KR100459353B1 - 다이아몬드 및 원석의 검시 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (55)
- 다이아몬드 또는 원석(14)을 확산 방사(diffused radiation)에 의해 조사하는 확산 조사수단(36 또는 102,106);다이아몬드 또는 원석(14)을 직사 방사(direct radiation)에 의해 조사하는 직사 조사수단(38 또는 104);확산 방사 또는 직사 방사에 의해 조사될 때 다이아몬드 또는 원석의 이미지를 형성하는 검시수단(28,22,30,32 또는 28,50); 및상기 이미지를 나타내는 디스플레이 수단(40 또는 156);으로 구성된 다이아몬드 또는 원석(14)의 검시장치에 있어서,상기 검시장치는 다이아몬드 또는 원석의 표면 상에 형성된 마크를 검시하도록 되어 있으며, 검시수단(28,22,30,32 또는 28,50)은 확산 방사에 의해서 조사될 때 상기 표면의 적어도 일부분에 대한 일차 이미지(first image)를, 그리고 직사 방사에 의해 조사될 때 상기 표면으로부터의 직접 반사에 의해 마크가 형성된 상기 표면의 적어도 일부분에 대한 이차 이미지(second image)를 형성하도록 되어 있고, 디스플레이 수단(40 또는 156)은 상기 일차 및 이차 이미지를 나타내도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 또는 원석(14)을 검시하는 검시장치.
- 제1 항에 있어서,상기 장치의 모든 구성요소는 단일 하우징(50) 내에 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,검시수단(28,22,30,32 또는 28,50)은 역반사에 의해 직접 반사를 일으키도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 조사 수단으로부터 상기 검시될 다이아몬드 또는 원석의 표면까지 직접 조사하는 빔 스플리터(beam splitter)(16)를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 확산 조사수단은 조사 경로가 적어도 부분적으로 겹쳐지도록 각도를 이루는 적어도 두 가지의 조사원(irradation sources)(102,106)을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 확산 조사수단이 켜지면 상기 직사 조사수단이 꺼지고, 상기 직사 조사수단이 켜지면 상기 확산 조사수단이 꺼지도록 설치되는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,직접 반사에 의해 이미지를 형성하는 조사수단은 대체로 중앙에 위치하는 단일의 구멍(38)에 의해 형성된 불투명 스크린(34)을 포함하고 있으며, 상기 스크린(34)은 다이아몬드 또는 원석(14)이 상기 표면에 대체로 직각을 이루는 상기 구멍(38)을 통해 조사되도록 사용 중 조사경로 내에 위치되는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,직접 반사에 의해 이미지를 형성하는 조사수단은 자체의 대체로 중앙인 위치 양쪽에서 스크린에 위치하는 2개의 구멍이 형성된 불투명 스크린을 포함하고 있으며, 이에 따라 상기 표면은 상기 표면에 대해 직각을 이루는 각도와 실질적으로 동일한 각도를 가지나 상기 표면에 대해 직각을 이루는 것으로 보이는 광선에 의해 실질적으로 반대방향에서 조사될 수 있도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,직접 반사에 의해 이미지를 형성하는 조사수단은 중앙에서 벗어난 단일 구멍이 형성된 불투명 스크린을 포함하고 있으며, 이에 따라 상기 표면은 상기 표면에 직각을 이루는 각도로 광선이 조사될 수 있도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제7 항에 있어서,불투명 스크린은 자체의 대체로 중앙인 위치 양쪽에서 스크린에 위치하는 2개의 구멍이 더 형성되어 있으며, 이에 따라 상기 표면은 상기 표면에 대해 직각을 이루는 각도와 실질적으로 동일한 각도를 가지나 상기 표면에 대해 직각을 이루는 것으로 보이는 광선에 의해 실질적으로 반대방향에서 조사될 수 있도록 되어 있어, 이에 의해 다이아몬드 또는 원석은 중앙의 구멍 또는 대체로 중앙인 위치 양쪽의 상기 2개의 구멍 또는 대체로 중앙인 위치 양쪽의 상기 2개의 구멍 중 어느 한 쪽 구멍을 이용하여 조사될 수 있도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,직접 반사에 의해 이미지를 형성하는 조사수단은 다수의 구멍이 형성된 불투명 스크린을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 확산 조사수단(36) 및 상기 직사 조사수단(38) 내에는 단일 조사원(12)이 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 다이아몬드 또는 원석이 검시되는 배율값을 변경하는 수단(22 또는 50)을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제13 항에 있어서,상기 배율값 변경수단(22)은 다수의 배율렌즈(24a,24b)를 가지는 회전 바퀴(26)를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제13 항에 있어서,상기 배율값 변경수단은 전자 줌 카메라를 구비한 고정 배율 시스템을 포함하고 있는 줌 배율 시스템을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제13 항에 있어서,상기 배율값 변경수단(50)은 다수의 렌즈(52)와 각 광선 경로 내로 상기 렌즈를 횡이동시키는 수단을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제13 항에 있어서,상기 배율값 변경수단은 상기 확산 조사수단 및 직사 조사수단에 연결되어 배율이 미리 결정된 값으로 변경되면 상기 각 조사 수단이 작동되도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제17 항에 있어서,상기 일차 이미지는 일차 배율값에서 형성되고, 상기 이차 이미지는 이차의 서로 다른 배율값에서 형성되는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제18 항에 있어서,상기 일차 배율값은 이차 배율값보다 낮은 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 다이아몬드 또는 원석(14)이 위치되는 이동식 검시대(10)를 포함하고 있으며, 상기 검시대(10)의 움직임에 의해 조사 경로에 대한 상기 다이아몬드 또는 원석(14)의 위치가 조정될 수 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 검시할 다이아몬드 또는 원석(14)이 표면 상에 또는 위에 놓여지는 투명창을 적어도 일부분이 포함하고 있는 검시대(10)를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제21 항에 있어서,상기 투명창(10)의 적어도 하부에 항반사 물질이 코팅된 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제20 항에 있어서,상기 검시대(10)는 사용시 기울여지고 움직일 수 있도록 짐발(gimbal)에 의해 장착되는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제20 항에 있어서,상기 검시대(10)는 검시 축을 중심으로 하는 상기 다이아몬드 또는 원석의 방위가 조정될 수 있도록 회전판을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 다이아몬드 또는 원석(14)을 고정하는 수단을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 조사 수단은 하나 또는 그 이상의 백색 발광 다이오드(white light emitting diodes)(12 또는 102, 104, 106)를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 검시 수단은 카메라(18)를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,상기 디스플레이 수단 또는 디스플레이 스크린은 비디오 모니터(40 또는 156)를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 투시장치.
- 제28 항에 있어서,상기 비디오 모니터(156)는 박판 LCD 디스플레이 모니터인 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제2 항에 있어서,상기 하우징(150)은 바닥(152)과 상기 바닥(152)에 부착된 커버(154)를 포함하며, 디스플레이 수단 또는 디스플레이 스크린(156)은 상기 커버(154) 상에 또는 안에 장착되는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제2 항에 있어서,상기 디스플레이 수단 또는 디스플레이 스크린(156)은 상기 하우징(150)에 피벗식으로 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제2 항에 있어서,상기 하우징(150)을 지지하는 면에 대해 상기 하우징(150)이 회전 가능하도록 하우징(150)의 바닥 면에 턴테이블(turntable)을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,볼 수 없는 마크의 이미지를 형성할 수 있고, 디스플레이 수단 또는 디스플레이 스크린 위에 상기 마크를 디스플레이할 수 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제1 항 또는 제2 항에 있어서,다이아몬드 또는 원석의 재질을 제거함으로써 다이아몬드 또는 원석의 표면 상에 형성되며 실질적으로 어두운 부분이 발생되지 않은 마크의 이미지를 형성할 수 있으며, 상기 마크를 디스플레이 수단 또는 디스플레이 스크린에 의해 디스플레이할 수 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 확산방사에 의해 또는 직사방사에 의해 다이아몬드 또는 원석을 조사하는 단계와 확산방사에 의해 또는 직사방사에 의해 조사될 때 다이아몬드 또는 원석의 이미지를 형성하는 단계를 포함하고 있는 다이아몬드 또는 원석(14)의 검시 방법에 있어서,다이아몬드 또는 원석(14)의 표면 상에 형성된 마크를 검시하도록 되어 있으며, 상기 다이아몬드 또는 원석 표면의 적어도 일부분을 확산 방사에 의해 조사하는 단계; 상기 다이아몬드 또는 원석 표면의 적어도 일부분을 직사 방사에 의해 조사하는 단계; 확산 방사에 의해서 조사될 때 상기 표면의 적어도 일부분에 대한 일차 이미지를, 그리고 직사 방사에 의해 조사될 때 상기 표면으로부터의 직접 반사에 의해 마크가 형성된 상기 표면의 적어도 일부분에 대한 이차 이미지를 형성하는 단계; 및 일차 이미지 및 마크를 포함하고 있는 이차 이미지를 나타내는 단계;를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 또는 원석(4)의 검시방법.
- 다이아몬드 또는 원석(14)의 표면 상에 형성된 마크는 마크의 이미지를 형성하도록 청구항 3의 검시장치를 사용하고 디스플레이 스크린(156) 상에 마크를 디스플레이하여 검시되는 것을 특징으로 하는 다이아몬드 또는 원석(14)의 검시 방법.
- 제35 항에 있어서,상기 일차 이미지는 일차 배율값으로 형성되며, 상기 이차 이미지는 일차 배율과는 상이한 이차 배율값으로 형성되는 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 제37 항에 있어서,상기 일차 배율값은 상기 이차 배율값보다 낮은 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 다이아몬드 또는 원석(14)을 조사하는 조사수단(36,38 또는 102,104,106);조사될 때 다이아몬드 또는 원석의 이미지를 형성하는 검시수단(28,22,30,32 또는 28,50);상기 이미지를 나타내는 디스플레이 스크린(156); 및조사수단(36,38 또는 102,104,106), 검시수단(28,22,30,32 또는 28,50) 그리고 디스플레이 스크린(156)이 내부에 장착되어 있는 하우징(150);으로 구성된 다이아몬드 또는 원석(14)을 검시하는 검시장치에 있어서,상기 검시장치는 다이아몬드 또는 원석의 표면 상에 형성된 마크를 검시하도록 되어 있으며, 검시수단(28,22,30,32 또는 28,50)은 상기 표면으로부터의 직접 반사에 의해 상기 표면의 적어도 일부분에 대한 확대 이미지를 형성하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제39 항에 있어서,검시 수단(28,22,30,32 또는 28,50)은 역반사에 의해 직접 반사를 형성하도록 되어 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제39 항 또는 제40 항에 있어서,상기 다이아몬드 또는 원석이 검시되는 배율값을 변경하는 수단(22 또는 50)을 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제41 항에 있어서,상기 배율값 변경 수단은 전자 줌 카메라를 포함한 고정 배율 시스템을 포함하는 줌 배율 시스템으로 구성되는 것을 특징으로 하는 검시장치.
- 제35 항, 제36 항 또는 제38 항 중 어느 한 항에 있어서,다이아몬드 또는 원석(14)의 표면이 확산 방사에 의해 조사될 때 다이아몬드 또는 원석(14)의 적어도 한 쪽 면의 실질적으로 전체가 디스플레이되는 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 제35 항 내지 제38 항 중 어느 한 항에 있어서,마크가 이미지화될 수 있도록 조사 경로에 대해 다이아몬드 또는 원석(14)의 위치를 조정하고, 마크를 포함하는 면 부분을 디스플레이하는 단계를 포함하고 있는 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 제44 항에 있어서,다이아몬드 또는 원석의 위치는 역반사를 얻기 위해 조정되는 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 제44 항에 있어서,다이아몬드 또는 원석(14)은 이동식 검시대(10)에 위치되며, 조사 경로에 대한 다이아몬드 또는 원석(14)의 위치는 검시대(10)를 이동시킴으로써 조정되는 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 제35 내지 제38 항 중 어느 한 항에 있어서,상기 원석(14)은 다이아몬드 원석인 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 제35 내지 제38 항 중 어느 한 항에 있어서,마크는 육안으로는 보이지 않으며, 직접 반사에 의해 이미지가 형성될 때 디스플레이 수단 또는 디스플레이 스크린 상에 디스플레이되는 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 제35 내지 제38 항 중 어느 한 항에 있어서,마크는 다이아몬드 또는 원석의 재질을 제거함으로써 다이아몬드 또는 원석의 재질을 제거함으로써 다이아몬드 또는 원석의 표면 상에 형성되고 실질적으로 어두운 부분이 발생되지 않으며, 이미지가 직접 반사에 의해 형성될 때 마크는 디스플레이 수단 또는 디스플레이 스크린 상에 디스플레이되는 것을 특징으로 하는 검시방법.
- 제35 내지 제38 항 중 어느 한 항에 있어서,청구항 2의 장치를 사용하여 수행되는 것을 특징으로 하는 검시방법.
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