KR0136791B1 - Dc바이어싱장치 - Google Patents

Abstract

내용 없슴

Description

D.C. 바이어싱 장치

제1도는 본 발명의 제1 실시에에 따른 D.C. 바이어스 인가 장치를 도시한 전기 회로도.

제2도는 본 발명의 제1 실시예의 외관을 도시한 사시도.

제3도는 본 발명의 제1 실시에에 따른 D.C. 바이어스 전류원의 최종단을 도시한 전기 회로도.

제4도는 본 발명의 원리를 설명하기 위한 전기 회로도.

제5도는 본 발명의 제2 실시예에 따른 전기 회로도.

제6도는 본 발명의 제3 실시예에 따른 전기 회로도.

제7도는 종래의 측정 방법을 도시한 전기 회로도.

제8도는 제7도 내에 도시한 종래의 실시예의 외관을 도시한 사시도.

제9도는 종래의 실시예의 문제점들을 설명하기 위한 케이블의 사시도.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명*

1, 41, 51, 71 : 임피던스 측정 장치 2, 42, 52, 72, 86 : 피측정 디바이스

3A, 3B, 43A, 43B, 53A, 53B : D.C. 바이어스 전원

4A, 4B, 6A, 6B, 6C, 6D, 54A, 54B, 88A, 88B, 93 : 동축 케이블

5, 7, 8, 55, 57, 58 : 도선 11 : A.C. 전원

12 : 전압계 13 : 전류계

15 : 0 전위 검출 증폭기 16 : 고정구

16H, 16L : 접촉부 31A, 31B : 파워-MOSFET

32A, 32B : 제어 전압 입력 단자 45, 57A, 57B, 57C, 57D : 가드선

46A, 46B, 46C, 46D, 56A, 56B, 56C, 56D : D.C. 차단 캐패시터

48a, 48b : 단자 60 : 보호 회로

63 : 제어 전원 74 : 인덕터

76 : 병렬 공진 회로 81 : 인덕턴스 측정 유니트

82 : D.C. 바이어스 전원 유니트 83 : 전원

84 : 측정 단자 85 : 프로버

91 : 실드선 93a : 코어 와이어

93b : 케이싱

본 발명은 임피던스 측정시의 D.C. 바이어싱 장치에 관한 것으로, 특히 인덕턴스 측정시에 D.C. 바이어스 전류를 인가하기 위한 장치에 관한 것이다.

인덕터는 자성 코어(magnetic core)의 포화와 같은 원인으로 인해 D.C. 바이어스 전류에 따라 좌우되는 상이한 인덕턴스를 갖는다. 따라서, 인덕턴스가 디바이스의 실제 사용 상태와 유사한 조건하에서 측정될 때, 통상적인 인턱턴스 계기와 함께 D.C. 바이어스 전원이 사용된다. 이러한 측정시에 존재하는 문제점들은 A.C. 측정 신호가 피측정 디바이스(device under test)와 병렬로 접속된 D.C. 바이어스 전원을 통해 바람직하지 못하게 흐르기 때문에, 임피던스 측정시에 오차가 발생된다는 것이다.

여기서, D.C. 바이어스가 걸려 있는 상태에서 인덕턴스를 측정하기 위한 종래의 방법에 대해서 도면을 참조하여 설명하겠다. 우선, 종래의 실시예들 중에 한 실예는 제7(a)도에 도시한 바와 같이, 피측정 디바이스에 비해 상당히 큰 인덕턴스를 갖고 있는 인덕터(74)를 디바이스 전원과 피측정 디바이스 사이에 접속하는 것이다. 임피던스 측정 장치(71)은 ,단자(Hc 및 Lc)로부터 피측정 디바이스(72)에 A.C. 전류를 인가하고, 단자(H_P및 H_L)에서 A.C. 전압을 측정하며, 전압의 백터율을 얻음으로써 피측정 디바이스 값을 결정하는 통상적인 측정 계기이다. 여기서, 단자(H_c)로부터의 전류(i_ac)는 단자(H_d)에서 피측정 디바이스(72)로 흐르는 전류(i_d)와 바이어스 전원으로 흐르는 전류(i_d)로 분기된다. 이때, 분기비는 주로 피측정 디바이스(72) 대 인더터(74)의 임피던스비에 의해 결정된다. 전류(i_e)는 캐피시터(C) 및 전원(E)를 통해 임피던스 측정 장치의 단지(L_c)로 흐른다. 전류(i_d+i_e)가 피측정 디바이스(72)로 흐른다는 가정하에 프로세싱이 측정 계기 내에서 수행되므로, 오차는 측정된 값에서 발생된다. 이 오차를 감소키기 위해, (i_e)를 감소시켜야 한다. 이러한 목적을 위해, 인덕터(74)의 인덕턴스를 피측정 디바이스에 대해 매우 크게 할 필요가 있다. 예를 들어, 100Hz의 측정 주파수에서 피측정 디바이스의 진(true) 임피던스가 1K

_{c p 1 2}

₀ ^-12

_{1 2}

₀ ^{-7 -4} _{DC c ac d 1 b b 1 1 b1 b2 2 1 2 G 2 G}

_{b1 b2 b2 G d d2}

_{1 2}

_G

_{2 1} ^-3 _{G 2 1 1 2 DC ac d b d b b1 b2 b2 b d b1 b2 d d d d d L DC 1 d c c1 c2}

_c2

_{c1 c d c d d d d}

Claims (4)

1. 임피던스를 측정하기 위한 피측정 디바이스에 D.C. 바이어스를 인가하는 D.C. 바이어스를 인가하는 D.C. 바이어싱 장치에 있어서,

   상기 피측정 디바이스의 한 단자와 접점 사이에 접속된 최소한 1개의 임피던스 유니트, 및 상기 접점과 상기 피측정 디바이스의 다른 단자 사이에 접속된 최소한 1개의 임피던스 유니트를 갖추고 있고;

   상기 임피던스 유니트의 최소한 1개의 유니트가 D.C. 바이어스 전원이며;

   상기 접점이 가드선 및 실드선 등의 피측정 디바이스 이외를 흐르는 A.C. 측정 전류의 임피던스 측정에 미치는 영향을 제거하기 위한 접속선에 접속되는 것을 특징으로 하는 D.C. 바이어싱 장치.
2. 임피던스를 측정하기 위한 피측정 D.C. 디바이스에 D.C. 바이어스를 인가하는 D.C. 바이어싱 장치에 있어서,

   제1 왕복선의 제1 단부에 접속된 제1 임피던스 유니트, 및 제2 왕복선의 제1 단부에 접속된 제2 임피던스 유니트를 갖추고 있고;

   상기 제1 임피던스 유니트 및 상기 제2 임피던스 유니트 중 최소한 1개의 유니트가 D.C. 바이어스 전원이며;

   상기 제1 왕복선 중 한 선의 제2 단부가 상기 피측정 D.C. 디바이스의 한 단자에 접속되고, 상기 제2 왕복선 중 한 선의 제2 단부가 상기 피측정 디바이스의 다른 단자에 접속되고;

   상기 제1 왕복선의 다른 선의 제2 단부와 상기 제2 왕복선의 다른 선의 제2 단부가 서로 접속되고, 또한 가드선, 실드선 및 이와 유사한 선 등의 상기 피측정 디바이스 이외를 흐르는 A.C. 측정 전류에 의한 임피던스 측정에 미치는 영향을 제거하기 위한 접속선에 접속되는 것을 특징으로 하는 D.C. 바이어싱 장치.
3. 제2항에 있어서,

   상기 1 왕복선 및 상기 제2 왕복선이 동축 케이블인 것을 특징으로 하는 D.C. 바이어싱 장치.
4. 제1항, 제2항 또는 제3항에 있어서,

   상기 피측정 디바이스 이외를 흐르는 A.C. 측정 전류에 의한 임피던스 측정에 미치는 영향을 제거하기 위한 접속선이 4단자쌍 접속 방법으로 된 동축 케이블의 외부 도체인 것을 특징으로 하는 D.C. 바이어싱 장치.

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