JPWO2017051468A1 - 定性分析のための質量分析データ処理装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(2)試料中の目的物質の濃度が低い場合に、各種ノイズが相対的に大きくなり、マススペクトル上でそうしたノイズを目的物質由来の信号であると誤検出することによって、類似度が誤って実際よりも過大に見積もられる。
(3)目的物質と化学構造が類似している類似物質が試料中に混在している場合に、マススペクトル上でその類似物質由来の信号を目的物質由来の信号であると誤検出することによって、類似度が誤って実際よりも過大に見積もられる。
(4)試料が適切に質量分析装置に導入されないために、該試料中に存在している目的物質に対する信号強度がマススペクトル上でゼロに近い値となり、その結果、類似度が極端に低くなって試料中に該目的物質が存在しないと誤って判断されてしまう。
a)試料から得られたデータに基づいて該試料中の目的物質に対応するマススペクトルを作成するスペクトル作成部と、
b)前記スペクトル作成部で作成された前記目的物質に対応するマススペクトルにおいて、特定の物質に対して予め定められている二つ質量電荷比における信号強度値をそれぞれ求め、その信号強度値の比又は差を指標値として算出する指標値算出部と、
c)前記指標値算出部により算出された指標値を所定の基準値又は基準値範囲と比較することによって、前記目的物質が前記特定の物質である可能性を評価する指標値評価部と、
を備えることを特徴としている。
前記目的物質に対応するマススペクトルと前記特定の物質に対応するマススペクトルとのピークパターンの類似性を第2の指標値として算出する類似性指標値算出部をさらに備え、
前記指標値評価部は、前記指標値と前記第2の指標値とを併用して前記目的物質が該特定の物質である可能性を評価する構成とするとよい。
前記指標値評価部において目的物質が特定の物質である可能性を評価する際の条件として、使用する指標値を分析者が選択可能である条件指定部をさらに備える構成とするとよい。
質量分析を繰り返し行うことによって得られたデータに基づいて、全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲に亘る信号強度の時間的な変動を示すグラフを作成するグラフ作成部と、
前記グラフに基づいて試料が確実に質量分析に供されたことを判定する試料導入判定部と、をさらに備え、
前記指標値評価部は、前記指標値又は該指標値及び前記第2の指標値に拘わらず、前記試料導入判定部により試料が質量分析に供されていないと判定された場合にはその判定結果を評価結果とする構成とするとよい。
a)試料が所定位置にセットされる以前又は試料が導入される以前の所定の時点から質量分析を繰り返し行うことによって得られたデータに基づいて、全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲に亘る信号強度の時間的な変動を示す第1のグラフを作成する第1グラフ作成部と、
b)前記データに基づいて、特定の物質を特徴付ける質量電荷比における信号強度の時間的な変動を示す第2のグラフを作成する第2グラフ作成部と、
c)試料が確実に質量分析に供されたことを前記第1のグラフに基づいて判定するとともに、前記試料中に前記特定の物質が含まれているか否かを前記第2のグラフに基づいて判定する特定物質含有判定部と、
を備えることを特徴としている。
本発明に係る質量分析データ処理装置を用いた定性分析システムの第1実施例について、添付図面を参照して説明する。
図1は第1実施例の定量分析システムの要部の構成図である。このシステムは質量分析装置としてDART質量分析装置を用いたものである。
DARTイオン化ユニット1において、ガス導入管13を通して放電室10内にヘリウムが供給され、ヘリウムが放電室10内に充満した状態で針電極14に高電圧が印加されると、針電極14と接地電位である隔壁15との間で放電が生じる。この放電によって、基底一重項分子ヘリウムガス(11S)は、ヘリウムイオン、電子、及び励起された励起三重項分子ヘリウム(23S)の混合物に変化する。この混合物は次の反応室11に入るが、反応室11の隔壁15、16にそれぞれ印加されている電圧により生成される電場の作用により、電荷を有するヘリウムイオンと電子とは反応室11で遮断され、電気的に中性である励起三重項分子ヘリウムのみが加熱室12へと送り込まれる。
次に、本発明の第2実施例である定性分析システムについて説明する。基本的なシステム構成は第1実施例と同じであるので、構成の説明は省略し、以下の説明では構成図として図1を参照する。図6はこの第2実施例の定性分析システムにおいて、試料中の特定物質の有無を判定するデータ処理のフローチャートである。ここでは、特定物質はフタル酸エステルである。フタル酸エステルは工業用の可塑剤として一般に用いられているが、その安全性の観点からRoHS指令の下で規制物質となっている。そのため、フタル酸エステルが試料中に含まれているか否かの判定は重要であるものの、フタル酸エステルは周辺環境に広く存在しているため、マススペクトルのピークパターンの類似度を用いても適切に判定することが困難である。この特定物質の名称等は分析者により入力部6から予め指示される。
このようにして第2実施例の定性分析システムでは、マススペクトルのピークパターンの類似度を用いては有無を判定できない物質についても、適切にその有無を判定することができる。
10…放電室
11…反応室
12…加熱室
13…ガス導入管
14…針電極
15…隔壁
17…ノズル
18…グリッド電極
2…質量分析部
21…イオン導入管
21a…入口開口
22…第1中間真空室
23…第2中間真空室
24…分析室
25、27…イオンガイド
26…スキマー
28…四重極マスフィルタ
29…検出器
3…分析制御部
4…データ処理部
41…データ収集部
42…マススペクトル作成部
43…信号変動グラフ作成部
44…特定物質含有判定部
45…類似度判定部
46…強度比判定部
47…信号変動判定部
5…中央制御部
6…入力部
7…表示部
C…イオン光軸
S…試料
a)試料から得られたデータに基づいて該試料中の目的物質に対応するマススペクトルを作成するスペクトル作成部と、
b)前記スペクトル作成部で作成された前記目的物質に対応するマススペクトルにおいて、特定の物質に対して予め定められている二つ質量電荷比における信号強度値をそれぞれ求め、その信号強度値の比又は差を指標値として算出する指標値算出部と、
c)前記目的物質に対応するマススペクトルと前記特定の物質に対応するマススペクトルとのピークパターンの類似性を第2の指標値として算出する類似性指標値算出部と、
d)前記類似性指標値算出部で算出された第2の指標値が所定の範囲である場合に、前記指標値算出部により算出された指標値を所定の基準値又は基準値範囲と比較することによって、前記目的物質が前記特定の物質である可能性を評価する指標値評価部と、
を備えることを特徴としている。
また本発明において、前記指標値評価部は、前記類似性指標値算出部で算出された第2の指標値が前記所定の範囲よりも大きい場合に、該第2の指標値を用いて前記目的物質が該特定の物質である可能性を評価するとよい。
前記指標値評価部において目的物質が特定の物質である可能性を評価する際の条件として、使用する指標値を分析者が選択可能である条件指定部をさらに備える構成とするとよい。
質量分析を繰り返し行うことによって得られたデータに基づいて、全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲に亘る信号強度の時間的な変動を示すグラフを作成するグラフ作成部と、
前記グラフに基づいて試料が確実に質量分析に供されたことを判定する試料導入判定部と、をさらに備え、
前記指標値評価部は、前記指標値又は該指標値及び前記第2の指標値に拘わらず、前記試料導入判定部により試料が質量分析に供されていないと判定された場合にはその判定結果を評価結果とする構成とするとよい。
a)試料が所定位置にセットされる以前又は試料が導入される以前の所定の時点から質量分析を繰り返し行うことによって得られたデータに基づいて、全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲に亘る信号強度の時間的な変動を示す第1のグラフを作成する第1グラフ作成部と、
b)前記データに基づいて、特定の物質を特徴付ける質量電荷比における信号強度の時間的な変動を示す第2のグラフを作成する第2グラフ作成部と、
c)試料が確実に質量分析に供されたことを前記第1のグラフに基づいて判定するとともに、前記試料中に前記特定の物質が含まれているか否かを前記第2のグラフに基づいて判定する特定物質含有判定部と、
を備えることを特徴としている。
次に、本発明には包含されない関連発明の一実施例である第2実施例による定性分析システムについて説明する。基本的なシステム構成は第1実施例と同じであるので、構成の説明は省略し、以下の説明では構成図として図1を参照する。図6はこの第2実施例の定性分析システムにおいて、試料中の特定物質の有無を判定するデータ処理のフローチャートである。ここでは、特定物質はフタル酸エステルである。フタル酸エステルは工業用の可塑剤として一般に用いられているが、その安全性の観点からRoHS指令の下で規制物質となっている。そのため、フタル酸エステルが試料中に含まれているか否かの判定は重要であるものの、フタル酸エステルは周辺環境に広く存在しているため、マススペクトルのピークパターンの類似度を用いても適切に判定することが困難である。この特定物質の名称等は分析者により入力部6から予め指示される。
Claims (6)
- 試料を質量分析することにより得られたデータを利用して該試料に含まれる物質を定性する定性分析のための質量分析データ処理装置であって、
a)質量分析によって得られたデータに基づいて試料中の目的物質に対応するマススペクトルを作成するスペクトル作成部と、
b)前記スペクトル作成部で作成された前記目的物質に対応するマススペクトルにおいて、特定の物質に対して予め定められている二つ質量電荷比における信号強度値をそれぞれ求め、その信号強度値の比又は差を指標値として算出する指標値算出部と、
c)前記指標値算出部により算出された指標値を所定の基準値又は基準値範囲と比較することによって、前記目的物質が前記特定の物質である可能性を評価する指標値評価部と、
を備えることを特徴とする定性分析のための質量分析データ処理装置。 - 請求項1に記載の定性分析のための質量分析データ処理装置であって、
d)前記目的物質に対応するマススペクトルと前記特定の物質に対応するマススペクトルとのピークパターンの類似性を第2の指標値として算出する類似性指標値算出部をさらに備え、
前記指標値評価部は、前記指標値と前記第2の指標値とを併用して前記目的物質が該特定の物質である可能性を評価することを特徴とする定性分析のための質量分析データ処理装置。 - 請求項1に記載の定性分析のための質量分析データ処理装置であって、
e)前記指標値評価部において目的物質が特定の物質である可能性を評価する際の条件として、使用する指標値を分析者が選択可能である条件指定部をさらに備えることを特徴とする定性分析のための質量分析データ処理装置。 - 請求項2に記載の定性分析のための質量分析データ処理装置であって、
e)前記指標値評価部において目的物質が特定の物質である可能性を評価する際の条件として、使用する指標値を分析者が選択可能である条件指定部をさらに備えることを特徴とする定性分析のための質量分析データ処理装置。 - 請求項1〜4のいずれか1項に記載の定性分析のための質量分析データ処理装置であって、
f)質量分析を繰り返し行うことによって得られたデータに基づいて、全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲に亘る信号強度の時間的な変動を示すグラフを作成するグラフ作成部と、
g)前記グラフに基づいて試料が確実に質量分析に供されたことを判定する試料導入判定部と、
をさらに備え、前記指標値評価部は、前記指標値又は該指標値及び前記第2の指標値に拘わらず、前記試料導入判定部により試料が質量分析に供されていないと判定された場合にはその判定結果を評価結果とすることを特徴とする定性分析のための質量分析データ処理装置。 - 所定位置にセットされた試料又は所定のタイミングで導入された試料について質量分析を行うことにより得られたデータを利用して該試料に含まれる物質を定性する定性分析のための質量分析データ処理装置であって、
a)試料が所定位置にセットされる以前又は試料が導入される以前の所定の時点から質量分析を繰り返し行うことによって得られたデータに基づいて、全質量電荷比範囲又は所定の質量電荷比範囲に亘る信号強度の時間的な変動を示す第1のグラフを作成する第1グラフ作成部と、
b)前記データに基づいて、特定の物質を特徴付ける質量電荷比における信号強度の時間的な変動を示す第2のグラフを作成する第2グラフ作成部と、
c)試料が確実に質量分析に供されたことを前記第1のグラフに基づいて判定するとともに、前記試料中に前記特定の物質が含まれているか否かを前記第2のグラフに基づいて判定する特定物質含有判定部と、
を備えることを特徴とする定性分析のための質量分析データ処理装置。
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