JPWO2020090518A1 - 基板供給システムおよび基板加工装置 - Google Patents
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Abstract
Description
[基板供給システムの構成]
本実施の形態の基板供給システム1は、電子機器等に広く利用される半導体デバイスの材料である半導体ウェーハの製造の際、ウェーハを所定の装置に搬送する搬送路に供給するために用いられる。本実施の形態において、基板供給システム1による供給対象の基板は、環状のフレームにダイシングテープで貼付された半導体ウェーハである。以降、「環状のフレームにダイシングテープで貼付された半導体ウェーハ」は、単に、「ウェーハW」と表記される。また、本実施の形態の説明では、ウェーハWが基板供給システム1から完全に引き出された位置を「引き出し位置」と称し、この引き出し位置から搬送路に受け渡される位置を「受渡位置」と称する。
退避機構240は、収納装置100から引き出されたウェーハWが搬送路に受け渡される際、受渡位置でウェーハWを受け取る部材(たとえば、搬送路側の把持部材)とハンド210との干渉を回避させる。
次に、基板供給システム1によるウェーハWの供給動作について説明する。図5(a)は、基板供給システム1の構成を示すブロック図である。図5(a)に示すように、基板供給システム1は、収納装置100と、引き出し機構200と、移動機構300と、を備え、さらに、制御部400と、入力部401と、検出部402と、を備える。また、引き出しガイド部221、昇降ガイド310、および退避機構240のそれぞれの駆動部である引き出しガイド駆動部403と、昇降ガイド駆動部404と、エアシリンダ駆動部405と、を備える。
続いて、収納装置100の構成について説明する。
図3(a)〜図4(b)に示すように、引き出し機構200が第2の収納部102に収納されている第2のカセットからウェーハWを引き出して搬送路に供給している間、第1のカセット10内が空の場合、オペレータは、第1の収納部101から載置部110を引き出し、第1のカセット10を載置部110から取り出して、第1のカセット10に供給対象のウェーハWを収容する。そして、再び第1の収納部101に第1のカセット10を収納することができる。これにより、第1のカセット10から全てのウェーハWが搬送路に供給された場合、引き出し機構200による供給動作を一旦停止することなく、第1のカセット10にウェーハWを収容し、第1の収納部101に収納することができる。よって、第1のカセット10および第2のカセット20から連続的にウェーハWを搬送路に供給でき、基板供給システム1の稼働率を高めることができる。
上記の構成の基板加工装置30は、基板供給システム1により、円滑にウェーハWが供給されるため、装置の稼働率を高めることができる。
10…第1のカセット
20…第2のカセット
30…基板加工装置
40…スクライブユニット
50…フィルムラミネートユニット
60…反転ユニット
70…ブレイクユニット
80…搬送部
101…第1の収納部
102…第2の収納部
200…引き出し機構
210…ハンド
220…駆動機構
230…ガイド部
300…移動機構
W…基板(ウェーハ)
Claims (7)
- 複数の基板を所定の間隔で積層した状態で収容するカセットから前記基板を搬送路に供給する基板供給システムであって、
第1のカセットを着脱可能に収納する第1の収納部と、
第2のカセットを着脱可能に収納する第2の収納部と、
前記基板を前記第1のカセットおよび前記第2のカセットから前記基板の積層方向に垂直な方向に引き出して前記搬送路に受け渡す引き出し機構と、
前記引き出し機構を前記第1の収納部と前記第2の収納部との間で移動させる移動機構と、を備える、ことを特徴とする基板供給システム。
- 請求項1に記載の基板供給システムにおいて、
前記引き出し機構は、
前記基板を保持するハンドと、
前記ハンドを前記積層方向に垂直な方向に移動させる駆動機構と、
引き出された前記基板を支持して案内するガイド部と、を備え、
前記ハンドが前記基板を前記第1カセットおよび前記第2のカセットから引き出すとき、前記移動機構は、供給対象の基板に向かい合うように前記ハンドを位置付ける、ことを特徴とする基板供給システム。
- 請求項1または2に記載の基板供給システムにおいて、
前記第1の収納部と前記第2の収納部は、前記積層方向に並んで配置され、
前記移動機構は、前記積層方向に前記引き出し機構を移動させる、
ことを特徴とする基板供給システム。
- 請求項3に記載の基板供給システムにおいて、
前記積層方向は、上下方向である、ことを特徴とする基板供給システム。
- 請求項3または4に記載の基板供給システムにおいて、
前記移動機構を制御する制御部を備え、
前記制御部は、前記移動機構により、前記引き出し機構を前記積層方向の一方向に移動させる、ことを特徴とする基板供給システム。
- 請求項5に記載の基板供給システムにおいて、
前記積層方向は上下方向であって、
前記制御部は、前記移動機構により、前記引き出し機構を下方から上方の一方向に移動させる、ことを特徴とする基板供給システム。
- 複数の基板を所定の間隔で積層した状態で収容するカセットから前記基板を搬送路に供給する基板供給システムであって、
第1のカセットを着脱可能に収納する第1の収納部と、
第2のカセットを着脱可能に収納する第2の収納部と、
前記基板を前記第1のカセットおよび前記第2のカセットから前記基板の積層方向に垂直な方向に引き出して前記搬送路に受け渡す引き出し機構と、
前記引き出し機構を前記第1の収納部と前記第2の収納部との間で移動させる移動機構と、を備える基板供給システムと、
前記基板の表面にスクライブラインを形成するスクライブユニットと、
前記スクライブラインが形成された前記基板の表面にフィルムを貼付するフィルムラミネートユニットと、
前記フィルムが貼付された面が下側となるように前記基板を反転させる反転ユニットと、
前記フィルムが貼付されていない面に所定の力を付与して前記スクライブラインに沿って前記基板を分断するブレイクユニットと、
前記基板を所定の位置に搬送する搬送部と、を備えることを特徴とする、基板加工装置。
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WO2024161644A1 (ja) * | 2023-02-03 | 2024-08-08 | ヤマハ発動機株式会社 | レーザ加工装置、半導体チップおよび半導体チップの製造方法 |
Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6347036A (ja) * | 1986-08-15 | 1988-02-27 | Toshiba Corp | 物品の移載装置 |
JPH05175256A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-13 | Hitachi Ltd | ペレットボンディング装置 |
JPH0778794A (ja) * | 1993-06-22 | 1995-03-20 | Disco Abrasive Syst Ltd | ダイシング装置のカセットテーブル |
JPH09199575A (ja) * | 1996-01-18 | 1997-07-31 | Toshiba Mechatronics Kk | 半導体ペレットボンディング装置 |
WO2003082542A1 (fr) * | 2002-04-01 | 2003-10-09 | Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. | Procede de sectionnement d'un substrat constitue d'un materiau fragile et dispositif de sectionnement faisant appel a ce procede |
JP2009010287A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-15 | Tokyo Electron Ltd | 基板の処理システム |
JP2012146872A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Disco Abrasive Syst Ltd | 樹脂塗布装置 |
JP2012156413A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-16 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | ダイ供給装置 |
JP2015138856A (ja) * | 2014-01-22 | 2015-07-30 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
JP2016514376A (ja) * | 2013-03-14 | 2016-05-19 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | ツールへかつツールから及び選別機内でトレイを移送するためのトレイエンジン及び方法 |
JP2017175029A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 富士機械製造株式会社 | ウエハ搬送装置 |
Family Cites Families (5)
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---|---|---|---|---|
JP2005159295A (ja) * | 2003-09-18 | 2005-06-16 | Nec Kagoshima Ltd | 基板処理装置及び処理方法 |
JP5175256B2 (ja) | 2009-09-30 | 2013-04-03 | ホシデン株式会社 | 静電容量式タッチパネル及びその製造方法 |
JP2012009519A (ja) * | 2010-06-23 | 2012-01-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 真空処理装置 |
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Patent Citations (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6347036A (ja) * | 1986-08-15 | 1988-02-27 | Toshiba Corp | 物品の移載装置 |
JPH05175256A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-13 | Hitachi Ltd | ペレットボンディング装置 |
JPH0778794A (ja) * | 1993-06-22 | 1995-03-20 | Disco Abrasive Syst Ltd | ダイシング装置のカセットテーブル |
JPH09199575A (ja) * | 1996-01-18 | 1997-07-31 | Toshiba Mechatronics Kk | 半導体ペレットボンディング装置 |
WO2003082542A1 (fr) * | 2002-04-01 | 2003-10-09 | Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd. | Procede de sectionnement d'un substrat constitue d'un materiau fragile et dispositif de sectionnement faisant appel a ce procede |
JP2009010287A (ja) * | 2007-06-29 | 2009-01-15 | Tokyo Electron Ltd | 基板の処理システム |
JP2012146872A (ja) * | 2011-01-13 | 2012-08-02 | Disco Abrasive Syst Ltd | 樹脂塗布装置 |
JP2012156413A (ja) * | 2011-01-28 | 2012-08-16 | Fuji Mach Mfg Co Ltd | ダイ供給装置 |
JP2016514376A (ja) * | 2013-03-14 | 2016-05-19 | ブルックス オートメーション インコーポレイテッド | ツールへかつツールから及び選別機内でトレイを移送するためのトレイエンジン及び方法 |
JP2015138856A (ja) * | 2014-01-22 | 2015-07-30 | 株式会社ディスコ | 切削装置 |
JP2017175029A (ja) * | 2016-03-25 | 2017-09-28 | 富士機械製造株式会社 | ウエハ搬送装置 |
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