JPWO2016017108A1 - 膜厚センサの診断方法および膜厚モニタ - Google Patents
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Abstract
Description
例えば、金属膜の場合では、着膜量の増加に伴って、水晶振動子の発振周波数が徐々に低下し、所定の周波数に達すると突然、発振周波数が大きく変化する。したがって発振周波数の急変を確認するまでは比較的安定に膜厚を測定することができるため、発振周波数の急変が生じた段階で当該水晶振動子を使用できない状態(すなわち寿命)であると判断することができる。
これに対して有機膜の場合には、着膜量の増加に伴って、水晶振動子の発振周波数が低下すると同時に、もはや安定した膜厚測定を行うことができないほどに周波数の変動が大きくなる。したがって有機膜を成膜する場合は、金属膜を成膜する場合と比較して、測定可能な膜厚量が非常に少ない。このため、安定した成膜処理を実施する上では、水晶振動子の適正な寿命判定が不可欠となる。
上記水晶振動子の発振周波数の変化率の変動幅が測定される。
上記変動幅が所定値を超えるときは、上記水晶振動子は使用できないと判定される。
上記センサヘッドは、第1および第2の水晶振動子を支持するホルダと、上記ホルダを回転可能に収容するケーシングとを有する。
上記測定ユニットは、上記第1および第2の水晶振動子の発振周波数の変化率の変動幅を各々測定し、前記変動幅が所定値を超える水晶振動子を使用できないと判定するように構成される。
これにより、膜厚測定用の振動子を、第1の水晶振動子から第2の水晶振動子へ自動的に切り替えることができる。
図1は、本発明の一実施形態に係る成膜装置を示す概略断面図である。本実施形態の成膜装置10は、真空蒸着装置として構成される。
図2は、測定ユニット17の一構成例を示す概略ブロック図である。測定ユニット17は、発振回路41と、測定回路42と、コントローラ43とを有する。
ところで、この種の膜厚センサは、有機膜を成膜する場合、着膜量の増加に伴って、水晶振動子の発振周波数が徐々に低下すると同時に、もはや安定した膜厚測定を行うことができないほどに周波数の変動が大きくなる。したがって有機膜を成膜する場合は、金属膜を成膜する場合と比較して、測定可能な膜厚量が非常に少ない。このため、安定した成膜処理を実施する上では、水晶振動子の適正な寿命判定が不可欠となる。
続いて、本発明の他の実施形態について説明する。以下、第1の実施形態と異なる構成について主に説明し、上述の実施形態と同様の構成については同様の符号を付しその説明を省略または簡略化する。
11…真空チャンバ
12…蒸着源
13…ステージ
14,140…膜厚センサ
17…測定ユニット
18…電源ユニット
20,201〜212…水晶振動子
43…コントローラ
100…膜厚モニタ
141…ホルダ
142…ケーシング
143…窓部
144…電極ユニット
Claims (8)
- 水晶振動子を有する膜厚センサの診断方法であって、
センサヘッドに装着された水晶振動子を発振させ、
前記水晶振動子の発振周波数の変化率の変動幅を測定し、
前記変動幅が所定値を超えるときは、前記水晶振動子を使用できないと判定する
膜厚センサの診断方法。 - 請求項1に記載の膜厚センサの診断方法であって、
前記変動幅を、成膜時に測定する
膜厚センサの診断方法。 - 請求項1に記載の膜厚センサの診断方法であって、
前記変動幅を、非成膜時に測定する
膜厚センサの診断方法。 - 請求項1から3のいずれか1つに記載の膜厚センサの診断方法であって、
前記変動幅を測定する工程では、一定期間における前記発振周波数の変化率の変動幅の標準偏差が測定される
膜厚センサの診断方法。 - 請求項1〜4のいずれか1つに記載の膜厚センサの診断方法であって、
前記水晶振動子の使用可否の判定を、有機膜の成膜のときに実行する
膜厚センサの診断方法。 - 第1および第2の水晶振動子を支持するホルダと、前記ホルダを回転可能に収容するケーシングとを有するセンサヘッドと、
前記第1および第2の水晶振動子の発振周波数の変化率の変動幅を各々測定し、前記変動幅が所定値を超える水晶振動子を使用できないと判定する測定ユニットと
を具備する膜厚モニタ。 - 請求項6に記載の膜厚モニタであって、
前記ケーシングは、前記第1の水晶振動子に対向して形成され蒸着物質が通過可能な窓部をさらに有し、
前記測定ユニットは、前記第1の水晶振動子を使用できないと判定したときは、前記第2の水晶振動子が前記窓部に対向する位置に前記ホルダを回転させる
膜厚モニタ。 - 請求項6または7に記載の膜厚モニタであって、
前記測定ユニットは、前記変動幅を成膜時または非成膜時に測定する
膜厚モニタ。
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