JPWO2015076360A1 - ソケット取付構造およびばね部材 - Google Patents
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- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims abstract description 14
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims abstract description 14
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 61
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 18
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 claims description 15
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000005452 bending Methods 0.000 claims description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 25
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 2
- 229910001369 Brass Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000010951 brass Substances 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
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- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0441—Details
- G01R1/0466—Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding
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- H—ELECTRICITY
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- H01R12/70—Coupling devices
- H01R12/71—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures
- H01R12/712—Coupling devices for rigid printing circuits or like structures co-operating with the surface of the printed circuit or with a coupling device exclusively provided on the surface of the printed circuit
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- G—PHYSICS
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- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0433—Sockets for IC's or transistors
- G01R1/0483—Sockets for un-leaded IC's having matrix type contact fields, e.g. BGA or PGA devices; Sockets for unpackaged, naked chips
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01R1/02—General constructional details
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- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
- G01R1/06716—Elastic
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R2201/00—Connectors or connections adapted for particular applications
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- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
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Abstract
Description
2 コンタクトプローブ(プローブ)
3 プローブホルダ
4 ホルダ部材
5 板ばね
21 第1プランジャ
22 第2プランジャ
23 パイプ部材
31 第1部材
32 第2部材
33,34 ホルダ孔
33a,34a,211a〜211d 小径部
33b,34b 大径部
40 本体部
41a,41b 切欠部
50 基部
51a,51b 腕部
52a〜52d,53a,53b 貫通孔
100 半導体集積回路
101 接続用電極
200 回路基板
201 電極
201a〜201d シャフト
401a,401b ネジ
411 嵌入孔
412a〜412d 挿通孔
413a,413b ネジ穴
511a,511b 第1延在部
512a,512b 第2延在部
521,526 第1孔部
522,527 第2孔部
523,524 スリット
525 爪部
Claims (7)
- 長手方向の両端で基板および被接触体とそれぞれ接触する複数のコンタクトプローブと、前記複数のコンタクトプローブを所定のパターンにしたがって収容して保持するプローブホルダと、該プローブホルダの周囲に設けられるホルダ部材と、を有するソケットを、前記基板に対して取り付けるソケット取付構造であって、
前記基板の主面から延出し、前記ホルダ部材に設けられた挿通孔にそれぞれ挿通される複数の支持部材と、
前記基板上に載置された前記ホルダ部材を前記基板側に付勢した状態で、前記複数の支持部材に取り付けられる板状のばね部材と、
を備え、
前記ばね部材は、
板厚方向に貫通し、前記支持部材を挿通可能な第1貫通孔が形成され、
複数の前記第1貫通孔のうちの少なくとも一つの第1貫通孔の側壁の一部をなし、前記支持部材を保持して固定する固定部を有することを特徴とするソケット取付構造。 - 前記ばね部材は、
略帯状をなす基部と、
前記基部の長手方向の両端からそれぞれ板面が通過する平面上で前記基部の長手方向と略垂直な方向に延び、中央部が弧状に湾曲した二つの腕部と、
を有し、前記基部の板面に垂直な方向の平面視で略C字状をなし、
前記第1貫通孔は、前記腕部にそれぞれ設けられることを特徴とする請求項1に記載のソケット取付構造。 - 前記支持部材は、柱状をなし、
先端側に設けられ、他の部分と比して径が小さい小径部を有し、
前記第1貫通孔は、
径が前記支持部材の最大径より大きい第1孔部と、
前記第1孔部の端部から前記腕部の先端側と異なる側に均一な幅で延び、該幅が前記小径部の径と略同等である第2孔部と、
を有し、
前記固定部は、前記第2孔部の側壁から延びるスリットにより形成され、前記支持部材を係止する爪部であることを特徴とする請求項2に記載のソケット取付構造。 - 前記二つの腕部には、互いに対向する側と反対側の縁端部を折り曲げることによって形成される屈曲部がそれぞれ設けられていることを特徴とする請求項2または3に記載のソケット取付構造。
- 前記ホルダ部材には、ネジが螺合可能なネジ穴が設けられ、
前記腕部には、前記ネジ穴に応じて板厚方向に貫通する第2貫通孔が設けられ、
前記ホルダ部材と前記ばね部材とは、前記第2貫通孔に挿通され、前記ネジ穴に螺合された前記ネジにより連結することを特徴とする請求項2〜4のいずれか一つに記載のソケット取付構造。 - 前記ホルダ部材は、上面側の対向する外縁側にそれぞれ設けられ、この外縁に沿って切り欠かれ、前記ばね部材の前記ホルダ部材に対する取付位置を案内する2つの切欠部を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれか一つに記載のソケット取付構造。
- 長手方向の両端で基板および被接触体とそれぞれ接触する複数のコンタクトプローブと、前記複数のコンタクトプローブを所定のパターンにしたがって収容して保持するプローブホルダと、該プローブホルダの周囲に設けられるホルダ部材と、を有するソケットを前記基板に対して取り付けるために用いられる板状のばね部材であって、
板厚方向に貫通し、前記基板上に載置された前記ホルダ部材に対して前記基板側に荷重を加えた状態で、前記基板の主面から延出し、前記ホルダ部材に設けられた挿通孔にそれぞれ挿通される複数の支持部材を挿通する複数の第1貫通孔が形成され、
複数の前記第1貫通孔のうちの少なくとも一つの第1貫通孔の側壁の一部をなし、前記支持部材を保持して固定する固定部を有することを特徴とするばね部材。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013242365 | 2013-11-22 | ||
JP2013242365 | 2013-11-22 | ||
PCT/JP2014/080860 WO2015076360A1 (ja) | 2013-11-22 | 2014-11-21 | ソケット取付構造およびばね部材 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2015076360A1 true JPWO2015076360A1 (ja) | 2017-03-16 |
JP6170176B2 JP6170176B2 (ja) | 2017-07-26 |
Family
ID=53179619
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015549202A Active JP6170176B2 (ja) | 2013-11-22 | 2014-11-21 | ソケット取付構造およびばね部材 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6170176B2 (ja) |
SG (1) | SG11201604042QA (ja) |
TW (1) | TWI548159B (ja) |
WO (1) | WO2015076360A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3112881A1 (en) * | 2015-07-02 | 2017-01-04 | Multitest elektronische Systeme GmbH | System for mounting a test socket and a test board to each other, test board and test socket |
TWI554763B (zh) * | 2015-10-28 | 2016-10-21 | 旺矽科技股份有限公司 | 彈簧式探針頭 |
US11382231B2 (en) | 2020-04-30 | 2022-07-05 | Tyco Electronics Japan G.K. | Socket connector and cable assembly for a communication system |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004325306A (ja) * | 2003-04-25 | 2004-11-18 | Yokowo Co Ltd | 検査用同軸プローブおよびそれを用いた検査ユニット |
JP2009123713A (ja) * | 2005-03-10 | 2009-06-04 | Yamaichi Electronics Co Ltd | コンタクト端子用カートリッジ |
JP2013083506A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101679499B1 (ko) * | 2012-05-22 | 2016-11-24 | 니혼 하츠쵸 가부시키가이샤 | 소켓 설치 구조 및 스프링 부재 |
-
2014
- 2014-11-21 JP JP2015549202A patent/JP6170176B2/ja active Active
- 2014-11-21 WO PCT/JP2014/080860 patent/WO2015076360A1/ja active Application Filing
- 2014-11-21 SG SG11201604042QA patent/SG11201604042QA/en unknown
- 2014-11-21 TW TW103140404A patent/TWI548159B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004325306A (ja) * | 2003-04-25 | 2004-11-18 | Yokowo Co Ltd | 検査用同軸プローブおよびそれを用いた検査ユニット |
JP2009123713A (ja) * | 2005-03-10 | 2009-06-04 | Yamaichi Electronics Co Ltd | コンタクト端子用カートリッジ |
JP2013083506A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Enplas Corp | 電気部品用ソケット |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201535881A (zh) | 2015-09-16 |
WO2015076360A1 (ja) | 2015-05-28 |
TWI548159B (zh) | 2016-09-01 |
SG11201604042QA (en) | 2016-07-28 |
JP6170176B2 (ja) | 2017-07-26 |
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Legal Events
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A621 | Written request for application examination |
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A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
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