CN106052497B - 一种高精度外径千分尺校检装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种高精度外径千分尺校检装置，包括：检测平台、第一升降托架、第二升降托架、标准量块、上母线校准机构和侧母线校准机构，其中：检测平台用于对检测中的千分尺的尺架进行支撑，第一升降托架和第二升降托架分别用于对千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并可进行升降动作；标准量块用于作为校准参照，上母线校准机构用于对千分尺中测砧、测微螺杆的平行度进行校检，确保二者处于同一水平面内；侧母线校准机构用于对校准标准量块进行校检，确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内。本发明通过上母线校准机构和侧母线校准机构相互配合可以快速找到测量面平行度，且测量数据准确可靠。

Description

一种高精度外径千分尺校检装置

技术领域

本发明涉及外径千分尺校检设备技术领域，尤其涉及一种高精度外径千分尺校检装置。

背景技术

外径千分尺(OUTSIDE MICROMETER)常简称为千分尺，主要由固定的尺架、测砧、测微螺杆、固定套管、微分筒、测力装置、锁紧装置等组成，是一种比游标卡尺更精密的长度测量。未来确保外径千分尺测量结果的准确性，需要定期对其进行校检。现有的校检方式都是人工进行校检，人工检验难以找到测量面平行度，检验结果的可靠性差。

发明内容

基于上述背景技术存在的技术问题，本发明提出一种高精度外径千分尺校检装置。

本发明提出了一种高精度外径千分尺校检装置，包括：检测平台、第一升降托架、第二升降托架、标准量块、上母线校准机构和侧母线校准机构，其中：

第一升降托架、第二升降托架相对布置检测平台上；

标准测量块位于第一升降托架、第二升降托架之间；

上母线校准机构包括至少一个第一千分表和至少一个第二千分表，第一千分表、第二千分表均包括表头和测量杆，第一千分表和第二千分表均位于标准测量块的上方并分别布置在标准量块的两端，且第一千分表、第二千分表中的测量杆均分别垂直于水平面；

侧母线校准机构包括至少一个第三千分表和至少一个第四千分表，第三千分表、第四千分表均包括表头和测量杆，第三千分表和第四千分表均位于标准测量块的一侧，且第三千分表、第四千分表中的测量杆分别平行于水平面并与标准量块的侧表面抵靠。

优选地，上母线校准机构还包括水平架和位于水平架下方用于对水平架进行支撑的立架。

优选地，第一千分表、第二千分表分别安装在水平架上。

优选地，立架与水平架连接，立架包括第一支撑柱、第二支撑柱和第三支撑柱，第一支撑柱、第二支撑柱、第三支撑柱呈三角形排列。

优选地，侧母线校准机构还包括第一安装座和第二安装座，第一支撑座和第二支撑座分别位于标准量块的一侧并固定安装在检测平台上。

优选地，第三千分表、第四千分表分别安装在第一支撑座、第二支撑座上。

优选地，检测平台上且位于标准测量块的一侧设有用于对千分尺尺架进行固定的固定机构。

优选地，第一升降托架包括第一托架和位于第一托架下方用于推动第一托架进行升降调节的第一调节组件。

优选地，第二升降托架包括第二托架和位于第二托架下方用于推动第二托架进行升降调节的第二调节组件。

优选地，检测平台上且位于第一升降托架远离第二升降托架的一侧设有可进行升降调节的第一副升降托架。

优选地，检测平台上且位于第二升降托架远离第一升降托架的一侧设有可进行升降调节的第二副升降托架。

本发明中，检测平台用于对检测中的千分尺的尺架进行支撑，第一升降托架和第二升降托架分别用于对千分尺中的测砧、测微螺杆进行托举并可进行升降动作；标准量块用于作为校准参照，上母线校准机构用于对千分尺中测砧、测微螺杆的平行度进行校检，确保二者处于同一水平面内；侧母线校准机构用于对校准标准量块进行校检，确保标准量块与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内。

综上所述，本发明提出的一种高精度外径千分尺校检装置，通过上母线校准机构和侧母线校准机构相互配合可以快速找到测量面平行度，且对测砧、测微螺杆和标准量块的双重校检，使得测量数据准确，可有效减小误差。此外，检测平台对尺架的支撑作用，无需再用人工固定尺架，可有效节省人力并避免人工测量造成的测量误差。

附图说明

图1为本发明提出的一种高精度外径千分尺校检装置的结构示意图；

图2为本发明提出的一种高精度外径千分尺校检装置中所述第一升降托架的结构示意图；

图3为本发明提出的一种高精度外径千分尺校检装置中所述第二升降托架的结构示意图。

具体实施方式

下面，通过具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明。

如图1-3所示，图1为本发明提出的一种高精度外径千分尺校检装置的结构示意图；图2为本发明提出的一种高精度外径千分尺校检装置中所述第一升降托架的结构示意图；图3为本发明提出的一种高精度外径千分尺校检装置中所述第二升降托架的结构示意图。

参照图1-3，本发明实施例提出的一种高精度外径千分尺校检装置，包括：检测平台1、第一升降托架2、第二升降托架3、标准量块4、上母线校准机构、侧母线校准机构，其中：

第一升降托架2、第二升降托架3相对布置检测平台1，第一升降托架2包括第一托架201和位于第一托架201下方用于推动第一托架201进行升降调节的第一调节组件202，第二升降托架3包括第二托架301和位于第二托架301下方用于推动第二托架301进行升降调节的第二调节组件302；标准测量块位于第一升降托架2、第二升降托架3之间；上母线校准机构包括至第一千分表5、第二千分表6，第一千分表5、第二千分表6均包括表头和测量杆，第一千分表5和第二千分表6均位于标准测量块的上方并分别布置在标准量块4的两端，且第一千分表5、第二千分表6中的测量杆均分别垂直于水平面；侧母线校准机构包括第一安装座、第二安装座、第三千分表7和第四千分表8，第一支撑座和第二支撑座分别位于标准量块4的一侧并固定安装在检测平台1上；第三千分表7、第四千分表8均包括表头和测量杆，第三千分表7、第四千分表8分别安装在第一支撑座、第二支撑座上，且第三千分表7、第四千分表8中的测量杆分别平行于水平面并与标准量块4的侧表面抵靠。在对外径千分尺进行校检时，先将外径千分尺的尺架放置在检测平台1上，将外径千分尺的测砧、测微螺杆分别放置在第一升降托架2、第二升降托架3中的第一托架201、第二托架301上；然后通过第一千分表5、第二千分表6分别与第一升降托架2、第二升降托架3配合对测砧、测微螺杆进行校准，通过第三千分表7、第四千分表8对标准量块4进行校准，其具体校准过程如下：

使第一千分表5、第二千分表6中的测量杆的顶端分别与测砧、测微螺杆的上表面抵靠，并观察第一千分表5、第二千分表6读数是否一致，当二者读数不一致时，调整第一升降托架2和/或第二升降托架3中的第一调节组件202、第二调整组件302，使第一托架201和/或第二托架301进行升降动作，以带动测砧和/或测微螺杆升降，从而确保测砧和/或测微螺杆处于同一水平面内；

使第三千分表7、第四千分表8中的测量杆分别与标准量块4的侧表面抵靠，利用第三千分表7、第四千分表8校准，最终使标准量块4与测砧、测微螺杆处于同一竖直平面内；

最后使测砧、测微螺杆的顶端分别与标准量块4的两端抵靠，观察其测量数据与标准量块4的预定数据是否一致，从而判断该外径千分尺测量精度是否处于合格范围内。

本实施例中，上母线校准机构还包括水平架和位于水平架9下方用于对水平架9进行支撑的立架；所述第一千分表5、第二千分表6分别安装在水平架9上；水平架9和立架相互配合形成对第一千分表5和第二千分表6进行支撑，从而使得二者固定在一起形成整体结构，且在不使用时，可以直接将其从检测平台1上拆除，以便于收放。且本实施例中的立架包括第一支撑柱、第二支撑柱和第三支撑柱，第一支撑柱、第二支撑柱、第三支撑柱呈三角形排列，该结构的设置既能确保结构的稳定，又能在校检过程中，通过分别对三根支撑柱的位置进行移动，实现对第一千分表5和第二千分表6的位置进行微调，以确保第一千分表5和第二千分表6中的测量杆分别与千分尺中的测砧、测微螺杆抵靠。

本实施例中，第一调节组件202包括第一套筒和第一螺纹杆，第一套筒竖直布置并可转动安装在检测平台1上，第一套筒的内周面设有螺纹槽；第一螺纹杆竖直布置并与第一套筒螺纹连接；第一托架201安装在第一螺纹杆的顶部，第一托架201的上端面具有弧形放置槽；第二调节组件302包括第二套筒和第二螺纹杆，第二套筒竖直布置并可转动安装在检测平台1上，第二套筒的内周面设有螺纹槽；第二螺纹杆竖直布置并与第二套筒螺纹连接；第二托架301安装在第二螺纹杆的顶部，第二托架301的上端面具有弧形放置槽；在进行升降调节时，通过旋转第一套筒和/或第二套筒，推动第一螺纹杆和/或第二螺纹杆上下升降，从而带动第一托架201和/或第二托架301上下运动。且本实施例中的第一套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽；第二套筒的外表面设有绕其环面环形布置的孔槽，孔槽的设置用于杆件的插入，通过搬动杆件可以轻松的带动第一套筒、第二套筒旋转，省时省力。

此外，本实施例中，检测平台1上且位于标准测量块的一侧设有用于对千分尺尺架进行固定的固定机构10，外径千分尺在校检过程中，通过固定机构10将其尺架固定在检测平台1上，防止在校检过程其位置发生移动，以进一步确保校检的准确性。

本实施例中，检测平台1上且位于第一升降托架2远离第二升降托架3的一侧设有可进行升降调节的第一副升降托架11，检测平台1上且位于第二升降托架3远离第一升降托架2的一侧设有可进行升降调节的第二副升降托架12，第一副升降托架11和第二副升降托架12均包括固定块、滑动块和调节件，所述固定块固定安装在检测平台1上，固定块上设有竖直延伸的燕尾槽；滑动块与燕尾槽配合并沿燕尾槽的延伸方向进行上下滑动，滑动块的上表面安装有支撑架；调节件分别与滑动块和固定块进行配合用于对滑动块进行止动。第一副升降托架11和第二副升降托架12的设置，用于进行辅助升降，其具体作用是：当所需要校检的外径千分尺为大型外径千分尺，其测砧、测微螺杆之间间距大于第一升降托架2和第二升降托架3之间的间距，使得第一升降托架2和第二升降托架3无法对其进行托举升降时，可通过第一副升降托架11和第二副升降托架12完成升降调节动作，以扩大本发明的适用范围。

由上可知，本发明提出的一种高精度外径千分尺校检装置，通过上母线校准机构和侧母线校准机构相互配合可以快速找到测量面平行度，且对测砧、测微螺杆和标准量块的双重校检，使得测量数据准确，可有效减小误差。此外，检测平台1对尺架的支撑作用，无需再用人工固定尺架，可有效节省人力并避免人工测量造成的测量误差。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，包括：检测平台(1)、第一升降托架(2)、第二升降托架(3)、标准量块(4)、上母线校准机构和侧母线校准机构，其中：

第一升降托架(2)、第二升降托架(3)相对布置检测平台(1)上；

标准测量块位于第一升降托架(2)、第二升降托架(3)之间；

上母线校准机构包括至少一个第一千分表(5)和至少一个第二千分表(6)，第一千分表(5)、第二千分表(6)均包括表头和测量杆，第一千分表(5)和第二千分表(6)均位于标准测量块的上方并分别布置在标准量块(4)的两端，且第一千分表(5)、第二千分表(6)中的测量杆均分别垂直于水平面；

侧母线校准机构包括至少一个第三千分表(7)和至少一个第四千分表(8)，第三千分表(7)、第四千分表(8)均包括表头和测量杆，第三千分表(7)和第四千分表(8)均位于标准测量块的一侧，且第三千分表(7)、第四千分表(8)中的测量杆分别平行于水平面并与标准量块(4)的侧表面抵靠。

2.根据权利要求1所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，上母线校准机构还包括水平架和位于水平架(9)下方用于对水平架(9)进行支撑的立架。

3.根据权利要求2所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，第一千分表(5)、第二千分表(6)分别安装在水平架(9)上。

4.根据权利要求2所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，立架与水平架(9)连接，立架包括第一支撑柱、第二支撑柱和第三支撑柱，第一支撑柱、第二支撑柱、第三支撑柱呈三角形排列。

5.根据权利要求1所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，侧母线校准机构还包括第一安装座和第二安装座，第一支撑座和第二支撑座分别位于标准量块(4)的一侧并固定安装在检测平台(1)上。

6.根据权利要求5所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，第三千分表(7)、第四千分表(8)分别安装在第一支撑座、第二支撑座上。

7.根据权利要求1所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，第一升降托架(2)包括第一托架(201)和位于第一托架(201)下方用于推动第一托架(201)进行升降调节的第一调节组件(202)。

8.根据权利要求1所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，第二升降托架(3)包括第二托架(301)和位于第二托架(301)下方用于推动第二托架(301)进行升降调节的第二调节组件(302)。

9.根据权利要求1-8中任一项所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，检测平台(1)上且位于标准测量块的一侧设有用于对千分尺尺架进行固定的固定机构(10)。

10.根据权利要求1-8中任一项所述的高精度外径千分尺校检装置，其特征在于，检测平台(1)上且位于第一升降托架(2)远离第二升降托架(3)的一侧设有可进行升降调节的第一副升降托架(11)；检测平台(1)上且位于第二升降托架(3)远离第一升降托架(2)的一侧设有可进行升降调节的第二副升降托架(12)。