JPWO2021260849A5 - - Google Patents

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ここで、井戸層が2層以上の多重量子井戸構造では、最もp型層側の井戸層において発強度が大きいため、当該井戸層のn型層側のバリア層において、第2Ga富化領域が形成されていることで、上述のキャリアの井戸層への供給がより効率的に行うことができる。
第1Ga富化領域21a内には、AlNモル分率が50%の準安定n型領域が安定的に存在しており、n型クラッド層21のAlNモル分率の目標値Xaが54%~66%であるので、準安定n型領域のAlNモル分率50%とn型本体領域21bの平均的なAlNモル分率Xbとの差(Xb-50%)は安定的に4%以上が確保され、n型層内のキャリアは、n型本体領域21bよりバンドギャップエネルギの小さい第1Ga富化領域21a内に局在化する。更に、目標値Xaの上限が66%であるので、n型本体領域21b内において、AlGaN組成比がAlGaの準安定AlGaNが支配的に形成されることはない。仮に、目標値Xaの上限が67%以上であると、n型本体領域21b内にAlGaの準安定AlGaNが安定的に形成され、当該AlGaの準安定AlGaNから、第1Ga富化領域内に、AlGaの準安定AlGaN(準安定n型領域)を安定的に形成するためのGaを十分に供給することが困難となる。従って、目標値Xaの上限を66%に設定することで、第1Ga富化領域21aにAlNモル分率が50%の準安定n型領域を安定的に形成することが可能となる。
次に、反応性イオンエッチング等の周知のエッチング法により、上記要領で積層した窒化物半導体層21~25の第2領域R2を、n型クラッド層21の上面が露出するまで選択的にエッチングして、n型クラッド層21の上面の第2領域R2部分を露出させる。そして、電子ビーム蒸着法などの周知の成膜法により、エッチングされていない第1領域R1内のp型コンタクト層25上にp電極26を形成するとともに、エッチングされた第領域R2内のn型クラッド層21上にn電極27を形成する。尚、p電極26及びn電極27の一方または両方の形成後に、RTA(瞬間熱アニール)等の周知の熱処理方法により熱処理を行ってもよい。
更に、図10A~図10Eより、測定領域A~Eの各領域A1、A2、B1、B2、C1、C2、D1~D4、E1、E2に隣接するn型本体領域21b内のAlNモル分率が約55%~約58%の範囲内にあることが確認できる。上述したように、EDX測定に使用した試料のn型クラッド層21のAlNモル分率の目標値は58%であるので、各走査位置における±2~3%程度の測定誤差、及び、n型本体領域21bに関して横方向に整列した複数のプローブ箇所の平均的なAlNモル分率がn型本体領域21bの平均的なAlNモル分率より高いまたは低い値を示す可能性を考慮すると、図10A~図10Eがn型本体領域21bのAlNモル分率を精度良く表していることが分かる。
次に、各測定領域(a~d)の第2のCLスペクトルについて検討する。測定領域aでは、発光波長の緩やかなピークが約262nm付近と約270nm付近の2箇所に存在している。測定領域bでは、発光波長の緩やかなピークが約270nm~約273nmの範囲に存在している。測定領域cでは、発光波長の緩やかなピークが約266nm~約269nmの範囲に存在し、更に、全体として台地状のピーク領域が、約261nm~約270nmの範囲に広がっている。測定領域dでは、発光波長の緩やかなピークが約259nm付近と約268nm付近に存在し、更に、全体として台地状のピーク領域が、約258nm~約269nmの範囲に広がっている。
(3)上記実施形態では、第1領域R1及びp電極26の平面視形状は、一例として、櫛形形状のものを採用しが、該平面視形状は、櫛形形状に限定されるものではない。また、第1領域R1が複数存在して、夫々が、1つの第2領域R2に囲まれている平面視形状であってもよい。

Claims (1)

  1. サファイア基板を含む下地部を、さらに備え、
    前記サファイア基板は、(0001)面に対して所定の角度だけ傾斜した主面を有し、当該主面の上方に前記発光素子構造部が形成されており、
    少なくとも前記サファイア基板の前記主面から前記活性層の表面までの各半導体層が、(0001)面に平行な多段状のテラスが形成された表面を有するエピタキシャル成長層であることを特徴とする請求項1~5の何れか1項に記載の窒化物半導体紫外線発光素子。
JP2022531322A 2020-06-24 2020-06-24 窒化物半導体紫外線発光素子 Active JP7406632B2 (ja)

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