JP4653960B2 - メモリカードおよび不揮発性メモリ混載マイコン - Google Patents
メモリカードおよび不揮発性メモリ混載マイコン Download PDFInfo
- Publication number
- JP4653960B2 JP4653960B2 JP2004080593A JP2004080593A JP4653960B2 JP 4653960 B2 JP4653960 B2 JP 4653960B2 JP 2004080593 A JP2004080593 A JP 2004080593A JP 2004080593 A JP2004080593 A JP 2004080593A JP 4653960 B2 JP4653960 B2 JP 4653960B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage level
- operation mode
- memory
- volatile memory
- microcomputer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/30—Power supply circuits
Description
、この不揮発性メモリとマイコンを混載した不揮発性メモリ混載マイコンに適用して有効な技術に関する。
V)は禁止領域となっている。
マルチメディアカード システム仕様書 バージョン3.3(MultiMediaCard System Specification Version3.3)
.3V系に規格化されているが、現状では3.3V系の電源で動作するものが製品化されている。このような状況の中、マルチメディアカードを使用する携帯機器などでは低消費電力化の傾向があり、それに伴ってマルチメディアカードにおいても、必要に応じて3.3V系から1.8V系に遷移させて動作させることが望まれている。
レータ/レベルシフタなど)を備え、マイコンが、供給される電源電圧レベルを判定する場合、第1電圧レベルに対応する第1検出点の通過判定後、第2電圧レベルに対応する第2検出点の通過有無を判定し、第1電圧レベルであれば変換手段を駆動させずに不揮発性メモリを第1動作モードで動作させ、第2電圧レベルであれば変換手段を駆動させて電圧レベルを変換して不揮発性メモリを第2動作モードで動作させるものである。
、レベルシフタを駆動させずに1.8V系動作モードで動作させることができ、また3.3V系の電圧レベルであれば、レベルシフタを駆動させて電圧レベルを変換することで、3.3V系動作モードで動作させることができる。
、フラッシュメモリ11を1.65V〜1.95Vの動作保証範囲内で動作させる。なお
、この検出点Aを含む1.25V〜1.65Vの範囲において、コントローラ12の制御によりフラッシュメモリ11に対してリード動作を行い、フラッシュメモリ11の動作を確認する。
出点B以下に低下した時(遷移不可能)、図7は検出点Bを通過後に検出点B以下に低下
した時(遷移可能)の説明図を示す。
.3V系から1.8V系に降圧する。そして、マルチメディアカード1内のコントローラ12のコア回路31、フラッシュメモリ11のコア回路を1.8V系でそれぞれ動作させる。これにより、1.8V系から3.3V系の動作モードへ自動的に遷移し、フラッシュメモリ11を3.3V系動作モードで動作させることができる。
)が“1”から“0”に変化した場合でも、マルチメディアカード1はアクティブ状態に遷移する。その際、フラッシュメモリ11のレギュレータ23をOFFにしてフラッシュメモリ11も1.8V系の動作とする。これにより、3.3V系から1.8V系の動作モードへはホスト機器2からのコマンドを受けて遷移可能とすることができる。
24)、コントローラ12aの電圧検出回路(34)を削除し、コントローラ12aのコ
ア回路31aを1.3V系で動作させるように構成した例である。
、この電圧検出回路によりホスト機器2から供給された電源電圧を検出し、1.8V系の電圧レベルであれば、レギュレータ23aを駆動させないことで、メモリアレイ21aとロジック回路22aからなるコア回路を1.8V系動作モードで動作させることができ、また3.3V系の電圧レベルであれば、レギュレータ23aを駆動させて電圧レベルを変換することによって3.3V系動作モードで動作させることができる。
、この電圧検出回路によりホスト機器2から供給された電源電圧を検出し、1.8V系の電圧レベルであれば、レギュレータ35bを駆動させずにコア回路31bを1.8V系動作モードで動作させ、また3.3V系の電圧レベルであれば、レギュレータ35bを駆動させて電圧レベルを変換して3.3V系動作モードで動作させることができる。なお、コントローラ12bのI/O回路32b,33b内のレベルシフタは、1.8V系の電圧であれば駆動させず、3.3V系の電圧であれば駆動させる。
.3V系動作モードへは自動的に遷移し、3.3V系動作モードから1.8V系動作モードへの遷移は不可能としたり、あるいはホスト機器2からのコマンドを受けて遷移可能とすることができる。
2 ホスト機器
11,11a,11b フラッシュメモリ
12,12a,12b コントローラ
21,21a,21b メモリアレイ
22,22a,22b ロジック回路
23,23a レギュレータ
24 I/O回路
31,31a,31b コア回路
32,32a,32b I/O回路
33,33a,33b I/O回路
34 電圧検出回路
35,35a,35b レギュレータ
6 不揮発性メモリ混載マイコン
7 ホスト機器
61 フラッシュメモリ
62 マイコン
71 メモリアレイ
72 ロジック回路
81 コア回路
82 I/O回路
84 電圧検出回路
85 レギュレータ
Claims (7)
- 不揮発性メモリと、前記不揮発性メモリに対する動作を制御する制御手段とを備え、
前記不揮発性メモリ乃至前記制御手段の少なくともどちらか一方に、前記不揮発性メモリの動作に対応して電圧レベルを変換する変換手段を備え、
前記不揮発性メモリを第1電圧レベルで動作させる第1動作モードと、前記不揮発性メモリを前記第1電圧レベルより高い第2電圧レベルで動作させる第2動作モードとを有し、
前記制御手段は、供給される電源電圧レベルを判定する場合、前記第1電圧レベルに対応する第1検出点の通過判定後、前記第2電圧レベルに対応する第2検出点の通過有無を判定し、前記第1電圧レベルであれば前記変換手段を駆動させずに前記不揮発性メモリを前記第1動作モードで動作させ、前記第2電圧レベルであれば前記変換手段を駆動させて電圧レベルを変換して前記不揮発性メモリを前記第2動作モードで動作させるものであり、
前記制御手段は、前記第1動作モードから前記第2動作モードへの遷移は自動的に行い、前記第2動作モードから前記第1動作モードへの遷移は不可能とすることを特徴とするメモリカード。 - 不揮発性メモリと、前記不揮発性メモリに対する動作を制御する制御手段とを備え、
前記不揮発性メモリ乃至前記制御手段の少なくともどちらか一方に、前記不揮発性メモリの動作に対応して電圧レベルを変換する変換手段を備え、
前記不揮発性メモリを第1電圧レベルで動作させる第1動作モードと、前記不揮発性メモリを前記第1電圧レベルより高い第2電圧レベルで動作させる第2動作モードとを有し、
前記制御手段は、供給される電源電圧レベルを判定する場合、前記第1電圧レベルに対応する第1検出点の通過判定後、前記第2電圧レベルに対応する第2検出点の通過有無を判定し、前記第1電圧レベルであれば前記変換手段を駆動させずに前記不揮発性メモリを前記第1動作モードで動作させ、前記第2電圧レベルであれば前記変換手段を駆動させて電圧レベルを変換して前記不揮発性メモリを前記第2動作モードで動作させるものであり、
前記制御手段は、前記第1動作モードから前記第2動作モードへの遷移は自動的に行い、前記第2動作モードから前記第1動作モードへの遷移はホスト機器からの遷移指示を受けて可能とすることを特徴とするメモリカード。 - 請求項1乃至請求項2のいずれかに記載のメモリカードにおいて、
前記制御手段は、前記第1電圧レベルと前記第2電圧レベルのいずれか一方、または両方で動作可能を示す情報を持つことを特徴とするメモリカード。 - 請求項1乃至請求項2のいずれかに記載のメモリカードにおいて、
前記第1電圧レベルは1.8V系であり、前記第2電圧レベルは3.3V系であることを特徴とするメモリカード。 - 不揮発性メモリと、前記不揮発性メモリに対する動作を制御するマイコンとを備え、
前記マイコンに、前記不揮発性メモリの動作に対応して電圧レベルを変換する変換手段を備え、
前記不揮発性メモリを第1電圧レベルで動作させる第1動作モードと、前記不揮発性メモリを前記第1電圧レベルより高い第2電圧レベルで動作させる第2動作モードとを有し、
前記マイコンは、供給される電源電圧レベルを判定する場合、前記第1電圧レベルに対応する第1検出点の通過判定後、前記第2電圧レベルに対応する第2検出点の通過有無を判定し、前記第1電圧レベルであれば前記変換手段を駆動させずに前記不揮発性メモリを前記第1動作モードで動作させ、前記第2電圧レベルであれば前記変換手段を駆動させて電圧レベルを変換して前記不揮発性メモリを前記第2動作モードで動作させるものであり、
前記マイコンは、前記第1動作モードから前記第2動作モードへの遷移、および前記第2動作モードから前記第1動作モードへの遷移は自動的に行うことを特徴とする不揮発性メモリ混載マイコン。 - 請求項5記載の不揮発性メモリ混載マイコンにおいて、
前記マイコンは、前記第1電圧レベルと前記第2電圧レベルのいずれか一方、または両方で動作可能を示す情報を持つことを特徴とする不揮発性メモリ混載マイコン。 - 請求項5記載の不揮発性メモリ混載マイコンにおいて、
前記第1電圧レベルは1.8V系であり、前記第2電圧レベルは3.3V系であることを特徴とする不揮発性メモリ混載マイコン。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004080593A JP4653960B2 (ja) | 2003-08-07 | 2004-03-19 | メモリカードおよび不揮発性メモリ混載マイコン |
TW093118806A TW200508981A (en) | 2003-08-07 | 2004-06-28 | Memory card and non-volatile memory consolidated microprocessor |
US10/891,297 US6982919B2 (en) | 2003-08-07 | 2004-07-15 | Memory card and data processing system |
CN200410054926.5A CN1581357A (zh) | 2003-08-07 | 2004-07-21 | 存储卡和数据处理系统 |
KR1020040059146A KR20050016024A (ko) | 2003-08-07 | 2004-07-28 | 메모리 카드 및 불휘발성 메모리 혼재 마이크로 컴퓨터 |
US11/271,957 US7161834B2 (en) | 2003-08-07 | 2005-11-14 | Memory card and data processing system |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003288407 | 2003-08-07 | ||
JP2004080593A JP4653960B2 (ja) | 2003-08-07 | 2004-03-19 | メモリカードおよび不揮発性メモリ混載マイコン |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005071325A JP2005071325A (ja) | 2005-03-17 |
JP4653960B2 true JP4653960B2 (ja) | 2011-03-16 |
Family
ID=34197136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004080593A Expired - Fee Related JP4653960B2 (ja) | 2003-08-07 | 2004-03-19 | メモリカードおよび不揮発性メモリ混載マイコン |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6982919B2 (ja) |
JP (1) | JP4653960B2 (ja) |
KR (1) | KR20050016024A (ja) |
CN (1) | CN1581357A (ja) |
TW (1) | TW200508981A (ja) |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100884235B1 (ko) * | 2003-12-31 | 2009-02-17 | 삼성전자주식회사 | 불휘발성 메모리 카드 |
KR100606157B1 (ko) * | 2004-07-26 | 2006-08-01 | 삼성전자주식회사 | 파워 레벨 감지 회로를 가지는 플레시 메모리 |
US7864615B2 (en) * | 2005-02-25 | 2011-01-04 | Kingston Technology Corporation | Flash memory controller utilizing multiple voltages and a method of use |
WO2006117966A1 (ja) * | 2005-04-27 | 2006-11-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | カード型電子装置及びホスト装置 |
TWI319160B (en) * | 2005-07-11 | 2010-01-01 | Via Tech Inc | Memory card capable of supporting various voltage supply and control chip and method of supporting voltage thereof |
KR100703885B1 (ko) | 2005-07-18 | 2007-04-06 | 삼성전자주식회사 | 외부 공급 전압으로부터 적응적으로 내부 전압을 발생하는장치 및 그 방법 |
TW200723289A (en) * | 2005-12-09 | 2007-06-16 | A Data Technology Co Ltd | Non-volatile memory storage device and controller thereof |
US7702935B2 (en) * | 2006-01-25 | 2010-04-20 | Apple Inc. | Reporting flash memory operating voltages |
US20070174641A1 (en) * | 2006-01-25 | 2007-07-26 | Cornwell Michael J | Adjusting power supplies for data storage devices |
US7861122B2 (en) * | 2006-01-27 | 2010-12-28 | Apple Inc. | Monitoring health of non-volatile memory |
KR101177555B1 (ko) * | 2006-02-01 | 2012-08-27 | 삼성전자주식회사 | 메모리 카드, 메모리 카드의 데이터 구동 방법, 그리고메모리 카드 시스템 |
TWI301276B (en) * | 2006-06-16 | 2008-09-21 | A Data Technology Co Ltd | Non-volatile storage apparatus and method for controlling the same |
US7516293B2 (en) * | 2006-09-08 | 2009-04-07 | International Business Machines Corporation | Increased performance using mixed memory types |
JP4851962B2 (ja) * | 2007-02-28 | 2012-01-11 | 株式会社東芝 | メモリシステム |
US7913032B1 (en) | 2007-04-25 | 2011-03-22 | Apple Inc. | Initiating memory wear leveling |
US20080288712A1 (en) | 2007-04-25 | 2008-11-20 | Cornwell Michael J | Accessing metadata with an external host |
JP2009053970A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Toshiba Corp | 半導体装置 |
EP2249227B1 (en) * | 2008-02-29 | 2015-05-27 | Panasonic Corporation | Interface device for host device, interface device for slave device, host device, slave device, communication system and interace voltage switching method |
JP5106219B2 (ja) * | 2008-03-19 | 2012-12-26 | 株式会社東芝 | メモリデバイス、ホストデバイス、メモリシステム、メモリデバイスの制御方法、ホストデバイスの制御方法、およびメモリシステムの制御方法 |
US20100262979A1 (en) * | 2009-04-08 | 2010-10-14 | Google Inc. | Circular command queues for communication between a host and a data storage device |
US20100287217A1 (en) * | 2009-04-08 | 2010-11-11 | Google Inc. | Host control of background garbage collection in a data storage device |
US8566507B2 (en) * | 2009-04-08 | 2013-10-22 | Google Inc. | Data storage device capable of recognizing and controlling multiple types of memory chips |
US8433845B2 (en) * | 2009-04-08 | 2013-04-30 | Google Inc. | Data storage device which serializes memory device ready/busy signals |
JP5789759B2 (ja) * | 2010-03-16 | 2015-10-07 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 情報処理装置、不揮発性記憶装置、情報処理システム及び不揮発性メモリコントローラ |
US20130227197A1 (en) * | 2012-02-29 | 2013-08-29 | Sandisk Technologies Inc. | Multiple pre-driver logic for io high speed interfaces |
CN103869885A (zh) * | 2012-12-18 | 2014-06-18 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 扩展卡及支持所述扩展卡的主板 |
CN104035827A (zh) * | 2013-03-08 | 2014-09-10 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 电子装置 |
US9042172B2 (en) * | 2013-05-02 | 2015-05-26 | Windbond Electronics Corporation | Flash memory having dual supply operation |
US9483096B2 (en) * | 2013-12-06 | 2016-11-01 | Sandisk Technologies Llc | Host interface of a memory device supplied with regulated or non-regulated power based on operating mode of the memory device |
TWI529721B (zh) * | 2014-05-06 | 2016-04-11 | 群聯電子股份有限公司 | 記憶體儲存裝置、記憶體控制電路單元及電源供應方法 |
JP6413077B2 (ja) * | 2014-10-10 | 2018-10-31 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | ホスト装置、スレーブ装置、インターフェイス半導体装置及びリムーバブルシステム |
JP6620313B2 (ja) * | 2016-01-06 | 2019-12-18 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | ホスト装置、スレーブ装置及びリムーバブルシステム |
US9817601B1 (en) * | 2016-07-07 | 2017-11-14 | Nxp Usa, Inc. | Method and apparatus for determining feasibility of memory operating condition change using different back bias voltages |
US10061378B2 (en) * | 2016-07-29 | 2018-08-28 | Sandisk Technologies Llc | System and method for adjusting device performance based on sensed host current sourcing capability |
CN109284808A (zh) * | 2018-09-13 | 2019-01-29 | 深圳市江波龙电子股份有限公司 | 一种多媒体存储卡以及移动电子设备 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06333103A (ja) * | 1993-03-23 | 1994-12-02 | Seiko Epson Corp | Icカード |
JP2000250665A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路及びメモリカード |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US202383A (en) * | 1878-04-16 | Improvement in riding corn-cultivators | ||
JP3222243B2 (ja) * | 1993-01-25 | 2001-10-22 | 株式会社日立製作所 | 半導体記憶装置とそれを用いた情報処理システム |
JPH09231339A (ja) | 1996-02-27 | 1997-09-05 | Mitsubishi Electric Corp | メモリカード |
US5909449A (en) * | 1997-09-08 | 1999-06-01 | Invox Technology | Multibit-per-cell non-volatile memory with error detection and correction |
JP4229482B2 (ja) * | 1997-10-24 | 2009-02-25 | 株式会社ルネサステクノロジ | フラッシュメモリ内蔵マイクロコンピュータ |
JP4082913B2 (ja) * | 2002-02-07 | 2008-04-30 | 株式会社ルネサステクノロジ | メモリシステム |
TW595786U (en) * | 2003-06-11 | 2004-06-21 | C One Technology Corp | Micro electronic card with a plurality of different communication interfaces |
-
2004
- 2004-03-19 JP JP2004080593A patent/JP4653960B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2004-06-28 TW TW093118806A patent/TW200508981A/zh not_active IP Right Cessation
- 2004-07-15 US US10/891,297 patent/US6982919B2/en active Active
- 2004-07-21 CN CN200410054926.5A patent/CN1581357A/zh active Pending
- 2004-07-28 KR KR1020040059146A patent/KR20050016024A/ko not_active Application Discontinuation
-
2005
- 2005-11-14 US US11/271,957 patent/US7161834B2/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06333103A (ja) * | 1993-03-23 | 1994-12-02 | Seiko Epson Corp | Icカード |
JP2000250665A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Hitachi Ltd | 半導体集積回路及びメモリカード |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20050016024A (ko) | 2005-02-21 |
US20050041509A1 (en) | 2005-02-24 |
TW200508981A (en) | 2005-03-01 |
US7161834B2 (en) | 2007-01-09 |
TWI336052B (ja) | 2011-01-11 |
CN1581357A (zh) | 2005-02-16 |
US20060062052A1 (en) | 2006-03-23 |
JP2005071325A (ja) | 2005-03-17 |
US6982919B2 (en) | 2006-01-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4653960B2 (ja) | メモリカードおよび不揮発性メモリ混載マイコン | |
US10460775B2 (en) | Asynchronous/synchronous interface | |
US7092308B2 (en) | Portable data storage apparatus | |
JP4734243B2 (ja) | 多段階電圧の記憶システム用のバイパスを有する電圧調整器 | |
US7366019B2 (en) | Nonvolatile memory | |
JP4488800B2 (ja) | 半導体集積回路装置 | |
KR101780421B1 (ko) | 비휘발성 메모리 장치, 그것의 워드라인 전압 발생 방법, 프로그램 방법 및 읽기 방법, 그리고 그것을 포함하는 메모리 시스템 및 전자 장치 | |
EP1513070B1 (en) | System having insertable and removable storage and a control method thereof | |
JP2010518544A (ja) | 多数の外部電力供給部を有する不揮発性半導体メモリ | |
US6798709B2 (en) | Memory device having dual power ports and memory system including the same | |
US8493795B2 (en) | Voltage stabilization device and semiconductor device including the same, and voltage generation method | |
US20080046640A1 (en) | Memory system with reduced standby current | |
KR100746246B1 (ko) | 전원 선택 스위치를 가지는 메모리 카드 및 그것의 동작방법 | |
JP5141005B2 (ja) | 半導体メモリ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070312 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20091222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100209 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100408 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20100528 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101124 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4653960 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131224 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |