JPH01318988A

JPH01318988A - 放射線計測装置

Info

Publication number: JPH01318988A
Application number: JP63150914A
Authority: JP
Inventors: Tsutomu Yamakawa; 勉山河; Hiroaki Kobayashi; 弘明小林
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1988-06-17
Filing date: 1988-06-17
Publication date: 1989-12-25
Also published as: JPH0569475B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的］（産業上の利用分野）本発明は、光電子増倍管（以下、ｒＰＭＴＪと略記する
）を用いた放射線計測装置に関する。

（従来の技術）放射線入射により微小光を発するシンチレータと、この
光を電気信号に変換するＰＭＴとを用いて、放射線計測
装置を形成することができる。

このような装置において、ＰＭＴのゲイン安定化は、放
射線計測精度を高める上で極めて重要となる。

第９図、第１０図は従来装置におけるＰＭＴのゲイン安
定化系を示している。

第９図の安定化系では、ＬＥＤコントローラ５の制御下
で発光ダイオード（ＬＥＤ）２よりの基準光をＰＭＴＩ
に照射し、そのときのＰＭＴ出力をフィードバックコン
トローラ４に取込んでプリアンプ３のゲインを制御する
ことによりＰＭＴｌのゲインを等価的に安定させている
。

また、第１０図の安定化系では、フィードバックコント
ローラ４によってＰＭＴ駆動用高電圧発生（ＨＶ）ユニ
ット６の出力電圧を制御することでＰＭＴｌのゲインを
等価的に安定させている。

（発明が解決しようとする課題）しかし、従来装置においては、プリアンプ及びこのプリ
アンプの後段に配置される電子回路のゲインやオフセッ
トが温度ドリフト等で変動した場合、その変動を補正す
ることができないために、放射線計測精度が低下すると
いう欠点がある。

そこで本発明は上記の欠点を除去するもので、放射線計
測精度の向上を図ることを目的としている。

［発明の構成］（課題を解決するための手段）本発明は、ＰＭＴに基準光を照射する基準光照射手段と
、この基準光照射時におけるＰＭＴ出力のアナログ信号
処理後の信号成分に基づいて前記ＰＭＴのゲイン補正を
行うゲイン補正手段とを有するものである。

また、以下に述べる理由により、前記基準光照射時にお
ける前記ＰＭＴ出力のアナログ信号処理後の信号成分に
基づいてオフセット補正を行うオフセット補正手段を設
けている。

（作　用）本発明では、前記基準光照射手段による基準光照射時に
おける前記ＰＭＴの出力が、前記アナログ信号処理系を
介して前記ゲイン補正手段に取込まれ、このゲイン補正
手段により前記ＰＭＴのゲイン補正が行われる。このた
め、アナログ信号処理系のゲインが温度ドリフト等によ
り変動した場合でもこれを補正することができる。これ
により、放射線計測精度の向上を図ることができる。

また、ＰＭＴのアナログ信号処理後の信号成分を加算平
均した俄にゲイン補正値を算出し、これに基づいてゲイ
ン補正をすることにより、ゲイン補正精度を高めること
ができる。ここで、上記のゲイン補正は、前記アナログ
信号処理系におけるゲイン可変型増幅回路のゲインをフ
ィードバック制御することで、あるいは前記ＰＭＨの駆
動用高電圧値をフィードバック制御することで行い得る
。

更に、前記オフセット補正手段をも設けた場合には、前
記アナログ信号処理後の信号成分に基づいてオフセット
補正をも行うことができるので、放射線計測精度を更に
高めることができる。ここで上記のオフセット補正は、
互いに光量の異なる２種類の基準光を異なるタイミング
でＰＭＨに照射し、このときの前記ＰＭＴ出力のアナロ
グ信号処理後の信号成分に基づいて算出されたオフセッ
ト補正値を用いて行われる。

（実施例）以下、本発明を実施例により具体的に説明する。

第１図は本発明の一実施例を示すもので、被検体に投与
されたラジオアイソトープ（ＲＩ）の集積像を得るディ
ジタルガンマカメラに適用した場合を示している。

本実施例装置は複数のＰＭＴ　（ＰＭＴ）１０と、これ
に対応して配置された複数のＬＥＤ　（発光ダイオード
）１２とを有する。各ＰＭＴ１０には、発光ダイオード
ＬＥＤ１２より発せられた光が入射されるようになって
いる。このＬＥＤｌ　２はＬＥＤコントローラ２７の制
御下で、第２図に示すように、互いに光量の異なる２種
類の基準光Ｐ１　。

Ｐ２をパルス状に発する。ここでこのＬＥＤｌ　２が、
本発明における基準光照射手段の一例である。

また図面上省略しているが、ＰＭＴｌｏの前段には、放
射線入射により微小光を発するシンチレータや、このシ
ンチレータよりの微小光をＰＭＴｌｏに導くライトガイ
ド等が配置されている。

更に第１図において、ＰＭＴｌｏの後段にはアナログ信
号処理系１４が配置されている。このアナログ信号処理
系１４は、ＰＭＴｌｏより出力されたアナログ信号の処
理を行うもので、プリアンプ１５．サムアンプ１９．及
び波形整形回路２０を有して成る。プリアンプ１５はＰ
ＭＴＩＯに対応して複数配置され、それぞれオートゲイ
ンコントロール（ＡＧＣ）機能１６．１８を有する。こ
のプリアンプ１５のゲインはシステムコントローラ２６
によって制御される。各プリアンプ１５の出力はサムア
ンプ１９を介して波形整形回路２０に取込まれ、ここで
波形整形される。ここで前記プリアンプ１５が、本発明
におけるゲイン可変型増幅回路に相当する。

そして、アナログ信号処理系１４の後段には、Ａ／Ｄ　
（アナログ・ディジタル）変換器２４及び光重畳検出部
２１が配置されている。Ａ／Ｄ変換器２４は、アナログ
信号処理系１４の出力をディジタル信号に変換するもの
であり、このＡ／Ｄ変換出力はオフセット補正回路２５
に取込まれるようになっている。

このオフセット補正回路２５は、ＬＥＤｌ　２による各
パルス状基準光Ｐ１　、　Ｐ２　　（第２図参照）照射
時におけるＰＭＴ出力のアナログ信号処理後の信号成分
に基づいて算出されたオフセット補正値に基づいて放射
線計測データのオフセット補正を行うものである。この
オフセット補正回路２５が、本発明におけるオフセット
補正手段の一例である。ここで、オフセット補正値の算
出原理について説明する。

パルス状基準光ＰＬ　、　Ｐ２　　（第２図参照）を互
いに異なるタイミングでＰ−ＭＴＩｏ、１１に照射した
場合のＡ／Ｄ変換器２４の出力のピーク点をプロットす
ると、例えば第３図のＯＰｌ　、ＯＦ２あるいはＯＰ１
’　、　ＯＰ２’となる。オフセットドリフトが無い場
合をＯＰｌ、ＯＦ２とし、このＯＰｌ、ＯＦ２を結ぶ線
が原点Ｏを通るように基準光Ｐ１　、Ｐ２の波高（光量
）が調整されているものとする。所定時間経過後にＯＰ
ｔ’　、　ＯＰ２’がプロットされた場合、このＯＰ１
’　、　ＯＰ２’を結ぶ線はオフセットドリフトにより
原点を通らない。

第３図では負方向にずれており、このずれ値がオフセッ
トドリフト値である。そしてこのずれを修正し得る値が
オフセット補正値となる。

また、システムコントローラ２６は本実施例装置全体の
動作制御を司るものであり、上記プリアンプ１５　（Ａ
ＧＣｌ　６）、光重畳検出部２１゜Ａ／Ｄ変換器２４．
オフセット補正回路２５．及びＬＥＤコントローラ２７
等は、このシステムコントローラ２６の制御下にある。

そしてこのシステムコントローラ２６は、ＰＭＴｌｏへ
の基準光照射時におけるＡ／Ｄ変換器２４の出力に基づ
いてＰＭＴＩＯのゲイン補正のための補正値を算出し、
この補正値に従ってプリアンプ１５のゲインを制御する
ことにより、ＰＭＴｌｏのゲインを等測的に安定させて
いる。また、このシステムコントローラ２６においては
、上記のオフセット補正値の算出も行われる。ＰＭＴは
統計的なゆらぎを持つため、上記の補正値算出において
は、基準光測定を複数回実行し、それらの加算平均を行
うようにすると、補正値の精度が向上する。ここで本発
明におけるゲイン補正手段は、このシステムコントロー
ラ２６によって機能的に実現される。

尚、上記のゲイン補正及びオフセット補正のための基準
光測定は、システムコントローラ２６の制御により、本
実施例装置の放射線計測動作中に割込んで行われる。

更に、光重普検出部２１は、上記のゲイン補正及びオフ
セット補正のための基準光測定において、基準光の他に
シンチレータ光（放射線入射による）がＰＭＴＩＯに取
込まれた場合を検出するものでおる。この検出は、波形
整形回路２０の出力波形をモニタすることで行われる。

すなわち、光重畳検出部２１は、基準光照射開始より所
定時間波形整形回路２０の出力を積分する積分器２２と
、この積分器２２の出力Ｖｉｎｔと基準電圧ｖｒｅｒと
の比較を行う比較器２３とを有して成る。そして、ｖｅ
ｎｔ＞ｖｒｅｒの場合に、システムコントローラ２６に
データ取込み禁止信号を送出する。システムコントロー
ラ２６はこの禁止信号が取込まれた場合、Ａ／Ｄ変換器
２４のＡ／Ｄ変換動作を禁止すると共に、当該基準光照
射時のアナログ信号処理系１４の出力を、ゲイン補正及
びオフセット補正に関与させない。

次に、上記構成の作用について説明する。

°通常の放射線計測は次のように行われる。

尚、プリアンプ１５におけるＡＧＣ１６、及びオフセッ
ト補正回路２５には、ゲイン、オフセット補正のための
適当な初期値が既に設定されているものとする。

被検体に投与されたＲ１よりの放射線（γ線）が、ＰＭ
ＴＩＯの前段に配置されたシンチレータに入射すると、
このシンチレータより微小光が発せられ、これがＰＭＴ
ＩＯに入射されるｄこの光入射によるＰＭＴ出力はプリ
アンプ１５により増幅され、サムアンプ１９及び波形整
形回路２０を順に経由してＡ／Ｄ変換器２４に取込まれ
、ここでディジタル信号に変換された後にオフセット補
正回路２５を介して後段回路（図示せず）に伝達され、
ＲＩの集積像形成に供される。

以上の放射線計測は、ＲＩの集積像が形成されるまで行
われるのであるが、この放射線計測動作中に割込んで、
基準光測定及びその測定結果に基づくゲイン補正、オフ
セット補正が次のように実行される。

すなわち、システムコンローラ２６は、誤計算を防止す
るために、これから補正を行う系列以外のプリアンプ出
力を禁止し、ＬＥＤコントローラ２７に対して目的の系
列とＬＥＤの光量レベルとを指定して発光命令を出す。

すると、ＬＥＤコントーラ２７は、その命令に従い、該
当するＬＥＤ１２を発光させる。このしＥＤ光（基準光
）照射によるＰＭＴ出力はプリアンプ１５によってそれ
ぞれ増幅された後に、サムアンプ１９及び波形成形回路
２０を介してＡ／Ｄ変換器２４に入力される。そしてこ
のＡ／Ｄ変換器２４の出力がシステムコントローラ２６
に入力され、その後システムコントローラ２６は全系列
のプリアンプの出力を許可し、本実施例装置を放射線計
測動作に戻す。

以上のルーチンが所定回数だけ繰返される。そして、シ
ステムコントローラ２６は、上記のルーチン実行により
得られた基準光測定結果の加算平均を求め、同系列の初
期値若しくは前回の加算平均値と比較することにより゛
ゲインの変動を算出する。このゲインの変動には、ＰＭ
−下のゲイン変動の他にアナログ信号処理系１４のゲイ
ンの変動が含まれている。そしてシステムコントローラ
２６は、ゲイン変動の算出結果に基づいて、当該系列に
おけるプリアンプ１５のＡＧＣ１６に既に設定されてい
るゲイン補正値を更新する。ゲイン補正値の変更により
プリアンプのゲインが変化し、これにより当該系列のゲ
イン補正を終了する。

複数本のＰＭＴｌｏを有する装置では、上記のゲイン補
正が各系列毎に順次繰返される。

また、代表的な系列に対しては、上記のルーチンを、互
いに異なる２種類のＬＥＤ光量で実行し、それらのゲイ
ンからオフセット補正値を算出し、その算出結果に基づ
いて、オフセット補正回路２５に既に設定されているオ
フセット補正値を更新する。これにより、放射線計測時
におけるＡ／Ｄ変換出力データが、適切なオフセット補
正値によって補正されることになる。

次に、システムコントローラ２６におけるオフセット補
正及びドリフト補正に関する処理の流れについて第５図
及び第６図のフローチャートを基に詳述する。

本フローチャートでは、ｎ（ｎは正の整数）本のＰＭＴ
ｌｏを有するシステムにおいて、１系列当りｍ（ｍは正
の整数）回の加算平均を行う場合を示している。

先ず、システムコントローラ２６は、システム起動直後
に、ゲイン、オフセットの初期値をそれぞれ各プリアン
プ１５のＡＧＣ１６及びオフセット補正回路２５にセッ
トする（Ｓｌ）。そして変数ｉをＯとしくＳ２）、１を
インクリメントする（Ｓ３）。更に変数ｊをＯとしくＳ
４）、ｊをインクリメントする（Ｓ５）。

次に、ｉ系列口（本フローでは１系列目）のゲイン測定
とその測定結果の加算処理を実行する（Ｓ６）。この処
理実行については後に第６図を基に説明する。

そして、１２ｍが成立するか否かの判別を行う（Ｓ７）
。この判別において」２ｍが成立しない場合すなわちＮ
ｏと判断された場合には前記ステップＳ５に戻り、１２
ｍが成立する（ＹＥＳ）と判断されるまで前記ステップ
Ｓ５乃至＄７が繰返される。これにより、当該ｉ系列に
ついてのゲイン測定結果の加算平均処理が所定回数（ｍ
）だけ行われる。

次にシステムコントローラ２６は、オフセット補正を行
う必要があるか否かの判別を行う（Ｓ８）。

この判別において、「オフセット補正の必要が無い」と
判断された場合には当該系列についてのゲイン変動を算
出し、更にその算出結果よりゲイン補正値を算出し、当
該系列のプリアンプ１５におけるＡＧＣ１６にゲイン補
正値をセットする（Ｓ９）。

また、前記ステップＳ８の判別において、「オフセット
補正の必要が有る」と判断された場合には当該系列につ
いてのゲイン測定結果の加算値を適宜の記憶手段に記憶
した後（Ｓ１０）、変数ｊをＯとしく５１１）、ｊをイ
ンクリメントする（Ｓ１２）。そして、ｉ系列口のゲイ
ン測定とその測定結果の加算処理を実行する（３１３）
。ここでこのステップ３１３のゲイン測定においては、
前記ステップＳ６のゲイン測定の場合とはＬＥＤ光量の
みが異なる。例えば前記ステップＳ６のゲイン測定にお
いて第２図のＰｌが用いられる場合には、ステップ５１
３のゲイン測定においては第２図のＰ２が用いられる。

更に、上記と同様に１２ｍが成立するか否かの判別が行
われ（３１４）　、１２ｍが成立すると判断された場合
に、ゲイン変動及、びオフセット変動が算出され、更に
その算出結果よりゲイン補正値及びオフセット補正値が
算出され、当該系列のプリンアンプ１５におけるＡＧＣ
１６へのゲイン補正値セット、及びオフセット補正回路
２５へのオフセット補正値セットが行われる（Ｓ１５）
　、その後システムコントローラ２６は前記ステップＳ
３に戻る。

以上の処理が全系列又は主要系列の全てについて実行さ
れる。

次に、前記ステップＳ６及び３１３の実行の詳細につい
て第６図を基に説明する。

前記ステップＳ６及び８１３の実行は放射線計測動作中
に割込んで行われるため、システムコントローラ２６は
先ず通常動作（放射線計測動作）を禁止し、ｉ系列以外
のプリアンプ出力を禁止する（Ｓ２１）。そして、ｉ系
列口のＰＭＴＩＯに対応するＬＥＤによる基準光の発光
を指令しく５２２）、当該基準光照射時における波形整
形処理及びＡ／Ｄ変換処理の実行を制御する（Ｓ２３）
。そしてこのＡ／Ｄ変換値を取込み、データの加算処理
を実行した後に（３２４）　、通常動作に復帰する（３
２５）。

また、本実施例では、光重畳を生じた場合に、当該基準
光照射時のデータを、ゲイン補正及びオフセット補正に
関与させないようにしている。すなわち、光重畳検出部
２１において上記の光重畳が検出されると、システムコ
ントローラ２６に対してデータ取込み禁止信号が送出さ
れ、この禁止信号によりシステムコントローラ２６はＡ
／Ｄ変換器２４のＡ／Ｄ変換動作を禁止すると共に補正
値算出への当該測定データの関与を禁止する。

ここで、光重畳検出の詳細について第４図を基に説明す
る基準光にシンチレーション光が重畳されていない場合、
波形整形回路２０の出力波形は第４図３１のようになる
。また、基準光にシンチレーション光が重畳されている
場合、波形整形回路２０の出力波形は同図３２のように
なる。ＬＥＤＩ　２による基準光照射開始より数μｓの
間、積分器２２において波形整形回路２０の出力を積分
する。光重畳が無い場合（波形３１）の積分出力Ｖｉｎ
ｔの波形は、同図３３のようになるが、光重畳を生じて
いる場合（波形３２）の積分出力は同図３４のようにな
り、波形３３よりもレベルが高くなる。ここで、基準直
流電圧Ｖｒ’ｅｆを波形３３の波高よりも若干高めに設
定しておく。すると、比較器２３においてＶｉｎｔが波
形３４の場合、Ｖｉｎｔ＞Ｖｒｅｆが成立し、この比較
器２３よりデータ取込み禁止信号が出力される。勿論、
Ｖｉｎｔが波形３３の場合、Ｖｉｎｔ＜　ｖｒｅｒであ
り、データ取込み禁止信号は出力されない。

次に、他の実施例について説明する。

１系列につき１回の基準光照射を行い、その場合のＡ／
Ｄ変換出力値を、前回までの一定回数分のデータに加算
し、これよりゲイン補正値を算出するようにしてもよい
。またオフセットについても１回の異なる光量での基準
光照射時のＡ／Ｄ変換出力と、前回までの一定回数分の
加算値とから補正値を算出するようにしてもよい。第７
図はこの場合のシステムコントローラ２６にあける処理
の流れを示している。これを部課すると次のようになる
。

システム起動直後にシステムコントローラ２６はゲイン
、オフセットの初期値をセレトしく８３１　）、変数ｉ
をＯとしく５３２）　、ｉをインクリメントする（３３
３）　、そして、ｉ系列目のＬＥＤ発光を指令しく５３
４）　、当該ｉ系列目のＬＥＤ発光による基準光照射時
のＡ／Ｄ変換器２４の出力を取込み、ゲイン測定を行い
、ゲイン補正値を算出し、これを当該ｉ系列目のプリア
ンプにおけるＡＧＣにセットする（３３５）。次に、オ
フセット補正の必要があるか否かの判別を行う（３３Ｂ
）。この判別において「オフセットの必要が無い」と判
断された場合には前記ステップ３３３の実行に戻り、ま
た「オフセットの必要が有る」と判断された場合にはｉ
系列目のＬＥＤ発光を指令しく３３７　、但し、発光量
は前記ステップ３３４の場合と異なる）、当該ｉ系列目
のＬＥＤ発光による基準光照射時のＡ／Ｄ変換器２４の
出力を取込み、ゲイン測定及びオフセット補正値の算出
を行い、この補正値をオフセット補正回路２５にセット
する（３３Ｂ）。そして前記ステップＳ３３に戻る。。

このようにすると、上記実施例の場合よりも早い応答で
の補正が可能である。

また、第８図に示すように各ＰＭＴ１０に対応して配置
されたＨＶユニット２８より出力されるＰＭＴ駆動用高
電圧値をフィードバック制御することでゲイン補正を行
うようにしてもよい。この場合、システムコントローラ
２６によって算出されたゲイン補正値は各ＨＶユニット
２８にセットされ、この補正値に応じて変更された高電
圧がＰＭＴに印加されることになる。上記実施例と異な
るのは、プリアンプのゲインを制御する代りにＰＭＴ駆
動用高電圧値を制御するようにした点のみであり、その
他の点については上記実施例と同様である。

更に上記実施例ではゲイン補正とオフセット補正との双
方を行うものについて説明したが、ゲイン補正のみでも
放射線計測制度の向上を図ることができる。

［発明の効果］本発明は、以上説明したように構成されているので、以
下に記載されるような効果を奏する。

請求項１記載の放射線計測装置によれば、基準光照射時
におけるＰＭＴ出力のアナログ信号処理後の信号成分に
基づいてゲイン補正を行うようにしているので、アナロ
グ信号処理系のゲイン変動をも併せて補正することがで
き、放射線計測精度の向上を図ることができる。

また、請求項２記載の放射線計測装置によれば、アナロ
グ信号処理後の信号成分を加算平均した後に補正値算出
を行うようにしているので、ＰＭＨの統計的なゆらぎに
起因する、補正値算出の精度低下を防ぐことができる。

更に、請求項３記載の放射線計測装置によれば、ゲイン
可変型増幅回路のゲインをフィードバック制御するよう
にしており、そして、請求項４記載の放射線計測装置に
よれば、ＰＭＴ駆動用高電圧値をフィードバック制御す
るようにしているので、いずれもＰＭＴのゲイン補正を
適確に行うことができる。

また、請求項５記載の放射線計測装置によれば、アナロ
グ信号処理後の信号成分に基づいて放射線計測データの
オフセット補正をも行い得るので、放射線計測精度を更
に向上させることができる。

そして、請求項６記載の放射線計測装置によれば、互い
に先組の異なる２種類の基準光を用いることにより、オ
フセット補正値を精度良く算出することができ、このオ
フセット補正値を用いることにより、適確なオフセット
補正を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る放射線計測装置の一実施例を示す
ブロック図、第２図は基準光の波形図、第３図はオフセ
ットドリフト検出の原理説明のための特性図、第４図は
光重畳検出説明のための波形図、第５図及び第６図は第
１図の実施例装置における主要処理の流れ図、第７図は
他の実施例装置における主要処理の流れ図、第８図は他
の実施例装置のブロック図、第９図及び第１０図は従来
例のブロック図である。１０・・・ＰＭＴ　（光電子増倍管）、１２・・・ＬＥ
Ｄ　（基準光照射手段）、１４・・・アナログ信＠処理
系、１５・・・プリアンプ（ゲイン可変型増幅回路）、２１
・・・光重畳検出部、２５・・・オフセット補正回路（オフセット補正手段）、２６・・・システムコントローラ（ゲイン補正手段）。第７図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）放射線入射によって生ずる微小光をアナログ電気
信号に変換する光電子増倍管と、この光電子増倍管の出
力信号の処理を行うアナログ信号処理系とを有し、放射
線計測を可能とする放射線計測装置において、前記光電
子増倍管に基準光を照射する基準光照射手段と、この基
準光照射時における前記光電子増倍管出力のアナログ信
号処理後の信号成分に基づいて前記光電子増倍管のゲイ
ン補正を行うゲイン補正手段とを具備することを特徴と
する放射線計測装置。
（２）前記ゲイン補正手段は、前記光電子増倍管出力の
アナログ信号処理後の信号成分を加算平均した後にゲイ
ン補正値を算出し、該補正値に基づいて前記光電子増倍
管のゲイン補正を行う請求項１記載の放射線計測装置。
（３）前記アナログ信号処理系はゲイン可変型増幅回路
を有し、前記ゲイン補正手段は、前記光電子増倍管出力
のアナログ信号処理後の信号成分に基づいて前記ゲイン
可変型増幅回路のゲインをフィードバック制御すること
で前記光電子増倍管のゲイン補正を可能とする請求項１
又は２記載の放射線計測装置。
（４）前記ゲイン補正手段は、前記光電子増倍管出力の
アナログ信号処理後の信号成分に基づいて前記光電子増
倍管の駆動用高電圧値をフィードバック制御することで
前記光電子増倍管のゲイン補正を可能とする請求項１又
は２記載の放射線計測装置。
（５）前記基準光照射時における前記光電子増倍管出力
のアナログ信号処理後の信号成分に基づいて放射線計測
データのオフセット補正を行うオフセット補正手段を設
けた請求項１、２、３又は４記載の放射線計測装置。
（６）前記基準光照射手段は互いに光量の異なる２種類
の基準光を異なるタイミングでパルス状に照射し、前記
オフセット補正手段は、各パルス状基準光照射時におけ
る前記光電子増倍管出力のアナログ信号処理後の信号成
分に基づいて算出されたオフセット補正値を用いて放射
線計測データのオフセット補正を行う請求項５記載の放
射線計測装置。