JPWO2020039997A1 - 自動分析装置及び光計測方法 - Google Patents

Abstract

光電素子の増倍率の変動を高精度に補正する自動分析装置及び光計測方法を提供する。自動分析装置は、光によって電子を発生し、電流信号を出力する光電素子と、光電素子に電圧を印加する電圧印加部と、光電素子の増倍率の変動を補正する処理部と、を備え、光電素子は電流信号としてパルス状信号を出力し、処理部はパルス状信号のパルス面積に基づいて増倍率の変動を補正する。

Description

本発明は、自動分析装置及び光計測方法に関する。

光電子増倍管（以下、ＰＭＴ）やフォトダイオード等の光電素子は、微弱な光を電流信号として取り出すことができるため、様々な分野において光検出器として使用されている。光電素子は、例えば、血液などの検体の存在下で発光する発光試薬からの光を検出し、検体中の成分を計測する自動分析装置等に使用される。

ＰＭＴにおいては、電子の増倍率やゲイン（利得）が時間と共に変動することが知られている。ここで、該増倍率の変動を補正する技術が開示されている（特許文献１参照）。

特開２０１７−１５１０５２号公報

特許文献１に記載の放射線検出装置は、パルス信号の波高を閾値と比較して０又は１のデジタル信号に量子化し、１のデジタル信号に変換された信号の数と、０のデジタル信号に変換された信号の数とを計数する方法を採用している。従って、同じ波高で幅の異なるパルス、即ち、エネルギー量が異なるパルスを同じエネルギー量として量子化してしまうため、正確に増倍率の補正を行うことが難しいという課題がある。

そこで、本発明の目的は、光電素子の増倍率の変動を高精度に補正する自動分析装置及び光計測方法を提供することにある。

本発明の一実施態様の自動分析装置は、光によって電子を発生し、電流信号を出力する光電素子と、光電素子に電圧を印加する電圧印加部と、光電素子の増倍率の変動を補正する処理部と、を備え、光電素子は電流信号としてパルス状信号を出力し、処理部はパルス状信号のパルス面積に基づいて増倍率の変動を補正する。

本発明によれば、光電素子の増倍率の変動を高精度に補正することができる。

自動分析装置１００の構成図。 測定部１０９及びその周辺を示す図。 検出光量２０８を算出するフロー図。 ＰＭＴ２０２による光の検出時間及び信号値を示す図。 ＰＭＴ２０２の基準平均パルス面積５０１を算出する方法を示すフロー図。 パルス面積とその出現率を示す分布図。 ＰＭＴ２０２に印加する電圧を制御する方法を示すフロー図。 パルス面積とその出現率を示す分布図の変化を示す図。 検出光量２０８を補正する方法を示すフロー図。 測定部１００１及びその周辺を示す図。 測定部１００１による光の検出時間及び信号値を示す図。

以下、図面を参照して実施例を説明する。

図１は、自動分析装置１００の構成を示す構成図である。自動分析装置１００は、複数の検体容器１０２を収容した検体ラック１０３を搬送する第１搬送部１０１、試薬容器１１０を保持する試薬保持部１０４、反応容器１１１を加温状態で保持して複数の保持位置１１２を有するインキュベータ１０５、検体を検体容器１０２からインキュベータ１０５上の反応容器１１１に分注する検体分注部１０６、試薬容器１１０内の試薬を試薬保持部１０４からインキュベータ１０５上の反応容器１１１に分注する試薬分注部１０７、検体分注に使用するチップ１１４と反応容器１１１を収容する収容部１１３を保持するマガジン１０８、チップ１１４を検体分注部１０６に供給するためのチップ供給位置１１６、使用済みのチップ１１４を廃棄するための廃棄孔１１７、マガジン１０８と検体分注部１０６とチップ供給位置１１６と廃棄孔１１７とインキュベータ１０５との間でチップ１１４及び反応容器１１１を搬送する第２搬送部１１５、検体に含まれる測定妨害成分をＢ／Ｆ分離液により洗浄除去するＢ／Ｆ分離部１１８、及び、分析対象成分量に相関した光や電気等の信号を測定する測定部１０９を備える。

（実施例１）
図２は、測定部１０９及びその周辺を示す図である。測定部１０９は、発光試薬が発する光量を計測して検体中の被計測物質の定性分析又は定量分析を行うユニットであり、計測される光を発する発光部２０１（光源）、及び、ＰＭＴ２０２（光電素子）を備える。図２では、発光部２０１をフローセル検出器として示している。即ち、分析用セル（試薬と検体を収容する反応容器１１１）から導入された分析対象液に含まれる発光標識試薬の蛍光発光等を、発光部２０１の発光としている。計測が終了した液体は、ドレイン（排水口）に流される。尚、発光部２０１の発光として、フローセル検出器の洗浄中における発光試薬の発光を用いてもよいし、別途、ＬＥＤ等を用いた光源を設置してもよい。

測定部１０９の周辺には、電流電圧変換器２０３、Ａ／Ｄ変換器２０４、データを処理して検出光量２０８を出力する処理部２０５、高電圧発生部２０６（電圧印加部）、及び、表示部２０７を備える。尚、測定部１０９は、フローセル検出器ではなく、分析用セルに光を照射して得られる透過光量又は散乱光量を計測するものでもよい。

ＰＭＴ２０２は、発光部２０１から入射される光子から電子を発生させる光電面と、光電面からの電子を増倍して、入射光量に応じた電流信号を出力する増倍部とを有する（不図示）。増倍部は、高電圧発生部２０６から印加される電圧に応じた増倍率に従って電子を増倍する。

図３は、検出光量２０８を算出するフロー図である。まず、ステップ３１（以下、「Ｓ３１」のように表記）において、処理部２０５は、ＰＭＴ２０２毎に定められた標準値となる電圧値を設定し、該電圧値を高電圧発生部２０６へ出力する。高電圧発生部２０６は、該電圧値に従ってＰＭＴ２０２へ電圧を印加する。

次に、発光部２０１は、ＰＭＴ２０２へ光を照射する。ＰＭＴ２０２は、光を電子に変換し、印加電圧に従って定まる増倍率で電子を増倍して電流電圧変換器２０３へ電流信号を出力する（Ｓ３２）。電流電圧変換器２０３は、該電流信号を電圧信号へ変換し、Ａ／Ｄ変換器２０４は、電圧信号をデジタル信号に変換し、処理部２０５へ出力する。

次に、処理部２０５は、デジタル信号に基づいて、発光部２０１が発した光の量（検出光量２０８）を算出する（Ｓ３３）。

図４は、ＰＭＴ２０２による光の検出時間及び信号値を示す図である。発光部２０１からの入射光量が少ない場合、ＰＭＴ２０２から出力される電流信号は、パルス状信号４０１となる。ここで、「パルス状信号」とは、光電効果により光子から電子へ変換された出力信号であり、最小単位は光子一つあたりのパルス信号に対応する。

発光部２０１から光が入射されなくとも、熱などによって光電面から一定確率で電子が生じ、該電子が増倍されることにより暗電流が出力される場合がある。このような場合も、ＰＭＴ２０２から出力される電流信号は、パルス状信号４０１となる。

発光部２０１からの入射光量又はＰＭＴ２０２の増倍率が大きくなると、出力される電流信号が重なり合い、パルスを識別できなくなる。従って、電流信号がパルス状信号４０１となるための入射光量は、想定されるＰＭＴ２０２の増倍率等に応じて、パルスの１つ１つが識別できる程度に設定する。横軸を時間、縦軸を信号値とするグラフを得ると、パルス状信号４０１は、それぞれパルス面積４０２を有する信号となる。

電流電圧変換器２０３は、ＰＭＴ２０２の増倍部から入力される電流信号を電圧信号に変換し、Ａ／Ｄ変換器２０４に出力する。電流電圧変換器２０３は、オペアンプ、電流電圧変換用のフィードバック抵抗、周波数帯域設定用のコンデンサ、差動増幅回路等を有する。電流電圧変換器２０３に入力される電流信号がパルス状信号４０１である場合、電流電圧変換器２０３からＡ／Ｄ変換器２０４に出力される電圧信号もパルス状信号４０１となるように、周波数帯域を設定する。

Ａ／Ｄ変換器２０４は、電流電圧変換器２０３から入力される電圧信号をデジタル信号に変換し、処理部２０５へ出力する。ＰＭＴ２０２が出力する電流信号がパルス状信号４０１の場合、Ａ／Ｄ変換器２０４が出力するデジタル信号もパルス状信号４０１となる。この場合、Ａ／Ｄ変換器２０４は、１つ１つのパルス状信号４０１が識別できるサンプリング時間間隔、電圧分解能に設定されていればよい。例えば、Ａ／Ｄ変換器２０４として、サンプリング時間間隔が４μｓ、電圧分解能が０．６μＶ程度まで分解可能なものを用いることができる。

処理部２０５は、Ａ／Ｄ変換器２０４から入力されるデジタル信号に基づいて検出光量２０８を算出する。又、処理部２０５は、入力されるデジタル信号に基づいてパルス状信号４０１のパルス面積４０２を算出し、パルス面積４０２に基づいてＰＭＴ２０２へ印加する電圧値を算出し、高電圧発生部２０６へ該電圧値を出力する。又は、処理部２０５は、パルス面積４０２に基づいて検出光量２０８を補正する。処理部２０５は、電圧値や検出光量２０８等の各種データを記憶する記憶部を備えてもよい。

高電圧発生部２０６は、処理部２０５から入力された電圧値に従って電圧を発生し、ＰＭＴ２０２へ印加する。

表示部２０７は、各種データ、ユーザが指示を入力するためのＧＵＩ画面等を表示可能に構成される。表示部２０７には、マウス等の入力デバイス（不図示）が接続されていてもよい。又、表示部２０７は、図４のようなＰＭＴ２０２の光の検出時間及び出力電流を示すグラフを表示してもよい。

ここで、正確な測定を行うには、ＰＭＴ等の光電素子が同じ光量を受光した場合、検出光量も同じである必要がある。しかし、光電素子は、時間の経過に伴い同じ電圧の印加に対する電子の増倍率が変化することが知られている。即ち、時間が経過すると、受光する光量が同じでも、処理部は異なる検出光量を出力してしまう、という課題がある。

上記の通り、波高に基づく手法は開示されている。しかし、本発明者は、波高の情報だけでは光子あたりのエネルギーを正確に表すことができないことに気が付いた。そこで、以下、波高よりも更に正確な情報である、パルス状信号のパルス面積に基づいて、光電素子の増倍率の変動を補正し、光電素子の経年劣化に伴う影響を抑制する方法について説明する。特に、本実施例では、パルス面積に基づいてＰＭＴ２０２に印加する電圧を補正する方法、及び、パルス面積に基づいて検出光量２０８を補正する方法について説明する。

まず、パルス面積に基づいてＰＭＴ２０２に印加する電圧を補正する方法について説明する。図５は、ＰＭＴ２０２の基準平均パルス面積６０１を算出する方法を示すフロー図である。基準平均パルス面積６０１は、新しいＰＭＴ２０２の使用前などを基準時として、今後増倍率の変動を補正するための基準となる平均パルス面積として算出される。ここで、平均パルス面積は、パルス面積分布が作成できる程度の時間内の平均値として算出される。

Ｓ５１において、処理部２０５は、ＰＭＴ２０２毎に定められた標準値となる電圧値を設定し、該電圧値を高電圧発生部２０６へ出力する。高電圧発生部２０６は、該電圧設定値に従ってＰＭＴ２０２へ電圧を印加する。処理部２０５は、該電圧値を記憶部に記憶する。

Ｓ５２において、発光部２０１は、ＰＭＴ２０２が出力する電流信号がパルス状信号４０１となるように光を照射する。この時、発光部２０１は、発光量が厳密に設定されている必要はなく、ＰＭＴ２０２が出力する電流信号がパルス状信号４０１となるような発光量であればよい。尚、発光部２０１の種類によらず、同じ光量の光を照射すれば、同じ面積の出力電流が得られる。

又、発光部２０１から光を照射する代わりに暗電流を用いて、ＰＭＴ２０２が出力する電流信号をパルス状信号４０１としてもよい。この場合、Ｓ５２において、発光部２０１からの光の照射は行われない。暗電流を用いることによって、基準平均パルス面積６０１を算出するための光源が不要となるため、光源の設置のためのコストや、光源の精度管理が不要となる。

Ｓ５３において、処理部２０５は、Ａ／Ｄ変換器２０４が出力するデジタル信号に基づいて、複数のパルス状信号４０１の各々のパルス面積４０２を算出し、これらのパルス面積４０２の平均である基準平均パルス面積６０１を算出する。

図６は、パルス面積とその出現率を示す分布図である。本実施例では、出現率を「一定時間に取得したパルスのうち該当する面積のパルス数を、一定時間内に取得したパルス数で除した数」と定義する。横軸をパルス面積、縦軸を出現率としてプロットすると、ピークを有する分布図６０２となる。例えば、該分布図６０２のピークを示すパルス面積（最も出現率の高いパルス面積）を基準平均パルス面積６０１とすることができる。尚、分布図６０２に対して最小二乗法でガウスフィッティングし、得られたガウス分布の平均値を基準平均パルス面積６０１としてもよいし、一定時間内のパルス面積の積算値をパルス数で割った値としてもよい。表示部２０７は、分布図６０２や、算出した基準平均パルス面積６０１を表示してもよい。

図７は、ＰＭＴ２０２に印加する電圧を補正（制御）する方法を示すフロー図である。図７に示す方法は、基準平均パルス面積６０１を算出してから所定の期間経過後、ＰＭＴ２０２の増倍率が変更していないか否かを確認するために行われる。

Ｓ７１〜７３は、それぞれ、Ｓ５１〜５３と同様である。但し、Ｓ５３で算出する平均パルス面積は、基準とする平均パルス面積（基準平均パルス面積６０１）であり、Ｓ７３で算出する平均パルス面積は、該基準平均パルス面積６０１を算出してから所定の期間経過後の平均パルス面積８０１である。尚、Ｓ７２におけるパルス状信号４０１の出力方法は、Ｓ５２と同じでなくてもよい。又、Ｓ７３における平均パルス面積８０１の算出方法も、Ｓ５３と同じでなくてもよい。

Ｓ７４において、処理部２０５は、平均パルス面積変動量８００が所定の閾値以下であるか否かを判定する。所定の閾値は、使用する自動分析装置の仕様や分析内容、発光試薬等の条件に応じて、任意に設定することができる。

図８は、パルス面積とその出現率を示す分布図の変化を示す図である。ＰＭＴ２０２の増倍率が変動すると、Ｓ５３で算出した基準平均パルス面積６０１とＳ７３で算出した平均パルス面積８０１とに差分が生じる。処理部２０５は、この差分を平均パルス面積変動量８００として算出する。ここで、平均パルス面積変動量８００は、ＰＭＴ２０２の増倍率の変動に比例すると考えられる。従って、ＰＭＴ２０２の増倍率が増加した場合は、パルス面積とその出現率を示す分布図は右にシフトし、平均パルス面積変動量８００は正の値となる。尚、表示部２０７は、分布図６０２と分布図８０２の関係や、平均パルス面積変動量８００を表示してもよい。

平均パルス面積変動量８００が所定の閾値以下である場合（Ｓ７４においてＹＥＳ）、Ｓ７１において設定した電圧値と同じ値を電圧値として決定（電圧値を維持）する（Ｓ７５）。

平均パルス面積変動量８００が所定の閾値より大きい場合（Ｓ７４においてＮＯ）、処理部２０５は、アラートを出力する（Ｓ７７）。アラートとして、例えば、平均パルス面積変動量８００が所定の閾値を超えたことを喚起するアラートや、ＰＭＴ２０２の交換を推奨するアラート、Ｓ７８に移行して電圧値を変更する旨のアラート等を出力することができる。表示部２０７はアラートを表示してもよいし、スピーカが音を発してもよい。又、Ｓ７４において、平均パルス面積変動量８００が所定の閾値以下であるが、所定の閾値に近づいてきた場合にも、アラートを出力してもよい。この場合、平均パルス面積変動量８００を高頻度に観察して、観察の経過を表示部２０７が表示してもよい。又、アラートを出力した場合はユーザが対応するものとして、Ｓ７８に移行せず終了してもよい。更に、ＰＭＴ２０２の補正を、人手を介さずに行う場合は、Ｓ７７を省略してもよい。

Ｓ７７の後（Ｓ７７を省略した時はＳ７４でＮＯの場合）、平均パルス面積変動量８００に基づいて電圧値の変更量を算出し、該変更量に基づいて電圧値を更新し、更新した電圧値を高電圧発生部２０６に出力する（Ｓ７８）。ＰＭＴ２０２の増倍率は、電圧値を上げれば増加し、電圧値を下げれば減少する。従って、平均パルス面積変動量８００が正の値である場合は、増倍率が増加したと考えられるため、電圧値を減少させる。その後、Ｓ７２に戻り、処理を繰り返す。

Ｓ７５において、電圧値を維持した場合、ＰＭＴ２０２に係る処理を終了するか否かを判断し（Ｓ７６）、終了しない場合はＳ７１に戻り、処理を繰り返す。

次に、パルス面積に基づいて検出光量２０８を補正する方法について説明する。図９は、検出光量２０８を補正する方法を示すフロー図である。図７と異なる点は、Ｓ９５とＳ９８である。ここで、Ｓ９１の前に、図３による検出光量２０８は算出されている。そして、処理部２０５は、Ｓ９４でＹＥＳの場合、該検出光量２０８を補正することなく（検出光量を維持）出力し、Ｓ９４でＮＯの場合は、検出光量２０８を補正して、該補正した検出光量２０８を出力する。

（実施例２）
次に、図２に示す測定部１０９を、図１０に示す測定部１００１に置き換えた例について説明する。測定部１００１は、発光部２０１の代わりに、電子を発生する質量分析部１００２、及び、該質量分析部１００２が発した電子を光子に変換するシンチレータ１００３を備える点で、図２に示す測定部１０９と異なっている。質量分析部１００２が発した１個の電子は、シンチレータ１００３に衝突し、Ｎ個の光子を出力する。これらＮ個の光子は、それぞれ、略同時刻（数１０ｎｓ〜数１００ｎｓの間）に発生する。上記Ｎ個の光子のそれぞれに対応するパルスは、ＰＭＴ２０２と電流電圧変換器２０３の変換速度を所望の値（信号増幅帯域）とすることで、複数の光子からなる１つのパルス状信号として観測できる。

図１１は、測定部１００１による光の検出時間及び信号値を示す図である。シンチレータ１００３が発したＮ個の光子は１つのパルス状信号となる。Ｎ個の光子のそれぞれに対応するパルス状信号は、通常は重なり合っており、パルス状信号Ａ０２、Ａ０３のように一塊となる。しかし、シンチレータ１００３での発光現象は確率現象であるため、１個の電子から発光した場合は、パルス状信号Ａ０４のように離散したパルス状信号となることも多い。ここでは、パルス状信号が離散していても、所定時間内に光った信号は、１つのパルス状信号として扱う。即ち、所定時間内の、離散したパルス状信号それぞれの面積を足し合わせて、１つのパルス面積として算出する。これにより、より正確なパルス面積分布を得ることができる。

ここで、質量分析部１００２が発する１個の電子により、シンチレータ１００３が何個の光子を発光するかは製造によるばらつきがあり、これが光子の検出量の機差（装置の個体差）ばらつきとなる。そこで、実施例２では、該ばらつきを低減するため、パルス状信号の面積が基準平均パルス面積となるようにＰＭＴ２０２の増倍率を補正する。実施例１では、基準平均パルス面積を、ＰＭＴ２０２毎に定められた電圧値に基づいて求めたが、実施例２では、事前に質量分析部１００２を用いて実験的に求めておく。該実験的に求められた基準平均パルス面積に基づいて、図７又は図９のフローが実行される。

実施例２では、ＰＭＴ２０２だけでなく、シンチレータ１００３への印加電圧を変更してもよい。ＰＭＴ２０２への印加電圧を可変にすると、検出した光子１個のパルス面積（電子増倍率変更）を可変にでき、シンチレータ１００３への印加電圧を可変にすると、電子１個から発生する光子の数を可変にできる。ＰＭＴ２０２とシンチレータ１００３への印加電圧を複合して可変にすることで、１つのパルス面積が基準平均パルス面積となるように調整できる。尚、ＰＭＴ２０２とシンチレータ１００３への印加電圧の可変手順に関しては、多くのバリエーションがあるので、特に限定しない。

実施例２によれば、１個の電子に対する検出電流量の増倍率の変動を高精度に補正することができる。尚、実施例２では、質量分析部を例に説明したが、電子を発する装置であれば、特に限定されない。

以上の実施例１及び２によれば、物理量の精度が高いパルス面積に基づいて電圧又は検出光量２０８を補正する構成を有するため、ＰＭＴ２０２の増倍率の変動を高精度に補正することができる。又、平均パルス面積変動量８００が所定の閾値に近づいてきた場合や、所定の閾値を超えた場合にアラートを出力する構成を採用すれば、ユーザに対し、ＰＭＴ２０２もしくはシンチレータ１００３の交換の時期や、ＰＭＴ２０２もしくはシンチレータ１００３に印加する電圧が変更されること等を喚起できる。

上記実施例では、ＰＭＴ２０２が出力する電流信号はパルス状信号４０１であるとしているが、電圧又は検出光量２０８の補正をしない場合は、パルス状信号４０１である必要はない。

又、上記実施例では、平均パルス面積変動量８００に基づく制御を説明したが、基準平均パルス面積６０１と平均パルス面積８０１の比、例えば、平均パルス面積８０１を基準平均パルス面積６０１で割った値（以下、変動補正係数）に基づいて制御してもよい。例えば、デジタル信号から算出される検出光量２０８に変動補正係数を乗じた値を検出光量２０８の補正値とすることができる。この場合、ＰＭＴ２０２が新しければ、変動補正係数は１になるが、時間が経つにつれて１より大きくなっていく。そこで、例えば、所定の閾値を、使用する自動分析装置の仕様や分析内容、発光試薬等の条件に応じて設定しておき、変動補正係数が該閾値以下か否かで、電圧又は検出光量２０８を補正するか否かを決定してもよい。

又、上記実施例では、常にパラメータの閾値変化をモニタし、該閾値変化に基づいて電圧又は検出光量２０８を補正する例を説明したが、補正が終わったら一旦モニタを終了し、所定時間後に補正を行うためのモニタを再開してもよい。又、パラメータの閾値変化をモニタせず、ＰＭＴ２０２の使用を開始してから所定時間後に補正を行うようにしてもよい。又は、閾値を用いず、パルス面積の変動量に応じて毎回補正してもよい。

又、上記実施例では、光電素子としてＰＭＴを用いる例について説明したが、フォトダイオード等の他の光電素子を用いてもよい。更に、本光計測方法は、検体及び発光試薬による発光を検出する自動分析装置への適用に限定されず、ＰＭＴやフォトダイオード等の光電素子を用いた装置であれば、分光光度計、環境測定装置、顕微鏡などのあらゆる装置に適用することができる。

１００…自動分析装置、２０１…発光部、２０２…ＰＭＴ、２０３…電流電圧変換器、２０４…Ａ／Ｄ変換器、２０５…処理部、２０６…高電圧発生部、２０７…表示部、２０８…検出光量、１００２…質量分析部、１００３…シンチレータ

Claims (12)

1. 光によって電子を発生し、電流信号を出力する光電素子と、
   前記光電素子に電圧を印加する電圧印加部と、
   前記光電素子の増倍率の変動を補正する処理部と、を備え、
   前記光電素子は、前記電流信号としてパルス状信号を出力し、
   前記処理部は、前記パルス状信号のパルス面積に基づいて、前記増倍率の変動を補正する、自動分析装置。
2. 前記処理部は、前記パルス面積に基づいて、前記電圧印加部の電圧を補正する、請求項１記載の自動分析装置。
3. 前記処理部は、前記電流信号に基づいて前記光の量である光量を算出し、前記パルス面積に基づいて、該光量を補正する、請求項１記載の自動分析装置。
4. 前記パルス面積は、前記パルス面積毎の出現率に基づいて算出される、請求項１記載の自動分析装置。
5. 前記処理部は、
   前記パルス面積の平均となる平均パルス面積を算出し、
   前記平均パルス面積の基準となる基準平均パルス面積からの前記平均パルス面積の変動量に基づいて前記増倍率の変動を補正する、請求項１記載の自動分析装置。
6. 前記処理部は、前記変動量が所定の閾値を超えた場合、前記増倍率の変動を補正する、請求項５記載の自動分析装置。
7. 前記パルス状信号は、暗電流による電流信号である、請求項１記載の自動分析装置。
8. 前記処理部は、
   前記パルス面積の平均となる平均パルス面積を算出し、
   前記平均パルス面積と、前記平均パルス面積の基準となる基準平均パルス面積との比に基づいて補正係数を算出し、
   前記補正係数に基づいて前記増倍率の変動を補正する、請求項１記載の自動分析装置。
9. 前記処理部は、前記補正係数の変動量が所定の閾値を超えた場合、前記増倍率の変動を補正する、請求項８記載の自動分析装置。
10. 光電素子により、パルス状信号を出力するステップと、
    前記パルス状信号の面積を算出するステップと、
    前記面積に基づいて前記光電素子の増倍率の変動を補正するステップと、を備える、光計測方法。
11. 前記光電素子の増倍率の変動を補正するステップは、前記面積に基づいて前記光電素子に印加する電圧を補正するステップである、請求項１０記載の光計測方法。
12. 前記光電素子の増倍率の変動を補正するステップは、前記面積に基づいて前記光電素子の検出光量を補正するステップである、請求項１０記載の光計測方法。

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