JPWO2017119153A1 - 蒸着マスク及びその製造方法、有機el表示装置の製造方法 - Google Patents

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Abstract

表面に凹凸がある被蒸着基板の底部の所定の場所のみに蒸着材料を蒸着する場合でも、蒸着マスクと被蒸着基板との間に隙間がなく、所望の場所にのみ蒸着することができる蒸着マスク、及びその製造方法を提供する。被蒸着基板の表面の形状に対応する凹凸を有するダミー基板が作製され(S1)、ダミー基板の凹凸面に液状の樹脂材料を塗布することで樹脂塗布膜が形成され(S2)、樹脂塗布膜の温度を上昇させて樹脂塗布膜を焼成することで、樹脂焼成膜が形成される(S3)。次に、ダミー基板に付着している樹脂焼成膜に、所望の開口部のパターンを形成することで所望の開口部のパターンを有する樹脂フィルムが形成される(S4)。その後、樹脂フィルムをダミー基板から剥離して蒸着マスクにする(S6)。

Description

本発明は、有機EL表示装置の有機層を蒸着する際などに用いられる蒸着マスク及びその製造方法に関する。さらに詳しくは、表面に凹凸を有する基板の所定の場所に蒸着材料を蒸着する場合でも、余計な場所に蒸着材料が被着することなく、所定の場所に正確に蒸着材料を蒸着し得る蒸着マスク、その製造方法及びその蒸着マスクを使用した有機EL表示装置の製造方法に関する。
有機EL表示装置が製造される場合、例えばTFT等のスイッチ素子が形成された基板上に有機層が画素ごとに対応して積層される。そのため、基板上に蒸着マスクが配置され、その蒸着マスクを介して有機材料が蒸着され、必要な画素のみに必要な有機層が積層される。その蒸着マスクとしては、従来メタルマスクが用いられていたが、近年、より精細なパターンを形成するため、メタルマスクに代って樹脂フィルムが多用される傾向にある。
また、被蒸着基板に、例えばPETやポリイミド等のフィルム状マスク用部材を設け、そのマスク用部材にレーザ光を照射して開口を設けることにより、マスクを形成し、そのマスクの開口を介して有機材料などを蒸着し、その後にそのマスクを剥離する方法が知られている(例えば特許文献1参照)。
特開2013−20764号公報
前述のように、メタルマスク又は樹脂フィルムからなる蒸着マスクを用いて凹凸の表面を有する被蒸着基板に蒸着をしようとすると、蒸着マスクは被蒸着基板の凸部表面にだけコンタクトするため、本来、蒸着マスクにより被覆されるべき被蒸着基板の凹部内にも蒸着材料が入り込む可能性が大きい。例えば、有機EL表示装置の有機層を蒸着する場合、TFTなどの凹凸は、その上に設けられる平坦化膜により一旦平坦化されるが、その平坦化膜上に各画素を区分するバンクが形成される。そのバンクの上面に蒸着マスクが載置されて蒸着される。そのため、蒸着マスクの下側のバンクの側壁にも蒸着材料が被着する。その結果、有機EL表示装置の各画素を発光させる際に、バンクの側壁に蒸着された蒸着材料から斜め方向に光が放射され、隣接する画素の光と混合し不鮮明な画像になるという問題がある。
また、前述の特許文献1に示されるように、例えば表面に凹凸を有するTFT基板の有機材料を蒸着する場所の上に、フィルム状マスク用部材を載せて、そのマスク用部材にレーザ光を照射して開口を形成することにより、マスクを形成しても、フィルムの状態で凹凸の表面上に載せるため、TFT基板の凹部は覆われない。この方法は、マスク用部材を通して直接陽極電極を見ながらマスク用部材に開口を形成するため、マスクの開口部とTFT基板の蒸着する所定の位置の位置合せは正確にできると予想されるが、前述のような蒸着マスクとTFT基板の蒸着する場所との間に蒸着材料が被着する問題を解消することはできない。すなわち、TFT基板の表面に凹凸があると、マスク部材とTFT基板とを完全に密着させることはできない。例えば有機EL表示装置を製造する場合、バンクの上にフィルム状の蒸着マスクを重ねて蒸着しても、バンクの側壁にも蒸着材料が被着し、バンクの側壁からも斜め方向に光が放射されることになり、画素間の混色の問題も生じてくる。
さらに、前述のように、TFT基板に直接マスク部材を形成し、そのままその蒸着マスクとして有機材料などを蒸着すると、蒸着マスクの開口を形成する際に、レーザ光を照射しなければならず、TFTの素子特性を害するという問題もある。さらに、例えばRGBのサブ画素で、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層などで、RGBの各サブ画素の2以上で共通の有機材料を用いる場合でも、RGBそれぞれのサブ画素で有機材料の積層膜を全て形成しなければならない。すなわち、RGBの各サブ画素で、同じ層構造の部分に同じ材料を蒸着する場合でも、各サブ画素で別々に再度同じ材料を蒸着する必要があり、材料が無駄になるのみならず、製造工数が大幅に増加するという問題もある。さらに、例えばRのサブ画素の積層が完了した後に、蒸着マスクを除去して再度別のGのサブ画素用の蒸着マスクを形成しなければならず、既に積層されているRのサブ画素の有機材料への悪影響も懸念される。
本発明は、このような問題を解決するためになされたもので、表面に凹凸がある被蒸着基板の底部の所定の場所のみに蒸着材料を蒸着する場合でも、蒸着マスクと被蒸着基板との間に隙間がなく、所望の場所にのみ蒸着することができる蒸着マスク、及びその製造方法を提供することにある。
本発明の他の目的は、蒸着材料を蒸着する場合に、蒸着源からの蒸着材料の飛来を妨げないで、所望の場所に確実に蒸着材料を蒸着することができる蒸着マスク及びその製造方法を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、被蒸着基板と蒸着マスクとの間に線膨張係数の差に基づきパターンずれが生じないように、蒸着マスクの線膨張率が調整される蒸着マスクの製造方法を提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、上記蒸着マスクを用いて製造する有機EL表示装置の製造方法、さらに詳しくはその製造の際に、蒸着材料が不要な場所に被着しないように蒸着する方法を提供することにある。
本発明の蒸着マスクは、表面に凹凸を有する被蒸着基板の表面の所定の場所に積層膜を蒸着により形成するための蒸着マスクであって、樹脂フィルムにより形成され、一面は平坦面で、他面が前記被蒸着基板の凹凸形状と反転した形状に対応する凹凸形状を有し、前記所定の場所に対応する部分に開口部を有している。
前記開口部が、前記一面から前記他面側に開口が小さくなるテーパ形状に形成され、前記テーパ形状のテーパ角度が、蒸着材料源から飛来する蒸着材料の蒸着角度と等しいか、それより小さくなるように形成されることにより、飛来する蒸着材料が蒸着マスクにより阻止されなくなるので好ましい。
ここにテーパ角度とは、テーパ形状の稜線とテーパ形状の底辺とのなす角度、例えば図5Aに示されるように、開口部13の底辺(テーパ形状の中心軸と垂直な平面)と壁面とのなす角度α、すなわち、開口部13が形成された結果、残される凸部12aの底辺と壁面とのなす角度α、又はダミーバンク33のテーパ形状部の底辺と斜面とのなす角度βを意味し、蒸着角度とは、図5B〜5Dのθで示されるように、蒸着源の容器の開口部の形状によって定まる角度であり、蒸着源から放射される蒸着材料(蒸着粒子)の放射角度(蒸着材料が放射される広がり角の最大角)の1/2の余角、すなわち蒸着材料の最大広がり角のときの蒸着粒子の軌跡と水平面とのなす鋭角を意味する。
本発明の蒸着マスクの製造方法は、表面に凹凸を有する被蒸着基板の表面の所定の場所に積層膜を形成するため、蒸着材料を前記所定の場所に蒸着するための蒸着マスクの製造方法であって、前記被蒸着基板の表面の形状に対応する凹凸を有するダミー基板を作製し、前記ダミー基板の凹凸面に表面がほぼ平坦になるまで液状の樹脂材料を塗布することで樹脂塗布膜を形成し、前記樹脂塗布膜の温度を前記樹脂材料が硬化する温度まで上昇させて前記樹脂塗布膜を焼成することで樹脂焼成膜を形成し、前記ダミー基板に付着している前記樹脂焼成膜にレーザ光を照射して加工することにより、前記樹脂焼成膜に所望の開口部のパターンを形成することで所望の開口部のパターンを有する樹脂フィルムを形成し、前記樹脂フィルムを前記ダミー基板から剥離することにより蒸着マスクとすることを特徴とする。
前記レーザ光を照射することにより前記開口部のパターンを形成する際に、前記開口部のパターンを形成するためのレーザマスクの開口の周縁に、前記開口の端縁に行くほどレーザ光の透過率が低下するレーザ光透過率の漸減領域を形成することにより、前記開口部のパターンの各開口部を前記樹脂フィルムの厚さ方向でテーパ形状に形成することができる。
前記樹脂塗付膜の焼成を、前記樹脂材料の塗布厚、前記焼成時の焼成温度、前記焼成の時間、及び焼成温度と焼成時間のプロファイルの少なくとも1つを調整しながら行うことにより、焼成により形成される前記焼成膜の線膨張率と、前記被蒸着基板の線膨張率との差を3ppm/℃以下にすることができる。
本発明の有機EL表示装置の製造方法は、有機層を積層する被蒸着基板の表面と対応する凹凸を有するダミー基板を作製し、前記ダミー基板の凹凸面に表面がほぼ平坦になるまで液状樹脂を塗布して焼成した樹脂焼成膜にレーザ光を照射することにより開口部のパターンを形成することにより樹脂フィルムとし、前記ダミー基板から前記樹脂フィルムを剥離することで、蒸着マスクを形成し、装置基板上にTFT及び第1電極が形成され、各画素を区分するバンクが形成された被蒸着基板上に前記蒸着マスクを位置合せして重ね合せ、有機材料を蒸着することにより前記被蒸着基板上に有機層を積層し、前記蒸着マスクを除去して第2電極を形成することを特徴とする。
前記バンクを断面形状で先細りになるテーパ形状に形成し、前記バンクのテーパの角度が、前記有機材料の蒸着源から飛来する蒸着材料の蒸着角度以下になるように前記バンクを形成することにより、蒸着源からの蒸着材料の飛来を妨げることなく、所望の場所に蒸着させやすくなる。なお、テーパ角度及び蒸着角度は、前述の意味と同じである。
本発明の蒸着マスクは、表面は平坦であるが、裏面が被蒸着基板の凹凸形状と反転した形状に対応する凹凸形状を有しているので、表面に凹凸を有する被蒸着基板に蒸着マスクを重ね合せる場合でも、凹凸が嵌合し、蒸着マスクが被蒸着基板に対して正確に位置合せされる。さらに、被蒸着基板の表面の凹凸に嵌め合さっているので、段差部分も完全に被覆される。その結果、例えば有機EL表示装置の蒸着マスクとして使用する場合でも、バンクの側壁も蒸着マスクにより覆われているので、蒸着マスクの除去後には、バンクの側壁に有機材料が被着していない。すなわち、表面に凹凸のある被蒸着基板に蒸着材料が蒸着される場合でも、被着を所望しない場所には一切蒸着材料が被着しない。
また、蒸着マスクに形成される開口が蒸着マスクの厚さ方向にテーパ状に細くなる(奥細になる)ように形成され、テーパ形状の先端の小さい開口が所望の蒸着材料が蒸着される所定領域になるように形成され、さらにそのテーパ角度が蒸着源の蒸着角度以下に形成されることにより、蒸着源から飛来する蒸着材料が蒸着マスクによって遮られることなく、所望の蒸着場所に所望の厚さで均一に蒸着されるので好ましい。
本発明の蒸着マスクの製造方法によれば、被蒸着基板の表面の凹凸と同様の凹凸を有するダミー基板に液状の樹脂材料を塗布して蒸着マスクが形成されるので、被蒸着基板の凹凸と嵌め合されるマスクが容易に形成される。さらに、所定の場所以外の部分は蒸着マスクにより被覆されるので、所望しない場所に蒸着材料が被着することはない。ダミー基板としては、本来の蒸着材料を蒸着する被蒸着基板の1枚をダミー基板としてもよいし、金属板などにより表面形状を模倣した基板が形成されてもよい。蒸着マスクの樹脂材料を焼成して固化するのに、500℃程度に温度を上げる必要があるので、この程度の温度に耐える耐熱性であることが必要であるが、耐熱性があれば、他の材料でも使用できる。また、実際に使用する被蒸着基板ではなく、例えば平坦化膜で隠れる素子などの形成はしないで、その平坦化膜上に形成される、例えばバンクなどだけを形成したものでもよい。
本発明の有機EL表示装置の製造方法によれば、バンクの側壁に有機材料が被着しないので、他の画素との混色がなく、また、各画素でも均一な有機層から発光する均一な光でディスプレイを構成することができるので、非常に表示品位の優れた有機EL表示装置が得られる。
本発明の一実施形態の蒸着マスクの製造方法を示すフローチャートである。 図1のS3の工程の平面の説明図である。 図1のS4の工程の平面の説明図である。 図1のS5の工程の平面の説明図である。 図1のS6の工程の平面の説明図である。 図1のS3の工程の断面の説明図である。 図1のS4の工程の断面の説明図である。 図1のS5の工程の断面の説明図である。 図1のS6の工程の断面の説明図である。 本発明の有機EL表示装置の製造方法の一実施形態の製造工程を示す断面の説明図である。 本発明の有機EL表示装置の製造方法の一実施形態の製造工程を示す断面の説明図である。 本発明の有機EL表示装置の製造方法の一実施形態の製造工程を示す断面の説明図である。 本発明の有機EL表示装置の製造方法の一実施形態の製造工程を示す断面の説明図である。 本発明の蒸着マスクの開口部のテーパ角度を説明する図である。 本発明の蒸着マスクを用いて蒸着材料を蒸着する際の説明図である。 蒸着マスクの開口部のテーパ角度が蒸着源の蒸着角度より大きい場合の問題を説明する図である。 TFT基板のバンクのテーパ角度が蒸着マスクの開口部のテーパ角度より大きい場合の問題を説明する図である。 図2Aの樹脂塗布膜を形成する一例を説明する図である。 レーザ光の照射により蒸着マスクの開口部を形成する際の説明図である。 レーザ光の照射により蒸着マスクの開口部を形成する際の説明図である。 レーザ光の照射により蒸着マスクの開口部を形成する際の説明図である。
つぎに、図面を参照しながら本発明の蒸着マスク及びその製造方法が、有機EL表示装置の製造方法を例にして説明される。図1に、本発明の一実施形態による蒸着マスクの製造方法を示すフローチャートが、図2A〜3Dにその図1のS3〜S6の各工程での平面及び断面での説明図が、それぞれ示されている。
本実施形態による蒸着マスクは、表面に凹凸を有する被蒸着基板の表面の所定の場所に積層膜を蒸着により形成するための蒸着マスク10であって、図3Dに部分的断面の説明図が示されるように、樹脂フィルム11により形成され、一面10aは平坦面で、他面10bが被蒸着基板20(図4A参照)の凹凸形状と反転した形状に対応する凹凸形状部12を有し、所定の場所に対応する部分に開口部13を有している。図3Dに示される例では、樹脂フィルム11の開口部13が形成された結果、残される凸部12aがテーパ形状になるように、開口部13が先細りのテーパ形状で形成されている。このテーパ形状にする理由及びそのテーパ角度についての詳細は、後述される。
この樹脂フィルム11は、後述されるように、液状の樹脂材料を塗布して焼成することにより形成される。そのため、表面に凹凸のある被蒸着基板20(図4A参照)であっても、その凹凸に対応する反転した凹凸形状部12を有する蒸着マスク10が容易に形成される。材料としては、後述されるが、耐熱性を有する樹脂が用いられ得る。焼成条件により線膨張率を調整し得るポリイミド膜からなることが好ましい。しかし、これに限定されるものではない。このポリイミドの焼成前の状態は液状で粘度はある程度小さいため、被蒸着基板20の表面の凹凸形状は、限定されず、種々の凹凸に対応することができる。例えば後述される例では、TFTなどが形成された表面に平坦化膜が形成され、その表面に各サブ画素を区分するバンク23(図4A参照)が形成された凹凸の例で説明されるが、TFTなどが形成された凹凸表面に直接有機材料が蒸着される場合でも、その凹凸に合せた蒸着マスク10が形成され得る。
この蒸着マスク10を製造するには、図1にそのフローチャートが示され、図2A〜3Dに図1のS3〜S6の各工程の平面及びその一部断面の説明図が、それぞれ示されるように、被蒸着基板20(図4A参照)の表面の形状に対応する凹凸を有するダミー基板30(図3A参照)が作製される(S1)。そして、ダミー基板30の凹凸面に液状の樹脂材料11a(図6参照)を塗布することで樹脂塗布膜11b(図6参照)が形成される(S2)。その後、樹脂塗布膜11bの温度を樹脂材料が硬化する温度まで上昇させて樹脂塗布膜11bを焼成することで、図2A及び3Aに示されるように、樹脂焼成膜11cが形成される(S3)。この際、樹脂焼成膜11cとダミー基板30との間に短波長光吸収層11dが形成される。次に、ダミー基板30に付着している樹脂焼成膜11cに、図7Aに示されるように、レーザ用マスク41を介して、レーザ光を照射して加工することにより、図2B及び3Bに示されるように、樹脂焼成膜11cに所望の開口部13のパターンを形成することで所望の開口部13のパターンを有する樹脂フィルム11が形成される(S4)。その後、図2C及び図3Cに示されるように、樹脂フィルム11の周縁に枠体14が取り付けられる(S5)。その後、樹脂フィルム11をダミー基板30から剥離することにより蒸着マスク10とされる(S6)。
すなわち、本発明では、樹脂フィルムからなる蒸着マスク10が、ダミー基板30上に樹脂材料11aを塗布して焼成されることにより形成されている。そのため、被蒸着基板20(図4A参照)の表面が平坦である必要がなく、凹凸を有する被蒸着基板20でも、その凹凸に沿った蒸着マスク10が形成されることに特徴がある。その結果、凹凸を有する被蒸着基板上に蒸着マスクを重ね合せる場合でも、その凹凸の全体をカバーして、所望の場所のみを露出することができるので、非常に高性能なデバイスを得ることができる。例えば有機EL表示装置が製造される場合、平坦化膜上に形成される各サブ画素を区分するバンク23上に蒸着マスク10(図4A参照)が載置されるが、平板状の蒸着マスクでは、バンク23の上面と、蒸着材料が蒸着されるバンク23の底部側のサブ画素領域との間に段差が生じ、バンク23の側壁に蒸着材料が被着する。しかし、本発明では、この側壁部も蒸着マスク10で被覆されるので、所定の場所以外に蒸着材料が被着するという問題がなくなる。
次に、この蒸着マスク10の製造方法が、具体例によりさらに詳細に説明される。まず、蒸着材料を蒸着する被蒸着基板20(図4A参照)の表面の凹凸に対応する凹凸を表面に有するダミー基板30(図3A参照)が作製される(図1のS1)。ダミー基板30は、樹脂材料11a(図6参照)を塗布して焼成するための基板にすると共に、製造される樹脂フィルム11の裏面が被蒸着基板20の表面の凹凸と噛み合うように、被蒸着基板20と同様の凹凸が形成されている。すなわち、ダミーTFT基板31の表面に、被蒸着基板20(図4A参照)の第1電極22及びバンク23の表面の凹凸に対応するダミー電極32及びダミーバンク33が形成され、かつ、樹脂材料11aの焼成温度に耐え得る材料で形成される。例えば有機EL表示装置の蒸着マスクを形成する場合には、被蒸着基板20が何枚も一括して製造されるので、そのうちの1枚をダミー基板30として使用することができる。
但し、被蒸着基板20のバンク23がアクリル樹脂などで形成される場合には、樹脂塗付膜11bの焼成時の温度に耐えられないことがあるので、SiOx又はSiNyなどの無機物で形成されることが好ましい。また、蒸着マスク10は、実際の被蒸着基板20よりも一回り大きいことが好ましいので、実際の被蒸着基板20の周囲に張り出し部が形成されるか、枠体が樹脂フィルム11の周囲の外側に形成されることが好ましい。さらに、表面形状が同じであればよく、平坦化膜(図示されていないが、TFT基板21の表面側の層)の下側に形成されるTFTなどは無くてもよい。これらのTFT基板21は、同様の形状に形成されているので、任意の1枚をダミー基板30として使用して蒸着マスク10が製造され、他のTFT基板に蒸着マスク10として使用される場合でも、被蒸着基板20の凹凸に完全にフィットして隙間を生じさせることはない。さらに、TFT基板21とは異なる金属板などの他の材料で形成されてもよい。但し、樹脂材料11aの焼成温度(500℃程度)に耐え得ると共に、実際の被蒸着基板20の線膨張率と3ppm程度以下の線膨張率差を有する材料であることが好ましい。この理由は、以下のとおりである。
すなわち、有機EL表示装置の有機層の蒸着マスクとして使用される場合には、有機層の形成される被蒸着基板上にこの蒸着マスクが固定されるため、被蒸着基板との線膨張率の差が大きくなると、被蒸着基板として意図される画素の蒸着領域と蒸着マスクの開口の位置にずれが生じるからである。例えば表示パネルの一辺の大きさが100cmで、開口(蒸着される有機層の色ごとのサブ画素)の一辺の大きさを60μm角とし、位置ずれ許容値を9μm(60μmに対して15%)とすると、前記線膨張率差が3ppmのとき、3℃の上昇(蒸着の際の温度上昇)で9μmの位置ずれ(許容値上限)が発生することになる。このサブ画素の大きさは、表示パネルの一辺の大きさが、100cmのときの例であるが、一般的に表示パネルの一辺と1サブ画素の一辺とは、解像度が同じであれば、ほぼ比例的に変るので、例えば50cmの表示パネルで同じ解像度(前述の例は5.6kの解像度)にしようとすると、サブ画素の一辺の長さは30μmになる。従って、位置ずれの許容値は4.5μm(15%)が、50cmの長さに許容される。すなわち、3℃で4.5μm/50cmの膨張が許容されるので、線膨張率は3ppm/℃となり、どの大きさの表示装置に対しても、この関係は成り立つ。
従って、蒸着マスク10とそのマスクが使用される基板(被蒸着基板20)との線膨張率の差は3ppm/℃以下であることが必要となる。一方、この樹脂材料から形成される樹脂フィルム11とダミー基板30との線膨張率の差が大きいと、レーザ加工により微細パターンが形成された樹脂フィルム11が室温でダミー基板30から剥離された後に、熱歪みの影響で樹脂フィルム11がカールしやすい。樹脂塗布膜11bが焼成される際の温度は、400℃以上であって500℃以下と相当高温になるため、焼成時の熱膨張による寸法差は大きくなるが、レーザ加工による微細パターンの形成は室温で行われるため、パターンの位置ずれの問題は生じない。しかし、レーザ加工の際に、フェムト秒程度の非常に小さいパルス幅のレーザ光が照射されれば、局所的な加熱で樹脂フィルムの膨張は殆ど問題にならないが、通常のμsec程度のパルス幅のレーザ光であると、数℃程度の温度上昇が見込まれる。そのため、この樹脂フィルム11とダミー基板30との間の線膨張率の差も3ppm/℃以下程度であることが好ましい。すなわち、蒸着マスクとして使用される際の基板の線膨張率と、このダミー基板30の線膨張率との差は、±3ppm/℃を考慮して、6ppm/℃以下、さらに好ましくは、3ppm/℃であることが好ましい。
次に、ダミー基板30上に液状の樹脂材料11a(図6参照)を塗布することで樹脂塗布膜11b(図6参照)が形成される(図1のS2)。この液状樹脂材料11aの塗布は、膜厚制御が可能な方法であればどのようなものでもよいが、例えば前述の図6に示されるように、スリットコートの方法を用いて塗布され得る。すなわち、スロットダイ5に樹脂材料11aを供給しながら、スロットダイ5の先端部から帯状に液状樹脂材料11aを吐出させながら、スロットダイ5を順次移動させることにより塗布される。液状樹脂材料11aの吐出量が完全に均一でない場合など、塗布された状態では完全には平坦にならず、表面に波を打つ場合がある。厚さ数μmから数十μm程度の塗布膜にするために、材料の粘度をある程度高くしているからである。しかし、表面に波を打っていても、ほぼ平坦な状態になり、後の焼成工程で、加熱されることにより、一旦粘度が低下して平坦化される。そのため、最終的には平坦な面になる。そして、ダミー基板30の凸面上に、3μm以上であって10μm以下程度の樹脂塗付膜11bが形成され、表面はほぼ平坦化される。なお、液状樹脂材料11aを塗布することにより、気泡を巻き込んでも、樹脂塗付膜11bの厚いところ(ダミー基板30の凹部のところ)でも20μm程度以下であるため、100nm以上の気泡は一切なく、開口部13を形成する微細パターン形成領域の全面に亘って、ダミー基板30に密着した樹脂塗布膜11bが形成される。なお、この液状樹脂材料11aの塗布は、スリットコートでなくても、例えばスピンコートなど、他の方法で塗布されてもよい。スピンコートは、大きな樹脂フィルムを形成する場合には材料の使用効率の面で不向きであるが、ダミー基板30に密着し、表面が平坦な樹脂塗布膜11bが得られる。
液状樹脂材料11aとしては、焼成し得る材料であり、かつ、レーザ加工のレーザ光を吸収する材料であればよい。しかし、前述のように、樹脂フィルム11が蒸着マスク10として使用される場合には、蒸着マスク10が載置される被蒸着基板20、及び樹脂塗布膜11bが形成されるダミー基板30との間で線膨張率の差が小さい材料であることが好ましい。一般的に有機EL表示装置の基板としてガラス板が用いられるので、その観点からポリイミドが好ましい。ポリイミドはイミド結合を含む高分子樹脂の総称であり、前駆体であるポリアミド酸(常温では液体)を加熱・焼成することでイミド化反応を促進することにより、フィルム状のポリイミドになり得る。また、焼成時の条件によって線膨張率を調整することができるので、前述の有機EL表示装置の被蒸着基板20やダミー基板30の線膨張率に合せやすい点で特に好ましい。一般的なポリイミドの線膨張率は20ppm/℃以上であって60ppm/℃以下程度であるが、焼成条件によって、ガラスの線膨張率4ppm/℃に近づけられ得る。例えば、より高温・長時間の焼成がなされることにより、線膨張率を小さくすることができる。装置基板として、ガラス板ではなく、樹脂フィルムなど、他の基板材料が用いられることもあり、その基板材料の線膨張率に合せて樹脂材料も選択され、ポリイミド以外にも、例えば、透明ポリイミド、PEN、PET、COP、COC、PCなどが用いられ得る。
次に、図2A及び図3Aに示されるように、樹脂塗布膜11bの温度を樹脂材料11aが硬化する温度、例えば450℃程度まで上昇させて樹脂塗布膜11bを焼成することで樹脂焼成膜11cが形成される(図1のS3)。この焼成の際に、樹脂焼成膜11cとダミー基板30との界面に図3Aに示されるように、短波長光吸収層11dが形成される。短波長光吸収層11dは、樹脂塗布膜11bの焼成の際に、ダミー基板30(例えばITOやシリコン窒化膜など)という樹脂材料とは異なる材料と接しているため、樹脂材料11aの接触面が変質することにより形成される。その結果、紫外線などの短波長の光を樹脂材料11aよりも吸収しやすくなる。短波長光吸収層11dの厚さとしては、5nm以上であって100nm以下程度である。この短波長光を特に吸収しやすい層にするには、この焼成前に、シランカップリング剤などの密着性改善・表面改質剤をダミー基板30上に極薄層で塗布してから、樹脂塗布膜11bを形成することが好ましい。この焼成により、ダミー基板30に短波長光吸収層11dを介して密着した樹脂焼成膜11cが得られる。なお、本発明では樹脂塗付膜11bとダミー基板30との間は密着しており、樹脂塗付膜11bとダミー基板30との間に浮きが形成されることはあり得ないが、もし、気泡が形成されていると、その浮いた部分には短波長光吸収層11dは形成されず、樹脂焼成膜11cとダミー基板30との間に間隙部ができる。そのため、剥離が容易であることは同様である。
この焼成は、例えばダミー基板30の加熱ではなく、オーブン内で全体の加熱により行われる。しかし、ダミー基板30の裏面側から加熱されてもよい。この加熱の際の温度プロファイルは、目的に応じて変更され得る。
すなわち、第1に、樹脂焼成膜11cの裏面に気泡などが形成されると、次の開口部13が形成される際に、バリなどが生じやすい。そのため、この樹脂塗布膜11bが焼成される際に、気泡を巻き込むことは確実に阻止されることが望まれる。前述のように、樹脂塗布膜11bは、液状の樹脂材料11aが塗布されることにより形成されているので、気泡が巻き込まれることは余りない。しかし、ダミー基板30の表面に凹凸があり、液状の樹脂材料11aがダミー基板30上に塗布される際に気泡が巻き込まれることはあり得る。そのため、焼成の初期には100℃以下の温度で、10分以上であって60分以下程度は維持されることが好ましい。低温における長時間の加熱は、樹脂塗布膜11b中に巻き込まれた気泡が樹脂塗布膜11bの表面から放出されるという点で好ましい。100℃以下であれば、硬化は起こらず、むしろ流動性が増し、巻き込まれている気泡も膨張するため、10μm以上であって20μm以下程度の樹脂塗布膜11bの表面から気泡が抜けやすい。また、焼成のため、温度が上昇する際に、全面で均一に温度上昇するとは限らない。その点から、温度の上昇初期に充分な時間が確保されることにより、樹脂塗布膜11bの温度が均一になりやすいという効果もある。
第2に、樹脂材料11aとして、ポリイミドが用いられる場合、前述のように、その焼成条件によって、線膨張率が変化する。そのため、この焼成条件により前述のように、樹脂フィルム11は、被蒸着基板20や、ダミー基板30の線膨張率と近づく条件で焼成され得る。例えば、ポリイミドの場合450℃程度で焼成されるが、さらに500℃近くまで温度を上昇させて、10分以上であって60分以下ぐらい放置すると、線膨張率を小さくすることができる。また、450℃程度で焼成した後に、さらに30分以上その温度を維持することによっても、樹脂フィルム11の線膨張率を小さくすることができる。逆に、温度上昇を大きなステップ(温度を大幅に上げて、その温度を長い時間維持するステップ)のプロファイルで焼成することにより、樹脂フィルム11の線膨張率を大きくすることができる。これらの観点から、樹脂塗布膜11bの焼成は、5分以上であって120分以下ごとに10℃以上であって200℃以下の温度で段階的に上昇させながら、焼成温度まで上昇させることが好ましい。この範囲は、目的とする樹脂フィルムの特性、樹脂材料などによりさらに特定され得る。
次に、図2B及び図3Bに示されるように、ダミー基板30に付着している状態の樹脂焼成膜11cにレーザ光を照射して加工することにより、樹脂焼成膜11cに所望の開口部13を有する樹脂フィルム11が形成される(S4)。
このレーザ光の照射は、例えば図7Aに示されるように、その表面側から所望の開口部41aのパターンを有するレーザ用マスク41と光学レンズ42を介してレーザ光が照射されることにより、レーザ用マスク41の開口部41aのパターンが縮小して転写される。このレーザ光照射装置がステッパにより移動して、大きな焼成膜11cに開口部13のパターンが順次形成されることにより樹脂フィルム11(開口部13が全て形成されて樹脂フィルム11となるため、図示されていない)が形成される。光学レンズ42は必ずしも必要ではないが、加工面の照射エネルギー密度を稼ぐ際に有効である。この場合、光学レンズ42は、レーザ用マスク41よりもレーザ光の進行方向の下流側(樹脂焼成膜11c側)に配置され、レーザ光を集光させる。例えば、10倍の光学レンズ42が使用された場合は、エネルギー密度は100倍になるが、レーザ用マスク41の転写パターンは10分の1のスケールとなる。このレーザ光の照射により、レーザ用マスク41の開口部41aを透過したレーザ光が樹脂焼成膜11cの一部を焼失させる。その結果、レーザ光が照射されたレーザ用マスク41の開口部41aのパターンに合せて、そのパターンと同じ、あるいは縮小された開口部13の微細パターンが樹脂焼成膜11cに形成される。これにより、微細パターンを有する樹脂フィルム11がダミー基板30上に形成される。
レーザ光照射の条件は、加工される樹脂焼成膜11cの材料、厚さ、加工される開口部13の大きさや形状などにより異なるが、一般的には、レーザ光のパルス周波数が、1Hz以上であって60Hz以下であり、パルス幅が1ナノ秒(nsec)以上であって15ナノ秒以下であり、1パルス当たりの照射面におけるレーザ光のエネルギー密度が0.01J/cm2以上であって1J/cm2以下の条件で行われる。
有機EL表示装置の有機層を蒸着する際の蒸着マスク10とするため、例えば60μm角の開口が60μm程度の間隔でマトリクス状に形成される場合、波長が355nm(YAGレーザの3倍波)のレーザ光が、60Hzのパルス周波数、パルス幅が7nsec、照射面でのレーザ光のエネルギー密度が1パルス当たり0.36J/cm2、ショット数(照射するパルスの数)が100の条件で、ポリイミドからなる5μm厚の樹脂焼成膜11cに照射される。
しかし、照射されるレーザ光は、YAGレーザには限定されない。樹脂材料が吸収し得る波長のレーザであればよい。従って、エキシマレーザ、He−Cdレーザなど、他のレーザ光が用いられてもよい。勿論、レーザ光源が変ったり、樹脂材料が変ったりすると、照射条件が変ることは言うまでもない。前述の例で、開口部のパターンを形成するのに、100ショットの照射が行われたが、5μm厚のポリイミド膜に50ショットぐらいで貫通孔が開く。
この開口部13が、図5Aに示されるように(図5Aでは、ダミーバンク33の両側に開口部13が半分ずつしか記載されていない)、蒸着マスク10(図3D参照)の一面10aから他面10b側に開口が小さくなる、すなわち先細りのテーパ形状に形成されることが好ましい。さらに具体的には、開口部13のテーパ角度α、すなわち開口部13が形成された結果、残される凸部12aのテーパ角度α(テーパ形状の底面と斜面とのなす角度)が、蒸着源60(図5B参照)から放射される蒸着材料の蒸着ビームの蒸着角度θ(蒸着材料の放射角度の1/2の余角)と同じか、それより小さいことが好ましい。この蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度αが、蒸着源60の蒸着角度θと等しいか、小さい角度α1であれば、蒸着の際に、図5Bに示されるように、蒸着源60から放射される蒸着ビームの側縁の蒸着粒子でも、蒸着マスク10に遮断されることなく、開口部13の底面に露出する第1電極22の端部に被着する。一方、図5Cに示されるように、この開口部13のテーパ角度αが、蒸着角度θより大きい角度α2であると、放射された蒸着材料が蒸着マスク10の凸部12aにより遮断されて開口部13の底面の端に蒸着材料が堆積されなくなる。
テーパ形状の開口部13を有する蒸着マスクは、例えば前述のレーザ用マスク41(図7A参照)の開口部41aの周縁部を、周端部に行くほどレーザ光の透過率が低下するように形成することにより得られる。前述のレーザ用マスク41は、例えば次のようにして形成される。すなわち、図7Bに示されるように、石英ガラス板などのレーザ光を透過させる透明基板に、クロムなどの遮光薄膜41bが形成され、その後、その遮光薄膜41bのパターニングにより開口部41aが形成されている。そのため、この遮光薄膜41bが、例えば図7Cに概念的に示されるように、スポット的に形成されることにより形成され得る。図7Cでは、開口部41aが第1部分41a1、第2部分41a2、第3部分41a3と便宜的に区切って描かれているがそのような区分はしなくてよい。そして、この第1部分41a1は、遮光薄膜41bが全く形成されていないので、100%透過する。第2部分41a2は、遮光薄膜41bがまばらに形成され、その面積が20%程度に形成されている。その結果、この第2部分41a2は、透過率が80%になる。さらに、第3部分41a3は、遮光薄膜41bの量が面積的に50%程度になるように形成されている。その結果、この第3部分41a3の透過率は50%程度になる。この周端縁に向かっての透過率の変化が急激になるようにレーザ用マスク41が形成されることにより、開口部13のテーパ角度αは大きくなり、透過率の変化が緩やかになるように形成されることにより、開口部13のテーパ角度αは小さくなる。
この例では、説明を分かりやすくするため、第1部分41a1、第2部分41a2、第3部分41a3に分割して説明し、遮光薄膜41bが分散して形成された図になっているが、実際には、レーザ光の転写分解能が2μmであるため、例えば2μm角が縦横5等分され、全部で25個のセグメントの一部に遮光薄膜41bが形成されることにより、レーザ光の透過率を調整することができる。この透過率が連続的に周縁に行くほど小さくなるようにすることにより、テーパ状の開口部13が形成され得る。
このようにレーザ光の透過率が徐々に低下すると樹脂焼成膜11cに入射するレーザ光が弱くなり、樹脂焼成膜11cを昇華させる力が弱くなる。その結果、表面側から除去される量は周囲で弱くなり、テーパ状の開口部13が形成される。
次に、図2C及び図3Cに示されるように、開口部13が形成された樹脂焼成膜11cの周縁に枠体14が貼り付けられる(S5)。この枠体14の貼り付けは、樹脂焼成膜11cがダミー基板30から剥離されて蒸着マスク10にされた後に、樹脂フィルム11を破損させないで取り扱いを容易にするためのものである。この枠体14が樹脂フィルム11の周縁に貼り付けられる場合、後の蒸着の際に不要なガス放出が発生しない接着剤、例えばエポキシ樹脂のように、完全硬化型の接着剤が用いられることが好ましい。
従来の製造方法では、樹脂フィルム11に張力を加えながら枠体14に貼り付ける必要があったため、枠体14にはそれに耐え得る剛性が要求され、厚さが25mm以上であって50mm以下の金属板を使用していた。これを架張工程という。しかし本発明の実施形態においては、樹脂焼成膜11cとダミー基板30が接合された状態で枠体14を貼り付けるため、架張工程を省略できる。従って、枠体14は必須ではなく、無くても構わない。よって、この枠体14は、ある程度の機械的強度があればよく、例えば1mm以上であって20mm以下程度の厚さの金属板、又はプラスチック板などを用いることができる。しかし、蒸着の際の固定を考慮すると、枠体14として磁性のある金属板を用いる方がマグネットで固定できるため好ましい。前述のように、蒸着マスク10は被蒸着基板20より大きいことが好ましいので、ダミー基板30の大きさが実際の被蒸着基板の大きさと同じ場合には、その外周に枠体14が取り付けられるようにすることが好ましい。
その後、図2D及び図3Dに示されるように、樹脂フィルム11がダミー基板30から剥離されることにより、蒸着マスク10が得られる(S6)。ダミー基板30から樹脂フィルム11が剥離されることにより、樹脂フィルム11の他面(裏面)10b側に凹部12bが形成される。この樹脂フィルム11をダミー基板30から剥離するには、レーザ光の照射による短波長光吸収層11dのさらなる変質により行われる。すなわち、前述の開口部13を形成する際のレーザ光照射は、開口部13が形成される部分のみに樹脂フィルム11が吸収しやすいレーザ光の照射で行われ、その部分の短波長光吸収層11dも消失しているが、この工程では、樹脂フィルム11が殆ど吸収しないレーザ光を全面に照射する。そのため、樹脂焼成膜11cそのものは変質しない程度の弱いレーザ光が照射される。その観点から、レーザ光でなくてもよく、キセノンランプ、高圧水銀ランプ、紫外線LEDなど波長の短い光を放射する光源であればよい。
このような短波長光が全面に照射されることにより、樹脂フィルム11には何ら変化はなく、短波長光吸収層11dは、さらに変質して凹凸のあるダミー基板30と樹脂フィルム11との間の結合力を失い、樹脂フィルム11はダミー基板30から容易に分離する。そのため、従来のように平板状のフィルムでも、オイルに浸漬して分離するという面倒な方法を用いることなく、また、有機層に好ましくない水分を付着させる機会もなくなり、しかも、開口部13のパターンを損傷することなく、簡単に樹脂フィルム11がダミー基板30から分離される。その結果、蒸着マスク10が得られる。なお、必要に応じて、樹脂塗付膜10bを形成する前に離型剤をダミー基板30の表面に塗布しておくことにより、より容易に剥離することができる。
次に、このようにして製造された樹脂フィルムからなる蒸着マスク10を用いて有機EL表示装置を製造する方法が説明される。蒸着マスク10以外の製造方法は、周知の方法で行えるので、蒸着マスク10を用いた有機層の積層方法についてのみ説明される。
本発明の有機EL表示装置の製造方法は、まず、前述の方法により蒸着マスク10が形成される。すなわち、有機層を積層する被蒸着基板20(図4A参照)の表面と対応する凹凸を有するダミー基板30が作製される。そのダミー基板30の凹凸面に表面がほぼ平坦になるまで液状樹脂11aを塗布して焼成した樹脂焼成膜11cにレーザ光を照射することで開口部13のパターンが形成されることにより樹脂フィルム11とされ、ダミー基板30から樹脂フィルム11が剥離されることで、蒸着マスク10が形成される。この蒸着マスク10が形成される際に、RGBの各サブ画素で同じ有機材料が蒸着される場合の蒸着マスクなら、前述の図3Dに示されるような、各サブ画素全てに開口が形成された蒸着マスク10でよいがRGBの各サブ画素で異なる有機材料が蒸着される場合には、サブ画素Rのみを開口した蒸着マスク10R、サブ画素Gのみを開口した蒸着マスク10G、サブ画素Bのみを開口した蒸着マスク10Bがあらかじめ形成される。R及びGのサブ画素は同じ有機材料の蒸着で、Bのサブ画素のみ異なる場合には、R及びGのサブ画素を開口し、Bのサブ画素は開口しない蒸着マスク10RG(図示せず)など、種々の組合せの蒸着マスク10が予め形成される。
そして、図4Aに示されるように、基板上にTFT、平坦化膜などが形成されたTFT基板21、第1電極22、及び各画素を区分するバンク23が形成された被蒸着基板20上に前述の蒸着マスク10(10R等)を位置合せして重ね合せ、有機材料が蒸着されることにより被蒸着基板20上に有機層25(25R等)が積層される。この蒸着マスク10Rは、ダミー基板30の表面の凹凸形状が、この被蒸着基板20の表面とほぼ同じ形状に形成されているため、ピッタリと嵌合しバンク23の側壁も被覆される。図4A〜4Cでは、蒸着マスク10と被蒸着基板20との境界を明確にするため、その境界部に隙間を入れて描いているため、側壁部の蒸着マスク10が出っ張って、不自然な図になっているが、実際には隙間はなく、側壁に薄い蒸着マスク10が被覆されるだけで、有機層25もバンク23の側壁の根元まで形成される。
TFT基板21は、図示されていないが、例えばガラス板などに、各画素のRGBサブ画素ごとにTFTなどのスイッチ素子が形成され、そのスイッチ素子に接続された第1電極(例えば陽極)22及び配線が、平坦化膜上に、AgあるいはAPCなどの金属膜と、ITO膜との組み合わせにより形成されている。サブ画素間には、図4Aに示されるように、サブ画素間を遮蔽するSiO2などからなる絶縁バンク23が形成されている。このようなTFT基板21のバンク23上に、前述の蒸着マスク10が位置合せして固定される。なお、蒸着マスク10の開口13は、前述のようにテーパ形状に形成されている。
この状態で、蒸着装置内で有機材料24が蒸着され、蒸着マスク10の開口部13のみに有機材料24が蒸着され、所望のサブ画素の第1電極22上に有機層25(25R)が形成される。この蒸着は、例えばライン状(図面の表裏面(垂直)方向に延びる)の坩堝などからなる蒸着源60が図面の左右方向にスキャンされることにより、被蒸着基板20が複数個形成された大判の全面に蒸着される。前述のように、蒸着源60は、その放射口の形状により定まる蒸着角度θから中心軸側の範囲内で蒸着材料が放射される。そのため、例えば蒸着マスク10の開口部13が直角に近いと、蒸着マスク10の開口部13の底面(第1電極22の露出面)の周縁には、蒸着材料が届きにくく、均一な積層膜が得られなくなる。しかし、蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度α(図5A参照)が蒸着角度θ以下であれば、図5Bに示されるように、底面の周縁でも均一な膜厚で有機層25の積層がなされる。
有機層25のうち、発光層は、RGBの各色に応じた材料の有機層が堆積される。また、正孔輸送層、電子輸送層などは、発光性能を重視すれば、発光層に適した材料で別々に堆積されることが好ましい。しかし、材料コストの面を勘案して、RGBの2色又は3色に共通して同じ材料で積層される場合もある。2色以上のサブ画素で共通する材料が積層される場合には、共通するサブ画素に開口部13が形成された蒸着マスクが形成される。個々のサブ画素で蒸着層が異なる場合には、例えばRのサブ画素で1つの蒸着マスク10Rを用いて、各有機層を連続して蒸着することができるし、RGBで共通の有機層が堆積される場合には、その共通層の下側まで、各サブ画素の有機層の蒸着がなされ、共通の有機層のところで、RGBに開口が形成された蒸着マスク10を用いて一度に全画素の有機層の蒸着がなされる。
図4Aは、Rのサブ画素のみに有機層が積層される例が示されているが、Gのサブ画素のみに有機層が積層される場合には、図4Bに示されるように、Gのサブ画素のみに開口部13が形成され、他のR及びBのサブ画素を被覆する蒸着マスク10Gが用いられる。この場合、Rのサブ画素は、既に有機層25Rが形成されているので、蒸着マスク10Gは、その分を逃がしたマスクであることが望ましいが、有機層25は全ての有機層が蒸着されても、500nm程度であるので、無視してもそれほど問題にはならない。
その後、図4Cに示されるように、蒸着マスク10をB用の蒸着マスク10Bに取り換えて、前述の例と同様にBのサブ画素のみに蒸着材料が蒸着される。なお、この例では、RGBのそれぞれのサブ画素に有機層を蒸着するように説明したが、RGBで共通の有機材料である場合には、それらの画素をまとめて同じ材料が蒸着される。
図4A〜4Cでは、有機層25が簡単に1層で示されているが、実際には、有機層25は、異なる材料からなる複数層の積層膜で形成される。例えば陽極(第1電極)22に接する層として、正孔の注入性を向上させるイオン化エネルギーの整合性の良い材料からなる正孔注入層が設けられる場合がある。この正孔注入層上に、正孔の安定な輸送を向上させると共に、発光層への電子の閉じ込め(エネルギー障壁)が可能な正孔輸送層が、例えばアミン系材料により形成される。さらに、その上に発光波長に応じて選択される発光層が、例えば赤色、緑色に対してはAlq3に赤色又は緑色の有機物蛍光材料をドーピングして形成される。また、青色系の材料としては、DSA系の有機材料が用いられる。発光層の上には、さらに電子の注入性を向上させると共に、電子を安定に輸送する電子輸送層が、Alq3などにより形成される。これらの各層がそれぞれ数十nm程度ずつ積層されることにより有機層25が形成されている。なお、この有機層25と金属電極との間にLiFやLiqなどの電子の注入性を向上させる電子注入層が設けられることもある。
そして、全ての有機層25及びLiF層などの電子注入層の形成が終了したら、蒸着マスク10は除去され、第2電極(例えば陰極)26が全面に形成される。図4Dに示される例は、トップエミッション型で、上側から光を出す方式になっているので、第2電極26は透光性の材料、例えば、薄膜のMg−Ag共晶膜により形成される。その他にAlなどが用いられ得る。なお、TFT基板21側から光が放射されるボトムエミッション型の場合には、第1電極22にITO、In34などが用いられ、第2電極26としては、仕事関数の小さい金属、例えばMg、K、Li、Alなどが用いられ得る。この第2電極26の表面には、例えばSi34などからなる保護膜27が形成される。なお、この全体は、図示しないガラス、樹脂フィルムなどからなるシール層により封止され、有機層25や第2電極26が水分や酸素等を吸収しないように構成される。また、有機層25はできるだけ共通化し、その表面側にカラーフィルタを設ける構造にすることもできる。
前述のバンク23は、断面形状が先細りになるテーパ形状に形成され、そのテーパの角度β(図5A参照)が、前述の有機材料の蒸着源60から放射される蒸着材料の蒸着角度θと等しいか、それより小さい角度β1(図5B参照)に形成されることが好ましい。バンク23のテーパ角度βが蒸着角度θより大きいと、前述の蒸着マスク10の開口部13のテーパ形状と同様に、蒸着源60から放射される蒸着ビームの側縁で放射される蒸着粒子が、バンク23により遮断されて、第1電極22のバンク23側の端部に充分に蒸着材料が被着されないからである。また、バンク23のテーパ角度βは、蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度αより小さいことが好ましい。バンク23のテーパ角度βが蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度αより大きい角度β2であると、バンク23が蒸着マスク10の凸部12aにより被覆されなくなってしまう。その結果、図5Dに示されるように、蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度α1が蒸着源60の蒸着角度θ以下になるように形成された蒸着マスク10からバンク23が露出してしまい、バンク23の肩部や側壁に蒸着材料25mが被着してしまう。その結果、有機材料を蒸着する場合、バンク23の側壁からも光が斜め方向に放射され、隣接する画素との間でクロストークをして表示品位が低下することになる。従って、有機EL表示装置の均一な有機層25が積層されるためには、被蒸着基板20側のバンク23の形状も蒸着角度θ以下のテーパ角度、さらに好ましくは蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度α以下のテーパ角度を有する形状に形成されることが必要である。このようなテーパ角度を有するバンク23を形成するには、次のような方法で行うことができる。
すなわち、例えば、バンク23がSiO2、Si34などの無機物で形成されている場合、その形成をドライエッチング又はウェットエッチングを用いて行うときに、レジスト膜の素材との密着力の調整や膜厚の調整などのレジスト膜の形成条件、及びエッチャントの選定を適正化することによりテーパ角度の調整がなされ得る。
また、バンク23が有機物からなる場合には、その有機物が感光性樹脂からなるとき、デフォーカスなどの露光条件と、現像液や温度などの現像条件と、プリベーク温度やキュア温度などの焼成温度の条件を調整することにより、所望のテーパ角度が得られる。バンク23が非感光性樹脂の場合には、前述の無機物からなる場合と同様に行うことにより、所望のテーパ角度が得られる。
このバンク23のテーパ角度βは、図5Aからも明らかなように、蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度αと同じか、それより小さいことが望ましい。蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度αを小さくして、蒸着材料の遮断が防止されても、バンク23のテーパ角度が大きいと遮断されて意味がなくなると共に、図5Dに示されるように、バンク23の肩部及び側壁に蒸着材料25mが被着するからである。すなわち、α≧βであることが望ましい。一方、前述のように、蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度αは、蒸着源60の蒸着角度θ以下であることが望ましい。その結果、蒸着角度θ、蒸着マスク10の開口部13のテーパ角度α、及びバンク23(ダミーバンク33)のテーパ角度βとの間には、θ≧α≧βの関係があることが望ましい。
10 蒸着マスク
10a 第1面
10b 第2面
11 樹脂フィルム
11a 樹脂材料
11b 樹脂塗布膜
11c 樹脂焼成膜
11d 短波長光吸収層
12 凹凸形状部
12a 凸部
12b 凹部
13 開口部
14 枠体
20 被蒸着基板
21 TFT基板
22 第1電極
23 バンク
24 有機材料
25 有機層
26 第2電極
37 保護膜
30 ダミー基板
41 レーザ用マスク
41a 開口部
41b 遮光薄膜
42 光学レンズ
本発明の蒸着マスクは、表面に、断面形状で台形形状を含む凹凸を有する被蒸着基板の表面の所定の場所に積層膜を蒸着により形成するための蒸着マスクであって、樹脂フィルムにより形成され、一面は平坦面で、他面が前記被蒸着基板の凹凸形状と反転した形状に対応する凹凸形状を有し、前記所定の場所に対応する部分に開口部を有し、前記被蒸着基板の凹凸形状に嵌合させて使用し得る
前記開口部が、前記一面から前記他面側に開口が小さくなるテーパ形状に形成され、前記テーパ形状のテーパ角度α、蒸着材料源から飛来する蒸着材料の蒸着角度θ、及び前記被蒸着基板上に形成された凸形状のテーパ角度βとの間には、θ≧α≧βの関係があることにより、飛来する蒸着材料が蒸着マスクにより阻止されなくなるので好ましい。

Claims (14)

  1. 表面に凹凸を有する被蒸着基板の表面の所定の場所に積層膜を蒸着により形成するための蒸着マスクであって、
    樹脂フィルムにより形成され、一面は平坦面で、他面が前記被蒸着基板の凹凸形状と反転した形状に対応する凹凸形状を有し、前記所定の場所に対応する部分に開口部を有する蒸着マスク。
  2. 前記開口部が、前記一面から前記他面側に開口が小さくなるテーパ形状に形成され、前記テーパ形状のテーパ角度が、蒸着材料源から飛来する蒸着材料の蒸着角度と等しいか、それより小さくなるように形成されてなる請求項1記載の蒸着マスク。
  3. 前記樹脂フィルムの線膨張率と、前記被蒸着基板の線膨張率との差が3ppm/℃以下になるように前記樹脂フィルムがポリイミドにより形成されてなる請求項1又は2記載の蒸着マスク。
  4. 表面に凹凸を有する被蒸着基板の表面の所定の場所に積層膜を形成するため、蒸着材料を前記所定の場所に蒸着するための蒸着マスクの製造方法であって、
    前記被蒸着基板の表面の形状に対応する凹凸を有するダミー基板を作製し、
    前記ダミー基板の凹凸面に表面がほぼ平坦になるまで液状の樹脂材料を塗布することで樹脂塗布膜を形成し、
    前記樹脂塗布膜の温度を前記樹脂材料が硬化する温度まで上昇させて前記樹脂塗布膜を焼成することで樹脂焼成膜を形成し、
    前記ダミー基板に付着している前記樹脂焼成膜にレーザ光を照射して加工することにより、前記樹脂焼成膜に所望の開口部のパターンを形成することで所望の開口部のパターンを有する樹脂フィルムを形成し、
    前記樹脂フィルムを前記ダミー基板から剥離することにより蒸着マスクとする
    ことを特徴とする蒸着マスクの製造方法。
  5. 前記レーザ光を照射することにより前記開口部のパターンを形成する際に、前記開口部のパターンを形成するためのレーザマスクの開口の周縁に、前記開口の端縁に行くほどレーザ光の透過率が低下するレーザ光透過率の漸減領域を形成することにより、前記開口部のパターンの各開口部を前記樹脂フィルムの厚さ方向でテーパ形状に形成する請求項4記載の蒸着マスクの製造方法。
  6. 前記樹脂塗付膜の焼成を、前記樹脂材料の塗布厚、前記焼成時の焼成温度、前記焼成の時間、及び焼成温度と焼成時間のプロファイルの少なくとも1つを調整しながら行うことにより、焼成により形成される前記樹脂焼成膜の線膨張率と、前記被蒸着基板の線膨張率との差を3ppm/℃以下にする請求項4又は5記載の蒸着マスクの製造方法。
  7. 前記樹脂塗付膜の焼成を、前記樹脂材料の塗布厚、前記焼成時の焼成温度、前記焼成の時間、及び焼成温度と焼成時間のプロファイルの少なくとも1つを調整しながら行うことにより、焼成により形成される前記樹脂焼成膜の線膨張率と、前記ダミー基板の線膨張率との差が3ppm/℃以下になるように前記ダミー基板の材料を選定する請求項4〜6のいずれか1項に記載の蒸着マスクの製造方法。
  8. 前記樹脂材料の焼成を、5分以上であって120分以下ごとに10℃以上であって200℃以下の温度で段階的に上昇させながら、焼成温度まで上昇させることにより行う請求項4〜7のいずれか1項に記載の蒸着マスクの製造方法。
  9. 前記レーザ光の照射による加工が、被蒸着基板上の画素ごとに有機材料を蒸着する蒸着マスクを形成するための加工である請求項4〜8のいずれか1項に記載の蒸着マスクの製造方法。
  10. 前記レーザ光が、パルスレーザである請求項4〜9のいずれか1項に記載の樹脂フィルムの製造方法。
  11. 前記樹脂フィルムを前記ダミー基板から剥離する前に前記樹脂フィルムの周縁に枠体を形成する請求項4〜10のいずれか1項に記載の樹脂フィルムの製造方法。
  12. 前記樹脂フィルムを前記ダミー基板から剥離する際に、前記樹脂フィルムと前記ダミー基板との界面に焦点を合せた短波長光を照射することにより、前記樹脂フィルムと前記ダミー基板との密着力を弱くして剥離する請求項4〜11のいずれか1項に記載の樹脂フィルムの製造方法。
  13. 被蒸着基板上に有機層を積層して有機EL表示装置を製造する方法であって、
    有機層を積層する被蒸着基板の表面と対応する凹凸を有するダミー基板を作製し、
    前記ダミー基板の凹凸面に表面がほぼ平坦になるまで液状樹脂を塗布して焼成した樹脂焼成膜にレーザ光を照射することで開口部のパターンを形成することにより樹脂フィルムとし、前記ダミー基板から前記樹脂フィルムを剥離することで、蒸着マスクを形成し、
    装置基板上にTFT及び第1電極が形成され、各画素を区分するバンクが形成された被蒸着基板上に前記蒸着マスクを位置合せして重ね合せ、有機材料を蒸着することにより前記被蒸着基板上に有機層を積層し、
    前記蒸着マスクを除去して第2電極を形成する
    ことを特徴とする有機EL表示装置の製造方法。
  14. 前記バンクを断面形状で先細りになるテーパ形状に形成し、前記バンクのテーパの角度が、前記有機材料の蒸着源から飛来する蒸着材料の蒸着角度以下になるように前記バンクを形成する請求項13記載の有機EL表示装置の製造方法。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102413500B1 (ko) * 2017-05-17 2022-06-24 애플 인크. 측방향 누설이 감소된 유기 발광 다이오드 디스플레이
US20220181594A1 (en) * 2019-03-27 2022-06-09 Sakai Display Products Corporation Method for manufacturing resin film having fine pattern, method for manufacturing organic el display device, base material film for use in formation of fine pattern, and resin film having support member attached thereto
KR20220019881A (ko) 2020-08-10 2022-02-18 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치의 제조장치, 마스크 조립체의 제조방법, 및 표시 장치의 제조방법

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001279424A (ja) * 2000-03-30 2001-10-10 Tdk Corp マスキング装置及び薄膜形成方法
JP2004107723A (ja) * 2002-09-18 2004-04-08 Hitachi Chem Co Ltd 薄膜の形成方法
JP2004335460A (ja) * 2003-05-06 2004-11-25 Lg Electron Inc 有機電界発光素子製作用シャドーマスク
JP2005519187A (ja) * 2002-02-14 2005-06-30 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 回路製作用アパーチャマスク
WO2013039196A1 (ja) * 2011-09-16 2013-03-21 株式会社ブイ・テクノロジー 蒸着マスク、蒸着マスクの製造方法及び薄膜パターン形成方法
JP2014067500A (ja) * 2012-09-24 2014-04-17 Dainippon Printing Co Ltd 蒸着マスク用材料の製造方法、蒸着マスクの製造方法
WO2014115477A1 (ja) * 2013-01-28 2014-07-31 株式会社ブイ・テクノロジー 成膜マスクの製造方法及びレーザ加工装置
WO2014167989A1 (ja) * 2013-04-12 2014-10-16 大日本印刷株式会社 蒸着マスク、蒸着マスク準備体、蒸着マスクの製造方法、及び有機半導体素子の製造方法
WO2015034097A1 (ja) * 2013-09-09 2015-03-12 株式会社ブイ・テクノロジー 成膜マスク、成膜装置、成膜方法及びタッチパネル基板

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7007833B2 (en) * 1997-05-27 2006-03-07 Mackay John Forming solder balls on substrates
CN103797149B (zh) * 2011-09-16 2017-05-24 株式会社V技术 蒸镀掩膜、蒸镀掩膜的制造方法及薄膜图案形成方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001279424A (ja) * 2000-03-30 2001-10-10 Tdk Corp マスキング装置及び薄膜形成方法
JP2005519187A (ja) * 2002-02-14 2005-06-30 スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー 回路製作用アパーチャマスク
JP2004107723A (ja) * 2002-09-18 2004-04-08 Hitachi Chem Co Ltd 薄膜の形成方法
JP2004335460A (ja) * 2003-05-06 2004-11-25 Lg Electron Inc 有機電界発光素子製作用シャドーマスク
WO2013039196A1 (ja) * 2011-09-16 2013-03-21 株式会社ブイ・テクノロジー 蒸着マスク、蒸着マスクの製造方法及び薄膜パターン形成方法
JP2014067500A (ja) * 2012-09-24 2014-04-17 Dainippon Printing Co Ltd 蒸着マスク用材料の製造方法、蒸着マスクの製造方法
WO2014115477A1 (ja) * 2013-01-28 2014-07-31 株式会社ブイ・テクノロジー 成膜マスクの製造方法及びレーザ加工装置
WO2014167989A1 (ja) * 2013-04-12 2014-10-16 大日本印刷株式会社 蒸着マスク、蒸着マスク準備体、蒸着マスクの製造方法、及び有機半導体素子の製造方法
WO2015034097A1 (ja) * 2013-09-09 2015-03-12 株式会社ブイ・テクノロジー 成膜マスク、成膜装置、成膜方法及びタッチパネル基板

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