面上；

平衡杆，平衡杆设置在固定架上，并与待测量构件的待测量面相对；

若干测量件，若干测量件设置在平衡杆上且能够与待测量构件的待测量面接触。

采用上述技术方案，通过在待测量构件的基准平面上设置固定架，并在固定架上设置与待测量构件的待测量面相对的平衡杆，由于平衡杆上设置有测量件，通过测量件测量待测量面的尺寸。该装置根据待测量构件的基准进行待测量面的尺寸检测，保证检测结果的准确性，同时本装置通过测量件对待测量面进行检测，可以根据实际需要对测量件进行设置，从而获得有效的检测尺寸，对异性曲面或者斜面准确测量，当待测量构件的待测量面处于边界圆弧过渡区时，可以准确获得边界位置并进行测量，该装置简单方便，易操作。

优选地，测量装置还包括等高定位块，等高定位块设置在固定架与待测量构件之间。

采用上述技术方案，以待测量构件的基准平面作为基准，采用等高定位块用于定位固定架使其相对构件的位置都处于同一高度位置，保证固定架装夹在构件上时相对位置均分，使构件的基准可以转化到固定架，保证测量到的数据更加精确。

优选地，测量装置还包括定位构件，定位构件用于紧固连接固定架和待测量构件。

采用上述技术方案，通过设置定位构件将固定架组装到待测量构件上，为后续检测做准备。

优选地，测量装置还包括固定构件，固定构件用于紧固连接固定架和平衡杆。

采用上述技术方案，通过固定构件将平衡杆固定到固定架上，便于测量件测量待测量面的尺寸。

优选地，定位构件为螺栓，固定架上开设有与螺栓对应的螺纹孔。

优选地，定位构件的数量与固定架和待测量构件相接触面的数量相等。

采用上述技术方案，定位构件均匀设置在固定架与待测量构件相接触面上，用于紧固连接固定架与待测量构件。

优选地，测量件为弹簧探针或铜柱。

采用上述技术方案，弹簧探针或铜柱上有尺寸刻度，弹簧探针或铜柱可以跟随待测量构件的待测量面的尺寸而变化，当检测完成从待测量构件上取下弹簧探针或铜柱时则会恢复原有位置，易于检测待测量构件的待测量面的尺寸。

附图说明

图1是本实用新型中涉及的应用该测量装置的整体结构示意图；

图2是本实用新型中涉及的应用该测量装置的局部结构示意图；

图3是本实用新型中涉及的测量装置的操作方法流程示意图。

其中：1为固定架，2为平衡杆，3为弹簧探针，4为等高定位块，5为定位构件，6为固定构件，7为滑架，8为滑轨面。

具体实施方式

下面结合附图说明根据本实用新型的具体实施方式。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型，但是，本实用新型还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本实用新型并不限于下面公开的具体实施例的限制。

为了解决对构件检测不准确的问题，本实用新型提供一种测量装置。

如图1和图2所示，本实用新型提供一种测量装置，包括：至少两个固定架1，平衡杆2和若干测量件；

至少两个固定架1设置在待测量构件的基准平面上；平衡杆2设置在固定架1上，并与待测量构件的待测量面相对；若干测量件设置在平衡杆2上且能够与待测量构件的待测量面接触。

在本实施例中，在测量待测量构件的待测量面的尺寸的时候，应先确定待测量构件的基准平面，即将待测量构件中未受损的平面作为基准平面，确定好基准平面之后在进行后续的测量，在后期修复、检测和机加工等都以该面作为基准平面，基准平面的确定通过待测量构件的损伤以及使用状态确定。

在待测量构件的两端的基准平面上设置固定架1，固定架1的形状结构与待测量构件相匹配；在固定架1上设置与待测量面相对的平衡杆2，平衡杆2上设置有测量件。

进一步地，测量件为弹簧探针3或铜柱。

由于平衡杆2上设置有矩阵式的弹簧探针3，弹簧探针3的位置，数量可以根据实际需要进行设置，由于弹簧探3上有尺寸刻度，按照统一的装夹方式将其装夹在平衡杆2上，并确定弹簧探针示数均为零。当弹簧探针3触碰到待测量面后会收缩，读取弹簧探3上的示数以获得待测量构件表面受损尺寸。当然，测量件也可以采用带有尺寸刻度的铜柱，只要能够测量待测量构件表面受损尺寸即可。

该装置根据待测量构件的基准进行待测量面的尺寸检测，保证检测结果的准确性，同时本装置通过测量件对待测量面进行检测，可以根据实际需要对测量件进行设置，从而获得有效的检测尺寸，该装置简单方便，易操作。

进一步地，测量装置还包括等高定位块4，等高定位块4设置在固定架1与待测量构件之间。

在本实施例中，由于固定架1的尺寸较待测量构件的外轮廓尺寸有一定的余量，等高定位块4安装在固定架1和待测量构件之间，以待测量构件的基准平面作为基准，采用等高定位块4用于定位固定架1使其相对构件的位置都处于同一高度位置，保证固定架1装夹在构件上时的相对位置均分，使构件的基准可以转化到固定架1，保证测量到的数据更加精确。

当然，等高定位块4根据实际情况制造出不同高度，应用于不同的场景。

进一步地，测量装置还包括定位构件5，定位构件5用于紧固连接固定架1和待测量构件。

在上述实施例的基础上，进一步地，定位构件5为螺栓，固定架1上开设有与螺栓对应的螺纹孔。

在本实施例中，定位构件5为螺栓，在固定架1上开设有与螺栓对应的螺纹孔，通过设置定位构件5将固定架1组装到待测量构件上，为后续检测做准备。

当然，定位构件5也可以采用螺母，不限于某一种构件，只要能够符合实际需要即可。

进一步地，定位构件5的数量与固定架1和待测量构件相接触面的数量相等。

在本实施例中，定位构件5均匀设置在固定架1与待测量构件相接触面上，用于紧固连接固定架1与待测量构件。当然，定位构件5的数量也可以根据实际需要进行设置，不限定于某一数量。

进一步地，测量装置还包括固定构件6，固定构件6用于紧固连接固定架1和平衡杆2。

在本实施例中，通过固定构件6将平衡杆2固定到固定架1上，便于测量件测量待测量面的尺寸。在本实用新型中，固定构件6采用固定螺母；当然，固定构件6也可以采用螺栓，不限于某一种构件，只要能够符合实际需要即可。

如图1至3所示，在本实施例中以对滑架7的受损面进行测量为例，说明本实用新型的具体操作步骤：

S1、确定滑架7的基准平面；

即确定滑架7相对未损伤面，将未损伤面定为基准平面，当然也可以采用其他的平面作为基准平面，只要符合测量规则即可；基准平面的确定通过滑架7的损伤以及使用状态确定，滑架7中只有滑轨面8受损，可以将未损伤面作为基准平面。

S2、基于滑架7的基准平面将固定架1安装在滑架7上；

S3、在滑架7与固定架1之间安装等高定位块4；

在固定架1的一侧安装有等高定位块4，使两端的固定架1都处于同一高度位置。

S4、通过螺母将固定架1固定在滑架7上，并保证固定架1与滑架7之间的距离相等；

通过使用定位构件5，即通过使用螺母将固定架1，等高定位块4与滑架7紧固连接，由于固定架1与滑架7相接触的面有4个，所以在每一个相接触的面上设置一个螺母，更好的固定固定架1和滑架7，便于后期的测量。

S5、在滑架7的表面安装平衡杆2，与滑架7的待测量面即损伤面相对；

在固定架1的外平面上装夹平衡杆2，该装夹平面相对于滑架7的待检测平面（滑轨面8）进行精确机加工，使其与滑架7的待测量面处于相对平行的位置关系。

S6、通过设置在平衡杆2上的弹簧探针3测量滑架7的待测量面的受损尺寸。

由于平衡杆2上设置有若干矩阵式弹簧探针3，弹簧探针3上有尺寸刻度，弹簧探针3装夹在平衡杆2上，按照统一的装夹方式将其装夹在平衡杆2上，并确定弹簧探针3示数均为零。当弹簧探针3触碰到滑架7的待测量面（滑轨面8）后会收缩，读取弹簧探针3上的示数以获得滑架7的待测量面（滑轨面8）的受损尺寸。

综上所述，采用本实用新型确定待测量构件的基准平面并在基准平面上设置固定架，在固定架上设置带有弹簧探针的平衡杆，利用弹簧探针检测待测量构件的待测量面的尺寸，该装置简单方便，易操作，测量准确性高。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (7)

1.一种测量装置，其特征在于，包括：

至少两个固定架，至少两个所述固定架设置在待测量构件的基准平面上；

平衡杆，所述平衡杆设置在所述固定架上，并与所述待测量构件的待测量面相对；

若干测量件，若干所述测量件设置在所述平衡杆上且能够与所述待测量构件的待测量面接触。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括等高定位块，所述等高定位块设置在所述固定架与所述待测量构件之间。

3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括定位构件，所述定位构件用于紧固连接所述固定架和所述待测量构件。

4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括固定构件，所述固定构件用于紧固连接所述固定架和所述平衡杆。

5.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述定位构件为螺栓，所述固定架上开设有与所述螺栓对应的螺纹孔。

6.如权利要求5所述的测量装置，其特征在于，所述定位构件的数量与所述固定架和所述待测量构件相接触面的数量相等。

7.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量件为弹簧探针或铜柱。

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