JPH02136020A - 保護継電器 - Google Patents
保護継電器Info
- Publication number
- JPH02136020A JPH02136020A JP63290661A JP29066188A JPH02136020A JP H02136020 A JPH02136020 A JP H02136020A JP 63290661 A JP63290661 A JP 63290661A JP 29066188 A JP29066188 A JP 29066188A JP H02136020 A JPH02136020 A JP H02136020A
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- JP
- Japan
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- circuit
- test
- switch
- test signal
- output
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- Pending
Links
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 47
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 10
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 claims description 6
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 7
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- 230000007257 malfunction Effects 0.000 abstract description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000011056 performance test Methods 0.000 abstract 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、試験機能を有する保護継電器に関する。
(従来の技術)
従来、保護継電器には、一般的に保護継電器自体の試験
機能を内蔵したものは少なく、最終動作を強制的に動作
させ、外部シーケンスをテストする機能しかなかった。
機能を内蔵したものは少なく、最終動作を強制的に動作
させ、外部シーケンスをテストする機能しかなかった。
このため、保護継電器自体の試験は、設備の定期点検時
等に専用の試験器を準備し、機能確認を行っていた。
等に専用の試験器を準備し、機能確認を行っていた。
(発明が解決しようとする課題)
しかるに、前述の専用試験器を準備して試験を行う方式
では、試験器自体が高価であり、かつ配線等の段取りに
も時間を要し、点検時間の短縮という観点から問題があ
った。
では、試験器自体が高価であり、かつ配線等の段取りに
も時間を要し、点検時間の短縮という観点から問題があ
った。
また、保護継電器内部々に試験装置をもたせても設備の
停電なしに最終動作までの十分な試験を行うことができ
ないという問題があった。
停電なしに最終動作までの十分な試験を行うことができ
ないという問題があった。
本発明は試験機能を内蔵し、専用試験器を不要とし、保
護継続中(オンライン中)においてもトリップなしく最
、終動作なし)に試験を可能とし、定期点検の周期を長
くでき、耐サージ・ノイズによる誤動作が低減できる保
護継電器を提供することを目的とする。
護継続中(オンライン中)においてもトリップなしく最
、終動作なし)に試験を可能とし、定期点検の周期を長
くでき、耐サージ・ノイズによる誤動作が低減できる保
護継電器を提供することを目的とする。
[発明の構成]
(課題を解決するための手段)
本発明は、前記目的を達成するため、保護対象となる負
荷又は電路の電気量が、あらかじめ整定された値を越え
たことを検出し、この電気量の大きさにより、定められ
た特性時間で出力する第1の回路と、前記電気量が、あ
らかじめ整定された値を越えると出力する第2の回路と
、前記第1および第2の回路の出力の論理積条件が成立
したとき動作する出力接点を有する出力回路と、前記第
1および第2の回路の動作を個別に表示する2つの表示
品と、機能試験の為の試験用信号を発生する試験用信号
発生回路と、この試験用信号発生回路からの試験信号を
前記第1および第2の回路に個々に入力許容する第1お
よび第2のスイッチとを備えたものである。
荷又は電路の電気量が、あらかじめ整定された値を越え
たことを検出し、この電気量の大きさにより、定められ
た特性時間で出力する第1の回路と、前記電気量が、あ
らかじめ整定された値を越えると出力する第2の回路と
、前記第1および第2の回路の出力の論理積条件が成立
したとき動作する出力接点を有する出力回路と、前記第
1および第2の回路の動作を個別に表示する2つの表示
品と、機能試験の為の試験用信号を発生する試験用信号
発生回路と、この試験用信号発生回路からの試験信号を
前記第1および第2の回路に個々に入力許容する第1お
よび第2のスイッチとを備えたものである。
(作用)
本発明によれば、前記第1のスイッチで前記第1の回路
に模擬信号を印加することで、前記第1の回路の機能試
験が可能で、また前記第2のスイッチで前記第2の回路
に模擬信号を印加することで前記第2の回路の機能試験
が可能で、さらに前記第1および第2の回路の個別試験
中においても、負荷又は電路の保護が可能である。
に模擬信号を印加することで、前記第1の回路の機能試
験が可能で、また前記第2のスイッチで前記第2の回路
に模擬信号を印加することで前記第2の回路の機能試験
が可能で、さらに前記第1および第2の回路の個別試験
中においても、負荷又は電路の保護が可能である。
(実施例)
以下、本発明の一実施例について説明するが、その前に
本発明として必要条件について述べる。
本発明として必要条件について述べる。
一般的に保護継電器の機能試験は、保護対象から検出さ
れる電気量があらかじめ定められた値を越えたとき動作
を開始し、かつ定められた値を越えた電気量の大きさに
より、定められた時間で動作することが、確認できれば
十分であり、専用の試験器も前記条件を満足するように
配慮されている。すなわち、保:jl1m電器側に試験
機能を内蔵する場合も、電気量に相当する信号を発生す
る試験用信号発生回路と、動作時間が確認できる手段が
あれば十分である。
れる電気量があらかじめ定められた値を越えたとき動作
を開始し、かつ定められた値を越えた電気量の大きさに
より、定められた時間で動作することが、確認できれば
十分であり、専用の試験器も前記条件を満足するように
配慮されている。すなわち、保:jl1m電器側に試験
機能を内蔵する場合も、電気量に相当する信号を発生す
る試験用信号発生回路と、動作時間が確認できる手段が
あれば十分である。
また、保護継続中に試験を可能とするため、保護継電器
内部を保護動作特性をもった回路出力と、動作値を越え
ると出力する簡単な比較回路出力のAND回路で動作す
る構成とし試験信号を、上記回路に個々に入力できる構
成としである。
内部を保護動作特性をもった回路出力と、動作値を越え
ると出力する簡単な比較回路出力のAND回路で動作す
る構成とし試験信号を、上記回路に個々に入力できる構
成としである。
次に、本発明の保護継電器の一実施例を第1図に示すブ
ロック図により説明する。
ロック図により説明する。
回路電流を検出する変流器1.この変流器1の2次電流
を検出する補助変流器2、この補助変流器2の2次電流
を電圧に変換する抵抗3、補助電流器2の2次電流に比
例する電圧を増幅する増幅回路4、変流器1により検出
される検出電流の大きさにより動作時間が変わる特性回
路5、動作値や動作時間などを整定する整定スイッチ6
、変流器1により検出される検出電流の大きさか動作整
定値を越えた時出力する動作値比較回路7、特性回路6
の出力を表示する表示回路(I)8、動作値比較回路7
の出力を表示する表示回路(■)9、特性回路5と動作
値比較回路7の出力を論理積条件を求めるAND回路9
、このAND回路14出力により、出力接点10aを動
作させる出力回路10からなっている。そして上記構成
に、試験用信号を発生する発生回路11と、この試験用
信号発生回路11からの試験用信号を、増幅回路4に印
加するスイッチ12と、前記試験用信号を動作値比較回
路7に印加するスイッチ13と、上記表示回路8,9と
により、試験機能を実現している。
を検出する補助変流器2、この補助変流器2の2次電流
を電圧に変換する抵抗3、補助電流器2の2次電流に比
例する電圧を増幅する増幅回路4、変流器1により検出
される検出電流の大きさにより動作時間が変わる特性回
路5、動作値や動作時間などを整定する整定スイッチ6
、変流器1により検出される検出電流の大きさか動作整
定値を越えた時出力する動作値比較回路7、特性回路6
の出力を表示する表示回路(I)8、動作値比較回路7
の出力を表示する表示回路(■)9、特性回路5と動作
値比較回路7の出力を論理積条件を求めるAND回路9
、このAND回路14出力により、出力接点10aを動
作させる出力回路10からなっている。そして上記構成
に、試験用信号を発生する発生回路11と、この試験用
信号発生回路11からの試験用信号を、増幅回路4に印
加するスイッチ12と、前記試験用信号を動作値比較回
路7に印加するスイッチ13と、上記表示回路8,9と
により、試験機能を実現している。
以上のような構成のものにおいて、いま試験信号発生回
路11から試験信号が発生しているとき、スイッチ12
のみを閉じ、特製回路5側の機能試験を実施し、次にス
イッチ12を開き、スイッチ13のみを閉じ、動作値比
較回路7側の機能試験を実施することが出来る。また、
定期点検時等、スイッチ12、スイッチ13を同時に閉
じ、特性回路5側と動作値比較回路7の機能を試験及び
最終出力接点(+外部シーケンス)の試験が行える。
路11から試験信号が発生しているとき、スイッチ12
のみを閉じ、特製回路5側の機能試験を実施し、次にス
イッチ12を開き、スイッチ13のみを閉じ、動作値比
較回路7側の機能試験を実施することが出来る。また、
定期点検時等、スイッチ12、スイッチ13を同時に閉
じ、特性回路5側と動作値比較回路7の機能を試験及び
最終出力接点(+外部シーケンス)の試験が行える。
[発明の効果コ
以上述べた本発明によれば、従来の保護継電器に試験機
能が追加されたので、定期点検時の継電器に関する点検
時間の短縮が可能で、運転停止期間の短縮に大きな効果
を得ることができ、また保護継続中(通電中)において
も、機能試験が可能となり、さらに、!I電器内部の2
重化により、耐サージ、ノイズによる誤動作が低減でき
る保護m電器を提供できる。
能が追加されたので、定期点検時の継電器に関する点検
時間の短縮が可能で、運転停止期間の短縮に大きな効果
を得ることができ、また保護継続中(通電中)において
も、機能試験が可能となり、さらに、!I電器内部の2
重化により、耐サージ、ノイズによる誤動作が低減でき
る保護m電器を提供できる。
第1図は本発明による保護継電器の一実施例を示すブロ
ック図である。 1・・・変流器、2・・・補助変流器、3・・・試験信
号発生回路、12・・・スイッチ、13・・・スイッチ
、4・・・増幅回路、5・・・特性回路、6・・・整定
スイッチ、7・・・動作値比較回路、8・・・表示回路
(I)、9・・・表示回路(II) 14・・・A
ND回路、10・・・出力回路、3・・・抵抗。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
ック図である。 1・・・変流器、2・・・補助変流器、3・・・試験信
号発生回路、12・・・スイッチ、13・・・スイッチ
、4・・・増幅回路、5・・・特性回路、6・・・整定
スイッチ、7・・・動作値比較回路、8・・・表示回路
(I)、9・・・表示回路(II) 14・・・A
ND回路、10・・・出力回路、3・・・抵抗。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 保護対象となる負荷又は電路の電気量が、あらかじめ整
定された値を越えたことを検出し、この電気量の大きさ
により、定められた特性時間で出力する第1の回路と、 前記電気量が、あらかじめ整定された値を越えると出力
する第2の回路と、 前記第1および第2の回路の出力の論理積条件が成立し
たとき動作する出力接点を有する出力回路と、 前記第1および第2の回路の動作を個別に表示する2つ
の表示器と、 機能試験の為の試験用信号を発生する試験用信号発生回
路と、 この試験用信号発生回路からの試験信号を前記第1およ
び第2の回路に個々に入力許容する第1および第2のス
イッチとを備え、 前記第1のスイッチで前記第1の回路に模擬信号を印加
することで、前記第1の回路の機能試験が可能で、また
前記第2のスイッチで前記第2の回路に模擬信号を印加
することで前記第2の回路の機能試験が可能で、さらに
前記第1および第2の回路の個別試験中においても、負
荷又は電路の保護が可能であることを特徴とする保護継
電器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63290661A JPH02136020A (ja) | 1988-11-17 | 1988-11-17 | 保護継電器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63290661A JPH02136020A (ja) | 1988-11-17 | 1988-11-17 | 保護継電器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02136020A true JPH02136020A (ja) | 1990-05-24 |
Family
ID=17758857
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63290661A Pending JPH02136020A (ja) | 1988-11-17 | 1988-11-17 | 保護継電器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH02136020A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104380553B (zh) * | 2012-05-21 | 2016-10-12 | 三菱电机株式会社 | 保护继电装置的动作试验系统 |
KR20210005089A (ko) * | 2018-05-30 | 2021-01-13 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템 |
-
1988
- 1988-11-17 JP JP63290661A patent/JPH02136020A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104380553B (zh) * | 2012-05-21 | 2016-10-12 | 三菱电机株式会社 | 保护继电装置的动作试验系统 |
KR20210005089A (ko) * | 2018-05-30 | 2021-01-13 | 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 | 보호 계전 장치의 특성 시험 시스템 |
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