JPWO2016104008A1 - 放射線位相差撮影装置 - Google Patents

放射線位相差撮影装置 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2016104008A1
JPWO2016104008A1 JP2016566042A JP2016566042A JPWO2016104008A1 JP WO2016104008 A1 JPWO2016104008 A1 JP WO2016104008A1 JP 2016566042 A JP2016566042 A JP 2016566042A JP 2016566042 A JP2016566042 A JP 2016566042A JP WO2016104008 A1 JPWO2016104008 A1 JP WO2016104008A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
radiation
detection
self
image
detection surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016566042A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6402780B2 (ja
Inventor
晃一 田邊
晃一 田邊
真悟 古井
真悟 古井
弘之 岸原
弘之 岸原
木村 健士
健士 木村
太郎 白井
太郎 白井
貴弘 土岐
貴弘 土岐
哲 佐野
哲 佐野
日明 堀場
日明 堀場
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Publication of JPWO2016104008A1 publication Critical patent/JPWO2016104008A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6402780B2 publication Critical patent/JP6402780B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/42Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/4291Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis the detector being combined with a grid or grating
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/44Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
    • A61B6/4429Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to the mounting of source units and detector units
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/44Constructional features of apparatus for radiation diagnosis
    • A61B6/4476Constructional features of apparatus for radiation diagnosis related to motor-assisted motion of the source unit
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/484Diagnostic techniques involving phase contrast X-ray imaging
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/48Diagnostic techniques
    • A61B6/486Diagnostic techniques involving generating temporal series of image data
    • A61B6/487Diagnostic techniques involving generating temporal series of image data involving fluoroscopy
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A61MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
    • A61BDIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
    • A61B6/00Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
    • A61B6/52Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis
    • A61B6/5211Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving processing of medical diagnostic data
    • A61B6/5229Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving processing of medical diagnostic data combining image data of a patient, e.g. combining a functional image with an anatomical image
    • A61B6/5235Devices using data or image processing specially adapted for radiation diagnosis involving processing of medical diagnostic data combining image data of a patient, e.g. combining a functional image with an anatomical image combining images from the same or different ionising radiation imaging techniques, e.g. PET and CT
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/041Phase-contrast imaging, e.g. using grating interferometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/10Different kinds of radiation or particles
    • G01N2223/101Different kinds of radiation or particles electromagnetic radiation
    • G01N2223/1016X-ray
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/50Detectors
    • G01N2223/501Detectors array
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/067Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using surface reflection, e.g. grazing incidence mirrors, gratings
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/10Scattering devices; Absorbing devices; Ionising radiation filters
    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2207/00Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
    • G21K2207/005Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Medical Informatics (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Radiology & Medical Imaging (AREA)
  • Surgery (AREA)
  • Veterinary Medicine (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • Heart & Thoracic Surgery (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Animal Behavior & Ethology (AREA)
  • Biophysics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

確実に自己像を検出して物体の内部構造を詳細にイメージングすることができる放射線位相差撮影装置を提供する。本発明の構成によれば、FPD4の検出面の縦方向が位相格子5における吸収体の伸びる方向に対して傾斜している。すると検出面の位置によって自己像の縞模様が写り込む位置(位相)が異なる。したがって、検出面上における自己像が写り込む位置が互いに異なる複数の撮影を行って複数の自己像を得るのと同じ効果を実現できるものと考えられる。しかし、これだけでは、被写体の特定の場所についての自己像の位相は1つに定まってしまう。そこで、本発明の構成によれば、撮像系3,4,5と被写体との相対位置を変えながら撮影を行うようにしている。

Description

本発明は、物体を透過した放射線の位相差を利用して物体の内部構造をイメージングすることができる放射線位相差撮影装置に関する。
従来、物体に放射線を透過させて物体の内部構造をイメージングする放射線撮影装置として様々なものが考え出されている。このような放射線撮影装置の一般的なものとしては、物体に放射線を当て、物体を通過させることにより放射線の投影像を撮影するものである。このような投影像には、放射線を通しやすさに応じて濃淡が現れており、これが物体の内部構造を表している。
このような放射線撮影装置では、ある程度放射線を吸収する性質を有する物体しか撮影することができない。例えば生体軟部組織などは、放射線をほとんど吸収しない。一般的な装置でこのような組織を撮影したとしても、投影像にはほとんど何も写らない。このように放射線を吸収しない物体の内部構造をイメージングしようとするときは、一般的な放射線撮影装置では原理上の限界がある。
そこで、透過放射線の位相差を利用して物体の内部構造をイメージングする放射線位相差撮影装置が考え出されてきている。このような装置は、タルボ干渉を利用して物体の内部構造をイメージングする。
タルボ干渉について説明する。図26の放射線源53からは、位相のそろった放射線が照射されている。この放射線がスダレ状となっている位相格子55を通過させると、位相格子55から所定の距離(タルボ距離)離れた投影面上に位相格子55の像が現れる。この像を自己像と呼ぶ。自己像は、単なる位相格子55の投影像ではない。自己像は、投影面が位相格子55からタルボ距離だけ離れた位置でしか生じない。自己像は、光の干渉によって生じた干渉縞から構成される。タルボ距離において位相格子55の自己像が現れる理由は放射線源53から生じる放射線の位相がそろっているからである。放射線の位相が乱れると、タルボ距離に表れる自己像も乱れる。
放射線位相差撮影装置は自己像の乱れを利用して物体の内部構造をイメージングする。放射線源と位相格子55との間に物体を置いたものとする。この物体は、放射線をほとんど吸収しないので、物体に入射した放射線のほとんどは位相格子55側に出射する。
放射線は物体を完全に素通りであったかいうとそうではない。放射線の位相が物体を通過する間に変わるのである。物体を出射した放射線は位相が変化したまま位相格子55を通過する。この放射線をタルボ距離に置いた投影面で観察すると、位相格子55の自己像に乱れが生じている。この自己像の乱れの程度は放射線の位相変化を表している。
物体を透過した放射線の位相が具体的にどの程度変更するかは、放射線が物体のどこを通過したかによって変わる。仮に物体が均質な構成であれば、放射線の位相の変化は物体のどこを通っても同じである。しかし、一般的に物体は何らかの内部構造を有している。このような物体に放射線を透過させると位相の変化が同じとならないのである。
したがって、位相の変化が分かれば物体の内部構造を知ることができる。位相の変化はタルボ距離における位相格子55の自己像を観察することで知ることができる。
このような装置において、自己像をどのように観察するかというのが問題となる。自己像は、位相格子55のパターンと同じスダレ状のパターンである。このスダレのパターンはタルボ干渉が生じる程度に相当細かくする必要がある。このような非常に細かいパターンをイメージングするのは技術的に極めて難しい。自己像の検出には極めて小さな検出素子を持った検出器が必要になるからである。
そこで、従来構成には、自己像そのものを検出器で検出するのを諦めた構成をとるものがある。すなわち、従来構成は、図27に示すように検出器の検出面に別の格子(吸収格子57)を置く構成としているのである。吸収格子57は位相格子55と同様にスダレ状の構造を持っている。したがって、吸収格子57に入射した自己像は吸収格子57と干渉してモアレを生じる。このモアレは、暗線が配列したパターンとなっており、暗線同士のピッチが大きいので検出素子の大きさが大きくても十分にイメージングができる。このモアレを検出することで自己像を間接的に得ることができる(例えば特許文献1参照)。
国際特許公開第2009104560号公報
しかしながら、従来の放射線位相差撮影装置には次のような問題点がある。
すなわち、従来の放射線位相差撮影装置においても製造は困難である。検出器の検出面に吸収格子57を配置する構成としたとしても放射線位相差撮影装置を実現するのは難しいのである。
モアレを確実に発生させるのに吸収率の高い吸収格子57が要求される。そして、吸収格子57が有する位相格子55のピッチは自己像と干渉できる程度に狭くする必要がある。このような吸収格子57を製造するのは極めて難しい。吸収格子57の吸収率を高くするには、吸収格子57に厚みが必要となる。吸収格子57が厚くなると格子配列の精度を出しにくくなるのである。
精度の悪い吸収格子57を用いてモアレを観察すると、吸収格子57の乱れに起因してモアレが歪んでしまい、これが物体の内部構造のイメージングに悪影響を与える。そこで、吸収格子57に頼らず直接的に自己像を検出する方法があればそのほうがよい。しかし、上述したように吸収格子57を備えない構成とすると、自己像そのものを検出する構成とせざるを得ない。検出器が有する検出素子の微細化には限界があるので、自己像を直接的に検出するのはそもそも難しい。そこで、吸収格子57を必要としない構成であって検出素子を微細化する必要もない自己像の撮影方法が望まれる。
本発明は、この様な事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、確実に自己像を検出して物体の内部構造を詳細にイメージングすることができる放射線位相差撮影装置を提供することにある。
本発明は上述の課題を解決するために次のような構成をとる。
すなわち、本発明に係る放射線位相差撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、放射線を検出する検出素子が縦横に配列された検出面でタルボ干渉によって生じる格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、放射線源、格子、および検出部の位置関係が保たれたまま検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように撮像系および被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、(A)検出部の検出面における検出素子が配列される方向である縦方向は、格子が有する吸収体の伸びる方向に対して傾斜していることを特徴とするものである。
[作用・効果]本発明によれば検出素子を微細化することなく、従来と比べてより多くの被写体内部の情報を取り出すことにより鮮明な投影画像の生成が可能な放射線位相差撮影装置が提供できる。すなわち、本発明の構成によれば、検出面の縦方向が格子における吸収体の伸びる方向に対して傾斜している。検出部と格子とをこのように構成すると、縞模様となって現れる格子の自己像が検出面に対して斜めに傾いて写り込むことになる。この状態は検出面の位置によって自己像の縞模様が写り込む位置(位相)が異なるということを意味する。したがって、本発明によれば自己像が写り込む位置(位相)が互いに異なる複数の画像を得るのと同じ効果を実現できるものと考えられる。
しかし、これだけでは、被写体の特定の場所についての自己像の位相は1つに定まってしまう。そこで、本発明の構成によれば、撮像系と被写体との相対位置を変えながら撮影を行うことにより、異なる位相についての自己像の撮影を被写体の同じ場所で行うようにしている。このような撮影を行えば、本来は高密度に吸収体が配列された格子と、検出素子が微細化された検出部を用いてでないと得られない被写体内部の情報を検出部の構成を変更することなく得ることができる。
また、上述の放射線位相差撮影装置において、検出部の検出面における検出素子が配列される方向である横方向は、格子が有する吸収体の配列方向に対して傾斜していればより望ましい。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の構成をより具体的なものとしている。検出部の検出面における検出素子が配列される方向である横方向は、格子が有する吸収体の配列方向に対して傾斜していれば、検出部の検出面における検出素子が配列される方向である縦方向は、確実に格子が有する吸収体の伸びる方向に対して傾斜する。
また、上述の放射線位相差撮影装置において、検出部の検出面は、縞状となっている自己像の1周期分が写り込む縦方向に検出素子が1列に配列したアレイが横方向に配列されて構成される矩形領域を備えていればより望ましい。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の構成をより具体的なものとしている。検出部の検出面が自己像の1周期分が写り込む縦方向に検出素子が1列に配列したアレイが横方向に配列されて構成される矩形領域を備えていれば、確実に検出面の位置により自己像の縞模様が写り込む位置(位相)を違えることができる。
また、上述の放射線位相差撮影装置において、検出面上で被写体の投影が検出素子1個分だけ移動するごとに放射線源に放射線の照射を実行させる放射線源制御部を備えればより望ましい。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の構成をより具体的なものとしている。位置変更部が記撮像系に対する被写体の相対位置を検出素子1個分だけ変化させるごとに放射線源に放射線の照射を実行させる構成とすれば、より確実に自己像の撮影を実行することができる。
また、上述の放射線位相差撮影装置において、格子は、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている領域と、1方向と交差する方向である交差方向に伸びる吸収体が交差方向と直交する方向に配列されている領域とを有し、互いの領域は検出面上で被写体の投影が移動する方向に配列されていればより望ましい。
[作用・効果]上述の構成によれば、被検体に対してスキャン撮影を一度だけ実行するだけで暗線の伸びる方向が異なる2パターンの自己像が撮影される。上述の構成によれば、被写体の内部構造に関する情報をより多く得て被写体の透視像を生成することができる。
また、本発明に係る放射線位相差撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、放射線を検出する検出素子が縦横に配列された検出面でタルボ干渉によって生じる格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、放射線源、格子、および検出部の位置関係が保たれたまま検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように撮像系および被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、(B)検出部の検出面における検出素子が配列される方向である縦方向は、格子が有する吸収体の伸びる方向に一致しているとともに、検出面上で被写体の投影が移動する方向に対して傾斜している構成とすることもできる。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の別の形態を示している。上述の構成によっても検出素子を微細化することなく、従来と比べてより多くの被写体内部の情報を取り出すことにより鮮明な投影画像の生成が可能な放射線位相差撮影装置が提供できる。すなわち、上述の構成によれば、検出部の縦方向は、撮像系に対する被写体の移動方向に対して傾斜している。そうすると、移動方向から検出部を眺めたとき、検出素子が検出素子一個分の幅よりも狭いピッチで並んでいるように見える。
上述の構成はこの観点に加え、撮像系と被写体の相対位置を変えながら撮影を繰り返すことで、より高密度に放射線の検出を行うようにしている。このような撮影を行えば、本来は高密度に吸収体が配列された格子と、検出素子が微細化された検出部を用いてでないと得られない被写体内部の情報を検出部の構成を変更することなく得ることができる。
また、上述の放射線位相差撮影装置において、検出部の検出面における検出素子が配列される方向である横方向は、検出面上で被写体の投影が移動する方向と直角に交わらなければより望ましい。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の構成をより具体的なものとしている。上述の構成は、本発明の構成をより具体的なものとしている。検出部の検出面における検出素子が配列される方向である横方向は、撮像系に対する被写体の移動方向と直角に交わらなければ、検出面の縦方向はより確実に撮像系に対する被写体の移動方向に対して傾斜する。
また、上述の放射線位相差撮影装置において、検出部の検出面において、ある検出素子から縦方向に検出素子3つ分進むうちに横方向に検出素子1つ分だけ進む斜めの方向が検出面上で被写体の投影が移動する方向に一致していればより望ましい。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の構成をより具体的なものとしている。撮像系に対する被写体の移動方向が検出面上の検出素子3つ分縦方向に進むうちに検出素子1つ分だけ横方向に進む斜めの方向に一致していれば、移動方向から検出部を眺めたとき、検出素子が等間隔に並んでいるように見えるので、より確実に自己像を得ることができる。
また、上述の放射線位相差撮影装置において、検出面上で被写体の投影が検出素子1個の幅の1/101/2倍分だけ移動するごとに放射線源に放射線の照射を実行させる放射線源制御部を備えればより望ましい。
[作用・効果]上述の構成は、本発明の構成をより具体的なものとしている。位置変更部が記撮像系に対する被写体の相対位置を検出素子1個の幅の1/101/2倍分だけ変化させるごとに放射線源に放射線の照射を実行させる構成とすれば、より確実に自己像の撮影を実行することができる。
また、次のような構成は、上述した放射線位相差撮影装置と同様な効果を奏する。
すなわち、本発明に係る放射線位相差撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、(S1)放射線を検出する検出面でタルボ干渉によって生じる格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、放射線源、格子、および検出部の位置関係が保たれたまま検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように撮像系および被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、(C)検出部の検出面には検出素子が縦方向に対して傾斜した方向である傾斜方向に配列されて構成されるアレイが縦方向と直交する横方向に配列することにより2次元的に配列されており、(A0)傾斜方向は、格子が有する吸収体の伸びる方向に対して傾斜していてもよい。
[作用・効果]上述の構成によっても、検出素子が配列される方向が吸収体の伸びる方向に対して傾斜しているので、上述の構成と同じ効果を得ることができる。
本発明によれば検出素子を微細化することなく、従来と比べてより多くの被写体内部の情報を取り出すことにより鮮明な投影画像の生成が可能な放射線位相差撮影装置が提供できる。すなわち、本発明の構成によれば、検出面の縦方向が格子における吸収体の伸びる方向に対して傾斜している。すると検出面の位置によって自己像の縞模様が写り込む位置(位相)が異なる。したがって、検出面上における自己像が写り込む位置が互いに異なる複数の撮影を行って複数の自己像を得るのと同じ効果を実現できるものと考えられる。しかし、これだけでは、被写体の特定の場所についての自己像の位相は1つに定まってしまう。そこで、本発明の構成によれば、撮像系と被写体との相対位置を変えながら撮影を行うようにしている。
実施例1に係る放射線位相差撮影装置の全体構成を説明する機能ブロック図である。 実施例1に係る撮像系の移動を説明する模式図である。 実施例1に係るFPDの構成を説明する平面図である。 実施例1に係る位相格子の構成を説明する平面図である。 実施例1に係るFPDの構成を説明する平面図である。 実施例1に係るFPDの構成を説明する平面図である。 実施例1の構成に係る効果を説明する模式図である。 実施例1の構成に係る効果を説明する模式図である。 実施例1の構成に係る効果を説明する模式図である。 実施例1の構成に係る効果を説明する模式図である。 実施例1の構成に係る効果を説明する模式図である。 実施例1の構成に係る効果を説明する模式図である。 実施例2に係るFPDの構成を説明する平面図である。 実施例2に係る位相格子の構成を説明する平面図である。 実施例2に係るFPDの構成を説明する平面図である。 実施例2の構成に係る効果を説明する模式図である。 実施例2の構成に係る効果を説明する模式図である。 実施例2の構成に係る効果を説明する模式図である。 本発明の1変形例の構成を説明する模式図である。 本発明の1変形例の構成を説明する模式図である。 本発明の1変形例の構成を説明する模式図である。 本発明の1変形例の構成を説明する模式図である。 本発明の1変形例の構成を説明する模式図である。 本発明の1変形例の構成を説明する模式図である。 本発明の1変形例の構成を説明する模式図である。 従来構成の装置を説明する模式図である。 従来構成の装置を説明する模式図である。
続いて、発明を実施するための形態について各実施例を参照しながら説明する。実施例におけるX線は、本発明の放射線に相当する。なお、実施例におけるFPDはフラットパネルディテクタの略である。本発明の放射線位相差撮影装置は、放射線吸収が少ない被写体Mに対しても撮影ができるので、工業用途としては基板の透視、医療用途としては乳房の透視などに向いている。
本発明に係る放射線位相差撮影装置について説明する。図1は、本発明に係る撮影装置1の全体構成を示している。撮影装置1は、図1に示すように被写体Mを載置する載置台2と、載置台2の上側に設けられるとともに角錐形状に広がるX線ビームを照射するX線源3と、X線源3から生じ、載置台2上の被写体Mを透過してきたX線を検出するFPD4を備えている。FPD4と載置台2との挟まれる位置にはタルボ干渉を生じさせる位相格子5が設けられている。X線源3は本発明の放射線源に相当し、FPD4は本発明の検出部に相当する。位相格子5は本発明の格子に相当する。
撮影装置1は、タルボ干渉を利用した放射線撮影装置である。したがって、X線源3は位相のそろったX線ビームを出力する構成となっている。また、位相格子5とFPD4との間の距離は、タルボ距離に設定されている。この設定により位相格子5の自己像がFPD4のX線を検出する検出面上に現れることになる。
自己像生成部11は、FPD4の出力に基づいて位相格子5の自己像を生成する。生成された自己像は透視画像生成部12に出力される。透視画像生成部12は、位相格子5の自己像に基づいて被写体Mで生じたX線の位相差がイメージングされた透視画像を生成する。
撮像系移動機構13は、図2に示すようにX線源3,FPD4,位相格子5を互いの位置関係を保った状態で載置台2に対して移動させる構成である。撮像系移動機構13により、X線源3,FPD4,位相格子5は、載置台2に平行な方向に移動することができる。撮像系移動機構13は、X線源3,位相格子5,およびFPD4の位置関係が保たれたままFPD4の検出面で被写体Mの投影が直線的に移動するように撮像系3,4,5および被写体Mの相対位置を変更させる。撮像系3,4,5は、X線を照射するX線源3と、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収線5aが1方向と直交する方向に配列されている位相格子5と、放射線を検出する検出素子4aが縦横に配列された検出面でタルボ干渉によって生じる位相格子5の自己像を検出するFPD4とから構成される。吸収線5aは本発明の吸収体に相当し、撮像系移動機構13は本発明の位置変更部に相当する。
実施例1の場合、撮像系3,4,5に対する被写体Mの相対位置の変更は被写体Mを動かさずに撮像系3,4,5を移動させることで実行される。なお、撮像系移動制御部14は、撮像系移動機構13を制御する目的で設けられている。
X線源制御部6は、X線源3を制御する目的で設けられている。撮影中、X線源制御部6は、パルス状にX線ビームを繰り返し出力するようにX線源3を制御する。X線源3がX線ビームを出力する度に、FPD4は載置台2上の被写体Mおよび位相格子5を透過してきたX線を検出し検出データを自己像生成部11に送出する。このように本発明の装置は、X線撮影を連写することにより自己像を生成する構成となっている。X線源制御部6は本発明の放射線源制御部に相当する。
X線撮影の連写は、X線源制御部6と撮像系移動制御部14とが互いに協働して実現される。すなわち、両者が協働することにより、FPD4上の検出素子1ピクセル分の幅に相当する移動量だけ撮像系3,4,5を移動させる動作と、X線ビームが照射される動作とが互いに繰り返される。したがって、連写を続けていくとFPD4上の被写体Mの写り込む位置が1ピクセルずつ移動していく。このように実施例1に係るX線源制御部6は、撮像系移動機構13が検出面上で被写体Mの投影が検出素子1個分だけ移動させるごとにX線源3に放射線の照射を実行させる。
図3は、FPD4の検出面について説明している。FPD4の検出面には縦20μm×横20μmの矩形をしている検出素子4aが縦横に配列されている。検出素子4aの縦方向は撮像系移動機構13が実現する撮像系3,4,5の移動方向に一致している。FPD4の検出面は、撮像系3,4,5の移動方向を縦方向とし、移動方向と直交する方向を横方向とする矩形の形状をしている。検出面は、縦方向に20cmの幅があり、横方向に2cmの幅がある。これら検出素子および検出面の大きさは適宜変更が可能である。
FPD4は、直接変換型のX線検出器である。すなわち、FPD4は、X線を電子およびホールの対(キャリア対)に変換する変換層を有している。変換層で生じたキャリアは、検出素子4aの各々に捕獲され、蓄積される。検出素子4aにキャリアを出力する信号を送ると、検出素子4aは蓄積していたキャリアを検出信号として出力する。この検出素子4aの細かさがFPD4の空間分解能を決定する主な要因となっている。検出素子4aが小さいほどFPD4の空間分解能はよくなり、より微細な構造を検出できるようになる。
図4は、位相格子5について説明している。位相格子5は、FPD4の検出面の全域にX線ビームの投影が写り込むような形状をしている。したがって、位相格子5は、FPD4の検出面と同じように撮像系3,4,5の移動方向を縦方向とし、移動方向と直交する方向を横方向とする矩形の形状をしている。
位相格子5は、X線を吸収する線状に伸びる複数の吸収線5aを有している。吸収線5aは、延びる方向に直交する方向に所定のピッチで配列している。この吸収線5aは、撮像系3,4,5の移動方向に伸びておらず、むしろ移動方向に対して傾斜している。このように、FPD4の検出面における検出素子4aが配列される方向である縦方向は、位相格子5が有する吸収線5aの伸びる方向に対して傾斜している。言い換えれば、FPD4の検出面における検出素子4aが配列される方向である横方向は、位相格子5が有する吸収線5aの配列方向に対して傾斜している。
図5は、位相格子5の投影がFPD4の検出面に写り込む様子を示している。FPD4には、複数の暗線Sが縞状のパターンとなって写り込んでいる。この暗線Sは、位相格子5の吸収線5aの投影そのものではなく、タルボ干渉の結果生じた位相格子5の自己像である。このときの自己像は、直感的に言えば、光の干渉で生じた干渉縞が重なってできている。
図5によると、FPD4上の暗線Sが検出素子4aの配列に対して傾斜して伸びていることが分かる。暗線Sの伸びる方向がこのようになるのは、位相格子5の吸収線5aがFPD4の縦方向に対して傾斜していることに由来している。暗線Sの伸びる方向は、位相格子5の吸収線5aの伸びる方向に一致するので、FPD4上の暗線Sは、FPD4上で斜めに写り込むのである。
また、図5によれば暗線Sが横方向に配列しているものとしたときのピッチは、検出素子3個分となっている。このピッチは適宜変更が可能である。以下、暗線Sは横方向に3画素分のピッチで配列するものとして以下の説明を行う。
図6は、暗線Sと検出素子4aの並びとの関係をより詳細に表したものとなっている。図6において網掛けで示す検出素子が縦一列に並んで構成されるアレイに注目する。このアレイを上から下まで眺めてみると次のようなことが分かる。すなわち、図6におけるアレイの上端部では、暗線Sが写り込んでいる。そこからアレイの下側を見ていくと、アレイに写り込んでいた暗線Sは、左側に逃げていく。続けてアレイの下側を見ていくと、アレイが互いに隣接する暗線Sに挟まれた位置に来る。このとき、アレイから左側にある暗線Sとアレイから右側にある暗線Sとの距離は等しくなる。更にアレイの下側を見ていくと、アレイの右側にあった暗線Sが次第にアレイに近づき、アレイの下端部では、その暗線Sが写り込んでいる。
つまりはアレイを上から下まで見ていくと、図6の右側の矢印Aに示す前半においては、アレイに重畳していた暗線Sが離れ、矢印Bに示す後半においては、アレイから離れていた暗線Sが重畳する。つまり、アレイには、暗線Sが完全に乗っている状態、暗線Sが全く乗っていない状態、およびその中間の状態の全てが実現されていることになる。つまり、FPD4の検出面は、縞状となっている自己像の1周期分が写り込む縦方向に検出素子4aが1列に配列したアレイを備えている。
このような現象は、図6の網掛けで示すアレイに限られず、FPD4上で考えられる検出素子4aが縦一列に並んだアレイの全てで生じる。すなわち、FPD4の検出面は、自己像の1周期分が写り込む上述のアレイが横方向に配列されて構成される矩形領域となっている。実施例1におけるFPD4の検出面をこの領域よりも縦長に設定し、FPD4の検出面が自己像の1周期分以上を写し込むようにしてもよい。
<吸収線5aの傾斜により空間分解能が向上する理由>
本発明のように、位相格子5の吸収線5aが撮像系3,4,5の移動方向および検出素子の並びに対して傾斜していることにより、空間分解能が高い透視画像が取得できるのでその点について説明する。
図7は、従来の放射線位相差撮影装置を示している。従来の放射線位相差撮影装置では、被写体Mに対して撮像系3,4,5の移動は行われない。そして、図7の上段左側に示すようにFPD4の検出面に現れる暗線は検出素子の並びに沿って伸びている。各暗線は、検出素子1個分よりも広い間隔で配列されている。図7においては、暗線同士の間隔は検出素子3個分であるものとする。
検出面における暗線の現れ方は、FPD4に対する位相格子5の位置関係によって3つタイプが考えられる。この3つのタイプとは、図7上段左側に示すように暗線が検出素子配列の3列目、6列目、9列目、…と3の倍数の列に現れるタイプ1と、図7中段左側に示すように暗線が検出素子配列の2列目、5列目、8列目、…と列数が3倍数から1を引いた数となっている列に現れるタイプ2と、図7中段左側に示すように暗線が検出素子配列の1列目、4列目、7列目、…と列数が3倍数から2を引いた数となっている列に現れるタイプ3である。
図7右側に示すように、検出面における暗線の現れ方のタイプ1,2,3によって得られる自己像が異なる。すなわち、タイプによって自己像における暗線が現れる位置が異なる。
本発明のようにFPD4に対して暗線が斜めなっていると言うことは、暗線の現れ方がFPD4の中で違うと言うことである。図7上段左側によると、暗線がどの検出素子列に現れるかは決まっている。暗線と検出素子列とが平行となっているからである。この事情は図7中段、下段でも同じである。しかし、FPD4に対して暗線が斜めなっていると、暗線がどの検出素子列に現れるかはFPD4の場所によって異なる。すなわち、FPD4における暗線の現れ方は、ある場所ではタイプ1となり、別の場所ではタイプ2となり、また別の場所ではタイプ3となっている。実際の本発明に係るFPD4における暗線の現れ方は、タイプ1,2,3以外にもこれらの中間的なものも含まれている。
しかしここでは本発明の効果を簡単に説明するのに、図8左側のような検出面を考える。この検出面の上段部aにおいては、暗線の現れ方がタイプ1となっており、この検出面の中段部bにおいては、暗線の現れ方がタイプ2となっている。この検出面の下段部cにおいては、暗線の現れ方がタイプ3となっている。この上段部、中段部、下段部は、撮像系3,4,5の移動方向に配列しているものとする。
図8左側のような検出面で得られる自己像は、図8右側に示すように画像の位置によって暗線が現れる位置が異なる。検出面における暗線の現れ方は3つのタイプが混在しているからである。
図9は、撮像系3,4,5が撮影中に移動している様子を示している。撮像系3,4,5を移動していくと、検出面の上段部a,中段部b,下段部cがこの順に被写体Mに近づいて、この順に被写体Mから遠ざかる。図10は、上段部a,中段部b,下段部cが被写体Mの一端部を通過していく様子を示している。図10の左側では、被写体Mの一端部が検出面の上段部aで撮影されている。図10の中央では、被写体Mの一端部が検出面の中段部bで撮影されている。図10の右側では、被写体Mの一端部が検出面の下段部cで撮影されている。このように被写体Mの一端部は、検出面が有する3つの段のそれぞれで撮影されることになる。
ところで、図7右側で示した自己像は、暗線Sが詰まっているほど多くの被写体Mの内部構造の情報を保持している。透視画像生成部12は、自己像に現れる暗線がどのように歪むかで被写体内の状態を知り、それを画像化する。したがって、自己像に現れる暗線が例えば4本だとすると、透視画像生成部12はこのわずかな本数の暗線を頼りに被検体内の情報を取り出すしかなくなる。このとき得られる透視画像は、鮮明なものとならない。
従来の構成において、図7右側に示す3つの自己像を個別に取得して、これらを図11に示すような1つの自己像に合成することができれば、自己像における暗線の密度が3倍の12本に向上する。そうすれば、透視画像生成部12はより多くの本数の暗線を参照することができ、被検体内の情報を取り出すことができる。こうしてより鮮明な透視画像を得ることができる。
本発明の構成によれば、撮像系3,4,5を移動させながら撮影を連続的に行うことにより、図11に示す暗線の本数が3倍になった自己像を得ることができる。すなわち、自己像生成部11は、FPD4の位置および撮像系3,4,5の位置を参照して、検出面の上段部aから出力された検出データに基づいて、自己像を生成する。同様に、自己像生成部11は、検出面の中段部bから出力された検出データに基づいて自己像を生成し、検出面の下段部cから出力された検出データに基づいて自己像を生成する。こうして、自己像生成部11は、暗線の写り込む位置が異なる複数の自己像を生成するのである。このとき自己像生成部11が生成した3つの自己像を重ね合わせると、図11のようになる。
実際の本発明に係るFPD4における暗線の現れ方は、図7で説明したタイプ1,2,3以外にもこれらの中間的なものも含まれている。したがって、FPD4における暗線の現れ方は、3種類に限られず、もっと多くのタイプがあると考えることもできる。この考えに基づき、上述した3種類以上の自己像を生成するように自己像生成部11を構成することもできる。
透視画像生成部12は、自己像生成部11より生成された複数の自己像に基づいて透視像を生成する。この透視像は、より被写体内部を鮮明に写し込んだものとなる。透視像はより多くの情報に基づいて生成されたものだからである。透視画像生成部12の実際としては、暗線が図11におけるピッチで並んだ自己像を透視像に変換する従来通りの構成を利用することができる。
自己像を構成する暗線の本数が多ければより鮮明な透視像が得られるというのであれば、位相格子5における吸収線5aをもっと増やせばよいという考えは当然に出てくる。図12左側は、この考えに従い、位相格子5における吸収線5aを図7で説明した場合と比べて3倍に増やした状態を表している。このようになると、検出素子列の全てに暗線が1つずつ乗っている状態となる。このような状態で自己像を得ようとしても、検出素子の全てが同じ条件となってしまっているのでFPD4の出力からは図12右側に示すように一面同じ画素値を有する画像のみ得られ、自己像は得られない。吸収線5aのピッチに対して検出素子が大きすぎるのである。
つまり、図12左側のような狭いピッチで暗線が配列している縞模様を検出しようと思えば、検出素子の大きさをもっと小さなものとしなければならない。検出素子の微細化には限界がある。しかし、本発明によれば、検出素子をこれ以上小さくすることなく位相格子5の吸収線5aをあたかも3倍細かくしたような自己像を得ることができるのである。
図1に示す主制御部21は、各部6,11,12,14を統括的に制御する目的で設けられている。この主制御部21は、CPUによって構成され、各種のプログラムを実行することにより各部を実現している。また、これら各部は、これらを担当する演算装置に分割して実行されてもよい。各部は必要に応じて記憶部27にアクセスすることができる。操作卓25は、操作者の指示を入力する目的で設けられている。また、表示部26は、透視像を表示する目的で設けられている。
以上のように、本発明によれば検出素子4aを微細化することなく、従来と比べてより多くの被写体内部の情報を取り出すことにより鮮明な投影画像の生成が可能な撮影装置1が提供できる。すなわち、本発明の構成によれば、FPD4の検出面の縦方向が位相格子5における吸収線5aの伸びる方向に対して傾斜している。FPD4と位相格子5とをこのように構成すると、縞模様となって現れる位相格子5の自己像が検出面に対して斜めに傾いて写り込むことになる。この状態は検出面の位置によって自己像の縞模様が写り込む位置(位相)が異なるということを意味する。したがって、実施例1の構成は位置(位相)が互いに異なる複数の自己像を得るのと同じ効果を実現できるものと考えられる。
しかし、これだけでは、被写体Mの特定の場所についての自己像の位相は1つに定まってしまう。そこで、本発明の構成によれば、撮像系と被写体Mとの相対位置を変えながら撮影を行うことにより、異なる位相についての自己像の撮影を被写体Mの同じ場所で行うようにしている。このような撮影を行えば、本来は高密度に吸収線5aが配列された位相格子5と、検出素子4aが微細化されたFPD4を用いてでないと得られない被写体内部の情報をFPD4の構成を変更することなく得ることができる。
続いて実施例2に係る構成について説明する。実施例2基本的な構成は、図1と同様であるので説明を省略する。
実施例2において特徴的な構成は、4つある。一つは図13に示すように撮像系3,4,5の移動方向と検出素子4aの配列との関係である。FPD4の検出面には検出素子4aが縦横に配列されている。撮像系移動機構13が実現する撮像系3,4,5の移動方向は、検出素子4aの縦方向に対して傾斜している。すなわち、撮像系3,4,5の移動方向は、FPD4の検出素子1個分だけ横方向に進んでいる間に検出素子3個分だけ縦方向に進む方向となっている。
実施例2において特徴的な構成の第2は、撮像系3,4,5の移動方向と位相格子5における吸収線5aの伸びる方向との関係である。位相格子5は、X線を吸収する線状に伸びる複数の吸収線5aを有している。吸収線5aは、延びる方向に直交する方向に所定のピッチで配列している。撮像系移動機構13が実現する撮像系3,4,5の移動方向は、この吸収線5aの伸びる方向に対して傾斜している。
つまり、FPD4の検出面における検出素子4aが配列される方向である縦方向は、位相格子5が有する吸収線5aの伸びる方向に一致しているとともに、FPD4の検出面上で被写体Mの投影が移動する方向に対して傾斜している。言い換えれば、FPD4の検出面における検出素子4aが配列される方向である横方向は、FPD4の検出面上で被写体Mの投影が移動する方向と直角には交わらない。より具体的には、撮像系3,4,5の移動方向は、FPD4の検出素子1個分だけ横方向に進んでいる間に検出素子3個分だけ縦方向に進む方向となっている。
図14は、実施例2の位相格子5について説明している。位相格子5は、X線を吸収する線状に伸びる複数の吸収線5aを有している。吸収線5aは、延びる方向に直交する方向に所定のピッチで配列している。この吸収線5aは、撮像系3,4,5の移動方向に伸びており、FPD4における検出素子の縦方向の配列に平行となっている。したがって、言い換えれば、吸収線5aは、撮像系に対する被写体Mの移動方向に対して傾斜している。その傾斜角度は、検出面の縦方向と撮像系に対する被写体Mの移動方向とがなす角と同じになる。
図15は、位相格子5の投影がFPD4の検出面に写り込む様子を示している。FPD4には、複数の暗線Sが縞状のパターンとなって写り込んでいる。この暗線Sは、位相格子5の吸収線5aの投影そのものではなく、タルボ干渉の結果生じた位相格子5の自己像である。このときの自己像は、直感的に言えば、光の干渉で生じた干渉縞が重なってできている。
図15によると、FPD4上の暗線Sが検出素子4aの配列に沿って伸びていることが分かる。暗線Sの伸びる方向がこのようになるのは、位相格子5の吸収線5aがFPD4の縦方向に伸びていることに由来している。暗線Sの伸びる方向は、位相格子5の吸収線5aの伸びる方向に一致するので、FPD4上において縦方向に伸びた暗線Sが写り込むのである。
また、図15によれば暗線Sが横方向に配列しているものとしたときのピッチは、検出素子3個分となっている。このピッチは適宜変更が可能である。以下、暗線Sは横方向に3画素分のピッチで配列するものとして以下の説明を行う。
実施例2において特徴的な構成の第3は、自己像生成部11の動作である。以降、自己像生成部11の動作について具体的に説明する。簡単のため図16左側に示すようにFPD4が縦3×横3の検出素子を有しているものと考える。検出素子をそれぞれD1〜D9と呼び区別することにする。
図16右側は、検出素子D1〜D9の中心点d1〜d9を表している。これら中心点d1〜d9を撮像系3,4,5の移動方向に直交する線分K上に投影する場合を考える。すると、中心点d1〜d9の写像は、互いに重なることなく等間隔に配列される。写像がこのよう配列になるのは、FPD4の検出面上で被写体Mの投影が移動する方向がFPD4の検出素子1個分だけ横方向に進んでいる間に検出素子3個分だけ縦方向に進む方向となっているからである。写像は検出素子1個分の幅の1/101/2倍(約0.32倍)のピッチで線分K上に配列されている。従って、隣接する写像同士の間隔は検出素子1個分の幅よりも小さい。以降、検出素子1個分の幅の1/101/2倍の長さを1単位と呼ぶことにする。
ここで撮像系3,4,5を移動方向に移動させていったものとする。このとき、検出素子D1〜D9の中心点d1〜d9は、それぞれ個別の線分L1〜L9上を移動する。線分L1〜L9は、撮像系3,4,5の移動方向に伸びている。中心点d1〜d9の写像は、線分K上において等間隔に配列されていたことからすると、線分L1〜L9は等間隔(具体的には1単位の間隔)で横方向(線分Kの延伸方向)に配列することになる。
図17左側は、撮像系3,4,5が初期位置にあるときを表している。このとき、検出素子D1の中心点d1は、もちろん線分L1上にある。このときの中心点d1の位置は線分L1と線分L1に直交する線分K1上にあるものとする。この状態から、撮像系3,4,5を1単位ずつ移動方向に移動させていったとする。図17中央は、撮像系3,4,5が初期位置から1単位移動したときを表している。このとき、検出素子D1の中心点d1は、初期位置から1単位だけ移動した場所に表れる。このときの中心点d1の位置は線分L1と線分L1に直交する線分K2上にあるものとする。図17右側は、撮像系3,4,5が初期位置から2単位移動したときを表している。このとき、検出素子D1の中心点d1は、初期位置から2単位だけ移動した場所に表れる。このときの中心点d1の位置は線分L1と線分L1に直交する線分K3上にあるものとする。
図17中央を見ると、検出素子D2の中心点d2が線分L2と線分K1との交点の位置あることが分かる。また、図17右側を見ると、検出素子D2の中心点d2が線分L2と線分K2との交点の位置あることが分かる。と同時に、検出素子D3の中心点d3が線分L3と線分K1との交点の位置あることが分かる。
このように、撮像系3,4,5を1単位ずつ移動方向に移動させていくと、線分L1上にある検出素子D1の中心点d1が1単位ずつ移動していく。この事情は、全ての検出素子について言える。図18は、撮像系3,4,5が初期位置から8単位移動したときを表している。このとき、検出素子D9の中心点d9が線分L9と線分K1との交点の位置にあることが分かる。
自己像生成部11は、各検出素子が検出する検出データは素子の中心点における検出データであるものとして動作する。例えば、自己像生成部11は、図17の左側の検出素子D1が出力する検出データは線分K1と線分L1の交点におけるX線の検出結果であるとする。同様に、自己像生成部11は、図17の中央の検出素子D1が出力する検出データは線分K2と線分L1の交点におけるX線の検出結果であるとし、検出素子D2が出力する検出データは線分K1と線分L2の交点におけるX線の検出結果であるとする。
また、同様に、自己像生成部11は、図17の右側の検出素子D1が出力する検出データは線分K3と線分L1の交点におけるX線の検出結果であるとし、検出素子D2が出力する検出データは線分K2と線分L2の交点におけるX線の検出結果であるとする。そして、自己像生成部11は、検出素子D3が出力する検出データは線分K1と線分L3の交点におけるX線の検出結果であるとする。
図17および図18において黒丸が置かれた交点は、現状のFPD4の位置で検出データが得られる交点を示し、白丸が置かれた交点は、すでに検出データが取得済みとなっている交点を示している。いずれも置かれていない交点は、検出データが未知の交点である。図17および図18の例では、検出素子が9個しかないので、9本の線分L1〜9についてしか検出データは取得できないが、実際のFPD4にはより多くの検出素子を有しているので、実際は検出データを取得できる線分はもっと多い。
このように自己像生成部11は、撮像系3,4,5が1単位ごとに移動されながら繰り返しFPD4が出力する検出データに基づき、各線分L1〜L9上のX線の検出結果を1単位の間隔でサンプリングする。これにより、自己像生成部11は、縦が1単位に相当し横が1単位に相当する画像(自己像)を生成することができる。
このとき得られる自己像は、図7上段に示した従来の撮影方法に比べて解像度が高いものとなっている。図7上段に示した従来の撮影方法では、縦横が検出素子1個の幅に相当する画像(自己像)を生成することしかできない。しかし、実施例2に係る自己像生成部11は、縦横が検出素子1個分の1/101/2倍(約0.32倍)の幅に相当する画像(自己像)を生成することができる。したがって、実施例2の方法によれば、従来方法と比べて自己像の解像度を9/81/2倍(約3.2倍)に高めることができる。得られる自己像の解像度が高ければそれだけ鮮明な透視像を得ることができる。
実施例2において特徴的な構成の第4は、上述したように撮像系3,4,5を1単位ずつ移動方向に移動される点である。実施例2においてもX線撮影の連写がX線源制御部6と撮像系移動制御部14とが互いに協働して実現される。すなわち、両者が協働することにより、1単位だけ撮像系3,4,5を移動させる動作と、X線ビームが照射される動作とが互いに繰り返される。X線源制御部6は、撮像系移動機構13がFPD4の検出面上で被写体Mの投影を検出素子1個の幅の1/101/2倍分だけ移動させるごとにX線源3に放射線の照射を実行させる。
以上のように、上述の構成は、本発明の別の形態を示している。上述の構成によっても検出素子4aを微細化することなく、従来と比べてより多くの被写体内部の情報を取り出すことにより鮮明な投影画像の生成が可能な撮影装置1が提供できる。すなわち、上述の構成によれば、FPD4の縦方向は、撮像系に対する被写体Mの移動方向に対して傾斜している。そうすると、移動方向からFPD4を眺めたとき、検出素子4aが検出素子一個分の幅よりも狭いピッチで並んでいるように見える。
上述の構成はこの観点に加え、撮像系と被写体Mの相対位置を変えながら撮影を繰り返すことで、より高密度に放射線の検出を行うようにしている。このような撮影を行えば、本来は高密度に吸収線5aが配列された位相格子5と、検出素子4aが微細化されたFPD4を用いてでないと得られない被写体内部の情報をFPD4の構成を変更することなく得ることができる。
本発明は上述の構成に限られず、下記のように変形実施することもできる。
(1)上述の実施例によれば、撮像系移動機構13は、FPD4,位相格子5とともにX線源3を移動させる構成としていたが、本発明はこれに限られない。X線源3,FPD4,位相格子5の位置関係を変えないようにFPD4,位相格子5を円弧の軌跡をたどって移動させるように撮像系移動機構13を構成することで被写体Mと撮像系との相対位置を変化させるようにしてもよい。また、撮像系3,4,5を移動させずに載置台2を移動させることにより被写体Mと撮像系との相対位置を変化させるようにしてもよい。
(2)上述の構成によれば、被写体MをX線源3と位相格子5との間に載置するようにしていたが、本発明はこの構成に限られない。載置台2および被写体Mを位相格子5とFPD4との間に載置するようにしてもよい。
(3)上述の実施例1によれば、位相格子5が有する吸収線5aの伸びる方向は、縦方向に対して同じ方向に傾斜していたが、本発明はこの構成限られない。図19に示すように、FPD4の縦方向に対して傾斜する方向が異なる吸収線5aを有するように位相格子5を構成するようにしてもよい。このような位相格子5は、撮像系3,4,5の移動方向に配列された2つの領域R1,R2を有している。領域R1に位置している吸収線5a1は、右上から左下にかけて斜めに伸びており、領域R2に位置している吸収線5a2は、左上から右下にかけて斜めに伸びている。このように、本変形例の位相格子5は、X線を吸収する1方向に伸びる吸収線5aが1方向と直交する方向に配列されている領域R1と、1方向と交差する方向である交差方向に伸びる吸収線5aが交差方向と直交する方向に配列されている領域R2とを有している。そして、互いの領域R1,R2は検出面上で被写体Mの投影が移動する方向に配列されている。
位相格子5をこのような構成とすると、X線位相差撮影を行うときに被写体Mの情報をより多く取り出すことができる。図20は、FPD4に当該変形例の位相格子5の自己像が写り込んでいる様子を示している。FPD4の上側には右上から左下にかけて斜めに伸びた暗線S1が横方向に配列した縞模様が現れ、FPD4の下側には左上から右下にかけて斜めに伸びた暗線S2が横方向に配列した縞模様が現れる。これら2パターンの縞模様が位相格子5の自己像を構成する。つまり、自己像の上側に現れる暗線S1に直交する方向は、図中の矢印に示すように左上から右下にかけての方向となり、自己像の下側に現れる暗線S2に直交する方向は、図中の矢印に示すように右上から左下にかけての方向となる。
撮影装置1は、位相格子5の自己像の乱れを利用して被写体Mの内部構造をイメージングする。すなわち、図20において自己像を構成する暗線S1,S2は、被写体Mを透過することによって暗線S1,S2の伸びる方向と直交する方向に歪む。撮影装置1は、この歪みを観察することで被写体Mの内部構造のイメージングを実行する。したがって、図4で説明したような位相格子5を用いて自己像を生成すると、自己像は、図5における暗線Sに直交する方向のみずれ、その他の方向にはずれない。位相格子5を用いた自己像では、被写体Mの内部構造の情報の全ては取り出せないのである。暗線Sの伸びる方向が図4とは異なる別の位相格子5を使ってもう一度同じ被写体Mに対して自己像を撮影すれば、新たな情報が被写体Mから取り出せるわけである。
本変形例の構成によれば、被検体に対してスキャン撮影を一度だけ実行するだけで暗線Sの伸びる方向が異なる2パターンの自己像の撮影ができる。図21は、この原理について説明している。撮像系3,4,5を移動していくと、位相格子5の領域R1,R2がこの順に被写体Mに近づいて、この順に被写体Mから遠ざかる。図22は、位相格子5の領域R1,R2が被写体Mの一端部を通過していく様子を示している。図22の左側では、被写体Mの一端部を通過したX線が位相格子5の領域R1に入射している。図22の右側では、被写体Mの一端部を通過したX線が位相格子5の領域R2に入射している。このように被写体Mの一端部は、位相格子5が有する2つの領域を用いて撮影されることになる。撮影時に位相格子5の2つの領域が用いられるのは被写体Mの他の部分でも同様である。
このようにして、本変形例によれば、被検体に対してスキャン撮影を一度だけ実行するだけで暗線Sの伸びる方向が異なる2パターンの自己像が撮影される。本変形例によれば、被写体Mの内部構造に関する情報をより多く得て被写体Mの透視像を生成することができる。
(4)実施例1の構成では、検出素子4aが縦横に配列した検出面を有するFPD4を備え、位相格子5の吸収線5aの伸びる方向が検出素子4aの並びに対して傾斜した構成となっていたが、本発明はこの構成に限られない。本発明はこのような構成に代えて、検出素子4aの並びの方を位相格子5の吸収線5aに対して傾斜させるようにしてもよい。
図23は、本変形例の構成を説明している。本変形例のFPD4は、撮像系3,4,5の移動方向に対して傾斜した傾斜方向aに検出素子4aが配列して、アレイを構成し、このアレイが撮像系3,4,5の移動方向に直交する横方向に配列することで検出素子が2次元的に配列される構成となっている。図23は、検出面におけるアレイの一つを網掛けで表している。このように、FPD4の検出面には検出素子4aが縦方向に対して傾斜した方向である傾斜方向aに配列されて構成されるアレイが縦方向と直交する横方向に配列することにより2次元的に配列されている。
一方、本変形例における位相格子5は、図24に示すように撮像系3,4,5の移動方向に平行な吸収線5aを有している。したがって、傾斜方向aは、位相格子5が有する吸収線5aの伸びる方向に対して傾斜していることになる。
図25は、本変形例のFPD4に位相格子5の自己像が写り込む様子を示している。本変形例の構成によっても、検出素子が配列される方向が吸収線5aの伸びる方向に対して傾斜しているので、実施例1の構成と同じ効果を得ることができる。
(5)図19で説明した領域R1,R2の構成は、変形例の一例に過ぎない。領域R1,R2の構成の具体例としては、図23で説明したように吸収線5aに対してFPD4の検出素子の並びの方を傾斜させた構成も採用し得る。
以上のように、本発明は工業分野に適している。
3 X線源(放射線源)
4a 検出素子
4 FPD(検出部)
5a 吸収線(吸収体)
5 位相格子(格子)
6 X線源制御部(放射線源制御部)
13 撮像系移動機構(位置変更部)
本発明は上述の課題を解決するために次のような構成をとる。
すなわち、本発明に係る放射線位相差撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、(S)放射線を検出する検出素子が縦横に配列された検出面でタルボ干渉によって生じる格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、放射線源、格子、および検出部の位置関係が保たれたまま検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように撮像系および被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、(A)検出部の検出面における検出素子が配列される方向である縦方向は、格子が有する吸収体の伸びる方向に対して傾斜しており、撮像系を移動されながら連続的に撮影が実行された際に動作する構成であって、検出面における各部分で出力された検出データに基づき格子の暗線の写り込む位置が互いに異なる複数の自己像を生成する自己像生成部を備えていることを特徴とするものである。
また、本発明に係る放射線位相差撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、(S)放射線を検出する検出素子が縦横に配列された検出面でタルボ干渉によって生じる格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、放射線源、格子、および検出部の位置関係が保たれたまま検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように撮像系および被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、(B)検出部の検出面における検出素子が配列される方向である縦方向は、格子が有する吸収体の伸びる方向に一致しているとともに、検出面上で被写体の投影が移動する方向に対して傾斜しており、撮像系を移動されながら連続的に撮影が実行された際に動作する構成であって、検出素子の中心点が撮像系の移動方向に直交する線分上に等間隔に配列された自己像を生成する自己像生成部を備えている構成とすることもできる。
また、次のような構成は、上述した放射線位相差撮影装置と同様な効果を奏する。
すなわち、本発明に係る放射線位相差撮影装置は、放射線を照射する放射線源と、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、(S1)放射線を検出する検出面でタルボ干渉によって生じる格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、放射線源、格子、および検出部の位置関係が保たれたまま検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように撮像系および被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、(C)検出部の検出面には検出素子が縦方向に対して傾斜した方向である傾斜方向に配列されて構成されるアレイが縦方向と直交する横方向に配列することにより2次元的に配列されており、(A0)傾斜方向は、格子が有する吸収体の伸びる方向に対して傾斜しており、撮像系を移動されながら連続的に撮影が実行された際に動作する構成であって、検出面における各部分で出力された検出データに基づき格子の暗線の写り込む位置が互いに異なる複数の自己像を生成する自己像生成部を備えていてもよい。

Claims (10)

  1. 放射線を照射する放射線源と、
    放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、
    (S)放射線を検出する検出素子が縦横に配列された検出面でタルボ干渉によって生じる前記格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、
    前記放射線源、前記格子、および前記検出部の位置関係が保たれたまま前記検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように前記撮像系および前記被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、
    (A)前記検出部の検出面における前記検出素子が配列される方向である縦方向は、前記格子が有する前記吸収体の伸びる方向に対して傾斜していることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  2. 請求項1に記載の放射線位相差撮影装置において、
    前記検出部の検出面における前記検出素子が配列される方向である横方向は、前記格子が有する前記吸収体の配列方向に対して傾斜していることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  3. 請求項1に記載の放射線位相差撮影装置において、
    前記検出部の検出面は、縞状となっている自己像の1周期分が写り込む縦方向に検出素子が1列に配列したアレイが横方向に配列されて構成される矩形領域を備えていることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  4. 請求項1に記載の放射線位相差撮影装置において、
    前記検出面上で被写体の投影が検出素子1個分だけ移動するごとに前記放射線源に放射線の照射を実行させる放射線源制御部を備えることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  5. 請求項1に記載の放射線位相差撮影装置において、
    前記格子は、放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている領域と、1方向と交差する方向である交差方向に伸びる吸収体が交差方向と直交する方向に配列されている領域とを有し、
    互いの領域は前記検出面上で被写体の投影が移動する方向に配列されていることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  6. 放射線を照射する放射線源と、
    放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、
    (S)放射線を検出する検出素子が縦横に配列された検出面でタルボ干渉によって生じる前記格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、
    前記放射線源、前記格子、および前記検出部の位置関係が保たれたまま前記検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように前記撮像系および前記被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、
    (B)前記検出部の検出面における前記検出素子が配列される方向である縦方向は、前記格子が有する前記吸収体の伸びる方向に一致しているとともに、前記検出面上で被写体の投影が移動する方向に対して傾斜していることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  7. 請求項6に記載の放射線位相差撮影装置において、
    前記検出部の検出面における前記検出素子が配列される方向である横方向は、前記検出面上で被写体の投影が移動する方向と直角に交わらないことを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  8. 請求項6に記載の放射線位相差撮影装置において、
    前記検出部の検出面において、ある前記検出素子から縦方向に検出素子3つ分進むうちに横方向に検出素子1つ分だけ進む斜めの方向が前記検出面上で被写体の投影が移動する方向に一致していることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  9. 請求項8に記載の放射線位相差撮影装置において、
    前記検出面上で被写体の投影が検出素子1個の幅の1/101/2倍分だけ移動するごとに前記放射線源に放射線の照射を実行させる放射線源制御部を備えることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
  10. 放射線を照射する放射線源と、
    放射線を吸収する1方向に伸びる吸収体が1方向と直交する方向に配列されている格子と、
    (S1)放射線を検出する検出面でタルボ干渉によって生じる前記格子の自己像を検出する検出部とから構成される撮像系と、
    前記放射線源、前記格子、および前記検出部の位置関係が保たれたまま前記検出面上で被写体の投影が直線的に移動するように前記撮像系および前記被写体の相対位置を変更させる位置変更部とを備え、
    (C)前記検出部の検出面には検出素子が縦方向に対して傾斜した方向である傾斜方向に配列されて構成されるアレイが縦方向と直交する横方向に配列することにより2次元的に配列されており、
    (A0)前記傾斜方向は、前記格子が有する前記吸収体の伸びる方向に対して傾斜していることを特徴とする放射線位相差撮影装置。
JP2016566042A 2014-12-22 2015-11-20 放射線位相差撮影装置 Expired - Fee Related JP6402780B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014258713 2014-12-22
JP2014258713 2014-12-22
JP2015053641 2015-03-17
JP2015053641 2015-03-17
PCT/JP2015/082795 WO2016104008A1 (ja) 2014-12-22 2015-11-20 放射線位相差撮影装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2016104008A1 true JPWO2016104008A1 (ja) 2017-06-29
JP6402780B2 JP6402780B2 (ja) 2018-10-10

Family

ID=56150041

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016566042A Expired - Fee Related JP6402780B2 (ja) 2014-12-22 2015-11-20 放射線位相差撮影装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10365235B2 (ja)
JP (1) JP6402780B2 (ja)
CN (1) CN107106101B (ja)
WO (1) WO2016104008A1 (ja)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6402780B2 (ja) * 2014-12-22 2018-10-10 株式会社島津製作所 放射線位相差撮影装置
WO2018096759A1 (ja) * 2016-11-22 2018-05-31 株式会社島津製作所 X線位相イメージング装置
US11096639B2 (en) * 2016-12-09 2021-08-24 Koninklijke Philips N.V. Projection data acquisition apparatus and subject support device
US10441234B2 (en) * 2017-06-15 2019-10-15 Shimadzu Corporation Radiation-phase-contrast imaging device
JP6838531B2 (ja) * 2017-09-06 2021-03-03 株式会社島津製作所 放射線位相差撮影装置
JP6743983B2 (ja) * 2017-10-31 2020-08-19 株式会社島津製作所 X線位相差撮像システム
JP7069670B2 (ja) 2017-12-04 2022-05-18 コニカミノルタ株式会社 X線撮影システム
JP6791405B2 (ja) 2017-12-26 2020-11-25 株式会社島津製作所 X線撮影装置
US11272894B2 (en) * 2018-06-15 2022-03-15 Shimadzu Corporation X-ray imaging device
JP7460577B2 (ja) 2020-06-03 2024-04-02 株式会社リガク X線画像生成装置
CN113250916B (zh) * 2021-06-29 2022-08-30 中国华能集团清洁能源技术研究院有限公司 一种基于光干涉的风机塔筒倾斜监测装置及方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011146587A (ja) * 2010-01-15 2011-07-28 Fujifilm Corp 放射線検出素子
JP2011153969A (ja) * 2010-01-28 2011-08-11 Canon Inc X線撮像装置、波面計測装置
US20130170618A1 (en) * 2010-09-03 2013-07-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. Differential phase-contrast imaging with improved sampling

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5812629A (en) * 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
JP2006334085A (ja) * 2005-06-01 2006-12-14 Shimadzu Corp 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法
JP5493852B2 (ja) * 2007-02-21 2014-05-14 コニカミノルタ株式会社 放射線画像撮影装置
WO2009101569A2 (en) * 2008-02-14 2009-08-20 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray detector for phase contrast imaging
JP5158699B2 (ja) 2008-02-20 2013-03-06 国立大学法人 東京大学 X線撮像装置、及び、これに用いるx線源
WO2010050032A1 (ja) * 2008-10-30 2010-05-06 株式会社島津製作所 放射線撮影装置
EP2442722B1 (en) * 2009-06-16 2017-03-29 Koninklijke Philips N.V. Correction method for differential phase contrast imaging
WO2011070488A1 (en) * 2009-12-10 2011-06-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Phase contrast imaging
CN102651998B (zh) * 2009-12-10 2015-08-05 皇家飞利浦电子股份有限公司 用于微分相衬成像的扫描系统
JP2011206113A (ja) * 2010-03-29 2011-10-20 Fujifilm Corp 放射線撮影システム
JP2012110472A (ja) * 2010-11-24 2012-06-14 Fujifilm Corp 放射線位相画像取得方法および放射線位相画像撮影装置
JP2012112882A (ja) * 2010-11-26 2012-06-14 Fujifilm Corp 放射線画像撮影用グリッド及びその製造方法、並びに放射線画像撮影システム
US9066704B2 (en) * 2011-03-14 2015-06-30 Canon Kabushiki Kaisha X-ray imaging apparatus
JP2013063099A (ja) * 2011-09-15 2013-04-11 Canon Inc X線撮像装置
JP2014090967A (ja) * 2012-11-06 2014-05-19 Canon Inc X線撮像装置
JP2014140632A (ja) * 2012-12-27 2014-08-07 Canon Inc 演算装置、画像取得方法、プログラム、及びx線撮像システム
CN105393331B (zh) * 2013-07-23 2017-03-22 皇家飞利浦有限公司 用于差分相衬成像装置的x射线管的阳极
US9874531B2 (en) * 2013-10-31 2018-01-23 Sigray, Inc. X-ray method for the measurement, characterization, and analysis of periodic structures
US9719947B2 (en) * 2013-10-31 2017-08-01 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
EP3066670B1 (en) * 2013-11-05 2017-06-28 Koninklijke Philips N.V. X-ray imaging device with fast spatial modulation of photon flux
CN106535767B (zh) * 2014-07-17 2020-05-01 皇家飞利浦有限公司 X射线成像设备
JP6688795B2 (ja) * 2014-11-24 2020-04-28 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェKoninklijke Philips N.V. X線位相コントラストトモシンセシス撮像に対する検出器及び撮像システム
JP6402780B2 (ja) * 2014-12-22 2018-10-10 株式会社島津製作所 放射線位相差撮影装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011146587A (ja) * 2010-01-15 2011-07-28 Fujifilm Corp 放射線検出素子
JP2011153969A (ja) * 2010-01-28 2011-08-11 Canon Inc X線撮像装置、波面計測装置
US20130170618A1 (en) * 2010-09-03 2013-07-04 Koninklijke Philips Electronics N.V. Differential phase-contrast imaging with improved sampling

Also Published As

Publication number Publication date
JP6402780B2 (ja) 2018-10-10
US10365235B2 (en) 2019-07-30
WO2016104008A1 (ja) 2016-06-30
CN107106101B (zh) 2020-04-24
CN107106101A (zh) 2017-08-29
US20170343486A1 (en) 2017-11-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6402780B2 (ja) 放射線位相差撮影装置
JP5398157B2 (ja) X線撮影装置及びその制御方法
JP2020180818A (ja) X線位相イメージング装置
JP5375655B2 (ja) 放射線撮影装置
JP2017526457A (ja) コンピュータ断層撮影法におけるスペクトル及び強度の格子変調のためのシステム及び方法
JP2005013738A (ja) トモシンセシス用途における対象物を走査するためのシステム及び方法
US9239304B2 (en) X-ray imaging apparatus
JP6881682B2 (ja) X線イメージング装置
JP6102582B2 (ja) X線撮影方法、x線撮影装置及びx線画像システム
WO2018061456A1 (ja) 放射線位相差撮影装置
JP6798408B2 (ja) X線位相イメージング装置
JP6424760B2 (ja) 放射線位相差撮影装置
KR101725495B1 (ko) 의료 영상의 해상도 향상 방법, 해상도 향상 장치, 해상도 향상 시스템, 프로그램 및 이를 저장한 기록매체
JP6680356B2 (ja) 放射線撮影装置
JP6783702B2 (ja) X線断層撮影装置
JP5723432B2 (ja) X線撮影装置及びその制御方法
JP6287813B2 (ja) 放射線位相差撮影装置
JP4443650B2 (ja) 放射線撮像装置
JP7131625B2 (ja) X線位相イメージング装置
WO2013051647A1 (ja) 放射線撮影装置及び画像処理方法
JP2016200410A (ja) 放射線検出器およびそれを備えた放射線撮影装置
JP4946927B2 (ja) X線断層撮影装置
JP5183988B2 (ja) 放射線ct装置
JP6732169B2 (ja) 放射線位相差撮影装置
JP5348247B2 (ja) 放射線撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170301

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170301

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180116

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180314

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180814

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180827

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6402780

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees