CN106197188B - 一种双调节外径千分尺校检装置 - Google Patents

一种双调节外径千分尺校检装置 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种双调节外径千分尺校检装置，包括：检测平台、第一升降托架、第二升降托架、第一副升降托架、第二副升降托架、第一千分表、第二千分表、第三千分表、第四千分表和标准量块，检测平台用于支撑，第一千分表、第二千分表相互配合用于对外径千分尺中测砧、测微螺杆进行校检；第三千分表、第四千分表相互配合用于对标准量块进行校检；标准量块用于作为外径千分尺校检的校准参照；第一升降托架、第二升降托架相互配合用于对小规格外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并带动其进行升降动作；第一副升降托架、第二副升降托架相互配合用于对大规格的外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并带动其进行升降动作。

Description

一种双调节外径千分尺校检装置
技术领域
本发明涉及外径千分尺校检设备技术领域，尤其涉及一种双调节外径千分尺校检装置。
背景技术
外径千分尺(OUTSIDE MICROMETER)常简称为千分尺，主要由固定的尺架、测砧、测微螺杆、固定套管、微分筒、测力装置、锁紧装置等组成，是一种比游标卡尺更精密的长度测量。未来确保外径千分尺测量结果的准确性，需要定期对其进行校检。现有的校检方式都是人工进行校检，人工检验难以找到测量面平行度，检验结果的可靠性差。
发明内容
基于上述背景技术存在的技术问题，本发明提出一种双调节外径千分尺校检装置。
本发明提出了一种双调节外径千分尺校检装置，包括：检测平台、第一升降托架、第二升降托架、第一副升降托架、第二副升降托架、第一千分表、第二千分表、第三千分表、第四千分表和标准量块，其中：
第一升降托架、第二升降托架相对布置检测平台上；
第一副升降托架位于第一升降托架远离第二升降托架的一侧并安装在检测平台上；
第二副升降托架位于第二升降托架远离第一升降托架的一侧并安装在检测平台上；
第一千分表、第二千分表、第三千分表和第四千分表均分别包括表头和位于表头下方的测量杆；第一千分表、第二千分表均位于第一升降托架、第二升降托架之间，且第一千分表、第二千分表中的测量杆分别垂直于水平面；第三千分表、第四千分表分别位于第一升降托架、第二升降托架之间连线的一侧，且第三千分表、第四千分表中的测量杆分别垂直于第一升降托架和第二升降托架所在的竖直平面；
标准量块位于第一千分表、第二千分表之间。
优选地，第一升降托架包括第一托架和位于第一托架下方用于推动第一托架进行升降调节的第一调节组件。
优选地，第一托架具有弧面的弧形片。
优选地，第一调节组件包括第一套筒和第一螺纹杆，第一套筒竖直布置并可转动安装在检测平台上，第一套筒的内周面设有螺纹槽；第一螺纹杆竖直布置并与第一套筒螺纹连接。
优选地，第一套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽。
优选地，第二升降托架包括第二托架和位于第二托架下方用于推动第二托架进行升降调节的第二调节组件。
优选地，第二托架具有弧面的弧形片。
优选地，第二调节组件包括第二套筒和第二螺纹杆，第二套筒竖直布置并可转动安装在检测平台上，第二套筒的内周面设有螺纹槽；第二螺纹杆竖直布置并与第二套筒螺纹连接。
优选地，第二套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽。
优选地，第一副升降托架包括第一固定块、第一滑动块和第一调节件，所述第一固定块固定安装在检测平台上，第一固定块远离第一升降托架的一侧设有竖直延伸的燕尾槽；第一滑动块与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动，第一滑动块的上表面安装有第一支撑座；第一调节件分别与第一滑动块和第一固定块进行配合用于对第一滑动块进行止动。
优选地，第一滑动块的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔。
优选地，第一支撑座包括立杆、托块和紧固件，所述立杆一端伸入至安装孔内并通过紧固件固定；所述托块位于固定立杆的顶端并与其固定，托块上表面具有弧形卡槽。
优选地，第二副升降托架包括第二固定块、第二滑动块和第二调节件，所述第二固定块固定安装在检测平台上，第二固定块远离第二升降托架的一侧设有竖直延伸的燕尾槽；第二滑动块与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动，第二滑动块的上表面安装有第二支撑座；第二调节件分别与第二滑动块和第二固定块进行配合用于对第二滑动块进行止动。
优选地，第二滑动块的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔。
优选地，第二支撑座包括立杆、托块和紧固件，所述立杆一端伸入至安装孔内并通过紧固件固定；所述托块位于固定立杆的顶端并与其固定，托块上表面具有弧形卡槽。
本发明中，检测平台用于对检测中的千分尺的尺架进行支撑，第一千分表、第二千分表相互配合用于对外径千分尺中测砧、测微螺杆进行校检，确保二者处于同一水平面内；第三千分表、第四千分表相互配合用于对标准量块进行校检，确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内；标准量块用于作为外径千分尺校检的校准参照；第一升降托架、第二升降托架相互配合用于对小规格外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并带动其进行升降动作；第一副升降托架、第二副升降托架相互配合用于对大规格的外径千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并带动其进行升降动作。
综上所述，本发明提出的一种双调节外径千分尺校检装置，通过四个千分表相互配合可以快速找到测量面平行度，且对测砧、测微螺杆和标准量块的双重校检，使得测量数据准确，可有效减小误差。此外，第一升降托架、第二升降托架、第一副升降托架、第二副升降托架相互配合可满足对不同规格外径千分尺的校检，有效扩大其适用范围。
附图说明
图1为本发明提出的一种双调节外径千分尺校检装置的结构示意图；
图2为图1的局部放大图；
图3为本发明提出的一种双调节外径千分尺校检装置中所述第一升降托架的结构示意图；
图4为本发明提出的一种双调节外径千分尺校检装置中所述第二升降托架的结构示意图。
具体实施方式
下面，通过具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明。
如图1-4所示，图1为本发明提出的一种双调节外径千分尺校检装置的结构示意图；图2为图1的局部放大图；图3为本发明提出的一种双调节外径千分尺校检装置中所述第一升降托架的结构示意图；图4为本发明提出的一种双调节外径千分尺校检装置中所述第二升降托架的结构示意图。
参照图1-4，本发明实施例提出的一种双调节外径千分尺校检装置，包括：检测平台1、第一升降托架2、第二升降托架3、第一副升降托架11、第二副升降托架12、第一千分表5、第二千分表6、第三千分表7、第四千分表8和标准量块4，其中：
第一升降托架2、第二升降托架3相对布置检测平台1上，第一升降托架2包括第一托架201和位于第一托架201下方用于推动第一托架201进行升降调节的第一调节组件202，第二升降托架3包括第二托架301和位于第二托架301下方用于推动第二托架301进行升降调节的第二调节组件302；第一副升降托架11位于第一升降托架2远离第二升降托架3的一侧并安装在检测平台1上；第二副升降托架12位于第二升降托架3远离第一升降托架2的一侧并安装在检测平台1上；第一千分表5、第二千分表6、第三千分表7和第四千分表8均分别包括表头和位于表头下方的测量杆；第一千分表5、第二千分表6均位于第一升降托架2、第二升降托架3之间，且第一千分表5、第二千分表6中的测量杆分别垂直于水平面；第三千分表7、第四千分表8分别位于第一升降托架2、第二升降托架3之间连线的一侧，且第三千分表7、第四千分表8中的测量杆分别垂直于第一升降托架2和第二升降托架3所在的竖直平面；标准量块4位于第一千分表5、第二千分表6之间。在对外径千分尺进行校检时，当所校验的外径千分尺为小规格千分尺时，先将外径千分尺的尺架放置在检测平台1上，将外径千分尺的测砧、测微螺杆分别放置在第一升降托架2、第二升降托架3中的第一托架201、第二托架301上；然后通过第一千分表5、第二千分表6分别与第一升降托架2、第二升降托架3配合对测砧、测微螺杆进行校准，通过第三千分表7、第四千分表8对标准量块4进行校准，其具体校准过程如下：
使第一千分表5、第二千分表6中的测量杆的顶端分别与测砧、测微螺杆的上表面抵靠，并观察第一千分表5、第二千分表6读数是否一致，当二者读数不一致时，调整第一升降托架2和/或第二升降托架3中的第一调节组件202、第二调整组件302，使第一托架201和/或第二托架301进行升降动作，以带动测砧和/或测微螺杆升降，从而确保测砧和/或测微螺杆处于同一水平面内；
使第三千分表7、第四千分表8中的测量杆分别与标准量块4的侧表面抵靠，利用第三千分表7、第四千分表8校准，最终使标准量块4与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内；
最后使测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块4的两端抵靠，观察其测量数据与标准量块4的预定数据是否一致，从而判断该外径千分尺测量精度是否处于合格范围内。
当所校验的外径千分尺为大规格千分尺时，先将外径千分尺的尺架放置在检测平台1上，将外径千分尺的测砧、测微螺杆分别放置在第一副升降托架11、第二副升降托架12中的第一支撑座、第二支撑座14上；然后通过第一千分表5、第二千分表6分别与第一副升降托架11、第二副升降托架12配合对测砧、测微螺杆进行校准，通过第三千分表7、第四千分表8对标准量块4进行校准，其具体校准过程与上述相同。
由上可知，本发明通过第一升降托架2、第二升降托架3、第一副升降托架11、第二副升降托架12相互配合可满足对不同规格外径千分尺的校检，有效扩大其适用范围。
本实施例中，第一调节组件202包括第一套筒和第一螺纹杆，第一套筒竖直布置并可转动安装在检测平台1上，第一套筒的内周面设有螺纹槽；第一螺纹杆竖直布置并与第一套筒螺纹连接；第一托架201安装在第一螺纹杆的顶部，第一托架201具有弧面的弧形片；第二调节组件302包括第二套筒和第二螺纹杆，第二套筒竖直布置并可转动安装在检测平台1上，第二套筒的内周面设有螺纹槽；第二螺纹杆竖直布置并与第二套筒螺纹连接；第二托架301安装在第二螺纹杆的顶部，第二托架301具有弧面的弧形片；在进行升降调节时，通过旋转第一套筒和/或第二套筒，推动第一螺纹杆和/或第二螺纹杆上下升降，从而带动第一托架201和/或第二托架301上下运动。且本实施例中的第一套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽；第二套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽，孔槽的设置用于杆件的插入，通过搬动杆件可以轻松的带动第一套筒、第二套筒旋转，省时省力。
本实施例中，第一副升降托架11包括第一固定块、第一滑动块和第一调节件，所述第一固定块固定安装在检测平台1上，第一固定块远离第一升降托架2的一侧设有竖直延伸的燕尾槽；第一滑动块与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动，第一滑动块的上表面安装有第一支撑座；第一调节件分别与第一滑动块和第一固定块进行配合用于对第一滑动块进行止动；第一滑动块的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔；第一支撑座包括立杆、托块和紧固件，所述立杆一端伸入至安装孔内并通过紧固件固定；所述托块位于固定立杆的顶端并与其固定，托块上表面具有弧形卡槽；第二副升降托架12包括第二固定块1201、第二滑动块1202和第二调节件1203，所述第二固定块1201固定安装在检测平台1上，第二固定块1201远离第二升降托架3的一侧设有竖直延伸的燕尾槽；第二滑动块1202与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动，第二滑动块1202的上表面安装有第二支撑座14；第二调节件1203分别与第二滑动块1202和第二固定块1201进行配合用于对第二滑动块1202进行止动；第二滑动块1202的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔；第二支撑座14包括立杆、托块和紧固件，所述立杆一端伸入至安装孔内并通过紧固件固定；所述托块位于固定立杆的顶端并与其固定，托块上表面具有弧形卡槽；第一副升降托架11和第二副升降托架12中固定块与滑动块燕尾槽式滑动配合，承重量大，且结构稳定可靠；第一副升降托架11和第二副升降托架12中支撑座的结构布置，托举稳定可靠，且通过紧固件可以调整立杆在安装孔内的插入深度，从而实现对托块高度的微调。
此外，本发明还包括水平架9下方用于对水平架9进行支撑的立架；所述第一千分表5、第二千分表6分别安装在水平架9上；水平架9和立架相互配合形成对第一千分表5和第二千分表6进行支撑，从而使得二者固定在一起形成整体结构，且在不使用时，可以直接将其从检测平台1上拆除，以便于收放。且本实施例中的立架包括第一支撑柱、第二支撑柱和第三支撑柱，第一支撑柱、第二支撑柱、第三支撑柱呈三角形排列，该结构的设置既能确保结构的稳定，又能在校检过程中，通过分别对三根支撑柱的位置进行移动，实现对第一千分表5和第二千分表6的位置进行微调，以确保第一千分表5和第二千分表6中的测量杆分别与千分尺中的测砧、测微螺杆抵靠。
本发明中还在检测平台1上且位于标准测量块的一侧设置一个用于对千分尺尺架进行固定的固定机构10，外径千分尺在校检过程中，通过固定机构10将其尺架固定在检测平台1上，防止在校检过程其位置发生移动，以进一步确保校检的准确性。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (15)

1.一种双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，包括：检测平台(1)、第一升降托架(2)、第二升降托架(3)、第一副升降托架(11)、第二副升降托架(12)、第一千分表(5)、第二千分表(6)、第三千分表(7)、第四千分表(8)和标准量块(4)，其中：
第一升降托架(2)、第二升降托架(3)相对布置检测平台(1)上；
第一副升降托架(11)位于第一升降托架(2)远离第二升降托架(3)的一侧并安装在检测平台(1)上；
第二副升降托架(12)位于第二升降托架(3)远离第一升降托架(2)的一侧并安装在检测平台(1)上；
第一千分表(5)、第二千分表(6)、第三千分表(7)和第四千分表(8)均分别包括表头和位于表头下方的测量杆；第一千分表(5)、第二千分表(6)均位于第一升降托架(2)、第二升降托架(3)之间，且第一千分表(5)、第二千分表(6)中的测量杆分别垂直于水平面；第三千分表(7)、第四千分表(8)分别位于第一升降托架(2)、第二升降托架(3)之间连线的一侧，且第三千分表(7)、第四千分表(8)中的测量杆分别垂直于第一升降托架(2)、第二升降托架(3)所在的竖直平面；
标准量块(4)位于第一千分表(5)、第二千分表(6)之间。
2.根据权利要求1所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第一升降托架(2)包括第一托架(201)和位于第一托架(201)下方用于推动第一托架(201)进行升降调节的第一调节组件(202)。
3.根据权利要求2所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第一托架(201)具有弧面的弧形片。
4.根据权利要求2所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第一调节组件(202)包括第一套筒和第一螺纹杆，第一套筒竖直布置并可转动安装在检测平台(1)上，第一套筒的内周面设有螺纹槽；第一螺纹杆竖直布置并与第一套筒螺纹连接。
5.根据权利要求4所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第一套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽(13)。
6.根据权利要求1所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第二升降托架(3)包括第二托架(301)和位于第二托架(301)下方用于推动第二托架(301)进行升降调节的第二调节组件(302)。
7.根据权利要求6所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第二托架(301)具有弧面的弧形片。
8.根据权利要求6所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第二调节组件(302)包括第二套筒和第二螺纹杆，第二套筒竖直布置并可转动安装在检测平台(1)上，第二套筒的内周面设有螺纹槽；第二螺纹杆竖直布置并与第二套筒螺纹连接。
9.根据权利要求8所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第二套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽(13)。
10.根据权利要求1所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第一副升降托架(11)包括第一固定块、第一滑动块和第一调节件，所述第一固定块固定安装在检测平台(1)上，第一固定块远离第一升降托架(2)的一侧设有竖直延伸的燕尾槽；第一滑动块与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动，第一滑动块的上表面安装有第一支撑座；第一调节件分别与第一滑动块和第一固定块进行配合用于对第一滑动块进行止动。
11.根据权利要求10所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第一滑动块的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔。
12.根据权利要求10所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第一支撑座包括立杆、托块和紧固件，所述立杆一端伸入至安装孔内并通过紧固件固定；所述托块位于固定立杆的顶端并与其固定，托块上表面具有弧形卡槽。
13.根据权利要求1所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第二副升降托架(12)包括第二固定块(1201)、第二滑动块(1202)和第二调节件(1203)，所述第二固定块(1201)固定安装在检测平台(1)上，第二固定块(1201)远离第二升降托架(3)的一侧设有竖直延伸的燕尾槽；第二滑动块(1202)与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动，第二滑动块(1202)的上表面安装有第二支撑座(14)；第二调节件(1203)分别与第二滑动块(1202)和第二固定块(1201)进行配合用于对第二滑动块(1202)进行止动。
14.根据权利要求13所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第二滑动块(1202)的上表面设有向其下表面方向延伸的安装孔。
15.根据权利要求13所述的双调节外径千分尺校检装置，其特征在于，第二支撑座(14)包括立杆、托块和紧固件，所述立杆一端伸入至安装孔内并通过紧固件固定；所述托块位于固定立杆的顶端并与其固定，托块上表面具有弧形卡槽。
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