JPWO2015170509A1 - 磁気検出装置およびその製造方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 116
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 25
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 127
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 claims abstract description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 38
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 28
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 15
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 15
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 10
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 9
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 8
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 27
- 230000005389 magnetism Effects 0.000 description 15
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 11
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 10
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 9
- 230000008859 change Effects 0.000 description 9
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 8
- 229910000889 permalloy Inorganic materials 0.000 description 7
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 5
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910008423 Si—B Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910003271 Ni-Fe Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000002500 effect on skin Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000032261 response to magnetism Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 229910000702 sendust Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/06—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
- G01R33/063—Magneto-impedance sensors; Nanocristallin sensors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/0017—Means for compensating offset magnetic fields or the magnetic flux to be measured; Means for generating calibration magnetic fields
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10B—ELECTRONIC MEMORY DEVICES
- H10B61/00—Magnetic memory devices, e.g. magnetoresistive RAM [MRAM] devices
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/01—Manufacture or treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/80—Constructional details
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one galvanomagnetic or Hall-effect element covered by groups H10N50/00 - H10N52/00
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C17/00—Compasses; Devices for ascertaining true or magnetic north for navigation or surveying purposes
- G01C17/02—Magnetic compasses
- G01C17/28—Electromagnetic compasses
- G01C17/30—Earth-inductor compasses
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/0023—Electronic aspects, e.g. circuits for stimulation, evaluation, control; Treating the measured signals; calibration
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/0052—Manufacturing aspects; Manufacturing of single devices, i.e. of semiconductor magnetic sensor chips
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/0206—Three-component magnetometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/028—Electrodynamic magnetometers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geology (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
Description
(1)すなわち本発明の磁気検出装置は、基板と、該基板の一面側に配設され、延在する第1軸方向の外部磁場成分に感応する第1感磁ワイヤーと該第1感磁ワイヤーを周回する第1検出コイルとからなる第1マグネトインピーダンス素子(「MI素子」という。)と、を備える磁気検出装置であって、前記第1検出コイルは、前記第1感磁ワイヤーに沿って並存する左側コイル部と右側コイル部とからなり、さらに、該左側コイル部と該右側コイル部に関して対称的な位置上で前記基板の他面側または該基板内に少なくとも一部が配設されて、該基板に交差する第3軸方向の外部磁場成分を該第1軸方向の測定磁場成分へ変向し得る軟磁性材からなる磁場変向体を備え、該左側コイル部から得られる左側出力と該右側コイル部から得られる右側出力とに基づいて該第3軸方向の外部磁場成分が検出され得ることを特徴とする。
本発明の磁気検出装置は、種々の製造方法により得ることができるが、次のような本発明の製造方法によれば、効率的に生産することが可能となる。すなわち、基板と、該基板の一面側に配設され、延在する一軸方向の外部磁場成分に感応する感磁ワイヤーと該感磁ワイヤーを周回する検出コイルとからなるMI素子と、該検出コイルの中間上で該基板の他面側または該基板内に少なくとも一部が配設されて、該基板に交差する他軸方向の外部磁場成分を該一軸方向の成分を有する測定磁場へ変向し得る軟磁性材からなる磁場変向体とを備える磁気検出装置の製造方法であって、複数の前記基板となり得る分割前のベース基板と該ベース基板の一面側に実装された複数の前記MI素子と該MI素子の位置に対応して該ベース基板の他面側または該ベース基板内に配設された複数の前記磁場変向体とからなる合体ベース基板を、複数の前記磁気検出装置に分割する分割工程を備えることを特徴とする磁気検出装置の製造方法を用いると好適である。
(1)本明細書でいう「検出コイル」は、ワイヤーを実際に巻回したものでもよいが、フォトリソグラフィ等により形成された配線パターンより構成されたものであると、磁気検出装置のさらなる薄型化、小型化等を図れて好ましい。また、本発明に係る検出コイルは、左側コイル部と右側コイル部を有すれば足り、他の検出コイルの有無は問わない。左側コイル部と右側コイル部の巻数、コイルの巻径等の出力電圧の大きさに影響する仕様は、異なっていてもよいが、同一であると、磁場変向体が左側コイルと右側コイルの中央に配設された場合には、2つのコイルの出力の絶対値が等しくなるため、上述した演算が容易となって好ましい。また磁場変向体が配設される位置も、一つの検出コイル内であればよいが、左側コイル部と右側コイル部の中央でかつ基板に垂直な方向上にあれば、その演算が容易となって好ましい。
本発明に係るMI素子は、外部磁場(磁界)などの磁気に感応してインピーダンス変化や磁束量変化を生じ得る感磁ワイヤーと、その感磁ワイヤーの変化量を検出する検出手段である検出コイルを有する。感磁ワイヤーは、例えば、軟磁性材からなる相応な長さを有するワイヤー(線材)または薄膜からなる。特に感度やコスト等の点で、感磁ワイヤーは零磁歪のアモルファスワイヤーが好ましい。このアモルファスワイヤーは、例えば、Co−Fe−Si−B系合金からなる直径1〜30μmのワイヤーであり、特許第4650591号公報等に詳細が記載されている。
磁場変向体は、感磁ワイヤーが配設された基板に交差する他軸方向の磁気成分を、感磁ワイヤーの延在方向(一軸方向)へ変向し得るものである限り、その形態は問わない。磁場変向体は、例えば、柱状(円柱状、角柱状等)、筒状、板状等、MI素子の数や配置に応じて種々の形態をとり得る。なお、同一基板上に複数のMI素子が実装される場合に、各MI素子毎に分離独立した磁場変向体が配設されてもよいし、各MI素子の配置に対応した一体化した磁場変向体が配設されてもよい。
[装置概要]
本発明の磁気検出装置に係る一実施例であるMIセンサ1の平面図を図1Aに示した。また、その図1A中に示したA−A線における部分断面図を図1Bに示した。
MI素子M1の周囲に生じる外部磁場の磁束線(磁力線)は、集磁ヨークF1によって各方向へ変向され得る。特に、外部磁場のZ成分(回路基板Sに直交する方向成分)の磁束線は、集磁ヨークF1によって、図5に示すように大きく変向される。もっとも、集磁ヨークF1は、MI素子M1の対称な左側コイル部C11と右側コイル部C12の中央に配置されているため、外部磁場の変向により各コイル部に現れる出力への影響も対称的となる。
MIセンサ1の各製造工程を図6〜図8に示した。先ず、図6に示すように、シリコンウェハーに上述したパルス発振回路、信号処理回路、演算回路からなる集積回路を多数形成したベース基板SB0を用意する(工程P11)。このベース基板SB0の一面側の所定位置に多数のMI素子Mをフリップチップにより実装する(工程P12)。フォトリソグラフィにより、そのベース基板SB0上に、集積回路用電源供給及び通信入出力用のCuポストQを形成し(工程P13)、その表面を絶縁樹脂RB1で被覆充填した後(工程P14)、さらに外部回路との接続用バンプBを形成する(工程P15)。最後に、ベース基板SB0の他面側を研磨(バックグラインド)して実装ベース基板SB1を得る(工程P16)。
第1実施例の集磁ヨークF1の形状を変向した集磁ヨークFWを配置したMIセンサ2を図9に示した。なお、第1実施例の場合と同様な構成には、同符号を付してそれに関する説明を以下省略する。他の実施例についても同様である。
集磁ヨークF1を小型化した集磁ヨークFsを、回路基板SのMI素子M1側の両端付近に配置したMIセンサ3を図10に示した。このように集磁ヨークF1(主磁場変向体)と集磁ヨークFs(補助磁場変向体)を配置することにより、回路基板Sに交差する磁束線の収束や変向をより制御し易くなる。
集磁ヨークF1を小型化した二つの集磁ヨークFs1、Fs2を、MI素子Mdの中間に均等に配置したMIセンサ4を図11Aに示した。MIセンサ4の検出コイルCdは、2ユニットに分割された分割コイル部Cd1、Cd2からなる。分割コイル部Cd1は左側分割コイル部Cd11と右側分割コイル部Cd12からなり、分割コイル部Cd2は左側分割コイル部Cd21と右側分割コイル部Cd22からなる。集磁ヨークFs1は分割コイル部Cd1の中央、つまり左側分割コイル部Cd11と右側分割コイル部Cd12の間に配設され、集磁ヨークFs2は分割コイル部Cd2の中央、つまり左側分割コイル部Cd21と右側分割コイル部Cd22の間に配設される。MIセンサ4によれば、その小型化を図りつつ、外部磁場のZ成分を高感度に検出できる。なお、本実施例では、左側分割コイル部Cd11と左側分割コイル部Cd21、右側分割コイル部Cd12と右側分割コイル部Cd22が、それぞれ同極性(巻回方向)となるように接続されている場合を一例として示したが、それら4つの各コイル部はそれぞれ独立したものでもよい。
MIセンサ4に対して、検出コイルを2分割から7分割の分割コイル部Cd1〜Cd7とし、集磁ヨークを7つの集磁ヨークFs1〜Fs7として、さらなる小型化・薄型化を図ったMIセンサ5を図12Aおよび図12Bに示した。
(1)上述した回路基板Sを、集磁ヨークFiを内蔵した内蔵回路基板S2(本発明でいう「基板」に相当する。)に変更したMIセンサ6を図13に示した。集磁ヨークFiも、集磁ヨークF1等と同様に、パーマロイ合金からなり、大径円板状の拡大部Fi1と、その拡大部Fi1から延在する円柱状の縮小部Fi2とを有する。集磁ヨークFiの作用効果およびMIセンサ6の作動は、MIセンサ1の場合と同様である。
M1 MI素子
W1 感磁ワイヤー
C1 検出コイル
C11 左側コイル部
C12 右側コイル部
F1 集磁ヨーク(磁場変向体)
S 回路基板(基板)
(1)すなわち本発明の磁気検出装置は、基板と、該基板の一面側に配設され、延在する第1軸方向の外部磁場成分に感応する第1感磁ワイヤーと該第1感磁ワイヤーを周回する第1検出コイルとからなる第1マグネトインピーダンス素子(「MI素子」という。)と、を備える磁気検出装置であって、前記第1検出コイルは、1本の連続した前記第1感磁ワイヤーに沿って並存する左側コイル部と右側コイル部とからなり、さらに、該左側コイル部と該右側コイル部に関して対称的な位置上で前記基板の他面側または該基板内に少なくとも一部が配設されて、該基板に交差する第3軸方向の外部磁場成分を該第1軸方向の測定磁場成分へ変向し得る軟磁性材からなる磁場変向体を備え、該左側コイル部から得られる左側出力と該右側コイル部から得られる右側出力とに基づいて該第3軸方向の外部磁場成分が検出され得ることを特徴とする。
Claims (13)
- 基板と、
該基板の一面側に配設され、延在する第1軸方向の外部磁場成分に感応する第1感磁ワイヤーと該第1感磁ワイヤーを周回する第1検出コイルとからなる第1マグネトインピーダンス素子(「MI素子」という。)と、
を備える磁気検出装置であって、
前記第1検出コイルは、前記第1感磁ワイヤーに沿って並存する左側コイル部と右側コイル部とからなり、
さらに、該左側コイル部と該右側コイル部の中間上で前記基板の他面側または該基板内に少なくとも一部が配設されて、該基板に交差する第3軸方向の外部磁場成分を該第1軸方向の成分を有する測定磁場へ変向し得る軟磁性材からなる磁場変向体を備え、
該左側コイル部から得られる左側出力と該右側コイル部から得られる右側出力とに基づいて該第3軸方向の外部磁場成分が検出され得ることを特徴とする磁気検出装置。 - 前記磁場変向体は、前記第1感磁ワイヤーに近い側に縮小部を有すると共に該第1感磁ワイヤーに遠い側に拡大部を有する請求項1に記載の磁気検出装置。
- 前記左側コイル部と前記右側コイル部は巻数が同じであり、
さらに、該左側コイル部と該右側コイル部の巻回方向に応じて、前記左側出力と前記右側出力の差または和により前記第3軸方向の外部磁場成分を検出する演算回路を備える請求項1または2に記載の磁気検出装置。 - 前記演算回路は、前記左側出力と前記右側出力の差と和を切り替えて、前記第1軸方向の外部磁場成分と前記第3軸方向の外部磁場成分との検出を可能とする切替回路を含む請求項3に記載の磁気検出装置。
- さらに、前記基板の一面側に配設され、前記第1軸方向とは異なる第2軸方向へ延在して該第2軸方向の外部磁場成分に感応する第2感磁ワイヤーと該第2感磁ワイヤーを周回する第2検出コイルとからなる第2MI素子を備える請求項1〜4のいずれかに記載の磁気検出装置。
- さらに、前記磁場変向体とは別に、該磁場変向体による前記外部磁場成分の変向を補助する補助磁場変向体を備える請求項1〜5のいずれかに記載の磁気検出装置。
- 前記検出コイルは、複数の分割コイル部からなり、
前記磁場変向体は、それぞれの該分割コイル部の中間に配設される複数個からなる請求項1〜6のいずれかに記載の磁気検出装置。 - 基板と、
該基板の一面側に配設され、延在する一軸方向の外部磁場成分に感応する感磁ワイヤーと該感磁ワイヤーを周回する検出コイルとからなるMI素子と、
該検出コイルの中間上で該基板の他面側または該基板内に少なくとも一部が配設されて、該基板に交差する他軸方向の外部磁場成分を該一軸方向の成分を有する測定磁場へ変向し得る軟磁性材からなる磁場変向体とを備える磁気検出装置の製造方法であって、
複数の前記基板となり得る分割前のベース基板と該ベース基板の一面側に実装された複数の前記MI素子と該MI素子の位置に対応して該ベース基板の他面側または該ベース基板内に配設された複数の前記磁場変向体とからなる合体ベース基板を、複数の前記磁気検出装置に分割する分割工程を備えることを特徴とする磁気検出装置の製造方法。 - 前記合体ベース基板は、前記分割前のベース基板の一面側に前記複数のMI素子が所定位置に実装されてなる実装ベース基板の他面側に、前記複数の磁場変向体となり得る分割前の軟磁性板に該MI素子の所定位置に対応した変向体パターンが形成された変向体パターン板を接合する接合工程を経て得られた接合ベース基板であり、
前記分割工程は、該接合ベース基板を複数の前記磁気検出装置に分割する工程である請求項8に記載の磁気検出装置の製造方法。 - 前記磁場変向体は、前記感磁ワイヤーに近い側に縮小部を有すると共に該感磁ワイヤーに遠い側に拡大部を有するテーパー状であり、
前記変向体パターン板は、前記軟磁性板へのハーフエッチングにより前記変向体パターンが一面側に形成されてなる請求項9に記載の磁気検出装置の製造方法。 - 前記接合工程は、前記実装ベース基板の他面側に前記変向体パターン板の一面側を接合する工程であり、
さらに、該接合工程後で前記分割工程前に、該変向体パターン板の他面側をエッチングして該変向体パターン板から分離した前記複数の磁場変向体を得る分離工程を備える請求項9または10に記載の磁気検出装置の製造方法。 - 前記ベース基板は、前記複数の磁場変向体を内蔵した内蔵ベース基板であり、
前記合体ベース基板は、該内蔵ベース基板の一面側に前記複数のMI素子を該磁場変向体に対応した所定位置に実装する実装工程を経て得られる請求項8に記載の磁気検出装置の製造方法。 - 前記内蔵ベース基板は、前記軟磁性材のメッキにより前記複数の磁場変向体を形成する工程と該磁場変向体を埋設する樹脂層を形成する工程とを経て得られる請求項12に記載の磁気検出装置の製造方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014097251 | 2014-05-09 | ||
JP2014097251 | 2014-05-09 | ||
PCT/JP2015/057237 WO2015170509A1 (ja) | 2014-05-09 | 2015-03-12 | 磁気検出装置およびその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015170509A1 true JPWO2015170509A1 (ja) | 2017-04-20 |
JP6222351B2 JP6222351B2 (ja) | 2017-11-01 |
Family
ID=54392363
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016517833A Active JP6222351B2 (ja) | 2014-05-09 | 2015-03-12 | 磁気検出装置およびその製造方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10048329B2 (ja) |
EP (1) | EP3141920B1 (ja) |
JP (1) | JP6222351B2 (ja) |
CN (1) | CN106461739B (ja) |
WO (1) | WO2015170509A1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6483435B2 (ja) * | 2014-12-26 | 2019-03-13 | ローム株式会社 | 磁気検出装置 |
DE102015202871A1 (de) * | 2015-02-18 | 2016-08-18 | Robert Bosch Gmbh | Hallsensor |
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JP6222351B2 (ja) | 2017-11-01 |
EP3141920A4 (en) | 2018-01-03 |
EP3141920A1 (en) | 2017-03-15 |
WO2015170509A1 (ja) | 2015-11-12 |
CN106461739A (zh) | 2017-02-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
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|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
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|
A975 | Report on accelerated examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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