KR100879011B1 - 표시장치의 휘점불량 수리방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 표시장치의 휘점불량 수리방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 휘점불량이 있는 색필터에 따라 흡수 스펙트럼이 높은 파장대의 레이저를 선택적으로 사용함으로써 효과적으로 수리가 가능한 표시장치의 휘점불량 수리방법에 관한 것이다.
본 발명은 편광판이 부착된 표시장치의 휘점불량을 수리하는 방법에 있어서, 휘점불량이 있는 색필터가 레드(R)영역인 경우 파장이 400~550nm인 레이저를 조사하는 단계와, 상기 색필터가 그린(G)영역인 경우 파장이 400~480nm 또는 600~750nm인 레이저를 조사하는 단계와, 상기 색필터가 블루(B)영역인 경우 파장이 520~750nm인 레이저를 조사하는 단계 중 적어도 어느 하나 이상의 단계를 포함한다.
표시장치. 휘점불량. 흑화. 레이저. 편광판.

Description

표시장치의 휘점불량 수리방법{Method of repairing flat pannel display}
본 발명은 표시장치의 휘점불량 수리방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 휘점불량이 있는 색필터에 따라 흡수 스펙트럼이 높은 파장대의 레이저를 선택적으로 사용함으로써 효과적으로 수리가 가능한 표시장치의 휘점불량 수리방법에 관한 것이다.
최근에 액정표시장치는 소비전력이 낮고, 휴대성이 양호하여 기술집약적이며 부가가치가 높은 차세대 첨단 디스플레이(display)소자로 각광받고 있다. 이러한 액정표시장치 중에서도, 각 화소(pixel)별로 인가되는 전압을 스위칭할 수 있는 스위칭 소자가 구비된 액티브 매트릭스형 액정표시장치가 해상도 및 동영상 구현능력이 뛰어나 가장 주목받고 있다.
도 1을 참조하면, 액정패널(500)은 상부 기판인 컬러필터 기판(530)과 하부 기판인 TFT(Thin Film Transistor)어레이 기판(510)이 서로 대향 되도록 합착 되고, 그 사이에 유전 이방성을 갖는 액정층(520)이 형성되는 구조로 구비되어, 화소 선택용 어드레스(address)배선을 통해 수십 만개의 화소에 부가된 박막트랜지스터(TFT)를 스위칭 동작시켜 해당 화소에 전압을 인가해 주는 방식으로 구동된다. 여기서, 상기 컬러필터 기판(530)은 글래스(531)와, RGB 등의 색필터(532)와, 상기 색필터(532)들 사이에 형성된 블랙매트릭스(533)와, 오버코트층(534)과, 공통전극용 ITO(535)와, 배향막(536)으로 이루어지며, 상기 글래스의 상부에 편광판(537)이 부착된다.
이러한 액정패널을 제조하기 위해서는 박막트랜지스터 어레이 기판 공정, 컬러필터 기판 공정, 액정셀 공정 등을 수행하여야 한다.
상기 박막트랜지스터 어레이 기판 공정은 증착(deposition) 및 포토리소그래피(photolithography), 식각(etching)공정을 반복하여 유리 기판상에 게이트 배선, 데이터 배선, 박막트랜지스터 및 화소 전극을 형성하는 공정이다.
상기 컬러 필터 기판 공정은 블랙매트릭스가 형성된 글래스상에 일정한 순서로 배열되어 색상을 구현하는 RGB의 색필터를 제작한 후, 공통전극용 ITO막 등을 형성하는 공정이다.
또한, 액정셀 공정은 박막트랜지스터 어레이 기판과 컬러필터 어레이 기판 사이의 일정한 틈이 유지되도록 합착한 후, 그 틈 사이로 액정을 주입하여 액정층을 형성하는 공정이다. 또한 근래에는 박막트랜지스터 어레이 기판에 액정을 균일하게 도포한 후, 컬러필터 기판을 합착하는 ODF(One Drop Filling)공정이 개시되고 있다.
상기 액정표시 장치의 검사 과정에서는, 액정패널의 화면에 테스트 패턴을 띄우고 불량 화소의 유무를 탐지하여 불량 화소가 발견되었을 때 이에 대한 수정 작업을 수행하게 된다. 액정패널의 불량에는 점 결함, 선 결함과 표시 불균일로 나 눌 수 있다. 점 결함은 TFT 소자, 화소전극, 컬러필터 배선의 불량 등에 의해 발생되며, 선 결함은 배선간의 단선(Open), 쇼트(Short), 정전기에 의한 TFT들의 파괴, 구동회로와 접속불량에 기인한다. 표시 불균일은 셀 두께 불균일, 액정배향의 불균일, TFT 특성 장소 산포 및 상대적으로 큰 배선의 시정수에 의해 발생될 수 있다.
이 중, 점 결함 및 선 결함은 일반적으로 배선의 불량이 그 원인으로 종래에는 단선(open)된 배선이 발견되면, 단선된 부분을 연결해 주고, 쇼트(short)의 경우 해당 배선들을 단선시키는 정도에 불과하였다.
이러한 결함 외에도 액정패널을 제조하는 과정에서 먼지, 유기물 또는 금속 등을 포함하는 불순물이 흡착되는데, 이러한 불순물이 컬러필터 부근에 흡착될 경우 해당 픽셀은 패널 구동 시 다른 정상적인 픽셀의 밝기보다 매우 밝은 빛을 내는 이른바 빛샘 현상을 유발한다. 이러한 휘점불량을 수리하기 위하여 레이저를 이용하는 방법에 대한 연구가 진행되고 있다.
일본 공개특허공보 2006-72229에서는 배향막에 레이저를 조사하여 손상을 가하여 액정의 배열특성을 저해시키고, 이로 인하여 액정의 빛에 대한 투과율을 낮추어 빛샘 현상을 제거하는 기술을 개시하고 있다. 그러나 이러한 방법은 배열특성을 완전히 제거할 수 없을 뿐만 아니라, 공정에 많은 시간이 소요되는 문제점이 있다.
이러한 문제점을 해결하기 위하여, 본 출원인은 한국특허출원 10-2006-86569호를 출원한 바 있다. 상기 특허출원은 팸토초 레이저를 이용하여 불량화소를 흑화처리하는 방법을 개시하고 있다.
이와 같이 팸토초 레이저를 이용하면 효율적인 흑화가 가능하지만, 팸토초 레이저를 발진하기 위한 장비가 매우 고가라는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 색필터에 따라 흡수 스펙트럼이 높은 파장대의 레이저를 이용하여 휘점불량을 매우 효과적으로 수리할 수 있는 표시장치의 휘점불량 수리방법을 제공함에 있다.
위와 같은 기술적 과제를 해결하기 위하여 본 발명은 편광판이 부착된 표시장치의 휘점불량을 수리하는 방법에 있어서, 휘점불량이 있는 색필터가 레드(R)영역인 경우 파장이 400~550nm인 레이저를 조사하는 단계와, 상기 색필터가 그린(G)영역인 경우 파장이 400~480nm 또는 600~750nm인 레이저를 조사하는 단계와, 상기 색필터가 블루(B)영역인 경우 파장이 520~750nm인 레이저를 조사하는 단계 중 적어도 어느 하나 이상의 단계를 포함한다.
특히, 상기 레이저의 펄스폭(pulse duration)은 100ns이하이고, 반복주파수는 1Hz ~ 1kHz인 것이 바람직하다.
또한 상기 레이저의 세기를 조절하는 단계가 더 부가되는 것이 바람직하다.
또한 상기 레이저는 상기 색필터 두께의 20% 내지 90%를 흑화처리할 수 있도록 상기 레이저 빔의 세기와 초점 거리를 조절하는 단계가 더 부가되는 것이 바람직하다.
또한 상기 표시장치에 오버코트층이 포함되지 않는 경우에는 상기 레이저의 펄스폭(pulse duration)은 50ns이하이고, 반복주파수는 1Hz ~ 100Hz이며, 레이저의 파워는 10mW이하인 것이 바람직하다.
또한 상기 레이저를 상기 색필터에 스캔 방식으로 조사하거나, 블럭샷 방식 또는 멀티블럭샷 방식으로 조사할 수 있는데, 이 경우에 특히, 상기 레이저를 상기 색필터 및 그에 이웃하는 블랙매트릭스에 조사하는 것이 바람직하다.
또한 상기 레이저는 Ytterbium 레이저, Ti-Sapphire 레이저, Nd:YLF 레이저, Nd:Glass 레이저, Nd:Vanadate(YVO4) 레이저, Nd:YAG 레이저, Fiber 레이저 및 Dye 레이저 중 적어도 어느 하나를 이용하여 생성되는 것이 바람직하다.
본 발명에 따르면, 휘점불량이 있는 색필터에 따라 흡수 스펙트럼이 높은 파장대의 레이저를 선택적으로 사용함으로써 매우 효과적인 수리가 가능하다.
특히, 표시장치에 편광판이 부착된 경우, 편광판의 파장별 투과율을 고려하여 보다 효과적으로 색필터를 흑화할 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
본 발명에 의한 표시장치의 휘점불량 수리방법은 휘점불량이 발견된 화소(색필터 및 그에 이웃하는 블랙매트릭스)에 레이저를 조사하여 흑화시키는 것이다.
레이저가 색필터 등의 유기물 필름에 조사되면 필름을 구성하는 유기물은 분자 간의 결합이 끊어져 중성원자, 분자, 양음 이온을 포함한 플라즈마를 포함하여 라디컬, 클러스터, 전자 및 포톤을 방출하면서 어블레이선(ablation) 되면서 흑화 가 진행된다.
어블레이션(ablation)은 유기물이 그 유기물을 구성하는 분자 간의 결합이 해리되면서 분자, 이온 등으로 되는 현상이지만, 이러한 해리를 위해서는 유기물의 에너지 준위 이상의 에너지를 흡수할 필요가 있다.
이와 같이 흑화된 화소는 광투과율이 저하되어 표시장치의 광원부(백라이트유닛)로부터 발생된 빛을 투과시키지 않고 흡수하도록 암점화함으로써 수리하는 것이다.
따라서 조사되는 레이저는 흑화할 해당 화소의 투과율이 낮은 파장, 다시 말해 흡수율이 높은 파장을 가지는 레이저를 조사하여야 한다.
이러한 파장은 도 2를 참조하여 선택된다. 예를 들어 휘점불량이 있는 색필터가 레드(R)영역인 경우, 레드영역의 흡수율이 높은 파장은 550nm이하인 것을 알 수 있다. 레드(R)영역에 550nm이상의 파장의 레이저를 조사하면 투과율이 높기 때문에 더 많은 에너지가 필요로 하게 되고 이로 인해 오버코트층, ITO 및 배향막 등 색필터의 하부막층에 손상을 주는 위험 요인이 크기 때문에 바람직하지 않다. 만약, 하부막층이 손상되면 손상된 부위로 액정이 올라와 버블이 형성되어 보다 심각한 불량이 발생된다.
한편, 파장이 270nm미만인 레이저는 글라스를 투과하지 못하여 색필터에 전달되지 못하고, 750nm초과인 레이저는 색필터를 투과해서 반응을 일으키지 못하므로 적절하지 못하다.
결론적으로 휘점불량이 있는 색필터가 레드영역인 경우, 파장이 270~550nm인 레이저를 조사하게 되면 하부막층의 손상없이 매우 효과적으로 흑화하여 휘점불량을 수리할 수 있는 것이다.
이와 같이, 휘점불량을 수리하고자 할 때, 휘점불량화소의 투과율이 낮은 파장을 가지는 레이저를 조사하여야 하는데, 레드(R)영역인 경우 상술한 바와 같이, 파장이 270~550nm인 레이저를 조사하고, 그린(G)영역인 경우 파장이 270~480nm 또는 600~750nm인 레이저를 조사하고, 블루(B)영역인 경우 파장이 270~390nm 또는 520~750nm인 레이저를 조사하는 것이다.
도 3은 편광판의 파장에 따른 투과율 그래프를 나타낸 것이다. 도 1과 같이, 컬러필터 기판의 상부면에 편광판이 부착되는데, 휘점불량을 수리하기 위하여 조사되는 레이저는 상기 편광판을 투과해야 하므로, 도 3의 투과율 그래프를 참조하여야 한다.
도시된 바와 같이, 편광판은 가시광영역에서 50% 이하의 투과율을 나타내며 자외선(UV)영역에서는 전혀 투과되지 않고 근적외선 영역으로 갈수록 투과율이 증가하게 됨을 확인할 수 있다. 따라서 편광판이 부착되어 있는 패널의 RGB중 하나를 흑화시키고자 하는 경우에는 400nm파장 이상의 레이저를 사용하는 것이 바람직하다.
따라서 편광판이 부착된 표시장치의 흑화를 효과적으로 하기 위하여는 도 2의 그래프에 의해서 도출되는 파장에서 400nm파장 미만을 제외시켜야 한다. 결과적으로 휘점불량이 있는 색필터가 레드(R)영역인 경우 파장이 400~550nm인 레이저를 조사하고, 상기 색필터가 그린(G)영역인 경우 파장이 400~480nm 또는 600~750nm인 레이저를 조사하고, 상기 색필터가 블루(B)영역인 경우 파장이 520~750nm인 레이저를 조사하는 것이 바람직하다.
도 4a 내지 도 4c는 휘점불량이 있는 화소에 레이저를 조사하는 방식을 나타낸 것이다. 도 4a는 스캔방식을 나타낸 것이고, 도 4b는 블럭샷방식을 나타낸 것이고, 도 4c는 멀티블럭샷방식을 나타낸 것이다.
여기서 스캔방식은 휘점불량화소의 일부면적에 대응되는 빔사이즈(도 4a의 'S' 참조)를 갖는 레이저를 스캐닝하여 화소의 전체 면적에 조사하는 것이고, 블럭샷방식은 휘점불량화소의 전체면적에 대응되는 빔사이즈를 갖는 레이저를 한번에 조사하는 방식이다. 또한 멀티블럭샷방식은 스캔방식과 블럭샷 방식을 결합한 방식으로 블럭샷 방식으로 조사하면서 이와 함께 스캔방식처럼 연속해서 계속 조사하는 방식을 말한다.
어느 경우이든, 레이저 조사영역에는 색필터뿐 아니라 상기 색필터에 이웃하는 블랙매트릭스의 일부영역도 함께 조사하는 것이 바람직하다.
도 5를 참조하면, 색필터가 만족할 정도로 흑화되기 위하여 레이저를 복수회 조사하는 것도 가능하다.
즉, 레이저의 1회 조사시(S1)에는 Z축 이동 스캐너를 사용하여 색필터 두께의 10% 되는 영역에 DOF(Depth of Focus, 레이저빔의 심도)를 일치시킨 후 XY축 이동 스캐너를 사용하여 흑화시킨다. CCD카메라로 흑화 정도를 확인하고 부족한 경우에는 다시 Z축 이동 스캐너의 위치를 이동시켜 색필터 두께의 20% 되는 영역에 DOF를 일치시키고 XY축 이동스캐너를 사용해 2회 조사(S2)한다. 이와 같은 방법으로 2~4회 정도를 반복하면 원하는 수준의 흑화정도를 만족시킬 수 있다.
도 6은 상기의 방법에 따라 초점거리를 이동하면서 흑화처리를 하는 과정을 나타낸 흐름도이다.
도시된 것과 같이 최초 레이저 조사(S10)에서, 흑화를 10% 정도만 진행하고(S20) 흑화정도를 확인한 후(S30), 흑화 정도가 만족한 수준으로 이루어졌는지 여부를 판단하고(S40), 흑화가 원하는 수준으로 이루어진 경우에는 절차를 종료하고(S60) 그렇지 않은 경우에는 초점거리를 이동하고(S50) 다시 레이저를 조사하여 흑화과정을 진행한다.
레이저 빔의 심도는 2㎛를 넘지 않는 범위 내에서 Z축 이동 스캐너와 스캔 렌즈의 초점거리 및 입사빔의 직경에 의해서 계산된다.
DOF = λ/2(NA)2
NA = nsinθ
f/# = 1 / 2(NA)
f/# = efl /φ
상기 수학식 3과 수학식 4를 이용하면 수학식 5를 도출할 수 있다.
NA =φ/2(efl)
상기 수학식들에서 NA(numerical aperture)는 유효 수치구경이고, λ(Lambda)는 레이저의 파장을 나타낸다. efl은 초점거리를 나타낸다.
입사빔의 직경이 클수록 레이저의 파장이 짧을수록 심도는 얕아지게 되고, 렌즈의 초점거리(efl)가 짧을 경우 NA가 커지게 되며 심도(DOF)는 얕아지게 됨을 확인할 수 있다.
흑화처리된 두께는 액정패널의 시야각 범위에서 빛샘 현상이 발생하지 않도록 색필터 두께의 20% 내지 40%가 적당하고 최대 90%를 넘지 않는 두께가 바람직하다. 두께의 20% 미만으로 흑화 처리를 하는 경우는 흑화 자체가 빛샘을 100% 막지 못할 수 있고, 90% 이상의 과도한 흑화는 아래층에 쌓여 있는 막들에 손상을 줄 수 있기 때문이다. 그리고 적절한 두께로 유기물 필름을 흑화시키기 위하여 레이저 에너지가 중요한 역할을 한다. 즉, 레이저의 출력 에너지에 따라 흑화 두께를 조절할 수 있다.
도 7을 참조하면, 원가 및 공정을 단순화하기 위하여 오버코트층이 없는 표시장치가 개시되고 있다.
한편, 오버코트층의 광흡수율은 도 8에 도시된 바와 같다. 도시된 바와 같이 UV이하 영역에서는 거의 투과가 이루어지지 않고, UV영역에서는 80%정도를 흡수하고, 20%정도를 투광시키는 것을 알 수 있다.
이와 같이 오버코트층이 없는 표시장치는 오버코트층이 있는 표시장치의 수 리방법과 차별화해야 한다. 왜냐하면, 휘점불량의 수리를 위해 레이저 조사시 발생되는 에너지를 오버코트층이 흡수하여 완충하는 역할을 해왔기 때문이다. 따라서 오버코트층이 없는 표시장치의 휘점불량 수리의 경우, 색필터를 투과한 에너지가 액정층으로 전달되어 불량을 야기할 수 있는 것이다.
이러한 점에서 에너지가 낮은 레이저를 사용하여 손상을 방지할 수 있을 것이나, 이 경우에는 반응이 일어나지 않는다는 문제점이 있다.
따라서 위와 같은 점을 감안하면, 낮은 에너지를 갖되, 에너지를 가하는 시간이 짧게 하는 조건을 만족해야 한다. 실험 결과, 펄스폭(pulse duration)은 50ns이하이고, 반복주파수는 1Hz ~ 100Hz이며, 레이저의 파워는 10mW이하인 레이저를 사용하여야만 오버코트층이 없는 표시장치의 휘점불량을 수리할 수 있음을 확인할 수 있었다.
도 9는 레이저 빔 프로파일을 도시한 것이다.
발진기에서 발진되는 레이저는 가우시안 형태로 에너지가 가운데 영역에 집중되어 있다. 이러한 레이저 빔이 빔 형성기(beam shaper 또는 homogenizer)를 통과하면서 소정의 범위에서 레이저 빔의 세기가 균일화 되면서 크기가 확장된 플랫 탑(Flat Top)의 프로파일로 변환되는데, 이때, 빔 프로파일과 함께 조사되는 레이저의 면적도 동시에 변화된다. 이때 사각 플랫탑 모양(300) 또는 원형의 플랫 탑 모양(301)으로 변환될 수 있다.
빔 형성기와 빔 조정기를 이용하여 조사되는 레이저 빔의 크기와 세기를 변환할 수 있다. 조사되는 레이저 빔의 면적이 작을수록, 복수의 화소 전체를 흑화처 리하는데 매우 많은 시간이 소요된다. 이러한 레이저 빔의 크기를 균일하게 변환시켜, 흑화처리 속도를 높임으로써, 제품을 양산하는 생산라인에 적용할 수 있다. 적절한 세기의 사각 플랫탑 프로파일(300) 또는 원형 플랫탑(301)로 변환된 레이저는 Z축 이동 스캐너에 의해 액정패널을 구성하는 복수의 유기물 필름 중 RGB 픽셀을 원하는 두께만큼 흑화시킬 수 있다.
본 발명은 이상에서 살펴본 바와 같이 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기한 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.
도 1은 불순물이 포함된 액정패널의 단면도이다.
도 2는 색필터의 파장별 투과율 그래프이다.
도 3은 편광판의 파장별 투과율 그래프이다.
도 4a 내지 도 4c는 레이저 조사방식을 나타낸 것이다.
도 5는 초점거리를 조절하면서 레이저를 조사하는 과정을 나타낸 것이다.
도 6은 흑화처리 과정을 나타낸 흐름도이다.
도 7은 오버코트층이 없는 액정패널의 단면도이다.
도 8은 오버코트층의 광 흡수율 그래프이다.
도 9는 본 발명에 따른 레이저 빔 프로파일(모양)을 나타낸 그래프이다.

Claims (14)

  1. 편광판이 부착된 표시장치의 휘점불량을 수리하는 방법에 있어서,
    휘점불량이 있는 색필터가 레드(R)영역인 경우 파장이 400~550nm인 레이저를 조사하는 단계와,
    상기 색필터가 그린(G)영역인 경우 파장이 400~480nm 또는 600~750nm인 레이저를 조사하는 단계와,
    상기 색필터가 블루(B)영역인 경우 파장이 520~750nm인 레이저를 조사하는 단계 중 적어도 어느 하나 이상의 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 레이저의 펄스폭(pulse duration)은 100ns이하인 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 레이저의 반복주파수는 1Hz ~ 1kHz인 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 레이저의 세기를 조절하는 단계가 더 부가되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 레이저의 프로파일은 플랫 탑 형태인 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 레이저는 상기 색필터 두께의 20% 내지 90%를 흑화처리할 수 있도록 상기 레이저 빔의 세기와 초점 거리를 조절하는 단계가 더 부가되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 표시장치에 오버코트층이 포함되어 있지 않는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 휘점불량 수리방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 레이저의 펄스폭(pulse duration)은 50ns이하인 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 레이저의 반복주파수는 1Hz ~ 100Hz인 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 레이저의 파워는 10mW이하인 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 레이저를 상기 색필터에 스캔 방식으로 조사하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 레이저를 상기 색필터에 블럭샷 방식 또는 멀티블럭샷 방식으로 조사하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  13. 제11항 또는 제12항에 있어서,
    상기 레이저를 상기 색필터 및 그에 이웃하는 블랙매트릭스에 조사하는 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
  14. 제1항에 있어서,
    상기 레이저는 Ytterbium 레이저, Ti-Sapphire 레이저, Nd:YLF 레이저, Nd:Glass 레이저, Nd:Vanadate(YVO4) 레이저, Nd:YAG 레이저, Fiber 레이저 및 Dye 레이저 중 적어도 어느 하나를 이용하여 생성되는 것을 특징으로 하는 표시장치의 휘점불량 수리방법.
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