JP6102582B2 - X線撮影方法、x線撮影装置及びx線画像システム - Google Patents
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Description
X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイが複数個配列されて構成されたX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置におけるX線撮影方法であって、
X線照射方向に見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置する配置工程と、
前記X線源により前記被写体にX線を照射してX線撮影を行う撮影工程と、
を含む。
前記配置工程において、X線照射方向から見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置することが不可能な場合は、前記接合部のうち、少なくとも前記第1格子及び前記第2格子のスリット周期方向と直交する方向に延在する接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置する。
X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイが複数個配列されて構成されたX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置であって、
前記X線撮影装置において、前記被写体台には、前記被写体の関心領域を載置するための関心領域載置部が設けられ、X線照射方向に見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と、前記関心領域載置部とが重ならないように配置されている。
前記被写体台には、更に、前記関心領域載置部よりも大きい関心領域を載置するための第2の関心領域載置部が設けられ、X線照射方向に見て、前記接合部のうち、少なくとも前記第1格子及び前記第2格子のスリット周期方向と直交する方向に延在する接合部と、前記第2の関心領域載置部とが重ならないように配置されている。
請求項3又は4に記載のX線撮影装置と、
前記X線撮影装置により得られた画像の前記接合部に対応する画素の信号値を当該画素の周辺画素の信号値を用いて補正する補正手段と、を有する。
X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイが複数個配列されて構成されたX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置であって、
前記X線源と前記X線検出器を用いて、本番の撮影前に前記被写体をプレ撮影し、得られた画像を解析して前記被写体の関心領域の位置を特定し、この特定された関心領域の位置に基づいて、X線照射方向に見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体の関心領域とが重ならないように前記X線検出器又は前記被写体台を配置する制御部と、
を備える。
前記制御部は、X線照射方向から見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置することが不可能な場合は、前記接合部のうち、少なくとも前記第1格子及び前記第2格子のスリット周期方向と直交する方向に延在する接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように前記X線検出器又は前記被写体台を配置する。
X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイを有するX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置であって、
前記放射線検出素子アレイ内には、複数の信号線を束ねて構成された信号線部が配設されており、前記信号線部の方向と、前記第1格子及び前記第2格子のスリット周期方向と直交する方向とが一致しないように配置されている。
請求項8に記載のX線撮影装置と、
前記X線撮影装置により得られた画像の前記信号線部に隣接する画素の信号値を当該画素の周辺画素の信号値を用いて補正する補正手段と、
を備える。
<X線画像システムの構成>
図1に、本実施形態に係るX線画像システムを示す。X線画像システムは、X線撮影装置1とコントローラー5を備える。X線撮影装置1はタルボ・ロー干渉計によるX線撮影を行い、コントローラー5は当該X線撮影により得られたモアレ画像を用いて被写体の再構成画像を作成する。
X線撮影装置1は縦型であり、X線源11、マルチスリット12、被写体台13、第1格子14、第2格子15、X線検出器16は、この順序に重力方向であるz方向に配置される。X線源11の焦点とマルチスリット12間の距離をd1(mm)、X線源11の焦点とX線検出器16間の距離をd2(mm)、マルチスリット12と第1格子14間の距離をd3(mm)、第1格子14と第2格子15間の距離をd4(mm)で表す。
距離d2は、一般的に撮影室の高さは3(m)程度又はそれ以下であることから、少なくとも3000(mm)以下であることが好ましい。なかでも、距離d2は400〜3000(mm)が好ましく、さらに好ましくは500〜2000(mm)である。
X線源11の焦点と第1格子14間の距離(d1+d3)は、好ましくは300〜3000(mm)であり、さらに好ましくは400〜1800(mm)である。
X線源11の焦点と第2格子15間の距離(d1+d3+d4)は、好ましくは400〜3000(mm)であり、さらに好ましくは500〜2000(mm)である。
それぞれの距離は、X線源11から照射されるX線の波長から、第2格子15上に第1格子14による格子像(自己像)が重なる最適な距離を算出し、設定すればよい。
X線源11は、緩衝部材17aを介して保持されている。緩衝部材17aは、衝撃や振動を吸収できる材料であれば何れの材料を用いてもよいが、例えばエラストマー等が挙げられる。X線源11はX線の照射によって発熱するため、X線源11側の緩衝部材17aは加えて断熱素材であることが好ましい。
X線の焦点径は、0.03〜3(mm)が好ましく、さらに好ましくは0.1〜1(mm)である。
マルチスリット12のスリット周期をw0(μm)、第1格子14のスリット周期をw1(μm)とすると、スリット周期w0は下記式により求めることができる。
w0=w1・(d3+d4)/d4
当該式を満たすように周期w0を決定することにより、マルチスリット12及び第1格子14の各スリットを通過したX線により形成される自己像が、それぞれ第2格子15上で重なり合い、いわばピントが合った状態とすることができる。
または、被写体台13の上面に、図4に示すように、関心領域載置部131、132の領域を示すマーカーを設けることとしてもよい。
d4=(m+1/2)・w1 2/λ
なお、mは整数であり、λはX線の波長である。
X線源11のX線管の焦点径;300(μm)、管電圧:40(kVp)、付加フィルター:アルミ1.6(mm)
X線源11の焦点からマルチスリット12までの距離d1 : 240(mm)
マルチスリット12から第1格子14までの距離d3 :1110(mm)
マルチスリット12から第2格子15までの距離d3+d4:1370(mm)
マルチスリット12のサイズ:10(mm四方)、スリット周期:22.8(μm)
第1格子14のサイズ:50(mm四方)、スリット周期:4.3(μm)
第2格子15のサイズ:50(mm四方)、スリット周期:5.3(μm)
X線検出器16の画素サイズは10〜300(μm)であり、さらに好ましくは50〜200(μm)である。
X線検出器16における第1格子14及び第2格子15のスリット周期方向(x方向)と平行な接合部を接合部161、第1格子14及び第2格子15のスリット周期方向と直交する接合部を接合部162とする。
図6Bに、X線照射方向から見て、指関節の軟骨と関節液の境界部が接合部161に重なるように配置して(図7Bに示すように配置して)指関節を撮影することにより得られた微分位相画像の一例を示す。
図6Cに、X線照射方向から見て、指関節の軟骨と関節液の境界部が接合部162に重なるように配置して(図7Cに示すように配置して)指関節を撮影することにより得られた微分位相画像の一例を示す。
図6Dに、X線照射方向から見て、指関節の軟骨と関節液の境界部が接合部161と接合部162とが交わる十字部に重なるように配置して(図7Dに示すように配置して)指関節を撮影することにより得られた微分位相画像の一例を示す。
図7Bに示すように、関心領域載置部131と接合部161とが重なって配置されている場合、撮影により得られる微分位相画像の関心領域において、接合部161に重なる部分の被写体の画像情報が欠落する。ただし、図6Bに示すように、この配置の場合、線状の微細な関心領域に直交する方向に画像情報の欠落が生じるため、関心領域についての情報の欠落は少なく、関心領域の欠落した信号値を周囲画素の信号値により推測することは可能である。
図7Cに示すように、関心領域載置部131と接合部162とが重なって配置されている場合、撮影により得られる微分位相画像の関心領域において、接合部162に重なる部分の画像情報が欠落する。この配置の場合、図6Cに示すように、線状の微細な関心領域に沿って広い範囲で画像情報の欠落が生じるため、欠落した関心領域の信号値を周囲画素の信号値により精度良く推測することは不可能である。特に、図7Dに示すように、関心領域載置部131と、接合部161と接合部162が交わる十字部とが重なって配置されている場合、十字部の上下左右の画素の画像情報が欠落してしまうため、十字部の信号の再現は不可能である。
制御部181は、CPU(Central Processing Unit)やRAM(Random Access Memory)等から構成され、記憶部185に記憶されているプログラムとの協働により、各種処理を実行する。制御部181は、X線源11、駆動部12a、駆動部18a、X線検出器16等の各部に接続されており、例えば、コントローラー5から入力される撮影条件の設定情報に従って、X線源11からのX線照射のタイミングやX線検出器16による画像信号の読取タイミング等を制御する。
表示部183は制御部181の表示制御に従って、ディスプレイに操作画面やX線撮影装置1の動作状況等を表示する。
記憶部185は、制御部181により実行されるプログラム、プログラムの実行に必要なデータを記憶している。また、記憶部185はX線検出器16によって得られたモアレ画像を記憶する。
制御部51は、CPU(Central Processing Unit)やRAM(Random Access Memory
)等から構成され、記憶部55に記憶されているプログラムとの協働により、後述する再構成画像作成処理をはじめとする各種処理を実行する。
また、記憶部55は、X線検出器16に対応するゲイン補正データ、欠陥画素マップ等を予め記憶する。欠陥画素マップは、X線検出器16の欠陥画素(画素がないものも含む)の位置情報(座標)である。欠陥画素マップには、接合部161、162の位置が欠陥画素の位置として設定されている。
X線撮影装置1においては、通信部184によりコントローラー5から撮影条件の設定情報等が受信されると、X線撮影準備が実行される。
上記X線撮影装置1のタルボ・ロー干渉計によるX線撮影方法を説明する。
図10に示すように、X線源11から照射されたX線が第1格子14を透過すると、透過したX線がz方向に一定の間隔で像を結ぶ。この像を自己像といい、自己像が形成される現象をタルボ効果という。自己像を結ぶ位置に第2格子15が自己像と概ね平行に配置され、第2格子15を透過したX線によりモアレ画像(図10においてMで示す)が得られる。X線源11と第1格子14間に被写体(図10においてHで示す)が存在すると、被写体によってX線の位相がずれるため、図10に示すようにモアレ画像上のモアレ縞は被写体の辺縁を境界に乱れる。このモアレ縞の乱れを、モアレ画像を処理することによって検出し、被写体像を画像化することができる。これがタルボ干渉計の原理である。
被写体の関心領域が関心領域載置部131に収まるサイズであると判断した場合(ステップS1;YES)、オペレーターは、被写体の関心領域を関心領域載置部131に載置することにより、X線照射方向から見て、被写体の関心領域とX線検出器16の接合部161及び162とが重ならないように被写体台13に被写体を配置する(ステップS2)。
被写体の関心領域が関心領域載置部131に収まるサイズではないと判断した場合(ステップS1;NO)、オペレーターは、被写体の関心領域を関心領域載置部132に載置することにより、X線照射方向から見て、被写体の関心領域と、少なくともX線検出器16の接合部162とが重ならないように被写体台13に被写体を配置する(ステップS3)。
例えば、マルチスリット12のスリット周期を22.8(μm)とし、5ステップの撮影を10秒で行うとする。マルチスリット12がそのスリット周期の1/5に該当する4.56(μm)移動し停止する毎に撮影が行われる。撮影時間でいえば曝射スイッチON後、2、4、6、8、10秒後にそれぞれ撮影が行われる。
図12は、制御部51により実行される再構成画像作成処理の流れを示すフローチャートである。
図12に示すように、まずモアレ画像の解析が行われ(ステップS11)、再構成画像の作成に使用できるか否かが判断される(ステップS12)。理想的な送り精度によりマルチスリット12を一定の送り量で移動できた場合、図13に示すように、5ステップの撮影でマルチスリット12のスリット周期1周期分のモアレ画像5枚が得られる。各ステップのモアレ画像は0.2周期という一定周期間隔毎に縞走査をした結果であるので、各モアレ画像の任意の1画素に注目すると、その信号値を正規化して得られるX線相対強度は、図14に示すようにサインカーブを描く。よって、コントローラー5は得られた各ステップのモアレ画像のある画素に注目してX線相対強度を求める。各モアレ画像から求められたX線相対強度が、図14に示すようなサインカーブを形成すれば、一定周期間隔のモアレ画像が得られているので、再構成画像の作成に使用できると判断することができる。
まず、補正後の被写体有りのモアレ画像に基づいて、被写体有りの3種類の再構成画像(吸収画像、微分位相画像、小角散乱画像)が生成される。また、補正後の被写体無しのモアレ画像に基づいて、被写体無しの3種類の再構成画像(吸収画像、微分位相画像、小角散乱画像)が生成される。
具体的には、複数のモアレ画像のモアレ縞を加算することにより吸収画像が生成される。また、縞走査法の原理を用いてモアレ縞の位相が計算され、微分位相画像が生成される。また、縞走査法の原理を用いてモアレ縞のVisibilityが計算され(Visibility=振幅÷平均値)、小角散乱画像が生成される。
そして、生成された被写体有りの再構成画像に対し、同種の被写体無しの再構成画像を用いて(例えば、被写体有りの微分位相画像に対し、被写体無しの微分位相画像を用いて)、モアレ縞の位相の除去と、画像ムラを除去するための補正処理が行われ、最終的な診断用の3種類の再構成画像が生成される。
従って、放射線検出素子アレイ16a〜16dの接合部161、162に被写体の関心領域が重なって撮影されることにより関心領域の画像情報が欠落してしまうことを防ぐことができ、撮影時に放射線検出素子アレイの接合部と関心領域とが重なることによる診断画像への影響を抑制することができる。
従って、線状の微細な構造の関心領域の場合に、関心領域の広い範囲が接合部と重なってしまうことを防止することができるので、診断画像への影響を低減することができる。
<X線画像システムの構成>
次に、本発明に係る第2の実施形態について説明する。
図15に、第2の実施形態のX線画像システムの全体構成例を示す。図15に示すように、第2の実施形態におけるX線画像システムは、X線撮影装置2と、コントローラー5とを備える。
X線撮影装置2は、X線撮影装置1と略同様の構成をもつ、タルボ・ロー干渉計によるX線撮影を行う装置である。X線撮影装置2は、図15に示すように、X線検出器16をx方向に駆動するための駆動部16e、X線検出器16をy方向に駆動するための駆動部16fが設けられている。駆動部16e、16fの駆動方式は、ボールねじ方式、リニアモーター方式等いずれの方式でもよい。駆動部16e、16fは、制御部181に接続されており、制御部181からの制御に従ってX線検出器16を移動させる。
なお、X線撮影装置2の被写体台13には、関心領域載置部131、関心領域載置部132は特に設けられていない。
X線撮影装置2のその他の構成は、第1の実施形態で説明したX線撮影装置1と同じであるので、同一の構成については同一の符号を付し、その説明は援用する。また、コントローラー5の構成は、第1の実施形態で説明したものと同じであるので、同一の構成については同一の符号を付し、その説明は援用する。
以下、第2の実施形態におけるX線画像システムにおける動作について説明する。
図16は、X線撮影装置2の制御部181において実行される撮影制御処理の流れを示すフローチャートである。
従って、放射線検出素子アレイ16a〜16dの接合部161、162に被写体の関心領域が重なって撮影されることにより関心領域の画像情報が欠落してしまうことを防ぐことができ、撮影時に放射線検出素子アレイの接合部と関心領域とが重なることによる診断画像への影響を抑制することができる。
従って、線状の微細な構造の関心領域の場合に、関心領域の広い範囲が接合部と重なってしまうことを防止することができるので、診断画像への影響を低減することができる。
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。
図17に、第3の実施形態のX線画像システムの全体構成例を示す。図17に示すように、第3の実施形態におけるX線画像システムは、X線撮影装置3と、コントローラー5とを備える。
X線撮影装置3は、X線撮影装置1と略同様の構成をもつ、タルボ・ロー干渉計によるX線撮影を行う装置である。X線撮影装置3は、図17に示すように、X線検出器19を備えて構成されている。
X線撮影装置3のその他の構成は、第1の実施形態で説明したX線撮影装置1と同じであるので、同一の構成については同一の符号を付し、その説明は援用する。また、コントローラー5のその他の構成は、第1の実施形態で説明したものと同じであるので、同一の構成については同一の符号を付し、その説明は援用する。
そこで、関心領域と信号線部とが広い範囲で重なることによる診断画像への影響を抑制するため、X線検出器19は、信号線部L1〜Lnの方向と、第1格子14及び第2格子15のスリット周期方向と直交する方向とが一致しないように(本実施形態では、信号線部の方向と第1格子14及び第2格子15のスリット周期方向とが平行となるように)配置されている。
従って、関心領域の広い範囲が信号線部L1〜Lnと重なることによる診断画像への影響を低減することができる。
次に、本発明の第4の実施形態について説明する。
第4の実施形態のX線画像システムの全体構成例は、図1に示す第1の実施形態のX線撮影装置1と同様であり、X線検出器の構造のみが異なる。
図20は、第4の実施形態におけるX線検出器16Aの上面を模式的に示した図である。図20に示すように、X線検出器16Aは、図5に示した第1の実施形態のX線検出器16と同様に、放射線検出素子アレイ16a〜16dが接合されて構成されている。X線検出器16Aは、X線照射方向からみて、X線検出器16Aにおける第1格子14及び第2格子15のスリット周期方向と平行な接合部161、及び第1格子14及び第2格子15のスリット周期方向と直交する接合部162が関心領域載置部131に重ならないように配置されている。また、接合部162は、関心領域載置部132に重ならないように配置されている。その理由と効果は、第1の実施形態で説明したものと同様である。
そこで、関心領域と信号線部とが広い範囲で重なることによる診断画像への影響を抑制するため、X線検出器19は、信号線部L1a〜Lna、L1b〜Lnb、L1c〜Lnc、L1d〜Lndの方向と、第1格子14及び第2格子15のスリット周期方向と直交する方向とが一致しないように(本実施形態では、信号線部の方向と第1格子14及び第2格子15のスリット周期方向とが平行となるように)配置されている。
従って、第1の実施形態と同様の効果を奏するとともに、関心領域の広い範囲が信号線部と重なることによる診断画像への影響を低減することができる。
例えば、上記実施形態では、マルチスリット12を第1格子14及び第2格子15に対して移動させる方式のタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置を例にとり説明したが、本発明は、タルボ干渉計を用いたX線撮影装置、及び第1格子14及び/又は第2格子15を移動させる方式のタルボ・ロー干渉計においても適用可能である。
11 X線源
12 マルチスリット
12a 駆動部
13 被写体台
14 第1格子
15 第2格子
16 X線検出器
17 保持部
17a 緩衝部材
18 本体部
181 制御部
182 操作部
183 表示部
184 通信部
185 記憶部
5 コントローラー
51 制御部
52 操作部
53 表示部
54 通信部
55 記憶部
2、3 X線撮影装置
16A、19 X線検出器
Claims (9)
- X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイが複数個配列されて構成されたX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置におけるX線撮影方法であって、
X線照射方向に見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置する配置工程と、
前記X線源により前記被写体にX線を照射してX線撮影を行う撮影工程と、
を含むX線撮影方法。 - 前記配置工程において、X線照射方向から見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置することが不可能な場合は、前記接合部のうち、少なくとも前記第1格子及び前記第2格子のスリット周期方向と直交する方向に延在する接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置する請求項1に記載のX線撮影方法。
- X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイが複数個配列されて構成されたX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置であって、
前記X線撮影装置において、前記被写体台には、前記被写体の関心領域を載置するための関心領域載置部が設けられ、X線照射方向に見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と、前記関心領域載置部とが重ならないように配置されているX線撮影装置。 - 前記被写体台には、更に、前記関心領域載置部よりも大きい関心領域を載置するための第2の関心領域載置部が設けられ、X線照射方向に見て、前記接合部のうち、少なくとも前記第1格子及び前記第2格子のスリット周期方向と直交する方向に延在する接合部と、前記第2の関心領域載置部とが重ならないように配置されている請求項3に記載のX線撮影装置。
- 請求項3又は4に記載のX線撮影装置と、
前記X線撮影装置により得られた画像の前記接合部に対応する画素の信号値を当該画素の周辺画素の信号値を用いて補正する補正手段と、を有するX線画像システム。 - X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイが複数個配列されて構成されたX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置であって、
前記X線源と前記X線検出器を用いて、本番の撮影前に前記被写体をプレ撮影し、得られた画像を解析して前記被写体の関心領域の位置を特定し、この特定された関心領域の位置に基づいて、X線照射方向に見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体の関心領域とが重ならないように前記X線検出器又は前記被写体台を配置する制御部と、
を備えるX線撮影装置。 - 前記制御部は、X線照射方向から見て、前記X線検出器における前記放射線検出素子アレイの接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように配置することが不可能な場合は、前記接合部のうち、少なくとも前記第1格子及び前記第2格子のスリット周期方向と直交する方向に延在する接合部と前記被写体台上の被写体の関心領域とが重ならないように前記X線検出器又は前記被写体台を配置する請求項6に記載のX線撮影装置。
- X線を照射するX線源と、
複数のスリットを有する第1格子及び第2格子と、
被写体を載置するための被写体台と、
照射されたX線に応じて電気信号を生成する放射線検出素子が2次元状に配置された放射線検出素子アレイを有するX線検出器と、
を備えるタルボ干渉計またはタルボ・ロー干渉計を用いたX線撮影装置であって、
前記放射線検出素子アレイ内には、複数の信号線を束ねて構成された信号線部が配設されており、前記信号線部の方向と、前記第1格子及び前記第2格子のスリット周期方向と直交する方向とが一致しないように配置されているX線撮影装置。 - 請求項8に記載のX線撮影装置と、
前記X線撮影装置により得られた画像の前記信号線部に隣接する画素の信号値を当該画素の周辺画素の信号値を用いて補正する補正手段と、
を備えるX線画像システム。
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