KR20060062244A - 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 - Google Patents
반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20060062244A KR20060062244A KR1020040101012A KR20040101012A KR20060062244A KR 20060062244 A KR20060062244 A KR 20060062244A KR 1020040101012 A KR1020040101012 A KR 1020040101012A KR 20040101012 A KR20040101012 A KR 20040101012A KR 20060062244 A KR20060062244 A KR 20060062244A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- latch
- carrier
- carrier module
- carrier body
- semiconductor device
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2865—Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices
- G01R31/2867—Handlers or transport devices, e.g. loaders, carriers, trays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
Description
Claims (11)
- 반도체 소자가 안착되는 포켓부가 형성된 캐리어 몸체와;상기 포켓부의 양측에 포켓부 상의 반도체 소자를 고정하는 제 1위치와 반도체 소자를 해제하는 제 2위치로 슬라이딩하도록 설치되며, 일면에 캠면이 경사지게 형성된 적어도 한 쌍의 랫치와;상기 캐리어 몸체의 외부에서 캐리어 몸체 쪽으로 이동가능하도록 캐리어 몸체와는 개별체로 설치되어, 상기 랫치의 캠면과 접촉하면서 랫치를 제 1위치에서 제 2위치로 이동시키는 외부 작동유닛을 포함하여 구성된 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항에 있어서, 상기 랫치에 제 1위치로 향하는 편향력을 발생시키는 탄성부재를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 2항에 있어서, 상기 탄성부재는 상기 캐리어 몸체에 대해 랫치를 탄성적으로 지지하는 스프링으로 이루어진 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 외부 작동유닛은 반도체 소자를 픽업하 여 포켓부에 장착시키는 픽커에 일체로 돌출되게 설치된 한 쌍의 프레스부로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 4항에 있어서, 상기 프레스부는 상기 랫치의 캠면과 상응하는 형태의 캠면을 구비한 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 외부 작동유닛은 캐리어 몸체의 외부에서 캐리어 몸체 쪽으로 이동가능하게 설치된 가동블록과, 상기 가동블록에 캐리어 몸체 쪽으로 돌출되게 형성되어 상기 랫치의 캠면과 접촉하는 적어도 한 쌍의 프레스부와, 캐리어 몸체의 외부에서 상기 가동블록을 이동시키는 구동유닛으로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 6항에 있어서, 상기 구동유닛은 그의 피스톤이 상기 가동블록에 결합되어 가동블록을 이동시키는 적어도 1개의 공압실린더와, 상기 가동블록의 이동을 안내하는 가이드부재로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 랫치가 제 1위치 및 제 2위치 중 적어도 어느 한 위치에서 정렬되도록 랫치의 이동을 제한하는 위치제한유닛을 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 8항에 있어서, 상기 위치제한유닛은, 상기 랫치의 이동방향을 따라 길게 형성된 장공형의 가이드홀과, 상기 가이드홀 내측에 삽입됨과 더불어 캐리어 몸체에 고정되는 적어도 1개의 스톱핀으로 구성된 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 랫치는 캐리어 몸체에 대해 수평하게 이동하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서, 상기 랫치는 캐리어 몸체에 대해 경사진 방향으로 이동하는 것을 특징으로 하는 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040101012A KR100610778B1 (ko) | 2004-12-03 | 2004-12-03 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020040101012A KR100610778B1 (ko) | 2004-12-03 | 2004-12-03 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060062244A true KR20060062244A (ko) | 2006-06-12 |
KR100610778B1 KR100610778B1 (ko) | 2006-08-09 |
Family
ID=37158440
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020040101012A KR100610778B1 (ko) | 2004-12-03 | 2004-12-03 | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100610778B1 (ko) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010009013A2 (en) * | 2008-07-14 | 2010-01-21 | Intest Corporation | Test head docking system and method |
KR101024973B1 (ko) * | 2006-10-25 | 2011-03-25 | 주식회사 오킨스전자 | 디바이스 케리어 |
KR101039744B1 (ko) * | 2006-12-30 | 2011-06-08 | (주)테크윙 | 테스트핸들러의 테스트트레이용 인서트모듈 및테스트핸들러 |
WO2012167242A2 (en) * | 2011-06-03 | 2012-12-06 | Texas Instruments Incorporated | Shuttle plate having pockets for accommodating multiple semiconductor package sizes |
CN110007212A (zh) * | 2017-12-28 | 2019-07-12 | 精工爱普生株式会社 | 电子部件输送装置及电子部件检查装置 |
KR102222140B1 (ko) * | 2020-05-07 | 2021-03-04 | 디플러스(주) | 제품 테스트 소켓 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20140111146A (ko) | 2013-03-08 | 2014-09-18 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 검사 장치 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3417528B2 (ja) * | 1996-04-05 | 2003-06-16 | 株式会社アドバンテスト | Ic試験装置 |
JP3920422B2 (ja) | 1997-10-03 | 2007-05-30 | 株式会社アドバンテスト | Icキャリア |
US6333858B1 (en) * | 1999-05-01 | 2001-12-25 | Mirae Corporation | Carrier module |
JP4279413B2 (ja) | 1999-07-16 | 2009-06-17 | 株式会社アドバンテスト | 電子部品試験装置用インサート |
KR100486412B1 (ko) * | 2000-10-18 | 2005-05-03 | (주)테크윙 | 테스트 핸들러의 테스트 트레이 인서트 |
-
2004
- 2004-12-03 KR KR1020040101012A patent/KR100610778B1/ko active IP Right Grant
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101024973B1 (ko) * | 2006-10-25 | 2011-03-25 | 주식회사 오킨스전자 | 디바이스 케리어 |
KR101039744B1 (ko) * | 2006-12-30 | 2011-06-08 | (주)테크윙 | 테스트핸들러의 테스트트레이용 인서트모듈 및테스트핸들러 |
WO2010009013A2 (en) * | 2008-07-14 | 2010-01-21 | Intest Corporation | Test head docking system and method |
WO2010009013A3 (en) * | 2008-07-14 | 2010-03-11 | Intest Corporation | Test head docking system and method |
CN102150055A (zh) * | 2008-07-14 | 2011-08-10 | Intest公司 | 测试头对接系统及方法 |
US8760182B2 (en) | 2008-07-14 | 2014-06-24 | Intest Corporation | Test head docking system and method with sliding linkage |
WO2012167242A2 (en) * | 2011-06-03 | 2012-12-06 | Texas Instruments Incorporated | Shuttle plate having pockets for accommodating multiple semiconductor package sizes |
WO2012167242A3 (en) * | 2011-06-03 | 2013-01-24 | Texas Instruments Incorporated | Shuttle plate having pockets for accommodating multiple semiconductor package sizes |
US8829939B2 (en) | 2011-06-03 | 2014-09-09 | Texas Instruments Incorporated | Shuttle plate having pockets for accomodating multiple semiconductor package sizes |
CN110007212A (zh) * | 2017-12-28 | 2019-07-12 | 精工爱普生株式会社 | 电子部件输送装置及电子部件检查装置 |
KR102222140B1 (ko) * | 2020-05-07 | 2021-03-04 | 디플러스(주) | 제품 테스트 소켓 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100610778B1 (ko) | 2006-08-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100748483B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 접속장치 | |
US7235991B2 (en) | Insert having independently movable latch mechanism for semiconductor package | |
JP2854276B2 (ja) | 半導体素子テスト用のトレーユニット | |
KR100682543B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR20070075756A (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러의 소자 접속장치 | |
TWI448703B (zh) | 電子部件測試設備用分選機及向裝載機構裝載電子部件之方法 | |
KR100792729B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR20120091921A (ko) | Led 칩 검사용 지그 유닛 | |
KR100792730B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR100610778B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR100707241B1 (ko) | 반도체 패키지 수납용 인서트 | |
US7568918B2 (en) | Socket for semiconductor device | |
JP7060661B2 (ja) | プレスヘッドロック機構及びプレスヘッドロック機構を有する電子部品検査装置 | |
KR100577756B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR100739475B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR20080004869A (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR20080015621A (ko) | 반도체 소자 테스트용 핸들러의 테스트 트레이 | |
KR100551993B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
US7165986B2 (en) | Socket for electrical parts | |
US6767236B2 (en) | Socket for electrical parts | |
KR100465372B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
KR20050009066A (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
US7556518B2 (en) | Burn-in socket having loading plate with uneven seating surface | |
KR100570200B1 (ko) | 반도체 소자 테스트 핸들러용 캐리어 모듈 | |
JP3942936B2 (ja) | 電気部品用ソケット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20120803 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130802 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140804 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150804 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160803 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170803 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180802 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190730 Year of fee payment: 14 |