CN201716340U - 探针装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型是有关于一种探针装置，其适于与一测试端子以及位于测试端子周围的至少一接地端子接触。此探针装置包括一信号探针与多个接地件。信号探针具有一测试端，且此测试端适于与测试端子接触。接地件位于测试端周围，且每一接地件是可伸缩。当测试端接触测试端子时，接地件至少其中之二是接触至少一接地端子。此探针装置能提高测试准确度。

Description

探针装置 

技术领域

本实用新型涉及一种探针装置，特别是涉及一种具有可伸缩的接地件的探针装置。 

背景技术

图1是现有习知的一种探针装置的剖面示意图，而图2是现有习知的探针装置的立体示意图，其中图2省略了现有习知的探针装置的保护外壳。请参阅1与图2所示，现有习知的探针装置100为一射频(radio frequency，RF)同轴探针装置，其包括一保护外壳110、一套筒120、一信号探针130以及一弹簧140。保护外壳110具有相对的一第一端112与一第二端114，其中第一端112具有一开口113，而第二端114具有一入线孔115。套筒120配置于保护外壳110内，且部分套筒120从保护外壳110的开口113凸出于保护外壳110外。此套筒120为接地套筒。此外，弹簧140抵靠于套筒120的一端122与保护外壳110的第二端114之间。信号探针130是从保护外壳110的第二端114的入线孔115穿入保护外壳110内，并穿入弹簧140内与套筒120内，且信号探针130的一测试端131延伸至保护外壳110外。另外，探针装置100包括一固定柱132以及一绝缘层136。信号探针130是配置于固定柱132内，且部分探针134暴露于固定柱132外，以形成上述的测试端131。绝缘层136是配置于信号探针130与固定柱132之间。 

图3是现有习知的的探针装置用于测试电路板的射频信号的示意图。请参阅图1与图3所示，现有习知的探针装置100是用于测量一模块的射频信号，此模块具有一电路板50，且电路板50的一表面51设有射频信号测试端子52以及围绕此射频信号测试接子52的一接地端子54。测试射频信号的方法是将信号探针130的测试端131对准射频信号测试端子52，并将套筒120的接触端124对准接地端子54。接着，下压探针装置100，使套筒120的接触端124抵靠接地端子54，如此套筒120会挤压弹簧140并稍微缩入保护外壳110内，而信号探针130的测试端131则会抵靠射频信号测试端子52，以测量电路板50的射频信号。 

承上述，在测量射频信号时，套筒120的接触端124需整个与接地端子52接触，以避免接地参考信号失真而导致测量出的射频信号产生严重的误差。因此，探针装置100需沿垂直电路板50的表面51的方向D1下压，以使套筒120的接触端124能整个与接地端子52接触。然而，在某些情况 下，如探针装置100无法沿方向D1下压或接地端子52不平坦时，则套筒120的接触端124仅有部分与接地端子52接触。如此，将使接地参考信号失真，并导致测量出的射频信号产生严重的误差。 

由此可见，上述现有的探针装置在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型的探针装置，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。 

发明内容

本实用新型的目的在于，克服现有的探针装置存在的缺陷，而提供一种新型的探针装置，所要解决的技术问题是使其提高测试准确度，非常适于实用。 

本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。经由以上可知，为了达到上述目的，本实用新型提供了一种探针装置，其适于与一测试端子以及位于测试端子周围的至少一接地端子接触。此探针装置包括一信号探针与多个接地件。信号探针具有一测试端，且此测试端适于与测试端子接触。接地件位于测试端周围，且每一接地件可伸缩。当测试端接触测试端子时，接地件至少其中之二接触至少一接地端子。 

在本实用新型的一实施例中，上述的探针装置更包括一保护外壳，其具有相对的一第一端与一第二端。第一端具有一开口，而第二端具有一入线孔。信号探针从第二端的入线孔穿入保护外壳内，且信号探针的测试端从开口延伸至保护外壳外。接地件位于保护外壳内。 

在本实用新型的一实施例中，上述的每一接地件包括一基部与一接地部。基部配置于保护外壳内，接地部连接基部的一限位端，并从开口延伸至保护外壳外。 

在本实用新型的一实施例中，上述的探针装置更包括多个弹性件，抵靠于每一接地件的基部与保护外壳的第二端之间。 

在本实用新型的一实施例中，上述的每一接地件的基部被弹性件至少其中的一抵靠。 

在本实用新型的一实施例中，上述的每一接地件的基部与接地部形成一弧片。 

在本实用新型的一实施例中，上述的接地件的接地部分别为一弧片。基部包括互相套设的多个套筒，且每一套筒围绕信号探针。 

在本实用新型的一实施例中，上述的探针装置更包括互相套设的多个 弹性件，且弹性件分别抵靠套筒。 

在本实用新型的一实施例中，上述的套筒包括一第一套筒、一第二套筒与一第三套筒，其中第二套筒套设于第一套筒内，套设于该第二套筒内。第一套筒的一限位端设有一第一限位部，且第一限位部适于抵靠保护外壳的第一端。第二套筒的一限位端设有一第二限位部，且第二限位部适于抵靠保护外壳的第一端。第三套筒的一限位端设有一第三限位部，且该第三限位部适于抵靠该保护外壳的第一端。 

在本实用新型的一实施例中，上述的探针装置更包括一套筒，其配置于保护外壳内，且位于信号探针周围。接地件固定于套筒，且每一接地件包括可伸缩的一接地探针，接地探针的一接触端从开口延伸至保护外壳外。 

在本实用新型的一实施例中，上述的每一接地件更包括一针套，其固定于套筒，而接地探针配置于针套内。 

在本实用新型的一实施例中，上述的每一接地件更包括一弹性件，其抵靠于接地探针与针套之间。 

在本实用新型的一实施例中，上述的针套固定于套筒的一外表面。 

在本实用新型的一实施例中，上述的套筒具有相对的一第一面与一第二面，第二面与保护外壳的第二端相对，而针套固定于套筒的第一面。 

在本实用新型的一实施例中，上述的探针装置更包括一弹性件，套筒具有相对的一第一面与一第二面，第二面与保护外壳的第二端相对，而弹性件抵靠于套筒的第二面与保护外壳的第二端之间。 

在本实用新型的一实施例中，上述的探针装置更包括一固定柱，其位于信号探针与接地件之间。 

在本实用新型的一实施例中，上述的探针装置更包括一绝缘层，其位于固定柱内。 

在本实用新型的一实施例中，上述的接地件固定于固定柱。 

借由上述技术方案，本实用新型探针装置至少具有下列优点及有益效果：由于本实用新型的探针装置具有可伸缩的多个接地件，所以能确保这些接地件能与接地端子接触，以提供准确的接地参考信号。因此，本实用新型的探针装置能提高测试准确度。 

综上所述，本实用新型一种探针装置，能提高测试准确度。本实用新型在技术上有显著的进步，并具有明显的积极效果，诚为一新颖、进步、实用的新设计。 

上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本实用新型的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。 

附图说明

图1是现有习知的一种探针装置的剖面示意图。 

图2是现有习知的的探针装置的立体示意图。 

图3是现有习知的探针装置用于测试电路板的射频信号的示意图。 

图4是本实用新型第一实施例的一种探针装置的立体示意图。 

图5是本实用新型第一实施例的探针装置的分解立体图。 

图6是本实用新型第一实施例的探针装置的部分构件的组合结构图。 

图7是本实用新型第一实施例的探针装置用于测试电路板的射频信号的示意图。 

图8是本实用新型第二实施例的一种探针装置的立体示意图。 

图9A是本实用新型第二实施例的探针装置的剖面示意图。 

图9B是本实用新型第二实施例的接地件与弹性件的立体示意图。 

图10是本实用新型第三实施例的一种探针装置的剖面示意图 

图11是本实用新型第三实施例的探针装置的立体示意图。 

图12是本实用新型第三实施例的探针装置用于测试电路板的射频信号的示意图。 

图13是本实用新型第四实施例的一种探针装置的剖面示意图。 

图14是本实用新型第五实施例的一种探针装置的剖面示意图。 

图15是本实用新型第五实施例的探针装置的立体示意图。 

图16是本实用新型第六实施例的一种探针装置的剖面示意图。 

图17是本实用新型第七实施例的探针装置的立体示意图。 

图18是本实用新型第八实施例的探针装置的立体示意图。 

图19是本实用新型第九实施例的探针装置的立体示意图。 

50、60：电路板                51、61：表面 

52：射频信号测试端子          54、64：接地端子 

62：测试端子 

100、200、300、400、400a、400b、400c、500、500a、500b：探针装置 

110、210、410：保护外壳       112、212、412：第一端 

113、213、413：开口           114、214、414：第二端 

115、215、415：入线孔         120：套筒 

122、233a、233b、233c：限位端 

235a、235b、235c、335：基部的一端 

124、445：接触端              130、220、420、520：信号探针 

131、221、421：测试端         132、222、422、530：固定柱 

136、226、426：绝缘层         140：弹簧 

230a、230b、230c、330、440：接地件 

232a、232b、232c、332：基部 

234a、234b、234c、334：接地部 

237a：第一限位部               237b：第二限位部 

240a、240b、240c、340、450：弹性件 

430：套筒                      432、532：外表面 

434：第一面                    436：第二面 

442、510、542：针套            444、544：接地探针 

D1、D2：方向 

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的探针装置其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。 

有鉴于现有习知的技术的缺点，本实用新型提出一种探针装置，其适于与一测试端子以及位于测试端子周围的至少一接地端子接触。此探针装置包括一信号探针与多个接地件。信号探针具有一测试端，且此测试端适于与测试端子接触。接地件位于测试端周围，且每一接地件可伸缩。当测试端接触测试端子时，接地件至少其中之二接触至少一接地端子。 

以下将列举数个实施例，并配合图式来进一步说明本实用新型。 

请参阅图4至图6所示，图4是本实用新型第一实施例的一种探针装置的立体示意图，图5是本实用新型第一实施例的探针装置的立体分解图，而图6是本实用新型第一实施例的探针装置的部分构件的组合结构图。本实施例的探针装置200例如是一射频同轴探针装置，但不以此为限。此探针装置200包括一信号探针220与可伸缩的多个接地件。本实施例是以三个接地件230a、230b、230c为例。接地件230a、230b、230c位于信号探针220周围。接地件230a、230b、230c之间可存有间隙，或是彼此相连。本实用新型并不限定接地件与弹性件的数量。换言之，接地件的数量可为两个或两个以上。 

上述的探针装置200可更包括一保护外壳210。保护外壳210具有相对的一第一端212与一第二端214，其中第一端212具有一开口213，而第二端214具有一入线孔215。信号探针220是从第二端214的入线孔215穿入保护外壳210内，且信号探针220的一测试端221从开口213延伸至保护外壳210外。接地件230a、230b、230c是配置于保扩外壳210内，且围绕信号探针220。此外，接地件230a包括一基部232a与一接地部234a，接地件230b包括一基部232b与一接地部234b，而接地件230c包括一基部 232c与一接地部234c。基部232a、232b、232c配置于保护外壳210内，而接地部234a、234b、234c分别连接基部232a、232b、232c的一限位端233a、233b、233c，并从开口213延伸至保护外壳210外。接地件230a、230b、230c的接地部234a、234b、234c例如是沿围绕信号探针220的一轨迹排列。此轨迹可以是圆形轨迹，但不以此为限。需注意的是，信号探针220具有一测试端221，而接地件230a、230b、230c的接地部234a、234b、234c是位于信号探针220的测试端221周围，并不限定需围绕信号探针220。 

探针装置200可更包括多个弹性件，而本实施例是以三个弹性件240a、240b、240c为例。但本实用新型并不限定弹性件的数量。换言之，弹性件的数量可为两个或两个以上。弹性件240a是抵靠于接地件230a的基部232a的一端235a与保护外壳210的第二端214之间，弹性件240b是抵靠于接地件230b的基部232b的一端235b与保护外壳210的第二端214之间，弹性件240c是抵靠于接地件230c的基部232c的一端235c与保护外壳210的第二端214之间。需注意的是，弹性件240a、240b、240c并非必要构件。此外，弹性件240a、240b、240c例如分别为一弹簧，且这些弹性件240a、240b、240c是互相套设，并分别抵靠基部232a、232b、232c。更详细地说，弹性件240a是抵靠于基部232a与保护外壳210的第二端214之间，弹性件240b是套设于弹性件240a内并抵靠于基部232b与保护外壳210的第二端214之间，而弹性件240c是套设于弹性件240b内并抵靠于基部232c与保护外壳210的第二端214之间。 

在本实施例中，上述这些接地件230a、230b、230c的接地部234a、234b、234c例如分别为一弧片。此外，接地件230a、230b、230c的材质可包括铜，而铜的表面可镀一层金。接地件230a、230b、230c的基部232a、232b、232c分别为一套筒。这些基部232a、232b、232c是互相套设，且每一基部232a、232b、232c皆围绕信号探针220。具体而言，基部232a为一第一套筒，基部232a的限位端233a设有一第一限位部237a，且第一限位部237a适于抵靠保护外壳210的第一端212，而接地部234a是连接第一限位部237a。基部232b为一第二套筒，且基部232b是套设于基部232a内，基部232b的限位端233b设有一第二限位部237b，且第二限位部237b适于抵靠保护外壳210的第一端212，而接地部234b是连接第二限位部237b。此外，基部232c为一第三套筒，其套设于基部232b内，基部232c的限位端233c设有一第三限位部237c，且第三限位部237c适于抵靠保护外壳210的第一端212，而接地部234c是连接第三限位部237c。 

探针装置200可更包括一固定柱222，而信号探针220是位于固定柱222与接地件内，且部分信号探针220是暴露于固定柱222外，以形成上述的测试端221。此外，探针装置200可更包括一绝缘层226。此绝缘层226 是配置于固定柱222内。另外，信号探针220的材质可包括铜，而铜的表面可镀一层金。 

需注意的是，固定柱222非必要构件，而在固定柱222的材质为绝缘材质的实施例中，绝缘层226也非必要构件。可选的，可将固定柱132改为包覆层，包覆在绝缘层136、信号探针130外，将固定柱132(包覆层)、绝缘层136与信号探针130预制成一探针线。 

此外，信号探针220可位于固定柱222内或接地件230a、230b、230c的基部232a、232b、232c内，但并不限定位于其中心。另外，上述的信号探针220可连接一可伸缩件，以形成可伸缩的信号探针220，由于其结构为本实用新型所属技术领域中的通常知识，在此将不另搭配图式做详细的说明。 

图7是本实用新型第一实施例的探针装置用于测试电路板的射频信号的示意图。请参阅图6与图7所示，本实施例的探针装置200可用于测量一模块的射频信号，此模块具有一电路板60，且电路板60的一表面61设有测试端子62以及围绕此测试端子62的至少一接地端子64。测试端子62为射频信号测试端子。测试射频信号的方法是将信号探针220的测试端221对准测试端子62，并将接地部234a、234b、234c对准接地端子64。接着，下压探针装置200，使接地部234a、234b、234c接触接地端子64，并使信号探针220的测试端221接触测试端子62，以测量电路板60的射频信号。也就是说，当测试端221接触该测试端子62时，接地部234a、234b、234c接触所述至少一接地端子64。  

在本实施例中，由于每一接地件230a、230b、230c都可独立伸缩。即使接地端子64不平坦或探针装置200无法沿垂直电路板60的表面61的方向D2下压，每一接地件230a、230b、230c的接地部234a、234b、234c仍可接触到接地端子64。举例来说，在图7中，虽然接地端子64的位于测试端子62左侧的部分较接地端子64的位于测试端子62右侧的部分高，但先抵触到接地端子64的接地部234c会稍微缩回保护外壳210内，而接地部234b与接地部234c(图未式)并不会缩回保护外壳210内或缩回较少，如此接地部234b与接地部234c仍可接触到接地端子64。由于本实施例的探针装置200能确保每一接地件230a、230b、230c的接地部234a、234b、234c都可接触到接地端子64，所以能避免接地参考信号失真，进而防止测量出的射频信号产生误差。因此，本实施例的探针装置200能提高测试准确度。 

需注意的是，在不包括弹性件240a、240b、240c的实施例中，在测试时，接地件230a、230b、230c可靠着重力而伸出。此外，在探针装置200不包括保护外壳210的实施例中，弹性件240a、240b、240c可一端固定于接地件230的基部232，另一端固定于固定柱222。 

请参阅图8、图9A与图9B所示，图8是本实用新型第二实施例的一种探针装置的立体示意图，图9A是本实用新型第二实施例的探针装置的剖面示意图，而图9B是本实用新型第二实施例的接地件与弹性件的立体示意图。本实施例的探针装置300例如是一射频同轴探针装置，但不以此为限。与第一实施例相似，此探针装置300包括一保护外壳210与一信号探针220。此外，探针装置300更包括多个接地件330，在图8、图9A与图9B中是以两个接地件330为例，但在其他实施例中，接地件330的数量个大于两个。此外，接地件330之间可存有间隙，或是彼此相连。 

本实施例的保护外壳210及信号探针220与第一实施例相似，所以本实施例的保护外壳210、信号探针220及其细部构造的标号与第一实施例相同。此外，关于保护外壳210及信号探针220的详细说明，请参照第一实施例，在此将不再重述。另外，与第一实施例相似，探针装置300亦可包括固定柱222与绝缘层226，但其并非必要构件。 

上述的探针装置300中，每一接地件330包括一基部332与一接地部334，基部332配置于保护外壳210内，而接地部334连接基部332的一限位端353，并从开口213延伸至保护外壳210外。这些接地件230的接地部234例如是沿围绕信号探针220的一轨迹(如圆形轨迹)排列。需注意的是，接地件230的接地部234是位于信号探针220周围，并不限定需围绕信号探针220。 

此外，每一接地件330的基部332与接地部334形成一弧片。亦即，每一接地件330为一弧片，而此弧片包括基部332与接地部334。其中，基部332的外径略大于开口213，接地部234的外径略小于开口213，限位端353的外径与开口213大致相符。接地件330的材质可包括铜，而铜的表面可镀一层金。另外，探针装置300可更包括多个弹性件340，其抵靠于接地件330的的基部332的一端335与保护外壳210的第二端214之间。弹性件340例如是弹簧，但不以此为限。在本实施例中是以两个弹性件340抵靠一个接地件330为例，但在其他实施例中，可一个弹性件340抵靠一个接地件330，两个以上的弹性件340抵靠一个接地件330，或是一个弹性件340抵靠两个或两个以上的接地件330。与第一实施例相似，本实施例的探针装置300亦可不包括弹性件340。 

与第一实施例相似，本实施例的探针装置300的每一接地件330都可独立伸缩。因此，本实施例的探针装置300与第一实施例的探针装置200具有相似的优点。亦即，本实施例的探针装置300能避免接地参考信号失真，以防止测量出的射频信号产生的误差，进而提高测试准确度。需注意的是，在不包括弹性件240的实施例中，在测试时，接地件230可靠着重力而伸出。此外，在探针装置300不包括保护外壳210的实施例中，弹性 件340可一端固定于接地件330的基部332，另一端固定于固定柱222。 

请参阅图10与图11所示，图10是本实用新型第三实施例的一种探针装置的剖面示意图，而图11是本实用新型第三实施例的探针装置的立体示意图，其中图11省略了第三实施例的探针装置的保护外壳。本实施例的探针装置400例如是一射频同轴探针装置，但不以此为限。与第一实施例相似。此探针装置400包括一信号探针420以及可伸缩的多个接地件440。信号探针420具有一测试端421，而接地件440位于信号探针420的测试端421周围。本实用新型并不限定接地件与弹性件的数量。换言之，接地件的数量可为两个或两个以上。 

上述的探针装置400可更包括一保护外壳410。保护外壳410具有相对的一第一端412与一第二端414，第一端412具有一开口413，而第二端414具有一入线孔415。信号探针420从此入线孔415穿入保护外壳410内，且信号探针420的一测试端421从开口413延伸至保护外壳410外。此外，上述的探针装置400可更包括一套筒430，其配置于保护外壳410内，且围绕信号探针420。接地件440例如是固定于套筒430，且位于信号探针420的测试端421周围。接地件440之间可存有间隙，或是彼此相连。接地件440包括接地探针444， 且接地探针444的一接触端445从开口413延伸至保护外壳410外。此外，每一接地件440可更包括一针套442。针套442例如是固定于套筒420，而接地探针444是可伸缩地配置于针套442内。 

上述的探针装置400中，针套442例如是固定于套筒430的一外表面432。保护外壳410与套筒430例如皆为圆形套筒，但不以此为限。此外，探针装置400可更包括一固定柱422。测试探针424配置于固定柱422内，且部分测试探针424暴露于固定柱422外，以形成上述的测试端421。另外，探针装置400可更包括一绝缘层426。绝缘层426配置于测试探针424与固定柱422之间。再者，每一接地件440可更包括一弹性件446，其抵靠于接地探针444与针套442之间，以使接地探针444具有可伸缩性。 

需注意的是，上述的保护外壳410、套筒430、针套442、固定柱422、绝缘层426以及弹性件446非必要构件。在探针装置400不包括套筒430的实施例中，接地件440可固定于固定柱422。在探针装置400不包括固定柱422的实施例中，接地件440可固定于套筒430。 

图12是本实用新型第三实施例的探针装置用于测试电路板的射频信号的示意图。请参阅图11与图12所示，本实施例的探针装置400可用于测量一模块的射频信号。测试射频信号的方法是将测试探针424的测试端421对准测试端子62，并将接地探针444对准接地端子64。接着，下压探针装置400，使接地探针444接触接地端子64，并使测试探针424的测试端421接触测试端子62，以测量电路板60的射频信号。 

在本实施例中，当测试端421接触测试端子62时，接地探针444接触所述至少一接地端子64 。由于每一接地探针444是可伸缩的，即使接地端子64不平坦或探针装置400无法沿垂直电路板60的表面61的方向D2下压，每一接地探针444仍可接触到接地端子64。举例来说，在图12中，虽然接地端子64的位于测试端子62左侧的部分较接地端子64的位于测试端子62右侧的部分高，但先抵触到接地端子64的接地探针444(如位于图12右侧的接地探针444)会稍微缩回针套442内，而其余接地探针444(如位于图12左侧的接地探针444)并不会缩回针套442内或缩回较少，所以这些接地探针444仍可接触到接地端子64。由于本实施例的探针装置400能确保每一接地探针444都可接触到接地端子64，所以能避免接地参考信号失真，进而防止测量出的射频信号产生误差。因此，本实施例的探针装置400能提高测试准确度。 

需注意的是，在接地件440不包括弹性件446的实施例中，在测试时，接地件440的接地探针444可靠着重力而伸出。此外，信号探针440可位于固定柱422内或套筒430内，但并不限定位于其中心。 

图13是本实用新型第四实施例的一种探针装置的剖面示意图。请参阅图10、图11与图13所示，本实施例的探针装置400a与第三实施例的探针装置400相似，以下仅针对其差别处进行说明。相较于探针装置400，本实施例的探针装置400a更包括一弹性件450，此弹性件450例如是弹簧。套筒430具有相对的一第一面434与一第二面436，第二面436与保护外壳410的第二端414相对。第一面434与信号探针420的测试端421相靠近 。此弹性件450抵靠于套筒430的第二面436与保护外壳410的第二端414之间，以使套筒430具有可伸缩性。换言之，本实施例的探针装置400a的套筒430是可伸缩地配置于保护外壳410内，而第三实施例的探针装置400的套筒430是固定于保护外壳410内。此外，此探针装置400a的优点与第三实施例的探针装置400的优点相似，在此将不再重述。 

图14是本实用新型第五实施例的一种探针装置的剖面示意图，而图15是本实用新型第五实施例的探针装置的立体示意图，其中图15省略了第五实施例的探针装置的保护外壳。请参阅图10、、图11与图14、图15所示，本实施例的探针装置400b与第三实施例的探针装置400相似，差别处在于探针装置400的针套442是固定于套筒430的外表面432，而探针装置400b的针套442是固定于套筒430的第一面434。此探针装置400b的优点与第三实施例的探针装置400的优点相似，在此将不再重述。需注意的是，在探针装置400b未包括套筒430的实施例中，接地件440可固定于固定柱222上。 

图16是本实用新型第六实施例的一种探针装置的剖面示意图。请参阅 图14、图15与图16所示，本实施例的探针装置400c与第五实施例的探针装置400b的结构与优点相似，以下仅针对其结构上的差别处进行说明。相较于探针装置400b，本实施例的探针装置400c更包括一弹性件450。此弹性件450抵靠于套筒430的第二面436与保护外壳410的第二端414之间，以使套筒430具有可伸缩性。换言之，本实施例的探针装置400c的套筒430是可伸缩地配置于保护外壳410内，而第五实施例的探针装置400b的套筒430是固定于保护外壳410内。 

图17是本实用新型第七实施例的探针装置的立体示意图，图18是本实用新型第八实施例的探针装置的立体示意图，而图19是本实用新型第九实施例的探针装置的立体示意图。请参阅图17至图19所示，在本发明的第七至第九实施例中，探针装置500、500a、500b分别包括一针套510、一信号探针520、一固定柱530与位于信号探针周围520的多个接地件540。每一接地件540包括可伸缩的接地探针544，且每一接地件540可更包括针套542，接地探针544是配置于针套542内。此外，与接地件440相似，每一接地件540可更包括弹性件，位于针套542内的弹性件(图未示)，其抵靠于针套542与接地探针544之间。另外，信号探针520是可伸缩的，且位于针套510内。再者，针套510内可设置弹簧，其抵靠于信号探针520与针套510之间。 

在探针装置500中，针套510与接地件540是固定于固定柱530的外表面532。在探针装置500a中，针套510与接地件540是固定于固定柱530内。在探针装置500b中，针套510与接地件540是固定于固定柱530的端面534。探针装置500、500a、500b与前述的探针装置具有相似的优点，在此将不再重述。 

本实用新型的探针装置具有可伸缩的多个接地件，所以能确保这些接地件的接地探针皆能与接地端子接触，以提供准确的接地参考信号。因此，本实用新型的探针装置能提高测试准确度。 

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本实用新型，任何熟悉本专业的技术人员在不脱离本实用新型技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本实用新型技术方案的内容，依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。 

Claims (19)

1.一种适于与一测试端子以及位于该测试端子周围的至少一接地端子接触的探针装置，其特征在于该探针装置包括：

一信号探针，具有一适于与该测试端子接触的测试端；以及

多个接地件，位于该测试端周围，且每一接地件可伸缩，当该测试端接触该测试端子时，所述接地件至少其中之二接触该至少一接地端子。

2.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于其中每一接地件包括一基部与一接地部，该接地部连接该基部的一限位端，当该测试端接触该测试端子时，该接地部接触该至少一接地端子。

3.根据权利要求2所述的探针装置，其特征在于其中每一接地件的该基部与该接地部形成一弧片。

4.根据权利要求2所述的探针装置，其特征在于其中所述接地件的所述接地部分别为一弧片，所述基部包括互相套设的多个套筒，且每一套筒围绕该信号探针。

5.根据权利要求2所述的探针装置，其特征在于其更包括：

多个弹性件，其中每一该接地件的该基部被所述弹性件至少其中之一抵靠。

6.根据权利要求5所述的探针装置，其特征在于其更包括：

一保护外壳，具有相对的一第一端与一第二端，该第一端具有一开口，而该第二端具有一入线孔，该信号探针从该第二端的该入线孔穿入该保护外壳内，且该信号探针的该测试端从该开口延伸至该保护外壳外，且该基部配置于该保护外壳内，该接地部从该开口延伸至该保护外壳外。

7.根据权利要求6所述的探针装置，其特征在于其中每一该弹性件抵靠于每一接地件的该基部与该保护外壳的该第二端之间。

8.根据权利要求4所述的探针装置，其特征在于其中所述套筒包括：

一第一套筒，该第一套筒的一限位端设有一第一限位部，且该第一限位部抵靠该保护外壳的该第一端；

一第二套筒，套设于该第一套筒内，该第二套筒的一限位端设有一第二限位部，且该第二限位部抵靠该保护外壳的该第一端；以及

一第三套筒，套设于该第二套筒内，该第三套筒的一限位端设有一第三限位部，且该第三限位部抵靠该保护外壳的该第一端。

9.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于其中每一接地件包括一接地探针，当该测试端接触该测试端子时，该接地探针接触该至少一接地端子。

10.根据权利要求9所述的探针装置，其特征在于其中每一接地件更 包括：

一针套，该接地探针配置于该针套内。

11.根据权利要求10所述的探针装置，其特征在于其中每一接地件更包括一弹性件，抵靠于该接地探针与该针套之间。

12.根据权利要求10所述的探针装置，其特征在于其更包括：

一套筒，配置于该信号探针周围，该套筒具有相对的一第一面与一第二面，该第一面与该信号探针的测试端相靠近，所述针套固定于该套筒。

13.根据权利要求12所述的探针装置，其特征在于其中所述针套固定于该套筒的一外表面。

14.根据权利要求12所述的探针装置，其特征在于其中所述针套固定于该套筒的该第一面。

15.根据权利要求12所述的探针装置，其特征在于其更包括：

一保护外壳，具有相对的一第一端与一第二端，该第一端具有一开口，而该第二端具有一入线孔，该信号探针从该第二端的该入线孔穿入该保护外壳内，且该信号探针的该测试端从该开口延伸至该保护外壳外，且该接地探针的一接触端从该开口延伸至该保护外壳外。

16.根据权利要求15所述的探针装置，其特征在于其更包括一弹性件，该弹性件抵靠于该套筒的该第二面与该保护外壳的该第二端之间。

17.根据权利要求1所述的探针装置，其特征在于其更包括：

一固定柱，位于该信号探针与所述接地件之间。

18.根据权利要求17所述的探针装置，其特征在于其更包括：

一绝缘层，位于该固定柱内。

19.根据权利要求17所述的探针装置，其特征在于其中所述接地件固定于该固定柱。 

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