JPWO2020129136A1 - ガスクロマトグラフ、メンテナンス切り替えモード設定方法およびメンテナンス切り替えモード設定プログラム - Google Patents

Abstract

ガスクロマトグラフは、第１、第２の試料気化ユニットと、第１、第２の分離カラムと、第１、第２のキャリアガス供給部と、第１、第２の分離カラムを収容し、第１ヒータを有するカラムオーブンと、第１、第２の検出器と、第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を試料分析中よりも上昇させるとともに第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を試料分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、第１ヒータによる第１、第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、第２の試料気化ユニットから供給される試料を第２の分離カラムに供給して分析処理を継続させる制御部とを備える。

Description

本発明は、ガスクロマトグラフ、ガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定する方法およびガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定するプログラムに関する。

ガスクロマトグラフは、キャリアガス供給部、試料気化ユニット（試料気化室）、分離カラム、カラムオーブンおよび検出器を備える（例えば、下記特許文献１参照）。キャリアガス供給部は、試料気化ユニットに対してキャリアガスを供給する。分離カラムは、カラムオーブンに収容される。カラムオーブンはヒータを備えており、分離カラムを加熱する。試料の分析時、試料気化ユニットにおいて試料が気化する。試料気化ユニットにおいて気化した試料は、キャリアガスによって分離カラムに供給される。分離カラムに供給された試料は、各試料成分に分離される。分離カラムにおいて分離された各試料成分は検出器において検出される。

また、複数の試料気化ユニットを備えるガスクロマトグラフがある。例えば２つの試料気化ユニットを備えるガスクロマトグラフは、２つの試料気化ユニットに対応した２つの分離カラムを備える。２つの分離カラムは共用の１つのカラムオーブンに収容される。

試料気化ユニットは、ガラスインサートおよびセプタム等の定期的にメンテナンスが必要な部品を備える。ガラスインサートおよびセプタム等の部品を交換するためには、試料気化ユニットの蓋を取り外し、ユニット内部を開放する必要がある。ところが、ガスクロマトグラフにおける試料の分析時、キャリアガスの供給によって、試料気化ユニット内のガス圧力は高い。したがって、ガラスインサートおよびセプタム等のメンテナンス部品を交換するためには、キャリアガス供給部から供給されるキャリアガスの供給圧力を低減させ、試料気化ユニット内のガス圧力を低減させる必要がある。
特開２０１４−１３４３９２号公報

上述したように、ガラスインサートおよびセプタム等のメンテナンス部品を交換する時、試料気化ユニット内のガス圧力を低減させるために、キャリアガス供給部から供給されるキャリアガスの供給圧力を低減させる必要がある。しかし、分離カラム内のキャリアガスの濃度が低くなり、分離カラム内に空気が入った状態で、分離カラムに対する加熱を継続すると、分離カラムが酸化する。そのため、試料気化ユニットのメンテナンスのためにキャリアガスの供給圧力を低減させた場合には、合わせてカラムオーブンの温度も低減させなければならない。

上述したように、ガスクロマトグラフが、２つの試料気化ユニットと、２つの分離カラムを収容する共用の１つのカラムオーブンを備える場合がある。このガスクロマトグラフにおいて、一方の試料気化ユニットのメンテナンスのためにカラムオーブンの温度を下げた場合、カラムオーブンに収容された両方の分離カラムに対する加熱が停止する。つまり、メンテナンスが行われる一方の試料気化ユニットに接続された分離カラムの温度が低下するだけでなく、他方の試料気化ユニットに接続された分離カラムの温度も低下する。このように、一方の試料気化ユニットのメンテナンスが行われる場合、一方の試料気化ユニットを利用して行われる一方の分析ラインだけでなく、他方の試料気化ユニットを利用して行われる他方の分析ラインについても分析処理が停止することになる。つまり、ガスクロマトグラフは、複数の分析ラインを有するにも関わらず、一部の試料気化ユニットのメンテナンスによって分析処理を継続することができない。

本発明の目的は、複数の試料気化ユニットを備えるガスクロマトグラフにおいて、分析処理の継続性を向上させることである。

（１）本発明の一局面に従うガスクロマトグラフは、試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、第１の試料気化ユニットで気化した試料を第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、第２の試料気化ユニットで気化した試料を第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、第１および第２の分離カラムを収容し、第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第１の検出器と、第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第２の検出器と、第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、および、第１ヒータによる第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な第１のメンテナンス切り替えモードを設定し、第１のメンテナンス切り替えモードの設定と合わせて、第２の試料気化ユニットから供給される試料を第２の分離カラムに供給して分析処理を継続させる制御部とを備える。

（２）本発明の他の局面に従うガスクロマトグラフは、試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、第１の試料気化ユニットで気化した試料を第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、第２の試料気化ユニットで気化した試料を第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、第１および第２の分離カラムを収容し、第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分または第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する検出器と、第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、検出器を検出処理可能な状態に維持し、および、第１ヒータによる第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な第１のメンテナンス切り替えモードを設定し、第１のメンテナンス切り替えモードの設定と合わせて、第２の試料気化ユニットから供給される試料を第２の分離カラムに供給して分析処理を継続させる制御部とを備える。

このガスクロマトグラフは、第１のメンテナンス切り替えモードにおいて、第１の試料気化ユニットに供給されるキャリアガスの供給圧力を低減させるので、第１の試料気化ユニット内のガス圧力が低減される。これにより、第１の試料気化ユニット内の部品に対するメンテナンス作業が可能となる。また、第１の補助ガス供給部から供給される補助ガスの供給圧力を上昇させて、補助ガスの供給圧力をキャリアガスの供給圧力より高く設定するので、第１の分離カラムにはキャリアガスに変わって補助ガスが流れる。これにより、カラムオーブンに対する加熱を継続したまま、第１のメンテナンス切り替えモードを設定することが可能となる。第１のメンテナンス切り替えモードにおいても、カラムオーブンに対する加熱が継続されるので、第２の試料気化ユニットおよび第２の分離カラムを含む分析ラインにより分析処理を開始させることができる。

（３）ガスクロマトグラフは、さらに、第１の試料気化ユニットを加熱するための第２ヒータを備え、制御部は、第１のメンテナンス切り替えモードにおいて、第２ヒータを制御し、第１の試料気化ユニットの温度を低減させてもよい。

このガスクロマトグラフは、メンテナンスモードにおいて第１の試料気化ユニットの温度を低減させるので、オペレータは、手作業により第１の試料気化ユニット内の部品をメンテナンスすることができる。

（４）第１の補助ガス供給部は、第１の分離カラムの下流側に設けられてもよい。

第１の分離カラムおよび第１の検出器の間のガス流路に補助ガスを供給し、第１のメンテナンス切り換えモードにおいて第１の分離カラムに補助ガスを供給することができる。あるいは、第１の検出器内に補助ガスを供給し、第１のメンテナンス切り換えモードにおいて第１の分離カラムに補助ガスを供給することができる。

（５）第１の補助ガス供給部は、第１の分離カラムの上流側に設けられてもよい。

第１の分離カラムおよび第１の試料気化ユニットの間のガス流路に補助ガスを供給し、第１のメンテナンス切り換えモードにおいて第１の分離カラムに補助ガスを供給することができる。

（６）制御部は、第１の試料気化ユニットのメンテナンスの必要性を判定し、メンテナンスが必要となった場合にガスクロマトグラフを第１のメンテナンス切り替えモードに移行させてもよい。

メンテナンスの時期が到来すると、制御部がガスクロマトグラフを自動的に第１のメンテナンス切り替えモードへ移行させる。オペレータは、ガスクロマトグラフを第１のメンテナンス切り替えモードへ移行させるために、ガスクロマトグラフの設置場所に移動することや、第１のメンテナンス切り替えモードへの移行操作を行う必要がない。

（７）制御部は、第１のメンテナンス切り替えモード時に、オペレータに対して第１のメンテナンス切り替えモードへの移行を通知する通知部を含んでもよい。

オペレータは、ガスクロマトグラフが第１のメンテナンス切り替えモードへ移行したことを知ることができる。オペレータは、通知部による通知を受けて、メンテナンス作業を行うことができる。

（８）上記（１）のガスクロマトグラフは、さらに、第２の分離カラムに補助ガスを供給する第２の補助ガス供給部を備え、制御部は、第２の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を第２の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに第２のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を第２の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、および、第１ヒータによる第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で第２の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な第２のメンテナンス切り替えモードを設定し、第２のメンテナンス切り替えモードの設定と合わせて、第１の試料気化ユニットから供給される試料を第１の分離カラムに供給して分析処理を継続させてもよい。

（９）上記（２）のガスクロマトグラフは、さらに、第２の分離カラムに補助ガスを供給する第２の補助ガス供給部を備え、制御部は、第２の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を第２の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに第２のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を第２の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、検出器を検出処理可能な状態に維持し、および、第１ヒータによる第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で第２の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な第２のメンテナンス切り替えモードを設定し、第２のメンテナンス切り替えモードの設定と合わせて、第１の試料気化ユニットから供給される試料を第１の分離カラムに供給して分析処理を継続させてもよい。

このガスクロマトグラフは、第２のメンテナンス切り替えモードにおいて、第２の試料気化ユニットに供給されるキャリアガスの供給圧力を低減させるので、第２の試料気化ユニット内のガス圧力が低減される。これにより、第２の試料気化ユニット内の部品に対するメンテナンス作業が可能となる。また、第２の補助ガス供給部から供給される補助ガスの供給圧力を上昇させて、補助ガスの供給圧力をキャリアガスの供給圧力より高く設定するので、第２の分離カラムにはキャリアガスに変わって補助ガスが流れる。これにより、カラムオーブンに対する加熱を継続したまま、第２のメンテナンス切り替えモードを設定することが可能となる。第２のメンテナンス切り替えモードにおいても、カラムオーブンに対する加熱が継続されるので、第１の試料気化ユニットおよび第１の分離カラムを含む分析ラインにより分析処理を開始させることができる。

（１０）ガスクロマトグラフは、さらに、第２の試料気化ユニットを加熱するための第３ヒータを備え、制御部は、第２のメンテナンス切り替えモードにおいて、第３ヒータを制御し、第２の試料気化ユニットの温度を低減させてもよい。

（１１）第２の補助ガス供給部は、第２の分離カラムの下流側に設けられてもよい。

（１２）第２の補助ガス供給部は、第２の分離カラムの上流側に設けられてもよい。

（１３）本発明のさらに他の局面に従うメンテナンス切り替えモード設定方法は、試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、第１の試料気化ユニットで気化した試料を第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、第２の試料気化ユニットで気化した試料を第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、第１および第２の分離カラムを収容し、第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第１の検出器と、第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第２の検出器と、第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部とを備えるガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定する方法であって、第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御するステップと、第１ヒータによる第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で、第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、第２の試料気化ユニットから供給される試料を第２の分離カラムに供給して分析処理を開始させるステップとを含む。

（１４）本発明のさらに他の局面に従うメンテナンス切り替えモード設定方法は、試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、第１の試料気化ユニットで気化した試料を第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、第２の試料気化ユニットで気化した試料を第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、第１および第２の分離カラムを収容し、第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分または第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する検出器と、第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部とを備えるガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定する方法であって、第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御するステップと、検出器を検出処理可能な状態に維持し、および、第１ヒータによる第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で、第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、第２の試料気化ユニットから供給される試料を第２の分離カラムに供給して分析処理を開始させるステップとを含む。

（１５）本発明のさらに他の局面に従うメンテナンス切り替えプログラムは、試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、第１の試料気化ユニットで気化した試料を第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、第２の試料気化ユニットで気化した試料を第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、第１および第２の分離カラムを収容し、第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第１の検出器と、第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第２の検出器と、第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部とを備えるガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定するプログラムであって、第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御する処理と、第１ヒータによる第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で、第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、第２の試料気化ユニットから供給される試料を第２の分離カラムに供給して分析処理を開始させる処理とをコンピュータに実行させる。

（１６）本発明のさらに他の局面に従うメンテナンス切り替えプログラムは、試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、第１の試料気化ユニットで気化した試料を第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、第２の試料気化ユニットで気化した試料を第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、第１および第２の分離カラムを収容し、第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分または第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する検出器と、第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部とを備えるガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定するプログラムであって、第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御する処理と、検出器を検出処理可能な状態に維持し、および、第１ヒータによる第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で、第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、第２の試料気化ユニットから供給される試料を第２の分離カラムに供給して分析処理を開始させる処理とをコンピュータに実行させる。

本発明によれば、複数の試料気化ユニットを備えるガスクロマトグラフにおいて、分析処理の継続性を向上させることができる。

図１は第１の実施の形態に係るガスクロマトグラフ示す全体図である。 図２はガスクロマトグラフが備える制御部のブロック図である。 図３は第１の実施の形態に係る分析中およびメンテナンス切り替えモードにおけるガスクロマトグラフの状態を示す図である。 図４はメンテナンス切り替えモード設定方法を示す図である。 図５は第２の実施の形態に係るガスクロマトグラフ示す全体図である。 図６は第２の実施の形態に係る分析中およびメンテナンス切り替えモードにおけるガスクロマトグラフの状態を示す図である。 図７は第３の実施の形態に係るガスクロマトグラフ示す全体図である。

以下、本発明の実施の形態に係るガスクロマトグラフについて図面を参照しながら詳細に説明する。

［１］第１の実施の形態
（１）ガスクロマトグラフの全体構成
図１は、第１の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１を示す全体図である。ガスクロマトグラフ１は、第１分析ラインおよび第２分析ラインを含む２系統の分析ラインを有している。図１に示すように、ガスクロマトグラフ１は、試料気化ユニット２ａ，２ｂ、分離カラム３ａ，３ｂ、カラムオーブン４および検出器５ａ，５ｂを備える。第１分析ラインは、試料気化ユニット２ａ、分離カラム３ａおよび検出器５ａ等から構成される。第２分析ラインは、試料気化ユニット２ｂ、分離カラム３ｂおよび検出器５ｂ等から構成される。第１分析ラインおよび第２分析ラインはカラムオーブン４を共用する。

試料気化ユニット２ａ，２ｂは、分析対象の試料を気化する装置である。試料気化ユニット２ａ，２ｂは、金属製の筐体２０ａ，２０ｂを備える。筐体２０ａ，２０ｂの中には、円筒形状のガラス製のガラスインサート２１ａ，２１ｂが収容されている。ガラスインサート２１ａ，２１ｂの上方には、シリコンゴム製のセプタム２２ａ，２２ｂが配置されている。マイクロシリンジ９の針９１がセプタム２２ａ，２２ｂに突き刺さることにより、マイクロシリンジ９に収容された試料が、筐体２０ａ，２０ｂの内部に滴下される。マイクロシリンジ９は、例えば図示しないオートサンプラによって制御され、試料気化ユニット２ａ，２ｂ間を移動可能であり、試料気化ユニット２ａ，２ｂのいずれかに試料を供給する。

キャリアガス供給部６１ａ，６１ｂは、試料気化ユニット２ａ，２ｂに対してキャリアガスを供給する。キャリアガスとしては、ヘリウム、窒素およびアルゴン等の不活性ガスが用いられる。あるいは、キャリアガスとして水素ガスが用いられる。試料気化ユニット２ａ，２ｂは、キャリアガスが供給されるキャリアガス供給口を供える。試料気化ユニット２ａ，２ｂは、また、キャリアガスが排出されるスプリット口を供える。スプリット口には、スプリット路２３ａ，２３ｂが接続される。試料気化ユニット２ａ，２ｂの底面にはカラム接続部が設けられている。カラム接続部において、分離カラム３ａ，３ｂの上流側の端部が接続されている。ヒータ７１ａ，７１ｂが、試料気化ユニット２ａ，２ｂの近傍に配置される。ヒータ７１ａ，７１ｂにより試料気化ユニット２ａ，２ｂを加熱することで、マイクロシリンジ９から試料気化ユニット２ａ，２ｂ内に注入された試料が気化する。

分離カラム３ａ，３ｂは、共用の１つのカラムオーブン４に収容されている。分離カラム３ａ，３ｂの上流側の端部は、試料気化ユニット２ａ，２ｂの底面のカラム接続部において試料気化ユニット２ａ，２ｂに接続されている。分離カラム３ａ，３ｂの下流側の端部には、補助抵抗管３Ｄａ，３Ｄｂが接続されている。補助抵抗管３Ｄａ，３Ｄｂの下流側の端部は、検出器５ａ，５ｂに接続されている。カラムオーブン４には、ヒータ７２およびファン７５が設けられている。ヒータ７２によりカラムオーブン４内の分離カラム３ａ，３ｂが加熱される。ファン７５によってカラムオーブン４内の空気を攪拌することにより、カラムオーブン４内の温度が均一に保たれる。

分離カラム３ａ，３ｂと補助抵抗管３Ｄａ，３Ｄｂとの間には分岐素子３１ａ，３１ｂが設けられる。補助ガス供給部６２ａ，６２ｂから供給された補助ガスは、補助ガス路３２ａ，３２ｂを介して分岐素子３１ａ，３１ｂに供給される。分岐素子３１ａに供給された補助ガスは、分離カラム３ａおよび補助抵抗管３Ｄａの流路抵抗の比に応じて、分離カラム３ａおよび補助抵抗管３Ｄａに流れる。分岐素子３１ｂに供給された補助ガスは、分離カラム３ｂおよび補助抵抗管３Ｄｂの流路抵抗の比に応じて、分離カラム３ｂおよび補助抵抗管３Ｄｂに流れる。補助ガスとしては、検出器５ａ，５ｂにおいて、試料成分の検出に用いられるガスが利用される。補助ガスとしてキャリアガスと同種のガスを用いてもよい。

インジケータ７７ａ，７７ｂは、カラムオーブン４の筐体に取り付けられている。インジケータ７７ａは、試料気化ユニット２ａの側部に設けられ、試料気化ユニット２ａがメンテナンス可能な状態になったことをオペレータに通知する装置である。インジケータ７７ｂは、試料気化ユニット２ｂの側部に設けられ、試料気化ユニット２ｂがメンテナンス可能な状態になったことをオペレータに通知する装置である。インジケータ７７ａ，７７ｂとしては、例えばＬＥＤが利用される。インジケータ７７ａ，７７ｂは、試料気化ユニット２ａ，２ｂに取り付けられても良い。

検出器５ａ，５ｂは、分離カラム３ａ，３ｂにおいて分離された各試料成分を検出する。本実施の形態において検出器５ａ，５ｂは、ＦＩＤ（水素炎イオン化検出器）である。ただし、本実施の形態において利用可能な検出器５ａ，５ｂは、ＦＩＤに限られない。他にも、検出器５ａ，５ｂとして、ＴＣＤ（熱伝導度検出器）、ＥＣＤ（電子捕獲型検出器）、ＦＰＤ（炎光光度検出器）、ＦＴＤ（熱イオン化検出器）、ＢＩＤ（バリア放電イオン検出器）、ＭＳ（質量分析装置）などが用いられる。検出器５ａおよび検出器５ｂは、互いに異なる種類の検出器であってもよい。

検出器ガス供給部６３ａ，６３ｂは、試料成分の検出に必要なガスを検出器ガスとして検出器５ａ，５ｂに供給する。本実施の形態においては、検出器５ａ，５ｂとしてＦＩＤを利用するため、検出器ガスとして、空気および水素ガスが供給される。また、検出器ガスとして必要に応じてメークアップガスが供給される。

（２）制御部の構成
図２は、制御部１０の構成を示すブロック図である。制御部１０は、ＣＰＵ（中央演算処理装置）１０１、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）１０２、ＲＯＭ（リードオンリメモリ）１０３、記憶装置１０４および外部Ｉ／Ｆ（インタフェース）１０５をさらに備える。ＣＰＵ１０１、ＲＡＭ１０２、ＲＯＭ１０３、記憶装置１０４および外部Ｉ／Ｆ１０５はバス１００に接続される。外部記憶装置等の外部機器が外部Ｉ／Ｆ１０５を介してバス１００に接続されてもよい。

記憶装置１０４は、ハードディスク、光学ディスク、磁気ディスクまたはメモリカード等の記憶媒体を含む。この記憶装置１０４には、メンテナンス切り替えモード設定プログラムＰ１、電子メールプログラムＰ２等のコンピュータプログラムが記憶される。

ＲＡＭ１０２は、例えば揮発性メモリからなり、ＣＰＵ１０１の作業領域として用いられるとともに、各種データを一時的に記憶する。ＲＯＭ１０３は、例えば不揮発性メモリからなり、制御プログラムを記憶する。ＲＯＭ１０３がメンテナンス切り替えモード設定プログラムＰ１等のコンピュータプログラムを記憶してもよい。ＣＰＵ１０１は、記憶装置１０４またはＲＯＭ１０３に記憶されたメンテナンス切り替えモード設定プログラムＰ１および電子メールプログラムＰ２を実行することにより後述するメンテナンス切り替えモード設定方法を行う。

メンテナンス切り替えモード設定プログラムＰ１は、コンピュータが読み取り可能な記録媒体に格納された形態で提供され、記憶装置１０４またはＲＯＭ１０３にインストールされてもよい。また、メンテナンス切り替えモード設定プログラムＰ１が外部記憶装置に記憶されてもよい。さらに、外部Ｉ／Ｆ１０５が通信網に接続されている場合、通信網に接続されたサーバから配信されたメンテナンス切り替えモード設定プログラムＰ１が記憶装置１０４またはＲＯＭ１０３にインストールされてもよい。

上述したキャリアガス供給部６１ａ，６１ｂ、補助ガス供給部６２ａ，６２ｂおよび検出器ガス供給部６３ａ，６３ｂは、外部Ｉ／Ｆ１０５を介して制御部１０に接続されている。制御部１０は、キャリアガス供給部６１ａ，６１ｂから試料気化ユニット２ａ，２ｂに供給されるキャリアガスの圧力を制御する。これにより、試料気化ユニット２ａ，２ｂ内の圧力が制御される。制御部１０は、補助ガス供給部６２ａ，６２ｂから分岐素子３１ａ，３１ｂに対して供給される補助ガスの圧力を制御する。制御部１０は、検出器ガス供給部６３ａ，６３ｂから検出器５ａ，５ｂに供給される検出器ガスの圧力を制御する。

また、ヒータ７１ａ，７１ｂ，７２，７３ａ，７３ｂも外部Ｉ／Ｆ１０５を介して制御部１０に接続されている。制御部１０は、ヒータ７１ａ，７１ｂにより加熱される試料気化ユニット２ａ，２ｂの温度を制御する。制御部１０は、ヒータ７２により加熱されるカラムオーブン４の温度を制御する。制御部１０は、ヒータ７３ａ，７３ｂにより加熱される検出器５ａ，５ｂの温度を制御する。

（３）分析処理の動作
上述したように、ガスクロマトグラフ１は、試料気化ユニット２ａおよび分離カラム３ａ等を備える第１分析ラインおよび試料気化ユニット２ｂおよび分離カラム３ｂ等を備える第２分析ラインを有している。ガスクロマトグラフ１は、第１分析ラインおよび第２分析ラインのいずれか一方を利用して、分析処理を実行する。以下、２つの分析系統のうち、第１分析ラインを例にとり分析処理の動作を説明する。第２分析ラインの分析処理の動作も第１分析ラインと同様である。

分析処理の準備として、試料気化ユニット２ａ、カラムオーブン４および検出器５ａが分析処理可能な状態に設定される。具体的には、制御部１０の制御により、キャリアガス供給部６１ａが試料気化ユニット２ａにキャリアガスを供給する。キャリアガス供給部６１ａから試料気化ユニット２ａに供給されたキャリアガスは、分離カラム３ａに供給される。なお、キャリアガス供給部６１ａから試料気化ユニット２ａに供給されたキャリアガスの一部は、スプリット路２３ａから排出される。また、制御部１０の制御により、補助ガス供給部６２ａが補助ガスを供給する。

例えば、制御部１０は、１００ｋＰａの圧力でキャリアガスを試料気化ユニット２ａに供給する。また、制御部１０は、３０ｋＰａの圧力で補助ガスを分岐素子３１ａに供給する。このように、分析処理時には、キャリアガスの圧力は補助ガスの圧力よりも高く設定される。補助ガス供給部６２ａから供給された補助ガスは、分離カラム３ａおよび補助抵抗管３Ｄａの流路抵抗の比に応じて、分離カラム３ａおよび補助抵抗管３Ｄａに流れる。しかし、分析時には、キャリアガスの圧力が補助ガスの圧力よりも高いため、補助ガス供給部６２ａから供給された補助ガスは、キャリアガスの圧力により補助抵抗管３Ｄａに向って流れる。

また、分析処理の準備として、制御部１０の制御により、ヒータ７１ａが制御され、試料気化ユニット２ａの筐体２０ａおよびガラスインサート２１ａが加熱される。制御部１０の制御により、ヒータ７２およびファン７５が制御され、カラムオーブン４が加熱される。前段階として、分離カラム３ａ内の空気がキャリアガスに置換されているので、分離カラム３ａを加熱させることが可能である。なお、第２分析ラインのキャリアガス供給部６１ｂからも分離カラム３ｂにはキャリアガスが供給されている。したがって、分離カラム３ａ，３ｂにいずれもガスが供給されており、カラムオーブン４による加熱を行うことが可能である。また、制御部１０の制御により、ヒータ７３ａが制御され、検出器５ａが加熱される。そして、制御部１０の制御により検出器５ａが分析処理可能な状態とされる。

制御部１０は、ヒータ７１ａを制御し、試料気化ユニット２ａの温度を、例えば３００℃に設定する。制御部１０は、ヒータ７２を制御し、カラムオーブン４の温度を、例えば２５０℃に設定する。制御部１０は、ヒータ７３ａを制御し、検出器５ａの温度を例えば３５０℃に設定する。これらの温度は一例である。制御部１０は、試料気化ユニット２ａ、カラムオーブン４および検出器５ａの温度を、分析処理を実行するために適正な温度に制御する。

上記の分析処理の準備が完了した状態で、マイクロシリンジ９から試料気化ユニット２ａに試料が滴下される。試料気化ユニット２ａにおいて気化した試料は、キャリアガスの圧力によって分離カラム３ａに供給される。なお、気化した試料の一部はスプリット路２３ａより排出される。分離カラム３ａにおいて分離された各試料成分は、補助抵抗管３Ｄａを介して検出器５ａに供給される。補助ガス供給部６２ａから供給された補助ガスは分岐素子３１ａにおいてキャリアガスと合流する。上述したように、分析処理時には、キャリアガスの圧力が補助ガスの圧力よりも大きく設定されているので、供給された補助ガスの殆どは、キャリアガスとともに下流側の検出器５ａへ向って流れる。

検出器５ａには、検出器ガス供給部６３ａより検出器ガスが供給される。検出器５ａは、検出器ガスを利用して、分離カラム３ａから供給された各試料成分を検出する。

（４）メンテナンス切り替えモード
上述したように、試料気化ユニット２ａ，２ｂは、ガラスインサート２１ａ，２１ｂおよびセプタム２２ａ，２２ｂを備える。ガラスインサート２１ａ，２１ｂおよびセプタム２２ａ，２２ｂ等の部品は定期的なメンテナンスが必要な部品である。ガラスインサート２１ａ，２１ｂおよびセプタム２２ａ，２２ｂは使用回数に応じて、清掃等のメンテナンス作業または新品部品との交換作業が必要となる。本実施の形態のガスクロマトグラフ１は、以下に示すメンテナンス切り替えモードを備えており、メンテナンス切り替えモードに移行している間に、各メンテナンス部品の取り出し、および交換等の作業が行われる。また、メンテナンス切り替えモードに移行している間に、２系統の分析ラインの切り替えが行われる。

次に、第１分析ラインの試料気化ユニット２ａのメンテナンスが必要となった場合を例として、ガスクロマトグラフ１の分析中およびメンテナンス切り替えモードにおける状態について説明する。なお、第２分析ラインの試料気化ユニット２ｂのメンテナンスが必要となった場合の状態についても同様である。

図３は、ガスクロマトグラフ１の分析中およびメンテナンス切り替えモードにおける状態を比較した図である。図３においては、第１分析ラインだけを示し、第２分析ラインは省略している。図３（ａ）は、ガスクロマトグラフ１が分析中の状態を示す。図３（ｂ）は、ガスクロマトグラフ１がメンテナンス切り替えモードの状態を示す。

図３（ａ）に示すように、分析中においては、キャリアガス供給部６１ａによるキャリアガスの供給圧力はＰＡ１（Ｐａ）である。補助ガス供給部６２ａによる補助ガスの供給圧力はＰＢ１（Ｐａ）である。上述したように、制御部１０は、分析処理時においてキャリアガスの供給圧力を補助ガスの供給圧力よりも高く設定する（ＰＡ１＞ＰＢ１）。例えば、制御部１０は、キャリアガスの供給圧力ＰＡ１を１００ｋＰａに設定し、補助ガスの供給圧力ＰＢ１を３０ｋＰａに設定する。

図３（ａ）における矢印Ｆ１は、ガスの流れる方向を示す。キャリアガス供給部６１ａから供給されたキャリアガスは、試料気化ユニット２ａから分離カラム３ａへ向って流れる。分離カラム３ａへ向って流れるキャリアガスはさらに下流に向って流れ、検出器５ａに送り込まれる。なお、キャリアガス供給部６１ａから供給されたキャリアガスの一部はスプリット路２３ａから排出される。補助ガス供給部６２ａから供給された補助ガスは、キャリアガスの圧力によって、キャリアガスとともに検出器５ａに送り込まれる。

図３（ａ）に示すように、分析中においては、試料気化ユニット２ａの温度はＴＡ１（℃）に設定され、検出器５ａの温度はＴＢ１（℃）に設定され、カラムオーブン４の温度はＴＣ１（℃）に設定される。制御部１０は、例えば、試料気化ユニット２ａの温度を３００℃に設定し、検出器５ａの温度を３５０℃に設定し、カラムオーブン４の温度を２５０℃に設定する。以上の状態において、ガスクロマトグラフ１は、試料気化ユニット２ａから供給される試料を分離カラム３ａで分離し、検出器５ａは、分離カラム３ａで分離された各試料成分を検出する。

図３（ｂ）に示すように、メンテナンス切り替えモードにおいては、キャリアガス供給部６１ａによるキャリアガスの供給圧力はＰＡ２（Ｐａ）である。制御部１０は、キャリアガスの供給圧力ＰＡ２を、分析中の供給圧力ＰＡ１より低減させる（ＰＡ１＞ＰＡ２）。補助ガス供給部６２ａによる補助ガスの供給圧力はＰＢ２（Ｐａ）である。制御部１０は、補助ガスの供給圧力ＰＢ２を、分析中の供給圧力ＰＢ１より増加させる（ＰＢ１＜ＰＢ２）。例えば、制御部１０は、キャリアガスの供給圧力ＰＡ２を０ｋＰａ〜３０ｋＰａに設定し、補助ガスの供給圧力ＰＢ２を１００ｋＰａに設定する。このように、メンテナンス切り替えモードにおいては、制御部１０は、補助ガスの供給圧力ＰＢ２をキャリアガスの供給圧力ＰＡ２よりも高く設定する（ＰＡ２＜ＰＢ２）。上記の例では、キャリアガスの供給圧力ＰＡ２は０ｋＰａ〜３０ｋＰａに設定されているが、これに限定されるものではない。試料気化ユニット２ａの部品のメンテナンスが可能な程度に圧力を低減させればよい。また、上記の例では、補助ガスの供給圧力ＰＢ２は１００ｋＰａに設定されているが、これに限定されるものではない。分離カラム３ａ内に空気が混入しない程度に圧力を増加させればよい。

図３（ｂ）における矢印Ｆ２は、ガスの流れる方向を示す。キャリアガス供給部６１ａから供給されたキャリアガスは、スプリット路２３ａから排出される。補助ガス供給部６２ａから供給された補助ガスは、分離カラム３ａおよび補助抵抗管３Ｄａの流路抵抗の比に応じて分離カラム３ａおよび補助抵抗管３Ｄａへ流れる。分離カラム３ａに流れた補助ガスは、さらに上流に向って流れ、試料気化ユニット２ａのスプリット路２３ａから排出される。補助ガス供給部６２ａから供給された補助ガスの一部は、補助抵抗管３Ｄａを介して検出器５ａに送り込まれる。

図３（ｂ）に示すように、メンテナンス切り替えモードにおいては、試料気化ユニット２ａの温度はＴＡ２（℃）に設定され、検出器５ａの温度はＴＢ２（℃）に設定され、カラムオーブン４の温度はＴＣ２（℃）に設定される。制御部１０は、メンテナンス切り替えモードにおいて、ヒータ７１ａを制御し、試料気化ユニット２ａの温度を低減させる（ＴＡ１＞ＴＡ２）。制御部１０は、例えば、試料気化ユニット２ａの温度を５０℃に設定する。ただし、この温度は一例である。制御部１０は、オペレータが手作業でメンテナンス作業が可能な程度に、試料気化ユニット２ａの温度を低減させればよい。

制御部１０は、検出器５ａおよびカラムオーブン４の温度を分析中と同じ温度に維持する（ＴＢ１＝ＴＢ２，ＴＣ１＝ＴＣ２）。つまり、上記の例であれば、検出器５ａの温度を３５０℃で維持し、カラムオーブン４の温度を２５０℃で維持する。ただし、この温度は一例である。制御部１０は、検出器５ａの温度を分析中と同じ温度に維持してもよいし、分析中よりも少し温度を低減させてもよい。ガスクロマトグラフ１は第２分析ラインへの切り替えが行われるため、制御部１０は、カラムオーブン４の温度を第２分析ラインにおける分析処理に必要とされる温度に維持する。ヒータ７２によるカラムオーブン４に対する加熱を継続させることで、ガスクロマトグラフ１は、メンテナンス切り替えモードに移行した後も、第２分析ラインを利用して分析処理を継続することができる。以上の状態において、ガスクロマトグラフ１は、メンテナンス切り替えモードに移行する。

メンテナンス切り替えモードに移行すると、制御部１０は、オペレータに対してガスクロマトグラフ１が、メンテナンス切り替えモードに移行したことを通知する。制御部１０は、ガスクロマトグラフ１の装置本体に搭載されたタッチパネルや液晶画面（図示省略）、またはガスクロマトグラフ１と接続されたコンピュータ（パーソナルコンピュータ等）にメッセージを表示させ、メンテナンス切り替えモードに移行したことをオペレータに通知する。あるいは、制御部１０は、電子メールプログラムＰ２を実行させて、オペレータに対してメンテナンス切り替えモードを通知する電子メールを送信してもよい。あるいは、制御部１０は、ガスクロマトグラフ１の筐体に設けられた試料気化ユニット２ａの側部のインジケータ７７ａを点滅させ、メンテナンス切り替えモードに移行したことをオペレータに通知してもよい。

制御部１０は、メンテナンス切り替えモードに移行したことをオペレータに通知するとともに、第２分析ラインによる分析処理を開始する。制御部１０は、キャリアガス供給部６１ｂを制御し、試料気化ユニット２ｂに供給するキャリアガスの供給圧力を増加させる。例えば、制御部１０は、試料気化ユニット２ｂに供給するキャリアガスの供給圧力を１００ｋＰａに設定する。なお、第１分析ラインによる分析処理の動作中は、第２分析ラインの試料気化ユニット２ｂに供給するキャリアガスの供給圧力は低下させている。ただし、カラムオーブン４による加熱が行われているため、分離カラム３ｂ内に空気が入らないようにキャリアガスの供給圧力が調整される。スプリット路２３ｂのバルブを閉じることで、キャリアガス供給部６１ｂからの供給圧力を低減させながら、分離カラム３ｂ内に必要なガス量を供給するようにしてもよい。

第２分析ラインによる分析処理を開始するために、制御部１０は、また、補助ガス供給部６２ｂによる補助ガスの供給圧力を、キャリアガスの供給圧力よりも低くなるように設定する。例えば、制御部１０は、補助ガスの供給圧力を３０ｋＰａに設定する。

第２分析ラインによる分析処理を開始するために、制御部１０は、また、ヒータ７１ｂを制御し、試料気化ユニット２ｂに対する加熱を継続する。例えば、制御部１０は、試料気化ユニット２ｂの温度を３００度に維持する。なお、制御部１０は、第１分析ラインにおける分析処理の動作中も、試料気化ユニット２ｂの温度を分析処理が可能な温度に維持している。したがって、メンテナンス切り替えモード時において、第２分析ラインの分析処理を開始するときに、試料気化ユニット２ｂの温度が上昇するまでの待機時間が不要である。

第２分析ラインによる分析処理を開始するために、制御部１０は、また、ヒータ７３ｂを制御し、検出器５ｂに対する加熱を継続する。例えば、制御部１０は、検出器５ｂの温度を３５０度に維持する。なお、制御部１０は、第１分析ラインにおける分析処理の動作中も、検出器５ｂの温度を分析処理が可能な温度に維持している。したがって、メンテナンス切り替えモード時において、第２分析ラインの分析処理を開始するときに、検出器５ｂの温度が上昇するまでの待機時間が不要である。また、検出器５ｂの動作が安定するまでの待機時間が不要である。

このように、制御部１０は、メンテナンス切り替えモードに移行すると、第２分析ラインにおけるキャリアガスおよび補助ガスの供給圧力を分析処理が可能な状態に調整する。また、試料気化ユニット２ｂおよび検出器５ｂは、第１分析ラインによる分析処理中も分析処理が可能な温度に維持されている。したがって、メンテナンス切り替えモードに移行した時点で、試料気化ユニット２ｂおよび検出器５ｂの温度は分析処理に適した温度に調整されている。また、カラムオーブン４は、第１分析ラインによる分析処理中、分離カラム３ａと共に分離カラム３ｂを加熱している。したがって、メンテナンス切り替えモードに移行した時点で、分離カラム３ｂの温度は分析処理に適した温度に調整されている。この状態で、制御部１０は、第２分析ラインによる分析処理を開始する。

オペレータは、装置本体の液晶画面等で確認することにより、ガスクロマトグラフ１がメンテナンス切り替えモードに移行したことを知る。あるいは、オペレータは電子メールを受信することにより、または、インジケータ７７ａが点滅していることを確認することにより、ガスクロマトグラフ１がメンテナンス切り替えモードに移行したことを知る。オペレータは、試料気化ユニット２ａの側部に設けられたインジケータ７７ａが点滅していることを確認することにより、２つの試料気化ユニット２ａ，２ｂのうち、試料気化ユニット２ａがメンテナンス可能な状態になったことを把握することができる。オペレータは、試料気化ユニット２ａの蓋を取り外し、試料気化ユニット２ａ内部のガラスインサート２１ａまたはセプタム２２ａ等のメンテナンス部品を取り出す。このとき、試料気化ユニット２ａに供給されるキャリアガスの圧力は、大気圧程度に低減されているので、オペレータが試料気化ユニット２ａの蓋を取り外し、内部を開放したとしても内部のガスが勢いよく噴出すことはない。上述したように、メンテナンス切り替えモードにおいては、試料気化ユニット２ａに対するキャリアガスの供給圧力は例えば３０ｋＰａに低減されている。

また、試料気化ユニット２ａの温度は低減されているので、オペレータが試料気化ユニット２ａのメンテナンス作業を行うことに支障はない。上述したように、メンテナンス切り替えモードにおいては、試料気化ユニット２ａの温度は、例えば５０℃に低減されている。

オペレータは、ガラスインサート２１ａおよびセプタム２２ａ等の部品のクリーニング等のメンテナンスが終了すれば、メンテナンス後の部品を試料気化ユニット２ａに取り付ける。あるいは、オペレータは、ガラスインサート２１ａおよびセプタム２２ａ等の部品の交換が必要な場合は、新品の部品を試料気化ユニット２ａに取り付ける。そして、オペレータは試料気化ユニット２ａの蓋を取り付けて、試料気化ユニット２ａを動作可能な状態とする。

このガスクロマトグラフ１は、メンテナンス切り替えモードにおいて、試料気化ユニット２ａに供給されるキャリアガスの供給圧力を低減させるので、試料気化ユニット２ａ内のガス圧力が低減される。これにより、試料気化ユニット２ａ内の部品に対するメンテナンス作業が可能となる。また、補助ガス供給部６２ａから供給される補助ガスの供給圧力を上昇させて、補助ガスの供給圧力をキャリアガスの供給圧力より高く設定するので、分離カラム３ａにはキャリアガスに変わって補助ガスが流れる。これにより、カラムオーブン４に対する加熱を継続したまま、メンテナンス切り替えモードを設定することが可能となる。メンテナンス切り替えモードにおいても、カラムオーブン４に対する加熱が継続されるので、試料気化ユニット２ｂ、分離カラム３ｂおよび検出器５ｂを含む第２分析ラインによる分析処理をすぐに開始することができる。これにより、試料気化ユニット２ａのメンテナンス時期が到来した場合であっても、ガスクロマトグラフ１は、分析処理を停止させることなく継続させることができる。

なお、上記の実施の形態においては、メンテナンス切り替えモードに移行するとき、制御部１０は、ヒータ７１ａ，７１ｂを制御し、試料気化ユニット２ａ，２ｂの温度を低減させる。これにより、オペレータは手作業でガラスインサート２１ａ，２１ｂおよびセプタム２２ａ，２２ｂのメンテナンス作業を行うことができる。他の実施の形態として、制御部１０は、試料気化ユニット２ａ，２ｂの温度を低減させずに、メンテナンス切り替えモードに移行させてもよい。この場合、試料気化ユニット２ａ，２ｂの温度は分析中と同様に高温であるので、ロボットによってメンテナンス作業が行われる。

（５）メンテナンス切り替えモード設定方法の一例
図４はメンテナンス切り替えモード設定方法を示すフローチャートである。図４のメンテナンス切り替えモード設定方法は、図２のＣＰＵ１０１が記憶装置１０４またはＲＯＭ１０３に記憶されたメンテナンス切り替えモード設定プログラムＰ１を実行することにより行われる。本実施の形態においては、制御部１０が、試料気化ユニット２ａ，２ｂにおけるガラスインサート２１ａ，２１ｂおよびセプタム２２ａ，２２ｂ等の部品のメンテナンス期間を管理しており、メンテナンス期間が到来した時点で自動的に図４に示すメンテナンス切り替えモード設定方法を実行する。あるいは、オペレータによって手動でメンテナンス切り替えモードへの移行指示が行われたときに、制御部１０は、メンテナンス切り替えモード設定方法を実行する。

図４のメンテナンス切り替えモード設定方法は、第１分析ラインによる分析処理中に、第１分析ラインの試料気化ユニット２ａのメンテナンスが必要となった場合を例に説明する。第２分析ラインによる分析処理中に、第２分析ラインの試料気化ユニット２ｂのメンテナンスが必要となった場合の処理の流れも同様である。

試料気化ユニット２ａのメンテナンス時期が到来し、メンテナンス切り替えモード設定方法が開始されると、まず、制御部１０は、補助ガス供給部６２ａを制御し、補助ガスの供給圧力を増加させる（ステップＳ１）。続いて、制御部１０は、キャリアガス供給部６１ａを制御し、キャリアガスの供給圧力を低減させる（ステップＳ２）。このとき、上述したように、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように設定される。なお、ステップＳ１およびステップＳ２の動作は同時に行ってもよい。

続いて、制御部１０は、ヒータ７１ａを制御し、試料気化ユニット２ａの温度を低減させる（ステップＳ３）。次に、制御部１０は、メンテナンス切り替えモードに移行したことをオペレータに通知する。制御部１０は、装置本体の液晶画面等においてメンテナンス切り替えモードに移行したことをオペレータに通知する。あるいは、制御部１０は、電子メールプログラムＰ２を起動し、オペレータに対して電子メールを送信し、メンテナンス切り替えモードへの移行を通知する。あるいは、制御部１０は、試料気化ユニット２ａの側部のインジケータ７７ａを点滅させ、オペレータに対してメンテナンス切り替えモードへの移行を通知する（ステップＳ４）。続いて、制御部１０は、第２分析ラインによる分析処理を開始する（ステップＳ５）。マイクロシリンジ９から試料気化ユニット２ｂに試料が滴下され、分離カラム３ｂおよび検出器５ｂを利用した分析処理が開始される。

以上、第１分析ラインの試料気化ユニット２ａのメンテナンス時期が到来したときに、メンテナンス切り替えモードに移行し、第１分析ラインから第２分析ラインに分析ラインが切り替えられる場合を例に説明した。第２分析ラインの試料気化ユニット２ｂのメンテナンス時期が到来したときも同様、メンテナンス切り替えモードに移行し、第２分析ラインから第１分析ラインへの分析ラインの切り替えが行われる。

上記の実施の形態においては、試料気化ユニット２ａの部品に対するメンテナンスの時期が到来すると、制御部１０がガスクロマトグラフ１を自動的にメンテナンス切り替えモードへ移行させる。オペレータは、ガスクロマトグラフ１をメンテナンス切り替えモードへ移行させるために、ガスクロマトグラフ１の設置場所に移動することや、メンテナンス切り替えモードへの移行操作を行う必要がない。制御部１０は、ガスクロマトグラフ１による分析処理の回数等から、ガラスインサート２１ａおよびセプタム２２ａ等の各部品のメンテナンス時期を判定すればよい。そして、制御部１０は、試料気化ユニット２ａをメンテナンス可能な状態に設定するとともに、第２分析ラインを利用して分析処理を継続させる。これにより、試料気化ユニット２ａ，２ｂのメンテナンス時期が到来した場合であっても、制御部１０は、第１分析ラインと第２分析ラインとを切り替えながら、分析処理を停止させることなく継続させることができる。

上記の実施の形態においては、制御部１０は、装置本体の画面、電子メールプログラムＰ２またはインジケータ７７ａ，７７ｂを利用して、オペレータに対してメンテナンス切り替えモードへの移行を知らせる。オペレータは、この通知を受けて、メンテナンス作業を行うことができる。オペレータは、メンテナンス切り替えモードへの移行指示および移行作業を行うことなく、メンテナンス作業を開始することができる。

（６）第１の実施の形態の変形例
上記の実施の形態においては、補助ガス供給部６２ａ，６２ｂは、分離カラム３ａ，３ｂの下流側に補助ガスを供給するように設けられる。この補助ガス供給部６２ａ，６２ｂをバックフラッシュ用のガス供給部と兼用してもよい。

上記の実施の形態においては、補助ガス供給部６２ａ，６２ｂは、分離カラム３ａ，３ｂの下流側に補助ガスを供給するように設けられる。そして、補助ガス供給部６２ａ，６２ｂは、分離カラム３ａ，３ｂおよび検出器５ａ，５ｂの間のガス流路に補助ガスを供給する構成である。変形例としては、補助ガス供給部６２ａ，６２ｂにより検出器５ａ，５ｂ内に補助ガスを供給する構成としてもよい。この場合、検出器５ａ，５ｂ内に補助抵抗管を設ければよい。補助ガスを検出器５ａ，５ｂ内に供給する場合であれば、メークアップガスの供給部を利用することも可能である。

［２］第２の実施の形態
（１）ガスクロマトグラフの全体構成
次に本発明の第２の実施の形態について説明する。図５は、第２の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１Ａの全体図である。第２の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１Ａは、第１の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１と比較して、補助抵抗管および分岐素子の位置が異なる。ガスクロマトグラフ１Ａにおいては、補助抵抗管３Ｕａ，３Ｕｂが分離カラム３ａ，３ｂの上流側に配置されている。また、分岐素子３３ａ，３３ｂが分離カラム３ａ，３ｂの上流側において、補助抵抗管３Ｕａ，３Ｕｂおよび分離カラム３ａ，３ｂの間に配置されている。そして、補助ガス供給部６２ａ，６２ｂから供給された補助ガスは、補助ガス路３４ａ，３４ｂを介して、分岐素子３３ａ，３３ｂに供給される。それ以外のガスクロマトグラフ１Ａの構成は、第１の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１と同様であるので、説明を省略する。

（２）メンテナンス切り替えモード
次に、第１分析ラインの試料気化ユニット２ａのメンテナンスが必要となった場合を例として、ガスクロマトグラフ１の分析中およびメンテナンス切り替えモードにおける状態について説明する。なお、第２分析ラインの試料気化ユニット２ｂのメンテナンスが必要となった場合の状態についても同様である。

図６（ａ）に示すように、分析中においては、キャリアガス供給部６１ａによるキャリアガスの供給圧力はＰＡ３（Ｐａ）である。補助ガス供給部６２ａによる補助ガスの供給圧力はＰＢ３（Ｐａ）である。第１の実施の形態と同様、制御部１０は、分析処理時においてキャリアガスの供給圧力を補助ガスの供給圧力よりも高く設定する（ＰＡ３＞ＰＢ３）。例えば、制御部１０は、キャリアガスの供給圧力ＰＡ３を１００ｋＰａに設定し、補助ガスの供給圧力ＰＢ３を３０ｋＰａに設定する。

図６（ａ）における矢印Ｆ３は、ガスの流れる方向を示す。キャリアガス供給部６１ａから供給されたキャリアガスは、試料気化ユニット２ａから分離カラム３ａへ向って流れる。分離カラム３ａへ向って流れるキャリアガスはさらに下流に向って流れ、検出器５ａに送り込まれる。なお、キャリアガス供給部６１ａから供給されたキャリアガスの一部はスプリット路２３ａから排出される。補助ガス供給部６２ａから供給された補助ガスは、キャリアガスの圧力によって、キャリアガスとともに検出器５ａに送り込まれる。

図６（ａ）に示すように、分析中においては、試料気化ユニット２ａの温度はＴＡ３（℃）に設定され、検出器５ａの温度はＴＢ３（℃）に設定され、カラムオーブン４の温度はＴＣ３（℃）に設定される。第１の実施の形態と同様、制御部１０は、例えば、試料気化ユニット２ａの温度を３００℃に設定し、検出器５ａの温度を３５０℃に設定し、カラムオーブン４の温度を２５０℃に設定する。以上の状態において、ガスクロマトグラフ１Ａは、試料気化ユニット２ａから供給される試料を分離カラム３ａで分離し、検出器５ａは、分離カラム３ａで分離された各試料成分を検出する。

図６（ｂ）に示すように、メンテナンス切り替えモードにおいては、キャリアガス供給部６１ａによるキャリアガスの供給圧力はＰＡ４（Ｐａ）である。制御部１０は、キャリアガスの供給圧力ＰＡ４を、分析中の供給圧力ＰＡ３より低減させる（ＰＡ３＞ＰＡ４）。補助ガス供給部６２ａによる補助ガスの供給圧力はＰＢ４（Ｐａ）である。制御部１０は、補助ガスの供給圧力ＰＢ４を、分析中の供給圧力ＰＢ３より増加させる（ＰＢ３＜ＰＢ４）。例えば、制御部１０は、キャリアガスの供給圧力ＰＡ４を０ｋＰａ〜３０ｋＰａに設定し、補助ガスの供給圧力ＰＢ４を１００ｋＰａに設定する。ただし、この圧力設定は一例である。制御部１０は、試料気化ユニット２ａの部品のメンテナンスが可能な程度にキャリアガスの圧力を低減させればよい。また、制御部１０は、分離カラム３ａ内に空気が混入しない程度に補助ガスの圧力を増加させればよい。このように、メンテナンス切り替えモードにおいては、制御部１０は、補助ガスの供給圧力ＰＢ４をキャリアガスの供給圧力ＰＡ４よりも高く設定する（ＰＡ４＜ＰＢ４）。

図６（ｂ）における矢印Ｆ４は、ガスの流れる方向を示す。キャリアガス供給部６１ａから供給されたキャリアガスは、スプリット路２３ａから排出される。補助ガス供給部６２ａから供給された補助ガスは、分離カラム３ａおよび補助抵抗管３Ｕａの流路抵抗の比に応じて分離カラム３ａおよび補助抵抗管３Ｕａへ流れる。分離カラム３ａに流れた補助ガスは、さらに下流に向って流れ、検出器５ａに送られる。補助抵抗管３Ｕａへ流れた補助ガスは、試料気化ユニット２ａに流れ込み、スプリット路２３ａから排出される。

図６（ｂ）に示すように、分析中においては、試料気化ユニット２ａの温度はＴＡ４（℃）に設定され、検出器５ａの温度はＴＢ４（℃）に設定され、カラムオーブン４の温度はＴＣ４（℃）に設定される。制御部１０は、メンテナンス切り替えモードにおいて、ヒータ７１ａを制御し、試料気化ユニット２ａの温度を低減させる（ＴＡ３＞ＴＡ４）。制御部１０は、例えば、試料気化ユニット２ａの温度を５０℃に設定する。ただし、この温度は一例である。制御部１０は、オペレータが手作業でメンテナンス作業が可能な程度に、試料気化ユニット２ａの温度を低減させればよい。

制御部１０は、検出器５ａおよびカラムオーブン４の温度を分析中と同じ温度に維持する（ＴＢ３＝ＴＢ４，ＴＣ３＝ＴＣ４）。つまり、上記の例であれば、検出器５の温度を３５０℃で維持し、カラムオーブン４の温度を２５０℃で維持する。ただし、この温度は一例である。制御部１０は、検出器５ａの温度を分析中と同じ温度に維持してもよいし、分析中よりも少し温度を低減させてもよい。ガスクロマトグラフ１Ａは第２分析ラインへの切り替えが行われるため、制御部１０は、カラムオーブン４の温度を第２分析ラインにおける分析処理に必要とされる温度に維持する。ヒータ７２によるカラムオーブン４に対する加熱を継続させることで、ガスクロマトグラフ１Ａがメンテナンス切り替えモードに移行した後も、第２分析ラインによる分析処理を継続することができる。以上の状態において、ガスクロマトグラフ１Ａは、メンテナンス切り替えモードに移行する。

メンテナンス切り替えモードに移行した後は、第１の実施の形態と同様である。制御部１０は、装置本体の液晶画面等においてメンテナンス切り替えモードに移行したことをオペレータに通知する。あるいは、制御部１０は、電子メールおよびインジケータ７７ａ等により、メンテナンス切り替えモードに移行したことをオペレータに通知する。オペレータは、試料気化ユニット２ａのガラスインサート２１ａまたはセプタム２２ａ等のメンテナンス部品のメンテナンスを行う。このとき、試料気化ユニット２ａに供給されるキャリアガスの圧力は、大気圧程度に低減されているので、オペレータが試料気化ユニット２ａの蓋を取り外し、内部を開放したとしても内部のガスが勢いよく噴出すことはない。また、試料気化ユニット２ａの温度は低減されているので、オペレータが試料気化ユニット２ａのメンテナンス作業を行うことに支障はない。

制御部１０は、メンテナンス切り替えモードをオペレータに通知するとともに、第２分析ラインによる分析処理を開始する。第２分析ラインによる分析処理の開始制御は、第１の実施の形態と同様である。つまり、制御部１０は、メンテナンス切り替えモードに移行すると、第２分析ラインのキャリアガスおよび補助ガスの供給圧力を分析処理が可能な状態に調整する。また、試料気化ユニット２ｂおよび検出器５ｂは、第１分析ラインによる分析処理中も分析処理が可能な温度に維持されている。したがって、メンテナンス切り替えモードに移行した時点で、試料気化ユニット２ｂおよび検出器５ｂの温度は分析処理に適した温度に調整されている。また、カラムオーブン４は、第１分析ラインによる分析処理中、分離カラム３ａと共に分離カラム３ｂを加熱している。したがって、メンテナンス切り替えモードに移行した時点で、分離カラム３ｂの温度は分析処理に適した温度に調整されている。この状態で、制御部１０は、待機時間を要することなく第２分析ラインによる分析処理を開始することができる。

以上、第１分析ラインの試料気化ユニット２ａのメンテナンス時期が到来したときに、メンテナンス切り替えモードに移行し、第１分析ラインから第２分析ラインに分析ラインを切り替える場合を例に説明した。第２分析ラインの試料気化ユニット２ｂのメンテナンス時期が到来したときも同様、メンテナンス切り替えモードに移行し、第２分析ラインから第１分析ラインへの分析ラインの切り替えが行われる。

なお、第２の実施の形態においても、メンテナンス切り替えモードに移行するとき、制御部１０は、ヒータ７１ａ，７１ｂを制御し、試料気化ユニット２ａ，２ｂの温度を低減させる。これにより、オペレータは手作業でガラスインサート２１ａ，２１ｂおよびセプタム２２ａ，２２ｂのメンテナンス作業を行うことができる。他の実施の形態として、制御部１０は、試料気化ユニット２ａ，２ｂの温度を低減させずに、メンテナンス切り替えモードに移行させてもよい。この場合、試料気化ユニット２ａ，２ｂの温度は分析中と同様に高温であるので、ロボットによってメンテナンス作業が行われる。

［３］第３の実施の形態
次に本発明の第３の実施の形態について説明する。図７は、第３の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１Ｂの全体図である。第３の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１Ｂは、第２の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１Ａと比較して、検出器の配置が異なる。第２の実施の形態においては、第１分析ラインおよび第２分析ラインにそれぞれ検出器５ａ，５ｂが接続されている。第３の実施の形態においては、第１分析ラインおよび第２分析ラインが１つの検出器５ａを共用する。分離カラム３ａ，３ｂの下流側には、分岐素子３５が設けられている。第１分析ラインおよび第２分析ラインは分岐素子３５において合流する。分岐素子３５の下流には、共用の検出器５ａが接続される。それ以外のガスクロマトグラフ１Ｂの構成は、第２の実施の形態に係るガスクロマトグラフ１Ａと同様であるので、説明を省略する。

ガスクロマトグラフ１Ｂの分析中およびメンテナンス切り替えモードにおける状態は、図６を用いて説明した第２の実施の形態と同様である。ガスクロマトグラフ１Ｂは、試料気化ユニット２ａ，２ｂのメンテナンス時期が到来すると、第１分析ラインおよび第２分析ラインを切り替えながら分析処理を継続させることが可能である。

［４］請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応
以下、請求項の各構成要素と実施の形態の各要素との対応の例について説明する。上記の実施の形態では、試料気化ユニット２ａが第１の試料気化ユニットの例であり、試料気化ユニット２ｂが第２の試料気化ユニットの例である。また、分離カラム３ａが第１の分離カラムの例であり、分離カラム３ｂが第２の分離カラムの例である。キャリアガス供給部６１ａが第１のキャリアガス供給部の例であり、キャリアガス供給部６１ｂが第２のキャリアガス供給部の例である。検出器５ａが第１の検出器の例であり、検出器５ｂが第２の検出器の例である。補助ガス供給部６２ａが第１の補助ガス供給部の例であり、補助ガス供給部６２ｂが第２の補助ガス供給部の例である。ヒータ７２が第１ヒータの例であり、ヒータ７１ａが第２ヒータの例であり、ヒータ７１ｂが第３ヒータの例である。また、電子メールプログラムＰ２およびインジケータ７７ａ，７７ｂが通知部の例である。

請求項の各構成要素として、請求項に記載されている構成または機能を有する種々の要素を用いることもできる。

［５］他の実施の形態
上記実施の形態のガスクロマトグラフ１，１Ａ，１Ｂに対してオートサンプラを利用して試料を供給するようにしてもよい。この場合、制御部１０は、メンテナンス切り替えモードへの移行時に、オートサンプラによる試料の供給先を切り替えればよい。また、上記の実施の形態においては、試料気化ユニット２ａ，２ｂがガラスインサート２１ａ，２１ｂを備える構成であるが、試料気化ユニット２ａ，２ｂがガラスインサート２１ａ，２１ｂを備えない構成であっても、本発明を適用することは可能である。

上記の実施の形態においては、ガスクロマトグラフ１，１Ａ，１Ｂは、第１分析ラインおよび第２分析ラインを備える。そして、ガスクロマトグラフ１，１Ａ，１Ｂは、試料気化ユニット２ａ，２ｂのメンテナンス時期が到来すると、２系統の分析ラインを切り替えながら、分析処理を継続させることができる。本発明は、これ以外にも、３系統以上の分析ラインを備えるガスクロマトグラフに適用させることが可能である。３系統以上の分析ラインが備える場合であっても、試料気化ユニットのメンテナンス時期が到来したときに、それら分析ラインを切り替えながら、分析処理を停止させることなく継続させることができる。

（２）メンテナンス切り替えモード
次に、第１分析ラインの試料気化ユニット２ａのメンテナンスが必要となった場合を例として、ガスクロマトグラフ１Ａの分析中およびメンテナンス切り替えモードにおける状態について説明する。なお、第２分析ラインの試料気化ユニット２ｂのメンテナンスが必要となった場合の状態についても同様である。

Claims (16)

1. 試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、
   試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、
   前記第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、
   前記第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、
   前記第１の試料気化ユニットで気化した試料を前記第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、
   前記第２の試料気化ユニットで気化した試料を前記第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、
   前記第１および第２の分離カラムを収容し、前記第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、
   前記第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第１の検出器と、
   前記第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第２の検出器と、
   前記第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、
   前記第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに前記第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、および、前記第１ヒータによる前記第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で前記第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な第１のメンテナンス切り替えモードを設定し、前記第１のメンテナンス切り替えモードの設定と合わせて、前記第２の試料気化ユニットから供給される試料を前記第２の分離カラムに供給して分析処理を継続させる制御部と、
   を備えるガスクロマトグラフ。
2. 試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、
   試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、
   前記第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、
   前記第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、
   前記第１の試料気化ユニットで気化した試料を前記第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、
   前記第２の試料気化ユニットで気化した試料を前記第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、
   前記第１および第２の分離カラムを収容し、前記第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、
   前記第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分または前記第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する検出器と、
   前記第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、
   前記第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに前記第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、前記検出器を検出処理可能な状態に維持し、および、前記第１ヒータによる前記第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で前記第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な第１のメンテナンス切り替えモードを設定し、前記第１のメンテナンス切り替えモードの設定と合わせて、前記第２の試料気化ユニットから供給される試料を前記第２の分離カラムに供給して分析処理を継続させる制御部と、
   を備えるガスクロマトグラフ。
3. 前記ガスクロマトグラフは、さらに、
   前記第１の試料気化ユニットを加熱するための第２ヒータ、
   を備え、
   前記制御部は、前記第１のメンテナンス切り替えモードにおいて、前記第２ヒータを制御し、前記第１の試料気化ユニットの温度を低減させる、請求項１または請求項２に記載のガスクロマトグラフ。
4. 前記第１の補助ガス供給部は、前記第１の分離カラムの下流側に設けられる、請求項１に記載のガスクロマトグラフ。
5. 前記第１の補助ガス供給部は、前記第１の分離カラムの上流側に設けられる、請求項１または請求項２に記載のガスクロマトグラフ。
6. 前記制御部は、
   前記第１の試料気化ユニットのメンテナンスの必要性を判定し、メンテナンスが必要となった場合に前記ガスクロマトグラフを前記第１のメンテナンス切り替えモードに移行させる、請求項１または請求項２に記載のガスクロマトグラフ。
7. 前記制御部は、
   前記第１のメンテナンス切り替えモード時に、オペレータに対して前記第１のメンテナンス切り替えモードへの移行を通知する通知部、を含む請求項１または請求項２に記載のガスクロマトグラフ。
8. 前記ガスクロマトグラフは、さらに、
   前記第２の分離カラムに補助ガスを供給する第２の補助ガス供給部、
   を備え、
   前記制御部は、
   前記第２の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を前記第２の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに前記第２のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を前記第２の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、および、前記第１ヒータによる前記第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で前記第２の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な第２のメンテナンス切り替えモードを設定し、前記第２のメンテナンス切り替えモードの設定と合わせて、前記第１の試料気化ユニットから供給される試料を前記第１の分離カラムに供給して分析処理を継続させる、請求項１に記載のガスクロマトグラフ。
9. 前記ガスクロマトグラフは、さらに、
   前記第２の分離カラムに補助ガスを供給する第２の補助ガス供給部、
   を備え、
   前記制御部は、
   前記第２の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を前記第２の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに前記第２のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を前記第２の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御し、前記検出器を検出処理可能な状態に維持し、および、前記第１ヒータによる前記第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で前記第２の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な第２のメンテナンス切り替えモードを設定し、前記第２のメンテナンス切り替えモードの設定と合わせて、前記第１の試料気化ユニットから供給される試料を前記第１の分離カラムに供給して分析処理を継続させる、請求項２に記載のガスクロマトグラフ。
10. 前記ガスクロマトグラフは、さらに、
    前記第２の試料気化ユニットを加熱するための第３ヒータ、
    を備え、
    前記制御部は、前記第２のメンテナンス切り替えモードにおいて、前記第３ヒータを制御し、前記第２の試料気化ユニットの温度を低減させる、請求項８または請求項９に記載のガスクロマトグラフ。
11. 前記第２の補助ガス供給部は、前記第２の分離カラムの下流側に設けられる、請求項８に記載のガスクロマトグラフ。
12. 前記第２の補助ガス供給部は、前記第２の分離カラムの上流側に設けられる、請求項８または請求項９に記載のガスクロマトグラフ。
13. 試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、
    試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、
    前記第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、
    前記第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、
    前記第１の試料気化ユニットで気化した試料を前記第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、
    前記第２の試料気化ユニットで気化した試料を前記第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、
    前記第１および第２の分離カラムを収容し、前記第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、
    前記第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第１の検出器と、
    前記第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第２の検出器と、
    前記第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、を備えるガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定する方法であって、
    前記第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに前記第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御するステップと、
    前記第１ヒータによる前記第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で、前記第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、前記第２の試料気化ユニットから供給される試料を前記第２の分離カラムに供給して分析処理を開始させるステップと、
    を含むメンテナンス切り替えモード設定方法。
14. 試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、
    試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、
    前記第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、
    前記第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、
    前記第１の試料気化ユニットで気化した試料を前記第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、
    前記第２の試料気化ユニットで気化した試料を前記第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、
    前記第１および第２の分離カラムを収容し、前記第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、
    前記第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分または前記第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する検出器と、
    前記第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、を備えるガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定する方法であって、
    前記第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに前記第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御するステップと、
    前記検出器を検出処理可能な状態に維持し、および、前記第１ヒータによる前記第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で、前記第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、前記第２の試料気化ユニットから供給される試料を前記第２の分離カラムに供給して分析処理を開始させるステップと、
    を含むメンテナンス切り替えモード設定方法。
15. 試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、
    試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、
    前記第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、
    前記第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、
    前記第１の試料気化ユニットで気化した試料を前記第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、
    前記第２の試料気化ユニットで気化した試料を前記第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、
    前記第１および第２の分離カラムを収容し、前記第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、
    前記第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第１の検出器と、
    前記第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する第２の検出器と、
    前記第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、を備えるガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定するプログラムであって、
    前記第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに前記第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御する処理と、
    前記第１ヒータによる前記第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で、前記第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、前記第２の試料気化ユニットから供給される試料を前記第２の分離カラムに供給して分析処理を開始させる処理と、をコンピュータに実行させるメンテナンス切り替えモード設定プログラム。
16. 試料を気化させる第１の試料気化ユニットと、
    試料を気化させる第２の試料気化ユニットと、
    前記第１の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第１の分離カラムと、
    前記第２の試料気化ユニットから供給された試料を各試料成分に分離する第２の分離カラムと、
    前記第１の試料気化ユニットで気化した試料を前記第１の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第１の試料気化ユニットに供給する第１のキャリアガス供給部と、
    前記第２の試料気化ユニットで気化した試料を前記第２の分離カラムへ導くためのキャリアガスを前記第２の試料気化ユニットに供給する第２のキャリアガス供給部と、
    前記第１および第２の分離カラムを収容し、前記第１および第２の分離カラムを加熱するための第１ヒータを有するカラムオーブンと、
    前記第１の分離カラムにおいて分離された各試料成分または前記第２の分離カラムにおいて分離された各試料成分を検出する検出器と、
    前記第１の分離カラムに補助ガスを供給する第１の補助ガス供給部と、を備えるガスクロマトグラフをメンテナンス切り替えモードに設定するプログラムであって、
    前記第１の補助ガス供給部による補助ガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも上昇させるとともに前記第１のキャリアガス供給部によるキャリアガスの供給圧力を前記第１の試料気化ユニットから供給される試料の分析中よりも低減させて、補助ガスの供給圧力がキャリアガスの供給圧力より高くなるように制御する処理と、
    前記検出器を検出処理可能な状態に維持し、および、前記第１ヒータによる前記第１および第２の分離カラムに対する加熱を継続した状態で、前記第１の試料気化ユニットに対するメンテナンスが可能な状態に設定するとともに、前記第２の試料気化ユニットから供給される試料を前記第２の分離カラムに供給して分析処理を開始させる処理と、をコンピュータに実行させるメンテナンス切り替えモード設定プログラム。

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