CN106197187A - 一种外径千分尺校检方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种外径千分尺校检方法，包括：S1、搭建检测架，并使该检测架包括检测平台、第一升降杆、第二升降杆、以及设置在第一升降杆和第二升降杆上的第一托架和第二托架；S2、将外径千分尺中的尺架与检测平台固定，将外径千分尺中的测砧和测微螺杆分别放置在第一托架和第二托架上；S3、放置标准量块，并使其位于测砧和测微螺杆之间；S4、调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；S5、调整标准量块位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上；S6、将测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致。
Description
技术领域
本发明涉及外径千分尺校检技术领域，尤其涉及一种外径千分尺校检方法。
背景技术
外径千分尺(OUTSIDE MICROMETER)常简称为千分尺，主要由固定的尺架、测砧、测微螺杆、固定套管、微分筒、测力装置、锁紧装置等组成，是一种比游标卡尺更精密的长度测量。未来确保外径千分尺测量结果的准确性，需要定期对其进行校检。现有的校检方式都是人工进行校检，人工检验难以找到测量面平行度，检验结果的可靠性差。
发明内容
基于上述背景技术存在的技术问题，本发明提出一种外径千分尺校检方法。
本发明提出了一种外径千分尺校检方法，包括以下步骤：
S1、搭建一个检测架，并使该检测架包括检测平台和相对布置检测平台上的第一升降杆和第二升降杆，并在第一升降杆和第二升降杆的顶端分别设置第一托架和第二托架；
S2、将待检测的外径千分尺放置在S1中的检测平台上，并使该外径千分尺中的尺架与检测平台固定，使该外径千分尺中的测砧和测微螺杆分别位于第一托架和第二托架上；
S3、在S1中搭建的检测平台上放置一个标准量块，并使该标准量块位于测砧和测微螺杆之间；
S4、调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；
S5、调整标准量块位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上；
S6、将测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致，若一致，表示合格；若不一致，表示不合格。
优选地，S4具体包括一下步骤：
在测砧和测微螺杆的上方各设置一个第一千分表，并使两个第一千分表的测量杆分别与测砧和测微螺杆的上表面抵靠；
根据两个第一千分表判断测砧和测微螺杆是否处于同一水平高度；
当测砧和测微螺杆所处水平高度不同使，调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度。
优选地，S5具体包括一下步骤：
在标准量块的一侧且靠近其两端的位置分别设置一个第二千分表，并使第二千分表之间的连线分别平行于测砧和测微螺杆，同时使两个第二千分表的测量杆分别与标准量块的侧表面抵靠；
根据两个第二千分表判断标准量块与测砧和测微螺杆是否处于同一直线上；
当标准量块与测砧和测微螺杆不处于同一直线时，调整标准量块的位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上。
优选地，第一升降杆包括第一套筒和第一螺纹杆，第一套筒竖直布置并可转动安装在检测平台上，第一螺纹杆竖直布置并与第一套筒螺纹连接。
优选地，第一套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽。
优选地，第二升降杆包括第二套筒和第二螺纹杆，第二套筒竖直布置并可转动安装在检测平台1上，第二螺纹杆竖直布置并与第二套筒螺纹连接。
优选地，第二套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽。
本发明中，以搭建的检测平台用于外径千分尺中的尺架进行支撑固定；以设置在检测平台上的第一升降杆、第二升降杆相互配合用于对外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并对其高度进行调节，确保二者处于同一水平面内；以标准量块作为外径千分尺校检的校准参照，并确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内；检验时，将外径千分尺中测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致，若一致，表示合格；若不一致，表示不合格。
综上所述，本发明提出的一种外径千分尺校检方法，通过检测平台进行辅助校验，并在检测过程中，分别对测砧和测微螺杆之间、以及标准量块与测砧、测微螺杆之间的位置校准，双重校准结果，可有效减小误差，使得校验结果更为可靠。
附图说明
图1为本发明提出的一种外径千分尺校检方法中所述检测架的结构示意图；
图2为检测架中所述第一升降杆的结构示意图；
图3为检测架中所述第二升降杆的结构示意图；
图4为检测架中所述第一副升降机构或第二副升降机构的结构示意图；
图5为一种外径千分尺校检方法中所述标准量块在检测架上位置关系图。
具体实施方式
下面，通过具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明。
如图1-5所示，图1为本发明提出的一种外径千分尺校检方法中所述检测架的结构示意图；图2为检测架中所述第一升降杆的结构示意图；图3为检测架中所述第二升降杆的结构示意图；图4为检测架中所述第一副升降机构或第二副升降机构的结构示意图；图5为一种外径千分尺校检方法中所述标准量块在检测架上位置关系图。
本发明实施例提出的一种外径千分尺校检方法，包括以下布置：S1、搭建一个检测架，并使该检测架包括检测平台和相对布置检测平台上的第一升降杆和第二升降杆，并在第一升降杆和第二升降杆的顶端分别设置第一托架和第二托架；
S2、将待检测的外径千分尺放置在S1中的检测平台上，并使该外径千分尺中的尺架与检测平台固定，使该外径千分尺中的测砧和测微螺杆分别位于第一托架和第二托架上；
S3、在S1中搭建的检测平台上放置一个标准量块，并使该标准量块位于测砧和测微螺杆之间；
S4、调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度，具体步骤如下：
在测砧和测微螺杆的上方各设置一个第一千分表，并使两个第一千分表的测量杆分别与测砧和测微螺杆的上表面抵靠；
根据两个第一千分表判断测砧和测微螺杆是否处于同一水平高度；
当测砧和测微螺杆所处水平高度不同使，调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；
S5、调整标准量块位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上，具体步骤如下：
在标准量块的一侧且靠近其两端的位置分别设置一个第二千分表，并使第二千分表之间的连线分别平行于测砧和测微螺杆，同时使两个第二千分表的测量杆分别与标准量块的侧表面抵靠；
根据两个第二千分表判断标准量块与测砧和测微螺杆是否处于同一直线上；
当标准量块与测砧和测微螺杆不处于同一直线时，调整标准量块的位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上；
S6、将测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致，若一致，表示合格；若不一致，表示不合格。
本发明中，以搭建的检测平台用于外径千分尺中的尺架进行支撑固定；以设置在检测平台上的第一升降杆、第二升降杆相互配合用于对外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并对其高度进行调节，确保二者处于同一水平面内；以标准量块作为外径千分尺校检的校准参照，并确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内；检验时，将外径千分尺中测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致，若一致，表示合格；若不一致，表示不合格。
参照图1，检测架包括：检测平台1、第一升降杆2、第二升降杆3，所述第一升降杆2、第二升降杆3相对布置在检测平台1上，第一升降杆2、第二升降杆3的顶端分别安装有第一托架13、第二托架14；所述第一升降杆2上方且位于靠近第二升降杆3的一侧设有一个第一千分表4，所述第二升降杆3上方且位于靠近第一升降杆2的一侧设有一个第一千分表4；所述第一升降杆2和第二升降杆3之间连线的一侧设有两个第二千分表5，且两个第二千分表5之间的连续分别平行于第一升降杆2和第二升降杆3之间的连线；检测平台1上且位于第一升降杆2和第二升降杆3的一侧设有用于对外径千分尺尺架进行固定的固定机构6；固定机构6包括压块601和紧固螺栓602，压块601位于检测平台1的上方，紧固螺栓602穿过压块601并与检测平台1螺纹连接。第一升降杆2远离第二升降杆3的一侧设有第一副升降机构7；第二升降杆3远离第一升降杆2的一侧设有第二副升降机构8。
参照图2-3，第一升降杆2包括第一套筒201和第一螺纹杆202，第一套筒201竖直布置并可转动安装在检测平台1上，第一螺纹杆202竖直布置并与第一套筒201螺纹连接；第二升降杆3包括第二套筒301和第二螺纹杆302，第二套筒301竖直布置并可转动安装在检测平台1上，第二螺纹杆302竖直布置并与第二套筒301螺纹连接；工作中，通过转动第一套筒201、第二螺纹杆302推动第一螺纹杆202、第二螺纹杆302伸缩，从而实现升降调节动作。
参照图2-3，第一套筒201和第二套筒301的外表面均设有绕其环面环形布置的孔槽13，孔槽13的设置用于杆件的插入，通过搬动杆件可以轻松的带动第一套筒201、第二套筒301旋转，省时省力。
参照图4，第一副升机构7和第二副升机构8均分别包括固定块9、滑动块10和调节件11，所述固定块9固定安装在检测平台1上，固定块9远离第一升降杆2的一侧设有竖直延伸的燕尾槽；滑动块10与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动，滑动块10的上表面安装有支撑座12；调节件11分别与滑动块10和固定块9进行配合用于对滑动块10进行止动。第一副升降机构7和第二副升降机构8的作用与第一升降杆2和第二升降杆3的作用相同，用于满足第一升降杆2、第二升降杆3无法进行托举的大型外径千分尺的校检，以扩大其适用范围，且第一副升机构和第二副升机构中固定块9与滑动块10燕尾槽式滑动配合，承重量大，且结构稳定可靠。
参照图4，滑动块10的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔；支撑座12包括立杆1201、托块1202和紧固件1203，所述立杆1201一端伸入至安装孔内并通过紧固件1203固定；所述托块1202位于固定立杆1201的顶端并与其固定。支撑座12的结构设置使得托举稳定可靠，且紧固件1203可以调整立杆1201在安装孔内的插入深度，从而实现对托块1202高度的微调。
参照图5，标准量块15布置在第一升降杆2和第二升降杆3之间。
由上可知，本发明提出的一种外径千分尺校检方法，通过四个千分表相互配合可以快速找到测量面平行度，且对测砧、测微螺杆和标准量块的双重校检，使得测量数据准确，可有效减小误差。此外，第一升降杆2、第二升降杆3、第一副升机构7、第二副升机构8相互配合可满足对不同规格外径千分尺的校检，有效扩大其使用范围。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种外径千分尺校检方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1、搭建一个检测架，并使该检测架包括检测平台和相对布置检测平台上的第一升降杆和第二升降杆，并在第一升降杆和第二升降杆的顶端分别设置第一托架和第二托架；
S2、将待检测的外径千分尺放置在S1中的检测平台上，并使该外径千分尺中的尺架与检测平台固定，使该外径千分尺中的测砧和测微螺杆分别位于第一托架和第二托架上；
S3、在S1中搭建的检测平台上放置一个标准量块，并使该标准量块位于测砧和测微螺杆之间；
S4、调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度；
S5、调整标准量块位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上；
S6、将测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块的两端抵靠，并以标准量块自身长度为参照，观察外径千分尺所测数据与标准量块自身长度是否一致，若一致，表示合格；若不一致，表示不合格。
2.根据权利要求1所述的外径千分尺校检方法，其特征在于，S4具体包括一下步骤：
在测砧和测微螺杆的上方各设置一个第一千分表，并使两个第一千分表的测量杆分别与测砧和测微螺杆的上表面抵靠；
根据两个第一千分表判断测砧和测微螺杆是否处于同一水平高度；
当测砧和测微螺杆所处水平高度不同使，调整第一升降杆和/或第二升降杆，使测砧和测微螺杆处于同一水平高度。
3.根据权利要求1所述的外径千分尺校检方法，其特征在于，S5具体包括一下步骤：
在标准量块的一侧且靠近其两端的位置分别设置一个第二千分表，并使第二千分表之间的连线分别平行于测砧和测微螺杆，同时使两个第二千分表的测量杆分别与标准量块的侧表面抵靠；
根据两个第二千分表判断标准量块与测砧和测微螺杆是否处于同一直线上；
当标准量块与测砧和测微螺杆不处于同一直线时，调整标准量块的位置，使其与测砧和测微螺杆处于同一直线上。
4.根据权利要求1所述的外径千分尺校检方法，其特征在于，第一升降杆包括第一套筒和第一螺纹杆，第一套筒竖直布置并可转动安装在检测平台上，第一螺纹杆竖直布置并与第一套筒螺纹连接。
5.根据权利要求4所述的外径千分尺校检方法，其特征在于，第一套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽。
6.根据权利要求1所述的外径千分尺校检方法，其特征在于，第二升降杆包括第二套筒和第二螺纹杆，第二套筒竖直布置并可转动安装在检测平台1上，第二螺纹杆竖直布置并与第二套筒螺纹连接。
7.根据权利要求6所述的外径千分尺校检方法，其特征在于，第二套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽。
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