JPWO2019131876A1 - 酸化物焼結体、スパッタリングターゲットおよび酸化物薄膜 - Google Patents
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Abstract
Description
0.70≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.98 ・・(1)
0.01≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.29 ・・(2)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.10 ・・(3)
0.50<In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.90 ・・(4)
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0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.29 ・・(6)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.10 ・・(7)
0.50<In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.90 ・・(8)
各元素の原子比が、以下の式(9)〜(12)を満たすことがより好ましく、
0.80≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.97 ・・(9)
0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.19 ・・(10)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.07 ・・(11)
0.51≦In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.80 ・・(12)
各元素の原子比が、以下の式(13)〜(16)を満たすことがさらに好ましく、
0.85≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.97 ・・(13)
0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.14 ・・(14)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.04 ・・(15)
0.51≦In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.70 ・・(16)
各元素の原子比が、以下の式(17)〜(20)を満たすことがよりさらに好ましい。
0.90≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.97 ・・(17)
0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.05 ・・(18)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.04 ・・(19)
0.52≦In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.65 ・・(20)
0.40≦In/(In+Zn+Sn)≦0.90 ・・(21)
0.05≦Zn/(In+Zn+Sn)≦0.55 ・・(22)
0.05≦Sn/(In+Zn+Sn)≦0.20 ・・(23)
0.40≦In/(In+Zn+Sn)≦0.60 ・・(24)
0.15≦Zn/(In+Zn+Sn)≦0.50 ・・(25)
0.08≦Sn/(In+Zn+Sn)≦0.19 ・・(26)
各元素の原子比が、以下の式(27)〜(29)を満たすことがより好ましい。
0.45≦In/(In+Zn+Sn)≦0.55 ・・(27)
0.25≦Zn/(In+Zn+Sn)≦0.40 ・・(28)
0.12≦Sn/(In+Zn+Sn)≦0.18 ・・(29)
実施形態の酸化物スパッタリングターゲットは、たとえば以下に示すような方法により製造することができる。まず、原料粉末を混合する。原料粉末としては、通常In2O3粉末、Ga2O3粉末、ZnO粉末、SnO2粉末およびAl2O3粉末である。各原料粉末の平均粒径はすべて5μm以下であることが好ましく、また、各原料粉末相互の平均粒径の差は2μm以下であることが好ましい。なお、原料粉末の平均粒径はレーザー回折散乱式粒度分布測定法による累積体積50容量%における体積累積粒径D50である。
ここで説明するスリップキャスト法では、混合粉末と有機添加物とを含有するスラリーを、分散媒を用いて調製し、かかるスラリーを型に流し込んで分散媒を除去することにより成形を行う。ここで用いることができる有機添加物は、公知のバインダーや分散剤などである。
ここで説明するCIP法では、混合粉末と有機添加物とを含有するスラリーを、分散媒を用いて調製し、かかるスラリーを噴霧乾燥して得られた乾燥粉末を型に充填して加圧成形を行う。ここで用いることができる有機添加物は、公知のバインダーや分散剤などである。
平均粒径が0.6μmであるIn2O3粉末と、平均粒径が2μmであるGa2O3粉末と、平均粒径が0.8μmであるZnO粉末と、平均粒径が0.8μmであるSnO2粉末と、平均粒径が0.5μmであるAl2O3粉末とをポット中でジルコニアボールによりボールミル乾式混合して、混合粉末を調製した。
実施例1と同様な方法を用いて、酸化物焼結体を3枚得た。なお、実施例2〜12では、混合粉末の調製の際、すべての原料粉末に含まれる金属元素の原子比が、表1に記載の原子比となるように各原料粉末を配合した。
実施例1と同様な方法を用いて、酸化物焼結体を3枚得た。なお、比較例1では、混合粉末の調製の際、すべての原料粉末に含まれる金属元素の原子比が、In:Ga:Zn:Sn:Al=0.49:0.10:0.20:0.10:0.11となるように各原料粉末を配合した。
平均粒径が0.6μmであるIn2O3粉末と、平均粒径が2μmであるGa2O3粉末と、平均粒径が0.8μmであるZnO粉末とをポット中でジルコニアボールによりボールミル乾式混合して、混合粉末を調製した。
ρ={(C1/100)/ρ1+(C2/100)/ρ2+(C3/100)/ρ3+(C4/100)/ρ4+(C5/100)/ρ5}−1 ・・(30)
・C1:酸化物焼結体の製造に用いたIn2O3粉末の質量%
・ρ1:In2O3の密度(7.18g/cm3)
・C2:酸化物焼結体の製造に用いたGa2O3粉末の質量%
・ρ2:Ga2O3の密度(5.95g/cm3)
・C3:酸化物焼結体の製造に用いたZnO粉末の質量%
・ρ3:ZnOの密度(5.60g/cm3)
・C4:酸化物焼結体の製造に用いたSnO2粉末の質量%
・ρ4:SnO2の密度(6.95g/cm3)
・C5:酸化物焼結体の製造に用いたAl2O3粉末の質量%
・ρ5:Al2O3の密度(3.98g/cm3)
・成膜装置:トッキ株式会社製SML−464(DCスパッタリング装置)
・到達真空度:1×10−4Pa未満
・スパッタガス:Ar/O2混合ガス
・スパッタガス圧:0.4Pa
・O2ガス分圧:10%
・基板:ガラス基板(日本電気硝子株式会社製OA−10)
・基板温度:室温
・スパッタリング電力:3W/cm2
・測定装置:ナノメトリクス・ジャパン株式会社製HL5500PC
・測定方法:van der Pauw法
0.55≦In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.65 ・・(31)
10 ガラス基板
20 ゲート電極
30 ゲート絶縁膜
40 チャネル層
50 エッチングストッパー層
60 ソース電極
61 ドレイン電極
70 保護層
Claims (14)
- インジウム(In)と、ガリウム(Ga)と、亜鉛(Zn)と、スズ(Sn)と、アルミニウム(Al)と、酸素(O)と、不可避不純物とからなる酸化物焼結体であって、各元素の原子比が下記式(1)〜(4)を満たす酸化物焼結体。
0.70≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.98 ・・(1)
0.01≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.29 ・・(2)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.10 ・・(3)
0.50<In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.90 ・・(4) - 各元素の原子比が下記式(5)〜(8)を満たす、請求項1に記載の酸化物焼結体。
0.70≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.97 ・・(5)
0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.29 ・・(6)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.10 ・・(7)
0.50<In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.90 ・・(8) - 各元素の原子比が下記式(9)〜(12)を満たす、請求項1または2に記載の酸化物焼結体。
0.80≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.97 ・・(9)
0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.19 ・・(10)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.07 ・・(11)
0.51≦In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.80 ・・(12) - 各元素の原子比が、以下の式(13)〜(16)を満たす、請求項1〜3のいずれか一つに記載の酸化物焼結体。
0.85≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.97 ・・(13)
0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.14 ・・(14)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.04 ・・(15)
0.51≦In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.70 ・・(16) - 各元素の原子比が下記式(17)〜(20)を満たす、請求項1〜4のいずれか一つに記載の酸化物焼結体。
0.90≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.97 ・・(17)
0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.05 ・・(18)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.04 ・・(19)
0.52≦In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.65 ・・(20) - 各元素の原子比が下記式(21)〜(23)を満たす、請求項1〜5のいずれか一つに記載の酸化物焼結体。
0.40≦In/(In+Zn+Sn)≦0.90 ・・(21)
0.05≦Zn/(In+Zn+Sn)≦0.55 ・・(22)
0.05≦Sn/(In+Zn+Sn)≦0.20 ・・(23) - 各元素の原子比が下記式(24)〜(26)を満たす、請求項1〜6のいずれか一つに記載の酸化物焼結体。
0.40≦In/(In+Zn+Sn)≦0.60 ・・(24)
0.15≦Zn/(In+Zn+Sn)≦0.50 ・・(25)
0.08≦Sn/(In+Zn+Sn)≦0.19 ・・(26) - 各元素の原子比が下記式(27)〜(29)を満たす、請求項1〜7のいずれか一つに記載の酸化物焼結体。
0.45≦In/(In+Zn+Sn)≦0.55 ・・(27)
0.25≦Zn/(In+Zn+Sn)≦0.40 ・・(28)
0.12≦Sn/(In+Zn+Sn)≦0.18 ・・(29) - 相対密度が95%以上である、請求項1〜8のいずれか一つに記載の酸化物焼結体。
- 比抵抗が10mΩ・cm以下である、請求項1〜9のいずれか一つに記載の酸化物焼結体。
- ビックスバイト型構造のIn2O3相を含む、請求項1〜10のいずれか一つに記載の酸化物焼結体。
- 請求項1〜11のいずれか一つに記載の酸化物焼結体をターゲット材として用いる
スパッタリングターゲット。 - インジウム(In)と、ガリウム(Ga)と、亜鉛(Zn)と、スズ(Sn)と、アルミニウム(Al)と、酸素(O)と、不可避不純物とからなる酸化物薄膜であって、各元素の原子比が下記式(1)〜(4)を満たす酸化物薄膜。
0.70≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.98 ・・(1)
0.01≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.29 ・・(2)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.10 ・・(3)
0.50<In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.90 ・・(4) - 各元素の原子比が下記式(5)〜(8)を満たす、請求項13に記載の酸化物薄膜。
0.70≦(In+Zn+Sn)/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.97 ・・(5)
0.02≦Ga/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.29 ・・(6)
0.01≦Al/(In+Ga+Zn+Sn+Al)≦0.10 ・・(7)
0.50<In/(In+Ga+Zn+Al)≦0.90 ・・(8)
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