KR100368739B1 - 틸트 검출장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 틸트센서를 설치하지 않고 기록매체에 조사되는 광빔의 축이 경사하는 각도를 검출하는 것이 가능한 틸트 검출장치를 제공하는 것에 관한 것으로, 광원로부터의 레이저광을 기록매체에 조사하고, 상기 기록매체로부터의 반사광에 근거하여 상기 기록매체에 조사된 조사광의 광축의 경사 방향을 검출하는 틸트 검출장치에 있어서, 정보트랙의 좌우방향에 대하여 2분할되고, 상기 반사광을 수광하는 검출기와, 상기 2분할된 광 검출기의 출력신호에 근거하여, 각자의 신호의 차분을 검출하는 비교회로와, 상기 2분할된 광 검출기의 총합으로부터 최대치를 검출하는 피크검출부와, 상기 피크검출부가 검출하는 최대치와 상기 광검출기로부터 출력신호의 총합의 차분을 구하는 오프셋부와, 상기 비교회로의 비교결과와 상기 오프셋부의 출력에 근거하여, 상기 경사 방향을 검출하는 반전회로를 포함하는 것을 특징으로 한다.

Description

틸트 검출장치{Tilt Detector}
본 발명은 광디스크 장치에 관한 것으로, 특히 기록매체에 조사된 광빔의 축이 경사지는 각도를 검출하는 틸트 검출장치에 관한 것이다.
광디스크 장치에 있어서, 정보를 정확하게 기록재생하기 위해서는 광원으로부터 출력된 레이저광이 광디스크의 기록면에 대하여 수직으로 조사될 필요가 있다. 그러나, 광디스크의 면에 휨이나 비뚤어짐 등이 있을 경우에 광디스크 면은 광원으로부터 출력된 광의 축에 대하여 경사(틸트)진다. 즉 광원으로부터 출력된 레이저광이 광디스크 면에 대하여 경사진 상태에서 조사된다. 광디스크 면이 경사져 있는 경우에 광디스크 기판내를 레이저광이 진행하는 거리가 장소에 의하여 변화되게 된다. 이 때문에, 빔 스플리터의 형상이 복잡하고, 재생신호가 정확하게 재생되지 못하는 등의 악영향을 미친다.
종래에 광원으로부터 출력되는 광의 축에 대하여 광디스크가 반경방향으로 경사(래디얼 방향)지는 양을 검출하는 경우에는 정보재생용 광빔과는 달리 틸트량을 검출하기 위한 광빔을 광디스크에 조사하여, 이 틸트량 검출용 광빔의 반사광을 반경방향에 대하여 수직방향으로 2분할된 수광부에 의하여 수광되고, 각 수광부로부터의 검출신호의 차이로부터 래디얼 틸트량을 검출하였다.
또한, 광원으로부터 나오는 광의 축에 대하여 광디스크가 원주방향에 경사(탄젠셜 틸트)지는 양을 검출하는 경우에는 상술된 틸트량 검출용 광빔의 반사광을원주방향에 대하여 수직방향으로 2분할된 수광부에 의하여 수광하고, 각 수광부로부터의 검출신호의 차이로부터 탄젠셜 틸트량을 검출하였다(이하, 틸트량 검출용 광빔을 나오게 하는 광 출력장치와 상기 2분할된 수광부를 묶어 틸트센서라 한다).
그러나, 상술한 방법에서는 픽업부에 있어서, 기록매체로부터 반사되는 광을 수광하고, 수광된 광신호에 근거하여 정보 재생신호를 출력하는 광검출기 이외에, 상술한 틸트센서를 설치할 필요가 있다. 이 때문에, 픽업부가 대형화되고 탑재성이 악화됨과 동시에 제조비용이 상승하는 문제점이 있다.
본 발명은 이와 같은 점을 감안하여 이루어진 것으로, 그 목적은 틸트센서를 설치하지 않고 기록매체에 조사된 광빔의 축이 경사지는 각도를 검출하는 것이 가능한 틸트 검출장치를 제공하는 것에 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 틸트 검출장치의 구성을 나타낸 개략적인 블록도,
도 2는 RF 진폭신호와 광디스크의 기울기량의 관계를 나타내는 도면,
도 3은 광디스크가 반경방향에 대하여 중심측이 하강하고 외주측이 상승하는 기울기에 있어서 광검출기의 수광면에 도달하는 광의 형상을 나타내는 도면,
도 4는 광디스크가 반경방향에 대하여 중심측이 상승하고 외주측이 하강하는 기울기에 있어서 광검출기의 수광면에 도달하는 광의 형상을 나타내는 도면,
도 5는 광디스크가 원주방향에 대하여 전방측이 상승하고 후방측이 하강하는 기울기에 있어서 광검출기의 수광면에 도달하는 광의 형상을 나타내는 도면,
도 6은 광디스크가 원주방향에 대하여 전방측이 하강하고 후방측이 상승하는 기울기에 있어서 광검출기의 수광면에 도달하는 광의 형상을 나타내는 도면,
♣ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ♣
10: 광검출기 12-1, 12-2, 12-3, 12-4, 20, 30: 로우패스필터(LPF)
13-1, 13-2: 비교기 21: 피크검출기
22: 오프셋부 23, 33: 반전회로
31: 피크검출부 32: 오프셋부
상기 과제를 해결하기 위하여 본 발명은, 광원로부터의 레이저광을 기록매체에 조사하고, 상기 기록매체로부터의 반사광에 근거하여 상기 기록매체에 조사된 조사광의 광축의 기울기 방향을 검출하는 틸트 검출장치에 있어서, 정보 트랙의 좌우방향에 대하여 2분할되고, 상기 반사광을 수광하는 검출기와, 상기 2분할된 광 검출기의 출력신호에 근거하여 각각의 신호의 차분을 검출하는 비교회로와, 상기 2분할된 광 검출기의 총합으로부터 최대치를 검출하는 피크 검출부와, 상기 피크검출부가 검출하는 최대치와 상기 광검출기로부터 출력신호의 총합의 차분을 구하는 오프셋부, 및 상기 비교회로의 비교결과와 상기 오프셋부의 출력에 근거하여 상기기울기 방향을 검출하는 반전회로를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 광원로부터의 레이저광을 기록매체에 조사하고, 상기 기록매체로부터의 반사광에 근거하여 상기 기록매체에 조사된 조사광의 광축의 기울기 방향을 검출하는 틸트 검출장치에 있어서, 정보 트랙의 전후방향에 대하여 2분할되고, 상기 반사광을 수광하는 검출기와, 상기 2분할된 광 검출기의 출력신호에 근거하여 각각의 신호의 차분을 검출하는 비교회로와, 상기 2분할된 광 검출기의 총합으로부터 최대치를 검출하는 피크 검출부와, 상기 피크검출부가 검출하는 최대치와 상기 광검출기로부터 출력신호의 총합의 차분을 구하는 오프셋부, 및 상기 비교회로의 비교결과와 상기 오프셋부의 출력에 근거하여 상기 기울기 방향을 검출하는 반전회로를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명은, 상기 광검출기는 동일한 검출기로 구성되는 것을 특징으로 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 일실시예에 관하여 설명한다. 도 1은 본 발명의 일실시예에 의한 틸트 검출장치의 구성을 나타내는 개략적인 블록도이다. 도 1에 있어서, (10)는 광원으로부터 나오는 광이 광디스크의 신호면에 조사되어 반사된 광을 수광하는 광검출기이다. 이 광검출기(10)는 4개의 수광부(10-A∼10-D)에 의하여 구성되어 있고, 각 수광부(10-A∼10-D)는 수광된 광량에 따라 검출결과를 출력한다. 각 수광부(10-A∼10-D)의 각 출력의 총합은 광디스크(5)의 기록정보의 신호로서 출력된다.
여기에서, 광원으로부터 나오는 광은 광디스크의 신호면에 조사되어 광디스크의 신호면에 의해 반사된다. 상기 신호면에 의하여 반사되는 광량은 신호면의피트의 유무에 의하여 변화하는 신호이고 피트성분(정보신호)이 포함된다. 따라서, 광디스크로부터의 반사광을 수광한 광검출기(10)의 출력신호는 고주파의 교류성분이고 피트성분이 포함된다. 상기 교류성분의 진폭(이하, RF진폭이라 함)은 광원으로부터 나온 광이 광디스크에 대하여 수직으로 조사되는 경우에, 광원으로부터 나온 광이 피트에 정확히 조사되기 때문에, 최대치 RFmax로 된다. 또한, 광디스크가 반경방향 내지 원주방향으로 경사진 상태에서 조사되는 경우에 광원으로부터 나온 광이 신호면의 피트에 수직으로 조사되지 않기 때문에, RF진폭은 작아진다. 이때의 RF진폭신호를 진폭 A라고 한다.
로우패스필터(LPF)(20)는 상기 각 수광부(10-A∼10-D)의 각 출력의 총합이 입력되고, 이 입력된 신호로부터 틸트성분을 나타내는 저역성분(RF신호의 envelope)을 추출하고, RF진폭신호의 진폭 A로서 피크검출부(21)로 출력한다.
피크검출부(21)는 로우패스필터(20)로부터 출력된 진폭 A의 최대치를 검출하고, 최대치 RFmax로서 일시적으로 기억한다. 또한, 피크검출부(21)는 상기 최대치 RFmax와 로우패스필터(20)로부터 출력된 진폭 A를 비교하고, 최대치 RFmax보다 진폭 A가 큰 경우에는 이 진폭 A를 최대치 RFmax로서 기억을 갱신하고, 한편, 최대치 RFmax보다 진폭 A가 작은 경우에는 기억되고 있는 최대치와 진폭 A를 오프셋부(22)로 출력한다.
오프셋부(22)는 피크검출부(21)로부터 출력된 진폭 A와 최대치 RFmax로부터 진폭차 B = 진폭 A － 최대치 RFmax인 식에 의하여, 진폭차 B를 산출한다. 이 식으로부터 알 수 있듯이 진폭차 B는 항상 부(－)의 값으로 출력된다.
반전회로(23)는 오프셋부(22)에 의하여 산출되는 진폭차 B와 비교기(13-1)로부터 출력된 부호를 비교하여 부호가 다른 경우는 진폭차 B의 부호를 반전하고, 래디얼 틸트신호로서 출력한다. 이 출력에 의하여, 광디스크의 반경방향의 중심측이 강하하고 외주측이 상승하는 경사방향과, 광디스크의 반경방향의 중심측이 상승하고 외주측이 강하하는 기울기 방향의 구별을 하는 것이 가능하고, 또한 이 경사진 양을 파악하는 것이 가능하다.
로우패스필터(30)는 상기 각 수광부(10-A∼10-D)의 각 출력의 총합이 입력되고 이 입력된 신호로부터 틸트성분을 추출하고, RF진폭신호의 진폭 A로서 피크검출부(31)로 출력한다.
피크검출부(31)는 로우패스필터(30)으로부터 출력된 진폭 A의 최대치를 검출하고, 최대치 RFmax로서 일시적으로 기억한다. 또한, 피크검출부(31)는 상기 최대치 RFmax와 로우패스필터(30)로부터 출력된 진폭 A를 비교하여 최대치 RFmax보다 진폭 A가 큰 경우에는 진폭 A를 최대치 RFmax로서 기억을 갱신하고, 한편, 최대치 RFmax보다 진폭 A가 작은 경우에는 기억되어 있는 최대치 RFmax와 진폭 A를 오프셋부(32)로 출력한다.
오프셋부(32)는 피크검출부(31)로부터 출력된 진폭 A와 최대치 RFmax로부터 진폭차 B = 진폭 A － 최대치 RFmax인 식에 의하여 진폭차 B를 산출한다. 상기 식으로부터 알 수 있듯이 진폭차 B는 항상 부의 값으로 출력된다.
반전회로(33)는 오프셋부(32)에 의하여 산출된 진폭차 B와 비교기(13-2)로부터 출력된 부호를 비교하고, 부호가 다른 경우에는 진폭차 B의 부호를 반전하고 ,탄젠셜 틸트신호로서 출력한다. 이 출력에 의하여, 광디스크의 원주방향의 전방 혹은 후방으로 경사지고 있는 방향과 이 기울기의 양을 파악하는 것이 가능하다.
또한, 수광부(10-A), 수광부(10-B)의 출력의 합이 로우패스필터(12-1)로 입력되고, 또한 수광부(10-C), 수광부(10-D)의 출력의 합이 로우패스필터(12-2)로 입력된다.
로우패스필터(12-1)는 입력된 수광부(10-A, 10-B)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하여 비교기(13-1)의 입력단자 E로 출력한다. 로우패스필터(12-2)는 입력된 수광부(10-C, 10-D)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하여, 비교기(13-1)의 입력단자 F로 출력한다. 비교기(13-1)는 입력단자 E와 입력단자 F의 입력을 비교하여 입력단자 E가 입력단자 F보다 큰 경우에는 부호 ＋를 출력하고, 입력단자 E가 입력단자 F보다 작은 경우에는 부호 －를 출력한다. 상기 비교기(13-1)로부터 출력되는 부호 ＋는 광디스크의 반경방향의 중심측이 강하하고 외주측이 상승하는 상태에 대응하고, 또한, 부호 －는 광디스크의 반경방향의 중심측이 상승하고 외주측이 강하하는 상태에 대응한다.
또한, 광검출기(10)에 있어서, 수광부(10-A)와 수광부(10-D)의 출력의 합이 로우패스필터(12-3)에 입력되고, 수광부(10-B)와 수광부(10-C)의 출력이 합이 로우패스필터(12-4)에 입력된다. 로우패스필터(12-3)는 입력된 수광부(10-A, 10-D)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고, 비교기(13-2)의 입력단자 H로 출력한다. 비교기(13-2)는 입력단자 G와 입력단자 H의 입력을 비교하여 입력단자 G가 입력단자 H보다 큰 경우 부호 ＋를 출력하고 입력단자 G가 입력단자 H보다 작을 경우에는 부호 －를 출력한다. 상기 비교기(13-2)로부터 출력된 부호 ＋는 광디스크가 회전하는 원주방향의 전방이 상승하고 후방이 하강하는 상태에 대응하고, 또한, 부호 －는 광디스크의 원주방향의 전방이 하강하고 후방이 상승하는 상태에 대응한다.
다음으로, 상기 구성에 의한 장치의 동작을 도 2를 이용하여 설명한다. 도 2는 RF 진폭신호와 광디스크의 기울기량의 관계를 나타내는 도면이다. 종축은 RF 진폭신호에 대응하고 있고, 또한 횡축의 －틸트는 광디스크의 반경방향의 중심측이 상승하고 외주측이 강하하는 상태를 나타내고 있으며, ＋틸트는 광디스크의 반경방향의 중심측이 강하하고 외주측이 상승하는 상태를 나타내고 있다.
먼저, 광원으로부터 나오는 광빔은 광디스크의 기록면에 조사되고, 이 기록면에 의하여 반사된다. 상기 기록면에 의하여 반사된 광은 광검출기(10)의 각 수광부(10-A∼10-D)에 조사된다.
각 수광부(10-A∼10-D)의 각 출력의 총합은 로우패스필터(20)에 입력되고, 로우패스필터(20)는 이 입력신호로부터 RF신호의 틸트성분을 추출하고, RF 진폭신호의 진폭 A로서 피크검출부(21)로 출력한다. 피크검출부(21)는 로우패스필터(20)로부터 출력되는 진폭 A의 최대치를 검출하고 최대치 RFmax(도 2의 점 P)로서 일시적으로 기억한다.
다음으로, 광디스크가 반경방향에 대하여 중심측이 강하하고 외주측이 상승하는 경사(＋틸트 방향의 기울기)가 발생하고, 광디스크의 기록면에 의하여 반사된 광이 광검출기(10)의 각 수광부(10-A∼10-D)의 출력의 총합을 로우패스필터(20)로출력한다. 또한, 광검출부(10) 중에서 수광부(10-A)와 수광부(10-B)의 출력의 합이 로우패스필터(12-1)에 입력되고 수광부(10-C)와 수광부(10-D)의 출력의 합이 로우패스필터(12-2)에 입력된다.
로우패스필터(20)는 광검출부(10)로부터 출력된 신호로부터 RF신호의 틸트성분을 추출하고, RF 진폭신호의 진폭(A)(점 S 및 점 S')으로서 피크검출부(21)로 출력한다. 피크검출부(21)는 로우패스필터(20)로부터 출력된 진폭 A와 기억되고 있는 최대치 RFmax를 비교한다. 최대치 RFmax보다 진폭 A가 큰 경우에 진폭 A를 최대치 RFmax(점 P)로서 기억을 갱신한다.
한편, 최대치 RFmax보다 진폭 A가 작은 경우 피크검출부(21)는 기억되어 있는 최대치 RFmax와 진폭 A를 오프셋부(22)로 출력한다. 오프셋 검출부(22)는 진폭 A와 최대치 RFmax로부터 진폭차 B(R-S 및 R'-S' 사이)를 산출하고 반전회로(23)로 출력한다.
또한, 로우패스필터(12-1)는 수광부(10-A와 10-B)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고, 비교기(13-1)의 입력단자 E로 출력한다. 로우패스필터(12-2)는 입력된 수광부(10-C와 10-D)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고, 비교기(13-1)의 입력단자 F로 출력한다. 그리고, 비교기(13-1)는 입력단자 E와 입력단자 F의 입력을 비교한다. 여기에서, 광디스크가 반경방향에 대하여 중심측이 강하하고 외주측이 상승하는 경사가 발생하는 경우에 있어서 광검출기(10)의 수광면에 도달하는 광의 형상은 도 3의 부호 (60)에서 변화하는 타원형이 된다. 따라서, 입력단자 F보다 입력단자 E쪽이 크기 때문에, 비교기(13-1)은 부호 ＋를 반전회로(23)로 출력한다.
반전회로(23)는 오프셋 검출부(22)로부터 출력되는 진폭차 B의 부호와 비교기(13-1)로부터 출력되는 부호 ＋를 비교한다. 진폭차 B는 부의 값으로 있기 때문에 부호는 －로 있고, 비교기(13-1)로부터 출력되는 부호는 ＋로 있다. 따라서, 진폭차 B의 부호와 비교기(13-1)로부터 출력되는 부호 ＋는 다르기 때문에, 반전회로(23)는 진폭차 B의 부호를 ＋로 반전(점 S")하고, 래디얼 틸트신호로서 출력한다. 이것에 의해, 광디스크의 반경방향의 중심측이 강하하고 외주측이 상승하는 경사의 방향과 기울기량을 파악하는 것이 가능하다.
다음으로, 광디스크가 반경방향에 대하여 중심측이 상승하고 외주측이 강하하는 경사(－틸트 방향의 기울기)가 발생하고, 광디스크의 기록면에 의하여 반사되는 광이 광검출기(10)의 각 수광부(10-A∼10-D)에 조사되는 경우에 광검출기(10)는 수광된 광에 따라 각 검출부(10-A∼10-D)의 출력의 총합을 로우패스필터(20)로 출력한다. 또한, 광검출부(10) 중에서 수광부(10-A)와 수광부(10-B)의 출력의 합이 로우패스필터(12-1)로 입력되고, 수광부(10-C)와 수광부(10-D)의 출력의 합이 로우패스필터(12-2)로 출력된다.
로우패스필터(20)는 광검출기(10)로부터 출력된 신호로부터 RF신호의 틸트성분을 추출하고, RF 진폭신호의 진폭 A(점 V 및 V')로서 피크검출부(21)로 출력한다. 피크검출부(21)는 로우패스필터(20)로부터 출력된 진폭 A와 기억되어 있는 최대치 RFmax를 비교한다. 최대치 RFmax보다 진폭 A가 큰 경우에는 진폭 A를 최대치 RFmax(점 P)로서 기억을 갱신한다.
한편, 최대치 RFmax보다 진폭 A가 작은 경우, 피크검출부(21)는 기억되어 있는 최대치 RFmax와 진폭 A를 오프셋부(22)로 출력한다. 오프셋 검출부(22)는 진폭 A와 최대치 RFmax로부터 진폭차 B(점 U 내지 V 간 및 점 U' 내지 V' 간)를 산출하여 반전회로(23)로 출력한다.
또한, 로우패스필터(12-1)는 수광부(10-A와 10-B)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고 비교기(13-1)의 입력단자 E로 출력한다. 로우패스필터(12-2)는 입력된 수광부(10-C, 10-D)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고 비교기(13-1)의 입력단자 F로 출력한다. 그리고, 비교기(13-1)는 입력단자 E와 입력단자 F의 입력을 비교한다. 여기에서, 광디스크가 반경방향에 대하여 중심측이 상승하고 외주측이 하강하는 경사가 발생하는 경우에 있어서, 광검출기(10)의 수광면에 도달하는 광의 형상은 도 4의 부호 (61)과 같이 변형되어 타원형이 된다. 따라서, 입력단자 E보다 입력단자 F 쪽이 크기 때문에, 비교기(13-1)는 부호 －를 반전회로(23)로 출력한다.
반전회로(23)는 오프셋 검출부(22)로부터 출력된 진폭차 B의 부호와 비교기(13-1)로부터 출력된 부호 ＋를 비교한다. 진폭차 B는 부의 값이기 때문에 부호는 －로 있고, 비교기(13-1)로부터 출력된 부호는 －이기 때문에 진폭차 B의 부호는 －인 채(점 V), 래디얼 틸트신호로서 출력한다. 이것에 의해, 광디스크의 반경방향의 중심측이 상승하고 외주측이 하강하는 기울기 방향과 그 기울기량을 파악하는 것이 가능하다.
상술한 바와 같이, 반전회로(23)로부터 출력된 래디얼 틸트신호를 틸트각을보정하는 틸트 보정기구로 입력하는 것에 의하여, 광검출기(10)에 대한 광디스크(5)의 반경방향에 대한 기울기의 보정을 행하는 것이 가능하게 된다.
다음으로, 광디스크가 원주방향에 대하여 전방측이 상승하고 후방측이 하강하는 기울기(＋틸트 방향의 기울기)가 발생하고, 광디스크의 기록면에 의하여 반사된 광이 광검출기(10)의 각 수광부(10-A∼10-D)의 출력의 총합을 로우패스필터(30)로 출력한다. 또한, 광검출부(10) 중에서 수광부(10-A)와 수광부(10-D)의 출력의 총합이 로우패스필터(12-3)로 입력되고 수광부(10-C)와 수광부(10-B)의 출력의 총합이 로우패스필터(12-4)로 출력된다.
로우패스필터(30)는 광검출기(10)로부터 출력된 신호로부터 RF신호의 틸트성분을 추출하고, RF진폭신호의 진폭 A(점 S 및 S')로서 피크검출부(31)로 출력한다. 피크검출부(31)는 로우패스필터(30)로부터 출력된 진폭 A와 기억되어 있는 최대치 RFmax를 비교한다. 최대치 RFmax보다 진폭 A가 큰 경우, 진폭 A를 최대치 RFmax(점 P)로서 기억을 갱신한다.
한편, 최대치 RFmax보다 진폭 A가 작은 경우, 피크검출부(31)는 기억되어 있는 최대치 RFmax와 진폭 A를 오프셋부(32)로 출력한다. 오프셋 검출부(32)는 진폭 A와 최대치 RFmax로부터 진폭차 B(점 R 내지 S 간 및 점 R' 내지 S' 간)를 산출하고 반전회로(33)로 출력한다.
또한, 로우패스필터(12-3)는 수광부(10-A와 10-D)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고, 비교기(13-2)의 입력단자 G로 출력한다. 로우패스필터(12-4)는 입력된 수광부(10-C와 10-B)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고,비교기(13-2)의 입력단자 H로 출력한다. 그리고, 비교기(13-2)는 입력단자 G와 입력단자 H의 입력을 비교한다. 여기에서, 광디스크가 원주방향에 대하여 전방측이 상승하고 후방측이 하강하는 기울기가 발생하는 경우에 있어서, 광검출기(10)의 수광면에 도달하는 광의 형상은 도 5의 부호 (62)와 같이 변형된 타원형이다. 따라서, 입력단자 H보다 입력단자 G 쪽이 크기 때문에, 비교기(13-2)는 부호 ＋를 반전회로(33)에 출력한다.
반전회로(33)는 오프셋 검출부(32)로부터 출력된 진폭차 B의 부호와 비교기(13-2)로부터 출력된 부호 ＋를 비교한다. 진폭차 B는 부의 값으로 있기 때문에, 부호는 －로 있고, 비교기(13-2)로부터 출력된 부호는 ＋로 있다. 따라서, 진폭차 B의 부호와 비교기(13-2)로부터 출력된 부호는 ＋는 다르기 때문에, 반전회로(33)는 진폭차 B의 부호를 ＋로 반전(점 S")하고 래디얼 틸트신호로서 출력한다. 이것에 의해, 광디스크의 반경방향의 중심측이 강하하고 외주측이 상승하는 기울기 방향과 이 기울기량을 파악하는 것이 가능하다.
다음으로, 광디스크가 원주방향에 대하여 전방측이 하강하고 후방측이 상승하는 기울기(＋틸트 방향의 기울기)가 발생하고 광디스크의 기록면에 의하여 반사된 광이 광검출기(10)의 각 수광부(10-A∼10-D)에 조사되는 경우에, 광검출기(10)는 수광된 광에 따르고, 각 검출부(10-A∼10-D)의 출력의 총합을 로우패스필터(30)로 출력한다. 또한, 광검출부(10) 중에서 수광부(10-A)와 수광부(10-D)의 출력의 합이 로우패스필터(12-3)로 입력되고 수광부(10-C)와 수광부(10-B)의 출력의 합이 로우패스필터(12-4)로 출력된다.
로우패스필터(30)는 광검출기(10)로부터 출력된 신호로부터 RF신호의 틸트성분을 추출하고, RF진폭신호의 진폭 A(점 V 및 V')로서 피크검출부(31)로 출력한다. 피크검출부(31)는 로우패스필터(30)로부터 출력된 진폭 A와 기억되어 있는 최대치 RFmax를 비교한다. 최대치 RFmax보다 진폭 A가 클 경우에는 진폭 A를 최대치 RFmax(점 P)로서 기억을 갱신한다.
한편, 최대치 RFmax보다 진폭 A가 작을 경우 피크검출부(31)는 기억되어 있는 최대치 RFmax와 진폭 A를 오프셋부(32)로 출력한다. 오프셋 검출부(32)는 진폭 A와 최대치 RFmax로부터 진폭 B(점 U 내지 V 간 및 점 U' 내지 V' 간)를 산출하고 반전회로(33)로 출력한다.
또한, 로우패스필터(12-3)는 수광부(10-A와 10-D)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고 비교기(13-2)의 입력단자 G로 출력한다. 로우패스필터(12-4)는 입력된 수광부(10-C, 10-B)의 출력전압의 합으로부터 틸트성분을 추출하고 비교기(13-2)의 입력단자 H로 출력한다. 그리고, 비교기(13-2)는 입력단자 G와 입력단자 H의 입력을 비교한다. 여기에서, 광디스크가 원주방향에 대하여 전방측이 상승하고 후방측이 하강하는 기울기가 발생하는 경우에 있어서 광검출기(10)의 수광면에 도달하는 광의 형상은 도 6의 부호 (63)와 같이 변형된 타원형이다. 따라서, 입력단자 G보다 입력단자 H 쪽이 크기 때문에 비교기(13-2)는 부호 －를 반전회로(33)로 출력한다.
반전회로(33)는 오프셋 검출부(32)로부터 출력된 진폭차 B의 부호와 비교기(13-2)로부터 출력된 부호 ＋를 비교한다. 진폭차 B는 부의 값이기 때문에부호는 －가 되고 비교기(13-2)로부터 출력된 부호는 －가 되기 때문에 진폭차 B의 부호는 －인 채(점 V), 탄젠셜 틸트신호로서 출력한다. 이것에 의해, 광디스크의 원주방향의 전방측이 하강하고, 원주측이 상승하는 기울기 방향과 그 기울기량을 파악하는 것이 가능하다.
상술한 바와 같이, 반전회로(33)로부터 출력된 탄젠셜 틸트신호를 틸트각을 보정하는 틸트 보정기구로 입력하는 것에 의하여, 광검출기(10)에 대한 광디스크(5)의 원주방향에 대한 기울기의 보정을 행하는 것이 가능하게 된다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 의하면 종래의 광검출기를 이용하여 기울기를 검출하는 것이 가능하기 때문에, 광검출기와 별도로 틸트센서를 설치할 필요가 없으며 생산비용의 증가를 억제하는 것이 가능하다.
또한, 본 발명에 따르면, 항상 광검출기에 대한 기억매체의 기울기를 검출하는 것이 가능하기 때문에, 피드백 억제에 적용할 수 있다.

Claims (3)

  1. 광원로부터의 레이저광을 기록매체에 조사하고, 상기 기록매체로부터의 반사광에 근거하여 상기 기록매체에 조사된 조사광의 광축의 기울기 방향을 검출하는 틸트 검출장치에 있어서,
    정보 트랙의 좌우방향에 대하여 2분할되고, 상기 반사광을 수광하는 검출기와,
    상기 2분할된 광 검출기의 출력신호에 근거하여 각각의 신호의 차분을 검출하는 비교회로와,
    상기 2분할된 광 검출기의 총합으로부터 최대치를 검출하는 피크 검출부와,
    상기 피크검출부가 검출하는 최대치와 상기 광검출기로부터 출력신호의 총합의 차분을 구하는 오프셋부, 및
    상기 비교회로의 비교결과와 상기 오프셋부의 출력에 근거하여 상기 기울기 방향을 검출하는 반전회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출장치.
  2. 광원로부터의 레이저광을 기록매체에 조사하고, 상기 기록매체로부터의 반사광에 근거하여 상기 기록매체에 조사된 조사광의 광축의 기울기 방향을 검출하는 틸트 검출장치에 있어서,
    정보 트랙의 전후방향에 대하여 2분할되고, 상기 반사광을 수광하는 검출기와,
    상기 2분할된 광 검출기의 출력신호에 근거하여 각각의 신호의 차분을 검출하는 비교회로와,
    상기 2분할된 광 검출기의 총합으로부터 최대치를 검출하는 피크 검출부와,
    상기 피크검출부가 검출하는 최대치와 상기 광검출기로부터 출력신호의 총합의 차분을 구하는 오프셋부, 및
    상기 비교회로의 비교결과와 상기 오프셋부의 출력에 근거하여 상기 기울기 방향을 검출하는 반전회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 틸트 검출장치.
  3. 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 광검출기는 동일한 검출기로 구성되는 것을 특징으로 하는 틸트 검출장치.
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