JPWO2016203633A1 - 漏洩電流検出装置 - Google Patents

漏洩電流検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2016203633A1
JPWO2016203633A1 JP2017524252A JP2017524252A JPWO2016203633A1 JP WO2016203633 A1 JPWO2016203633 A1 JP WO2016203633A1 JP 2017524252 A JP2017524252 A JP 2017524252A JP 2017524252 A JP2017524252 A JP 2017524252A JP WO2016203633 A1 JPWO2016203633 A1 JP WO2016203633A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase
zero
value
current
leakage current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017524252A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6324629B2 (ja
Inventor
幸樹 原田
幸樹 原田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of JPWO2016203633A1 publication Critical patent/JPWO2016203633A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6324629B2 publication Critical patent/JP6324629B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • G01R19/16528Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values using digital techniques or performing arithmetic operations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)

Abstract

本発明の漏洩電流検出装置は、電路の零相電流を検出する零相電流検出手段(1)、電路の電圧を検出する電圧検出手段(5)、零相電流の微分値を算出する微分手段(12)、零相電流の値と微分値とに基づいて漏洩電流を導出する漏洩電流導出手段(13)を備えたものである。

Description

この発明は、電路の漏電を検出する漏洩電流検出装置に関し、特に単相2線式電路、及び三相3線式電路の漏電を検出する漏洩電流検出装置(以下漏電検出装置と称す)に関するものである。
漏洩電流には、対地静電容量に起因する漏洩電流と、絶縁抵抗に直接関与している対地絶縁抵抗に起因する漏洩電流(以下地絡電流Iorと称す)とが含まれている。漏電火災等を引き起こす原因は、絶縁抵抗の存在であり、この絶縁抵抗に起因する地絡電流Iorを正確に検出することができれば、回路の絶縁状態をチェックすることができ、漏電火災等の大惨事を避けることができる。
従来の漏電検出装置においては、単相2線式電路における地絡電流を零相電流波形のピーク値と、零相電流波形と電源電圧波形の位相差とから算出していた。
すなわち、特許文献1に示す通り、零相電流Ioのピーク値と電源電圧Vおよび零相電流Ioの位相差φとを検出して、
Figure 2016203633

の演算により地絡電流Iorを算出していた。
また、三相3線式電路においては、3線ケーブル長が等しく非接地電路の各静電容量Cが同じ場合には、零相電流Ioのピーク値と、非接地層(T相−R相)間の相間電圧V(R→T)と零相電流Ioの位相差φとを検出して、
Figure 2016203633
により地絡電流Iorを算出していた(同じく特許文献1参照)。
(相間電圧V(R→T)ならば、V(R→T)=V(T相)−V(R相)。RからTへの→はベクトルの向きを表す。)
特開平20−4159590号公報
しかし、従来の技術では、地絡電流の演算に零相電流のピーク値を用いるため、検出速度は零相電流のピーク周期の制限を受け、地絡電流演算の確定速度が遅く、特に漏電遮断器のように高速な地絡電流検出を必要とする装置において動作遅れとなる課題があった。
例えば、電源周波数が50Hzの電路において零相電流のピーク値4回の平均値を地絡電流の演算に用いた場合、4回の零相電流のピーク値を検出するには少なくとも40msの検出時間が必要となる。しかし、漏電遮断器の規格IEC60947−2、JIS C 8201−2−2では、5IΔNの漏洩電流が発生した際の最大動作時間は40msと規定されており、従来の方法では上記の規格を満足することができない。
この発明は上述のような課題を解決するためになされたものであり、従来よりも高速な地絡電流検出が可能な漏電検出装置を提供することを目的とする。
この発明に係わる漏電検出装置は、電路の零相電流を検出する電流検出手段と、電路の電圧を検出する電圧検出手段と、零相電流の微分値を算出する微分手段と、零相電流値と微分値に基づいて漏洩電流を導出する漏洩電流導出手段を備えるものである。
上記構成により、電圧の位相情報から電流の微分値を算出することにより、従来よりも高速に漏洩電流を導出することができる。
この発明の実施の形態1における漏電検出装置の機能ブロック図である。 この発明の実施の形態1におけるシミュレーション結果を示す図である。 この発明の実施の形態1におけるシミュレーションのための等価回路図である。 この発明の実施の形態2における漏電検出装置の機能ブロック図である。 この発明の実施の形態2におけるシミュレーション結果を示す図である。 この発明の実施の形態2におけるシミュレーションのための等価回路図である。 この発明の実施の形態3における漏電検出装置の機能ブロック図である。 この発明の実施の形態3におけるシミュレーション結果を示す図である。 この発明の実施の形態4における漏電検出装置の機能ブロック図である。 この発明の実施の形態4におけるシミュレーション結果を示す図である。
実施の形態1
以下、この発明の実施の形態1による漏電検出装置について図面に基づいて詳細に説明する。図1はこの発明の実施の形態1による漏電検出装置の機能ブロック図であり、単相2線式電路において漏電を検出する構成を示している。
図1において、零相変流器(以下ZCTと称す)1はB種接地された接地線を流れる零相電流Ioを検出する零相電流検出手段である。増幅回路2は、ZCT1で検出した零相電流Ioを増幅する。
アナログ/デジタルコンバータ(以下A/Dコンバータと称す)3は、増幅回路2で増幅された零相電流Ioをサンプリングしてデジタル値に変換する。ローパスフィルタ(以下LPFと称す)4は、A/Dコンバータ3でデジタル値に変換された零相電流Ioから高調波成分を除去し、除去後のサンプリング値を零相電流Ioの瞬時値Io(θ)として出力する。
一方、電圧検出回路5により電源電圧Vを検出し、検出された電源電圧VをA/Dコンバータ6でデジタル値に変換する。この際のサンプリングのタイミングは、A/Dコンバータ3と同じタイミングとする。デジタル値に変換した電源電圧VからLPF7で高調波成分を除去する。零クロス点検出回路8により電源電圧Vの零クロス点周期を検出し、検出した零クロス点周期から周波数判定回路9で電源電圧Vの周波数fを判定する。
また、LPF7の出力は、正負判定回路10で正負を判定し、この正負情報、零クロス点周期、および周波数fとから電源電圧Vの位相θを位相演算部11で演算する。位相演算部11の出力である位相θとLPF4の出力である零相電流の瞬時値Io(θ)とから、微分回路12にて零相電流の微分の瞬時値I´o(θ)を演算する。この微分の瞬時値I´o(θ)、零相電流の瞬時値Io(θ)、および位相演算部(11)の出力である位相θから地絡電流演算部13で地絡電流Iorを算出する。
地絡電流演算部13の出力である地絡電流Iorと漏電感度基準値設定部14で設定した漏電感度基準値Ithとを漏電判定部15で比較し、Ior≧Ithの場合漏電発生と判断する。漏電発生と判断された場合、信号出力部16より遮断器などの外部の回路に信号を出力する。
上記図1の機能ブロック図は電気回路とマイコンを組み合わせ実際に構成する。特にA/Dコンバータ、LPF、各判定回路、各演算回路などは、デジタルシグマA/Dコンバータ内臓のマイコンを使用し、ソフトウエアで処理することも可能である。
次に、上述した位相演算部11により、電源電圧Vの位相θを演算する方法について詳述する。
位相θは電源電圧Vが負から正に切り替わる零クロス点(θ=0°)を基準点とする。基準となる零クロス点は、零クロス点検出回路8が検出した電源電圧Vの零クロス点のタイミング情報と、正負判定回路10が検出した電源電圧Vの正負情報とから求める。
求めた基準点(θ=0°)からサンプリング時間ΔT毎に位相θの変化量
Δθ=2πfΔTを積算し、θ=Σ2πfΔTとして位相θを算出する。なお、上記演算に用いる電源電圧Vの周波数fは、周波数判定回路9で判定した値を用いる。
A/Dコンバータ3でデジタル値に変換された零相電流Ioの瞬時値Io(θ)は次式で記述できる。
Figure 2016203633
この式で、Iorは地絡電流のピーク値、Iocは対地静電容量に起因する漏洩電流のピーク値である。
次に、上述した微分回路12により、零相電流の微分の瞬時値I´o(θ)を導出する方法につき、詳述する。
微分回路12では、零相電流Ioの瞬時値Io(θ)と1つ前のサンプリング値
Io(θ−Δθ)との差分
Figure 2016203633
と、位相θの変化量Δθとから、以下に示す式によって零相電流の微分の瞬時値I´o(θ)を算出する。
Figure 2016203633
この数式の根拠を以下に示す。
Io(θ)と1つ前のサンプリング値Io(θ−Δθ)との差分ΔIo(θ)をテイラー展開すると次式となる。
Figure 2016203633
ここで、Δθ=2πfΔTが小さいとき、すなわちサンプリング時間ΔTが短い場合には、高次の項は無視できるため、次式に近似できる
Figure 2016203633
次に、地絡電流演算部13の機能につき詳述する。上記で求められた、零相電流Ioの瞬時値Io(θ)と零相電流Ioの微分の瞬時値I´o(θ)は地絡電流演算部13に入力され、Io(θ)にsinθを乗じ、I´o(θ)にcosθを乗じる。
Io(θ)sinθ、I´o(θ)cosθはそれぞれ、
Figure 2016203633
Figure 2016203633
であり、この和をとれば、
Figure 2016203633
となり、地絡電流Iorのピーク値が演算できる。
具体的に波形図により説明する。
図2Aは、周波数50Hzの単相2線式電路において漏電が発生した場合のシミュレーション結果を示す図である。縦左軸は電圧値で単位はボルト、縦右軸は電流値で単位はミリアンペア、横軸は位相θで単位は度、サンプリング時間ΔT=100μsである。なお、図2Bの等価回路に示すように、シミュレーションに用いた回路定数は対地静電容量をC=1μF、地絡抵抗R=5kΩ、電源電圧V=200Vとした。
次に、零相電流Ioの瞬時値Io(θ)と1つ前のサンプリング値Io(θ−Δθ)および位相情報のみから、地絡電流Iorを演算により求めてみる。例としてθ=72.0°の場合をあげると零相電流Ioの瞬時値は、
Figure 2016203633
電源周波数f=50Hz、サンプリング時間100μsの場合、Δθ=1.8°であるから、1つ前のサンプリング値Io(θ−Δθ)は、
Figure 2016203633
と表せ、これらの値を既に説明した零相電流の微分の瞬時値I´o(θ)を算出する式に代入することで、
Figure 2016203633
を得る。これを上述した地絡電流Iorのピーク値を演算する式に代入することで、Ior=40.29mA(真値は40.00mA)を得る。
この方法を用いて算出したIorの演算値を各θ毎にプロットしたものが、図2Aで示すIor演算値であり、どの位相θにおいても実際の地絡電流値Ior=40mAに近い値で漏電を検出できていることがわかる。なお、零相電流の微分値は上述したような、マイコンを使用したデジタル演算で求めてもよいが、アナログ回路による微分回路を構成し、直接求めてもよい。
このように、実施の形態1の構成では、単相2線式電路における漏電検出において、任意の位相角の、零相電流と零相電流の微分値とから地絡電流値を演算でき、この演算はサンプリング時間毎に行うことができるため、従来電源周波数が50Hzの場合、最短でも10msであった検出時間(検出時間は平均化の回数に比例し、原理的には最短で10ms)がサンプリング時間100μs毎に行うことができるため、漏電発生後、即座に精度よく漏電を判定することができる。なお、サンプリング時間ΔTを短くするか、上述したテイラー展開の高次項を演算に含めることで、より検出精度と検出時間を向上させることが可能となる。
実施の形態2
実施の形態1では、単相2線式電路の漏電検出の構成を示したが、本実施形態では、Δ結線された三相3線式電路における漏電検出につき説明する。図3は、本実施の形態を示す機能ブロック図である。なお、3線ケーブル長は等しく、非接地電路の各静電容量Cは同じであるものと仮定する。
図3において、ZCT21はB種接地された接地線を流れる零相電流Ioを検出する零相電流検出手段である。増幅回路22は、ZCT21で検出した零相電流Ioを増幅する。
A/Dコンバータ23は、増幅回路22で増幅された零相電流Ioをサンプリングしてデジタル値に変換する。LPF24は、A/Dコンバータ23でデジタル値に変換された零相電流IoからLPF24で高調波成分を除去し、除去後のサンプリング値を零相電流Ioの瞬時値Io(θ)として出力する。
一方、電圧検出回路25により非接地相(R相−T相)間の相間電圧V(T→R)を検出し、検出された相間電圧V(T→R)をA/Dコンバータ26でデジタル値に変換する。この際のサンプリングのタイミングは、A/Dコンバータ23と同じタイミングとする。デジタル値に変換した相間電圧V(T→R)からLPF27で高調波成分を除去する。零クロス点検出回路28により相間電圧V(T→R)の零クロス点周期を検出し、検出した零クロス点周期から周波数判定回路29で相間電圧V(T→R)の周波数fを判定する。
また、LPF27の出力は、正負判定回路30で正負を判定し、この正負情報、零クロス点周期、および周波数fとから相間電圧V(T→R)の位相θを位相演算部31で演算する。位相演算部31の出力である位相θとLPF24の出力である零相電流の瞬時値Io(θ)とから、微分回路32にて零相電流の微分の瞬時値I´o(θ)を演算する。この微分の瞬時値I´o(θ)、零相電流の瞬時値Io(θ)、および位相演算部31の出力である位相θから地絡電流演算部33で地絡電流Iorを算出する。
地絡電流演算部33の出力である地絡電流Iorと漏電感度基準値設定部34で設定した漏電感度基準値Ithとを漏電判定部35で比較し、Ior≧Ithの場合漏電発生と判断する。漏電発生と判断された場合、信号出力部36より遮断器などの外部の回路に信号を出力する。
上記図3の機能ブロック図は電気回路とマイコンを組み合わせ実際に構成する。特にA/Dコンバータ、LPF、各判定回路、各演算回路などは、デジタルシグマA/Dコンバータ内臓のマイコンを使用し、ソフトウエアで処理することも可能である。
次に、上述した位相演算部31により、相間電圧V(T→R)の位相θを演算する方法について詳述する。
位相θは相間電圧V(T→R)が負から正に切り替わる零クロス点(θ=0°)を基準点とする。基準となる零クロス点は、零クロス点検出回路28が検出した相間電圧V(T→R)の零クロス点のタイミング情報と、正負判定回路30が検出した相間電圧V(T→R)の正負情報とから求める。
求めた基準点(θ=0°)からサンプリング時間ΔT毎に位相θの変化量
Δθ=2πfΔTを積算し、θ=Σ2πfΔTとして位相θを算出する。なお、上記演算に用いる相間電圧V(T→R)の周波数fは、周波数判定回路29で判定した値を用いる。
この位相θを用いて、デジタル値に変換された零相電流Ioの瞬時値Io(θ)は次式で記述できる。
Figure 2016203633
この式で、IorRはR相の地絡電流のピーク値、IorTはT相の地絡電流のピーク値、Iocは対地静電容量に起因する漏洩電流のピーク値である。
微分回路32により導出される零相電流Ioの微分の瞬時値I´o(θ)は、実施の形態1で説明したテイラー展開による導出の結果、
Figure 2016203633
と近似できる。
次に、地絡電流演算部33の機能につき詳述する。上記で求められた、零相電流Ioの瞬時値Io(θ)と零相電流の微分の瞬時値I´o(θ)は地絡電流演算部33に入力され、Io(θ)にcosθを乗じ、I´o(θ)にsinθを乗じる。
Io(θ)cosθ、I´o(θ)sinθはそれぞれ、
Figure 2016203633
Figure 2016203633
であり、この差をとれば、
Figure 2016203633
すなわち、
Figure 2016203633
となり、地絡電流Iorのピーク値が演算できる。
具体的に波形図により説明する。
図4Aは、周波数50Hzの三相3線式電路において漏電が発生した場合のシミュレーション結果を示す図である。縦左軸は電圧値で単位はボルト、縦右軸は電流値で単位はミリアンペア、横軸は位相θで単位は度、サンプリング時間ΔT=100μsである。なお、図4Bの等価回路に示すように、シミュレーションに用いた回路定数はR相における対地静電容量をCR=1μF、T相における対地静電容量CT=1μF、R相における地絡抵抗RR=10kΩ、T相における地絡抵抗RT=5kΩ、電源電圧V=200Vとした。
次に、実施の形態1と同様に、零相電流Ioの瞬時値Io(θ)と1つ前のサンプリング値Io(θ−Δθ)および位相情報のみから、地絡電流Iorを演算により求めてみる。例としてθ=72.0°の場合をあげると零相電流Ioの瞬時値は、
Figure 2016203633
電源周波数f=50Hz、サンプリング時間100μsの場合、Δθ=1.8°であるから、1つ前のサンプリング値Io(θ−Δθ)は、
Figure 2016203633
と表せ、これらの値を既に説明した零相電流の微分の瞬時値I´o(θ)を算出する式に代入することで、
Figure 2016203633
を得る。これを上述した地絡電流Iorのピーク値を演算する式に代入することで、Ior=61.37mA(真値は60.00mA)を得る。
この方法を用いて算出したIorの演算値を各θ毎にプロットしたものが、図4Aで示すIor演算値であり、どの位相θにおいても実際の地絡電流値Ior=60mAに近い値で漏電を検出できていることがわかる。なお、零相電流の微分値は上述したようなマイコンを使用したデジタル演算で求めてもよいが、アナログ回路による微分回路を構成し、直接求めてもよい。
このように、実施の形態2の構成では、Δ結線された三相3線式電路における漏電検出において、任意の位相角の、零相電流と零相電流の微分値とから地絡電流値を演算でき、この演算はサンプリング時間毎に行うことができるため、従来電源周波数が50Hzの場合、最短でも10msであった検出時間(検出時間は平均化の回数に比例し、原理的には最短で10ms)がサンプリング時間100μs毎に行うことができるため、漏電発生後、即座に精度よく漏電を判定することができる。なお、サンプリング時間ΔTを短くするか、上述したテイラー展開の高次項を演算に含めることで、より検出精度と検出時間を向上させることが可能となる。
実施の形態3
実施の形態1及び2では、漏電検出の検出精度と検出時間の双方を飛躍的に高めたが、製造コストの関係上、検出回路の構成を簡素化した漏電検出装置を図5に示す。図5はこの発明の実施の形態3による漏電検出装置の機能ブロック図であり、単相2線式電路において漏電を検出する構成を示している。図中、図1と同一符号は、同一または同等の機能を有する。図5の機能ブロック図は電気回路とマイコンを組み合わせ実際に構成する。特にA/Dコンバータ、LPF、各判定回路、各演算回路などは、デジタルシグマA/Dコンバータ内臓のマイコンを使用し、ソフトウエアで処理することも可能である。
図5において、LPF7の出力は、ピーク点検出回路51に入力され、電源電圧Vのピーク点を検出する。ピーク点検出回路51がピーク点を検出するタイミングで、零相電流Ioの瞬時値Io(θ)は、地絡電流Iorと等しい値となる。
つまり、ピーク点を検出するタイミングは、電源電圧Vの位相θが、θ=90°または270°であり、実施の形態1で説明した零相電流Ioの瞬時値Io(θ)の式
Figure 2016203633
に代入すると、
Figure 2016203633
Figure 2016203633
となる。
微分回路52で演算される零相電流Ioの微分の瞬時値I´o(θ)は、零クロス点検出回路8が零クロス点を検出するタイミングで地絡電流Iorと等しい値となる。
つまり、零クロス点を検出するタイミングは、電源電圧Vの位相θが、θ=0°または180°であり、実施の形態1で説明した零相電流Ioの微分の瞬時値I´o(θ)の式
Figure 2016203633
に代入すると、
Figure 2016203633
Figure 2016203633
となる。
なお、微分回路52の入力として必要なΔθは、実施の形態1では位相演算部11が算出していたが、本実施の形態では、微分回路52において、基準点(θ=0°)からのサンプリング時間ΔT毎に位相θの変化量Δθ=2πfΔTを算出する。
具体的に波形図により説明する。
図6は、周波数50Hzの単相2線式電路において漏電が発生した場合のシミュレーション結果を示す図である。縦左軸は電圧値で単位はボルト、縦右軸は電流値で単位はミリアンペア、横軸は位相θで単位は度、サンプリング時間ΔT=100μsである。なお、シミュレーションに用いた回路定数は対地静電容量をC=1μF、地絡抵抗R=5kΩ、電源電圧V=200Vとしたのは、図2Bで示した等価回路と同じである。
零相電流Ioに注目すると、電源電圧Vのピーク点、θ=90°、270°において、Ioは実際の地絡電流のピーク値40mAと一致していることがわかる。
また、零相電流の微分値I´oに着目すると、電源電圧Vの零クロス点、θ=0°、180°において、実際の地絡電流のピーク値40mAと一致していることがわかる。
このように、実施の形態3の構成では、微分回路を用いる簡単な構成で、単相2線式電路の地絡電流の検出に電源電圧のピーク点に加え、零クロス点を用いることができるため、検出時間を従来装置の半分に削減できる。なお、微分回路はマイコンを使用したソフトウエアによる構成でも、アナログ回路による構成でもよい。
実施の形態4
実施の形態3の構成を三相3線式電路に適用したのが本実施の形態である。図7はこの発明の実施の形態4による漏電検出装置の機能ブロック図である。図中、図3と同一符号は、同一または同等の機能を有する。また、図7の機能ブロック図は電気回路とマイコンを組み合わせ実際に構成する。特にA/Dコンバータ、LPF、各判定回路、各演算回路などは、デジタルシグマA/Dコンバータ内臓のマイコンを使用し、ソフトウエアで処理することも可能である。
図7において、LPF27の出力は、零クロス点検出回路28に入力され、零クロス点検出回路28が零クロス点を検出するタイミングで、零相電流Ioの瞬時値Io(θ)をcos30°で除した値は、地絡電流Iorと等しい値となる。
つまり、零クロス点検出を行うタイミングは、相間電圧V(T−R)の位相θが、θ=0°または180°であり、実施の形態2で説明した零相電流Ioの瞬時値Io(θ)の式
Figure 2016203633
に代入すると、
Figure 2016203633
Figure 2016203633
となるので、これらをcos30°で除した値は、非接地相における地絡電流の合算値Ior≡IorR+IorTと等しい。
同様に、LPF27の出力は、ピーク点検出回路70に入力され、微分回路71で演算される零相電流Ioの微分の瞬時値I´o(θ)をcos30°で除した値は、地絡電流Iorと等しい値となる。
つまり、ピーク点を検出するタイミングは、相間電圧V(T→R)の位相θが、θ=90°または270°であり、実施の形態2で説明した零相電流Ioの微分の瞬時値I´o(θ)の式
Figure 2016203633
に代入すると、
Figure 2016203633
Figure 2016203633
となるので、これらをcos30°で除した値は、非接地相における地絡電流の合算値Ior≡IorR+IorTと等しい。
なお、微分回路71の入力として必要なΔθは、実施の形態3では位相演算部31が算出していたが、本実施の形態では、微分回路71において、基準点(θ=0°)からのサンプリング時間ΔT毎に位相θの変化量Δθ=2πfΔTを算出する。
具体的に波形図により説明する。
図8は、周波数50Hzの三相3線式電路において漏電が発生した場合のシミュレーション結果を示す図である。縦左軸は電圧値で単位はボルト、縦右軸は電流値で単位はミリアンペア、横軸は位相θで単位は度、サンプリング時間ΔT=100μsである。なお、シミュレーションに用いた回路定数、R相における対地静電容量をCR=1μF、T相における対地静電容量CT=1μF、R相における地絡抵抗RR=10kΩ、T相における地絡抵抗RT=5kΩ、電源電圧V=200Vは、図4Bで示した等価回路と同じである。
零相電流Ioに注目すると、相間電圧V(T→R)の零クロス点、θ=0°、180°において、実際の非接地相における地絡電流の合算値60mAにcos30°を乗じた値、
Figure 2016203633
と一致していることがわかる。
また、零相電流の微分値I´oに着目すると、相間電圧V(T→R)のピーク点、θ=90°、270°において、実際の非接地相における地絡電流の合算値60mAにcos30°を乗じた値、
Figure 2016203633
と一致していることがわかる。
このように、実施の形態4の構成では、微分回路を用いる簡単な構成で、非接地相の地絡電流の検出に相間電圧のピーク値の他に零クロス点を用いることができるため、検出時間を従来装置の半分に削減できる。
なお、この発明は、その発明の範囲内において、各実施の形態を自由に組み合わせたり、各実施の形態を適宜、変形、省略することが可能である。
1 ZCT、2、22 増幅回路、3、6、23、26 A/Dコンバータ、4、7、24、27 LPF、5、25 電圧検出回路、 8、28 零クロス点検出回路、9、29 周波数判定回路、10、30 正負判定回路、11、31 位相演算部、12、32、52、71 微分回路、13、33 地絡電流演算部、14、34 漏電感度基準値設定部、15、35 漏電判定部、16、36 信号出力部、51、70 ピーク点検出回路
また、三相3線式電路においては、3線ケーブル長が等しく非接地電路の各静電容量Cが同じ場合には、零相電流Ioのピーク値と、非接地(T相−R相)間の相間電圧V(R→T)と零相電流Ioの位相差φとを検出して、
Figure 2016203633
により地絡電流Iorを算出していた(同じく特許文献1参照)。
(相間電圧V(R→T)ならば、V(R→T)=V(T相)−V(R相)。RからTへの→はベクトルの向きを表す。)
この発明に係わる漏洩電流検出装置は、電路の零相電流を検出する零相電流検出手段と、電路の電圧を検出する電圧検出手段と、電圧の位相情報から零相電流の微分値を算出する微分手段と、零相電流値と微分値に基づいて漏洩電流を導出する漏洩電流導出手段を備えるものである。
特許第4159590号公報

Claims (7)

  1. 電路の零相電流を検出する零相電流検出手段、前記電路の電圧を検出する電圧検出手段、前記零相電流の微分値を算出する微分手段、前記零相電流の値と前記微分値とに基づいて漏洩電流を導出する漏洩電流導出手段を備えた漏洩電流検出装置。
  2. 前記微分手段は、前記電圧の零クロス点に基づいて前記零相電流の微分値を算出し、前記漏洩電流導出手段は、前記微分値と前記零相電流の値とから前記零クロス点および前記電圧のピーク点での漏洩電流を検出することを特徴とする請求項1に記載の漏洩電流検出装置。
  3. 前記微分手段は、前記電圧をサンプリング時間毎にサンプリングしてデジタル値に変換し、前記デジタル値に変換された電圧値が負から正に切り替わる基準点から前記サンプリング時間毎の電圧の変化量を積算した位相での前記零相電流の微分値を算出することを特徴とする請求項1に記載の漏洩電流検出装置。
  4. 前記微分手段は、前記電圧の位相情報から前記零相電流の微分値を算出することを特徴とする請求項1に記載の漏洩電流検出装置。
  5. 前記漏洩電流導出手段は、単相2線式電路において、前記零クロス点での前記微分値と、前記ピーク点での前記零相電流の値とから漏洩電流を検出することを特徴とする請求項2に記載の漏洩電流検出装置。
  6. 前記漏洩電流導出手段は、三相3線式電路において、前記零クロス点での前記零相電流の値と、前記ピーク点での前記微分値とから漏洩電流を検出することを特徴とする請求項2に記載の漏洩電流検出装置。
  7. 前記漏洩電流を基準値と比較し漏電を判定する漏電判定手段を備えたことを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか1項に記載の漏洩電流検出装置。
JP2017524252A 2015-06-19 2015-06-19 漏洩電流検出装置 Active JP6324629B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2015/067690 WO2016203633A1 (ja) 2015-06-19 2015-06-19 漏洩電流検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2016203633A1 true JPWO2016203633A1 (ja) 2017-09-14
JP6324629B2 JP6324629B2 (ja) 2018-05-16

Family

ID=57545737

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017524252A Active JP6324629B2 (ja) 2015-06-19 2015-06-19 漏洩電流検出装置

Country Status (6)

Country Link
EP (1) EP3312621B1 (ja)
JP (1) JP6324629B2 (ja)
KR (1) KR101952063B1 (ja)
CN (1) CN107683418B (ja)
TW (1) TWI571638B (ja)
WO (1) WO2016203633A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102362403B1 (ko) * 2017-06-05 2022-02-14 삼성전자 주식회사 차세대 이동통신 시스템에서 프리엠블을 이용하여 시스템 정보를 요청하는 방법 및 장치
KR102336181B1 (ko) * 2017-06-07 2021-12-07 삼성전자주식회사 누설 전류 측정 회로, 이를 포함하는 집적 회로 및 시스템
JP6972845B2 (ja) * 2017-09-28 2021-11-24 セイコーエプソン株式会社 物理量測定装置、電子機器及び移動体
JP7043367B2 (ja) * 2018-08-09 2022-03-29 株式会社日立製作所 電気機械の診断装置および診断方法、並びに回転電機
KR102345359B1 (ko) * 2020-03-30 2021-12-29 김석산 접지형 지락 차단장치 및 그 방법
CN113866490B (zh) * 2020-06-30 2023-11-28 安徽威灵汽车部件有限公司 电机相电流过流检测方法、装置以及电机控制器、车辆

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04297877A (ja) * 1991-03-04 1992-10-21 Mitsubishi Electric Corp 電気機器収納装置の絶縁劣化防止及び絶縁劣化予測診断装置
JPH09257858A (ja) * 1996-03-25 1997-10-03 Kyushu Henatsuki Kk 地絡検出装置
JP2003164055A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Kansai Denki Hoan Kyokai 非接地系電路の地絡検出装置とこれを用いた地絡保護継電器及び地絡検出方法
JP2005184906A (ja) * 2003-12-17 2005-07-07 Hitachi Ltd 配電系統の地絡検出方法および装置
JP2009229211A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Sbc Co Ltd 漏れ電流測定装置及びその測定方法
JP2011217588A (ja) * 2010-03-16 2011-10-27 Kansai Denki Hoan Kyokai 非接地系電路の地絡検出装置とこれを用いた地絡保護継電器及び地絡検出方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN85205360U (zh) * 1985-12-07 1988-06-08 柏正东 相敏整流式脉冲电流型保安器
DE3642136A1 (de) * 1986-12-10 1988-06-23 Licentia Gmbh Elektronischer ausloeser fuer kurzschlussstrombegrenzende schalter
IT1305598B1 (it) * 1996-12-10 2001-05-09 Abb Research Ltd Metodo per il risconoscimento di condizioni di corto circuito edispositivo che utilizza tale metodo
JP3602296B2 (ja) * 1997-06-11 2004-12-15 中部電力株式会社 避雷器の漏れ電流測定装置
JP2003232826A (ja) * 2002-02-08 2003-08-22 Kawamura Electric Inc 漏電検出装置
CN101120259B (zh) 2005-01-31 2010-06-09 阿闭丰次 漏电流断路器及其方法
DE102007052963A1 (de) * 2007-10-30 2009-05-14 Siemens Ag Verfahren zur Kurzschlusserkennung in einem elektrischen Stromnetz
JP2009115754A (ja) * 2007-11-09 2009-05-28 Sbc Co Ltd 電気機器における漏洩電流測定装置及び測定方法
CN101309006B (zh) * 2008-06-16 2010-06-09 杨运富 煤矿井下选择性漏电保护检测方法及检测装置
JP2010066162A (ja) * 2008-09-11 2010-03-25 Midori Anzen Co Ltd 絶縁監視装置
JP2010190645A (ja) * 2009-02-17 2010-09-02 Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd 漏れ電流検出方法、漏れ電流検出装置及び系統監視装置
CN201402963Y (zh) * 2009-03-25 2010-02-10 黄华道 半波整流型漏电检测保护电路
JP5544517B2 (ja) * 2010-01-27 2014-07-09 株式会社三和技術総合研究所 電気機器おける漏洩電流測定装置及び測定方法
JP5414890B2 (ja) * 2010-04-14 2014-02-12 三菱電機株式会社 絶縁劣化診断装置
FR2963967B1 (fr) * 2010-08-20 2012-08-17 Schneider Electric Ind Sas Detection directionnelle d'un defaut a la terre avec un seul capteur
JP5618910B2 (ja) * 2011-06-01 2014-11-05 三菱電機株式会社 絶縁劣化監視システム
JP5631444B1 (ja) * 2013-05-27 2014-11-26 タナシン電機株式会社 漏洩電流算出装置及び漏洩電流算出方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04297877A (ja) * 1991-03-04 1992-10-21 Mitsubishi Electric Corp 電気機器収納装置の絶縁劣化防止及び絶縁劣化予測診断装置
JPH09257858A (ja) * 1996-03-25 1997-10-03 Kyushu Henatsuki Kk 地絡検出装置
JP2003164055A (ja) * 2001-11-27 2003-06-06 Kansai Denki Hoan Kyokai 非接地系電路の地絡検出装置とこれを用いた地絡保護継電器及び地絡検出方法
JP2005184906A (ja) * 2003-12-17 2005-07-07 Hitachi Ltd 配電系統の地絡検出方法および装置
JP2009229211A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Sbc Co Ltd 漏れ電流測定装置及びその測定方法
JP2011217588A (ja) * 2010-03-16 2011-10-27 Kansai Denki Hoan Kyokai 非接地系電路の地絡検出装置とこれを用いた地絡保護継電器及び地絡検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN107683418B (zh) 2020-11-03
TW201700980A (zh) 2017-01-01
TWI571638B (zh) 2017-02-21
WO2016203633A1 (ja) 2016-12-22
EP3312621B1 (en) 2022-04-27
JP6324629B2 (ja) 2018-05-16
KR101952063B1 (ko) 2019-02-25
EP3312621A1 (en) 2018-04-25
CN107683418A (zh) 2018-02-09
KR20170132324A (ko) 2017-12-01
EP3312621A4 (en) 2019-02-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6324629B2 (ja) 漏洩電流検出装置
JP5328197B2 (ja) コンデンサ型計器用変圧器の動誤差に対する高速インピーダンス保護技術
KR100896091B1 (ko) 대지저항성 누전전류 측정기
RU2178582C2 (ru) Устройство для сравнения двух сигналов, устройство и способ формирования нестационарных сигналов
US10338122B2 (en) Method and device for detecting a fault in an electrical network
KR100920153B1 (ko) 전선로의 누설전류 유효성분 측정 연산 장치 및 그 방법
Reis et al. Influence of instrument transformers and anti-aliasing filters on the performance of fault locators
JP6289846B2 (ja) 漏洩電流検出装置及び方法
KR20090069153A (ko) 전선로의 누설전류 유효성분 측정 연산 장치 및 그 방법
JP5492495B2 (ja) 地絡距離保護継電装置
JP6240918B1 (ja) 漏れ電流測定方法および漏れ電流測定装置
Lebedev et al. Development and research of fault location algorithm for double-end feed lines in the multifunctional system
KR101463045B1 (ko) 고장전류에 포함된 직류 성분 검출 및 제거 방법
Lee et al. Distance relaying algorithm using a DFT-based modified phasor estimation method
JP2010060329A (ja) 電路及び電気機器の漏洩電流測定装置及び方法
KR101954924B1 (ko) 무정전 절연저항 측정 시스템 및 방법
JP2020118544A (ja) 地絡方向判定装置、地絡方向判定システム、地絡方向判定方法及びプログラム
JP5078763B2 (ja) 送電線事故点標定装置および送電線事故点標定方法
Chothani et al. A new method for CT saturation detection using secondary current envelope detector
Baeckeland et al. Novel fault distance estimation method for lines connected to converter-based generation
JPH0817552A (ja) 避雷器の劣化検出装置
Lu et al. An adaptive distance relaying algorithm with a morphological fault detector embedded
JP2004242404A (ja) 漏電検出装置
JP5664166B2 (ja) 電流差動保護継電装置
Saad et al. Modeling and testing of multi-resolution morphological gradient distance relay algorithm

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170419

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170419

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170705

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180313

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180410

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6324629

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250