JP2017526457A - コンピュータ断層撮影法におけるスペクトル及び強度の格子変調のためのシステム及び方法 - Google Patents
コンピュータ断層撮影法におけるスペクトル及び強度の格子変調のためのシステム及び方法 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (20)
- 対象物のX線投影を生成するためのX線撮像システムであって、当該X線撮像システムは、
複数のX線ビームを形成する単一のX線源を有するX線デバイスと、
前記複数のX線ビーム内に位置付けされたフィルタと、
撮像すされるべき前記対象物が収容される対象物空間と、
複数の画素のアレイを含むX線検出器と
を含み、
前記X線デバイス、前記フィルタ、及び前記複数の画素は、少なくとも1つの画素が前記複数のX線ビームに露出されるように構成され、
特定の画素によって受け取られるX線放射は、前記フィルタによる同じスペクトル濾過を受け、
同じスペクトル濾過を受けるX線放射を受け取る画素は、画素サブセットに集約され、
少なくとも2つの画素サブセットが存在する、
X線撮像システム。 - 前記X線デバイスは、前記X線デバイスと前記フィルタとの間に位置付けられたコリメータを含み、当該コリメータは、前記X線源によって生成される前記複数のX線ビームを指向させる複数の開口を有する、請求項1に記載のX線撮像システム。
- 前記X線源は、X線放出区域を含み、当該X線放出区域は、前記複数のX線ビームが前記X線放出区域の1つ又は複数の顕著な強度最大値から発生するように空間的に変調されたX線強度プロファイルを有する、請求項1に記載のX線撮像システム。
- 前記複数の画素は、それらの間にX線の影響を受けない領域を有し、コリメータは複数の開口を有し、
前記X線撮像システム及び前記コリメータは、前記複数の画素間の前記X線の影響を受けない領域内でX線強度を低減させる、
請求項1乃至3の何れか一項に記載のX線撮像システム。 - 前記フィルタは、少なくとも2つの異なる材料を含む、請求項1乃至4の何れか一項に記載のX線撮像システム。
- 前記フィルタ材料の1つは空気である、請求項5に記載のX線撮像システム。
- 前記フィルタは、空間変調を持つ1つの材料を含む、請求項1乃至4の何れか一項に記載のX線撮像システム。
- 前記フィルタは、少なくとも2つの空間的に分離されたフィルタの組合せである、請求項1乃至7の何れか一項に記載のX線撮像システム。
- 前記フィルタは、空間的に交互のスペクトル濾過パターンを有する、請求項1乃至8の何れか一項に記載のX線撮像システム。
- 前記フィルタは、異なるスペクトル濾過を表す格子線を有する格子又はタイルのパターンである、請求項9に記載のX線撮像システム。
- 前記フィルタは交換可能であり、複数の異なるフィルタのセットから選択することができる、請求項1乃至10の何れか一項に記載のX線撮像システム。
- 前記X線検出器の前記画素のサブセットは、行、列、又はタイルの交差及び交互パターンを形成する、請求項1乃至11の何れか一項に記載のX線撮像システム。
- 前記X線検出器の画素のサブセットの前記交互パターンの行、列、又はタイルの最も小さい有効サイズは、1つの画素の有効サイズに対応する、請求項12に記載のX線撮像システム。
- 前記フィルタは、前記X線検出器の前記複数の画素の少なくとも1つの画素サブセットが、前記X線デバイスの前記X線源からのあらゆる直接X線放射から陰になるように、少なくとも1つの画素サブセットがX線を通さない濾過を表すように、構成される、請求項1乃至13の何れか一項に記載のX線撮像システム。
- 請求項14に記載のX線撮像システムの少なくとも1つの画素サブセットに対する散乱X線放射の強度を測定する方法であって、
前記X線デバイスを介して複数のX線ビームを生成するステップと、
1つ又は複数のフィルタ及びコリメータの組合せ並びに前記X線撮像システム内に含まれる対象物を通って前記複数のX線ビームを伝送するステップと、
前記X線デバイスからの直接X線放射を通さない濾過を表す前記少なくとも1つの画素サブセットに対する散乱X線強度を検出するステップと
を含む、方法。 - 請求項1乃至14に記載のX線撮像システムによってスペクトルの異なるX線投影の少なくとも2つのサブセットを含む少なくとも1つのX線投影データセットを生成する方法であって、
前記X線デバイスを介して複数のX線ビームを生成するステップと、
1つ又は複数のフィルタ及びコリメータの組合せ並びに前記X線撮像システム内に含まれる対象物を通って複数の前記X線ビームを伝送するステップと、
前記X線撮像システムの前記X線検出器を介して前記X線ビームを検出するステップと、
前記X線検出器の前記複数の画素の前記画素サブセットの取得したデータを、スペクトルの異なるX線投影のサブセットへ論理的に割り当てるステップと
を含む、方法。 - 散乱X線放射に対して補正された少なくとも1つのX線投影データセットを生成する方法であって、請求項15に記載の散乱X線放射の強度を測定する方法を使用するステップと、請求項16に記載の方法で生成された少なくとも1つのX線投影データセットを散乱X線放射に対して補正するステップとを含む、方法。
- 請求項16又は17に記載の方法によって生成された少なくとも1つのX線投影データセットを使用して対象物の化学的又は物理的情報を表す少なくとも1つの2Dデータセット又は少なくとも1つの3Dデータセットを生成する、方法。
- 少なくとも1つの2Dデータセット又は少なくとも1つの3Dデータセットの前記化学的又は物理的情報は、
ビーム減衰、質量密度、濃度、又はハンスフィールドユニットの単位における特定の化学元素又は化学組成の表現、
ビーム減衰、質量密度、濃度、又はハンスフィールドユニットの単位における特定の化学元素又は化学組成の組み合わせ、
ビーム減衰、質量密度、濃度、又はハンスフィールドユニットの単位における、別の特定の化学元素又は化学組成の組み合わせによって差し引かれた、特定の化学元素又は化学組成の組み合わせ、
特定の化学元素又は化学組成の組み合わせに対する特定の化学元素又は化学組成の1つの組み合わせのビーム減衰、質量密度、濃度、又はハンスフィールドユニットの単位の比率、
単色X線放射が撮像に使用された場合のように処理される対象物の表現、
のうちの1つである、請求項18に記載の方法。 - 請求項15乃至19の何れか一項に記載の方法を使用する、コンピュータ断層撮影システム。
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