KR100606157B1 - 파워 레벨 감지 회로를 가지는 플레시 메모리 - Google Patents
파워 레벨 감지 회로를 가지는 플레시 메모리 Download PDFInfo
- Publication number
- KR100606157B1 KR100606157B1 KR1020040058172A KR20040058172A KR100606157B1 KR 100606157 B1 KR100606157 B1 KR 100606157B1 KR 1020040058172 A KR1020040058172 A KR 1020040058172A KR 20040058172 A KR20040058172 A KR 20040058172A KR 100606157 B1 KR100606157 B1 KR 100606157B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- power supply
- pad
- power
- unit
- disposed
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/30—Power supply circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C5/00—Details of stores covered by group G11C11/00
- G11C5/14—Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
- G11C5/143—Detection of memory cassette insertion or removal; Continuity checks of supply or ground lines; Detection of supply variations, interruptions or levels ; Switching between alternative supplies
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/02—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store with means for avoiding parasitic signals
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C2207/00—Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C2207/10—Aspects relating to interfaces of memory device to external buses
- G11C2207/105—Aspects related to pads, pins or terminals
Abstract
Description
Claims (10)
- 데이터를 저장하기 위한 메모리 셀 어레이부;상기 메모리 셀 어레이부의 제1 주변영역에 배치되고 상기 메모리 셀 어레이부의 동작을 제어하기 위한 주 회로 부; 및상기 메모리 셀 어레이부의 제2 주변영역에 배치되고 다수의 입/출력 패드들, 제1 전원 공급 패드, 제2 전원 공급 패드 및 상기 제1 전원 공급 패드와 상기 제2 전원 공급 패드에 전원 공급 라인으로 연결되어 공급되는 전원전압을 감지하는 파워 레벨 감지 회로를 가지는 파워패드부를 포함하는 플레시 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 주 회로 부가 배치되는 제1 주변영역 및 상기 파워패드부가 배치되는 제2 주변영역은, 상기 메모리 셀 어레이부를 중심으로 서로 다른 주변영역에 배치되는 것을 특징으로 하는 플레시 메모리.
- 제2항에 있어서, 상기 제1 주변영역 및 상기 제2 주변영역은 상기 메모리 셀 어레이부를 중심으로 서로 대향인 것을 특징으로 하는 플레시 메모리.
- 제3항에 있어서, 상기 파워 레벨 감지 회로는, 상기 제1 전원 공급 패드 및 상기 제2 전원 공급 패드 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 플레시 메모리.
- 제3항에 있어서, 상기 제1 전원 공급 패드는 상기 파워 레벨 감지 회로 및 상기 제2 전원 공급 패드사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 플레시 메모리.
- 데이터를 저장하기 위한 메모리 셀 어레이부;상기 메모리 셀 어레이부의 제1 주변영역에 배치되고 상기 메모리 셀 어레이부의 동작을 제어하기 위한 주 회로 부;상기 메모리 셀 어레이부의 제2 주변영역에 배치되고 상기 메모리 셀 어레이부의 입/출력 신호를 송수신하기 위한 입/출력 패드부; 및상기 메모리 셀 어레이부의 제3 주변영역에 배치되고 제1 전원 공급 패드, 제2 전원 공급 패드 및 상기 제1 전원 공급 패드와 상기 제2 전원 공급 패드에 전원 공급 라인으로 연결되어 공급되는 전원전압을 감지하는 파워 레벨 감지 회로를 가지는 파워 패드부를 포함하는 플레시 메모리.
- 제6항에 있어서, 상기 주 회로 부가 배치되는 제1 주변영역 및 상기 파워 패드부가 배치되는 제3 주변영역은 상기 메모리 셀 어레이부를 중심으로 서로 다른 주변영역에 배치되는 것을 특징으로 하는 플레시 메모리.
- 제7항에 있어서, 상기 제1 주변영역 및 상기 제3 주변영역은 상기 메모리 셀 어레이부를 중심으로 서로 대향인 것을 특징으로 하는 플레시 메모리.
- 제8항에 있어서, 상기 파워 레벨 감지 회로는, 상기 제1 전원 공급 패드 및 제2 전원 공급 패드 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 플레시 메모리.
- 제8항에 있어서, 상기 제1 전원 공급 패드는 상기 파워 레벨 감지 회로 및 제2 전원 공급 패드 사이에 배치되는 것을 특징으로 하는 플레시 메모리.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040058172A KR100606157B1 (ko) | 2004-07-26 | 2004-07-26 | 파워 레벨 감지 회로를 가지는 플레시 메모리 |
US11/020,900 US7221590B2 (en) | 2004-07-26 | 2004-12-23 | Flash memory devices having power level detection circuits |
JP2004378129A JP2006041464A (ja) | 2004-07-26 | 2004-12-27 | パワーレベル感知回路を有するフラッシュメモリ |
DE102005035518.8A DE102005035518B4 (de) | 2004-07-26 | 2005-07-26 | Flashspeicherbauelement mit Leistungsversorgungs-Kontaktstelleneinheit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040058172A KR100606157B1 (ko) | 2004-07-26 | 2004-07-26 | 파워 레벨 감지 회로를 가지는 플레시 메모리 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060009546A KR20060009546A (ko) | 2006-02-01 |
KR100606157B1 true KR100606157B1 (ko) | 2006-08-01 |
Family
ID=35656947
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040058172A KR100606157B1 (ko) | 2004-07-26 | 2004-07-26 | 파워 레벨 감지 회로를 가지는 플레시 메모리 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7221590B2 (ko) |
JP (1) | JP2006041464A (ko) |
KR (1) | KR100606157B1 (ko) |
DE (1) | DE102005035518B4 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101274112B1 (ko) * | 2009-09-15 | 2013-06-13 | 한국전자통신연구원 | 영상 부호화 장치 |
US10061378B2 (en) | 2016-07-29 | 2018-08-28 | Sandisk Technologies Llc | System and method for adjusting device performance based on sensed host current sourcing capability |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3212396B2 (ja) * | 1993-01-14 | 2001-09-25 | 富士通株式会社 | 不揮発性半導体記憶装置 |
JPH0729386A (ja) * | 1993-07-13 | 1995-01-31 | Hitachi Ltd | フラッシュメモリ及びマイクロコンピュータ |
JP3434398B2 (ja) * | 1995-11-28 | 2003-08-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置 |
KR980011497A (ko) | 1996-07-06 | 1998-04-30 | 김광호 | 고속동작 불휘발성 반도체 메모리 장치(a high-speed action NAND flash memory apparatus) |
US5930168A (en) * | 1998-03-20 | 1999-07-27 | Micron Technology, Inc. | Flash memory with adjustable write operation timing |
JP3592929B2 (ja) * | 1998-04-21 | 2004-11-24 | 日本電信電話株式会社 | 自己破壊型半導体装置 |
KR100395770B1 (ko) * | 2001-05-23 | 2003-08-21 | 삼성전자주식회사 | 시스템의 부트-업 메모리로서 사용 가능한 불휘발성플래시 메모리 장치 및 그의 동작 방법 |
KR100420125B1 (ko) * | 2002-02-02 | 2004-03-02 | 삼성전자주식회사 | 비휘발성 반도체 메모리 장치와 그것의 파워-업 독출 방법 |
JP4257214B2 (ja) * | 2002-02-28 | 2009-04-22 | 株式会社ルネサステクノロジ | 不揮発性半導体記憶装置 |
JP2004103153A (ja) * | 2002-09-11 | 2004-04-02 | Seiko Epson Corp | 不揮発性半導体記憶装置の電圧発生回路 |
JP4653960B2 (ja) * | 2003-08-07 | 2011-03-16 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | メモリカードおよび不揮発性メモリ混載マイコン |
-
2004
- 2004-07-26 KR KR1020040058172A patent/KR100606157B1/ko active IP Right Grant
- 2004-12-23 US US11/020,900 patent/US7221590B2/en active Active
- 2004-12-27 JP JP2004378129A patent/JP2006041464A/ja active Pending
-
2005
- 2005-07-26 DE DE102005035518.8A patent/DE102005035518B4/de not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060018155A1 (en) | 2006-01-26 |
DE102005035518A1 (de) | 2006-03-23 |
KR20060009546A (ko) | 2006-02-01 |
JP2006041464A (ja) | 2006-02-09 |
DE102005035518B4 (de) | 2015-09-03 |
US7221590B2 (en) | 2007-05-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8482989B2 (en) | Semiconductor device including fuse array and method of operation the same | |
KR101496593B1 (ko) | 라인 종단 방법 및 장치 | |
US8094478B2 (en) | Nonvolatile memory device having a plurality of memory blocks | |
CN101681672B (zh) | 具有本地列选择线的存储器架构 | |
US20070159907A1 (en) | Multi-chip package reducing peak power-up current | |
US20060146590A1 (en) | Semiconductor memory | |
US10438681B2 (en) | Test structures and test pads in scribe lane of semiconductor integrated circuit | |
US6940758B2 (en) | Flash memory device with stable source line regardless of bit line coupling and loading effect | |
KR940022845A (ko) | 반도체 메모리 및 용장 어드레스 기입방법 | |
JP2020102286A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US9064591B2 (en) | Semiconductor device with OTP memory cell | |
US7151710B2 (en) | Semiconductor memory device with data input/output organization in multiples of nine bits | |
KR100490084B1 (ko) | 효율적인 리던던시 구제율을 갖는 반도체 메모리 장치 | |
US11056155B1 (en) | Nonvolatile memory devices, systems and methods with switching charge pump architectures | |
US7848170B2 (en) | Nonvolatile semiconductor memory | |
KR19980071692A (ko) | 반도체 기억 장치 | |
US6426901B2 (en) | Logic consolidated semiconductor memory device having memory circuit and logic circuit integrated in the same chip | |
KR100606157B1 (ko) | 파워 레벨 감지 회로를 가지는 플레시 메모리 | |
US6201727B1 (en) | Nonvolatile ferroelectric random access memory device with segmented plate line scheme and a method for driving a plate line segment therein | |
US11158375B2 (en) | Semiconductor storage device | |
KR20010090564A (ko) | 반도체 메모리 장치 | |
US20050157548A1 (en) | Nonvolatile semiconductor storage device | |
KR100735527B1 (ko) | 2개의 패드 행을 포함하는 반도체 메모리 장치 | |
KR100596821B1 (ko) | 멀티 프로세서 기능을 지원하는 메모리 장치 | |
KR100857743B1 (ko) | 반도체 메모리 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130701 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140630 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150630 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160630 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170630 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180629 Year of fee payment: 13 |