KR100441538B1 - 화상 스캐닝 장치의 에러 판별방법 - Google Patents

화상 스캐닝 장치의 에러 판별방법 Download PDF

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Abstract

램프에서 출력된 광을 이용하여 원고의 화상 데이터를 스캐닝하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법에 있어서, 램프 광량의 초기 기준값들을 구해서 메모리에 저장시키는 세팅단계와; 시스템 사용중 램프 광량을 측정하고, 초기 기준값들과 비교할 측정값을 구해서 메모리에 저장시키는 저장단계와; 저장된 초기 기준값과 측정값의 크기를 비교하여 램프의 에러의 이상유무를 점검할 것인지 광 경로상의 오염유무를 점검할 것인지 판단하는 비교/판단하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법이 개시된다.

Description

화상 스캐닝 장치의 에러 판별방법{Error detecting method for Laser scanning device}
본 발명은 화상 스캐닝 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 광원의 교체시기 또는 광경로상의 오염여부를 판별하여 알려주기 위한 화상 스캐닝 장치의 에러 검출방법에 관한 것이다.
일반적으로, 화상 스캐닝 장치에는 복사기, 팩시밀리, 복사기 및 팩시밀리 기능을 가진 복합기 등이 있다. 이러한 화상 스캐닝 장치의 일예가 도 1에 도시되어 있다.
도 1은 미국 공개특허 USP 5,978,614 호에 개시된 화상 스캐닝장치를 나타낸 구성도이고, 도 2는 도 1에 도시된 화상 스캐닝장치를 이용하여 램프의 광량을 측정하여 그 교체시기를 알려주기 위한 방법을 나타내 보인 흐름도이다.
도 1을 참조하면, 화상 스캐닝장치는 원고를 낱장씩 스캐닝판(10)에 놓고 스캐닝하도록 마련된 스캐닝테이블 유닛(11)과, 복수의 원고를 자동으로 연속해서 스캐닝할 수 있도록 복수의 원고를 자동으로 공급하기 위한 용지공급유닛(12)을 가진다. 또한, 제1 및 제2스캐닝유닛(13,14)은 소정 이송수단에 의해 시스템 준비상태에서의 대기위치(P1)와, 화이트판넬(15)을 스캐닝하기 위한 화이트 판넬위치(P2)와, 원고를 스캐닝하기 시작하는 제1 및 제2스캐닝위치(P3,P4) 각각을 기준으로 구동된다.
도 2를 참조하면, 상기 구성에서 스캐닝테이블 유닛(11)을 이용하여 스캐닝동작을 수행하는 소위 FBS(Flat Bed Scanner)의 경우, 제어부에서는 사용자의 키조작에 의해 시작키가 눌려졌는지를 판단한다(S10). 시작키가 눌려졌다면 제1캐리지(13)는 제2스캐닝위치(P4)로 이동된다(S11). 이어서, 제1캐리지(13)가 종료위치(P5)로 이동되는 동안 원고(11)를 스캐닝하고, 스캐닝된 원고 데이터는 메모리에 저장된다(S12). 계속해서, 제1캐리지(13)는 화이트 판넬위치(P2)로 이동된다(S13). 이 상태에서, 화이트판넬(15)은 CCD 센서(17)에 의해 스캐닝된다(S14).
그리고, 제어부에서는 스캐닝된 화이트판넬(15)의 화이트화소가 소정 기준치의 90% 이상인지를 판단한다(S15). 상기 단계(S15)에서 화이트화소가 90% 이상일 경우, 광원(16)은 정상적인 것으로서, 이 경우에는 상기 단계(S12)에서 저장된 테이터를 보정하여 인쇄용지에 프린트를 하게 된다(S16). 그런 다음 제1캐리지(13)는 대기위치(P1)로 이동된다(S17).
한편, 상기 단계(S15)에서 화이트화소가 소정 기준치의 90% 이상이 안될 경우, 광원(16)은 비정상적인 것으로 간주된다. 따라서, 이 경우에는, 제어부에서는 메모리에 저장된 이미지 데이터를 삭제한다(S18). 그리고, 소정 디스플레이부를 통해 램프의 교환 메세지를 표시한다(S19). 따라서, 사용자는 램프의 교환 메세지를 확인한 후 램프를 새것으로 교환하여 정상적인 스캐닝이 이루어질 수 있도록 한다.
또한, 상기 용지공급유닛(12)을 이용하여 스캐닝동작을 수행하는 소위ADF(Automatic Document Feeder)의 경우, 상기 FBS의 경우와 유사한 동작을 한다. 다만, ADF의 경우, 화이트판넬(15)을 먼저 스캐닝하고, 원고를 스캔한 후, 화이트화소를 비교/판단한다. 일반적으로, 화이트판넬(15)이 FBS의 원고 스캔 위치와 ADF의 원고 스캔위치 사이에 있기 때문이다.
한편, 상기와 같은 종래의 화상 스캐닝장치는, 화이트판넬을 스캐닝한 화이트 화소값이 90% 미만이면 램프의 광량이 적당하지 못한 것으로 판단하고 있다. 그러나, 실질적으로, 화이트판넬이나 반사경과 같이 광경로상의 오염일 경우에도, 화이트 화소값이 90% 미만으로 판단될 수 있다.
따라서, 만일 오염으로 인하여 광량을 충분히 받지 못한 상태에서, 램프 교체 메세지를 표시한다면, 사용자는 추가 비용 부담이 발생하게 된다. 그리고, 램프를 교체하더라도 충분한 광량을 얻을 수 없게 된다.
또한, 램프의 광량이 소정량 이상 떨어지더라도, 증폭기의 성능이 이를 보상할 수 있다면, 화상의 에러를 보정할 수 있으므로, 단지 램프의 광량만 비교 판단하는 것으로는 스캐닝장치의 에러를 정확히 검출하기 힘들다는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 창안된 것으로, 램프의 교체시기와 광경로상의 오염을 구별하여 알려줄 수 있도록 개선된 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 일반적인 화상 스캐닝장치를 나타내 보인 개략적인 단면도.
도 2는 종래의 화상 스캐닝장치의 램프 교환시기 점검방법을 설명하기 위한 흐름도.
도 3은 일반적인 화상 스캐닝장치의 블록도.
도 4는 일반적인 스캐닝 유닛을 나타내 보인 구성도.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법을 설명하기 위한 흐름도.
도 6은 도 5의 시스템 세팅모드를 설명하기 위한 흐름도.
도 7은 램프의 교체시기일 경우 측정되는 광량의 크기를 나타내 보인 그래프.
도 8은 도 5의 광량 비교/판단모드를 설명하기 위한 흐름도.
도 9는 광경로상의 오염발생시 측정되는 광량의 크기를 나타내 보인 그래프.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 >
21..광원 22,25a..반사경
26..화이트판넬 31..CCD 센서
34..메모리 36..제어부
37..키입력부 38..표시부
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 화상 스캐닝 정치의 에러 판별방법은, 램프에서 출력된 광을 이용하여 원고의 화상 데이터를 스캐닝하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법에 있어서, 상기 램프 광량의 초기 기준값들을 구해서 메모리에 저장시키는 세팅단계와; 시스템 사용중 상기 램프 광량을 측정하고, 상기 초기 기준값들과 비교할 측정값을 구해서 상기 메모리에 저장시키는 저장단계와; 상기 저장된 초기 기준값과 상기 측정값의 크기를 비교하여 상기 램프의 에러의 이상유무를 점검할 것인지 광 경로상의 오염유무를 점검할 것인지 판단하는 비교/판단하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 세팅단계는, 화이트판넬을 스캐닝하여 화이트값 광량을 추출하는 단계; 추출된 화이트값 광량으로부터 소정 기준값(R) 및 평균값(A)을 계산하는 단계와; 결정된 기준값(R) 및 평균값(A)을 상기 메모리에 저장하는 단계와; 상기 화이트값을 n개 화소구간으로 구분하는 단계; 및 구분된 각 화소구간별 광량 평균값(B1∼Bn)을 계산하여 메모리에 저장하는 단계;를 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 저장단계는, 화이트판넬을 스캐닝하여 화이트값 광량을 추출하는 단계와; 추출된 화이트값 광량으로부터 광량 평균값(a)과 최소값(m)을 구하는 단계와; 구해진 평균값(a)과 최소값(m)을 상기 메모리에 저장시키는 단계와; 상기 화이트값을 n개 화소구간으로 구분하는 단계; 및 구분된 n개의 각 구간화소별 광량 평균값(b1∼bn)을 계산하여 메모리에 저장하는 단계;를 포함하는 것이 좋다.
또한, 상기 비교/판단단계에서 상기 초기 기준값과 상기 측정값의 차이가 소정 기준치 이상일 경우 상기 램프의 이상유무를 점검하는 제1점검단계를 더 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1점검단계는, 상기 n개의 화소구간중 최소값(m)이 속한 구간을 검색하는 단계와; 상기 검색된 구간이 1번째 구간 또는 n번째 구간인지를 판단하는 단계와; 상기 검색된 구간이 1번째 또는 n번째 구간일 경우, 상기 최소값(m)이 상기 기준값(R)보다 작은지를 비교판단하는 단계; 및 상기 최소값(m)이 기준값(R)보다 작은 경우, 램프 교체메세지를 표시하는 단계;를 포함하는 것이 바람직하다.
또한, 상기 검색된 구간이 1번째 또는 n번째 구간이 아닌 경우, 또는 상기 최소값(m)이 기준값(R)보다 작은 경우 상기 광 경로상의 오염을 점검하는 제2점검단계를 더 포함하는 것이 좋다.
또한, 상기 램프 교체메세지를 표시한 이후, 상기 광 경로상의 오염을 점검하는 제2점검단계를 더 포함하는 것이 좋다.
또한, 상기 제2점검단계는, 상기 초기의 구간별 광량 평균값(B1∼Bn)과 추출된 구간별 광량 평균값(b1∼bn)을 각 구간별로 비교하는 단계와; 상기 비교단계에서 소정 기준치 이상 차이나는 구간이 있는지를 판단하는 단계와; 상기 각 화소구간별로 소정 기준치 이상 차이나는 구간이 존재할 경우, 광경로 상의 오염메세지를 표시하는 단계;를 포함하는 것이 좋다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 화상 스캐닝 장치의 에러 검출방법 자세히 설명하기로 한다.
도 3에는 본 발명을 설명하기 위한 화상 스캐닝장치의 블록도가 도시되어 있다. 도시된 스캐닝장치는, 스캐닝유닛(20)을 이용하여 스캐닝한 신호를 입력받는 CCD 센서(31)와, 상기 CCD 센서(31)를 통해 읽은 신호를 소폭 증폭하는 증폭기(32)와, 증폭된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 A/D 변환기(33)와, 디지털 신호로 변환된 이미지를 메모리(34)에 저장시키고 이미지 프로세서(35)에 의해 데이터를 편집하거나 출력할 수 있도록 제어하는 제어부(36)와, 사용자가 조작할 수 있는 키입력부(37)와 표시부(38)를 가지는 작동판넬(39)을 가진다.
여기서, 상기 제어부(36)는 제어프로그램에 따라 스캐닝유닛(20)을 구동제어하여 원고를 읽는 동작을 전반적으로 제어한다. 이 제어부(36)에 의해 도 4에 도시된 램프(21)와 반사경(22) 등으로 이루어진 제1캐리지(23) 및 반사경들(25a)로 이루어진 제2캐리지(25)가 이동하며, 램프(21)의 구동을 제어하여 원고(24)를 스캐닝한다.
상기 메모리(34)는 램 혹은 이이피롬 등을 포함하며, 프로그램 수행중 발생되는 각종 데이터, 각종 기준정보 등을 저장한다.
상기 키 입력부(37)에는 각종 장치조작을 위한 숫자 키와 기능키가 마련되며, 시스템 제어에 필요한 데이터를 생성하여 제어부(36)로 보낸다.
상기 표시부(38)는 LCD 와 같은 표시장치로서 제어부(36)의 제어를 받아 구동시키면서, 소정 메세지를 디스플레이한다.
도 4에서 도면번호 26은 화이트판넬이며, 27은 콘덴싱 렌즈이다. 이와 같이 도 4에 도시된 스캐닝유닛(20)은 광 경로를 이루는 제1 및 제2캐리지(23)(25)가 이동되면서 화상을 스캐닝하는 소위 광로이동 방식 축소형 광학계의 대표적인 일례이다.
본 발명은 상기와 같은 구성의 화상 스캐닝장치의 구동시 상기 램프(21)의교체시기 또는 상기 광경로상의 오염여부를 검출하여 표시하기 위한 방법에 관한 것이다.
도 5를 참조하여 설명하면, 먼저 스캐닝장치의 전체 시스템에 대한 세팅을 하게 된다(S20). 이 단계(S20)는 제품 출하직전 또는 서비스맨의 모드에서 각종 데이터의 초기값을 부품교체 및 서비스를 받았을 경우에 키조작 등을 통해 설정하게 된다. 특히, 본 실시예에서는 상기 램프(21)의 초기 기준값들을 구해서 메모리(34)에 저장하게 된다. 여기서 상기 단계(S20)의 구체적 실시예는 후술하기로 한다.
상기와 같이 시스템이 세팅된 상태에서, 사용자가 장치를 사용하기 위해 전원을 온 시키면(S21), 제어프로그램에 의해 각종 데이터가 초기화되고 스캔 동작을 하기 위한 준비를 한다(S22).
그럼 다음, 램프(21)의 광량을 측정하여 그 램프(21)가 정상인지 또는 화이트판넬(26)을 포함한 광경로상의 오염여부에 대해 선택적으로 비교/판단한다(S23).
상기 단계(S23)에서는 비교/판단된 결과에 따라 부품을 교체하거나, 수리 및 청소 등의 후속조치를 취하게 되며, 이로 인해 정상적인 스캐닝동작을 수행할 수 있다. 한편, 상기 단계(S23)에 대한 자세한 설명은 후술하기로 한다.
상기 단계(S23) 이후, 제어부(36)에서는 키입력 등을 통해 동작명력이 입력되었는지를 판단하고(S24), 키입력에 따른 동작을 수행한다(S25). 즉, 제어부(36)는 스캐닝유닛(20)을 구동시켜 스캔동작을 수행하거나, 또는 이미지 프로세서(35)를 구동시켜 프린트, 카피와 같은 동작을 수행하게 된다.
상기 단계(S25) 이후, 시스템은 대기상태를 유지하게 된다. 이 때,제어부(36)에서는 상기단계(S23) 이후부터 대기모드동안 카운트된 카운팅시간(Tc)이 소정 기준시간(Ts) 예건대 24시간을 경과했는지를 비교/판단한다(S26). 상기 단계(S26)에서 카운팅시간(Tc)이 기준시간(Ts)을 초과한 경우에는 상기 단계(S23)를 다시 반복수행하고, 그렇지 안은 경우에는 키입력이 이루어질 때까지 대기상태를 유지하게 된다.
한편, 상기 시스템 세팅모드(S20)를 도 6을 참조하여 자세히 설명하면 다음과 같다.
세팅모드(S20)는 제품의 출하직전 또는 서비스맨에 의한 부품 교환 및 서비스종료 후에 이루어진다. 도 6을 참조하면, 세팅모드(S20)시, 먼저 제어부(36)는 스캐닝유닛(20)을 구동제어하여 화이트판넬(26)을 스캐닝하고(S31), 화이트값 광량을 추출한다(S32). 스캐닝되어 추출된 화이트값 광량은 도 7에 도시된 바와 같이, 유효화소별로 소정 전압으로 CCD 센서(31)에 의해 측정된다. 이와 같이 추출된 화이트값의 광량으로부터 제어부(36)는 소정 기준값(R)을 결정한다. 이 기준값(R)은 광량의 정상여부를 판단하는 기준이 되는 값으로서 램프(21)의 종류와 증폭기(32) 등의 성능을 고려하여 프로그래머블하게 결정된다.
이어서, 결정된 기준값(R)은 메모리(34)에 저장된다(S34). 또한, 추출된 화이트값 광량을 가지고 제어부(36)에서는 광량의 평균값(A)을 계산한다(S35). 여기서 상기 평균값(A)은 화이트판넬(26)의 전체 유효화소의 면적에 대한 광량의 평균을 구한 값이다. 구해진 평균값(A)은 메모리(34)에 저장된다(S36).
또한, 제어부(36)는 추출된 화이트값을 n개 구간으로 구분한다(S37). 이어서, 제어부(36)는 구분된 각 화소구간별 평균값(B1∼Bn)을 계산한다(S38). 계산된 평균값들(B1∼Bn)은 메모리(34)에 저장되어 세팅된다(S39).
이상에서 설명한 바와 같이, 램프(21) 광량에 대한 초기 기준값들 즉, 기준값(R), 평균값(A) 및 평균값(B1∼Bn)을 구해서 메모리(34)에 저장하고 나면, 제품의 초기 세팅단계(S20)는 마무리된다.
상기와 같이 초기 기준값들이 세팅된 상태에서, 제품이 출하되어 사용자가 구입하여 사용하게 된다. 이 때, 시스템에 전원이 온 되면 상기와 같이 출하 전에 세팅된 초기 기준값들이 메모리에 기억된 상태로 초기화되는 것이다.
상기 상태에서, 광량 비교/판단모드(S23)가 진행된다. 상기 모드(S23)는 도 8을 참조하여 설명하기로 한다.
상기 모드(S23)에서는 먼저 램프(21)의 광량을 다시 추출하여 세팅된 초기 기준값들과 비교할 각종 측정값들을 구하기 위해 화이트판넬(26)을 스캐닝한다(S41). CCD 센서(31)에서는 스캐닝된 화이트판넬(26)의 화이트값 광량을 추출한다(S42).
제어부(36)는 추출된 화이트값 광량으로부터 광량의 평균값(a)과 최소값(m)을 계산한다. 그리고, 추출된 화이트값을 n개의 구간으로 구분하고, 구분된 각 화소별 광량 평균값(b1∼bn)을 계산한다(S43). 계산된 상기 측정값들 즉, 평균값(a)과 최소값(m) 및 평균값(b1∼bn) 각각을 메모리(34)에 저장시킨다(S44).
이어서, 제어부(36)는 초기에 메모리(34)에 세팅되어 저장된 평균값(A)과 추출된 평균값(a)을 비교한다(S45). 그리고, 제어부(36)는 비교된 평균값들(A)(a)이약 10% 이상 차이가 나는지를 판단한다(S46).
상기 단계(S46)에서 광량이 10% 이상 차이가 나면, 제어부(36)는 램프(21)의 이상유무를 점검하는 제1점검단계(S50)를 수행하게 된다. 제1점검단계(S50)에서는 먼저, 제어부(36)는 저장된 최소값(m)이 어느 구간에 속하는지 검색한다(S47). 검색결과 광량이 최소값(m)인 구간이 1구간 또는 n구간인지를 판단한다(S48).
여기서, 도 7에 도시된 바와 같이, 측정된 광량(L2)의 최소값(m)이 1구간 또는 n구간일 경우, 최소값(m)과 세팅된 광량(L1)의 기준값(R)을 비교한다(S49).
그런 다음, 제어부(36)는 최소값(m)이 기준값(R)보다 작은지를 판단한다(S51). 상기 단계(S51)에서 최소값(m)이 도 7에 도시된 바와 같이, 기준값(R)보다 작을 경우 제어부(36)는 램프(21)의 광량이 미달되는 것으로 판단하여 표시부(38)로 램프교체 메세지를 표시한다(S52). 즉, 최소값(m)이 기준값(R)보다 작은 경우는, 램프(21)의 흑화현상으로 양단에서 발생되는 광량이 부족하게되고, 이러한 램프(21)를 사용시에는 화상에 심하게 왜곡이 발생하게 된다. 따라서, 사용자는 상기 표시부(38)에 표시되는 램프교체 메세지를 확인하여, 직접 또는 서비스맨을 통해 램프를 새것으로 교체할 수 있게 된다.
한편, 상기 단계(S46)에서 비교된 평균값(A)(a)의 차이가 10% 이상 차이나지 않을 경우에는, 화이트판넬(26)과 반사경(22,25a)을 포함하는 광경로상의 오염여부를 점검하는 제2점검단계(S56)를 수행하게 된다.
상기 단계(S56)에서는 먼저, 초기 세팅된 각 구간별 평균값(B1∼Bn)과 측정된 각 구간별 평균값(b1∼bn)을 각 구간별로 비교한다(S53). 그리고, 비교된 각 구간별 편균값이 소정 기준치, 예를 들어 10% 이상 차이나는 구간이 존재하는지 판단한다(S54). 상기 단계(S54)에서 도 9에 도시된 바와 같이 10% 이상 차이나는 평균값(b7)을 가지는 구간(7번째 구간)이 있는 경우, 제어부(36)는 표시부(38)를 구동시켜 광경로상의 오염을 경고하는 메세지를 표시한다(S55). 즉, 도9에 도시된 바와 같이, 1번째 또는 n번째가 아닌 7번째 구간에서 10% 이상 평균값이 차이나는 경우에는, 그 7번째 구간에 대응되는 화이트판넬(26)의 소정 위치 또는 반사경(22,25a)이 오염되었음을 알 수 있다. 따라서, 표시부(38)에는 예컨대 "화이트판넬, 반사경 오염!!" 이라는 메세지가 표시된다. 사용자는, 이러한 에러 경고 메세지를 확인하고, 직접 오염된 부위를 점검하여 청소하거나, 서비스맨의 도움으로 청소를 할 수 있다.
한편, 상기 단계(S54)에서 10% 이상 차이나는 구간이 없을 경우에는, 램프(21)와 광경로를 포함한 부분이 정상이므로 제어부(36)는 다음 단계 즉, 키입력을 기다리는 대기모드상태를 유지하게 된다.
또한, 상기 단계(S48)에서 최소값(m)이 속한 구간이 1구간 또는 n구간이 아니라고 판단될 경우에도 상기 제2점검단계(S56)를 수행하여 광령로상의 오염여부를 점검한다.
또한, 상기 램프 교체 메세지를 표시한 다음(S52), 상기 제2점검단계(S56)를 더 수행하여 광경로상의 오염여부를 추가로 점검하게 된다. 즉, 램프(21)의 교체시기와 광경로상의 오염이 동시에 발생할 수 있기 때문이다. 따라서, 램프(21)의 교체시와 광경로상의 오염여부를 동시에 점검하여 각각의 에러에 대해 적절히 대처할수 있게 된다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 발명의 화상 스캐닝 장치의 에러 검출방법에 따르면, 세팅된 초기 기준값과 측정된 측정값을 비교하여 먼저 램프의 교체시기를 점검할 것인지 광경로상의 오염여부를 점검할 것인지를 판단하게 된다.
따라서, 종래와는 달리 램프의 교체시기가 되었는지 또는 광경로상의 오염이 발생했는지를 구분하여 선택적으로 또는 둘 다 점검할 수 있게 되어, 정확한 에러를 발견하고 표시할 수 있다.
또한, 표시된 에러메세지를 통해 사용자는 램프를 교환하거나, 또는 오염된 곳을 청소함으로써, 종래와 같이 사용가능한 램프를 미리 교체하거나 하는 실수를 하지 않게 되어 비용을 줄이고, 장치를 보다 편리하게 관리할 수 있다는 장점이 있다.

Claims (10)

  1. 램프에서 출력된 광을 이용하여 원고의 화상 데이터를 스캐닝하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법에 있어서,
    상기 램프 광량의 초기 기준값들을 구해서 메모리에 저장시키는 세팅단계와;
    시스템 사용중 상기 램프 광량을 측정하고, 상기 초기 기준값들과 비교할 측정값을 구해서 상기 메모리에 저장시키는 저장단계와;
    상기 저장된 초기 기준값과 상기 측정값의 크기를 비교하여 상기 램프의 에러의 이상유무를 점검할 것인지 광 경로상의 오염유무를 점검할 것인지 판단하는 비교/판단하는 단계;를 포함하며,
    상기 세팅단계는,
    화이트판넬을 스캐닝하여 화이트값 광량을 추출하는 단계;
    추출된 화이트값 광량으로부터 소정 기준값(R) 및 평균값(A)을 계산하는 단계와;
    결정된 기준값(R) 및 평균값(A)을 상기 메모리에 저장하는 단계와;
    상기 화이트값을 n개 화소구간으로 구분하는 단계; 및
    구분된 각 화소구간별 광량 평균값(B1∼Bn)을 계산하여 메모리에 저장하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서, 상기 저장단계는,
    화이트판넬을 스캐닝하여 화이트값 광량을 추출하는 단계와;
    추출된 화이트값 광량으로부터 광량 평균값(a)과 최소값(m)을 구하는 단계와;
    구해진 평균값(a)과 최소값(m)을 상기 메모리에 저장시키는 단계와;
    상기 화이트값을 n개 화소구간으로 구분하는 단계; 및
    구분된 n개의 각 구간화소별 광량 평균값(b1∼bn)을 계산하여 메모리에 저장하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 비교/판단단계에서 상기 초기 기준값과 상기 측정값의 차이가 소정 기준치 이상일 경우 상기 램프의 이상유무를 점검하는 제1점검단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝 장치의 에러 검출방법.
  5. 제4항에 있어서, 상기 제1점검단계는,
    상기 n개의 화소구간중 최소값(m)이 속한 구간을 검색하는 단계와;
    상기 검색된 구간이 1번째 구간 또는 n번째 구간인지를 판단하는 단계와;
    상기 검색된 구간이 1번째 또는 n번째 구간일 경우, 상기 최소값(m)이 상기 기준값(R)보다 작은지를 비교판단하는 단계; 및
    상기 최소값(m)이 기준값(R)보다 작은 경우, 램프 교체메세지를 표시하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법.
  6. 제4항에 있어서,
    상기 검색된 구간이 1번째 또는 n번째 구간이 아닌 경우, 또는 상기 최소값(m)이 기준값(R)보다 작은 경우 상기 광 경로상의 오염을 점검하는 제2점검단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝 장치의 에러 검출방법.
  7. 제4항에 있어서,
    상기 램프 교체메세지를 표시한 이후, 상기 광 경로상의 오염을 점검하는 제2점검단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법.
  8. 제6항 또는 제7항에 있어서, 상기 제2점검단계는,
    상기 초기의 구간별 광량 평균값(B1∼Bn)과 추출된 구간별 광량 평균값(b1∼bn)을 각 구간별로 비교하는 단계와;
    상기 비교단계에서 소정 기준치 이상 차이나는 구간이 있는지를 판단하는 단계와;
    상기 각 화소구간별로 소정 기준치 이상 차이나는 구간이 존재할 경우, 광경로 상의 오염메세지를 표시하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법.
  9. 제3항에 있어서,
    상기 비교/판단단계에서 상기 초기 기준값과 상기 측정값의 차이가 소정 기준치보다 작을 경우 상기 램프의 광 경로상의 오염을 점검하는 제2점검단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝 장치의 에러 검출방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 제2점검단계는,
    상기 초기의 구간별 광량 평균값(B1∼Bn)과 추출된 구간별 광량평균값(b1∼bn)을 각 구간별로 비교하는 단계와;
    상기 비교단계에서 소정 기준치 이상 차이나는 구간이 있는지를 판단하는 단계와;
    상기 각 화소구간별로 소정 기준치 이상 차이나는 구간이 존재할 경우, 광경로 상의 오염메세지를 표시하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 화상 스캐닝장치의 에러 검출방법.
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