JPH10276304A - 画像読み取り装置と画像形成装置 - Google Patents
画像読み取り装置と画像形成装置Info
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- JPH10276304A JPH10276304A JP9077380A JP7738097A JPH10276304A JP H10276304 A JPH10276304 A JP H10276304A JP 9077380 A JP9077380 A JP 9077380A JP 7738097 A JP7738097 A JP 7738097A JP H10276304 A JPH10276304 A JP H10276304A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 連続読み取りを行う際のリアルタイムなシェ
ーディング補正を可能とするイメージセンサーを用いた
画像読み取り装置を提供することを課題とする。 【解決手段】 CCDにより画像を読み取る画像読み取
り装置において、濃度が連続的に変化しているテストパ
ターンと、前記テストパターンを読み取ったテストパタ
ーン出力信号を記憶する記憶手段と、前記テストパター
ンを読み取った前記CCDの出力信号と前記テストパタ
ーン出力信号との大小を比較する比較手段とを備えたこ
とを特徴とする。
ーディング補正を可能とするイメージセンサーを用いた
画像読み取り装置を提供することを課題とする。 【解決手段】 CCDにより画像を読み取る画像読み取
り装置において、濃度が連続的に変化しているテストパ
ターンと、前記テストパターンを読み取ったテストパタ
ーン出力信号を記憶する記憶手段と、前記テストパター
ンを読み取った前記CCDの出力信号と前記テストパタ
ーン出力信号との大小を比較する比較手段とを備えたこ
とを特徴とする。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スキャナー部に使
用しているCCD等の光電変換デバイスを備えた画像読
取り装置や複写機等の画像形成装置に関し、特にCCD
等の光電変換デバイスの欠陥画素の欠陥内容を特定して
補正する自己診断機能を備えた画像読取り装置や複写機
等の画像形成装置に関するものである。
用しているCCD等の光電変換デバイスを備えた画像読
取り装置や複写機等の画像形成装置に関し、特にCCD
等の光電変換デバイスの欠陥画素の欠陥内容を特定して
補正する自己診断機能を備えた画像読取り装置や複写機
等の画像形成装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、CCDやMOS型等の光電変換デ
バイスを光電変換用に使用している複写機等の画像読取
り装置では、スキャナー部の自己診断回路が無いため、
スキャナー部に異常があると、出力画像に異常が見られ
る。その画像を人間の目によって、CCDユニット又は
CCDが正常であるかどうか判断するため、判断程度が
とても曖昧であり、判断基準が明確ではなく、その判断
に多大の時間を要していた。
バイスを光電変換用に使用している複写機等の画像読取
り装置では、スキャナー部の自己診断回路が無いため、
スキャナー部に異常があると、出力画像に異常が見られ
る。その画像を人間の目によって、CCDユニット又は
CCDが正常であるかどうか判断するため、判断程度が
とても曖昧であり、判断基準が明確ではなく、その判断
に多大の時間を要していた。
【0003】また、従来の画像形成装置においては、C
CD等の光電変換デバイスの感度ばらつきを規格化し、
著しく規格を下回る画素欠陥を含んだCCDは不良品と
して選別していた。
CD等の光電変換デバイスの感度ばらつきを規格化し、
著しく規格を下回る画素欠陥を含んだCCDは不良品と
して選別していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従って、欠陥画素を含
んだCCD等の光電変換デバイスを不良品として選別す
ると、わずかな不良の為にデバイスの歩留まりが悪くな
り、デバイスの単価、及びその製品のコストの上昇につ
ながっていた。
んだCCD等の光電変換デバイスを不良品として選別す
ると、わずかな不良の為にデバイスの歩留まりが悪くな
り、デバイスの単価、及びその製品のコストの上昇につ
ながっていた。
【0005】また、複写機等の画像読み取り装置や画像
形成装置のスキャナー部に自己診断回路が無いため、人
間が複写機を使用し、画像を見て、その画像の異常に気
がついて、初めてスキャナー部に異常があると認識する
ため、複写機のスキャナー部に異常がある、無いの判断
が困難であるという問題点がある。
形成装置のスキャナー部に自己診断回路が無いため、人
間が複写機を使用し、画像を見て、その画像の異常に気
がついて、初めてスキャナー部に異常があると認識する
ため、複写機のスキャナー部に異常がある、無いの判断
が困難であるという問題点がある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記問題点を
解決するために、CCDにより画像を読み取る画像読み
取り装置において、濃度が連続的に変化しているテスト
パターンと、前記テストパターンを読み取ったテストパ
ターン出力信号を記憶する記憶手段と、前記テストパタ
ーンを読み取った前記CCDの出力信号と前記テストパ
ターン出力信号との大小を比較する比較手段とを備えた
ことを特徴とする。
解決するために、CCDにより画像を読み取る画像読み
取り装置において、濃度が連続的に変化しているテスト
パターンと、前記テストパターンを読み取ったテストパ
ターン出力信号を記憶する記憶手段と、前記テストパタ
ーンを読み取った前記CCDの出力信号と前記テストパ
ターン出力信号との大小を比較する比較手段とを備えた
ことを特徴とする。
【0007】また、CCDにより画像を読み取る画像読
み取り装置において、濃度が連続的に変化しているテス
トパターンと、前記CCDの出力信号をデジタル信号に
変換する変換手段と、前記CCDの出力信号を正常な出
力信号と不正常な出力信号に切り替える切り替え手段
と、前記切り替え手段を制御する制御手段と、前記テス
トパターンを読み取ったテストパターン出力信号を記憶
する記憶手段と、前記CCDの不正常な出力信号と前記
テストパターン出力信号との大小を比較する比較手段と
を備えたことを特徴とする。
み取り装置において、濃度が連続的に変化しているテス
トパターンと、前記CCDの出力信号をデジタル信号に
変換する変換手段と、前記CCDの出力信号を正常な出
力信号と不正常な出力信号に切り替える切り替え手段
と、前記切り替え手段を制御する制御手段と、前記テス
トパターンを読み取ったテストパターン出力信号を記憶
する記憶手段と、前記CCDの不正常な出力信号と前記
テストパターン出力信号との大小を比較する比較手段と
を備えたことを特徴とする。
【0008】さらに、CCDにより画像を読み取る画像
読み取り装置において、濃度が連続的に変化しているテ
ストパターンと、前記CCDの出力信号の振幅の変化値
をデジタル信号に処理する処理手段と、データを記憶す
る記憶手段と、前記処理手段の出力データと前記記憶手
段のデータの大小を比較する比較手段と、前記処理手段
の出力データを通常の出力側と前記比較手段側に切り替
える切り替え手段と、前記切り替え手段を制御する制御
手段と、前記制御手段によって前記切り替え手段を切り
替え、前記CCDで前記テストパターンを読み込んだ出
力を前記処理手段によって処理されたデータと前記記憶
手段に記憶されているデータとを前記比較手段により比
較し、前記比較手段の結果により前記CCDが正常かど
うか判断することを特徴とする。
読み取り装置において、濃度が連続的に変化しているテ
ストパターンと、前記CCDの出力信号の振幅の変化値
をデジタル信号に処理する処理手段と、データを記憶す
る記憶手段と、前記処理手段の出力データと前記記憶手
段のデータの大小を比較する比較手段と、前記処理手段
の出力データを通常の出力側と前記比較手段側に切り替
える切り替え手段と、前記切り替え手段を制御する制御
手段と、前記制御手段によって前記切り替え手段を切り
替え、前記CCDで前記テストパターンを読み込んだ出
力を前記処理手段によって処理されたデータと前記記憶
手段に記憶されているデータとを前記比較手段により比
較し、前記比較手段の結果により前記CCDが正常かど
うか判断することを特徴とする。
【0009】また、画像を読み取るCCDとテストパタ
ーンを有する画像読み取り装置において、前記CCDの
出力信号をデジタル信号に変換する変換手段、前記CC
Dの出力を通常の出力側と前記変換手段側に切り替える
切り替え手段1と、前記CCDの出力信号の振幅の変化
値をデジタル信号に処理する処理手段と、前記処理手段
の出力を通常の出力側と切り替え手段3側に切り替える
切り替え手段2と、比較手段の入力の一方を前記切り替
え手段2側と前記変換手段側に切り替える前記切り替え
手段3と、データを記憶する記憶手段1及び記憶手段2
と、前記比較手段の入力の他方を前記記憶手段1と前記
記憶手段2に切り替える切り替え手段4と、前記処理手
段の出力データと前記記憶手段のデータの大小を比較す
る前記比較手段と、前記切り替え手段1と前記切り替え
手段2、前記切り替え手段3、前記切り替え手段4とを
制御する制御手段とを具備し、前記制御手段によって前
記切り替え手段1と前記切り替え手段2、前記切り替え
手段3、前記切り替え手段4とを切り替え、前記CCD
で前記テストパターンを読み込んだ前記CCDの出力を
前記変換手段によって変換されたデータと前記記憶手段
1に記憶されているデータ及び前記CCDで前記テスト
パターンを読み込んだ前記CCDの出力を前記処理手段
により処理されたデータと前記記憶手段2に記憶されて
いるデータとを前記比較手段によりそれぞれ比較し、前
記比較手段の結果により前記CCDが正常かどうか判断
することを特徴とする。
ーンを有する画像読み取り装置において、前記CCDの
出力信号をデジタル信号に変換する変換手段、前記CC
Dの出力を通常の出力側と前記変換手段側に切り替える
切り替え手段1と、前記CCDの出力信号の振幅の変化
値をデジタル信号に処理する処理手段と、前記処理手段
の出力を通常の出力側と切り替え手段3側に切り替える
切り替え手段2と、比較手段の入力の一方を前記切り替
え手段2側と前記変換手段側に切り替える前記切り替え
手段3と、データを記憶する記憶手段1及び記憶手段2
と、前記比較手段の入力の他方を前記記憶手段1と前記
記憶手段2に切り替える切り替え手段4と、前記処理手
段の出力データと前記記憶手段のデータの大小を比較す
る前記比較手段と、前記切り替え手段1と前記切り替え
手段2、前記切り替え手段3、前記切り替え手段4とを
制御する制御手段とを具備し、前記制御手段によって前
記切り替え手段1と前記切り替え手段2、前記切り替え
手段3、前記切り替え手段4とを切り替え、前記CCD
で前記テストパターンを読み込んだ前記CCDの出力を
前記変換手段によって変換されたデータと前記記憶手段
1に記憶されているデータ及び前記CCDで前記テスト
パターンを読み込んだ前記CCDの出力を前記処理手段
により処理されたデータと前記記憶手段2に記憶されて
いるデータとを前記比較手段によりそれぞれ比較し、前
記比較手段の結果により前記CCDが正常かどうか判断
することを特徴とする。
【0010】また、入力光に対応した出力信号を生成す
る光電変換デバイスを具備する画像形成装置において、
前記光電変換デバイスの構成画素の欠陥画素の前後の画
素を参照し、その参照データから前記欠陥画素の補正値
を求める補正手段を備えたことを特徴とする。
る光電変換デバイスを具備する画像形成装置において、
前記光電変換デバイスの構成画素の欠陥画素の前後の画
素を参照し、その参照データから前記欠陥画素の補正値
を求める補正手段を備えたことを特徴とする。
【0011】さらに、入力光に対応した出力信号を生成
する光電変換デバイスを具備する画像形成装置におい
て、前記光電変換デバイスの欠陥画素の出力を補正する
補正手段として、他の色を読み取るセンサの同一画素デ
ータを参照する参照手段と、参照したデータから前記欠
陥画素の補正値を求める手段とを備えたことを特徴とす
る。
する光電変換デバイスを具備する画像形成装置におい
て、前記光電変換デバイスの欠陥画素の出力を補正する
補正手段として、他の色を読み取るセンサの同一画素デ
ータを参照する参照手段と、参照したデータから前記欠
陥画素の補正値を求める手段とを備えたことを特徴とす
る。
【0012】また、入力光に対応した出力信号を生成す
る光電変換デバイスを備えた画像形成装置において、前
記光電変換デバイスの欠陥画素出力を補正する補正手段
として、前記欠陥画素の前後の画素と他の色を読み取る
センサの同一画素データとを参照する参照手段と、参照
したデータから前記欠陥画素の補正値を求める補正値特
定手段とを備えたことを特徴とする。
る光電変換デバイスを備えた画像形成装置において、前
記光電変換デバイスの欠陥画素出力を補正する補正手段
として、前記欠陥画素の前後の画素と他の色を読み取る
センサの同一画素データとを参照する参照手段と、参照
したデータから前記欠陥画素の補正値を求める補正値特
定手段とを備えたことを特徴とする。
【0013】本発明によれば、光電変換デバイスのユニ
ットが正常時にテストパターンを読み込んだデータと、
使用時にテストパターンを読み込んだデータとを比較
し、その結果によりユニットが異常かどうか、何処がど
のような異常かを自己診断することができる。
ットが正常時にテストパターンを読み込んだデータと、
使用時にテストパターンを読み込んだデータとを比較
し、その結果によりユニットが異常かどうか、何処がど
のような異常かを自己診断することができる。
【0014】また、本発明では、光電変換デバイスの画
素単位の不良品で、高照度時や低照度時の特定の領域で
リニア出力を得られない様な欠陥を持ったCCDを使用
可能とする為に、欠陥画素の前後(近傍)の画素データ
から読み取り値を推測する手段によって欠陥画素の補正
を行うことができる。
素単位の不良品で、高照度時や低照度時の特定の領域で
リニア出力を得られない様な欠陥を持ったCCDを使用
可能とする為に、欠陥画素の前後(近傍)の画素データ
から読み取り値を推測する手段によって欠陥画素の補正
を行うことができる。
【0015】
(第1の実施形態)図1は、本発明の第1の実施形態に
よる複写機、ファクシミリやOCR等に用いられる画像
読み取り装置の構成ブロック図を示したものである。
よる複写機、ファクシミリやOCR等に用いられる画像
読み取り装置の構成ブロック図を示したものである。
【0016】制御手段11は駆動タイミングパルス等を
生成する駆動手段12を介して光電返還デバイスの1種
のCCD13に接続される。制御手段11は、読み取り
原稿に対して相対的にCCD13の読み取り場所を移動
させる移動手段14に接続して、制御する。
生成する駆動手段12を介して光電返還デバイスの1種
のCCD13に接続される。制御手段11は、読み取り
原稿に対して相対的にCCD13の読み取り場所を移動
させる移動手段14に接続して、制御する。
【0017】CCD13の画像読み取り出力信号は、切
り替え手段15を介してアナログ信号処理手段16とA
/Dコンバーター17の入力に接続される。切り替え手
段15は、制御手段11によってその接続を切り替えら
れる。アナログ信号処理手段16はサンプルホールド回
路やシェーディング補正回路を含み、画像読み取り出力
信号のスイッチング部分を除去したアナログ信号を連続
した画像信号に変換されて出力される。また、A/Dコ
ンバーター17に送られた画像読み取り出力信号のアナ
ログ信号は、デジタル信号に変換され比較手段18の入
力の一方に送られる。比較手段18の入力の他方はメモ
リー19の出力に接続される。メモリー19に記憶され
ているデータとは、CCD13が正常動作している状態
で、所定のテストパターンを読み込み、A/Dコンバー
ター17にてデジタル信号に変換したもので、図1には
その場合の接続を示していないが、A/Dコンバーター
17の出力を制御手段11によるアドレス指定とタイミ
ングとにデジタルデータを記憶する。比較手段18はA
/Dコンバーター17の出力信号とメモリー19の同一
画素に対応する出力信号とを比較・差をとるもので、制
御手段11に接続される。
り替え手段15を介してアナログ信号処理手段16とA
/Dコンバーター17の入力に接続される。切り替え手
段15は、制御手段11によってその接続を切り替えら
れる。アナログ信号処理手段16はサンプルホールド回
路やシェーディング補正回路を含み、画像読み取り出力
信号のスイッチング部分を除去したアナログ信号を連続
した画像信号に変換されて出力される。また、A/Dコ
ンバーター17に送られた画像読み取り出力信号のアナ
ログ信号は、デジタル信号に変換され比較手段18の入
力の一方に送られる。比較手段18の入力の他方はメモ
リー19の出力に接続される。メモリー19に記憶され
ているデータとは、CCD13が正常動作している状態
で、所定のテストパターンを読み込み、A/Dコンバー
ター17にてデジタル信号に変換したもので、図1には
その場合の接続を示していないが、A/Dコンバーター
17の出力を制御手段11によるアドレス指定とタイミ
ングとにデジタルデータを記憶する。比較手段18はA
/Dコンバーター17の出力信号とメモリー19の同一
画素に対応する出力信号とを比較・差をとるもので、制
御手段11に接続される。
【0018】また、図2に複写機等のスキャナー部20
の断面的な概略構成図を示す。図2において、21は読
み取られる原稿を載置する原稿台、22はテストパター
ン用の白色板、28は白色板22の一部にラインイメー
ジセンサの並び方向の主走査方向に濃度が暗から明まで
連続的に変化するテストパターン、23は蛍光灯等の光
源、24〜26は原稿面の反射光の光路の方向を変更す
る反射ミラー、26は反射光を結像するレンズ、27は
光電変換デバイスの一種のラインイメージセンサーとし
てのCCDを備えた読み取りユニットである。
の断面的な概略構成図を示す。図2において、21は読
み取られる原稿を載置する原稿台、22はテストパター
ン用の白色板、28は白色板22の一部にラインイメー
ジセンサの並び方向の主走査方向に濃度が暗から明まで
連続的に変化するテストパターン、23は蛍光灯等の光
源、24〜26は原稿面の反射光の光路の方向を変更す
る反射ミラー、26は反射光を結像するレンズ、27は
光電変換デバイスの一種のラインイメージセンサーとし
てのCCDを備えた読み取りユニットである。
【0019】次に、本構成による動作を説明する。複写
機やファクシミリ等として画像読み取り動作を開始する
と、制御手段11は前記移動手段14によりCCD13
の読み取り場所を、濃度が連続的に変化するテストパタ
ーン28を有する白色板22のある場所に移動させる。
通常、画像読み取り動作を開始すると、白色板22のあ
る原稿台21以外の場所にステージを移動させ、白色板
22を読み込み出力の補正量を決定し、原稿台21の原
稿を読み込む。本発明では、テストパターン28と共
に、白色板22を図2に示す位置の前後付近を光源23
で照射しつつ、読み取りユニット27のCCD13で読
み込む。
機やファクシミリ等として画像読み取り動作を開始する
と、制御手段11は前記移動手段14によりCCD13
の読み取り場所を、濃度が連続的に変化するテストパタ
ーン28を有する白色板22のある場所に移動させる。
通常、画像読み取り動作を開始すると、白色板22のあ
る原稿台21以外の場所にステージを移動させ、白色板
22を読み込み出力の補正量を決定し、原稿台21の原
稿を読み込む。本発明では、テストパターン28と共
に、白色板22を図2に示す位置の前後付近を光源23
で照射しつつ、読み取りユニット27のCCD13で読
み込む。
【0020】制御手段11は、切り替え手段15の出力
をA/Dコンバータ17側に切り替える。明るさが階段
調になっているテストパターン28を読み取り、CCD
13の出力信号はA/Dコンバータ17にてデジタル信
号に変換され、比較手段18に入力される。比較手段1
8では、メモリー19内のデータと比較手段18に入力
される信号を比較し、比較結果を制御手段11に送出す
る。制御手段11では、その比較手段18の比較結果を
もとに、CCDユニットが正常かどうか判断する。正常
であると判断した場合、切り替え手段15の出力をアナ
ログ信号処理手段16側に切り替え、アナログ信号処理
手段16内で出力信号が処理され出力される。一方、反
対に、異常であると判断した場合、制御手段11からエ
ラー信号を出力することにより、CCDユニットに異常
があることを不図示の表示手段に表示する。
をA/Dコンバータ17側に切り替える。明るさが階段
調になっているテストパターン28を読み取り、CCD
13の出力信号はA/Dコンバータ17にてデジタル信
号に変換され、比較手段18に入力される。比較手段1
8では、メモリー19内のデータと比較手段18に入力
される信号を比較し、比較結果を制御手段11に送出す
る。制御手段11では、その比較手段18の比較結果を
もとに、CCDユニットが正常かどうか判断する。正常
であると判断した場合、切り替え手段15の出力をアナ
ログ信号処理手段16側に切り替え、アナログ信号処理
手段16内で出力信号が処理され出力される。一方、反
対に、異常であると判断した場合、制御手段11からエ
ラー信号を出力することにより、CCDユニットに異常
があることを不図示の表示手段に表示する。
【0021】図3は比較手段18内での処理方法のフロ
ーチャートである。まず、メモリー19内の先頭のデー
タを読み込む(S11)。ここで、iはラインイメージ
センサのCCD13の画素順位を示し、Aは比較データ
との差の許容値をしめし、kはメモリー19内に格納さ
れているCCD13のデータ数を示している。メモリー
内の比較しようとするi番目のアドレスのデータを読み
込む(S12)。なお、メモリー19には正常なCCD
13に対応したデータを予めi番目のアドレスとして格
納されている。次に、A/Dコンバータ17の出力値か
ら対応するデータの差をとってBとする(S13)。こ
の差の絶対値|B|が一定の許容値Aより小さい場合、
正常な画素であると判断でき、ステップS16に移行す
る。反対にこの差の絶対値|B|が一定の許容値Aより
大きい場合、そのときのメモリー19内のデータの画素
の順位iを示すアドレスと、データの差Bとを制御手段
11に出力する(S15)。つぎに、画素の順位iとデ
ータ数kと比較し、画素の順位iが小さい場合には、次
の画素の検査をするためi+1として(S17)、ステ
ップS12に移行して、上記動作を繰り返す。画素の順
位iがCCD13の最大数であるデータ数kと等しいか
又は大きければ、本動作を終了する。
ーチャートである。まず、メモリー19内の先頭のデー
タを読み込む(S11)。ここで、iはラインイメージ
センサのCCD13の画素順位を示し、Aは比較データ
との差の許容値をしめし、kはメモリー19内に格納さ
れているCCD13のデータ数を示している。メモリー
内の比較しようとするi番目のアドレスのデータを読み
込む(S12)。なお、メモリー19には正常なCCD
13に対応したデータを予めi番目のアドレスとして格
納されている。次に、A/Dコンバータ17の出力値か
ら対応するデータの差をとってBとする(S13)。こ
の差の絶対値|B|が一定の許容値Aより小さい場合、
正常な画素であると判断でき、ステップS16に移行す
る。反対にこの差の絶対値|B|が一定の許容値Aより
大きい場合、そのときのメモリー19内のデータの画素
の順位iを示すアドレスと、データの差Bとを制御手段
11に出力する(S15)。つぎに、画素の順位iとデ
ータ数kと比較し、画素の順位iが小さい場合には、次
の画素の検査をするためi+1として(S17)、ステ
ップS12に移行して、上記動作を繰り返す。画素の順
位iがCCD13の最大数であるデータ数kと等しいか
又は大きければ、本動作を終了する。
【0022】図4は、制御手段11の故障個所の判断方
法である。まず、比較手段18からエラーデータを受け
たか調べる(S21)。エラーデータが無い場合、正常
であると判断して(S25)、終了する。次に、前記判
断でエラーデータがあるとされた場合、エラーのアドレ
スが続いているか否かを調べる(S22)。エラーのア
ドレスが続いていなければ、CCD13の画素欠陥か、
もしくは原稿面からの光路にごみなどが付着して読み出
しデータが遮られていることと判断して(S26)、終
了する。前記判断でエラーのアドレスが続いている場
合、そのエラーアドレスが先頭から続いているか調べる
(S23)。先頭から続いていない場合、CCD13の
一部の画素欠陥としてCCD13の出力不良と判断する
(S27)。反対に、先頭から続いている場合はCCD
13が駆動していないか若しくはランプが点灯していな
い等CCD13以外の不良であろうと判断して(S2
4)本故障箇所の判断を終了する。上記フローチャート
の内、ステップS25〜S27については、図4の各フ
ローチャートの右側に、CCD13の欠陥状態を例示し
ている。
法である。まず、比較手段18からエラーデータを受け
たか調べる(S21)。エラーデータが無い場合、正常
であると判断して(S25)、終了する。次に、前記判
断でエラーデータがあるとされた場合、エラーのアドレ
スが続いているか否かを調べる(S22)。エラーのア
ドレスが続いていなければ、CCD13の画素欠陥か、
もしくは原稿面からの光路にごみなどが付着して読み出
しデータが遮られていることと判断して(S26)、終
了する。前記判断でエラーのアドレスが続いている場
合、そのエラーアドレスが先頭から続いているか調べる
(S23)。先頭から続いていない場合、CCD13の
一部の画素欠陥としてCCD13の出力不良と判断する
(S27)。反対に、先頭から続いている場合はCCD
13が駆動していないか若しくはランプが点灯していな
い等CCD13以外の不良であろうと判断して(S2
4)本故障箇所の判断を終了する。上記フローチャート
の内、ステップS25〜S27については、図4の各フ
ローチャートの右側に、CCD13の欠陥状態を例示し
ている。
【0023】(第2の実施形態)図5は、本発明の第2
の実施形態による画像読み取り装置の構成ブロック図を
示したものである。基本的に、第1の実施形態と同様な
ので、相違点のみ説明する。
の実施形態による画像読み取り装置の構成ブロック図を
示したものである。基本的に、第1の実施形態と同様な
ので、相違点のみ説明する。
【0024】図5において、CCD13の出力は、アナ
ログ信号処理手段16を介して切り替え手段15に入力
される。切り替え手段15は、一方は出力段へ、他方は
比較手段18に入力される。比較手段18の入力の他方
はメモリー19に接続される。メモリー19に記憶され
ているデータとは、CCD13、アナログ信号処理手段
16が正常動作した場合のアナログ信号処理手段16の
出力である。また、制御手段11により制御つれる移動
手段14及びCCD13を駆動する駆動手段12は第1
実施形態と同様である。
ログ信号処理手段16を介して切り替え手段15に入力
される。切り替え手段15は、一方は出力段へ、他方は
比較手段18に入力される。比較手段18の入力の他方
はメモリー19に接続される。メモリー19に記憶され
ているデータとは、CCD13、アナログ信号処理手段
16が正常動作した場合のアナログ信号処理手段16の
出力である。また、制御手段11により制御つれる移動
手段14及びCCD13を駆動する駆動手段12は第1
実施形態と同様である。
【0025】本画像読み取り装置が動作を開始すると、
第1の実施形態と同様に、CCD13の読み取り場所を
移動させ、例えば図2の上段に示すテストパターンを読
み込む。制御手段11は、切り替え手段15の出力を比
較手段18にテストパターンを読み込む前に切り替え
る。テストパターンを読み取り、CCD13の出力信号
はアナログ信号処理手段16にてシェーディング補正等
の処理を行い、比較手段18に入力される。比較手段1
8では、メモリー19内のデータと比較手段18に入力
される信号を比較し、比較結果を制御手段11に送信す
る。なお、メモリー19内のデータは、第1の実施形態
で示したものと同様で、アナログ信号との比較という面
でタイミング的に整合させる手段が必要であるが、予め
正常な状態で同一のテストパターンを読み取ったデータ
を格納している。制御手段11では、その比較手段18
の比較結果をもとにCCDユニットが正常かどうかを判
断する。また、制御手段11はCCD13の故障個所を
判断する。正常であると判断した場合、切り替え手段1
5を出力側に切り替え、出力される。反対に、異常であ
ると判断した場合、制御手段11からエラー信号を出力
することによりCCDユニットに異常があることを表示
する。
第1の実施形態と同様に、CCD13の読み取り場所を
移動させ、例えば図2の上段に示すテストパターンを読
み込む。制御手段11は、切り替え手段15の出力を比
較手段18にテストパターンを読み込む前に切り替え
る。テストパターンを読み取り、CCD13の出力信号
はアナログ信号処理手段16にてシェーディング補正等
の処理を行い、比較手段18に入力される。比較手段1
8では、メモリー19内のデータと比較手段18に入力
される信号を比較し、比較結果を制御手段11に送信す
る。なお、メモリー19内のデータは、第1の実施形態
で示したものと同様で、アナログ信号との比較という面
でタイミング的に整合させる手段が必要であるが、予め
正常な状態で同一のテストパターンを読み取ったデータ
を格納している。制御手段11では、その比較手段18
の比較結果をもとにCCDユニットが正常かどうかを判
断する。また、制御手段11はCCD13の故障個所を
判断する。正常であると判断した場合、切り替え手段1
5を出力側に切り替え、出力される。反対に、異常であ
ると判断した場合、制御手段11からエラー信号を出力
することによりCCDユニットに異常があることを表示
する。
【0026】図6は、制御手段11の故障個所の判断方
法である。まず、比較手段18からエラーデータを受け
たか調べる(S31)。エラーデータが無い場合、CC
D13は正常であると判断する(S37)。次に、前記
判断でエラーデータが存在するとされた場合、エラーの
アドレスが続いているか調べる(S32)。エラーのア
ドレスが続いていなければ、CCD13の画素欠陥か、
もしくは原稿面からの光路がごみなどにより光量が遮ら
れていることと判断する(S38)。前記判断でエラー
アドレスが続いている場合、そのエラーアドレスが先頭
から続いているか調べる(S33)。そのエラーアドレ
スが先頭から続いていない場合、CCD13の出力不良
(Vsatが低い)と判断する(S39)。反対に、そ
のエラーアドレスが先頭から続いている場合、最後のア
ドレスのデータがエラーであるのか否かを判断する(S
34)。最後のアドレスのデータがエラーでない場合、
CCD13の画素に欠陥があると判断する(S40)。
最後のアドレスのデータもエラーである場合、先頭(最
初)のデータと最後のデータの差を実測値とメモリー内
のデータとで比較し(S35)、反対に等しくない場合
はCCDの出力不良(電源が来ていない、もしくは、ラ
ンプの光量異常)、若しくはアナログ信号処理手段16
でのゲイン設定不良と判断し(S41)、差が等しい場
合はアナログ信号処理手段16のオフセットの設定異常
と判断し(S36)、CCD13の故障個所の判断を終
了する。なお、制御手段11は、各判断した結果をそれ
ぞれ理解しやすい表示言語又はマークで、不図示の表示
手段に出力して表示する。
法である。まず、比較手段18からエラーデータを受け
たか調べる(S31)。エラーデータが無い場合、CC
D13は正常であると判断する(S37)。次に、前記
判断でエラーデータが存在するとされた場合、エラーの
アドレスが続いているか調べる(S32)。エラーのア
ドレスが続いていなければ、CCD13の画素欠陥か、
もしくは原稿面からの光路がごみなどにより光量が遮ら
れていることと判断する(S38)。前記判断でエラー
アドレスが続いている場合、そのエラーアドレスが先頭
から続いているか調べる(S33)。そのエラーアドレ
スが先頭から続いていない場合、CCD13の出力不良
(Vsatが低い)と判断する(S39)。反対に、そ
のエラーアドレスが先頭から続いている場合、最後のア
ドレスのデータがエラーであるのか否かを判断する(S
34)。最後のアドレスのデータがエラーでない場合、
CCD13の画素に欠陥があると判断する(S40)。
最後のアドレスのデータもエラーである場合、先頭(最
初)のデータと最後のデータの差を実測値とメモリー内
のデータとで比較し(S35)、反対に等しくない場合
はCCDの出力不良(電源が来ていない、もしくは、ラ
ンプの光量異常)、若しくはアナログ信号処理手段16
でのゲイン設定不良と判断し(S41)、差が等しい場
合はアナログ信号処理手段16のオフセットの設定異常
と判断し(S36)、CCD13の故障個所の判断を終
了する。なお、制御手段11は、各判断した結果をそれ
ぞれ理解しやすい表示言語又はマークで、不図示の表示
手段に出力して表示する。
【0027】図6の各判断ステップの右側に示すグラフ
は、各判断時の状態を示しており、横軸にCCD13の
最初のアドレスから最後のアドレスを示し、縦軸はCC
D13の各画素の電荷を蓄積した画素電荷レベルを示し
て、各判断のための参考例としている。
は、各判断時の状態を示しており、横軸にCCD13の
最初のアドレスから最後のアドレスを示し、縦軸はCC
D13の各画素の電荷を蓄積した画素電荷レベルを示し
て、各判断のための参考例としている。
【0028】本実施形態では、A/Dコンバーターが存
在せず、また比較手段では画像信号出力と同一の信号で
メモリー内のデータと比較しているので、画像読み取り
装置の画像信号出力における信頼性が高くなると共に、
この画像信号出力の欠陥に対して即座に対応できるとい
う効果を奏し得る。
在せず、また比較手段では画像信号出力と同一の信号で
メモリー内のデータと比較しているので、画像読み取り
装置の画像信号出力における信頼性が高くなると共に、
この画像信号出力の欠陥に対して即座に対応できるとい
う効果を奏し得る。
【0029】(第3の実施形態)図7は、本発明の第3
の実施形態による画像読み取り装置の構成ブロック図を
示したものである。基本的に第1の実施形態と同様なの
で、特に相違点に注目して説明する。
の実施形態による画像読み取り装置の構成ブロック図を
示したものである。基本的に第1の実施形態と同様なの
で、特に相違点に注目して説明する。
【0030】CCD13の出力は、切り替え手段1(1
5)を介してアナログ信号処理手段16とA/Dコンバ
ーター17の入力に接続される。アナログ信号処理手段
16の出力は切り替え手段2(30)に接続され、その
出力は、一方は装置の出力に、他方は切り替え手段3
(31)の一端に接続される。A/Dコンバーター17
のデジタル信号出力は切り替え手段3(31)の他方に
接続される。メモリー1(28)、メモリー2(29)
は切り替え手段4(32)に接続される。比較手段18
は、切り替え手段3(31)、切り替え手段4(32)
の出力を比較し、比較結果を制御手段11に送る。制御
手段11は、切り替え手段1,2,3,4、CCD13
の駆動手段12、ステージの移動手段14を制御し、比
較手段18の結果により、相当するエラー表示信号を不
図示の表示手段に出力する。
5)を介してアナログ信号処理手段16とA/Dコンバ
ーター17の入力に接続される。アナログ信号処理手段
16の出力は切り替え手段2(30)に接続され、その
出力は、一方は装置の出力に、他方は切り替え手段3
(31)の一端に接続される。A/Dコンバーター17
のデジタル信号出力は切り替え手段3(31)の他方に
接続される。メモリー1(28)、メモリー2(29)
は切り替え手段4(32)に接続される。比較手段18
は、切り替え手段3(31)、切り替え手段4(32)
の出力を比較し、比較結果を制御手段11に送る。制御
手段11は、切り替え手段1,2,3,4、CCD13
の駆動手段12、ステージの移動手段14を制御し、比
較手段18の結果により、相当するエラー表示信号を不
図示の表示手段に出力する。
【0031】次に、本画像読み取り装置の動作を説明す
る。本画像読み取り装置が動作を開始すると、第1の実
施形態と同様に、移動手段14に指示を与えて、CCD
13の読み取り場所を移動させ、例えば図2に示すテス
トパターンを読み込む。テストパターンを読み込む前
に、制御手段11は、切り替え手段1(15)の出力を
A/Dコンバーター17側に、切り替え手段3(31)
はA/Dコンバーター17側に、切り替え手段4(3
2)はメモリー1(28)側に切り替えられる。次に、
テストパターンを読み取り、CCD13の出力信号はA
/Dコンバーター17にてデジタル信号に変換され、メ
モリー1(28)のデータと比較手段18にて比較され
る。メモリー1(28)には、CCD13が正常動作時
の出力をA/D変換したデータが格納されている。
る。本画像読み取り装置が動作を開始すると、第1の実
施形態と同様に、移動手段14に指示を与えて、CCD
13の読み取り場所を移動させ、例えば図2に示すテス
トパターンを読み込む。テストパターンを読み込む前
に、制御手段11は、切り替え手段1(15)の出力を
A/Dコンバーター17側に、切り替え手段3(31)
はA/Dコンバーター17側に、切り替え手段4(3
2)はメモリー1(28)側に切り替えられる。次に、
テストパターンを読み取り、CCD13の出力信号はA
/Dコンバーター17にてデジタル信号に変換され、メ
モリー1(28)のデータと比較手段18にて比較され
る。メモリー1(28)には、CCD13が正常動作時
の出力をA/D変換したデータが格納されている。
【0032】比較手段18の結果から、制御手段11で
CCD13が正常かどうか判断し、異常であれば「CC
D、ランプが異常である」というような出力を行う。反
対に正常時は、切り替え手段1(15)をアナログ信号
処理手段16側に、切り替え手段2(30)は切り替え
手段3(31)側に、切り替え手段3(31)は切り替
え手段2(30)側に、切り替え手段4(32)はメモ
リー2(29)側にそれぞれ切り替えられる。同一場所
で再度テストパターンを読み込むように、移動手段1
4、駆動手段12を制御する。つぎに、テストパターン
を読み取り、CCD13の出力信号はアナログ信号処理
手段16にて処理を行い、切り替え手段2(30)、切
り替え手段3(31)を介し比較手段18に入力され、
メモリー2(29)のデータと比較される。メモリー2
(29)には、CCD13、アナログ信号処理手段16
が正常時のデータが格納されている。比較手段18の結
果により制御手段11で異常かどうか判断し、異常時は
「アナログ信号処理手段が異常である」というような出
力を行う。正常時は切り替え手段2(30)を出力側に
切り替える。
CCD13が正常かどうか判断し、異常であれば「CC
D、ランプが異常である」というような出力を行う。反
対に正常時は、切り替え手段1(15)をアナログ信号
処理手段16側に、切り替え手段2(30)は切り替え
手段3(31)側に、切り替え手段3(31)は切り替
え手段2(30)側に、切り替え手段4(32)はメモ
リー2(29)側にそれぞれ切り替えられる。同一場所
で再度テストパターンを読み込むように、移動手段1
4、駆動手段12を制御する。つぎに、テストパターン
を読み取り、CCD13の出力信号はアナログ信号処理
手段16にて処理を行い、切り替え手段2(30)、切
り替え手段3(31)を介し比較手段18に入力され、
メモリー2(29)のデータと比較される。メモリー2
(29)には、CCD13、アナログ信号処理手段16
が正常時のデータが格納されている。比較手段18の結
果により制御手段11で異常かどうか判断し、異常時は
「アナログ信号処理手段が異常である」というような出
力を行う。正常時は切り替え手段2(30)を出力側に
切り替える。
【0033】本実施形態によれば、故障個所がCCD1
3か又はアナログ信号処理手段16であるのかを別個に
判断できる。しかし、CCD13そのものに欠陥がある
場合には、アナログ信号処理手段16の良否を判断する
ために、CCD13の正常な画素のアドレス等を記憶し
ておき、この正常なアドレスにおけるアナログ信号処理
手段16を経由した画像信号の比較結果から、そのアド
レスの画像信号におけるアナログ信号処理手段16の該
当個所が正常であるのか否かを判断できる。従って、C
CD13の正常か否か、CCD13のどの画素に欠陥が
あるのかどうか等の判断は、第1及び第2の実施形態で
示した判断と同様に行うことができる。
3か又はアナログ信号処理手段16であるのかを別個に
判断できる。しかし、CCD13そのものに欠陥がある
場合には、アナログ信号処理手段16の良否を判断する
ために、CCD13の正常な画素のアドレス等を記憶し
ておき、この正常なアドレスにおけるアナログ信号処理
手段16を経由した画像信号の比較結果から、そのアド
レスの画像信号におけるアナログ信号処理手段16の該
当個所が正常であるのか否かを判断できる。従って、C
CD13の正常か否か、CCD13のどの画素に欠陥が
あるのかどうか等の判断は、第1及び第2の実施形態で
示した判断と同様に行うことができる。
【0034】(第4の実施形態)図8は複写機(コピー
機)等の画像形成装置の断面構成を示す図である。同図
において、リーダ部91の原稿給送装置101は、不図
示の原稿を最終ページから順に1枚ずつプラテンガラス
102上へ給送し、原稿の読み取り動作終了後、順次プ
ラテンガラス102上の原稿を排出するものである。
又、原稿がプラテンガラス102上に搬送されるとラン
プ103を点灯し、スキャナユニット104の移動を開
始させて、原稿を露光走査する。
機)等の画像形成装置の断面構成を示す図である。同図
において、リーダ部91の原稿給送装置101は、不図
示の原稿を最終ページから順に1枚ずつプラテンガラス
102上へ給送し、原稿の読み取り動作終了後、順次プ
ラテンガラス102上の原稿を排出するものである。
又、原稿がプラテンガラス102上に搬送されるとラン
プ103を点灯し、スキャナユニット104の移動を開
始させて、原稿を露光走査する。
【0035】この露光走査による原稿からの反射光は、
ミラー105,106,107、及びレンズ108によ
って、イメージセンサ(以下、CCDという)109へ
導かれる。このように、走査された原稿の画像は、CC
D109によって読み取られる。このCCD109から
出力される画像データは、所定の処理が施された後、プ
リンタ部92へ転送される。
ミラー105,106,107、及びレンズ108によ
って、イメージセンサ(以下、CCDという)109へ
導かれる。このように、走査された原稿の画像は、CC
D109によって読み取られる。このCCD109から
出力される画像データは、所定の処理が施された後、プ
リンタ部92へ転送される。
【0036】プリンタ部92のレーザドライバ221
は、レーザ発光部201を駆動し、リーダ部91から出
力された画像データに応じたレーザ光を、レーザ発光部
201にて発光させる。そして、このレーザ光は、回転
する感光ドラム202の表面に照射され、感光ドラム2
02には、これらのレーザ光に応じた潜像が形成され
る。
は、レーザ発光部201を駆動し、リーダ部91から出
力された画像データに応じたレーザ光を、レーザ発光部
201にて発光させる。そして、このレーザ光は、回転
する感光ドラム202の表面に照射され、感光ドラム2
02には、これらのレーザ光に応じた潜像が形成され
る。
【0037】この感光ドラム202の潜像の部分には、
現像機203によってトナー等の現像剤が付着される。
そして、レーザ光の照射開始と同期したタイミングで、
被転写紙を収納したカセット204及び被転写紙のサイ
ズの異なるカセット205のいずれかから被転写紙の記
録紙を給紙して、それを転写部206へ搬送し、感光ド
ラム202に付着された現像剤をこの被転写紙の記録紙
上に転写する。そこで、現像剤の乗った被転写紙の記録
紙は、定着部207に搬送され、定着部207での熱と
圧力により、現像剤は記録紙上に定着される。
現像機203によってトナー等の現像剤が付着される。
そして、レーザ光の照射開始と同期したタイミングで、
被転写紙を収納したカセット204及び被転写紙のサイ
ズの異なるカセット205のいずれかから被転写紙の記
録紙を給紙して、それを転写部206へ搬送し、感光ド
ラム202に付着された現像剤をこの被転写紙の記録紙
上に転写する。そこで、現像剤の乗った被転写紙の記録
紙は、定着部207に搬送され、定着部207での熱と
圧力により、現像剤は記録紙上に定着される。
【0038】定着部207を通過した記録紙は、排出ロ
ーラ208によって排出され、ソータ220は、排出さ
れた記録紙をそれぞれのビンに収納して記録紙の仕分け
を行う。なお、ソータ220は、仕分けが設定されてい
ない場合には、排出ローラ208まで記録紙を搬送した
後、排出ローラ208の回転方向を逆転させ、フラッパ
209によってそれを再給紙搬送路210へ導く。
ーラ208によって排出され、ソータ220は、排出さ
れた記録紙をそれぞれのビンに収納して記録紙の仕分け
を行う。なお、ソータ220は、仕分けが設定されてい
ない場合には、排出ローラ208まで記録紙を搬送した
後、排出ローラ208の回転方向を逆転させ、フラッパ
209によってそれを再給紙搬送路210へ導く。
【0039】多重記録が設定されている場合は、記録紙
を排出ローラ208まで搬送しないように、フラッパ2
09によって再給紙搬送路210へ導き、再給紙搬送路
210へ導かれた記録紙は、上述したタイミングと同じ
タイミングで転写部206へ給紙される。また、両面コ
ピーの場合には、機構的にフラッパ209を介して、感
光ドラム202に搬送される。
を排出ローラ208まで搬送しないように、フラッパ2
09によって再給紙搬送路210へ導き、再給紙搬送路
210へ導かれた記録紙は、上述したタイミングと同じ
タイミングで転写部206へ給紙される。また、両面コ
ピーの場合には、機構的にフラッパ209を介して、感
光ドラム202に搬送される。
【0040】図9は、リーダ部91の構成を示すブロッ
ク図である。同図に示すCCD109から出力された画
像データは、アナログ・デジタル変換/シェーディング
補正(A/D・SH)部110でアナログ/デジタル変
換が行われるとともに、シェーディング補正も行われ
る。このA/D・SH部110によって処理された画像
データは、画像処理部111及び画像補正部115を介
してプリンタ部92へ転送される。
ク図である。同図に示すCCD109から出力された画
像データは、アナログ・デジタル変換/シェーディング
補正(A/D・SH)部110でアナログ/デジタル変
換が行われるとともに、シェーディング補正も行われ
る。このA/D・SH部110によって処理された画像
データは、画像処理部111及び画像補正部115を介
してプリンタ部92へ転送される。
【0041】CPU112は、操作部114で設定され
た設定内容に応じて、画像処理部111を制御する。こ
の様なCPU112の制御プログラムは、記憶装置11
3に記憶されており、CPU112は、この記憶装置1
13のプログラムを参照し、そのプログラムに従って所
定の制御を行う。又、記憶装置113は、CPU112
の作業領域(ワーク)としても使われる。エラーレベル
判定部116は、CPU112の制御の下でエラー度合
いに従って画像補正部115の補正を行う。
た設定内容に応じて、画像処理部111を制御する。こ
の様なCPU112の制御プログラムは、記憶装置11
3に記憶されており、CPU112は、この記憶装置1
13のプログラムを参照し、そのプログラムに従って所
定の制御を行う。又、記憶装置113は、CPU112
の作業領域(ワーク)としても使われる。エラーレベル
判定部116は、CPU112の制御の下でエラー度合
いに従って画像補正部115の補正を行う。
【0042】以下、本実施形態に係る画像処理装置にお
ける画像処理の詳細を説明する。
ける画像処理の詳細を説明する。
【0043】図11は、ラインセンサとしてのCCD1
09上の画素欠陥部nの出力と隣接画素の関係を示して
おり、特に、n画素目の出力が入力光に対応してリニア
に増加して行く途中で、ある変化点を境に出力がリニア
な変化をしなくなるタイプの画素欠陥を示している。具
体的には、図11では、CCD109のn画素目以外の
他の画素は縦軸に暗部から最高輝度の明部の画素感度が
リニアに感受する例を示しているのに対し、n画素目は
暗部から所定の明るさまではリニアな感度特性を有する
が、それ以上の輝度の部分は飽和してしまうような特性
を有する例を示したものである。この場合、(1)n画
素目の画素出力レベルをn−1画素目とn+1画素目の
画素出力レベルの平均値として求める、(2)n画素目
のリニア領域の画素出力レベルはそのまま用い、リニア
領域を越える領域ではn−1画素目とn+1画素目との
画素出力の値から、または更にn画素目近傍の画素出力
の値から求めたりする。その場合、例えば、{(n−
1)+(n+1)}/2<nの場合には、nの画素出力
レベルをそのまま使用する、(3)ラインセンサ109
がカラーCCDのように複数ライン並んでいる場合に
は、同一画素の出力データを補正データの参照データと
して用い、欠陥画素の補正精度を向上する。尚、通常の
読み取り系における1画素の占める原稿領域は、例え
ば、縮小読み取り系で画像読み取り精度が400dpi
相当で62.5μm、600dpi相当で42.3μm
程度位のサイズに相当する。
09上の画素欠陥部nの出力と隣接画素の関係を示して
おり、特に、n画素目の出力が入力光に対応してリニア
に増加して行く途中で、ある変化点を境に出力がリニア
な変化をしなくなるタイプの画素欠陥を示している。具
体的には、図11では、CCD109のn画素目以外の
他の画素は縦軸に暗部から最高輝度の明部の画素感度が
リニアに感受する例を示しているのに対し、n画素目は
暗部から所定の明るさまではリニアな感度特性を有する
が、それ以上の輝度の部分は飽和してしまうような特性
を有する例を示したものである。この場合、(1)n画
素目の画素出力レベルをn−1画素目とn+1画素目の
画素出力レベルの平均値として求める、(2)n画素目
のリニア領域の画素出力レベルはそのまま用い、リニア
領域を越える領域ではn−1画素目とn+1画素目との
画素出力の値から、または更にn画素目近傍の画素出力
の値から求めたりする。その場合、例えば、{(n−
1)+(n+1)}/2<nの場合には、nの画素出力
レベルをそのまま使用する、(3)ラインセンサ109
がカラーCCDのように複数ライン並んでいる場合に
は、同一画素の出力データを補正データの参照データと
して用い、欠陥画素の補正精度を向上する。尚、通常の
読み取り系における1画素の占める原稿領域は、例え
ば、縮小読み取り系で画像読み取り精度が400dpi
相当で62.5μm、600dpi相当で42.3μm
程度位のサイズに相当する。
【0044】その為、特定画素のデータが完全に固定値
(0出力)の場合には、然るべき処置をしないと、図1
0(a)のにCCD109の両端部分に示すように、副
走査方向(読み取り系の原稿スキャン方向)に欠陥画素
によるすじが発生する。
(0出力)の場合には、然るべき処置をしないと、図1
0(a)のにCCD109の両端部分に示すように、副
走査方向(読み取り系の原稿スキャン方向)に欠陥画素
によるすじが発生する。
【0045】また、上述したような、出力が出てこない
完全な欠陥画素とは異なり、図10(b)に示す様な欠
陥を持ったセンサもある。即ち、図10(b)に示すよ
うに、リニアに濃度が変化する原稿を読み取った場合に
濃度が濃い部分、即ち、センサ入力光が少ないダーク側
の部分ではCCD出力がリニアに推移するが、濃度の薄
い部分、センサ入力光が多いハイライト側の部分では、
CCD出力がリニアな特性から外れる。或いは、変化点
以上の出力が得られないものがある。
完全な欠陥画素とは異なり、図10(b)に示す様な欠
陥を持ったセンサもある。即ち、図10(b)に示すよ
うに、リニアに濃度が変化する原稿を読み取った場合に
濃度が濃い部分、即ち、センサ入力光が少ないダーク側
の部分ではCCD出力がリニアに推移するが、濃度の薄
い部分、センサ入力光が多いハイライト側の部分では、
CCD出力がリニアな特性から外れる。或いは、変化点
以上の出力が得られないものがある。
【0046】この様な画素欠陥を持ったセンサも上述し
た完全欠陥画素を持ったセンサーと同様に補正し、実使
用上問題の無いレベルでの画像読み取りを実現する。
た完全欠陥画素を持ったセンサーと同様に補正し、実使
用上問題の無いレベルでの画像読み取りを実現する。
【0047】通常は欠陥画素を持ったCCDは、製造メ
ーカの出荷検査によってNG品として選別される。その
為、欠陥画素だけが原因で捨てられるセンサは少なくな
く、センサの歩留まりを悪くする一因となっている。そ
こで、無駄なセンサを少しでも減らし、欠陥画素を持っ
たセンサを有効に利用することによって、歩留まりの向
上とコストダウンを実現する。
ーカの出荷検査によってNG品として選別される。その
為、欠陥画素だけが原因で捨てられるセンサは少なくな
く、センサの歩留まりを悪くする一因となっている。そ
こで、無駄なセンサを少しでも減らし、欠陥画素を持っ
たセンサを有効に利用することによって、歩留まりの向
上とコストダウンを実現する。
【0048】CCD109はCCD駆動基板にセットさ
れた上で、図12のセンサ基板ユニット502に示す様
な、レンズ108と、CCD109と、及び図示しない
レンズ108とCCD109を固定する板金と、CCD
基板が一緒になった一つのユニットとして組み上げられ
る。
れた上で、図12のセンサ基板ユニット502に示す様
な、レンズ108と、CCD109と、及び図示しない
レンズ108とCCD109を固定する板金と、CCD
基板が一緒になった一つのユニットとして組み上げられ
る。
【0049】組み上げられたセンサ基板ユニット502
は、画像形成装置上にセットされ、光源103〜反射ミ
ラー105によって構成される光学ユニット501によ
って原稿をスキャンしながら画像の読み取りを行ってい
る。この様な構成で、欠陥画素を持ったセンサの補正を
行うためには、まず第一に欠陥画素の場所を検出する必
要がある。それには、図12の読み取り系上に図10
(a)に示すリニアチャート(解像度に見合った階段チ
ャート)を用い、欠陥画素検出モードによる設定を行
う。即ち、欠陥画素の状態が、全く出力の出ないタイプ
であるのか、暗部から高輝度までの途中から、或いは途
中まで出力のリニアリティが得られないのかを判別する
と同時に、全画素中のどの画素が欠陥であるかを、検出
モードの結果から記憶し、原稿から読み取った画素出力
を読み取り時の補正に用いる。
は、画像形成装置上にセットされ、光源103〜反射ミ
ラー105によって構成される光学ユニット501によ
って原稿をスキャンしながら画像の読み取りを行ってい
る。この様な構成で、欠陥画素を持ったセンサの補正を
行うためには、まず第一に欠陥画素の場所を検出する必
要がある。それには、図12の読み取り系上に図10
(a)に示すリニアチャート(解像度に見合った階段チ
ャート)を用い、欠陥画素検出モードによる設定を行
う。即ち、欠陥画素の状態が、全く出力の出ないタイプ
であるのか、暗部から高輝度までの途中から、或いは途
中まで出力のリニアリティが得られないのかを判別する
と同時に、全画素中のどの画素が欠陥であるかを、検出
モードの結果から記憶し、原稿から読み取った画素出力
を読み取り時の補正に用いる。
【0050】欠陥画素検出のフローチャートは図13に
示す通りである。通常、平均化処理によって求められ
た、シェーディング調整によって黒レベルから白レベル
までの読み取りレベルが調整されている読み取り系を用
い、601の原稿(リニアチャート)スキャンによって
原稿を読み取る。この時読み取られたデーターは、例え
ば、図13右図の様な一覧表の様に一旦図9に示す記憶
装置113に記憶される。記憶されたデータはエラーレ
ベル判定手段116によって欠陥画素の特定と欠陥の種
類が判別される(602)。
示す通りである。通常、平均化処理によって求められ
た、シェーディング調整によって黒レベルから白レベル
までの読み取りレベルが調整されている読み取り系を用
い、601の原稿(リニアチャート)スキャンによって
原稿を読み取る。この時読み取られたデーターは、例え
ば、図13右図の様な一覧表の様に一旦図9に示す記憶
装置113に記憶される。記憶されたデータはエラーレ
ベル判定手段116によって欠陥画素の特定と欠陥の種
類が判別される(602)。
【0051】例えば、図13右図の様なデータではn画
素目のdata13からのデータ13〜16がリニア特
性から外れていることが判別される。この判別手段とし
ては同一画素内の出力がシェーディング調整時に求めら
れる受光量と出力値から算出される傾きから所定のレベ
ル以上ズレた場合に判別される。このシェーディング調
整時に求められる受光量とは、一定原稿を読み取って画
素ごとのばらつきを補正したり、黒から白色までの原稿
を読み取って輝度に対する画像出力のリニアリティを補
正するシェーディング補正用の基準データを記憶装置に
格納した受光量の画像データをいう。こうして、異常画
素を特定する(603)とともに、画素欠陥のタイプを
判別し(604)、さらに、欠陥画素毎の補正方法を決
定する(605)。
素目のdata13からのデータ13〜16がリニア特
性から外れていることが判別される。この判別手段とし
ては同一画素内の出力がシェーディング調整時に求めら
れる受光量と出力値から算出される傾きから所定のレベ
ル以上ズレた場合に判別される。このシェーディング調
整時に求められる受光量とは、一定原稿を読み取って画
素ごとのばらつきを補正したり、黒から白色までの原稿
を読み取って輝度に対する画像出力のリニアリティを補
正するシェーディング補正用の基準データを記憶装置に
格納した受光量の画像データをいう。こうして、異常画
素を特定する(603)とともに、画素欠陥のタイプを
判別し(604)、さらに、欠陥画素毎の補正方法を決
定する(605)。
【0052】この場合の補正値は、傾きがズレる読み取
りレベルから、その欠陥画素の前後に配置された正常画
素のデータの平均値に切り替えることによって行う。
りレベルから、その欠陥画素の前後に配置された正常画
素のデータの平均値に切り替えることによって行う。
【0053】又、画素が全く光に反応しない場合には、
傾きは∞となり、ある受光量からリニアな読み取り特性
を示す場合には前後の画素データのレベルを欠陥画素の
読み値として代用する。
傾きは∞となり、ある受光量からリニアな読み取り特性
を示す場合には前後の画素データのレベルを欠陥画素の
読み値として代用する。
【0054】更に、途中から出力がリニアに得られるよ
うな欠陥画素を持ったセンサの場合には、図13の受光
量に対する各画素のデータ値から読み取って判断するこ
ともできるが、出力の出始める入力レベルを前後の正常
画素の出力値から知ることができる。
うな欠陥画素を持ったセンサの場合には、図13の受光
量に対する各画素のデータ値から読み取って判断するこ
ともできるが、出力の出始める入力レベルを前後の正常
画素の出力値から知ることができる。
【0055】この場合には、欠陥画素の無出力データの
補正は困難であり、近隣画素のデータが欠陥画素と同じ
入力値であるという保証が無いために、無出力レベルで
は前後の画素の平均値を、リニア領域では読み取った値
に、欠陥画素検出モードで検出し、記録した変化点のデ
ータ(前後の画素の平均値)を加算し、一定の下駄をは
いたデータを真値として用いる。
補正は困難であり、近隣画素のデータが欠陥画素と同じ
入力値であるという保証が無いために、無出力レベルで
は前後の画素の平均値を、リニア領域では読み取った値
に、欠陥画素検出モードで検出し、記録した変化点のデ
ータ(前後の画素の平均値)を加算し、一定の下駄をは
いたデータを真値として用いる。
【0056】この場合分けを、図14に示す。図14
(a)はハイライト側でリニアリティが無い欠陥画素に
対する補正を示している。(b)はダーク側で感受性が
なくリニアリティが無い場合の補正を示し、所定の値t
より小さな読み値に関しては、前後の正常画素データを
参照してその平均値から求め、tを越える読み値に関し
ては、t+読み値によって値を求めている。(c)は全
く出力が出ない場合であり、前後の正常画素の値の平均
値、或いは前の画素の値をそのまま用いている。
(a)はハイライト側でリニアリティが無い欠陥画素に
対する補正を示している。(b)はダーク側で感受性が
なくリニアリティが無い場合の補正を示し、所定の値t
より小さな読み値に関しては、前後の正常画素データを
参照してその平均値から求め、tを越える読み値に関し
ては、t+読み値によって値を求めている。(c)は全
く出力が出ない場合であり、前後の正常画素の値の平均
値、或いは前の画素の値をそのまま用いている。
【0057】上述した、欠陥画素のデータ補正の構成
は、図15(a)に示す通りである。これは、図9に示
すように、CCD109で読み取られ、S/H・A/D
110を介した読み取りデータが、通常どおり画像処理
部111に送られてくると、画素データ参照部801に
入り、CPU112、及び記憶装置113によって欠陥
画素を検出し、かつ、その欠陥の具合を保存する。記憶
装置113に保存された欠陥の種類と、欠陥画素の前後
の正常画素との読み取り値の差は同様に記憶され、通常
のコピー動作の度にデータ補正部802で参照され、デ
ータが補正される。時間補正部803は、データ補正部
802に掛かる時間だけデータのタイミング調整を行う
部分である。補正されたデータとその他の正常なデータ
はデータ切り替え部804で正常なデータはそのまま、
補正されたデータは補正データに置き換えられた後に、
プリンタ部へ送られ、画像が形成される。
は、図15(a)に示す通りである。これは、図9に示
すように、CCD109で読み取られ、S/H・A/D
110を介した読み取りデータが、通常どおり画像処理
部111に送られてくると、画素データ参照部801に
入り、CPU112、及び記憶装置113によって欠陥
画素を検出し、かつ、その欠陥の具合を保存する。記憶
装置113に保存された欠陥の種類と、欠陥画素の前後
の正常画素との読み取り値の差は同様に記憶され、通常
のコピー動作の度にデータ補正部802で参照され、デ
ータが補正される。時間補正部803は、データ補正部
802に掛かる時間だけデータのタイミング調整を行う
部分である。補正されたデータとその他の正常なデータ
はデータ切り替え部804で正常なデータはそのまま、
補正されたデータは補正データに置き換えられた後に、
プリンタ部へ送られ、画像が形成される。
【0058】又、このイメージは、図15(b)に示す
通りである。図によれば、画素データ参照部801から
正常な画素データと欠陥のある画素データとが出力さ
れ、時間補正部803で時間的に調整され、欠陥のある
画素データは近接した正常な画素データを用いて置き換
えられる補正データを生成し、データ切り替え部804
で正常な画素データはそのまま、欠陥のある画素データ
は補正データに置き換えられて、図15(b)に示すよ
うにCCD109の一連の出力画素データは全体的に正
常な画素データとして出力される。
通りである。図によれば、画素データ参照部801から
正常な画素データと欠陥のある画素データとが出力さ
れ、時間補正部803で時間的に調整され、欠陥のある
画素データは近接した正常な画素データを用いて置き換
えられる補正データを生成し、データ切り替え部804
で正常な画素データはそのまま、欠陥のある画素データ
は補正データに置き換えられて、図15(b)に示すよ
うにCCD109の一連の出力画素データは全体的に正
常な画素データとして出力される。
【0059】以上説明した様に、本実施形態によれば、
欠陥画素を持ったCCDを用いても、欠陥画素の影響に
よるスジがでない画像を形成できると同時に、出力信号
のリニアリティが途中から損なわれるような欠陥画素に
おいても、擬似的に滑らかに補正し、出力画像として十
分な画質を提供できる。
欠陥画素を持ったCCDを用いても、欠陥画素の影響に
よるスジがでない画像を形成できると同時に、出力信号
のリニアリティが途中から損なわれるような欠陥画素に
おいても、擬似的に滑らかに補正し、出力画像として十
分な画質を提供できる。
【0060】(第5の実施形態)第4の実施形態におい
て、1ラインのCCDラインセンサについて扱ったが、
3ラインのカラーCCDに於いても同様な処理が行え
る。但し、色を読み取る上でR,G,Bの各々の同一画
素データの読み取り値を比較しても参考にならないた
め、やはり、白黒のリニアチャート、もしくは、R,
G,B各々の濃度リニアチャートを読み取り、その画素
データから欠陥画素を検出し、欠陥内容を調べる。その
結果をR,G,Bによって形成される色空間に展開し、
R,G,Bのセンサの欠陥画素に相当する部分のデータ
と、注目画素の前後の画素データによって形成される色
空間上のポイントを比較し、データとして滑らかな推移
を行うデータへ補正する。尚、以下、例示を解りやすく
する為に、注目画素の前後の1画素として扱う例で示す
が、平均化処理の安定性を見て、注目画素の前後数画素
のデータを対象としても差し支えなく、かつ加重平均を
とっても構わない。
て、1ラインのCCDラインセンサについて扱ったが、
3ラインのカラーCCDに於いても同様な処理が行え
る。但し、色を読み取る上でR,G,Bの各々の同一画
素データの読み取り値を比較しても参考にならないた
め、やはり、白黒のリニアチャート、もしくは、R,
G,B各々の濃度リニアチャートを読み取り、その画素
データから欠陥画素を検出し、欠陥内容を調べる。その
結果をR,G,Bによって形成される色空間に展開し、
R,G,Bのセンサの欠陥画素に相当する部分のデータ
と、注目画素の前後の画素データによって形成される色
空間上のポイントを比較し、データとして滑らかな推移
を行うデータへ補正する。尚、以下、例示を解りやすく
する為に、注目画素の前後の1画素として扱う例で示す
が、平均化処理の安定性を見て、注目画素の前後数画素
のデータを対象としても差し支えなく、かつ加重平均を
とっても構わない。
【0061】尚、図16にカラーバランスによる補正イ
メージを示す。図16(a)は正常状態を示し、(b)
はBの出力異常時の色空間を示している。又、(c)は
補正された色空間の例である。図に示すように補正され
たデータは必ずしも真値と等しい訳ではないが、40〜
60μm程度のドットデータとしては十分に補正効果を
発揮する。
メージを示す。図16(a)は正常状態を示し、(b)
はBの出力異常時の色空間を示している。又、(c)は
補正された色空間の例である。図に示すように補正され
たデータは必ずしも真値と等しい訳ではないが、40〜
60μm程度のドットデータとしては十分に補正効果を
発揮する。
【0062】尚、カラーCCDを用いた補正方式の構成
の略図を図17に示す。ここで、1001〜1003は
各色R,G,Bの色フィルターを用いたCCDイメージ
センサからの各々の読み取りデータである。1005は
データの補正部であり、1004の色空間の形成部と1
13の記憶装置とから欠陥画素によって損なわれた色空
間データを補正し、プリンタへ補正データを送ってい
る。又、色空間を補正する際、R,G,Bの比率が重要
な役割を果たし、隣接画素の正常色のデータを元に、色
空間を併せ込む、欠陥画素データを算出する。
の略図を図17に示す。ここで、1001〜1003は
各色R,G,Bの色フィルターを用いたCCDイメージ
センサからの各々の読み取りデータである。1005は
データの補正部であり、1004の色空間の形成部と1
13の記憶装置とから欠陥画素によって損なわれた色空
間データを補正し、プリンタへ補正データを送ってい
る。又、色空間を補正する際、R,G,Bの比率が重要
な役割を果たし、隣接画素の正常色のデータを元に、色
空間を併せ込む、欠陥画素データを算出する。
【0063】
【発明の効果】本発明によれば、複写機の読み取り系
(CCD部、アナログ信号処理手段)の自己診断が可能
になる。特に、CCD部だけの故障か、アナログ信号処
理手段の故障かを分別して判断でき、しかもセルフチェ
ックが可能となる。
(CCD部、アナログ信号処理手段)の自己診断が可能
になる。特に、CCD部だけの故障か、アナログ信号処
理手段の故障かを分別して判断でき、しかもセルフチェ
ックが可能となる。
【0064】また、本発明によれば、欠陥画素を持った
CCDでも欠陥画素データを補正することによって、欠
陥画素による画像読み取り不良を低減することができ、
実用上問題の無いレベルでの画像形成を実現できる。
CCDでも欠陥画素データを補正することによって、欠
陥画素による画像読み取り不良を低減することができ、
実用上問題の無いレベルでの画像形成を実現できる。
【図1】本発明による実施形態の画像読み取り装置の概
略ブロック図である。
略ブロック図である。
【図2】本発明による実施形態の画像読み取り装置の概
略構成図である。
略構成図である。
【図3】本発明による実施形態の動作を説明するフロー
チャートである。
チャートである。
【図4】本発明による実施形態の動作を説明するフロー
チャートである。
チャートである。
【図5】本発明による実施形態の画像読み取り装置の概
略ブロック図である。
略ブロック図である。
【図6】本発明による実施形態の動作を説明するフロー
チャートである。
チャートである。
【図7】本発明による実施形態の画像読み取り装置の概
略ブロック図である。
略ブロック図である。
【図8】本発明による実施形態の画像形成装置の構成図
である。
である。
【図9】本発明による実施形態のリーダ部の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図10】本発明による実施形態の欠陥画素検出方法の
イメージ図である。
イメージ図である。
【図11】本発明による実施形態の欠陥画素データの補
正手法の例を示した図である。
正手法の例を示した図である。
【図12】本発明による実施形態のCCDユニットと原
稿読み取りの状態図である。
稿読み取りの状態図である。
【図13】本発明による実施形態の欠陥画素検出のフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図14】本発明による実施形態の欠陥画素の種類によ
る補正例を示した図である。
る補正例を示した図である。
【図15】本発明による実施形態の実際の欠陥画素の補
正処理のブロック図の一例である。
正処理のブロック図の一例である。
【図16】本発明による実施形態の色空間による欠陥画
素データの補正例を示した図である。
素データの補正例を示した図である。
【図17】本発明による実施形態のカラーセンサの欠陥
画素データの補正例を示すブロック図である。
画素データの補正例を示すブロック図である。
11 制御手段 12 駆動手段 13 CCD 14 移動手段 15 切り替え手段 16 アナログ信号処理手段 17 A/Dコンバーター 18 比較手段 19 メモリー 21 原稿台 22 白色板 23 光源 24,25,26 反射ミラー 27 読み取りユニット 28,29 テストパターン 30,31,32 切り替え手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大橋 一仁 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 太田 智市郎 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 亀井 正文 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 遅澤 憲良 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内
Claims (18)
- 【請求項1】 CCDにより画像を読み取る画像読み取
り装置において、 濃度が連続的に変化しているテストパターンと、前記テ
ストパターンを読み取ったテストパターン出力信号を記
憶する記憶手段と、前記テストパターンを読み取った前
記CCDの出力信号と前記テストパターン出力信号との
大小を比較する比較手段とを備えたことを特徴とする画
像読み取り装置。 - 【請求項2】 CCDにより画像を読み取る画像読み取
り装置において、 濃度が連続的に変化しているテストパターンと、前記C
CDの出力信号をデジタル信号に変換する変換手段と、
前記CCDの出力信号を正常な出力信号と不正常な出力
信号に切り替える切り替え手段と、前記切り替え手段を
制御する制御手段と、前記テストパターンを読み取った
テストパターン出力信号を記憶する記憶手段と、前記C
CDの不正常な出力信号と前記テストパターン出力信号
との大小を比較する比較手段とを備えたことを特徴とす
る画像読み取り装置。 - 【請求項3】 請求項2に記載の画像読み取り装置にお
いて、前記制御手段によって前記切り替え手段を切り替
え、前記CCDで前記テストパターンを読み込み、前記
テトパターンを前記変換手段によって変換されたデータ
と前記記憶手段に記憶されているデータを前記比較手段
により比較し、比較手段の結果によりCCDが正常かど
うか判断することを特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項4】 請求項2に記載の画像読み取り装置にお
いて、前記記憶手段のデータは、前記CCDが正常であ
る場合に前記テストパターンを読み込んだ前記CCDの
出力を前記変換手段によって変換したものであることを
特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項5】 請求項2に記載の画像読み取り装置にお
いて、前記制御手段は、前記比較手段の結果により前記
CCDが正常かどうかを判断し、異常である場合、異常
箇所が連続しているか、最初のデータから異常かを検出
することによって、どのようなモードによって異常とな
っているかを判断することを特徴とする画像読み取り装
置。 - 【請求項6】 CCDにより画像を読み取る画像読み取
り装置において、 濃度が連続的に変化しているテストパターンと、前記C
CDの出力信号の振幅の変化値をデジタル信号に処理す
る処理手段と、データを記憶する記憶手段と、前記処理
手段の出力データと前記記憶手段のデータの大小を比較
する比較手段と、前記処理手段の出力データを通常の出
力側と前記比較手段側に切り替える切り替え手段と、前
記切り替え手段を制御する制御手段と、前記制御手段に
よって前記切り替え手段を切り替え、前記CCDで前記
テストパターンを読み込んだ出力を前記処理手段によっ
て処理されたデータと前記記憶手段に記憶されているデ
ータとを前記比較手段により比較し、前記比較手段の結
果により前記CCDが正常かどうか判断することを特徴
とする画像読み取り装置。 - 【請求項7】 請求項6に記載の画像読み取り装置にお
いて、前記記憶手段のデータは、前記CCDが正常であ
る場合に、前記テストパターンを読み込んだ前記CCD
の出力を前記処理手段によって処理したものであること
を特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項8】 請求項6に記載の画像読み取り装置にお
いて、前記制御手段は、前記比較手段の結果により前記
CCDが正常かどうか、異常か、異常箇所が連続してい
るか、最初のデータから異常か、前記記憶手段のある2
点の特定箇所の基準データの差が対応する測定データと
等しいか、を検出することによって、どのようなモード
によって異常となっているかを判断することを特徴とす
る画像読み取り装置。 - 【請求項9】 画像を読み取るCCDとテストパターン
を有する画像読み取り装置において、 前記CCDの出力信号をデジタル信号に変換する変換手
段、前記CCDの出力を通常の出力側と前記変換手段側
に切り替える切り替え手段1と、前記CCDの出力信号
の振幅の変化値をデジタル信号に処理する処理手段と、
前記処理手段の出力を通常の出力側と切り替え手段3側
に切り替える切り替え手段2と、比較手段の入力の一方
を前記切り替え手段2側と前記変換手段側に切り替える
前記切り替え手段3と、データを記憶する記憶手段1及
び記憶手段2と、前記比較手段の入力の他方を前記記憶
手段1と前記記憶手段2に切り替える切り替え手段4
と、前記処理手段の出力データと前記記憶手段のデータ
の大小を比較する前記比較手段と、前記切り替え手段1
と前記切り替え手段2、前記切り替え手段3、前記切り
替え手段4とを制御する制御手段とを具備し、 前記制御手段によって前記切り替え手段1と前記切り替
え手段2、前記切り替え手段3、前記切り替え手段4と
を切り替え、前記CCDで前記テストパターンを読み込
んだ前記CCDの出力を前記変換手段によって変換され
たデータと前記記憶手段1に記憶されているデータ及び
前記CCDで前記テストパターンを読み込んだ前記CC
Dの出力を前記処理手段により処理されたデータと前記
記憶手段2に記憶されているデータとを前記比較手段に
よりそれぞれ比較し、前記比較手段の結果により前記C
CDが正常かどうか判断することを特徴とする画像読み
取り装置。 - 【請求項10】 請求項9に記載の画像読み取り装置に
おいて、前記記憶手段1のデータは前記CCDが正常で
ある場合に前記CCDで前記テストパターンを読み込ん
だ前記CCDの出力を前記変換手段によって変換したも
のであり、前記記憶手段2のデータは、前記CCDが正
常である場合に前記テストパターンを読み込んだ前記C
CDの出力を前記処理手段によって処理したものである
ことを特徴とする画像読み取り装置。 - 【請求項11】 請求項9に記載の画像読み取り装置に
おいて、前記制御手段は、前記比較手段の結果により前
記CCDが正常かどうか、前記各切り替え手段の切り替
え方法、前記CCDの異常箇所が連続しているか、最初
のデータから異常か、前記記憶手段のある2点の特定箇
所の基準データの差が対応する測定データと等しいかを
検出することによって、どのようなモードによって異常
となっているかを判断することを特徴とする画像読み取
り装置。 - 【請求項12】 入力光に対応した出力信号を生成する
光電変換デバイスを具備する画像形成装置において、 前記光電変換デバイスの構成画素の欠陥画素の前後の画
素を参照し、その参照データから前記欠陥画素の補正値
を求める補正手段を備えたことを特徴とする画像形成装
置。 - 【請求項13】 請求項12に記載した画像形成装置に
おいて、前記欠陥画素の検出手段として原稿濃度がリニ
アに変化するチャートの読み取り対象物を用い、その読
み取り信号から前記欠陥画素を検出すると同時に補正係
数を算出する手段を備えたことを特徴とする画像形成装
置。 - 【請求項14】 請求項12に記載した画像形成装置に
おいて、前記欠陥画素の検出手段として、特定濃度の対
象物を照射する光源側の照度を変化させる照度変化手段
と、前記欠陥画素の特定手段と、特定された前記欠陥画
素の出力のリニア出力範囲を正常な読み取り領域として
使用可能とするための信号増幅部を備えたことを特徴と
する画像形成装置。 - 【請求項15】 請求項12に記載した画像形成装置に
おいて、前記欠陥画素の補正手段として、前記画素欠陥
の内容が低照度での感度が低い前記光電変換デバイスで
あることを検出した場合、低感度領域のレベルによっ
て、予め設定された固定値と前記画素欠陥の隣接画素デ
ータから算出されたデータを選択できる選択手段を備え
たことを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項16】 入力光に対応した出力信号を生成する
光電変換デバイスを具備する画像形成装置において、 前記光電変換デバイスの欠陥画素の出力を補正する補正
手段として、他の色を読み取るセンサの同一画素データ
を参照する参照手段と、参照したデータから前記欠陥画
素の補正値を求める手段とを備えたことを特徴とする画
像形成装置。 - 【請求項17】 請求項16に記載した画像形成装置に
おいて、前記欠陥画素の検出手段として、読み取り対象
物として原稿の色濃度がリニアに変化するチャートを用
い、その読み取り信号から前記欠陥画素を有する前記光
電変換デバイスとその欠陥画素を特定することを特徴と
する画像形成装置。 - 【請求項18】 入力光に対応した出力信号を生成する
光電変換デバイスを備えた画像形成装置において、 前記光電変換デバイスの欠陥画素出力を補正する補正手
段として、前記欠陥画素の前後の画素と他の色を読み取
るセンサの同一画素データとを参照する参照手段と、参
照したデータから前記欠陥画素の補正値を求める補正値
特定手段とを備えたことを特徴とする画像形成装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9077380A JPH10276304A (ja) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | 画像読み取り装置と画像形成装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9077380A JPH10276304A (ja) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | 画像読み取り装置と画像形成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10276304A true JPH10276304A (ja) | 1998-10-13 |
Family
ID=13632294
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9077380A Pending JPH10276304A (ja) | 1997-03-28 | 1997-03-28 | 画像読み取り装置と画像形成装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH10276304A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007067475A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Seiko Epson Corp | 光電変換素子の検査方法、画像読み取り装置およびプログラム |
CN102202157A (zh) * | 2010-03-25 | 2011-09-28 | 三菱电机株式会社 | 图像读取装置 |
-
1997
- 1997-03-28 JP JP9077380A patent/JPH10276304A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007067475A (ja) * | 2005-08-29 | 2007-03-15 | Seiko Epson Corp | 光電変換素子の検査方法、画像読み取り装置およびプログラム |
CN102202157A (zh) * | 2010-03-25 | 2011-09-28 | 三菱电机株式会社 | 图像读取装置 |
JP2011205360A (ja) * | 2010-03-25 | 2011-10-13 | Mitsubishi Electric Corp | 画像読取装置 |
US8324551B2 (en) | 2010-03-25 | 2012-12-04 | Mitsubishi Electric Corporation | Image reader performing image correction at the pixel level |
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