JPWO2020110960A1 - プローブ嵌合構造及びプローブ - Google Patents
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Abstract
Description
配列された複数の接続電極を有する検査対象のコネクタと、前記コネクタに嵌合するプローブと、を有するプローブ嵌合構造であって、
前記プローブは、
貫通孔を有するフランジと、
前記貫通孔に挿通され、先端部にプローブピンを取り付けた同軸ケーブルと、
先端からプローブピンを露出させるプランジャと、
前記フランジと前記プランジャとの間で前記同軸ケーブルを内包し、一方端部が前記フランジに固定され、他方端部が前記プランジャに固定されたスプリングと、
を備え、
前記プランジャは、当該プランジャの先端部に形成されたプランジャ側嵌合部を有し、
前記コネクタは、前記プランジャ側嵌合部の外側面に接して嵌合するコネクタ側嵌合部を有する。
配列された複数の接続電極を有する検査対象のコネクタと、前記コネクタに嵌合するプローブと、を有するプローブ嵌合構造であって、
前記プローブは、
貫通孔を有するフランジと、
前記貫通孔に挿通され、先端部にプローブピンを取り付けた同軸ケーブルと、
先端からプローブピンを露出させるプランジャと、
前記フランジと前記プランジャとの間で前記同軸ケーブルを内包し、一方端部が前記フランジに固定され、他方端部が前記プランジャに固定されたスプリングと、
を備え、
前記プランジャは、当該プランジャの先端部に形成されたプランジャ側嵌合部を有し、
前記コネクタは、前記プランジャ側嵌合部を取り囲んで嵌合するコネクタ側嵌合部を有する。
接続電極を有するコネクタを検査するためのプローブであって、
貫通孔を有するフランジと、
前記貫通孔に挿通される同軸ケーブルと、
平面状の基端部を有するプランジャと、
前記同軸ケーブルに取り付けられ、先端が前記基端部から露出するプローブピンと、
を備え、
前記プランジャは、前記基端部の平面視で前記プローブピンを挟む複数の突起部を含み、
前記基端部から前記複数の突起部の先端までのそれぞれの長さは、前記基端部からプローブピンの先端までの長さよりも長い。
図1は第1の実施形態に係るプローブ嵌合構造101の斜視図である。図2はプローブ2の組立前の状態での斜視図である。図3はプランジャ4の先端部の拡大斜視図である。
図4(A)はプランジャ4の基端部PEの拡大平面図である。図4(B)は、基端部PEにおける突起部P1,P2とプローブピン18との位置関係を示す図である。図4(B)においては、2つの突起部P1,P2全体の外形線OLを示している。プランジャ4の基端部PEの平面視で、プローブピン18の一部は、複数の突起部(この例では2つの)突起部P1,P2全体の外形線OLで囲まれる範囲内にある。
第2の実施形態では、プランジャとコネクタとの嵌合部の構造が第1の実施形態とは異なるプローブについて示す。
G1,G2…溝
H1,H2…孔部
N1,N2…切り欠き部
P1,P2…突起部
2…プローブ
3…コネクタ
3S11,3S12…傾斜部
3S21,3S22…傾斜部
4…プランジャ
4S11,4S12…傾斜部
4S21,4S22…傾斜部
6…同軸ケーブル
8…フランジ
8H…貫通孔
9…連結部材
10…スプリング
12…同軸コネクタ
18…プローブピン
31,32…金属フレーム
33,33A〜33H…接続電極
34…接続電極保持バー
101…プローブ嵌合構造
Claims (10)
- 配列された複数の接続電極を有する検査対象のコネクタと、前記コネクタに嵌合するプローブと、を有するプローブ嵌合構造であって、
前記プローブは、
貫通孔を有するフランジと、
前記貫通孔に挿通され、先端部にプローブピンを取り付けた同軸ケーブルと、
先端からプローブピンを露出させるプランジャと、
前記フランジと前記プランジャとの間で前記同軸ケーブルを内包し、一方端部が前記フランジに固定され、他方端部が前記プランジャに固定されたスプリングと、
を備え、
前記プランジャは、当該プランジャの先端部に形成されたプランジャ側嵌合部を有し、
前記コネクタは、前記プランジャ側嵌合部の外側面に接して嵌合するコネクタ側嵌合部を有する、
プローブ嵌合構造。 - 配列された複数の接続電極を有する検査対象のコネクタと、前記コネクタに嵌合するプローブと、を有するプローブ嵌合構造であって、
前記プローブは、
貫通孔を有するフランジと、
前記貫通孔に挿通され、先端部にプローブピンを取り付けた同軸ケーブルと、
先端からプローブピンを露出させるプランジャと、
前記フランジと前記プランジャとの間で前記同軸ケーブルを内包し、一方端部が前記フランジに固定され、他方端部が前記プランジャに固定されたスプリングと、
を備え、
前記プランジャは、当該プランジャの先端部に形成されたプランジャ側嵌合部を有し、
前記コネクタは、前記プランジャ側嵌合部を取り囲んで嵌合するコネクタ側嵌合部を有する、
プローブ嵌合構造。 - 前記プローブピンは複数あって、
前記コネクタは前記プローブピンが当接する複数の接続電極を有し、
前記複数の接続電極は、前記プローブの当接離間方向に対する直交面での180度回転対称の位置にあり、
前記複数のプローブピンは、前記コネクタの前記180度回転の中心軸に対して、180度回転の前後で、前記複数の接続電極のうちの異なる接続電極にそれぞれ当接する位置に設けられている、
請求項1又は2に記載のプローブ嵌合構造。 - 前記コネクタは複数の接続電極を有し、
前記プローブピンは、前記複数の接続電極の全てにそれぞれに当接する複数のプローブピンである、
請求項1又は2に記載のプローブ嵌合構造。 - 前記コネクタ側嵌合部は前記複数の接続電極の配列範囲を挟む複数箇所にあり、
前記プランジャ側嵌合部は前記複数のコネクタ側嵌合部にそれぞれ嵌合する、
請求項1又は2に記載のプローブ嵌合構造。 - 前記複数の接続電極は列を構成し、
前記プランジャ側嵌合部は前記複数の接続電極の配列範囲内の前記列に沿った形状である、
請求項1又は2に記載のプローブ嵌合構造。 - 前記プランジャ側嵌合部は突起部であり、前記コネクタ側嵌合部は前記プランジャ側嵌合部が挿入される陥凹部であり、前記突起部は、前記接続電極又は前記接続電極の保持部からの離間距離を確保する切り欠き部を有する、
請求項1から6のいずれかに記載のプローブ嵌合構造。 - 前記突起部及び前記陥凹部の双方に、又は一方に、挿入方向の基端部より先端部で厚みが薄くなる傾斜部を有し、当該傾斜部は前記陥凹部に対する前記突起部の適正位置を誘導する、請求項7に記載のプローブ嵌合構造。
- 接続電極を有するコネクタを検査するためのプローブであって、
貫通孔を有するフランジと、
前記貫通孔に挿通される同軸ケーブルと、
平面状の基端部を有するプランジャと、
前記同軸ケーブルに取り付けられ、先端が前記基端部から露出するプローブピンと、
を備え、
前記プランジャは、前記基端部の平面視で前記プローブピンを挟む複数の突起部を含み、
前記基端部から前記複数の突起部の先端までのそれぞれの長さは、前記基端部からプローブピンの先端までの長さよりも長い、
プローブ。 - 前記プランジャの前記基端部の平面視で、前記プローブピンは、前記複数の突起部全体の外形線で囲まれる範囲内にある、
請求項9に記載のプローブ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018223627 | 2018-11-29 | ||
JP2018223627 | 2018-11-29 | ||
PCT/JP2019/045857 WO2020110960A1 (ja) | 2018-11-29 | 2019-11-22 | プローブ嵌合構造及びプローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2020110960A1 true JPWO2020110960A1 (ja) | 2021-10-07 |
JP7243738B2 JP7243738B2 (ja) | 2023-03-22 |
Family
ID=70853340
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020557683A Active JP7243738B2 (ja) | 2018-11-29 | 2019-11-22 | プローブ嵌合構造 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11719762B2 (ja) |
JP (1) | JP7243738B2 (ja) |
KR (1) | KR102545546B1 (ja) |
CN (1) | CN113167813A (ja) |
TW (1) | TWI741422B (ja) |
WO (1) | WO2020110960A1 (ja) |
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2019
- 2019-11-22 CN CN201980078176.XA patent/CN113167813A/zh active Pending
- 2019-11-22 KR KR1020217010554A patent/KR102545546B1/ko active IP Right Grant
- 2019-11-22 JP JP2020557683A patent/JP7243738B2/ja active Active
- 2019-11-22 WO PCT/JP2019/045857 patent/WO2020110960A1/ja active Application Filing
- 2019-11-29 TW TW108143688A patent/TWI741422B/zh active
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2021
- 2021-05-26 US US17/331,336 patent/US11719762B2/en active Active
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JP7243738B2 (ja) | 2023-03-22 |
US20210278480A1 (en) | 2021-09-09 |
KR102545546B1 (ko) | 2023-06-20 |
TWI741422B (zh) | 2021-10-01 |
US11719762B2 (en) | 2023-08-08 |
CN113167813A (zh) | 2021-07-23 |
KR20210055763A (ko) | 2021-05-17 |
WO2020110960A1 (ja) | 2020-06-04 |
TW202028753A (zh) | 2020-08-01 |
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