KR100286295B1 - 고밀도/저밀도겸용광디스크 - Google Patents

고밀도/저밀도겸용광디스크 Download PDF

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Abstract

본 발명은 광디스크 한매에 고밀도 광디스크인 고밀도 및 저밀도 기록부를 동시에 제작하는 고밀도/저밀도 겸용 디스크에 관한 것으로, 특히 저밀도 기록부와 고밀도 기록부의 두께차에 따라 하나의 디스크에 외주에는 두께 0.6t의 고밀도 신호 기록면을 형성하고, 디스크의 내측에는 1.2t의 저밀도 신호 기록면을 형성하여, 중심부는 저밀도 테스트를 하고, 외주부는 고밀도 테스트를 실행할 수 있어, 하나의 턴테이블과 스핀들 모터로 이루어진 픽업 평가장치에 의해 고밀도 및 저밀도 양쪽의 테스트를 빠른 시간내에 할 수 있도록 하였다.

Description

고밀도/저밀도 겸용 광디스크
제1도는 일반적인 저밀도 광디스크를 나타내는 측면도 및 평면도.
제2도는 일반적인 고밀도 광디스크를 나타내는 측면도 및 평면도.
제3도는 일반적인 디스크를 제작하는 공정을 나타낸 공정도.
제4도는 일반적인 디스크 제작공정중 본딩방법을 나타내는 설명도.
제5도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크를 나타내는 분해 단면도.
제6도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크를 나타내는 것으로,
제6(a)도는 상판을 나타내는 평면도.
제6(b)도는 하판을 나타내는 평면도.
제7도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크를 나타내는 결합단면도.
제8도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크의 변형예를 나타내는 분해단면도.
제9도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크의 다른 변형예를 나타내는 분해 단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
31, 41, 51 : 상판 32, 42, 52 : 하판
31a, 41a, 51a : 저밀도 기록면 32a, 42a, 52a : 고밀도 기록면
본 발명은 고밀도 신호 기록면과 저밀도 신호 기록면을 하나의 디스크에 포함하는 고밀도/저밀도 겸용 광디스크에 관한 것이다.
제1도 및 제2도는 종래의 고밀도 디스크 및 저밀도 디스크의 구조를 보인 것으로서, 통상적인 마스터링 및 사출성형 방법에 의해 제1도와 같은 두께 1.2mm, 지름 12cm의 저밀도 디스크(1), 예를들면 CD가 제작되어 지고, 같은 방법으로 제작된 0.6mm의 고밀도 디스크 2매가 본딩(bonding)되어 제2도와 같이 양면 고밀도 디스크(2), 예를 들면 DVD가 제작된다. 제1도와 제2(a)도 및 제2(b)도는 각각 디스크의 측면도 및 평면도를 보인 것이다.
도면중 미설명 부호 1a 및 2a는 디스크의 신호 기록면을 나타내고, 1b 및 2b는 중심홀을 나타낸다.
일반적인 디스크의 제작공정을 제3도를 참조로 간략하게 살펴보면, 유리기판에 포토레지스터를 입힌후 에칭을 하고, 그 에칭을 한 기판위에 니켈을 부어 스탬퍼(stamper)를 제작하는 마스터링(Mastering)(11)(11′) 공정을 한 다음, 상기 스템퍼 위에 플라스틱을 이용한 사출성형(Injection)(12)(12′)을 하여 반사층(Reflective Layer)(13)(13′)을 형성하고, 상기 반사층을 서로 본딩(Bonding)하여 디스크(15)를 제작하게 된다.
한편 제4도를 참조로 본딩방법을 살펴보면. 상부의 반투명층(21)과, 하부의 반사층(22)을 서로 붙이기 위해서 상기 반사층(22)의 상면에 일반적인 접착재료인 광중합 합성수지(23)를 바른다음 두 층을 서로 붙이게 된다.
광디스크 플레이어의 핵심부품인 광 픽업의 최종생산 공정에는 광픽업의 여러 파라미터를 측정, 평가하기 위한 평가공정이 필수적이고, 이를 위한 평가장치가 필요하게 된다. 따라서, 고밀도 및 저밀도 겸용 픽업의 경우, 픽업 생산공정에서 고밀도 디스크 및 저밀도 디스크 양쪽 모두의 평가를 필요로 하게 된다.
종래의 기술에 의한 평가공정을 살펴보면 다음과 같다.
평가장치의 턴테이블 및 스핀들 모터 2개를 별도로 설치해 광픽업이 양쪽 턴테이블을 오가며, 각 턴테이블에 장착된 시험용 고밀도 디스크 및 저밀도 디스크를 각각 재생해 평가를 하게 된다. 그러나, 이러한 경우 픽업의 이송등에 의한 생산시간이 길어지고 또한 별도의 평가장치를 설치해야 하므로 비용이 증가하고 기구부가 복잡해지는 문제점이 있다.
턴테이블 및 스핀들 모터 한개로 된 평가장치를 사용할 경우 시험용 저밀도 디스크를 장착해 테스트를 하고 난후 턴테이블을 정지시켜 다시 시험용 고밀도 디스크를 장착해 픽업을 평가해야 한다. 그러나, 이러한 경우 또한 회전하고 있는 턴테이블을 정지 시켜서 다시 디스크를 교체한후 작업을 해야 하므로 시간적인 손실이 커 생산 시간이 길어지고, 디스크 교체시 장착 각도등의 변동으로 인한 정밀도가 저하되는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명의 목적은 하나의 디스크에 고밀도 기록과 저밀도 기록을 겸할 수 있도록 한 고밀도/저밀도 겸용 디스크를 제공함에 있다.
이러한 본 발명의 목적은 저밀도 신호 기록면과 고밀도 신호 기록면을 하나의 디스크에 각각 층을 달리하여 형성함으로써 달성된다. 즉 저밀도 신호를 마스터링한 상판과, 고밀도 신호를 마스터링한 하판을 디스크 중심을 기준으로 본딩하여 형성한다.
상기 상판의 내주부에 저밀도 신호 기록면을 형성하고 상기 하판의 외주부에 고밀도 신호 기록면을 형성하거나, 또는 상기 상판의 외주부에 저밀도 신호 기록면을 형성하고 상기 하판의 내주부에 고밀도 신호기록면을 형성한 것을 특징으로 한다.
이하, 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 테스트용 디스크를 첨부도면에 도시한 실시예에 따라서 설명한다.
제5도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크를 나타내는 분해 단면도이고, 제6도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크를 나타내는 것으로 제6(a)도는 상판을 나타내는 평면도이며, 제6(b)도는 하판을 나타내는 평면도이고, 제7도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크를 나타내는 결합단면도이며, 제8도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크의 변형예를 나타내는 분해 단면도이고, 제9도는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크의 다른 변형예를 나타내는 분해 단면도를 각각 보인 것이다.
이에 도시한 바와 같이 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크는 저밀도 신호를 마스터링한 상판(31)과 고밀도 신호를 마스터링한 하판(32)을 디스크 중심을 기준으로 본딩한다.
상기 상판(31)의 내주부에 저밀도 신호 기록면(31a)을 형성하고, 상기 하판(32)의 외주부에 고밀도 신호 기록면(32a)을 형성한다.
도면중 미설명 부호 31b는 디스크의 중심홀을 나타낸다.
본 발명의 변형 예로는 상판(41)의 외주부에 저밀도 신호 기록면(41a)을 형성하고, 하판(42)의 내주부에 고밀도 신호 기록면(42a)을 형성한다.
본 발명의 다른 변형 예로는 상판(51)에 소정간격으로 저밀도 기록면(51a)을 형성하고, 하판(52)에 상판의 저밀도 신호 기록면(51a)과 어긋나게 고밀도 신호 기록면(52a)을 형성한다.
이와 같이 형성되는 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크를 좀더 상세히 설명하면 다음과 같다.
고밀도/저밀도 겸용 광디스크의 상판(31)은 중심부에 기판두께 1.2t의 저밀도 디스크 구조를 이루며 외주부에 두께 0.6t의 고밀도 디스크 구조로 제작하고, 하판(32)은 상기 상판부의 외주부와 일치하게 두께 0.6t의 고밀도 디스크 구조로 제작하여, 통상의 방법으로 본딩하면 제7도와 같은 고밀도/저밀도 시험용 디스크가 된다. 제7도의 화살표 방향에서 픽업으로 리드(read)할 경우 중심부는 두께 1.2t의 저밀도 테스트를 하게 되고, 외주부는 두께 0.6t 고밀도 테스트를 실행할 수 있도록 하였다. 상기의 구조에서 상판의 기록면은 전체를 저밀도로 테스트 신호를 통상의 방법으로 마스터링 한후, 상판 구조의 디스크 금형을 사출하여 제작하고, 하판의 기록면은 고밀도로 테스트 신호를 통상의 방법으로 마스터링하여 하판 구조의 디스크 금형을 제작 사출하면, 통상의 방법으로 제작할 수 있다. 한편 기록면의 경계부는 고밀도 및 저밀도 기록 부위가 경계되어 지는 부위로 시험용으로 사용시 제외하고 사용할 수 있다.
제8도 및 제9도와 같이, 본 발명의 변형예로 하판(42)의 내주부에 고밀도 신호면(42a)을 형성하고, 상판(41)의 외주부에 저밀도 신호면(41a)을 형성하거나, 일정간격을 두고 서로 어긋나게 고밀도 신호면(52a) 및 저밀도 신호면(51a)을 형성하여도 동일한 효과를 얻을 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 고밀도/저밀도 겸용 광디스크는 저밀도 신호 기록면과, 고밀도 신호 기록면을 하나의 디스크에 형성함으로써, 별도의 픽업 평가장치를 설치하거나, 픽업평가를 위해 시험용 디스크를 교체하는 작업을 배제시켜, 고밀도 디스크 및 저밀도 디스크의 양쪽 테스트를 빠른 시간내에 수행할 수 있도록 한 효과가 있다.

Claims (5)

  1. 저밀도 신호 기록면과 고밀도 신호 기록면을 하나의 디스크에 각각 층을 달리하여 형성한 것을 특징으로 하는 고밀도/저밀도 겸용 광디스크.
  2. 저밀도 신호를 마스터링한 상판과, 고밀도 신호를 마스터링한 하판을 디스크 중심을 기준으로 본딩한 것을 특징으로 하는 고밀도/저밀도 겸용 광디스크.
  3. 제2항에 있어서, 상기 상판의 내주부에 저밀도 신호 기록면을 형성하고, 상기 하판의 외주부에 고밀도 신호 기록면을 형성한 것을 특징으로 하는 고밀도/저밀도 겸용 광디스크.
  4. 제2항에 있어서, 상기 상판의 외주부에 저밀도 신호 기록면을 형성하고, 상기 하판의 내주부에 고밀도 신호 기록면을 형성한 것을 특징으로 하는 고밀도/저밀도 겸용 광디스크.
  5. 제2항에 있어서, 상기 상판에 소정간격으로 저밀도 기록면을 형성하고, 상기 하판에 상판의 저밀도 신호 기록면과 어긋나게 고밀도 신호 기록면을 형성한 것을 특징으로 하는 고밀도/저밀도 겸용 광디스크.
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