CN109212791A - 显示面板、显示面板亮点不良的修复方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种显示面板、显示面板亮点不良的修复方法，属于显示面板亮点不良修复技术领域，其可至少部分解决现有的显示面板中修复亮点不良后会产生暗点的问题。本发明的显示面板亮点不良的修复方法适用的显示面板包括多个用于进行显示的像素，每个像素具有设于基底上的彩色滤光膜，其至少部分像素中有亮点不良，所述亮点不良为位于像素部分位置的常亮点；所述方法具体包括：确定亮点不良所在的像素以及亮点不良在像素中的位置；设定修复区，所述修复区为像素中包括亮点不良的区域，且所述像素有部分位置不属于修复区；将修复区中的彩色滤光膜转变为黑色。

Description

显示面板、显示面板亮点不良的修复方法
技术领域
本发明属于显示面板亮点不良修复技术领域，具体涉及一种显示面板、显示面板亮点不良的修复方法。
背景技术
在液晶显示面板的制备过程中不可避免的有微粒(Particle)产生，若这些颗粒落在像素(即实际进行显示的区域)中则会对液晶偏转造成影响，其所在位置可能变成常亮的点，导致亮点不良。
现有技术中，为解决亮点不良，可采用激光等切断相应像素的数据输入，使像素整体成为不进行显示的暗点，由于人眼对暗点敏感度较低，故通常不容易注意到暗点的存在。
但是，暗点毕竟对显示效果有影响，故各种液晶显示面板产品都对暗点数量进行了限制，甚至部分高端产品完全不允许暗点的存在。
发明内容
本发明至少部分解决现有的显示面板中修复亮点不良后会产生暗点的问题，提供一种可避免暗点的显示面板、显示面板亮点不良的修复方法。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板亮点不良的修复方法，所述显示面板包括多个用于进行显示的像素，每个像素具有设于基底上的彩色滤光膜，其至少部分像素中有亮点不良，所述亮点不良为位于像素部分位置的常亮点；所述方法包括：
确定亮点不良所在的像素以及亮点不良在像素中的位置；
设定修复区，所述修复区为像素中包括亮点不良的区域，且所述像素有部分位置不属于修复区；
将修复区中的彩色滤光膜转变为黑色。
优选的是，多个所述像素间隔设置，相邻像素的彩色滤光膜间设有黑矩阵，所述修复区至少一侧与黑矩阵相连；所述将修复区中的彩色滤光膜转变为黑色包括：通过激光使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙，以及通过激光使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化，形成黑矩阵颗粒；黑矩阵颗粒落入所述彩色滤光膜与基底间的间隙中。
进一步优选的是，所述通过激光使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙，以及通过激光使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化包括：先通过激光使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化，再通过激光使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙。
进一步优选的是，所述使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙的激光的参数包括：对红色滤光膜，波长：349nm；能量：1035～1125nJ；运行速率：60～80μm/s；频率：40～60Hz；对绿色滤光膜，波长：349nm；能量：765～855nJ；运行速率：60～80μm/s；频率：40～70Hz；对蓝色滤光膜，波长：349nm；能量：540～810nJ；运行速率：70～90μm/s；频率：50～70Hz；所述使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化的激光的参数包括：波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。
进一步优选的是，在所述通过激光使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙，以及通过激光使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化之前，还包括：通过激光对所述修复区中的彩色滤光膜以及与修复区相连的黑矩阵进行老化处理。
进一步优选的是，所述老化处理的激光的参数包括：波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。
进一步优选的是，在黑矩阵颗粒落入所述彩色滤光膜与基底间的间隙中后，还包括：通过激光使所述间隙中的黑矩阵颗粒均匀扩散。
进一步优选的是，所述使所述间隙中的黑矩阵颗粒均匀扩散的激光的参数包括：波长：349nm；能量：650～675nJ；运行速率：100～150μm/s；频率：40～60Hz。
优选的是，所述将修复区中的彩色滤光膜转变为黑色包括：通过激光对修复区中的彩色滤光膜进行碳化处理。
进一步优选的是，所述碳化处理的激光的参数包括：对红色和绿色滤光膜，波长：446nm；能量：1050～1350nJ；运行速率：60～80μm/s；对蓝色滤光膜，波长：446nm；能量：1350～1590nJ；运行速率：60～80μm/s。
进一步优选的是，在所述通过激光对修复区中的彩色滤光膜进行碳化处理之前，还包括：通过激光对修复区中的彩色滤光膜进行改性处理。
进一步优选的是，所述改性处理的激光的参数包括：波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。
优选的是，所述显示面板为液晶显示面板。
解决本发明技术问题所采用的技术方案是一种显示面板，其经过上述的显示面板亮点不良的修复方法的修复。
本发明的显示面板的修复方法中，将亮点不良所在位置的彩色滤光膜转变为黑色，使亮点不良处的光无法射出，由于人眼对暗的物体不敏感，故通常不会注意到修复的位置；同时，其修复时只将像素中存在亮点不良的部分区域变暗，像素的其它部分仍可正常显示，故修复后不会在显示面板中造成完全的暗点，对显示效果的影响小，对维修点的数量无限制，适用范围更广，且修复效率更高。
附图说明
图1为本发明的实施例的一种显示面板亮点不良的修复方法中修复前的显示面板的俯视结构示意图；
图2为图1中沿AA’的剖面结构示意图；
图3为图2中黑矩阵颗粒化后的结构示意图；
图4为图3中彩色滤光膜形成间隙后的结构示意图；
图5为图4中黑矩阵颗粒均匀扩散后的结构示意图；
图6为图2中彩色滤光膜碳化后的结构示意图；
其中，附图标记为：1、像素；11、修复区；2、彩色滤光膜；21、间隙；22、碳化彩色滤光膜；3、黑矩阵；31、黑矩阵颗粒；8、亮点不良；9、基底。
具体实施方式
为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。
实施例1：
如图1至图5所示，本实施例提供一种显示面板亮点不良8的修复方法，其中显示面板包括多个用于进行显示的像素1，每个像素1具有设于基底9上的彩色滤光膜2，其至少部分像素1中有亮点不良8，亮点不良8为位于像素1部分位置的常亮点。
本实施例的方法用于修复显示面板中的亮点不良8，其适用的显示面板具有多个用于进行显示的像素1，每个像素1处设有相应颜色的彩色滤光膜2。亮点不良8则是指像素1中有部分位置能发光，但不能按所应显示的亮度发光，例如其可能是一直保持一定的亮度，也可能是亮度与应当显示的亮度存在一定偏差，故亮点不良8即为常亮点。而且，以上亮点不良8应仅位于像素1的部分位置，即亮点不良8应小于像素1，像素1中除亮点不良8的位置，其它位置仍可正常显示。
应当理解，各附图中的亮点不良8仅仅是示意性的表示其所在位置，而并不代表亮点不良8的形状是圆形，也不代表亮点不良8处于两个基板之间。
优选的，以上显示面板为液晶显示面板。
亮点不良8通常是由显示面板中的微粒(Particle)造成，而液晶显示面板靠液晶偏转实现显示，颗粒的存在会对液晶偏转造成影响，故液晶显示面最容易产生亮点不良8。当然，如果是其它类型的显示面板中存在亮点不良8，也可采用本实施例的方法进行修复。
以上显示面板的修复方法包括：
S101、确定亮点不良8所在的像素1以及亮点不良8在像素1中的位置。
也就是说，通过检测、显微镜观察等，找到有亮点不良8的像素1，并且确定亮点不良8在像素1中的位置。
S102、设定修复区11，修复区11为像素1中包括亮点不良8的区域，且像素1有部分位置不属于修复区11。
也就是说，在具有亮点不良8的像素1中确定出修复区11，该修复区11要将亮点不良8包括在其中，但不占据整个像素1，即像素1有一部分是不属于修复区11的。
其中，如图1、图2所示，为保证更好的修复效果，该修复区11通常可稍大于亮点不良8，且优选为矩形等规则的形状。
应当理解，本步骤实际只是确定出修复区11以便进行后续步骤，而并不必对显示面板进行实际操作。
S103、将修复区11中的彩色滤光膜2转变为黑色。
也就是说，通过一定的手段将以上修复区11中的彩色滤光膜2转变为黑色，使光无法从修复区11射出，也就是使亮点不良8处的光无法射出，从而完成修复。
本实施例的显示面板的修复方法中，将亮点不良8所在位置的彩色滤光膜2转变为黑色，使亮点不良8处的光无法射出，由于人眼对暗的物体不敏感，故通常不会注意到修复的位置；同时，其修复时只将像素1中存在亮点不良8的部分区域变暗，像素1的其它部分仍可正常显示，故修复后不会在显示面板中造成完全的暗点，对显示效果的影响小，对维修点的数量无限制，适用范围更广，且修复效率更高。
优选的，作为本实施例的一种实施方式，显示面板中多个像素1间隔设置，相邻像素1的彩色滤光膜2间设有黑矩阵3，修复区11至少一侧与黑矩阵3相连。
如图1所示，许多显示面板中的像素1都是间隔设置的，该间隔处不进行显示而用于布置引线等驱动结构，故在间隔处需要设置挡光的黑矩阵3，该黑矩阵3位于相邻像素1的彩色滤光膜2之间，故像素1中的彩色滤光膜2的侧面与黑矩阵3相邻。当然，如图2至图5所示，由于实际工艺等原因，在各像素1之间也可能存在黑矩阵3与彩色滤光膜2叠置的结构，但此时黑矩阵3仍然是位于相邻像素1的彩色滤光膜2之间的。
如图1、图2所示，在此情况下，修复区11必须与黑矩阵3相连，即修复区11必须延伸到像素1的边缘，而不是孤立的处在像素1中部。
在此情况下，本步骤具体包括：
S103-1、优选的，通过激光对修复区11中的彩色滤光膜2以及与修复区11相连的黑矩阵3进行老化处理。
也就是说，用激光照射修复区11中的彩色滤光膜2以及与修复区11相连的黑矩阵3，使它们预热老化，让它们更适于进行后续的步骤。
优选的，以上激光的参数为：波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。更优选的参数为：波长：349nm；能量：350nJ；运行速率：200μm/s；频率：50Hz。
其中，本发明中的激光参数都是特别适用于对像素1的部分区域进行处理的，若是要对像素1整体进行处理，则其采用的激光参数必然与此不同。
S103-2、通过激光使与修复区11相连的黑矩阵3部分颗粒化，形成黑矩阵颗粒31。
如图3所示，用激光照射与修复区11相连的黑矩阵3，破坏其中分子键的作用，使部分黑矩阵3(如靠近基底9的黑矩阵3)转变为黑色的颗粒(黑矩阵颗粒31)。
优选的，以上激光的参数为：波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。更优选的参数为：波长：349nm；能量：350nJ；运行速率：200μm/s；频率：50Hz。
S103-3、通过激光使修复区11中的彩色滤光膜2与基底9间产生间隙21。
如图4所示，用激光照射修复区11中的彩色滤光膜2，使其发生微小的收缩，从而在彩色滤光膜2与基底9之间产生间隙21。
优选的，以上激光的参数为：对红色滤光膜，波长：349nm；能量：1035～1125nJ；运行速率：60～80μm/s；频率：40～60Hz；对绿色滤光膜，波长：349nm；能量：765～855nJ；运行速率：60～80μm/s；频率：40～70Hz；对蓝色滤光膜，波长：349nm；能量：540～810nJ；运行速率：70～90μm/s；频率：50～70Hz。更优选的参数为：对红色滤光膜，波长：349nm；能量：1080nJ；运行速率：70μm/s；频率：53Hz；对绿色滤光膜，波长：349nm；能量：810nJ；运行速率：70μm/s；频率：45Hz；对蓝色滤光膜，波长：349nm；能量770nJ；运行速率：80μm/s；频率：60Hz。
其中，由于不同颜色的彩色滤光膜2对激光的透过率不同，故不同颜色的彩色滤光膜2具有不同的优选激光参数范围。
应当理解，以上使彩色滤光膜2与基底9间产生间隙21的步骤(步骤S103-3)，以及使黑矩阵3部分颗粒化的步骤(步骤S103-2)并无必然的顺序关系，但为了避免产生气泡(Bubble)，其优选采用以上的顺序进行，即先进行颗粒化，再产生间隙21。
S103-4、黑矩阵颗粒31落入彩色滤光膜2与基底9间的间隙21中。
如图4所示，黑矩阵颗粒31与黑矩阵3的其它部分不再相连，故可自由移动而落入以上彩色滤光膜2与基底9间的间隙21中，从而相当于将修复区11的彩色滤光膜2转变为黑色。当然，此时像素1之间仍然保留有未颗粒化的黑矩阵3。
当然，黑矩阵颗粒31的量可根据修复区11的尺寸决定，如果黑矩阵颗粒31不足以填满整个修复区11的间隙21，则可继续使更多的黑矩阵颗粒化。
S103-5、优选的，通过激光使间隙21中的黑矩阵颗粒31均匀扩散。
如图5所示，虽然黑矩阵颗粒31可自行落入以上间隙21中，但其分布不一定均匀，可能不能很好的覆盖整个修复区11，因此，可通过激光照射将间隙21中的黑矩阵颗粒31吹散，使其均匀扩散到间隙21各处。
优选的，以上激光的参数包括：波长：349nm；能量：650～675nJ；运行速率：100～150μm/s；频率：40～60Hz。更优选的参数为：波长：349nm；能量：660nJ；运行速率：120μm/s；频率：50Hz。
实施例2：
如图1、图2、图6所示，本实施例提供一种显示面板亮点不良8的修复方法，其与实施例1的显示面板亮点不良8的修复方法类似。区别在于，本实施例中，将修复区11中的彩色滤光膜2转变为黑色的步骤具体包括：
S203-1、优选的，通过激光对修复区11中的彩色滤光膜2进行改性处理。
也就是说，通过激光照射修复区11中的彩色滤光膜2，改变其分子结构，提高其耐热性，使其适于后续的碳化处理。
优选的，以上激光参数为：波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。更优选的参数为：波长：349nm；能量：350nJ；运行速率：200μm/s；频率：50Hz。
S203-2、通过激光处理对修复区11中的彩色滤光膜2进行碳化处理。
如图6所示，用激光照射修复区11中的彩色滤光膜2，将其直接碳化形成碳化彩色滤光膜22，由于碳是黑色的，故该碳化彩色滤光膜22直接就是黑色，也就相当于将修复区11中的彩色滤光膜2转变为了黑色。
优选的，以上激光参数为：对红色和绿色滤光膜，波长：446nm；能量：1050～1350nJ；运行速率：60～80μm/s；对蓝色滤光膜，波长：446nm；能量：1350～1590nJ；运行速率：60～80μm/s。更优选的参数为：对红色和绿色滤光膜，波长：446nm；能量：1200nJ；运行速率：70μm/s；对蓝色滤光膜，波长：446nm；能量：1500nJ；运行速率：70μm/s。
也就是说，本实施例中不是利用黑矩阵3，而是直接将彩色滤光膜2碳化变黑，从而达到将修复区11中的彩色滤光膜2转变为黑色的目的。因此，本实施例中仅对修复区11中的彩色滤光膜2进行处理即可，而不必对黑矩阵3进行处理。
当然，应当理解，实施例1和实施例2的方法是并不矛盾的，例如，如果需要，也可先将修复区11中的彩色滤光膜2碳化，再使黑矩阵颗粒31进入碳化彩色滤光膜22与基底9间的间隙21中。
当然，如果通过其它方法将修复区11中的彩色滤光膜2转变为黑色，也是可行的。
实施例3：
本实施例提供一种显示面板，该显示面板经过上述的显示面板亮点不良的修复方法的修复。
由此，该显示面板中应当是曾经亮点不良的，且其亮点不良周围部分区域的彩色滤光膜已经过通过黑矩阵颗粒化、碳化等方法被转变为了黑色，完成了修复。
实施例4：
本实施例提供一种显示装置，其包括上述的显示面板。
具体的，该显示装置可为电子纸、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (14)

1.一种显示面板亮点不良的修复方法，所述显示面板包括多个用于进行显示的像素，每个像素具有设于基底上的彩色滤光膜，其至少部分像素中有亮点不良，所述亮点不良为位于像素部分位置的常亮点，其特征在于，所述方法包括：
确定亮点不良所在的像素以及亮点不良在像素中的位置；
设定修复区，所述修复区为像素中包括亮点不良的区域，且所述像素有部分位置不属于修复区；
将修复区中的彩色滤光膜转变为黑色。
2.根据权利要求1所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，多个所述像素间隔设置，相邻像素的彩色滤光膜间设有黑矩阵，所述修复区至少一侧与黑矩阵相连；所述将修复区中的彩色滤光膜转变为黑色包括：
通过激光使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙，以及通过激光使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化，形成黑矩阵颗粒；
黑矩阵颗粒落入所述彩色滤光膜与基底间的间隙中。
3.根据权利要求2所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，所述通过激光使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙，以及通过激光使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化包括：
先通过激光使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化，再激光使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙。
4.根据权利要求2所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，
所述使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙的激光的参数包括：对红色滤光膜，波长：349nm；能量：1035～1125nJ；运行速率：60～80μm/s；频率：40～60Hz；对绿色滤光膜，波长：349nm；能量：765～855nJ；运行速率：60～80μm/s；频率：40～70Hz；对蓝色滤光膜，波长：349nm；能量：540～810nJ；运行速率：70～90μm/s；频率：50～70Hz；
所述使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化的激光的参数包括：波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。
5.根据权利要求2所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，在所述通过激光使修复区中的彩色滤光膜与基底间产生间隙，以及通过激光使与修复区相连的黑矩阵部分颗粒化之前，还包括：
通过激光对所述修复区中的彩色滤光膜以及与修复区相连的黑矩阵进行老化处理。
6.根据权利要求5所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，所述老化处理的激光的参数包括：
波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。
7.根据权利要求2所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，在黑矩阵颗粒落入所述彩色滤光膜与基底间的间隙中后，还包括：
通过激光使所述间隙中的黑矩阵颗粒均匀扩散。
8.根据权利要求7所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，所述使所述间隙中的黑矩阵颗粒均匀扩散的激光的参数包括：
波长：349nm；能量：650～675nJ；运行速率：100～150μm/s；频率：40～60Hz。
9.根据权利要求1所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，所述将修复区中的彩色滤光膜转变为黑色包括：
通过激光对修复区中的彩色滤光膜进行碳化处理。
10.根据权利要求9所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，所述碳化处理的激光的参数包括：
对红色和绿色滤光膜，波长：446nm；能量：1050～1350nJ；运行速率：60～80μm/s；对蓝色滤光膜，波长：446nm；能量：1350～1590nJ；运行速率：60～80μm/s。
11.根据权利要求9所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，在所述通过激光对修复区中的彩色滤光膜进行碳化处理之前，还包括：
通过激光对修复区中的彩色滤光膜进行改性处理。
12.根据权利要求11所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，所述改性处理的激光的参数包括：
波长：349nm；能量：200～400nJ；运行速率：150～300μm/s；频率：40～60Hz。
13.根据权利要求1所述的显示面板亮点不良的修复方法，其特征在于，
所述显示面板为液晶显示面板。
14.一种显示面板，其特征在于，
所述显示面板经过权利要求1至13任意一项所述的显示面板亮点不良的修复方法的修复。
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