KR100264319B1 - 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치 - Google Patents

픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치 Download PDF

Info

Publication number
KR100264319B1
KR100264319B1 KR1019980007754A KR19980007754A KR100264319B1 KR 100264319 B1 KR100264319 B1 KR 100264319B1 KR 1019980007754 A KR1019980007754 A KR 1019980007754A KR 19980007754 A KR19980007754 A KR 19980007754A KR 100264319 B1 KR100264319 B1 KR 100264319B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
picker
piece
socket
base block
elevating
Prior art date
Application number
KR1019980007754A
Other languages
English (en)
Other versions
KR19990074278A (ko
Inventor
송기영
Original Assignee
정문술
미래산업주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 정문술, 미래산업주식회사 filed Critical 정문술
Priority to KR1019980007754A priority Critical patent/KR100264319B1/ko
Publication of KR19990074278A publication Critical patent/KR19990074278A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100264319B1 publication Critical patent/KR100264319B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416Connectors, terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441Details
    • G01R1/0466Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
    • G01R31/2867Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 생산 완료된 소자를 소켓내에 로딩 및 언로딩하기 위해 픽커가 테스트 소켓측으로 하강시 픽커와 테스트 소켓의 중심이 일치하도록 된 픽커와 테스트 소켓의 얼라인(Align)장치에 관한 것으로 픽커가 소켓의 수직방향으로 미세하게 불일치되므로 인한 소자의 미스로딩을 미연에 방지할 수 있도록 한 것이다.
이를 위해, 본 발명은 픽커(6)에 소자(2)를 흡착하기 위한 패드(8)를 설치하여 패드에 작용되는 진공압에 의해 소자(2)를 소켓(9)내에 로딩하거나, 언로딩하도록 된 흡착장치에 있어서, 픽커(6)에 지지편으로 고정되어 픽커와 함께 승,하강하는 베이스블럭(10)과, 상기 베이스블럭에 승강가능하게 설치되며 픽커의 하강에 따라 소켓(9)의 외주면에 접속되어 위치가 보정되는 승강편(12)과, 상기 베이스블럭에 좌,우 유동가능하게 끼워짐과 동시에 일단이 승강편에 고정되어 픽커(6)의 위치를 보정하여 주는 가이드핀(15)과, 상기 베이스블럭과 승강편사이에 설치되어 승강편을 하방으로 편의하는 탄성부재(13)와, 상기 픽커에 고정되어 픽커의 하강시 가이드핀에 끼워지는 부싱(17)으로 구성되어 있어 픽커(6)가 소켓(9)의 직상부로 이송된 상태에서 소켓(9)과 수직상태로 얼라인되어 있지 않더라도 픽커(6)에 흡착된 소자(2)를 소켓(9)내에 로딩시 이들이 수직방향으로 정확히 얼라인되므로 소자의 미스로딩을 미연에 방지하게 된다.

Description

픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치
본 발명은 생산 완료된 소자를 흡착하여 테스트 소켓내에 로딩 및 언로딩하는 픽커에 관한 것으로써, 좀 더 구체적으로는 소자의 로딩 및 언로딩을 위해 픽커가 테스트 소켓측으로 하강시 픽커와 테스트 소켓의 중심이 일치하도록 된 픽커와 테스트 소켓의 얼라인(Align)장치에 관한 것이다.
도 1은 일반적인 테스트 소켓의 구조를 나타낸 사시도이고 도 2는 도 1의 일부를 나타낸 종단면도로써, 상기한 구조의 소켓은 생산 완료된 소자의 전기적 특성을 검사할 때 소자와 테스터간의 전기적인 연결역할을 하게 된다.
그 구성을 살펴보면, 중심부에 소자(2)가 안착되는 캐비티(3)를 갖는 합성수지재의 하우징(1)과, 상기 하우징에 소자의 리드와 동일하게 고정되어 테스트시 소자와 전기적으로 접촉하는 콘택핀(4)과, 상기 콘택핀의 상측에 설치되어 하방으로 눌림에 따라 콘택핀을 캐비티의 외측으로 변형시켜 캐비티내에 소자를 로딩하거나, 테스트완료된 소자를 언로딩할 수 있도록 하는 누름편(5)으로 구성되어 있는데, 상기 누름편(5)에 외력이 작용되지 않으면 콘택핀(4)은 고리부(4a)의 탄성력에 의해 원상태를 유지하게 된다.
도 3은 상기한 바와 같은 구조를 갖는 소켓(9)내에 소자(2)를 로딩하여 전기적인 테스트를 실시한 다음 언로딩하는 장치를 개략적으로 나타낸 것이다.
따라서 캐비티(3)내에 전기적인 테스트를 실시하기 위해 소자(2)를 로딩하기 위해서는 픽커(6)가 고객 트레이(생산 완료된 소자가 담겨지는 트레이)가 위치된 버퍼측으로 이송되어 소자를 흡착하여 상승한 다음 이송수단에 의해 수평이송되어 소켓(9)의 직상부에서 멈추게 된다.
이와 같이 픽커(6)가 소켓(9)의 직상부로 이송되어 정지되고 나면 픽커가 하강하게 되므로 픽커에 고정된 푸셔(7)가 누름편(5)의 상면에 접속된다.
이러한 상태에서 픽커(6)가 더욱 하강하면 누름편(5)이 푸셔(7)에 의해 눌리게 되므로 콘택핀(4)이 고리부(4a)를 변형시키면서 캐비티(3)의 외측으로 벌어지게 되고, 이에 따라 픽커(6)의 패드(8)에 흡착되었던 소자(2)가 캐비티(3)내에 위치된다.
그 후, 패드(8)에 작용되던 진공압을 해제하고 픽커(6)가 상사점 위치로 상승하면 푸셔(7)에 의해 눌려 있던 누름편(5)이 콘택핀(4)의 복원력에 의해 상승하게 되므로 콘택핀(4)이 소자(2)의 리드(2a)와 접촉되므로 소자의 전기적인 성능 검사가 가능해지게 된다.
한편, 소켓(9)에 로딩되어 있던 소자(2)의 테스트가 완료되고 나면 소자를 흡착하지 않은 픽커(6)가 전술한 바와 같이 하강하여 콘택핀(4)을 캐비티(3)의 외측으로 변형시킨 다음 진공압에 의해 테스트 완료된 소자(2)를 흡착하여 언로딩하게 된다.
그러나 이러한 종래의 장치는 픽커(6)를 소켓(9)에 수직방향으로 얼라인시키기 위한 수단이 구비되어 있지 않아 가공 및 조립정도 또는 장비의 마모정도에 따라 소켓(9)의 상부로 수평 이동된 픽커(6)가 소켓과의 수직방향으로 미세하게 불일치되는 경우가 빈번히 발생되어 소켓(9)의 캐비티(3)내에 로딩된 소자(2)의 정위치가 틀리게 되므로 리드 밴트(lead bent)가 발생되었거나, 픽커(6)에 의해 언로딩된 소자를 다른 소켓에 로딩시 로딩불량을 유발시키게 되는 문제점이 있었다.
본 발명은 종래의 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로써, 소자를 소켓의 캐비티내에 로딩하거나, 언로딩하는 픽커가 소켓의 수직방향으로 미세하게 불일치되게 이송되어 오더라도 소켓측으로 하강시 픽커의 위치를 소켓과 일치되도록 재정렬하여 소자의 로딩 및 언로딩에 따른 에러를 미연에 방지할 수 있도록 하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 형태에 따르면, 픽커에 소자를 흡착하기 위한 패드를 설치하여 패드에 작용되는 진공압에 의해 소자를 소켓내에 로딩하거나, 언로딩하도록 된 흡착장치에 있어서, 픽커에 지지편으로 고정되어 픽커와 함께 승,하강하는 베이스블럭과, 상기 베이스블럭에 승강가능하게 설치되며 픽커의 하강에 따라 소켓의 외주면에 접속되어 위치가 보정되는 승강편과, 상기 베이스블럭에 좌,우 유동가능하게 끼워짐과 동시에 일단이 승강편에 고정되어 픽커의 위치를 보정하여 주는 가이드핀과, 상기 베이스블럭과 승강편사이에 설치되어 승강편을 하방으로 편의하는 탄성부재와, 상기 픽커에 고정되어 픽커의 하강시 가이드핀에 끼워지는 부싱으로 구성된 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치가 제공된다.
도 1은 일반적인 테스트 소켓의 구조를 나타낸 사시도
도 2는 도 1의 일부를 나타낸 종단면도
도 3은 종래의 장치를 나타낸 개략도
도 4a 및 도 4c는 본 발명을 설명하기 위한 종단면도로써,
도 4a는 소자가 테스트 소켓에 로딩되고 픽커가 테스트 소켓의 직상부에 위치된 상태도
도 4b는 픽커가 하강하여 소켓 푸셔가 소켓에 얼라인된 상태도
도 4c는 픽커가 하강하여 소켓 푸셔에 얼라인된 상태도
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
6 : 픽커 7 : 푸셔
8 : 패드 9 : 소켓
10 : 베이스블럭 12 : 승강편
14 : 가이드편 15 : 가이드핀
17 : 부싱
이하, 본 발명을 일 실시예로 도시한 도 4a 내지 도 4c를 참고하여 더욱 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 4a 및 도 4c는 본 발명을 설명하기 위한 종단면도로써, 본 발명은 픽커(6)에 베이스블럭(10)이 지지편(도시는 생략함)으로 고정되어 있어 픽커(6)의 승,하강에 따라 상기 베이스블럭(10)도 함께 승,하강하게 되고, 상기 베이스블럭(10)에는 픽커(6)의 하강에 따라 소켓(9)의 외주면에 접속되어 위치가 보정되는 승강편(12)이 코일스프링과 같은 탄성부재(13)에 의해 탄력 설치되어 있다.
상기 승강편(12)의 내주면에는 소켓(9)의 외주면과 접속되어 승강편의 위치를 보정하는 가이드편(14)이 형성되어 있는데, 상기 가이드편(14)의 내면에는 경사면(14a)이 상향 경사지게 형성되어 있다.
이는, 픽커(6)가 소켓(9)의 직상부에 정확히 위치하지 않더라도 픽커의 하강시 가이드편(14)에 형성된 경사면(14a)에 의해 승강편(12)의 위치가 보정되도록 하기 위함이다.
또한, 상기 베이스블럭(10)에 형성된 통공(10a)내에 픽커(9)의 위치를 보정하여 주는 가이드핀(15)이 좌,우 유동가능하게 끼워져 일단이 승강편(12)에 보울트(16)에 의해 고정되어 있고 상기 픽커(6)에는 하강시 가이드핀(15)에 끼워지는 부싱(17)이 고정되어 있는데, 상기 가이드핀(15)에는 승강편(12)이 베이스블럭(10)으로부터 이탈되지 않도록 베이스블럭(10)의 상면에 걸리는 걸림턱(15c)이 형성되어 있고 상기 걸림턱의 상측으로는 하방으로 갈수록 점진적으로 외경이 커지는 1,2차 가이드면(15a)(15b)이 형성되어 있다.
이와 같이 구성된 본 발명의 작용을 설명하면 다음과 같다.
편의상, 픽커(6)가 고객 트레이(도시는 생략함)로부터 1개의 소자(2)를 흡착한 다음 이송수단에 의해 소켓(9)의 직상부로 이송되어 흡착된 소자를 소켓(9)내에 로딩하는 과정을 설명하기로 한다.
로봇에 의해 픽커(6)가 가이드레일(도시는 생략함)을 따라 수평 이동되어 도 4a와 같이 소켓(15)과 수직되게 위치하면 승강수단에 의해 픽커(6)가 하강하게 된다.
이와 같이 픽커(6)가 하강하면 픽커의 하부에 지지편으로 매달린 베이스블럭(10)과 승강편(12)이 동시에 하강하여 상기 승강편(12)에 형성된 가이드편(14)이 소켓(9)의 외주면에 접속되면 상기 가이드편(14)의 경사면(14a)이 소켓의 외주면에 의해 안내된 상태로 하강하게 되므로 승강편(12)이 소켓(9)과 수직으로 위치되어 있지 않더라도 승강편의 위치가 소켓(9)에 의해 1차 보정됨과 동시에 승강편(12)의 저면이 누름편(5)의 상면과 접속된다.
즉, 소켓(9)의 외주면에 의해 승강편(12)의 위치가 1차 보정될 때 상기 승강편(12)에 고정된 가이드핀(15)이 베이스블럭(10)의 통공(10a)에 좌,우 이동가능하게 끼워져 있으므로 가능하다.
이러한 상태에서 픽커(6)가 더욱 하강하면 탄성부재(13)에 의해 탄력 설치된 베이스블럭(10)과의 간격이 좁아지게 됨과 동시에 누름편(5)이 눌리기 시작하므로 소자(2)의 리드(2a)와 접속되어 있던 콘택핀(4)이 캐비티(3)의 양측으로 벌어지게 된다.
상기한 바와 같은 동작으로 콘택핀(4)이 캐비티(3)의 외측으로 벌어진 상태에서 픽커(6)가 하사점까지 하강하면 상기 픽커에 고정된 부싱(17)이 소켓(9)과 수직방향으로 얼라인된 가이드핀(15)의 제 1 가이드면(15a)에 의해 안내되어 1차 보정된 다음 상기 제 1 가이드면보다 외경이 큰 제 2 가이드면(15b)에 의해 위치가 정확히 보정되므로 패드(8)에 흡착된 소자(2)가 캐비티내에 정확히 수용된다.
그 후, 패드(8)에 작용되던 진공압을 해제하면 패드에 흡착되어 있던 소자(2)가 캐비티(3)내에 수용된다.
상기한 바와 같은 동작으로 패드(8)에 흡착되어 있던 소자(2)가 캐비티(3)내에 수용되고 나면 하사점에 위치되어 있던 픽커(6)가 초기상태로 상승하게 되는데, 상기 픽커(6)가 상승하면 탄성부재(13)에 의해 베이스블럭(10)에 탄력 설치된 승강편(12)은 베이스블럭으로부터 하방으로 편의되는데, 상기 승강편(12)은 가이드핀(15)에 형성된 걸림턱(15c)이 베이스블럭(10)의 상면에 걸리므로 편의되는 양이 제어된다.
상기한 바와 같은 동작으로 생산 완료된 1개의 소자(2)를 소켓(9)내에 로딩하여 소자를 테스터(도시는 생략함)와 전기적으로 상호 통하여지도록 하고 나면 종래의 방법과 동일하게 소자의 전기적인 테스트가 가능해지게 된다.
본 발명의 일 실시예에서는 1개의 픽커(6)가 소자(2)를 흡착하여 소켓(9)내에 로딩하는 과정을 설명하였으나, 이송수단에 의해 복수개의 픽커(6)가 동시에 이동되도록 구성함과 동시에 소자(2)를 테스터와 전기적으로 연결시켜 주는 소켓(9)을 픽커의 수와 동일하게 설치하면 동시에 여러개의 소자를 테스트할 수 있게 됨은 이해 가능한 것이다.
이상에서와 같이 본 발명은 소자(2)를 흡착하고 있던 픽커(6)가 소켓(9)의 직상부로 이송된 상태에서 픽커(6)와 소켓(9)이 수직상태로 얼라인되어 있지 않더라도 픽커(6)에 흡착된 소자(2)를 소켓(9)내에 로딩하기 위해 픽커(6)가 하강할 때 승강편(12)에 의해 소켓(9)과 1차적으로 얼라인시킨 상태에서, 승강편(12)과 픽커(6)를 2차적으로 얼라인하여 결국 픽커(6)와 소켓(9)이 수직방향으로 정확히 얼라인되도록 하므로 소자의 미스로딩을 미연에 방지하게 되고, 이에 따라 소자(2)의 리드 밴트에 따른 로딩 에러(error)가 발생되지 않게 되므로 고가 장비의 가동률이 극대화된다.

Claims (5)

  1. 픽커에 소자를 흡착하기 위한 패드를 설치하여 패드에 작용되는 진공압에 의해 소자를 소켓내에 로딩하거나, 언로딩하도록 된 흡착장치에 있어서, 픽커에 지지편으로 고정되어 픽커와 함께 승,하강하는 베이스블럭과, 상기 베이스블럭에 승강가능하게 설치되며 픽커의 하강에 따라 소켓의 외주면에 접속되어 위치가 보정되는 승강편과, 상기 베이스블럭에 좌,우 유동가능하게 끼워짐과 동시에 일단이 승강편에 고정되어 픽커의 위치를 보정하여 주는 가이드핀과, 상기 베이스블럭과 승강편사이에 설치되어 승강편을 하방으로 편의하는 탄성부재와, 상기 픽커에 고정되어 픽커의 하강시 가이드핀에 끼워지는 부싱으로 구성된 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    승강편의 내주면에 소켓의 외주면과 접속되어 승강편의 위치를 보정하는 가이드편이 형성된 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    가이드편의 내면에 경사면이 형성된 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    베이스블럭으로부터 승강편이 이탈되지 않도록 가이드핀에 걸림턱이 형성되고 상기 가이드핀은 승강편에 보울트로 체결되어 고정된 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    가이드핀에 하방으로 갈수록 점진적으로 외경이 커지는 1,2차 가이드면이 형성된 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치.
KR1019980007754A 1998-03-09 1998-03-09 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치 KR100264319B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980007754A KR100264319B1 (ko) 1998-03-09 1998-03-09 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019980007754A KR100264319B1 (ko) 1998-03-09 1998-03-09 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR19990074278A KR19990074278A (ko) 1999-10-05
KR100264319B1 true KR100264319B1 (ko) 2000-08-16

Family

ID=19534464

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019980007754A KR100264319B1 (ko) 1998-03-09 1998-03-09 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100264319B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102548793B1 (ko) * 2016-08-22 2023-06-27 세메스 주식회사 반도체 소자 테스트 장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR19990074278A (ko) 1999-10-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20040107881A (ko) 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 안착장치
KR100702587B1 (ko) 슬라이드 래치부재가 구비된 인서트
US8926259B2 (en) Pick and place apparatus for electronic device inspection equipment
JP3940979B2 (ja) ソケットタイプのモジュールテスト装置
KR101762835B1 (ko) 검사장치
JP4045687B2 (ja) Icデバイスのテスト用キャリアボード
KR101841414B1 (ko) 반도체 테스트용 소켓 제조장치
KR100296759B1 (ko) 번인 테스터용 소팅 핸들러의 포킹 및 언포킹 픽커
JPH09178809A (ja) Icハンドラ
JP3280354B2 (ja) モジュールicハンドラー用キャリヤ
US8057151B2 (en) Foup door positioning device for foup opener
KR100264319B1 (ko) 픽커와 테스트 소켓의 얼라인장치
KR100297393B1 (ko) 번인 테스터 소팅 핸들러용 로딩 및 언로딩 픽커의 얼라인 장치
KR100273982B1 (ko) 테스트소켓내의소자로딩및언로딩장치
KR102450768B1 (ko) 디바이스 테스트용 핸들러
KR100267213B1 (ko) 캐리어모듈에 마이크로 비지에이(μBGA)타입의 소자를 로딩하여 소켓에 콘택하는 장치
CN115591813A (zh) 用于电子部件测试的分选机的中继装置及操作方法
TWI674411B (zh) 具定位功能之電子元件移載裝置、具備該裝置之檢測設備及其移載方法
KR20060062244A (ko) 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈
KR101362524B1 (ko) 전자 부품 수납 장치
KR200197286Y1 (ko) 테스트 핸들러의 컨택트 픽커 조립체
KR100278766B1 (ko) 마이크로비지에이(μBGA)타입소자용캐리어모듈
US20240071983A1 (en) Solder ball attaching apparatus
KR20000003128A (ko) 반도체 소자의 접촉위치 보정장치
KR20030016060A (ko) 모듈 아이씨 테스트 핸들러용 픽커

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20090507

Year of fee payment: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee