JP4626728B2 - 磁気検出装置 - Google Patents

磁気検出装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4626728B2
JP4626728B2 JP2010527263A JP2010527263A JP4626728B2 JP 4626728 B2 JP4626728 B2 JP 4626728B2 JP 2010527263 A JP2010527263 A JP 2010527263A JP 2010527263 A JP2010527263 A JP 2010527263A JP 4626728 B2 JP4626728 B2 JP 4626728B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic
magnetic field
axis direction
axis
sensitive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010527263A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2010110456A1 (ja
Inventor
義信 本蔵
道治 山本
典彦 濱田
晃広 下出
誠之 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Aichi Steel Corp
Original Assignee
Aichi Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aichi Steel Corp filed Critical Aichi Steel Corp
Application granted granted Critical
Publication of JP4626728B2 publication Critical patent/JP4626728B2/ja
Publication of JPWO2010110456A1 publication Critical patent/JPWO2010110456A1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C17/00Compasses; Devices for ascertaining true or magnetic north for navigation or surveying purposes
    • G01C17/02Magnetic compasses
    • G01C17/28Electromagnetic compasses
    • G01C17/30Earth-inductor compasses
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/0206Three-component magnetometers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R33/00Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
    • G01R33/02Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
    • G01R33/06Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using galvano-magnetic devices
    • G01R33/063Magneto-impedance sensors; Nanocristallin sensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01VGEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
    • G01V3/00Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation
    • G01V3/40Electric or magnetic prospecting or detecting; Measuring magnetic field characteristics of the earth, e.g. declination, deviation specially adapted for measuring magnetic field characteristics of the earth
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N50/00Galvanomagnetic devices

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Geology (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Geophysics (AREA)
  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Description

本発明は、方位センサなどに用いられ、MI素子により磁気を検出する磁気検出装置に関する。
従来より方位等を知るために磁気測定がなされている。例えば、電子コンパスなどでは、正確な方位を知るために3次元の磁気ベクトルが測定されている。この際、X、Y、Zの3方向の磁気ベクトルを個別に測定する磁気センサが必要とされていた。
このような磁気センサには、ホール素子、MR素子等が用いられる。もっとも近年、そのような従来の素子とは構造や原理が全く異なり、桁違いの高感度を有するマグネト・インピーダンス素子(Magneto-Impedance element:適宜「MI素子」という。)が注目されている。
MI素子は、アモルファスワイヤ等の感磁体に高周波のパルス電流等を流すと、表皮効果によりそのインピーダンスが磁場に応じて変化するマグネト・インピーダンス効果(「MI効果」という。)を利用したものである。そのインピーダンス変化を測定したり、そのMI効果の起源となる感磁体に生じる磁束量の変化を測定することにより、外部磁場等の磁気検出が可能となる。ちなみにインピーダンスの変化は直接測定されるが、磁束量の変化は感磁体の周囲に捲回した検出コイル(ピックアップコイル)等で測定される。このようなMI素子はMIセンサとして、既に各種機器の電子コンパス等に利用されている。
WO2005/008268
(1)ところで従来、MI素子を用いて3次元の磁気ベクトルを求める場合、検出する磁気ベクトルの方向ごとに個別のMI素子が用いられていた。例えば、特許文献1(WO2005/008268号公報)は、図15に示すように、3次元の磁気ベクトルを求めるために、基板1000上に載置した3つのMI素子101、102、103を用いている。具体的には、基板平面(X−Y平面)上で互いに直交して載置されたX軸用MI素子101およびY軸用MI素子102と、その基板平面に垂直に載置されたZ軸用MI素子103である。
MI素子は、通常、アモルファスワイヤや薄膜などからなり、一軸方向にある程度の長さ延在する感磁体からなる。この感磁体は、延在する軸方向の磁場成分を検出するが、感磁体に垂直な方向の磁場成分の検出は出来ない。このため、基板に垂直な方向のZ軸方向の磁場を検出するには、その方向に細長く延在する感磁体を設ける必要があった。すなわち基板に垂直に立設されたZ軸用MI素子が必要とされた。このためMI素子を用いた従来の三次元磁場検出装置の高さはZ軸用MI素子の長さによりほぼ決まっていた。ここでZ軸方向の高さを抑制するために、感磁体の長さをあまり短くすると、磁気の検出能力が低下し高感度な磁気検出が困難となる。このような理由から、MI素子を用いた三次元磁気検出装置のZ軸方向の小型化、薄型化は困難と考えられていた。
(2)また図15に示すような従来の三次元磁気検出装置の場合、X軸用MI素子101、Y軸用MI素子102およびZ軸用MI素子103の3つのMI素子は、それら素子を駆動する電子回路を含む集積回路200が表面に形成された基板1000の側方に配置されていた。このため、従来の磁気検出装置では、基板に平行な平面(X−Y平面)方向に関しても、磁気検出装置が大型化する傾向にあり、その小型化を図ることは困難であった。
さらにいえば、それらMI素子101、102、103と集積回路200との接続は、いわゆるワイヤボンディングにより行われていた。このため、ボンディングワイヤ分のスペースがさらに必要となり、従来の磁気検出装置では小型化が困難であった。特にZ軸方向に関して観れば、もともと長いZ軸用MI素子103が、さらにZ軸方向からワイヤボンディングされていたため、磁気検出装置のZ軸方向の小型化、薄型化は非常に困難であった。加えてワイヤボンディングは、一本一本配線を行うため、より多くの工程時間を要した。このため従来構造のMI素子を用いた磁気検出装置では、その生産性の向上に限界があった。
本発明はこのような事情に鑑みて為されたものであり、MI素子を用いつつ、従来よりも格段に小型化または薄型化し得る磁気検出装置を提供することを目的とする。例えば、携帯端末のような薄型の筐体に内蔵される場合であれば、基板に垂直な方向(Z軸方向)の高さを抑制し、さらには基板に平行な方向(X−Y方向)の大きさも抑制して、全体的な小型化を図れる三次元磁場検出装置を提供することを目的とする。
本発明者はこの課題を解決すべく鋭意研究し、試行錯誤を重ねた結果、MI素子とは別に軟磁性体を設けることで、特定方向の磁気を検出する専用のMI素子を設けるまでもなく、その特定方向の磁気検出し得ることを思いついた。例えば、Z軸方向の磁気を検出するMI素子(Z軸用MI素子)を設けなくても、適切に配置した軟磁性体を設けることで、X軸方向の磁気を検出するMI素子(X軸用MI素子)やY軸方向の磁気を検出するMI素子(Y軸用MI素子)を用いて、Z軸方向の磁気を検出できることを新たに見出した。この成果をさらに発展させることにより、以降に述べる一連の本発明は完成した。
《磁気検出装置》
(1)すなわち本発明の磁気検出装置は、第1軸方向に延びる軟磁性材からなり該第1軸方向の外部磁場に感応する少なくとも一対の第1感磁体と、該第1軸方向とは異なる他軸方向の外部磁場を該第1軸方向の成分をもつ測定磁場へ変向して少なくとも一対の前記第1感磁体により感応させ得る軟磁性材からなる磁場変向体とを備えてなり、該一対の第1感磁体は、特定点に関して点対称に存在しており、該磁場変向体は、該特定点に関して点対称に存在しており、該第1感磁体を介して該他軸方向の外部磁場を検出し得ることを特徴とする。
(2)本発明によれば、磁場変向体が、第1感磁体では本来感応できない他軸方向の外部磁場を、第1感磁体により感応し得る成分をもつ測定磁場に変向する。そして第1感磁体は少なくとも一対存在するので、それら第1感磁体と軟磁性体とを適切に配置すれば、本来の第1軸方向の外部磁場と、変向されて第1軸方向の測定磁場となった他軸方向の外部磁場と、を峻別して検出可能となる。こうして一軸方向に延在する感磁体で、それとは異なる他軸方向の外部磁場の検出が可能となった。この結果、感磁体ひいてはMI素子を、二次元的配置から一元的配置へ、さらには三次元的配置から二次元的配置へスケールダウンした磁気検出装置で、所望の磁気検出が可能となった。こうして本発明の磁気検出装置は格段に小型化または薄型化され得る。
(3)磁気検出装置を三次元的に考えた場合、本発明の磁気検出装置は上記の構成に加えて、さらに第2軸方向に延びる軟磁性材からなり該第2軸方向の外部磁場に感応する少なくとも一対の第2感磁体を備え、前記磁場変向体は、前記第1軸方向および該第2軸方向とは異なる他軸方向の外部磁場を該第1軸方向の成分および/または該第2軸方向の成分をもつ測定磁場へ変向して少なくとも一対の前記第1感磁体および/または前記第2感磁体により感応させ得るものであると好適である。
《三次元磁気検出装置》
(1)さらに本発明は、次のような具体的な三次元の磁気検出装置でもよい。すなわち本発明は、基板と、基板に配設された軟磁性体(磁場変向体)と、主としてX軸方向(第1軸方向)の磁場成分を検出するための2つのX軸用MI素子(第1感磁体を含む素子)と、主としてY軸方向(第2軸方向)の磁場成分を検出するための2つのY軸用MI素子(第2感磁体を含む素子)を有する。2つのX軸用MI素子は、基板上で該軟磁性体を中心にして、その両側に同一直線(第1直線:第1軸線)上に載置され、2つのY軸用MI素子は、基板上で該軟磁性体を中心にして、その両側に同一直線(第2直線:第2軸線)上に載置されている。上記第1直線と上記第2直線とが所定の角度で交差している。第1X軸用MI素子、パルス発振回路及び信号処理回路からなる第1X軸用MIセンサからの検出電圧をVX1、第2X軸用MI素子、パルス発振回路及び信号処理回路からなる第2X軸用MIセンサからの検出電圧をVX2とする。第1Y軸用MI素子、パルス発振回路及び信号処理回路からなる第1Y軸用MIセンサからの検出電圧をVY1、第2Y軸用MI素子、パルス発振回路及び信号処理回路からなる第2Y軸用MIセンサからの検出電圧をVY2とする。ここで本発明の三次元磁気検出装置は、外部磁場のX軸方向成分に応じた出力電圧DX、外部磁場のY軸方向成分に応じた出力電圧DY、外部磁場のZ軸方向成分に応じた出力電圧DZをそれぞれ、下記の演算式([数1])を用いて演算する演算手段を有することを特徴とする。
このような構成とすることにより、従来の三次元磁気検出装置において必須であった基板に垂直なZ軸に沿ったZ軸用MI素子を用いることなく、X軸方向、Y軸方向およびZ軸方向(他軸方向)の3次元の磁気ベクトルを検出することが可能となった。その結果、基板に垂直な方向(Z軸方向)の高さを抑制でき、小型化の三次元磁場検出装置を提供することができる。なおここで、X軸方向とは、基板に平行な任意の1軸の方向とし、Y軸方向とは、その基板に平行であってX軸方向と所定の角度で交差する方向とする。
(2)上述した三次元磁気検出装置は、さらに、例えば次のような構成を有すると好適である。すなわち、前記基板は、前記各MIセンサのパルス発振回路、信号処理回路、及び、前記演算手段を含む集積回路(駆動回路)が形成されているシリコン基板からなる。このシリコン基板は上面に絶縁コート層を有する。絶縁コートには、前記MI素子の各端子と、前記シリコン基板上の前記集積回路の各端子を導通させるための端子穴を有する。このような構成とすることにより、従来、集積回路の側方に置かれていたMI素子を集積回路上に載置可能となった。こうして、基板に平行な方向(X、Y軸方向)の大きさも小型化した三次元磁場検出装置が提供される。
《その他》
(1)本明細書でいう「MI素子」は、アモルファスワイヤや薄膜等の感磁体に加えて、その感磁体が感応した磁気を検出する検出手段を有する。検出手段は、例えば、感磁体の周囲に設けられたピックアップコイルなどの検出コイルである。このようなコイルは、ワイヤを巻回したものでも、配線パターン等により形成されたものでもよい。勿論、検出手段は、感磁体のインピーダンスまたはその変化を直接測定するものでもよい。
(2)本明細書でいう「変向」とは、感磁体によって感応されない磁場または磁場成分の方向を、その感磁体が感応し得る方向へ変えることをいう。この変向により、本来なら感磁体に感応しない磁場が、少なくともその感磁体に感応する方向成分をもつ磁場となり、そのような磁場もその感磁体からなるMI素子によって検出可能となる。
(3)本明細書「外部磁場」とは、外部から磁気検出装置へ作用する磁場(環境磁場)であって、磁気検出装置の検出対象となる磁場である。「測定磁場」とは、外部磁場のうちで感磁体に感応してMI素子による検出または測定の対象となる磁場である。
実施例1に係る三次元磁場検出装置の平面図である。 その平面図中に示したA−Aで切断した断面図である。 実施例1に係るMI素子の概要を示す平面図である。 その平面図中に示したB−Bから観た断面矢視図である。 実施例1に係るMI素子を用いたMIセンサの電気回路図である。 そのMI素子、MIセンサへ加えるパルス電流波形を示す波形図である。 そのパルス電流波形の立上り、立下り時間から周波数を求める方法を説明する説明図である。 実施例1に係る三次元磁場検出装置の電気回路図である。 XZ方向の成分を有する一様な外部磁場HのX軸方向成分Hx及びZ軸方向成分Hzを示すベクトル分解図である。 そのX軸方向成分Hxによって実施例1に係る三次元磁場検出装置周囲に形成される測定磁場の磁力線図である。 そのZ軸方向成分Hzによって実施例1に係る三次元磁場検出装置周囲に形成される測定磁場の磁力線図である。 実施例2に係る三次元磁気検出装置の平面図である。 実施例3に係る三次元磁気検出装置の断面図である。 実施例4に係る三次元磁気検出装置の断面図である。 実施例5に係る三次元磁気検出装置の断面図である。 実施例6に係る三次元磁気検出装置の平面図である。 その断面図である。 実施例7に係る三次元磁気検出装置の断面図である。 実施例8に係る三次元磁気検出装置の断面図である。 従来の三次元磁場検出装置の斜視図である。
1:三次元磁気検出装置 2:MI素子 2X:X軸用MI素子
2Y:Y軸用MI素子 21:感磁ワイヤ 22:検出コイル
23:絶縁体 251:感磁ワイヤ用端子 252:検出コイル用端子
3:軟磁性体 4:シリコン基板 5:絶縁コート層
6:第1直線 7:第2直線 8:MIセンサ
81:パルス発振回路 82:信号処理回路 9:演算手段
10:パルス電流波形
発明の実施形態を挙げて本発明をより詳しく説明する。上述した本発明の構成に、本明細書中から任意に選択した一つまたは二つ以上の構成を付加し得る。いずれの実施形態が最良であるか否かは、対象、要求性能等によって異なる。
〈MI素子〉
本発明の磁気検出装置は、磁気インピーダンス素子(MI素子)を用いて磁気を検出する装置である。MI素子は、前述したように、磁場(磁界)などの磁気に感応してインピーダンス変化や磁束量変化を生じ得る感磁体と、その感磁体の変化量を検出する検出手段とを有する。感磁体はその材質や形態を問わない。通常は軟磁性材からなり、相応の長さを有するワイヤまたは薄膜からなる。感磁体は、感度やコスト等の点で、特に零磁歪アモルファスワイヤが好ましい。
検出手段の種類や形態は、感磁体の種類や形態、検出する感磁体の変化量の種類、仕様等に応じて適宜選択される。検出手段は例えば、感磁体のインピーダンスまたはその両端の電圧を直接検出するものでも、延在する感磁体の周囲に巻回され磁束量変化に応じた起電力を出力するピックアップコイル(検出コイル)等でもよい。
感磁体は搭載面から浮上して設けられても、搭載面に接して設けられても、さらには溝などに埋設されてもよい。検出コイルは、感磁体を保持する保持体(絶縁体、基板、筐体等)の外周面に巻回されたものでも、溝などの内周面に巻回されたものでもよい。
〈磁場変向体〉
磁場変向体は感磁体が配設されない他軸方向の磁場を変向して、他軸方向と異なる軸方向に配設された感磁体さらにはMI素子による磁気の検出を可能とするものである。このように感磁体による検出が可能である限り、磁場変向体の材質、形態は問わない。磁場変向体は軟磁性材からなるが、高透磁率であるほど、磁場の集磁効果が大きくて好ましい。そして磁場変向体は、磁場を感磁体に向けて変向し易い形状であると好ましい。また、変向された磁場が感磁体に感受され易い相対位置に磁場変向体が配置されると好ましい。例えば、磁場を収束または放射する磁場変向体の端部(柱状体の端面角部)が、感磁体に指向した形状であると好ましい。そのような磁場変向体の端部と感磁体とが近接配置されているとより好ましい。逆にいえば、磁場を殆ど変向しない磁場変向体の延在軸の中央近傍へ、交叉するような軸方向上に感磁体を設けるのは好ましくない。
〈配置〉
本発明の趣旨に沿う限り、感磁体または磁場変向体の配置は問わない。もっとも、一軸方向に配設された少なくとも一対の感磁体で他軸方向の磁気を検出するには、多かれ少なかれ、それら感磁体を含むMI素子の検出量に基づいた演算が必要となる。高精度な磁気検出を低コストで行うには、その演算は簡素になされるほど好ましい。例えば、一対の感磁体に対応した一対のMI素子のそれぞれの検出量を加算または減算した値に基づいて、外部磁場の異なる軸方向の成分がそれぞれ求まると好ましい。
そのため例えば、検出特性が同じ一対のMI素子がある一点(特定点)に関して点対称に配置されていると好ましい。これにより、それぞれのMI素子が、それらを構成する各感磁体の延在軸方向(第1軸方向)の外部磁場を等しく検出できる。その上でさらに、その一対のMI素子の一方は、磁場変向体により変向された他軸方向の外部磁場を、第1軸方向の逆向き成分として検出し得るように、磁場変向体が存在していると好ましい。
例えば、磁場変向体が上記特定点に関して点対称に存在していると好ましい。具体的にいうと、磁場変向体が一つなら、磁場変向体はその特定点に配置されるとよい。磁場変向体が二つ以上なら、その形態を含めて特定点に関して点対称に配置されていると好ましい。例えば、磁場変向体は、一軸上に配設した一対の感磁体の中間点(特定点)を通る直線上で、その特定点から等距離(つまり均等)に配置されるとよい。また一対の同等な感磁体を平行に配設した場合、それらが対称となる点(特定点)に磁場変向体を配設したり、その特定点を通る直線上に磁場変向体を、特定点に関して均等に配置してもよい。
勿論、対称に配置される感磁体同士、MI素子同士または磁場変向体同士は、それぞれ感応特性、検出特性または集磁特性などは、実質的に同一であることが前提となる。具体的には、感磁体同士なら、材質や形態(ワイヤ径やワイヤ長または膜厚や膜幅等)等が同じであるとよい。MI素子同士なら、感磁体同士の特性が同じであると共にインピーダンスを測定する回路構成や磁束量を検出するコイル形態(巻数、巻回半径等)等が同じであるとよい。磁場変向体同士なら、同材質で各感磁体側から看たときの形態等が同じであるとよい。
このような状況を総合して本明細書では「一対の感磁体が特定点に関して点対称に存在している」または「磁場変向体が特定点に関して点対称に存在している」という。なお本明細書でいう「点対称」は、一次元的点対称(直線上における点対称)でも、二次元的点対称(平面上における点対称)でも、三次元的点対称(立体上における点対称)でもよい。
一次元的点対称とは、例えば、一軸上に配設された一対の同等な感磁体が対称となる特定点(通常は両感磁体の中間点)に磁場変向体が配置されたり、その特定点の両端側にその特定点から等距離の位置(均等位置)に磁場変向体が配置されるような場合である。二次元的点対称とは、例えば、対称配置された一対の同等な感磁体が存在する平面上(上面上または下面上)で、それらの対称点である特定点に関して、同等な磁場変向体が点状、線状または環状に均等に配置されるような場合である。三次元的点対称とは、例えば、対称配置された一対の同等な感磁体が存在する平面の両面側に、それらの対称点である特定点に関して、同等な磁場変向体が、点状、線状、面状または環状に均等に配置されているような場合である。
いずれにしろ、一対のMI素子または一対の感磁体と磁場変向体との対称性を巧みに利用して、演算式中の補正係数または補正項等を簡略化できるようにすると、高精度な磁気検出が容易となり好ましい。
〈積層〉
本発明は、磁場変向体を設けることにより他軸方向の磁場を専用に検出する感磁体ひいてはMI素子を省略でき、磁気検出装置の小型化または薄型化を図れる点に特徴がある。そうすると、現実に配置される感磁体さらにはMI素子と、その駆動回路など他の電子回路との配置は必ずしも本質的な特徴ではない。もっとも、磁気検出装置の全体的な小型化または薄型化をより進めるために、感磁体が配置される感磁層とその駆動回路が配置される回路層とが積層状態にあると好ましい。このようにすると、両者の電気的接続は感磁層と回路層との積層間を通じて行うことができ、従来行われていた余分なスペースを必要とするワイヤボンディングを回避できる。従って磁気検出装置のさらなる小型化または薄型化を図れる。なお、感磁層と回路層とは隣接して積層されている必要はなく、両層間に中間層が別途介在してもよい。
また積層または集積される層は、感磁層および回路層には限らない。一対の感磁体とは異なる別の検出素子が配置された少なくとも一つ以上の検出層が、感磁層や回路層に積層されていてもよい。この場合も積層関係は問わないので、それら各層が隣接して積層されている必要はない。また検出素子を駆動する検出回路層がさらに積層されていてもよい。この際、検出層と検出回路層の電気的接続がそれら積層間を通じて行われると、センサ装置全体としての小型化または薄型化が図られる。このようにすることで、本発明の磁気検出装置は単なる磁気センサとしてのみならず、加速度センサ、温度センサなどが積層されたビルドアップ型センサへ発展し得る。
図面を参照しつつ以下に挙げる実施例に基づいて本発明を詳細に説明する。
[実施例1]
実施例1に係る三次元磁気検出装置1を図1に示す。図1Aは三次元磁気検出装置1の平面図であり、図1Bは図1A中に示したA−A線における断面図である。
〈三次元磁気検出装置〉
(1)三次元磁気検出装置1は、地磁気(外部磁場)を検出する4つのMI素子2と、棒状の軟磁性体3(磁場変向体)と、集積回路41(駆動回路を含む)が形成されたシリコン基板4と、絶縁コート層5と、MI素子2の各端子と集積回路41の各端子とをそれぞれつなぐ端子穴(図略)とからなる。4つのMI素子2は、2つのX軸用MI素子2X1、2X2(両方併せて適宜「X軸用MI素子2X」という)と、2つのY軸用MI素子2Y1、2Y2(両方併せて適宜「Y軸用MI素子2Y」という)とからなる。
シリコン基板4の中央にZ軸を軸線とする円柱状の穴が設けられている。この穴に円柱状の軟磁性体3が基板4に対して垂直に埋め込まれて配置されている。軟磁性体3は、45at%Ni−Fe組成のパーマロイ合金からなる。軟磁性体3には、その他、純Ni、純鉄、他組成のパーマロイ合金、センダスト、パーメンジュール等の公知の軟磁性材料を使用することができる。
シリコン基板4の上部には、各MI素子2の駆動回路(図略)や後述の演算手段9(図6参照)を含む電子回路等の集積回路41が形成されている。駆動回路はパルス発振回路81と信号処理回路82(図6参照)とからなる。これらの回路形成は周知の集積回路の製造方法に基づいて形成した。
シリコン基板4の上方にはシリコン基板4を保護しつつ、集積回路41とMI素子2との絶縁を確保する絶縁コート層5が形成される。絶縁コート層5は、有機樹脂やSiO等の無機材料をシリコン基板4上にコーティングすることで形成した。
この絶縁コート層5上に、図1Aに示すように、2つのX軸用MI素子2Xおよび2つのY軸用MI素子2Yが載置される。すなわち、2つのX軸用MI素子2Xは、軟磁性体3を中心にしてその両側へ対称的に延在し、同一直線(第1直線6:第1軸線)上に載置される。2つのY軸用MI素子2Yも同様に、軟磁性体3を中心にして、その両側へ対称的に延在し、同一直線(第2直線7:第2軸線)上に載置される。
(2)ここでX軸用MI素子2Xが延在する第1直線6(X軸線)とY軸用MI素子2Yが延在する第2直線7(Y軸線)とは90度で交差(直交)している。両者は必ずしも直交している必要はないが、直交していると後処理(補正処理)等を簡略化できる。本実施例の場合、2つのX軸用MI素子2Xおよび2つのY軸用MI素子2Yは、それぞれ軟磁性体3の中心から等間隔で配置されている。この場合もそれらが必ずしも等間隔である必要はないが、等間隔である処理を簡略化でき、精度よく磁気を検出できる。
〈MI素子〉
(1)X軸用MI素子2X1、2X2およびY軸用MI素子2Y1、2Y2を構成するMI素子2の構造を図2および図3を用いて詳細に説明する。
MI素子2は、非磁性体からなるシリコン基板4の基板表面に形成された集積回路41(図1B参照)を被覆する絶縁コート層5上に載置される。このMI素子2は、絶縁コート層5の平坦面に配列された複数の第1導体膜222aからなる平面パターン222と、複数の第1導体膜222aを横断するように平面パターン222の配列方向に沿って配設された断面円形状のアモルファスワイヤからなる感磁ワイヤ21(感磁体)と、感磁ワイヤ21の外周面を覆うとともに感磁ワイヤ21を平面パターン222上に固定する絶縁体23と、絶縁体23の外表面と平面パターン222の表面とに渡って形成されると共に感磁ワイヤ21の上方を横断するように配列された複数の第2導体膜221aからなる立体パターン221とを備える。
平面パターン222と立体パターン221は、感磁ワイヤ21の両脇で、第1導体膜222aの端部と第2導体膜221aの端部とが積層状態で接合され積層接合部を形成する。このように平面パターン222と立体パターン221とが一体化することにより、絶縁コート層5の平坦面上に、感磁ワイヤ21および絶縁体23を囲繞する検出コイル22が形成される。
絶縁体23は、図3に示すように、感磁ワイヤ21の軸線に垂直な断面が、平面パターン222に近づくほど広がる裾広がり形状を呈している。つまり絶縁体23は、平面パターン222に平行な方向の幅寸法が平面パターン222側ほど大きくなっている。具体的にいうと絶縁体23は、平面パターン222の表面を覆って感磁ワイヤ21と平面パターン222とを絶縁する平面絶縁部231と、平面絶縁部231と感磁ワイヤ21との間に介在して感磁ワイヤ21を平面パターン222を介しつつ絶縁コート層5上に固定するワイヤ固定部232と、感磁ワイヤ21と立体パターン221との間に介在し両者間を絶縁する立体絶縁部233とを有する3部分構成になっている。
少なくともワイヤ固定部232は液状樹脂を固化させて形成される。平面絶縁部231は、ワイヤ固定部232の形成前にそれとは別個に形成された膜状をしている。立体絶縁部233も、ワイヤ固定部232とは別個に形成された膜状をしている。
感磁ワイヤ21は零磁歪のアモルファスワイヤからなる。感磁ワイヤ21の両端は、パルス電流を印加するための電極251に接続されている。検出コイル22は外部磁場に応じて変化する電圧を検出するため電極252に接続されている。図2に一例を示した端子配置はシリコン基板4上の集積回路41に対応している。各MI素子2の各端子とシリコン基板4上の集積回路41の各端子とは、絶縁コート5に設けられた端子穴(図略)を通じて電気的に接続される。本実施例では、感磁ワイヤ21の直径を20μm、長さを0.6mm、検出コイル22の巻き数を15ターンとした。
(2)このMI素子2は、絶縁コート層5上に直に載置される。このためアモルファス感磁ワイヤを、載置する基板の溝に収納する公知の溝型構造のMI素子(特許文献1参照)に比べて、MI素子2は、実装時のZ軸方向の高さを大幅に低減し、Z軸方向の小型化に寄与する。
〈駆動回路〉
(1)上述したMI素子2を使用したMIセンサ回路8(駆動回路)を図4に示した。MIセンサ回路8は、集積回路41に組み込まれたパルス発振回路81および信号処理回路82を有する。信号処理回路82は、サンプルタイミング調整回路821と、アナログスイッチ822と、増幅器823とからなる。このMIセンサ回路8は次のように動作する。
パルス発振回路81により発生した約200MHz相当の高周波のパルス電流をMI素子2中の感磁ワイヤ21へ供給する。そうすると、パルス電流により感磁ワイヤ21のワイヤ円周方向に生じた磁場と外部磁場とが作用して、その外部磁場に対応した電圧が検出コイル22に発生する。なおここでいう周波数は、図5Aに示すパルス電流波形10のパルスの「立ち上がり」若しくは「立ち下り」の時間Δtを求め、そのΔtが図5Bに示すように4分の1周期に相当するとして求めた。
次に、サンプルタイミング調整回路821により、前記パルス電流が立ち上がったあと、所定のタイミングで、アナログスイッチ822を短時間スイッチイング(オン−オフ)する。これによりアナログスイッチ822は、検出コイル22に発生した外部磁場に対応した電圧をサンプリングする。サンプリング電圧は、増幅器823により増幅されて出力される。パルス電流を遮断するとき(パルス電流が立ち下るとき)も同様に処理される。この構成例に限らず、その他の公知のMIセンサに用いられる電子回路でも同様の効果を得ることができる。
(2)三次元磁場検出装置1の駆動回路を図6に示した。三次元磁場検出装置1の駆動回路は、4つのMI素子2(第1X軸用MI素子2X1、第2X軸用MI素子2X2、第1Y軸用MI素子2Y1および第2Y軸用MI素子2Y2)にそれぞれ対応する4つのMIセンサ回路8(第1X軸用MIセンサ回路8X1、第2X軸用MIセンサ回路8X2、第1Y軸用MIセンサ回路8Y1および第2Y軸用MIセンサ回路8Y2)と、演算手段9とからなる。
各MIセンサ回路8は、それぞれパルス発振回路81と信号処理回路82で構成される。なお、各MIセンサ回路8のうちの一つ(例えば図6の一番上に示したパルス発振回路81および信号処理回路82の一組)のみを駆動回路として用いてもよい。この際、その一つの駆動回路を時分割スイッチングによって時分割しつつ、各MI素子2毎の電圧を検出してもよい。
〈磁場の検出〉
(1)本実施例でいう「外部磁場」とは、MI素子が測定すべき位置における環境磁場である。外部磁場中に三次元磁場検出装置1を置くと、軟磁性体3(図1参照)により、各感磁ワイヤ21を含む周囲において、その外部磁場の磁場分布が変化する。その磁場を、各MI素子2が測定する磁場という意味で「測定磁場」とする。
(2)第1X軸用MI素子2X1へ軟磁性体3により変化した測定磁場が作用すると、第1X軸用MIセンサ回路8X1の出力端子に検出電圧VX1が出力される。同様に、第2X軸用MI素子2X2へ測定磁場が作用すると第2X軸用MIセンサ回路8X2の出力端子に検出電圧VX2が、第1Y軸用MI素子2Y1へ測定磁場が作用すると第1Y軸用MIセンサ回路8Y1の出力端子に検出電圧VY1が、第2Y軸用MI素子2Y2へ測定磁場が作用すると第2Y軸用MIセンサ回路8Y2の出力端子に検出電圧VY2がそれぞれ出力される。
演算手段9は、それら各MIセンサ2からの検出電圧VX1、VX2、VY1、VY2を受けて、下記の演算式([数1])に則って演算を行い、外部磁場のX、Y、Z軸方向成分に応じた出力電圧DX、DY、DZを出力する。
このように本実施例の三次元磁場検出装置1によれば、感磁ワイヤを基板に垂直に配置するMI素子(いわゆるZ軸素子)を設けずに、Z軸方向の磁場測定が可能となる。つまり、Z軸方向の小型化を図りつつ三次元の磁場検出が可能となる。更に本実施例の場合、従来なら集積回路の側方に載置していたMI素子が集積回路上に積層されている。このため、基板に平行な方向(X軸方向、Y軸方向)でも三次元磁気検出装置を小型化できる。
(3)外部磁場Hが作用するときの三次元磁場検出装置1の動作を説明する。代表例として図1AのA−A切断断面図上に軟磁性体3及び三次元磁場検出装置1を含む周囲の磁力線を図7に示す。先ずシリコン基板4に対して平行な一方の軸であるX軸とシリコン基板4に垂直な軸であるZ軸とにより構成されるZ−X平面内で考える。Y軸方向成分を持たない外部磁場Hを想定すると、その磁場Hは図7Aに示すようにX軸方向成分HxとZ軸方向成分Hzにベクトル分解できる。
〈X軸方向成分Hx〉
(1)初めに外部磁場のX軸方向成分Hxについて考える。MI素子2X1、2X2の感磁ワイヤ21x1、21x2、及び軟磁性体3との間におけるX軸方向成分Hxのふるまいを図7Bを用いて検討する。
軟磁性体3が無い場合、外部磁場のX軸方向成分Hxは、感磁方向である感磁ワイヤ21x1、21x2の軸方向(第1軸方向)と一致するため、それらによりそのまま検出される。
本実施例では、X軸方向成分Hxは軟磁性体3に集磁される。このためX軸方向成分Hxは、感磁ワイヤ21x1中において若干Z軸下方へ傾斜し、感磁ワイヤ21x2中において若干Z軸上方へ傾斜する。これらの感磁体内で傾斜した磁気ベクトルをそれぞれHx1’、Hx2’とする。ここでMI素子2X1、2X2が感知できる磁場は、磁気ベクトルHx1’、Hx2’のX軸方向(感磁ワイヤ21x1と感磁ワイヤ21x2の軸線方向)への射影成分のみである。このため傾斜した磁気ベクトルHx1’、Hx2’のX軸方向への射影成分のみが、検出コイル22x1、22x2(図略)を介して検出される。そしてMIセンサ回路8X1、8X2(図6参照)は、そのX軸方向成分Hxに対応した検出電圧VX1、VX2を出力する。
ここで磁気ベクトルHx1’、Hx2’はZ軸方向に関して極性の異なる射影成分を持つ。しかしこれらの成分は元々、MI素子2X1、2Xの感磁方向でない直交成分であるため検出されない。またX軸方向成分Hxは、MI素子2Y1、2Y2の感磁ワイヤ21y1、21y2に対しても垂直であるため、検出電圧VY1、VY2は発生しない。
(2)これらに基づいてX軸方向成分Hxに対応した出力電圧DX、DY、DZは、下記の演算式([数1])から次のようにして求まる。
出力電圧DXは、演算式の第1式のように、検出電圧VX1、VX2の加算平均に係数を付して求めることができる。ここで検出電圧VX1、VX2は外部磁場のX軸方向成分Hxに応じた電圧であり、理論的に同じ値で極性も同じである。
上述した内容は、X軸方向成分を持たない外部磁場Hを想定したときのZ−Y平面においても成立する。従って出力電圧DYは演算式の第2式のように記述される。ここで検討しているようにY軸方向成分を持たない外部磁場Hを想定した磁場環境下では、前述のように検出電圧VY1、VY2は発生しないので出力電圧DYは0となる。
出力電圧DZは、演算式の第3式により求めることができる。第3式中の検出電圧VX1,VX2は、X軸方向成分Hxに応じた電圧であって、理論的に同じ値で極性も同じである。第3式中の第1項で両者を減算することにより外部磁場X軸方向成分に関する電圧は相殺される。更に、第3式中の第2項の検出電圧VY1、VY2は発生しない。このため出力電圧DZは0となる。よって、出力電圧DZは、演算式の第3式により、Z軸方向成分の外部磁場が無い場合に一致して0となる。
〈Z軸方向成分Hz〉
(1)次に外部磁場のZ軸方向成分Hzについて考える。MI素子2X1、2X2の感磁ワイヤ21x1,21x2、及び軟磁性体3との間におけるZ軸方向成分Hzのふるまいを図7Cを用いて検討する。
軟磁性体3が無い場合、外部磁場のZ軸方向成分Hzは、感磁ワイヤ21x1、21x2の垂直方向成分のみとなるため、それらには全く検出されない。
本実施例のように軟磁性体3が有る場合、Z軸方向成分Hzに相当する磁場は、軟磁性体3に集磁されたのち、軟磁性体3の表面31から図上方(Z軸正方向)へ放射状に広がる。このため図7Cの切断面に示すように、X軸方向に磁場の向きが傾斜する。この磁場が感磁ワイヤ21x1、21x2内を通過する傾斜した磁気ベクトルをHz1’、Hz2’とする。
ここで感磁ワイヤ21x1、21x2が感知できる磁場は、磁気ベクトルHz1’、Hz2’のX軸方向への射影成分のみである。その射影成分は検出コイル22x1、22x2(図略)を介して検出される。そしてMIセンサ回路8X1、8X2は、そのZ軸方向成分Hzに対応した検出電圧VX1、VX2を出力する。ちなみに、それらの射影成分は絶対値が同じで極性が反対となっている。なお磁気ベクトルHz1’、Hz2’のZ軸方向の射影成分は、元々MI素子2X1、2X2の感磁方向でないため検出されない。
さらにZ軸方向成分HzはZ−Y平面にも同様な磁場分布を形成する。このため、MIセンサ回路8Y1、8Y2は、検出電圧VX1、VX2と同様に、磁場Z軸方向成分Hzに対応した検出電圧VY1、VY2を出力する。
(2)これらに基づいてZ軸方向成分Hzに対応した出力電圧DX、DY、DZが、X軸方向成分Hxの場合と同様に下記の演算式([数1])から求まる。検出電圧VX1、VX2は、外部磁場のZ軸方向成分Hzに応じた電圧であって、理論的に同じ値で極性が逆である。これらを加算すると相殺され0となる。よって、出力電圧DXは、下記の演算式の第1式からX軸方向成分の外部磁場が無い場合に一致して0となる。
検出電圧VY1、VY2は、外部磁場のZ軸方向成分Hzに応じた電圧であって、理論的に同じ値で極性が逆である。これらを加算すると相殺され0となる。よって、出力電圧DYは、下記の演算式の第2式からY軸方向成分の外部磁場が無い場合に一致して0となる。出力電圧DZは、下記の演算式の第3式により、検出電圧VX1、VX2と検出電圧VY1、VY2とについて減算したのちに平均して係数を付すことで求めることができる。こうしてZ軸方向のMI素子またはMIセンサを用いることなく、Z軸方向磁場成分Hzに応じた電圧を出力できる。
〈外部磁場H〉
ところで外部磁場Hは、X軸方向磁場成分HxとZ軸方向磁場成分Hzのベクトル和である。さらにZ−X平面上における外部磁場の検討はZ−Y平面上における外部磁場の検討にも妥当する。結局、外部磁場Hに対応した出力電圧は、各出力電圧の和若しくは差として求まり、本実施例により三次元の磁気の検出可能となる。
なお出力電圧DX、DY、DZを[数1]のような簡単な演算式で求めることができたのは、一対のX軸用MI素子2Xと一対のY軸用MI素子2Yを直交する軸線上に配置すると共に、それらMI素子2と軟磁性体3とを対称的に配置したためである。
もっとも、外部磁場のZ軸方向成分HzのX軸方向およびY軸方向への射影成分がゼロとなるような軟磁性体の配置をしない限り、同様に特定軸方向のMI素子またはMIセンサを用いることなく、その軸方向磁場成分に応じた出力電圧を得ることができる。なお軟磁性体とMI素子との配置が非対称となる場合、若しくはMI素子間の配置が非対称となる場合、検出電圧に別の係数をかけたり補正項を加えたりした演算式を用いることで、外部磁場に応じた各出力電圧を得ることができる。そのような場合に使用できる演算式の一例を下記の[数2]に示した。なお[数2]中の各α、β、γは係数である。
[実施例2]
MI素子2の配置を三次元磁気検出装置1(図1)から変更した三次元磁気検出装置20の平面図を図8に示した。なお既述の三次元磁気検出装置と同様の部材には、便宜上、同じ符号を付して示す(以降でも同様である)。
三次元磁気検出装置20では、正方形のシリコン基板4上に、その各辺と45度をなす対角線上にMI素子2を配置した。このようにMI素子2を配置すると、同サイズの基板に対して、MI素子の長さを長く取れる。つまり、感磁体(アモルファスワイヤ等)の長さや検出コイルの巻数を大きくでき、出力電圧の向上を図れる。
[実施例3]
軟磁性体3よりもZ軸方向に短い軟磁性体33を、軟磁性体3とは異なる位置に配置した三次元磁気検出装置30の断面図を図9に示した。すなわち、三次元磁気検出装置30では、短い軟磁性体33をシリコン基板34に埋め込まずに、絶縁コート層5上に載置した。これによりシリコン基板34への穴加工等が不要となる。また、その穴の大きさに相当する分、シリコン基板34上の電子回路の集積度を向上させることも可能となる。なお平面的な配置は三次元磁気検出装置1と同様にシリコン基板4の中央とした。
[実施例4]
軟磁性体33をシリコン基板34の反対側(裏面側)に配置した三次元磁気検出装置40の断面図を図10に示した。この場合も、軟磁性体33のサイズ等を適宜調整することで、三次元磁気検出装置30と同様の効果を奏する。
[実施例5]
軟磁性体3の全部をシリコン基板54中に埋め込まずに、その一部をシリコン基板54および絶縁コート層55から突出させた三次元磁気検出装置50の断面図を図11に示した。しかも三次元磁気検出装置50では、その軟磁性体3の頭部をMI素子2の上部と同じ高さに合わせた。これにより三次元磁気検出装置50は、Z軸方向への突き出しが無く、Z軸方向の薄型化や小型化を図れる。
[実施例6]
三次元磁気検出装置30の軟磁性体33を、シリコン基板34の四方を囲繞する方形環状の軟磁性体63に変更した三次元磁気検出装置60の平面図を図12Aに、その断面図を図12Bに示した。この三次元磁気検出装置60によれば、Z軸方向の短縮化を図りつつ、軟磁性体63の体積の増大を図ることができる。
[実施例7]
三次元磁気検出装置70の断面図を図13に示した。三次元磁気検出装置70は、シリコン基板54と、シリコン基板54上に形成されたMI素子2の駆動回路である集積回路層51(回路層)と、その集積回路層51を被覆する絶縁コート層55と、絶縁コート層55上に載置されたMI素子2を絶縁樹脂79で平坦状に被覆した感磁層71と、感磁層71上に積層されたMI素子2とは別の検出素子を備える検出層72と、検出層72上に積層された検出素子の駆動回路である集積回路層73とを有する。各積層間の導通は、適宜、ビアホールまたはスルーホールなどの端子穴(図略)によりなされる。図13には、各層がシリコン基板54の片面側のみに積層される場合を示したが、各層はシリコン基板54の両面側に積層されていてもよい。
検出層72は、具体的にいうと例えば、MI素子2とは別の磁気センサ(三次元磁気センサ、二次元磁気センサなど)、方位センサ、加速度センサ、温度センサ、磁気ジャイロを含むジャイロセンサなどを構成する検出素子からなる。図13には、1組の検出層72と集積回路層73のみ示したが、さらに多種多様な検出層が積層されていてもよい。このような積層構造により、三次元磁気検出装置70は複合センサ体となる。
なお、上述のように各層が一軸方向(いわゆるZ軸方向)に積層される場合の他、検出装置(センサ)の平面的なスペースに余裕があれば、各層に相当する回路が適当に組合わされ、同層中に並列配置されてもよい。この場合、各回路間の導通は同層内の配線パターン等を介してなされるとセンサ集積体の薄型化が図られて好ましい。平面的なスペースに余裕がなければ、複数層が積層されると好ましい。
[実施例8]
シリコン基板34上に載置されたMI素子2を被覆する絶縁樹脂からなる平坦状の絶縁層89を有し、その絶縁層89上の中央に軟磁性体33を配置した三次元磁気検出装置80の断面図を図14に示した。絶縁層89に接合される軟磁性体33の端面外周縁部(角部)は、各MI素子2の端部に近接している。これにより軟磁性体33の延在軸方向(Z軸方向)の外部磁場が、MI素子2の延在方向(X軸方向、Y軸方向)へ大きく変向され、MI素子2による効率的な検出が可能となる。
本発明の三次元磁場検出装置は、例えば、電子コンパス、磁気ジャイロ等の三次元の地磁気測定を必要とする機器、回転センサ等のあらゆる磁気センサーに用いることができる。特に本発明の三次元磁気検出装置は、携帯電話を初めとする携帯端末等のように、載置する基板に垂直な方向(いわゆるZ軸方向)に小型化・薄型化が必要なものに好適である。
Figure 0004626728
Figure 0004626728

Claims (6)

  1. 第1軸方向に延びる軟磁性材からなり該第1軸方向の外部磁場に感応する少なくとも一対の第1感磁体と、
    該第1軸方向とは異なる他軸方向の外部磁場を該第1軸方向の成分をもつ測定磁場へ変向して少なくとも一対の前記第1感磁体により感応させ得る軟磁性材からなる磁場変向体とを備えてなり、
    該一対の第1感磁体は、特定点に関して点対称に存在しており、
    該磁場変向体は、該特定点に関して点対称に存在しており、
    該第1感磁体を介して該他軸方向の外部磁場を検出し得ることを特徴とする磁気検出装置。
  2. 第1軸方向に延びる軟磁性材からなり該第1軸方向の外部磁場に感応する少なくとも一対の第1感磁体と、
    該第1軸方向とは異なる他軸方向の外部磁場を該第1軸方向の成分をもつ測定磁場へ変向して少なくとも一対の前記第1感磁体により感応させ得る軟磁性材からなる磁場変向体とを備えてなり、
    さらに、第2軸方向に延びる軟磁性材からなり該第2軸方向の外部磁場に感応する少なくとも一対の第2感磁体を備え、
    該磁場変向体は、該第1軸方向および該第2軸方向とは異なる他軸方向の外部磁場を該第1軸方向の成分および/または該第2軸方向の成分をもつ測定磁場へ変向して少なくとも一対の該第1感磁体および/または該第2感磁体により感応させ得ることを特徴とする磁気検出装置。
  3. 前記一対の第1感磁体は、共に前記第1軸線上に配置されている請求項1または2に記載の磁気検出装置。
  4. 前記第1感磁体が配置される感磁層と、
    該第1感磁体の駆動回路が配置される回路層とを有し、
    該感磁層と該回路層は積層させており、該第1感磁体と該駆動回路は該感磁層と該回路層との積層間を通じて電気的に接続させている請求項1〜3のいずれかに記載の磁気検出装置。
  5. さらに前記一対の第1感磁体とは異なる検出素子が配置された少なくとも一以上の検出層を有し、
    該検出層は前記感磁層または前記回路層に積層されている請求項4に記載の磁気検出装置。
  6. さらに、第2軸方向に延びる軟磁性材からなり該第2軸方向の外部磁場に感応する少なくとも一対の第2感磁体を備え、
    前記磁場変向体は、前記第1軸方向および該第2軸方向とは異なる他軸方向の外部磁場を該第1軸方向の成分および/または該第2軸方向の成分をもつ測定磁場へ変向して少なくとも一対の前記第1感磁体および/または前記第2感磁体により感応させ得る請求項1に記載の磁気検出装置。
JP2010527263A 2009-03-26 2010-03-26 磁気検出装置 Active JP4626728B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009077810 2009-03-26
JP2009077810 2009-03-26
PCT/JP2010/055464 WO2010110456A1 (ja) 2009-03-26 2010-03-26 磁気検出装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP4626728B2 true JP4626728B2 (ja) 2011-02-09
JPWO2010110456A1 JPWO2010110456A1 (ja) 2012-10-04

Family

ID=42781146

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010527263A Active JP4626728B2 (ja) 2009-03-26 2010-03-26 磁気検出装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8339132B2 (ja)
EP (1) EP2413153B9 (ja)
JP (1) JP4626728B2 (ja)
KR (1) KR101235524B1 (ja)
CN (1) CN102356328B (ja)
WO (1) WO2010110456A1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014153309A (ja) * 2013-02-13 2014-08-25 Magne Design Corp 磁界検出素子
JP6240994B1 (ja) * 2016-12-15 2017-12-06 朝日インテック株式会社 3次元磁界検出素子および3次元磁界検出装置

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5411818B2 (ja) * 2010-08-26 2014-02-12 セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー 半導体装置
JP5560413B2 (ja) * 2010-10-26 2014-07-30 アイチ・マイクロ・インテリジェント株式会社 磁気式ジャイロ
KR101553092B1 (ko) 2010-12-10 2015-09-14 니혼 덴산 산쿄 가부시키가이샤 자기 패턴 검출 장치
JP5429717B2 (ja) * 2011-03-07 2014-02-26 国立大学法人名古屋大学 磁気検出装置
TWI457583B (zh) * 2012-11-02 2014-10-21 Univ Nat Kaohsiung Applied Sci Three - axis magnetic field sensing device with magnetic flux guide
US9116179B2 (en) * 2012-12-17 2015-08-25 Covidien Lp System and method for voltage and current sensing
US9297863B2 (en) * 2013-03-15 2016-03-29 Meng-Huang Lai Planarized three-dimensional (3D) magnetic sensor chip
JP5876583B2 (ja) 2013-03-26 2016-03-02 旭化成エレクトロニクス株式会社 磁気センサ及びその磁気検出方法
CN103267520B (zh) * 2013-05-21 2016-09-14 江苏多维科技有限公司 一种三轴数字指南针
DE102013107821A1 (de) * 2013-07-22 2015-01-22 Sensitec Gmbh Mehrkomponenten-Magnetfeldsensor
KR101511192B1 (ko) * 2013-10-24 2015-04-10 한국과학기술원 고해상도 자기장 집속 장치, 방법 및 그를 위한 자기장 수신 장치
TWI516785B (zh) * 2013-11-28 2016-01-11 Univ Nat Taiwan Magnetic field sensing device
WO2015170509A1 (ja) * 2014-05-09 2015-11-12 愛知製鋼株式会社 磁気検出装置およびその製造方法
JP6483435B2 (ja) 2014-12-26 2019-03-13 ローム株式会社 磁気検出装置
JP6609947B2 (ja) * 2015-03-18 2019-11-27 愛知製鋼株式会社 磁気検出装置
JP6036938B1 (ja) 2015-08-05 2016-11-30 愛知製鋼株式会社 磁気検出装置
CN105449096B (zh) * 2015-11-17 2017-10-24 四川大学 磁性薄膜结构及其制造、使用方法和磁敏传感单元、阵列
JP2017219457A (ja) * 2016-06-09 2017-12-14 愛知製鋼株式会社 マグネトインピーダンスセンサ
JP7262886B2 (ja) * 2017-07-21 2023-04-24 朝日インテック株式会社 超小型高感度磁気センサ
TWI798287B (zh) * 2017-12-08 2023-04-11 日商日本電產理德股份有限公司 Mi元件的製造方法及mi元件
JP6516057B1 (ja) * 2017-12-26 2019-05-22 Tdk株式会社 磁気センサ
JP6538226B1 (ja) * 2018-03-23 2019-07-03 Tdk株式会社 磁気センサ
US11467229B2 (en) * 2019-05-23 2022-10-11 Stmicroelectronics S.R.L. Triaxial magnetic sensor for measuring magnetic fields, and manufacturing process thereof
US11720170B2 (en) 2019-12-26 2023-08-08 Stmicroelectronics, Inc. Method, device, and system of measuring eye convergence angle
WO2021144876A1 (ja) * 2020-01-15 2021-07-22 朝日インテック株式会社 測定装置、検出装置、および測定方法
JP2021071488A (ja) * 2021-01-05 2021-05-06 エイブリック株式会社 磁気センサ

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001013231A (ja) * 1999-05-12 2001-01-19 Asulab Sa 半導体基板上に形成された磁気センサ
JP2001027664A (ja) * 1999-07-14 2001-01-30 Tokin Corp 磁気センサ
JP2002090432A (ja) * 2000-09-12 2002-03-27 Aichi Steel Works Ltd 磁場検出装置
WO2004051298A1 (ja) * 2002-11-29 2004-06-17 Yamaha Corporation 磁気センサ、及び磁気センサの温度依存特性補償方法
JP2005159273A (ja) * 2003-05-27 2005-06-16 Matsushita Electric Works Ltd 磁電変換素子、磁気検出装置及び地磁気センサ
JP2008216181A (ja) * 2007-03-07 2008-09-18 Citizen Holdings Co Ltd 方位センサ及び電子機器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001296127A (ja) * 2000-04-13 2001-10-26 Aichi Steel Works Ltd 磁場検出装置
JP4936299B2 (ja) * 2000-08-21 2012-05-23 メレクシス・テクノロジーズ・ナムローゼフェンノートシャップ 磁場方向検出センサ
EP1336858A3 (en) * 2002-02-19 2005-03-23 Aichi Micro Intelligent Corporation Two-dimensional magnetic sensor
KR100743384B1 (ko) 2003-07-18 2007-07-30 아이치 세이코우 가부시키가이샤 3차원 자기 방위센서 및 마그네토-임피던스 센서 소자
JP2006003116A (ja) * 2004-06-15 2006-01-05 Hitachi Metals Ltd 磁気センサ
US7112957B2 (en) * 2004-06-16 2006-09-26 Honeywell International Inc. GMR sensor with flux concentrators
US7505233B2 (en) * 2004-12-15 2009-03-17 International Business Machines Corporation Magnetic sensor
RU2007127853A (ru) * 2004-12-23 2009-01-27 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. (Nl) Способ и устройство для снятия характеристики магнитного поля, приложенного к магнитному датчику
DE102006022336B8 (de) * 2006-02-28 2015-12-31 Infineon Technologies Ag Magnetfeldsensor und Sensoranordnung mit demselben

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001013231A (ja) * 1999-05-12 2001-01-19 Asulab Sa 半導体基板上に形成された磁気センサ
JP2001027664A (ja) * 1999-07-14 2001-01-30 Tokin Corp 磁気センサ
JP2002090432A (ja) * 2000-09-12 2002-03-27 Aichi Steel Works Ltd 磁場検出装置
WO2004051298A1 (ja) * 2002-11-29 2004-06-17 Yamaha Corporation 磁気センサ、及び磁気センサの温度依存特性補償方法
JP2005159273A (ja) * 2003-05-27 2005-06-16 Matsushita Electric Works Ltd 磁電変換素子、磁気検出装置及び地磁気センサ
JP2008216181A (ja) * 2007-03-07 2008-09-18 Citizen Holdings Co Ltd 方位センサ及び電子機器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014153309A (ja) * 2013-02-13 2014-08-25 Magne Design Corp 磁界検出素子
JP6240994B1 (ja) * 2016-12-15 2017-12-06 朝日インテック株式会社 3次元磁界検出素子および3次元磁界検出装置
JP2018096885A (ja) * 2016-12-15 2018-06-21 朝日インテック株式会社 3次元磁界検出素子および3次元磁界検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP2413153A4 (en) 2014-04-09
EP2413153B9 (en) 2019-03-13
KR101235524B1 (ko) 2013-02-20
KR20110120343A (ko) 2011-11-03
CN102356328B (zh) 2014-04-02
JPWO2010110456A1 (ja) 2012-10-04
WO2010110456A1 (ja) 2010-09-30
US8339132B2 (en) 2012-12-25
US20120013332A1 (en) 2012-01-19
EP2413153B1 (en) 2018-11-21
CN102356328A (zh) 2012-02-15
EP2413153A1 (en) 2012-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4626728B2 (ja) 磁気検出装置
US10353020B2 (en) Manufacturing method for integrated multilayer magnetoresistive sensor
JP6222351B2 (ja) 磁気検出装置およびその製造方法
TW201015097A (en) Device for measuring the direction and/or strength of a magnetic field
US11009566B2 (en) Three-dimensional magnetic field detection element and three-dimensional magnetic field detection device
JP2006003116A (ja) 磁気センサ
KR101532150B1 (ko) 직교형 플럭스게이트 센서
JP6036938B1 (ja) 磁気検出装置
JP2016223894A (ja) 磁気センサ
JP2014153309A (ja) 磁界検出素子
JP6609947B2 (ja) 磁気検出装置
JP2012150007A (ja) 電力計測装置
JP4244807B2 (ja) 方位センサ
JP2009222542A (ja) 磁気センサ素子および電子方位計
KR20150066831A (ko) 직교형 플럭스게이트 센서
KR20160004979A (ko) 직교형 플럭스게이트 센서
KR100649781B1 (ko) 교류자기저항 센서를 이용한 3축 자기센서와, 이를 이용한전방위 자기센서
JP3961265B2 (ja) 磁気センサ
TW201229525A (en) Electric power measuring apparatus and method
JP2019015550A (ja) 3次元磁界検出素子
JP2015190900A (ja) 磁界検出素子および磁界検出方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101012

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101025

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131119

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4626728

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250