JPWO2019229886A1 - 保護継電装置の特性試験システム - Google Patents
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Abstract
Description
保護継電装置の適正な保護機能を維持するためには、定期的に保護継電装置の特性試験を実施する必要がある。
このような保護継電装置の特性試験では、保護継電装置の保護機能を動作させるための基準となる規定値(設定値ともいう。以下同様)以上の入力を保護継電装置に供給して異常を検出し、異常を検出している時間が規定値の間継続した場合に保護が動作することを確認する。この特性試験は、保護継電装置の外部機器接続端子部に接続した特性試験に適したテスト信号を発生することができる専用の試験器から試験用の入力を印加して試験を行う方法、又は保護継電装置の内部に設けた試験波形発生回路で生成したテスト信号を用いて行うことを可能とした特性試験システムが知られている(例えば、特許文献1参照)。
図1は、実施の形態1に係る保護継電装置の特性試験システムの構成を示すブロック図である。
保護継電装置1は、電力系統からのアナログ電気量が入力される入力回路5、入力回路5からのアナログ電気量をデジタル信号に変換するA/Dコンバータ61を有した計測回路6、計測回路6からのデジタル信号を用いて所定の演算処理を実行する演算処理部(CPU)2、演算処理部2の判定結果に基づき遮断器13を動作させる信号を生成する出力回路9、操作部を構成する操作スイッチ部10からの入力により表示項目の設定がなされ、設定された表示項目に応じて演算処理部2からの出力を表示する表示部11、演算処理部2からの処理信号によって計測回路6に入力されるテスト信号を生成する試験波形発生回路7を備えている。試験波形発生回路7は、演算処理部2からの出力(デジタル信号)をアナログ信号に変換するD/Aコンバータ71及び増幅器72を有して構成されている。
信号変換ユニット14は、増幅回路140と可変抵抗141、並びに絶縁トランスを用いた絶縁回路142a、142bを有しており、試験波形発生回路7の出力が増幅回路140、可変抵抗141、絶縁回路142aを介して供給され、また、演算処理部2の制御用の時間信号に対応したパルス信号が絶縁回路142bを介して供給するように構成されている。
試験波形発生回路7からのテスト波形の信号、演算処理部2からのパルス出力の信号が出力される各出力端子部T1と、信号変換ユニット14の入力端子部T2とは、各専用ケーブルC1によって接続されている。
図2に示すように、保護継電装置1の正面部分には、操作スイッチ部10、表示部11、出力端子部T1を有している。操作スイッチ部10には、表示モードを切り替える操作スイッチ10A、10B及び表示態様を切り替える操作スイッチ10C、10Dを有している。
図3に示すように、信号変換ユニット14の正面部分には、保護継電装置1に接続される入力端子部T2、電圧計測装置15及び時間計測装置16が接続される出力端子部T3、信号変換ユニット14を校正するための基準となる校正用機器が接続される入力端子部T4、信号変換ユニット14の電源が接続される電源端子部T5を有している。
また、信号変換ユニット14の正面部に螺子によって取り付けられたパネルには、入力端子部T2、出力端子部T3、入力端子部T4、電源端子部T5の各端子部の近傍に当該端子部に接続される接続対象が表記されている。
図4に示すように、信号変換ユニット14の出力端子部T3には、電圧計測装置15と時間計測装置16が接続されている。また、信号変換ユニット14の入力端子部T2は、図1に示すように、専用ケーブルC1によって、保護継電装置1の出力端子部T1に接続される。
なお、図4では、図1における電流計測回路51からの出力に相当する試験波形発生回路7からの信号出力を計測するものとして電圧計測装置15、並びに図1に示す演算処理部2からのパルス出力の信号を計測するものとして時間計測装置16が出力端子部T3に接続された態様を示している。出力端子部T3には、計測したい出力に適した計測装置が接続される。例えば、図4においては、図1における電流計測回路51が入力電流を変流して電圧出力するものの場合、これに対応する試験波形発生回路7からの信号出力については電圧計測装置15で電圧を計測する態様を示している。後述する図6についても同様である。
電圧計測装置15あるいは時間計測装置16によって、試験波形発生回路7あるいは演算処理部2からの出力が特性試験に必要な規定値になっているか否かを確認することができる。
また、入力端子部T4に校正用機器、例えば、交流電圧発生器を接続し、出力端子部T3に接続された計測装置によって信号変換ユニット14の精度を確認することができる。 このようにして信号変換ユニット14の精度を確認した結果、信号変換ユニット14の精度が規定の範囲外であれば、信号変換ユニット14に内蔵されている図1に示す可変抵抗141を調整することによって、信号変換ユニット14を適正な状態にすることができる。なお、可変抵抗141の調整作業は、例えば、信号変換ユニット14の本体に螺子止めされているパネルを取り外して行うことができる。
図5において説明した調整要素(a)〜(e)を決定後、テスト波形の調整画面に移行する。調整画面では、操作スイッチにて調整値を増減させることで、出力波形のオフセット、波形の振幅に反映する。演算処理部計測時間確認の調整画面はないが、図5の時間確認画面での操作スイッチ操作にてパルス出力する。
先ず、調整前準備として、保護継電装置1の出力端子部T1と信号変換ユニット14の入力端子部T2とを専用ケーブルC1で接続して保護継電装置1に信号変換ユニット14を接続し、また信号変換ユニット14の出力端子部T3に電圧計測装置15及び時間計測装置16等の計測装置を接続する(ステップS11)。信号変換ユニット14に接続された時間計測装置16によって演算処理部2のパルス出力の時間確認を行い、演算処理部2の計測時間を確認し(ステップS12)(図6参照)、確認結果が規定値の範囲内であれば(ステップS13でYes)、ステップS14に進み、確認結果が規定値の範囲内でなければ(ステップS13でNo)、ステップS15に進み、保護継電装置1が故障と判断して装置の交換を行って作業を終了する。
また、この実施の形態1においては、更に、以下に示す3つの機能を有している。
(1)信号変換ユニット14を介して、試験波形発生回路7にて生成したテスト信号の健全性を確認することができるシステムとすることで、試験器からの出力を模擬したテスト信号であることが確認できる機能を有する。信号変換ユニットは校正が可能であり、校正のとれた信号変換ユニットでテスト信号の確認を行う。
(2)演算処理部2が計測する時間を外部にパルス信号として出力する機能を搭載する。このパルス信号を校正された時間計測装置16にて測定する。これにより、演算処理部2が計測している時間が正しいと確認できる。
(3)生成したテスト信号を確認し、規定値を外れた場合を想定し、テスト信号の出力を調整できる機能を搭載する。部品劣化等で、生成するテスト信号が規定値を外れた場合は、出力波形のオフセット、振幅(ゲイン)を調整できる機能を搭載する。ここで波形調整した調整値に関しては、テスト信号に反映する。
上記(1)(2)により、試験波形発生回路7で生成したテスト信号の健全性の確認と演算処理部2が計測する時間の健全性の確認を可能とすることで特性試験システムによる試験の信頼性向上及び特性試験結果のトレーサビリティを確保する。
また、上記(3)の機能を搭載することで、常に健全なテスト信号を入力し、特性試験が可能となるシステムを実現する。
(1)信号変換ユニット内に増幅回路140と可変抵抗141を配置することで出力波形の調整をする。通常の増幅率は×1倍の抵抗値となっているが、可変抵抗141を変動させることにより、増幅率を変更でき、出力波形の調整が可能となる。よって、絶縁回路142a、142bを構成する絶縁トランスの問題(たとえば、劣化)により、入力波形と出力波形のずれが発生した場合に出力波形の調整を行う。信号変換ユニット14のオフセット分のずれに関しては、調整不可であるため、信号変換ユニット自体の交換が必要となる。
(2)絶縁回路142a、142bの絶縁トランスにより、保護継電装置1の内部回路の保護を行う。保護継電装置1の内部回路と計測装置である電圧計測装置15、時間計測装置16を絶縁せずに直接接続しようとした場合、人の指がふれることで例えば静電気のノイズが進入する可能性がある。信号変換ユニット14と保護継電装置1とをコネクタ接続し、接続の際は人の指がふれない構造(接続口が小さい)とする。信号変換ユニット14を接続し、保護継電装置1と絶縁された状態を作った上で、計測装置である電圧計測装置15、時間計測装置16を接続し、出力波形を確認する。
保護継電装置1の内部に絶縁トランスを配置するか、絶縁トランスのみの信号変換ユニットでも問題なく計測可能である。
しかし、この構造とした場合、以下の(1)(2)の問題を考慮する必要がある。
(1)保護継電装置1の内部に絶縁トランスを配置する場合
テスト波形を計測装置で測定した場合に、正常値範囲から外れた場合、保護継電装置1が生成するテスト信号に問題があって正常値から外れたか、絶縁トランスの問題(例えば、劣化)で外れたかを判断ができない。
(2)絶縁トランスのみの信号変換ユニットの場合
信号変換ユニット14の入出力の確認で信号変換ユニット自体の健全性は確認できるが、信号変換ユニット自体の出力値調整ができないため、健全性確認で問題がある場合、信号変換ユニットの交換が必要になる。
実施の形態1のように信号変換ユニットを設けることで、これらの問題点を解消することができる。
従って、例示されていない無数の変形例が、本願明細書に開示される技術の範囲内において想定される。例えば、少なくとも1つの構成要素を変形する場合、追加する場合または省略する場合が含まれるものとする。
Claims (4)
- 電力系統からのアナログ電気量が入力される入力回路と、前記入力回路からのアナログ電気量をデジタル信号に変換するA/Dコンバータを有した計測回路と、前記計測回路からのデジタル信号を用いて演算処理を実行する演算処理部と、前記演算処理部の判定結果に基づき、前記電力系統に設けられた遮断器を動作させる信号を生成する出力回路と、操作スイッチ部からの入力により表示項目の設定がなされ、前記設定された表示項目に応じて前記演算処理部からの出力を表示する表示部とを有する保護継電装置に設けられ、前記演算処理部からの処理信号によって前記計測回路に入力されるテスト信号を生成する試験波形発生回路を有した保護継電装置の特性試験システムにおいて、前記試験波形発生回路で生成されたテスト信号を計測する計測装置を備えたことを特徴とする保護継電装置の特性試験システム。
- 前記計測装置は電圧計測装置であることを特徴とする請求項1に記載の保護継電装置の特性試験システム。
- 前記計測装置の入力側に設けられ、前記試験波形発生回路からのテスト信号の校正を行う信号変換ユニットを備えたことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の保護継電装置の特性試験システム。
- 前記演算処理部に用いられる時間信号を計測する時間計測装置を備えたことを特徴とする請求項3に記載の保護継電装置の特性試験システム。
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