KR100289386B1 - 멀티 포트 에스램 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 리드 메모리 포트들의 드라이버 트랜지스터를 공통으로 사용하도록 한 멀티 포트 에스램에 관한 것이다.
이를 위해 본 발명은 외부로부터 인가되는 라이트워드라인드라이버의 출력신호에 따라, 라이트비트라인 및 라이트 비트바라인으로부터 데이터신호를 입력받아 래치하는 데이터래치부와, 상기 데이터래치부에 래치된 두 데이터신호에 의해 구동되어 각기 공통으로 전달시켜주는 구동부와, 상기 구동부를 통해 전달되는 두 데이터신호를 각기 공통으로 인가받아, 제1~4리드비트라인 및 제1~4리드비트라인으로 출력하는 제1~4포트로 구성된다.
Description
본 발명은 멀티 포트 에스램에 관한 것으로, 특히 리드 메모리 포트들의 드라이버 트랜지스터를 공통으로 사용하도록 한 멀티 포트 에스램에 관한 것이다.
종래의 멀티 포트 에스램은 제1도에 도시된 바와 같이, 외부로부터 인가되는 라이트워드라인드라이버(write word line driver)(미도시)의 출력신호(WWDDR)에 따라, 데이터를 래치하는 데이터래치부(10)와, 외부로부터 인가되는 리드워드라인드라이버(미도시)의 제1출력신호(RWDDR0)에 따라, 상기 데이터 래치부(10)의 데이터를 제1리드비트라인(RBL0) 및 제1리드비트바라인(RBBL0)으로 출력하는 제1포트(20)와, 외부로부터 인가되는 리드워드라인드라이버(미도시)의 제2출력신호(RWDDR1)에 따라, 상기 데이터 래치부(10)의 데이터를 제2리드비트라인(RBL1) 및 제2리드비트바라인(RBBL1)으로 출력하는 제2포트(30)와, 외부로부터 인가되는 리드워드라인드라이버의 제3출력신호(RWDDR2)에 따라, 상기 데이터 래치부(10)의 데이터를 제3리드비트라인(RBL2) 및 제3리드비트바라인(RBBL2)으로 출력하는 제3포트(40)와, 외부로부터 인가되는 리드워드라인드라이버(미도시)의 제4출력신호(RWDDR3)에 따라, 상기 데이터 래치부(10)의 데이터를 제4리드비트라인(RBL3) 및 제4리드비트바라인(RBBL3)으로 출력하는 제4포트(50)로 구성된다.
상기 데이터래치부(10)는 소스로는 전원전압(Vcc)이 인가되는 제1피모스트랜지스터(P1)및, 그 제1피모스트랜지스터(P1)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되는 제1엔모스트랜지스터(N1)로 이루어지는 제1씨모스인버터(12)및, 소스로는 전원전압(Vcc)이 인가되는 제2피모스트랜지스터(P2)및, 그 제2피모스트랜지스터(P2)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되는 제2엔모스트랜지스터(N2)로 이루어지는 제2씨모스인버터(14)와, 게이트로는 라이트워드라인드라이버의 출력신호(WWDDR)가 인가되고, 소스로는 상기 제1씨모스인버터(12)의 출력신호가 인가되며, 드레인은 라이트비트라인(WBL)에 연결되는 제3엔모스트랜지스터(N3)와, 게이트로는 라이트워드라인드라이버의 출력신호(WWDDR)가 인가되고, 소스로는 상기 제2씨모스인버터(14)의 출력신호가 인가되며, 드레인은 라이트비트바라인(WBBL)에 연결되는 제4엔모스트랜지스터(N4)로 구성된다.
이때, 상기 제3엔모스트랜지스터(N3) 및 제4엔모스트랜지스터(N4)는 라이트 억세스용 트랜지스터들이고, 상기 제1씨모스인버터(12)의 출력신호는 제2씨모스인버터(14)의 입력단으로 인가되고, 제2씨모스인버터(14)의 출력신호는 제1씨모스인버터(12)의 입력단으로 인가되도록 구성되어 래치 기능을 수행한다.
상기 제1포트(20)는 외부의 리드워드라인드라이버의 제1출력신호(RWDDR0)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제1리드비트라인(RBL0)에 연결되는 제5엔모스트랜지스터(N5)와, 그 제5엔모스트랜지스터(N5)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되며, 게이트로는 상기 제2씨모스인버터(14)의 출력신호가 인가되는 제6엔모스트랜지스터(N6)와, 상기 리드워드라인드라이버의 제1출력신호(RWDDR0)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제1리드비트바라인(RBBL0)에 연결되는 제7엔모스트랜지스터(N7)와, 그 제7엔모스트랜지스터(N7)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되며, 게이트로는 상기 제1씨모스인버터(12)의 출력신호가 인가되는 제8엔모스트랜지스터(N8)로 구성된다.
상기 제2포트는 외부의 리드워드라인드라이버(미도시)의 제2출력신호(RWDDR1)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제2리드비트라인(RBL1)에 연결되는 제9엔모스트랜지스터(N9)와, 그 제9엔모스트랜지스터(N9)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되고, 게이트로는 상기 제2씨모스인버터(14)의 출력신호가 인가되는 제10엔모스트랜지스터(N10)와, 상기 리드워드라인드라이버의 제2출력신호(RWDDR1)가 게이트로 인가되며, 드레인이 제2리드비트바라인(RBBL1)에 연결되는 제11엔모스트랜지스터(N11)와, 그 제11엔모스트랜지스터(N11)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되며, 게이트로는 상기 제1씨모스인버터(12)의 출력신호가 인가되는 제12엔모스트랜지스터(N12)로 구성된다.
상기 제3포트(40)는 외부의 리드워드라인드라이버의 제3출력신호(RWDDR2)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제3리드비트라인(RBL2)에 연결되는 제13엔모스트랜지스터(N13)와, 그 제13엔모스트랜지스터(N13)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되며, 게이트로는 상기 제2씨모스인버터(14)의 출력신호가 인가되는 제14엔모스트랜지스터(N14)와, 상기 리드워드라인드라이버의 제3출력신호(RWDDR2)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제3리드비트바라인(RBBL2)에 연결되는 제15엔모스트랜지스터(N15)와, 그 제15엔모스트랜지스터(N15)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되며, 게이트로는 상기 제1씨모스인버터(12)의 출력신호가 인가되는 제16엔모스트랜지스터(N16)로 구성된다.
제4포트(50)는 외부의 리드워드라인드라이버의 제4출력신호(RWDDR3)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제4리드비트라인(RBL3)에 연결되는 제17엔모스트랜지스터(N17)와, 그 제17엔모스트랜지스터(N17)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되며, 게이트로는 상기 제2씨모스인버터(14)의 출력신호가 인가되는 제18엔모스트랜지스터(N18)와, 상기 리드워드라인드라이버의 제4출력신호(RWDDR3)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제4리드비트바라인(RBBL3)에 연결되는 제19엔모스트랜지스터(N19)와, 그 제19엔모스트랜지스터(N19)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되며, 게이트로는 상기 제1씨모스인버터(12)의 출력신호가 인가되는 제20엔모스트랜지스터(N20)로 구성된다.
이때, 상기 제5, 제7, 제9, 제11, 제13, 제15, 제17, 제19 엔모스트랜지스터들(N5, N7, N9, N11, N13, N15, N17, N19)은 리드 억세스 기능을 수행하고 제6, 제8, 제10, 제12, 제14, 제16, 제18, 제20엔모스트랜지스터(N6, N8, N10, N12, N14, N16, N18, N20)는 그 리드 억세스 트랜지스터들을 드라이브 시키기 위한 드라이버 트랜지스터들이다.
이와같이 구성된 종래기술의 멀티 포트 에스램의 동작 및 작용을 제1도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 라이트(write)동작일 경우, 제2(a)도의 외부의 라이트워드라인드라이버의 출력신호(WWDDR)가 하이레벨이면 제3, 4엔모스트랜지스터(N3,N4)가 턴온되어, 라이트비트라인(WBL) 및 라이트비트바라인(WBBL)을 통해 입력되는 외부의 데이터가 제1, 2씨모스인버터(12,14)의 출력단으로 각각 전달된다.
즉, 예를 들어 제2(b)도 및 제2(c)도와 같이, 라이트비트라인(WBL)을 통해 입력되는 데이터신호가 하이레벨에서 로우레벨로 변화되고, 라이트비트바라인(WBBL)을 통해 입력되는 데이터신호가 로우레벨에서 하이레벨로 변화될 때, 제2(d)도 및 제2(e)도와같이, 그 데이터신호가 전달되는 제1,제 2씨모스인버터(12,14)의 출력단(제1, 제2노드 A,B)은 로우레벨 및 하이레벨로 각각 바뀌게 된다. 그리고, 그 제1,제 2씨모스인버터(12,14)는 래치기능을 수행하여 그 출력단들의 전압레벨을 로우레벨 및 하이레벨로 유지한다.
이어서, 리드(read)동작의 경우는 외부의 리드워드라인드라이버(미도시)의 출력신호(RWDDR0~REDDR3)가 하이레벨일 때 수행된다.
제3(a)도와 같이, 리드워드라인드라이버의 제1출력신호(RWDDR0)가 하이레벨로 입력되면 제1포트(20)가 리드동작을 수행하게 되는데, 상기 제1, 제2씨모스인버터(12,14)의 출력단(제1, 2노드(A,B))에 각각 로우레벨 및 하이레벨의 데이터신호가 있다면, 그 신호들에 의해 제1포트(20)의 제6엔모스트랜지스터(N6)는 턴온되고, 제8엔모스트랜지스터(N8)는 턴오프된다.
이에 따라 제3(d)도 및 제3(e)도에 도시된 바와 같이, 그 제6엔모스트랜지스터(N6) 및 제8엔모스트랜지스터(N8)의 출력에 의해 제3노드(C)는 로우레벨로 변화되고, 제4노드(D)는 하이레벨로 유지된다.
그 제3노드(C) 및 제4노드(D)의 신호는 리드 억세스 트랜지스터인 제5엔모스트랜지스터(N5) 및 제6엔모스트랜지스터(N6)를 통해 제3(f)도 및 제3(g)도에 도시된 바와 같이, 제1리드비트라인(RBL0) 및 제1리드비트바라인(RBBL0)으로 전달되고, 외부로 출력된다.
또한, 제2포트(30)~제4포트(50)의 동작은 외부의 리드워드라인드라이버의 제2~제4출력신호들(RWDDR1~RWDDR3)에 따라, 상기 제1포트(20)의 동작과 동일하게 수행된다.
그러나, 상기와 같이 동작하는 종래의 멀티 포트 에스램은 리드 동작시에는 억세스 트랜지스터들 마다 독립적인 드라이버 트랜지스터들을 갖게 되므로 메모리 셀의 면적이 커지고, 드라이버 트랜지스터들의 사이즈를 크게하지 못하므로 데이터의리드억세스 속도가 제한되는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명의 목적은 각각의 리드 메모리 포트의 드라이버 트랜지스터를 공통으로 사용하여, 트랜지스터들의 수를 줄일 수 있으며, 공통 드라이버 트랜지스터의 크기를 증가시켜 리드 억세스 속도를 향상시킬 수 있도록 한 멀티포트에스램을 제공하는데 있다.
이를 위해 본 발명은 외부로부터 인가되는 라이트워드라인드라이버의 출력신호에 따라, 라이트비트인 및 라이트 비트라인로부터 입력된 데이터신호를 입력받아 래치하는 데이터래치부와, 상기 데이터래치부에 래치된 두 데이터신호에 의해 구동되어 각기 공통으로 전달시켜 주는 구동부와, 상기 구동부를 통해 전달되는 두 데이터신호를 가기 공통으로 인가받아, 외부로부터 인가되는 리드워드라인드라이버의 제1∼4출력신호에 따라 제1∼4리드비트라인 및 제1∼4리드비트바라인으로 출력하는 제1∼4포트로 구성된다.
제1도는 종래기술의 멀티포트 에스램의 구성을 보인 회로도.
제2(a)도~제2(e)도는 제1도에 있어서, 라이트 동작일 때, 각 부에 대한 신호의 파형도.
제3(a)도~제3(g)도는 제1도에 있어서, 리드 동작일 때, 각 부에 대한 신호의 파형도.
제4도는 본 발명의 멀티 포트 에스램의 구성을 보인 회로도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
P31,P32 : 피모스트랜지스터 N31~N44 : 엔모스트랜지스터
100 : 데이터래치부 110 : 제1씨모스인버터
120 : 제2씨모스인버터 200 : 구동부
300 : 제1포트 400 : 제2포트
500 : 제3포트 600 : 제4포트
이하, 본 발명의 멀티 포트 에스램의 구성 및 동작에 대하여 상세히 설명하고자한다.
본 발명의 멀티 포트 에스램은 제4도에 도시된 바와 같이, 외부로부터 인가되는 라이트워드라인드라이버(미도시)의 출력신호(WWDDR)에 따라, 외부로부터 입력된 데이터 신호를 래치하는 데이터래치부(100)와, 상기 데이터래치부(100)의 데이터신호에 의해 구동되어 각각의 포트들에 공통으로 전달시켜 주는 구동부(200)와, 외부의 리드워드라인드라이버(미도시)의 제1출력신호(RWDDR0)에 따라, 상기 구동부(200)를 통해 입력되는 데이터신호를제1리드비트라인(RBL0) 및 제1리드비트바라인(RBBL0)으로 출력하는 제1포트(300)와, 외부의 리드워드라인드라이버의 제2출력신호(RWDDR1)에 따라, 상기 구동부(200)를 통해 입력되는 데이터신호를 제2리드비트라인(RBL1) 및 제2리드비트바라인(RBBL1)으로 출력하는 제2포트(400)와, 외부의 리드워드라인드라이버의 제3출력신호(RWDDR2)에 따라, 상기 구동부(200)를 통해 입력되는 데이터신호를제3리드비트라인(RBL2) 및 제3리드비트바라인(RBBL2)으로 출력하는 제3포트(500)와, 외부의 리드워드라인드라이버의 제4출력신호(RWDDR3)에 따라, 상기 구동부(200)를 통해 입력되는 데이터신호를 제4리드비트라인(RBL3) 및 제4리드비트바라인(RBBL3)으로 출력하는 제4포트(600)로 구성된다.
상기 데이터래치부(100)는 소스로는 전원전압(Vcc)이 인가되는 제1피모스트랜지스터(P31) 및 그 제1피모스트랜지스터(P31)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되는 제1엔모스트랜지스터(N31)로 이루어지는 제1씨모스인버터(110)와, 소스로는 전원전압(Vcc)이 인가되는 제2피모스트랜지스터(P32)및 그 제2피모스트랜지스터(P32)의 드레인에 드레인이 연결되고, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되는 제2엔모스트랜지스터(N32)로 이루어지는 제2씨모스인버터(120)와, 게이트로는 라이트워드라인드라이버의 출력신호(WWDDR)가 인가되고, 소스로는 상기 제1씨모스인버터(110)의 출력신호가 인가되며, 드레인은 라이트비트라인(WBL)에 연결되는 제3엔모스트랜지스터(N33)와, 게이트로는 라이트워드라인드라이버의 출력신호(WWDDR)가 인가되고, 소스로는 상기 제2씨모스인버터(120)의 출력신호가 인가되며, 드레인은 라이트비트바라인(WBBL)에 연결되는 제4엔모스트랜지스터(N34)로 구성된다.
이때, 상기 제3엔모스트랜지스터(N33) 및 제4엔모스트랜지스터(N34)는 라이트 억세스용 트랜지스터들이고, 상기 제1씨모스인버터(110)의 출력신호는 제2씨모스인버터(120)의 입력단으로 인가되고, 제2씨모스인버터(120)의 출력신호는 제1씨모스인버터(110)의 입력단으로 인가되도록 구성되어 래치 기능을 수행한다.
상기 제1포트(300)는 외부의 리드워드라인드라이버의 제1출력신호(RWDDR0)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제1리드비트라인(RBL0)에 연결된 제5엔모스트랜지스터(N35)와, 외부의 리드워드라인드라이버의 제1출력신호(RWDDR0)가 게이트로 인가되고, 드레인은 제1리드비트바라인(RBBL0)에 연결된 제6엔모스트랜지스터(N36)로 구성된다.
상기 제2포트(400)는 외부의 리드워드라인드라이버의 제2출력신호(RWDDR1)가 게이트로 인가되고, 드레인은 제2리드비트라인(RBL1)에 연결되는 제7엔모스트랜지스터(N37)와, 외부의 리드워드라인드라이버의 제2출력신호(REDDR1)가 게이트로 인가되고, 드레인은 제2리드비트바라인(RBBL1)에 연결된 제8엔모스트랜지스터(N38)로 구성된다.
상기 제3포트(500)는 외부의 리드워드라인드라이버의 제3출력신호(RWDDR2)가 게이트로 인가되고, 드레인이 제3리드비트라인(RBL2)에 연결된 제9엔모스트랜지스터(N39)와, 외부의 리드워드라인드라이버의 제3출력신호(RWDDR2)가 게이트로 인가되고, 드레인은 제3리드비트바라인(RBBL2)에 연결된 제10엔모스트랜지스터(N40)로 구성된다.
상기 제4포트(600)는 외부의 리드워드라인드라이버의 제4출력신호(RWDDR3)가 게이트로 인가되고, 드레인은 제4리드비트라인(RBL3)에 연결된 제11엔모스트랜지스터(N41)와, 외부의 리드워드라인드라이버의 제4출력신호(RWDDR3)가 게이트로 인가되고, 드레인은 제4리드비트바라인(RBBL3)에 연결된 제12엔모스트랜지스터(N42)로 구성된다.
상기 구동부(200)는 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되고, 게이트로는 제2씨모스인버터(120)의 출력신호가 인가되며, 드레인은 상기 각 포트들(300~600)의 제5,제7,9,제11엔모스트랜지스터(N35,N37,N39,N41)의 드레인에 공통으로 연결되는 제13엔모스트랜지스터(N43)와, 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되고, 게이트로는 제1씨모스인버터(110)의 출력신호가 인가되며, 드레인은 상기 각 포트(300~600)의 제6,제8,제10,제12엔모스트랜지스터들(N36,N38,N40,N42)의 드레인에 공통으로 연결되는 제14엔모스트랜지스터(N44)로 구성된다.
이와 같이 구성된 본 발명의 동작 및 작용에 대하여 첨부된 제4도를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
먼저, 라이트(write)동작일 경우, 외부의 라이트워드라인드라이버의 출력신호(WWDDR)가 하이레벨이면 제3, 제4엔모스트랜지스터들(N33,N34)이 턴온되어, 라이트비트라인(WBL) 및 라이트비트바라인(WBBL)을 통해 입력되는 외부의 데이터신호들이 데이터래치부(100)의 제1, 제2씨모스인버터(110,120)의 출력단으로 각각 전달되고, 그 데이터신호들은 래치 된다.
이어서, 리드(read)동작의 경우는 외부의 리드워드라인드라이버의 출력신호들(RWDDR0~RWDDR3)이 하이레벨일 때 수행된다.
리드워드라인드라이버의 제1출력신호(RWDDR0)가 하이레벨로 입력되면 제1포트(300)가 리드동작을 수행하게 된다. 이때, 상기 제1, 2씨모스인버터(110,120)의 출력단(제1,제2노드(E,F))에 각각 로우레벨 및 하이레벨의 데이터신호가 있다면, 그 신호들에 의해 구동부(200)의 제13엔모스트랜지스터(N43)는 턴온되고, 제14엔모스트랜지스터(N44)는 턴오프된다.
그 제13엔모스트랜지스터(N43) 및 제14엔모스트랜지스터(N44)의 출력에 의해 제3노드(G)는 로우레벨로 변화되고, 제4노드(H)는 하이레벨로 유지된다.
그 제3노드(G) 및 제4노드(H)의 신호들은 리드 억세스 트랜지스터인 제5엔모스트랜지스터(N35) 및 제6엔모스트랜지스터(N36)를 통해 제1리드비트라인(RBL0) 및 제1리드비트바라인(RBBL0)으로 전달되어, 외부로 출력된다.
또한, 제2포트(400)~제4포트(600)의 동작은 외부의 리드워드라인드라이버의 제2~제4출력신호(RWDDR1~RWDDR3)에 따라, 상기 제1포트(300)의 동작과 동일하게 수행된다.
따라서, 라이트(write)동작의 경우에는 종래와 동일하게 동작하고, 리드(read)동작의 경우에는, 하나의 구동부(200)가 각각의 제1~4포트들(300~600)에 공통으로 연결되어 데이터신호를 전달하고, 그 제1~4포트(300~600)는 외부의 리드워드라인드라이버의 출력신호(RWDDR0~RWDDR3)에 따라 데이터를 외부로 출력한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 드라이버 트랜지스터를 공통으로 사용함으로써 트랜지스터들의 수를 줄여 면적을 줄일 수 있고, 드라이버 트랜지스터의 크기를 크게할 수 있으므로 리드 억세스 타임을 빠르게 하는 효과가 있다.
Claims (2)
- 외부의 라이트워드라인드라이버의 출력신호(WWDDR)에 따라, 라이트비트라인(WBL) 및 라이트 비트라인(WBBL)으로부터 데이터신호를 입력받아 래치하는 데이터래치부(100)와, 상기 데이터래치부(100)에 래치된 두 데이터신호에 의해 구동되어 각기 공통으로 전달하는 구동부(200)와, 상기 구동부(200)를 통해 전달되는 두 데이터신호를 각기 공통으로 인가받아, 외부의 리드워드라인드라이버의 제1-제4출력신호(REDDR0-RWDDR3)에 따라 제1-제4리드비트라인(RBL0-RBL3) 및 제1-제4리드비트바라인(RBBL0-RBBL3)으로 각기 출력하는 제1-제4포트(300-600)로 구성된 것을 특징으로 하는 멀티포트에스램.
- 제1항에 있어서, 상기 구동부(200)는 소스로는 접지전압(Vss)이 인가되고, 게이트로는 상기 데이터 래치부(100)에 래치된 두 데이터신호가 각기 인가되어, 그의 드레인을 통해 상기 포트(300∼600)에 각기 공통으로 전달하는 엔모스트랜지스터(N3),(N44)로 구성된 것을 특징으로 하는 멀티포트에스램.
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US6343348B1 (en) * | 1998-12-03 | 2002-01-29 | Sun Microsystems, Inc. | Apparatus and method for optimizing die utilization and speed performance by register file splitting |
US7117342B2 (en) * | 1998-12-03 | 2006-10-03 | Sun Microsystems, Inc. | Implicitly derived register specifiers in a processor |
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US6301174B1 (en) * | 1999-12-23 | 2001-10-09 | Intel Corporation | Power conservation during memory read operations |
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US6538954B2 (en) * | 2000-07-10 | 2003-03-25 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Multi-port static random access memory equipped with a write control line |
JP2002197866A (ja) * | 2000-09-05 | 2002-07-12 | Seiko Epson Corp | 表示用ドライバic |
KR100380347B1 (ko) * | 2000-11-21 | 2003-04-11 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치 및 이 장치의 데이터 리드 방법 |
KR100421040B1 (ko) * | 2001-05-07 | 2004-03-03 | 삼성전자주식회사 | 제어할 수 있는 가상 공급 전원을 이용하여 소비전력 및데이터출력시간이 감소된 반도체 메모리 셀 |
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US6738306B2 (en) * | 2002-09-13 | 2004-05-18 | Lattice Semiconductor Corporation | SRAM cell with single-ended and differential read/write ports |
US20060112230A1 (en) * | 2004-11-24 | 2006-05-25 | Christian Sichert | Integrated memory device and memory module |
US7177177B2 (en) * | 2005-04-07 | 2007-02-13 | International Business Machines Corporation | Back-gate controlled read SRAM cell |
US7898894B2 (en) * | 2006-04-12 | 2011-03-01 | International Business Machines Corporation | Static random access memory (SRAM) cells |
KR100909805B1 (ko) * | 2006-09-21 | 2009-07-29 | 주식회사 하이닉스반도체 | 멀티포트 메모리 장치 |
US20080212392A1 (en) * | 2007-03-02 | 2008-09-04 | Infineon Technologies | Multiple port mugfet sram |
WO2011013298A1 (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-03 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | Sramセル |
US9384825B2 (en) | 2014-09-26 | 2016-07-05 | Qualcomm Incorporated | Multi-port memory circuits |
US9830976B1 (en) * | 2015-05-01 | 2017-11-28 | Marvell International Ltd. | Systems and methods for a high performance memory cell structure |
CN109861685B (zh) * | 2018-12-29 | 2022-11-18 | 宁波大学 | 一种利用三相双轨预充逻辑实现的全减器 |
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Family Cites Families (7)
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---|---|---|---|---|
EP0554489B1 (en) * | 1992-02-06 | 1999-12-01 | International Business Machines Corporation | Multi-port static random access memory with fast write-thru scheme |
US5696935A (en) * | 1992-07-16 | 1997-12-09 | Intel Corporation | Multiported cache and systems |
US5561638A (en) * | 1995-11-30 | 1996-10-01 | Northern Telecom Limited | Multi-port SRAM core array |
US5642325A (en) * | 1995-09-27 | 1997-06-24 | Philips Electronics North America Corporation | Register file read/write cell |
US5644547A (en) * | 1996-04-26 | 1997-07-01 | Sun Microsystems, Inc. | Multiport memory cell |
US5717638A (en) * | 1996-11-18 | 1998-02-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Multi-port memory cells and memory with parallel data initialization |
US5812469A (en) * | 1996-12-31 | 1998-09-22 | Logic Vision, Inc. | Method and apparatus for testing multi-port memory |
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