KR100940135B1 - 처리 시스템 및 그 운전 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (12)
- 각각이 기판에 실질적으로 동일한 프로세스를 실시하도록 구성된 복수의 프로세스 모듈과,그 주위에 상기 복수의 프로세스 모듈이 접속됨과 아울러 그 내부에 제 1 반송 기구를 갖는 제 1 반송 모듈을 포함하는 반송 시스템으로서, 복수의 기판을 수납하는 카세트로부터 상기 복수의 프로세스 모듈 중 어느 하나로 각 기판을 반송하도록 구성된 반송 시스템과,상기 반송 시스템 및 상기 복수의 프로세스 모듈의 동작을 제어하는 제어기를 구비한 처리 시스템에 있어서,상기 제어기는, 상기 복수의 프로세스 모듈이 상기 프로세스의 실행을 가능한 상태로 하기 위한 컨디셔닝을 각각 행한 경우에, 상기 복수의 프로세스 모듈 중 먼저 컨디셔닝이 완료되는 프로세스 모듈이 있을 때에는, 상기 카세트로부터 그 컨디셔닝이 완료된 프로세스 모듈로 기판의 반송이 개시되도록 상기 반송 시스템을 제어하고, 상기 컨디셔닝이 완료된 프로세스 모듈로 반송되는 기판에 대해 프로세스가 개시되도록 그 프로세스 모듈을 제어하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 제 1 항에 있어서,상기 제어기는, 2개 이상의 프로세스 모듈의 컨디셔닝이 종료된 후, 컨디셔닝이 완료되어 있는 프로세스 모듈에 대하여 일정한 순서 또한 일정한 주기로 각 프로세스 모듈과 대응하는 반송 경로에 따라 미처리의 기판이 반입되고, 상기 프로세스가 종료된 프로세스 모듈로부터 점차적으로 그것과 대응하는 반송 경로로 처리 완료된 기판이 반출되도록, 상기 반송 시스템 및 상기 복수의 프로세스 모듈을 제어하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 복수의 프로세스 모듈로서, 일련의 복수의 프로세스로 이루어지는 복합 프로세스를 실행 가능한 복수 종류의 프로세스 모듈로 이루어지는 프로세스 모듈의 세트를 복수 세트 설정할 수 있도록, 각 종류의 프로세스 모듈을 복수개씩 포함하는 복수의 프로세스 모듈과,그 주위에 상기 복수의 프로세스 모듈이 접속됨과 아울러 그 내부에 제 1 반송 기구를 갖는 제 1 반송 모듈을 포함하는 반송 시스템으로서, 복수의 기판을 수납하는 카세트로부터 상기 복수의 프로세스 모듈 중 어느 하나로 각 기판을 반송하도록 구성된 반송 시스템과,상기 반송 시스템 및 상기 복수의 프로세스 모듈의 동작을 제어하는 제어기를 구비한 처리 시스템에 있어서,상기 제어기는, 상기 복수의 프로세스 모듈이 각각에 할당된 프로세스의 실행을 가능한 상태로 하기 위한 컨디셔닝을 행한 경우에, 컨디셔닝을 완료시킨 프로세스 모듈 중에서 상기 복합 프로세스의 실행이 가능한 프로세스 모듈의 조합이 성 립할 때마다, 그 조합을 상기 프로세스 모듈의 세트로서 설정하고, 상기 반송 시스템이 상기 카세트로부터 설정된 상기 프로세스 모듈의 세트로의 반송 경로 상에서 기판의 점차적인 반송이 개시되고, 또한, 설정된 프로세스 모듈의 세트에서의 기판에 대한 점차적인 프로세스가 개시되도록, 상기 반송 시스템 및 상기 복수의 프로세스 모듈을 제어하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 제 3 항에 있어서,상기 제어기는, 2 세트 이상의 프로세스 모듈의 세트가 설정된 후, 설정된 각 세트의 프로세스 모듈에 대하여, 일정한 순서 또한 일정한 주기로 각 세트의 프로세스 모듈과 대응하는 반송 경로를 따라 미처리의 기판이 반입되고, 상기 복합 프로세스가 종료된 세트의 프로세스 모듈로부터 점차적으로 그것과 대응하는 반송 경로로 처리 완료된 기판이 반출되도록, 상기 반송 시스템 및 상기 복수의 프로세스 모듈을 제어하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 제 3 항에 있어서,상기 복합 프로세스는 선(先)공정의 제 1 프로세스와 후(後)공정의 제 2 프로세스로 이루어지고,각 세트의 프로세스 모듈은, 상기 제 1 프로세스를 실행하기 위한 제 1 군의 프로세스 모듈 중 어느 하나와, 상기 제 2 프로세스를 실행하기 위한 제 2 군의 프 로세스 모듈 중 어느 하나로 구성되는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 제 3 항에 있어서,상기 제어기는, 상기 제 1 군에 속하는 복수의 제 1 프로세스 모듈의 하나가 상기 제 2 군에 속하는 복수의 제 2 프로세스 모듈의 어느 것보다도 먼저 상기 컨디셔닝을 완료시킨 경우에, 상기 컨디셔닝이 수행되고 있는 상기 제 2 프로세스 모듈이 각각 상기 컨디셔닝을 완료시키기까지의 잔여 시간을 예측하여, 최단의 잔여 시간이 소정의 기준값보다 짧은 경우에, 상기 복합 프로세스의 실행이 가능한 상기 컨디셔닝을 완료한 제 1 프로세스 모듈을 포함하는 프로세스 모듈의 조합이 성립한 것으로 간주하여, 상기 컨디셔닝을 완료한 제 1 프로세스 모듈에 대응하는 반송 경로 상에서의 기판의 반송이 개시되도록 상기 반송 시스템을 제어하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 제 6 항에 있어서,상기 제어기는, 상기 기준값을 상기 컨디셔닝이 완료된 제 1 프로세스 모듈에 반입되어야 할 미처리의 기판이 현재 존재하고 있는 위치로부터 상기 제 1 프로세스 모듈에 반입할 때까지 필요한 제 1 반송 시간과, 상기 기판이 상기 제 1 프로세스를 받기 위해 상기 제 1 프로세스 모듈 내에 체재(滯在)하는 레시피 시간과, 상기 제 1 프로세스 모듈 내의 체재를 끝낸 상기 기판이 상기 제 1 프로세스 모듈 로부터 반출되기까지의 제 2 반송 시간과의 합에 근거하여 결정하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 제 5 항에 있어서,상기 제어기는, 상기 제 1 군의 프로세스 모듈 중에서 상기 컨디셔닝을 최초로 완료시킨 것과 상기 제 2 군의 프로세스 모듈 중에서 상기 컨디셔닝을 최초로 완료시킨 것으로 프로세스 모듈의 제 1 세트을 설정하고, 상기 제 1 군의 프로세스 모듈 중에서 상기 컨디셔닝을 2번째로 완료시킨 것과 상기 제 2 군의 프로세스 모듈 중에서 상기 컨디셔닝을 2번째로 완료시킨 것으로 프로세스 모듈의 제 2 세트를 설정하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 프로세스 모듈이 상기 기판을 유지하고 가열하기 위한 서셉터를 각각 갖고 있으며, 상기 제어기는, 상기 서셉터의 온도가 소정값으로 된 것을 나타내는 신호를 상기 프로세스 모듈로부터 수취했을 때에 컨디셔닝이 완료된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 프로세스 모듈은 각각 감압 하에서 상기 프로세스를 실행하기 위한 진공 챔버를 갖고 있으며,상기 제 1 반송 모듈은, 감압 하에서 기판을 반송하기 위한 진공 반송실을 갖는 진공 반송 모듈이고, 상기 제 1 반송 기구는 상기 진공 반송실 내에 배치되어 있고,상기 처리 시스템은,상기 카세트를 대기압 하에서 지지하는 로드 포트와,상기 로드 포트에 연결됨과 아울러 그 내부에 제 2 반송 기구를 갖는 대기압반송 모듈과,상기 대기압 반송 모듈과 상기 진공 반송 모듈 사이에 마련되고, 이들 대기압 반송 모듈과 상기 진공 반송 모듈 사이에서 반송되는 기판을 그 내부에 일시적으로 유치하기 위해 그 내부를 선택적으로 대기압 상태 또는 감압 상태로 전환할 수 있도록 구성된 적어도 하나의 로드록 모듈을 더 구비하고 있으며,상기 카세트와 상기 프로세스 모듈 간의 상기 반송 경로는 상기 대기압 반송 모듈, 상기 로드록 모듈 및 상기 진공 반송 모듈을 경유하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템.
- 각각이 기판에 실질적으로 동일한 프로세스를 실시하도록 구성된 복수의 프로세스 모듈과, 복수의 기판을 수납하는 카세트로부터 상기 복수의 프로세스 모듈 중 어느 하나로 기판을 반송하는 반송 시스템을 구비한 처리 시스템의 운전 방법으로서,상기 복수의 프로세스 모듈이 상기 프로세스의 실행을 가능한 상태로 하기 위한 컨디셔닝을 각각 행하는 경우에, 상기 복수의 프로세스 모듈 중 먼저 컨디셔닝이 완료되는 프로세스 모듈이 있을 때에는, 상기 카세트로부터 그 컨디셔닝이 완료된 프로세스 모듈로 기판의 반송이 개시되도록 상기 반송 시스템을 제어하고, 상기 컨디셔닝이 완료된 프로세스 모듈로 반송되는 기판에 대해 프로세스가 개시되도록 그 프로세스 모듈을 제어하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템의 운전 방법.
- 복수의 프로세스 모듈로서, 일련의 복수의 프로세스로 이루어지는 복합 프로세스를 실행 가능한 복수 종류의 프로세스 모듈로 이루어지는 프로세스 모듈의 세트를 복수 세트 설정할 수 있도록, 각 종류의 프로세스 모듈을 복수개씩 포함하는 복수의 프로세스 모듈과, 복수의 기판을 수납하는 카세트로부터 상기 복수의 프로세스 모듈로 기판을 반송하는 반송 시스템을 구비한 처리 시스템의 운전 방법으로서,상기 복수의 프로세스 모듈이 각각에 할당된 프로세스의 실행을 가능한 상태로 하기 위한 컨디셔닝을 행한 경우에, 컨디셔닝을 완료시킨 프로세스 모듈 중에서 상기 복합 프로세스의 실행이 가능한 프로세스 모듈의 조합이 성립할 때마다, 그 조합이 상기 프로세스 모듈의 세트로서 설정되고, 상기 반송 시스템이 상기 카세트로부터 설정된 상기 프로세스 모듈의 세트로의 반송 경로 상에서 기판의 점차적인 반송을 개시하고, 또한, 설정된 프로세스 모듈의 세트에서의 기판에 대한 점차적인 프로세스를 개시하는 것을 특징으로 하는 처리 시스템의 운전 방법.
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2005-00293726 | 2005-10-06 | ||
JP2005293726 | 2005-10-06 | ||
JPJP-P-2006-00057592 | 2006-03-03 | ||
JP2006057592A JP4884801B2 (ja) | 2005-10-06 | 2006-03-03 | 処理システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20080015476A KR20080015476A (ko) | 2008-02-19 |
KR100940135B1 true KR100940135B1 (ko) | 2010-02-03 |
Family
ID=37906320
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020077030757A KR100940135B1 (ko) | 2005-10-06 | 2006-10-06 | 처리 시스템 및 그 운전 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8467895B2 (ko) |
JP (1) | JP4884801B2 (ko) |
KR (1) | KR100940135B1 (ko) |
WO (1) | WO2007040278A1 (ko) |
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- 2006-10-06 WO PCT/JP2006/320109 patent/WO2007040278A1/ja active Application Filing
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