JPWO2014156723A1 - 形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラム - Google Patents

形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラム Download PDF

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Abstract

点群データの抽出領域を設定するための手間を低減する。形状測定装置は、測定光を測定対象の測定領域へ投影する投影部と、測定光が投影された測定対象を撮像する撮像部と、測定対象の測定領域の位置が変わるように、測定対象に対して相対的に投影部または撮像部を移動させる移動機構と、それぞれ異なる測定領域へ前記測定光を投影したときに前記撮像部により撮像された前記測定光の像の位置に基づいて、前記撮像部で撮像された撮像画像から前記測定対象の位置を算出するために用いる画像情報の抽出領域を設定する抽出領域設定部とを備える。

Description

本発明は、非接触光学走査により形状測定を行う、形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラムに関する。
測定対象の3次元形状を非接触で測定する方法として、測定対象にスリット状の光束を投影し、このスリット状の光束により測定対象の輪郭形状に対応した曲線又は直線からなる線状の像(以下、光切断線と称する)を撮像し、この光切断線を撮像した画像データから測定対象の点群データを生成する光切断法がある(例えば、特許文献1を参照)。
特表2009―534969号公報 特開2009−68998号公報
ところで、上記の光切断法では、測定対象の表面に沿って線状の光束によりスキャン(走査)し、この測定対象の表面に生じた光切断線を撮像した撮像画像から点群データを生成することにより、測定対象の3次元形状を測定している。しかしながら、この撮像画像には光切断線の多重反射等により発生する光切断線の像とは異なる像(例えば、不連続点など)が含まれることがある。このため、従来は、撮像画像の表示画面において、そのような像が含まれそうな領域を画面上で確認し、点群データを取得する範囲(抽出領域)を設定していた。
しかしながら、上記のような抽出領域の設定方法では、測定対象が複雑な形状である場合などにおいて、スキャンの過程において光切断線とは異なる光の光点(以下、異常点と称する)が生じる領域が変化することがあり、この場合には、異常点を正しく省いて点群データを生成するための抽出領域の設定に手間がかかることがあった。
本発明は、上記問題を解決すべくなされたもので、その目的は、測定対象の3次元形状の算出に用いる点群データの抽出領域を設定するための手間を低減することができる、形状測定装置、構造物製造システム、形状測定方法、構造物製造方法、及び形状測定プログラムを提供することにある。
本発明の一実施形態は、測定光を測定対象の測定領域へ投影する投影部と、前記測定光が投影されたときの前記測定領域の像を撮像する撮像部と、前記測定対象の測定領域の位置が変わるように、前記測定対象に対して相対的に前記投影部または前記撮像部を移動させる移動機構と、それぞれ異なる測定領域へ前記測定光を投影したときに前記撮像部により撮像された前記測定光の像の位置に基づいて、前記撮像部で撮像された撮像画像から前記測定対象の位置を算出するために用いる画像情報の抽出領域を設定する抽出領域設定部とを備える形状測定装置である。
また、本発明の一実施形態は、測定光を測定対象の測定領域へ投影する投影部と、前記測定光が投影されたときの前記測定領域の像を撮像する撮像部と、前記測定対象の測定領域の位置が変わるように、前記測定対象に対して相対的に前記投影部または前記撮像部を移動させる移動機構と、前記撮像部で撮像されたそれぞれ異なる測定領域に前記測定光を投影したときの複数の撮像画像を重複して表示する表示部と、前記撮像画像の一部を選択する選択領域に関する情報を入力する入力部と、前記選択領域に関する情報を基に抽出領域を設定する抽出領域設定部と、前記撮像部で撮像された撮像画像のうち前記抽出領域内の撮像画像から測定対象の位置を算出する位置算出部を有する形状測定装置である。
また、本発明の一実施形態は、構造物の形状に関する構造物設計情報を作製する設計装置と、前記構造物設計情報に基づいて前記構造物を作製する成形装置と、作成された前記構造物の形状を、撮像画像に基づいて測定する上記の形状測定装置と、前記測定によって得られた形状情報と、前記構造物設計情報とを比較する検査装置とを含む構造物製造システムである。
また、本発明の一実施形態は、測定対象の測定領域を撮像した撮像画像を生成する撮像手順と、前記撮像手順において撮像される撮像画像が、前記測定対象の測定領域にパターンが投影された画像として撮像されるように、前記撮像手順において撮像されている方向と異なる方向から、前記パターンを前記測定対象に投影する投影手順と、前記測定対象のそれぞれ異なる測定領域を前記撮像手順において撮像された複数の前記撮像画像うち少なくとも前記測定領域における前記パターンの像が最も外側に位置するときの撮像画像を有する画像から前記撮像画像に抽出対象の画像を示す抽出領域を設定する抽出領域設定手順と、前記撮像手順において生成された前記撮像画像内の前記抽出領域の前記撮像画像に基づいて、前記測定対象の位置を算出する位置算出手順とを有する形状測定方法である。
また、本発明の一実施形態は、構造物の形状に関する構造物設計情報を作製する工程と、前記構造物設計情報に基づいて前記構造物を作製する工程と、作成された前記構造物の形状を、上記の形状測定方法を用いて生成した撮像画像に基づいて測定する工程と、前記測定によって得られた形状情報と、前記構造物設計情報とを比較する工程とを含む構造物製造方法である。
また、本発明の一実施形態は、コンピュータに、測定対象を撮像した撮像画像を生成する撮像手順と、前記撮像手順において撮像される撮像画像が、前記測定対象にパターンが投影された画像として撮像されるように、前記撮像手順において撮像している方向と異なる方向から、前記パターンを前記測定対象の測定領域に投影する投影手順と、前記測定対象のそれぞれ異なる測定領域を前記撮像手順において撮像された前記パターンの像に基づいて撮像画像から前記測定対象の位置を算出するために用いる画像情報を抽出する抽出領域を設定する抽出領域設定手順と、を実行させるための形状測定プログラムである。
本発明によれば、測定対象の3次元形状の算出に用いる点群データの抽出領域を設定するための手間を低減することができる。
図1は本発明の概要について説明するための模式図である。 図2は撮像画像の一例を示す模式図である。 図3は本発明の第1実施形態に係る形状測定装置の概略構成の一例を示す構成図である。 図4は本実施形態の測定機本体の構成の一例を示す構成図である。 図5は本実施形態の形状測定装置が測定する測定対象の一例を示す図である。 図6は本実施形態における歯すじの外周側の撮像画像の一例を示す模式図である。 図7は本実施形態における歯すじの中央部分の撮像画像の一例を示す模式図である。 図8は本実施形態における歯すじの内周側の撮像画像の一例を示す模式図である。 図9は本実施形態の論理和画像生成部が生成する論理和画像の一例を示す模式図である。 図10は本実施形態の抽出領域設定部が設定可能にする抽出領域の一例を示す模式図である。 図11は本実施形態の形状測定装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図12は本発明の第2実施形態に係る形状測定装置の構成を示すブロック図である。 図13は本発明の第3実施形態に係る構造物製造システムの構成を示すブロック図である。 図14は構造物製造システムによる処理の流れを示したフローチャートである。 図15は第2実施形態の形状測定装置の動作の一例を示すフローチャートである。 図16(a)、図16(b)、図16(c)は、本実施形態の抽出領域設定部が設定する抽出領域の一例を示す模式図である。
以下、図面を参照して本発明の実施形態について説明する。
[概要]
図1は、本発明の形状測定装置100の概要について説明するための模式図である。
この形状測定装置100は、測定対象3を光切断線PCLによりスキャン(走査)し、この光切断線PCLの撮像画像を基に、この測定対象3の3次元形状を示す点群データを生成する。そして、形状測定装置100は、光切断線PCLの撮像画像において、点群データの取得の際に利用する像を取捨選択するための抽出領域Apを設定できる点に特徴がある。
形状測定装置100は、図1に示すように、投影部21により、測定対象3に向けて、この測定対象3の表面の法線方向に対応して定められる照射方向DR1から、ライン状の測定光Laを照射する。このライン状の測定光Laによって、測定対象3の表面に光切断線PCLが形成される。この測定対象3が曲りばかさ歯車SBGである場合を一例にして以下説明する。この例において、投影部21は、曲りばかさ歯車3(SBG)のある歯面の測定対象範囲Hs1内の測定領域に向けてライン状の測定光Laを照射する。撮像部22は、測定対象3の凹凸形状が延在する方向(歯すじの方向)を撮像方向DR2にして、曲りばかさ歯車3(SBG)のある歯面の測定対象範囲Hs1内の表面に投影される光切断線PCLを撮像し、撮像画像を生成する。
なお、本願明細書において「測定領域」とは、測定対象3の表面において、少なくとも撮像部22の撮像範囲内でかつ、投影部21から投影されたライン状の測定光Laが照射された範囲を含む。しかし、撮像部22の撮像範囲かつ測定光Laの照射範囲の両条件が当てはまった測定対象3の表面上の全領域でなくともよい。例えば、ライン状の測定光Laのラインの端部及びその近傍を除いて、測定領域に設定していてもよい。また、ライン状の測定光Laが測定対象3の歯車に対して、複数の歯に照射されている場合、そのうちの測定対象範囲に設定された歯に該当する部分の測定光Laが照射された範囲内であってもよい。本願発明では、測定対象範囲Hs1内において、測定光Laの照射範囲でかつ撮像部の撮影範囲内に位置する部分を測定領域として説明する。
測定対象3を歯車の円周方向(つまり、移動方向DR3)に移動させると、光切断線PCLが投影される測定領域が移動するので、これにより測定対象3の表面をスキャン(走査)する。これにより、例えば、図2に示すように、表示画面46上に光切断線PCLの投影位置に応じた撮像画像L1が得られる。
図2は、撮像画像の一例を示す模式図である。同図に示すように、撮像画像L1において、測定光の一部が測定領域で反射して、測定領域とは異なる位置に到達することがある。このように測定領域とは異なる位置にも測定光が到達することにより、生成される像は多重反射によるものである。このような多重反射光は形状測定結果に誤差をもたらすノイズ成分Npとなる。更に、測定対象範囲Hs1に含まれる歯面(以下、単に歯面Hs1とも記載する。)に隣接する歯面からも外乱光によるノイズ成分NLが重畳することがある。この図2に示す例では、撮像画像中に、光切断線PCLの周囲に多重反射光像(ノイズNp1)、および隣接歯面の像(ノイズNL1、ノイズNL2)が異常点として現れている。
このため、この撮像画像から点群データを生成して測定対象3の3次元形状測定を行う場合には、撮像画像において、多重反射光像や隣接歯面の像などの異常点が含まれない抽出領域Apを設定して点群データを生成する必要がある。ところで、例えば、歯車の点群データは、歯すじの方向の複数の位置において光切断線PCLを撮像した撮像画像、つまり複数枚の撮像画像に基づいて生成される。ここで、多重反射光像や隣接歯面の像の位置は撮像された位置によって変化するため、撮像画像内の異常点が含まれる位置は撮像画像ごとに相違する。したがって、複数枚の撮像画像のそれぞれについて異常点を除外するように抽出領域Apを設定すれば、点群データを作成するためのすべての撮像画像について、異常点が含まれないように抽出領域Apを設定することができる。しかしながら、従来においては、複数枚の撮像画像について、1枚ずつ抽出領域Apを設定していたため、抽出領域Apの設定に時間がかかるという問題があった。
そこで、本発明の形状測定装置100では、撮像画像の抽出領域Apを複数枚まとめて設定できるようにする。そこで、本発明では、撮像部で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における複数の撮像画像のうち、少なくとも前記測定光の像が前記測定領域の最も外側に位置するときの撮像画像を有する画像から抽出領域を設定する。例えば、図10を参照して後述するように、複数枚の撮像画像の合成画像(例えば、論理和画像)を表示することにより、複数枚の撮像画像の抽出領域Apを1枚の合成画像上でまとめて表示できるようにし、測定光の像が最も外側に位置するときの画像を簡単に認識できるようにする。また、画像中心点から最も遠い位置の画像データを抽出できるようにしてもよい。
このように、本発明の形状測定装置100では、撮像画像の抽出領域Apを複数枚まとめて設定することができるため、複数枚の撮像画像について、1枚ずつ抽出領域Apを設定する場合に比べて、抽出領域Apの設定時間を低減することができる。
[第1実施形態]
(形状測定装置100の構成)
図3は、本発明の第1実施形態に係る形状測定装置100の概略構成の一例を示す構成図である。形状測定装置100は、測定機本体1と制御ユニット40(図4を参照)とを備えている。
図3に示されるように、測定機本体1は、水平な上面(基準面)を備えている基台2と、この基台2上に設けられ、測定ヘッド13を支持して移動させる移動部10と、基台2上に設けられ測定対象3を載置する支持装置30とを備えている。ここで、本実施形態の形状測定装置100は、例えば、歯車やタービンなど円周方向に周期的に配列されかつ円周方向とは異なる方向に延在した凹凸形状の表面を有する測定対象3の表面形状を測定する。
ここで、この基台2の基準面を基準とする直交座標系を定義する。互いに直交するX軸とY軸とが基準面に対して平行に定められ、Z軸が基準面に対して直交する方向に定められている。また、基台2には、Y方向(紙面に垂直な方向でこれを前後方向とする)に延びるガイドレール(不図示)が設けられている。
移動部10は、そのガイドレール上をY方向に移動自在に設けられ、支柱10aと、支柱10aと対をなす支柱10bとの間で水平に延びるように架け渡された水平フレーム10cとを備え、門型の構造体を形成している。また、移動部10は、水平フレーム10cにおいて、X方向(左右方向)に移動自在に設けられたキャリッジ(不図示)を備えており、そのキャリッジに対してZ方向(上下方向)に移動自在に設けられた測定ヘッド13を備えている。
測定ヘッド13の下部には、測定対象3の形状を検出する検出部20が設けられている。この検出部20は、検出部20の下方に配置される測定対象3と検出部20との相対位置を検出するように、測定ヘッド13に支持されている。測定ヘッド13の位置を制御することにより、検出部20の位置を移動させることができる。また、検出部20と測定ヘッド13との間には、Z軸方向と平行な軸に対して検出部20を回転するヘッド回転機構13aを有している。
また、移動部10の内部には、入力される駆動信号に基づき測定ヘッド13を3方向(X、Y、Z方向)に電動で移動させるヘッド駆動部14(図4を参照)と、測定ヘッド13の座標を検出し測定ヘッド13の座標値を示す信号を出力するヘッド位置検出部15(図4を参照)と、が設けられている。
基台2上には、支持装置30が設けられている。支持装置30は、ステージ31と、支持テーブル32とを備えている。ステージ31は、測定対象3を載置して把持する。
支持テーブル32は、直交する2方向の回転軸周りにステージ31を回転可能に支持することによりステージ31を基準面に対して傾斜または水平回転させる。本実施形態の支持テーブル32は、例えば、垂直(Z軸方向)に延びる回転軸θを中心として水平面内で図3に示すA方向に回転可能、かつ、水平(X軸方向)に延びる回転軸φを中心として図3に示すB方向に回転可能にステージ31を支持している。
また、支持装置30には、入力される駆動信号に基づきステージ31を回転軸θ及び回転軸φ回りに電動でそれぞれ回転駆動させるステージ駆動部33(図4を参照)と、ステージ31の座標を検出し、ステージ座標値を示す信号を出力するステージ位置検出部34(図4を参照)とが設けられている。
制御ユニット40は、入力装置41(マウス42およびキーボード43)と、ジョイスティック44と、表示装置45と、制御部51とを備える。
制御部51は、測定機本体1を制御する。その詳細は後述する。入力装置41は、各種指示情報を入力するマウス42やキーボード43などである。表示装置45は、表示画面46上に、計測画面、指示画面、計測結果、点群データの抽出領域Apなどを表示する。続いて、図4を参照し、測定機本体1の構成について説明する。
図4は、本実施形態の測定機本体の構成の一例を示す構成図である。測定機本体1は、駆動部16と、位置検出部17と、検出部20とを備えている。駆動部16は、前述のヘッド駆動部14と、ステージ駆動部33とを備えている。
ヘッド駆動部14は、支柱10a、10bをY方向に駆動するY軸用モータ、キャリッジをX方向に駆動するX軸用モータ、測定ヘッド13をZ方向に駆動するZ軸用モータ及び検出部20をZ軸方向と平行な軸に回転するヘッド回転用モータを備えている。ヘッド駆動部14は、後述の駆動制御部54から供給される駆動信号を受け取る。ヘッド駆動部14は、その駆動信号に基づき測定ヘッド13を3方向(X、Y、Z方向)に電動で移動させる。
ステージ駆動部33は、ステージ31を回転軸θ回りに回転駆動するロータリ軸用モータ及び回転軸φ回りに回転駆動するチルト軸用モータを備える。また、ステージ駆動部33は、駆動制御部54から供給される駆動信号を受け取り、受け取った駆動信号に基づきステージ31を回転軸θ及び回転軸φ回りに、電動でそれぞれ回転させる。また、ステージ駆動部33は、測定光Laが照射される測定対象3の位置を、円周方向に対応して定められる検出部20の移動方向DR3に相対的に移動させる。また、ステージ駆動部33は、検出部20を、測定対象3に対して検出部20の移動方向DR3に相対的に移動させる。また、ステージ駆動部33は、測定対象3の中心軸AXと回転移動の回転軸θとを一致させて測定対象3を回転移動させる。
ここで、例えば、測定対象3としての歯車の形状を測定する場合、ステージ駆動部33は、測定光Laが照射される測定対象3の位置を、歯の歯幅の方向に対応して定められる検出部20の移動方向DR3に相対的に移動させる。
位置検出部17は、ヘッド位置検出部15と、前述のステージ位置検出部34とを備えている。
ヘッド位置検出部15は、測定ヘッド13のX軸、Y軸、及びZ軸方向の位置及びヘッドの設置角度をそれぞれ検出するX軸用エンコーダ、Y軸用エンコーダ、Z軸用エンコーダ、及びヘッド回転用エンコーダを備えている。また、ヘッド位置検出部15は、それらのエンコーダによって測定ヘッド13の座標を検出し、測定ヘッド13の座標値を示す信号を後述の座標検出部52へ供給する。
ステージ位置検出部34は、ステージ31の回転軸θ及び回転軸φ回りの回転位置をそれぞれ検出するロータリ軸用エンコーダ及びチルト軸用エンコーダを備えている。また、ステージ位置検出部34は、それらのエンコーダを用いて、ステージ31の回転軸θ及び回転軸φ回りの回転位置を検出し、検出した回転位置を表す信号を座標検出部52へ供給する。
検出部20は、投影部21と、撮像部22とを有する光プローブ20Aを備えており、光切断方式により測定対象3の表面形状を検出する。つまり、検出部20は、投影部21と撮像部22との間の相対的な位置が変化しないように、投影部21と撮像部22とを保持している。
投影部21は、後述の間隔調整部53から供給される光の照射を制御する制御信号に基づき、所定の光量分布を有する測定光Laを、測定対象3の表面の法線方向に対応して定められる照射方向DR1によって測定対象の測定領域(測定対象の表面)に照射する。この測定光Laは、例えば、平面に照射された場合にライン状に形成される光量分布を有している。この場合、測定対象3に照射された測定光Laは、測定対象3の凹凸形状に応じて長手方向が設定されたライン状の投影パターンを測定対象3に投影することで形成される。この長手方向が前述のような方向になるように、ヘッド回転機構13aを駆動制御している。このような測定光Laは、例えば、点光源から発せられた光が屈折または掃引されてライン状に形成されてもよい。このライン状に形成された測定光Laによって、測定対象3の表面に光切断線PCLが形成される。すなわち、投影部21は、撮像部22によって撮像される撮像画像が、測定対象3の測定領域にパターンが投影された画像として撮像されるように、撮像部22が撮像している方向と異なる方向から、パターンを測定対象3に投影する。
ここで、例えば、測定対象3としての歯車の形状を測定する場合、投影部21は、測定対象3の歯車が有する歯に測定光Laを、歯の歯面の法線方向にそって照射する。この場合、光切断線PCLは、測定対象3の表面形状(例えば、歯車の歯面の形状)に応じて形成される。
撮像部22は、測定対象3の測定領域の像を撮像した撮像画像を生成する。具体的には、撮像部22は、測定光Laが照射された表面を照射方向DR1と異なる方向(測定対象3が歯車である場合、その歯車の円周方向とは異なる方向)の撮像方向DR2から撮像し、測定用画像を生成する。例えば、本実施形態の撮像部22は、測定対象3の凹凸形状が延在する方向を撮像方向DR2にして、測定光Laが撮像された撮像画像を生成する。ここで、測定対象3が歯車である場合には、測定対象3の凹凸形状(つまり歯車の歯)が延在する方向は、例えば歯車の歯すじの方向である。この場合、撮像部22は、測定対象3としての歯車の歯すじの方向から測定光Laが投影された歯面の像を撮像画像として生成する。このように、撮像部22は、投影部21からの照射光により測定対象3の表面に形成される光切断線PCLを撮像する。なお、測定対象3の凹凸形状が延在する方向に対応して撮像方向DR2が設定されているが、必ずしも凹凸形状が延在する方向と一致する必要は無く、延在方向を中心に、測定部位の凸部又は凹部が、隣接する凸部により撮像部22から見て隠れない方向であればよい。
また、撮像部22は、測定対象3の表面に測定光Laを投影することにより形成される陰影パターンを撮像し、撮像した画像情報を間隔調整部53へ供給する。これにより、制御ユニット40は、形状測定データを取得する。撮像部22は、CCD(Charge Coupled Device)、C−MOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)センサなどの固体撮像素子を備えている。
ここで、例えば、測定対象3としての歯車の形状を測定する場合、撮像部22は、測定光Laが照射された歯面の歯すじの向きに対応して定められる撮像方向DR2から光切断線が撮像された撮像画像を生成する。また、投影部21と撮像部22とは同じ筐体に固定されており、測定位置が変わっても投影部21の投影方向と撮像部22との撮像方向及び、投影部21と撮像部22との位置は変わらない。
続いて、制御ユニット40について説明する。上述したように、制御ユニット40は、制御部51と、入力装置41と、ジョイスティック44と、表示装置45とを備える。
入力装置41は、ユーザが各種指示情報を入力するマウス42及びキーボード43を備えており、例えば、マウス42やキーボード43により入力された指示情報を検出し、検出した指示情報を、後述する記憶部60に書き込み記憶させる。本実施形態の入力装置41には、例えば、測定対象3の種類が指示情報として入力される。例えば、測定対象3が歯車である場合に、入力装置41には、測定対象3の種類としては、歯車の種類(例えば、平歯車SG、はすば歯車HG、かさ歯車BG、曲りばかさ歯車SBG、ウォーム歯車WGなど)が指示情報として入力される。
また、入力装置41は、後述するように、表示装置45に表示された撮像画像(測定対象3に投影された光切断線PCLの撮像画像)から、3次元形状測定に使用する点群データの抽出領域Apの設定するために使用される。この抽出領域Apの設定については後述する。
表示装置45は、データ出力部57から供給された測定データ(全測定ポイントの座標値)等を受け取る。表示装置45は、受け取った測定データ(全測定ポイントの座標値)等を表示する。また、表示装置45は、計測画面、指示画面等を表示する。
制御部51は、座標検出部52と、間隔調整部53と、駆動制御部54と、移動指令部55と、位置算出部56と、点群データ生成部56Aと、データ出力部57と、記憶部60と、抽出領域設定部70と、を備えている。
記憶部60には、測定対象3の種類ごとに、測定対象3の凹凸形状が延在する方向の位置と、凹凸形状が延在する方向の位置毎に凹凸形状が延在する方向を示す情報とが関連付けられて予め記憶されている。記憶部60には、例えば、歯車の種類ごとに、歯車の歯すじ方向の位置と、歯すじ方向の位置毎に歯すじの方向を示す情報とが関連付けられて予め記憶されている。つまり、記憶部60には、測定ポイントの移動方向が、歯車の種類に関連付けられて予め記憶されている。
また、記憶部60には、測定対象3の種類ごとに、測定対象3の測定開始位置(最初の測定ポイント)の座標値と測定終了位置(最後の測定ポイント)の座標値、及び各測定ポイントの距離間隔が、測定対象3の種類に関連付けられて予め記憶されている。また、記憶部60には、位置算出部56から供給された3次元座標値の点群データが測定データとして保持される。また、記憶部60には、座標検出部52から供給された各測定ポイントの座標情報が保持される。
また、記憶部60には、設計データ(CADデータ)61は保持される。また、記憶部60には、後述する抽出領域設定部70により点群データを生成する抽出領域Apを設定する際に使用される形状データ62が記憶されている。この形状データ62の詳細については、後述する。
座標検出部52は、ヘッド位置検出部15から出力される座標信号により、ヘッド位置検出部15に支持されている光プローブ20Aの位置、すなわち水平方向における観察位置と上下方向における観察位置と、光プローブ20Aの撮像方向を検知する。また、座標検出部52は、ステージ位置検出部34から出力される回転位置を示す信号により、ステージ31の回転軸θ及び回転軸φ回りの回転位置を検知する。
座標検出部52は、それぞれ検知された水平方向における観察位置と上下方向における観察位置の情報と、ステージ位置検出部34から出力される回転位置を示す情報(ステージ31の回転位置情報)とから、座標情報を検出する。そして、座標検出部52は、光プローブ20Aの座標情報、撮像方向とステージ31の回転位置情報とを位置算出部56へ供給する。また、座標検出部52は、光プローブ20Aの座標情報、撮像方向とステージ31の回転位置情報とに基づいて、光プローブ20Aとステージ31との相対的な移動経路、移動速度、移動が停止しているか否かなどの情報を検出し、検出した情報を移動指令部55へ供給する。
間隔調整部53は、座標計測開始前に記憶部60からサンプリング周波数を指定するデータを読み出す。間隔調整部53は、そのサンプリング周波数で、撮像部22から画像情報を受け取る。
駆動制御部54は、移動指令部55からの指令信号に基づいて、ヘッド駆動部14に駆動信号を出力して、測定ヘッド13の駆動制御を行う。また、駆動制御部54は、移動制御部54Aと、速度制御部54Bとを備えている。
移動制御部54Aは、測定対象3を、測定対象3の円周方向に対応して定められる検出部20の移動方向DR3に相対的に回転移動させて、測定光Laが照射される位置を移動させるようにステージ駆動部33を制御する。本実施形態の移動制御部54Aは、例えば、測定対象3としての歯車を、歯車の円周方向に一致するように定められる移動方向DR3(つまり歯車の円周方向)に回転移動させて、測定光Laが照射される位置を移動させるようにステージ駆動部33を制御する。
すなわち、移動制御部54Aの制御によりステージ駆動部33は、歯車を検出部20の移動方向DR3に相対的に回転移動させて、測定光Laが照射される位置を検出部20の移動方向DR3に相対的に移動させる。このようにして、本実施形態の形状測定装置100は、測定対象3の円周方向に周期的に配列されかつ円周方向とは異なる方向に延在した凹凸形状(例えば、測定対象3としての歯車の歯やタービンのブレード)に対して順に測定光Laを照射して、測定対象3の表面形状を測定する。すなわち、形状測定装置100は、測定対象3の測定領域の位置が変わるように、測定対象3に対して相対的に投影部21または撮像部22を移動させる移動機構を備えている。
速度制御部54Bは、測定光Laが照射されている測定対象3の回転移動のステージ半径方向の位置に応じて、測定対象3を相対的に回転移動させる移動速度を制御する。
位置算出部56は、光プローブ20Aにより検出された測定対象3の表面の形状に基づいて、測定対象3の表面の形状データ、すなわち3次元形状データを算出する。つまり、位置算出部56は、撮像部22からの撮像画像から、撮像部22の撮像面上での測定光Laが検出された位置に基づいて、表面の形状を測定する。
また、位置算出部56は、間隔調整部53から供給されたフレームからなる画像情報を受け取る。位置算出部56は、座標検出部52から供給された光プローブ20Aの座標情報、撮像方向と、ステージ31の回転位置情報とを受け取る。
なお、位置算出部56は点群データ生成部56Aを含み、この点群データ生成部56Aにより、間隔調整部53から供給された画像情報と、光プローブ20Aの座標情報、撮像方向と、ステージ31の回転位置情報とに基づき、各測定ポイントの座標値(3次元座標値)の点群データを算出する。
ここで、例えば、測定対象3としての歯車の形状を測定する場合、位置算出部56は、撮像部22からの撮像画像に撮像されている像の測定光Laの位置に基づいて、歯の形状を測定する。
具体的な算出方法は以下の通りである。まず、位置算出部56は、撮像部22の撮影された画像情報から、陰影パターンが示すラインパターンが投影された相対位置を取得する。この相対位置は、検出部20に対する測定対象3のラインパターンが投影された位置である。また、相対位置は、撮像部22の撮影方向と投影部21の投影方向と撮像部22と投影部21の距離に基づいて、位置算出部56で算出される。一方、受け取った光プローブ20Aの座標とラインパターンが撮像された画像データ上での位置とを基に、基準座標系におけるラインパターンが投影された位置の座標を算出する。
ここで、投影部21は光プローブ20Aに固定されているので、投影部21の照射角度は、光プローブ20Aに対して固定である。また、撮像部22も光プローブ20Aに固定されているので、撮像部22の撮像角度は、光プローブ20Aに対して固定である。
位置算出部56は、照射した光が測定対象3に照射された位置の座標を、撮像された画像の画素毎に、三角測量を用いて算出する。ここで、照射した光が測定対象3にあたった点の座標は、投影部21の座標から投影部21の照射角度で描画される直線と、撮像部22の座標から撮像部22の撮像角度で描画される直線(光軸)とが交わる点の座標である。なお、上記の撮像された画像は、測定位置に配置された光プローブ20Aによって検出された画像を示す。
このようにして、位置算出部56は撮像部22からの撮像画像に撮像されている像の測定光Laの位置に基づいて、表面の形状を測定する。
また、測定対象3は、ステージ31に支持されている。測定対象3は、支持テーブル32によって、ステージ31が回転軸θ周りに回転することにより、ステージ31の回転軸θを中心にステージ31と一緒に回転する。また、測定対象3は、ステージ31が回転軸φ周りに回転することにより、ステージ31の回転軸φを中心にステージ31と一緒に回転する。つまり、算出された光が照射された位置の座標は、ステージ31の回転軸θ及び回転軸φを中心に回転したことによって姿勢が傾けられた測定対象3の表面の位置を示す情報である。このようにして、位置算出部56は、ラインパターンが照射された位置の座標を、ステージ31の傾き、即ち回転軸θ及び回転軸φ周りの回転位置情報に基づいて、ステージ31の傾きに応じた座標変換を行うことにより、実際の測定対象3の表面形状データを算出する。
また、位置算出部56は、算出した測定対象3の表面形状データである3次元座標値の点群データを記憶部60に記憶させる。
移動指令部55は、記憶部60から、入力装置41によって記憶された指示情報(つまり測定対象3の種類)を読み出す。また、移動指令部55は、読み出した測定対象3の種類に関連付けられた測定対象3の測定対象範囲を示す測定ポイントの座標値、測定対象3の測定開始位置(最初の測定ポイント)の座標値、測定終了位置(最後の測定ポイント)の座標値、測定ポイントの移動方向、及び各測定ポイントの距離間隔(例えば、一定距離間隔の測定ピッチ)を示すデータ等を記憶部60から読み出す。移動指令部55は、上記読み出したデータに基づいて、測定対象3に対するスキャンの移動経路を算出する。そして、移動指令部55は、算出した移動経路及び記憶部60から読み出した各測定ポイントの距離間隔(例えば、一定距離間隔の測定ピッチ)等に従って、測定ヘッド13及びステージ31を駆動させるための指令信号を駆動制御部54に供給し、ヘッド駆動部14とステージ駆動部33(移動部)とに測定ヘッド13及びステージ31を駆動させる。
例えば、移動指令部55は、移動経路及び測定ピッチに従って、測定ヘッド13の移動または移動の停止と、ステージ31の回転または回転の停止を駆動させる指令信号を供給して、光プローブ20Aとステージ31との相対的な位置を移動させて測定ポイント毎に停止させる。また、移動指令部55は、この指令信号を間隔調整部53に供給する。
データ出力部57は、記憶部60から測定データ(全測定ポイントの座標値)等を読み出す。データ出力部57は、その測定データ等を表示装置45に供給する。
また、データ出力部57は、抽出領域設定部70からの指示により、後述する抽出領域Apを設定する際に使用されるアイコンや抽出領域Apの形状を示す画像データなどを表示装置45に供給する。また、データ出力部57は、測定データ等をプリンタやCADシステムなど設計システム(不図示)へ出力する。
抽出領域設定部70は、撮像部22で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における複数の撮像画像のうち、少なくともパターンの像が測定対象3の最も外側に位置するときの撮像画像を有する画像から抽出領域Apを設定可能にする。位置算出部56内の点群データ生成部56Aは、この抽出領域設定部70により設定された抽出領域Ap内の画像情報に基づいて、測定対象3の座標値の点群データを算出する。すなわち、位置算出部56は、複数の画像データの取得後に、撮像部22により取得された画像データのうち、抽出領域設定部70が設定した抽出領域Ap内の撮像画像に基づいて、測定対象3の位置を算出する。この抽出領域設定部70の構成と動作の詳細については後述する。
次に、本実施形態の形状測定装置100が測定対象3である歯車の形状を測定する場合の、照射方向DR1、撮像方向DR2、及び移動方向DR3の各方向について、曲りばかさ歯車SBGを測定する場合を例にして説明する。
(曲りばかさ歯車SBGの測定)
本実施形態の形状測定装置100は、例えば、図5に示すように、曲りばかさ歯車SBGを測定対象3にして、測定対象3の形状を測定することができる。
図5は、本実施形態の形状測定装置100が測定する測定対象3の一例を示す図である。形状測定装置100によって曲りばかさ歯車SBGの形状を測定する場合、測定対象3である曲りばかさ歯車SBGは、例えば、曲りばかさ歯車SBGの回転軸の中心とステージ31の回転軸θの中心とを一致させてステージ31上に載置される。ステージ駆動部33は、ステージ31上に載置された曲りばかさ歯車SBGの回転軸とステージ31の回転移動の回転軸とを一致させて、曲りばかさ歯車SBGを回転移動させる。
また、投影部21は、曲りばかさ歯車SBGの歯面Hs1の法線方向に対応して定められる照射方向DR1によって、曲りばかさ歯車SBGの歯面Hs1に測定光Laを照射する。この歯面Hs1の法線方向とは、各歯の頭頂部の包絡面を想定し、測定領域における包絡面に対して垂直な方向である。撮像部22は、測定光Laが照射された曲りばかさ歯車SBGの歯面(表面)の歯すじの方向(円周方向とは異なる方向)に対応して定められる撮像方向DR2から測定光Laを撮像する。つまり、撮像部22は、図5に示すように、曲りばかさ歯車SBGの歯すじの方向、つまりZ軸方向を撮像方向DR2にして、光切断線PCLを撮像する。形状測定装置100は、光切断線PCLの位置を歯すじに沿って移動させることにより、曲りばかさ歯車SBGの1歯ぶんの形状を測定する。
より具体的には、形状測定装置100は、投影部21及び撮像部22を曲りばかさ歯車SBGの歯すじの方向に移動させて、歯面Hs1のそれぞれの位置が測定領域になるように測定領域を移動させる。ここで、測定領域は歯すじの方向に沿って移動させればよく、移動の向きは限られない。例えば、測定領域を外周側から内周側に移動させてもよいし、内周側から外周側に移動させてもよい。ここでは、一例として、曲りばかさ歯車SBGの外周側から内周側に測定領域を移動させる場合について説明する。
形状測定装置100は、図6に示すように、曲りばかさ歯車SBGの外周側の位置に光切断線PCL2が生じるように投影部21及び撮像部22を移動させて、光切断線PCL2を撮像する。
図6は、本実施形態における歯すじの外周側の撮像画像L2の一例を示す模式図である。同図に示すように、撮像部22は、曲りばかさ歯車SBGの歯すじの外周側の測定領域の像である撮像画像L2を撮像する。この撮像画像L2には、測定対象である光切断線PCL2の像のほかに、異常点である多重反射光像(ノイズNp2)および隣接歯面の像(ノイズNL3、ノイズNL4)が含まれている。すなわち、この撮像画像L2において、光切断線PCL2の像を含み、多重反射光像(ノイズNp2)および隣接歯面の像(ノイズNL3、ノイズNL4)を含まない領域が、抽出領域として設定すべき領域である。
ここで、撮像画像L2とは、撮像部22で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における複数の撮像画像のうち、少なくともパターンの像が測定対象3に設定された測定対象範囲の最も外側に位置するときの撮像画像を有する画像の一例である。
また、形状測定装置100は、この光切断線PCL2よりも歯すじの最も内周側の位置(例えば、歯すじの中央の位置)に光切断線PCL1が生じるように投影部21及び撮像部22を移動させて、光切断線PCL1を撮像する。
図7は、本実施形態における歯すじの中央部分の撮像画像L1の一例を示す模式図である。同図に示すように、撮像部22は、曲りばかさ歯車SBGの歯すじの中央部分の測定領域の像である撮像画像L1を撮像する。この撮像画像L1には、測定対象である光切断線PCL1の像のほかに、異常点である多重反射光像(ノイズNp1)および隣接歯面の像(ノイズNL1、ノイズNL2)が含まれている。すなわち、この撮像画像L1において、光切断線PCL1の像を含み、多重反射光像(ノイズNp1)および隣接歯面の像(ノイズNL1、ノイズNL2)を含まない領域が、抽出領域として設定すべき領域である。
また、形状測定装置100は、この光切断線PCL1よりも歯すじの内周側の位置に光切断線PCL3が生じるように投影部21及び撮像部22を移動させて、光切断線PCL3を撮像する。
図8は、本実施形態における歯すじの内周側の撮像画像L3の一例を示す模式図である。同図に示すように、撮像部22は、曲りばかさ歯車SBGの歯すじの内周側の測定領域の像である撮像画像L3を撮像する。この撮像画像L3には、測定対象である光切断線PCL3の像のほかに、異常点である多重反射光像(ノイズNp3)および隣接歯面の像(ノイズNL5、ノイズNL6)が含まれている。すなわち、この撮像画像L3において、光切断線PCL3の像を含み、多重反射光像(ノイズNp3)および隣接歯面の像(ノイズNL5、ノイズNL6)を含まない領域が、抽出領域として設定すべき領域である。このようにして、形状測定装置100は、測定対象の歯車の歯すじに沿って光切断線PCLの位置を移動させつつ、光切断線PCLの像を順次撮像することにより、歯面Hs1の1歯ぶんの撮像画像を取得する。次に、撮像画像の合成画像(論理和画像)に基づいて、抽出領域を設定する構成について図9および図10を参照して説明する。
図9は、本実施形態の論理和画像生成部76が生成する論理和画像の一例を示す模式図である。論理和画像生成部76は、撮像部22で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における画像データから論理和画像を生成する。具体的には、論理和画像生成部76は、図6から図8を参照して説明した撮像画像L1〜L3に対し、同一画素位置の画素値を比較し、最も高い値または中央の値を有する画素値をその画素位置の画素値とする。このような処理を行って画素値の論理和により合成した論理和画像LD1を生成する。この論理和画像LD1には、光切断線PCL1〜PCL3の像と、撮像画像L1〜L3に含まれる多重反射光像(ノイズNp1〜ノイズNp3)と、隣接歯面の像(ノイズNL1〜ノイズNL6)とが含まれている。なお、論理和画像の生成法は、次の方法でも適応可能である。たとえば、論理和画像生成部76は、更に二値化画像処理を有する。この二値化画像処理部は、撮像画像L1〜L3をそれぞれ所定の画素値を閾値として、2値化画像に変換する。そして、論理和画像生成部76は、同一画素位置の画素値を比較し、画素値が高い、または画素値が”1”となる画素が、いずれかの二値化画像にあれば、当該画素の画素値を”1”にする。このようにして、論理和画像を生成する。
図10は、本実施形態の抽出領域設定部70が設定可能にする抽出領域の一例を示す模式図である。抽出領域設定部70は、論理和画像生成部76が生成する論理和画像LD1に含まれる光切断線PCL1〜PCL3の像のうち、少なくとも測定対象3の最も外側に位置する光切断線PCLの像に基づいて、抽出領域Apを設定可能にする。ここで、上述の具体例において、測定対象3の最も外側に位置する光切断線PCLとは、曲りばかさ歯車SBGの歯すじの最も外周側に位置する光切断線PCL2と、曲りばかさ歯車SBGの歯すじの最も内周側に位置する光切断線PCL3とである。この例においては、抽出領域設定部70は、光切断線PCL2の像を含む撮像画像L2と、光切断線PCL3の像を含む撮像画像L3とを含む論理和画像LD1に基づいて、抽出領域Apを設定可能にする。具体的には、抽出領域設定部70は、論理和画像LD1内の、光切断線PCL2の像と、光切断線PCL3の像とを少なくとも含み、多重反射光像(ノイズNp1〜ノイズNp3)と、隣接歯面の像(ノイズNL1〜ノイズNL6)とを含まない領域を抽出領域Apとして設定可能にする。すなわち、抽出領域設定部70は、撮像部22で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における複数の撮像画像のうち、少なくともパターンの像が測定対象3の最も外側に位置するときの撮像画像を有する画像から抽出領域を設定可能にする。
ここで、抽出領域設定部70が、抽出領域を設定可能にする具体例について説明する。抽出領域設定部70は、論理和画像LD1をデータ出力部57を介して表示装置45に出力する(図4を参照)。これにより、表示装置45の表示画面46には、論理和画像LD1が表示される。すなわち、表示装置45は、論理和画像生成部76が生成した論理和画像LD1を表示する。ここで、論理和画像LD1とは、撮像部22で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における複数の撮像画像の一例である。すなわち、表示装置45は、撮像部22で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における複数の撮像画像を同一画面上に表示する。
ユーザは、表示画面46に表示された論理和画像LD1に対して、抽出領域Apを設定する。一例として、ユーザは、表示画面46に表示された論理和画像LD1を見ながら、光切断線PCL2の像と、光切断線PCL3の像とを含むようにして、入力装置41が備えるマウス42により抽出領域Apの輪郭線(例えば、図10における破線)を入力する。すなわち、入力装置41には、表示装置45が表示する論理和画像LD1に対して抽出領域Apを示す情報が入力される。抽出領域設定部は、表示画面46に表示されているマウスの軌跡を抽出領域の輪郭線の位置情報として認識したり、表示画面46上にマウス等を介してプロットされた点を頂点として、それぞれの頂点を順次結んだ多角形形状を生成して、抽出領域の輪郭線の位置情報として認識するようにしてもよい。ここで、抽出領域Apとは、撮像画像の一部を選択する選択領域に関する情報の一例である。すなわち、入力装置41には、撮像画像の一部を選択する抽出領域Apに関する情報が入力される。
抽出領域設定部70は、マウス42によって入力された抽出領域Apの輪郭線の座標情報を、入力装置41を介して取得することにより、撮像画像L1〜L3または複数の撮像画像が重畳された画像や論理和画像等に対して抽出領域Apを設定する。すなわち、抽出領域設定部70は、入力装置41に入力された抽出領域を示す情報に基づいて、抽出領域を設定する。
位置算出部56は、このようにして設定された抽出領域Apに基づいて、各撮像画像から位置算出に用いる画像データを抽出することにより、測定対象3の位置を算出する。すなわち、位置算出部56は、複数の画像データの取得後に、撮像部22により取得された画像データのうち、抽出領域設定部70が設定した抽出領域内の撮像画像に基づいて、測定対象3の位置を算出する。
また、歯面Hs1の1歯ぶんの形状の測定が終了すると、歯面Hs1に隣接する歯面の形状を測定するため、移動制御部54Aは、回転軸θを中心にした移動方向DR3の方向に支持テーブル32を1歯ぶん回転させる。すなわち、移動制御部54Aは、測定光Laが照射される測定対象3の位置を、円周方向に対応して定められる検出部20の移動方向DR3に相対的に移動させる。このようにして、形状測定装置100は、曲りばかさ歯車SBGの全体の形状を測定する。
この形状測定装置100は、測定光Laが照射される測定領域の位置を、円周方向に対応した移動方向DR3に移動させるためにステージ31のロータリ軸用モータを備えている。このモータを駆動させることで、ステージが回転軸θ周りに回転する。それゆえ、測定対象3が投影部21に対して相対的に移動する。また、撮像部22は、移動方向DR3に測定領域が変位する毎に撮像画像を生成し、位置算出部56は、撮像画像に基づいて、複数の凹凸形状を測定する。また、移動部10は、更に歯すじが延在する方向に対応して定められる移動方向DR4に移動させるように投影部21と測定対象3とを相対的に移動させる。
また、このとき、投影部21は、測定対象3の凹凸形状の最凸部から最凹部に掛けてライン(光切断線PCL)が形成されるようにライン状の測定光Laを照明する。そのときの照射方向である照射方向DR1は、主に測定したい面の法線方向に設定する。つまり、投影部21は、測定対象3としての歯車の測定したい面において、その面の歯先部から歯底部にわたって光切断線PCLが形成されるように、測定光Laを照射する。
そして、撮像部22は、測定対象3表面の撮像画像を生成する。また、位置算出部56は、撮像部22によって撮像された撮像画像に基づいて、歯面の一部の領域の凹凸形状を測定する。ここで、これを歯車の歯すじ方向にそって、ライン状の測定光Laの投影領域を順次変えながら撮影することで、歯車の各歯の面形状を測定することができる。測定対象3の凹凸形状(つまり歯車の歯)の寸法は、歯車の歯厚の方向である。また、表面に照射されている測定光Laが撮像される長さとは、例えば、測定対象3の表面に形成される光切断線PCLの撮像方向DR2から見た長さのうちの、撮像部22によって撮像される長さである。つまり、測定対象3が歯車である場合には、撮像部22は、歯の歯幅の長さと歯面に照射されている測定光Laが撮像される長さとに応じて撮像した複数の撮像画像を生成する。すなわち、撮像部22は、歯車が有する複数の歯をそれぞれ撮像した複数の撮像画像を生成する。この場合、位置算出部56は、これら複数の撮像画像に基づいて、複数の歯の形状を測定する。
なお、投影部21は、測定対象3の円周方向に交差する方向を光切断線PCLの方向にして測定光Laを照射してもよい。つまり、投影部21は、光切断線PCLが、例えば、曲りばかさ歯車SBGの円周方向から歯すじの方向に傾いて形成されるように測定光Laを照射してもよい。また、歯すじに対して左右のどちらか一方の面を測定したい場合には、測定光Laを測定したい歯の面に対して垂直に近くなるように設定してもよい。
(形状測定を実行する処理についての説明)
次に、図11を参照して、形状測定装置100が測定対象3の形状測定を実行する処理について説明する。
ここでは、主に、ティーチングの工程時における作業について説明する。実際には、ティーチング工程により、測定ポイントとして選ばれた測定位置ごとの撮像画像を合成した論理和画像を表示する。ユーザが、この論理和画像に対して抽出領域Apを設定した後に、測定ポイントの各点を結ぶように連続的に走査しながら、更に細かい間隔で測定することで本測定が行われる。
図11は、本実施形態の形状測定装置100の動作の一例を示すフローチャートである。最初に、ユーザは、測定対象3の測定開始位置(最初の測定ポイント)及び測定終了位置(最後の測定ポイント)を入力装置41から入力して設定する。入力装置41は、入力された測定開始位置(最初の測定ポイント)及び測定終了位置(最後の測定ポイント)を記憶部60に記憶させる(ステップS11)。
また、ユーザは、測定対象3の測定ポイントの距離間隔を入力装置41から入力して設定する。入力装置41は、入力された測定ポイントの距離間隔を記憶部60に記憶させる(ステップS12)。
次に、測定対象3の測定ポイントにおける歯車の緒元データを基に、測定光Laの投影方向及び撮像方向を設定する。具体的には、歯車の歯面の方向に応じて、投影方向が設定され、歯車の歯すじの方向に沿って、検出部20の走査方向が設定される(ステップS13)。
移動指令部55は、記憶部60から入力されて設定された情報である測定開始位置(最初の測定ポイント)と測定終了位置(最後の測定ポイント)との座標値、及び各測定ポイントの距離間隔(例えば、一定距離間隔の測定ピッチ)を示すデータや、予め設定された情報である測定対象範囲を示す複数の測定ポイントの座標値、及び測定ポイントの移動方向等を読み出す。移動指令部55は、上記読み出したデータに基づいて、測定対象3に対するスキャンの移動経路を算出する。
次に、移動指令部55は、算出した移動経路に基づいて、測定ヘッド13及びステージ31を駆動させるための指令信号を駆動制御部54に供給し、ヘッド駆動部14とステージ駆動部33(移動部)とに測定ヘッド13及びステージ31を駆動させる。これにより、移動指令部55は、測定ヘッド13とステージ31との相対的な位置を移動させて光プローブ20Aを測定対象3の測定開始位置(最初の測定ポイント)に移動させる(ステップS14)。
次に、間隔調整部53は、光プローブ20Aを介して測定対象3の表面の形状を検出し、検出した撮像画像(光切断線PCLの撮像画像)の画像情報を位置算出部56へ供給する。
また、座標検出部52は、位置検出部17より光プローブ20Aの座標情報とステージ31の回転位置情報とを検出し、検出した情報を位置算出部56へ供給する(ステップS15)。
位置算出部56は、間隔調整部53から供給された撮像画像(光切断線PCLの撮像画像)の画像情報を、座標検出部52から供給された光プローブ20Aの座標情報とステージ31の回転位置情報とともに、記憶部60に保存する(ステップS16)。
次に、移動指令部55は、直前に測定した測定ポイントが測定終了位置(最後の測定ポイント)であるか否かを判定する(ステップS17)。
ステップS17において、直前に測定した測定ポイントが測定終了位置(最後の測定ポイント)でない(測定終了位置以外の測定ポイントである)と判定された場合(ステップS17;NO)、移動指令部55は、次の測定ポイントに光プローブ20Aを移動させた後停止させる。例えば、移動指令部55は、移動経路に従って次の測定ポイントへ移動させるために、測定ヘッド13及びステージ31を駆動させるための指令信号を駆動制御部54に供給し、ヘッド駆動部14とステージ駆動部33とに測定ヘッド13及びステージ31を駆動させる(ステップS20)。そして、移動指令部55は、ステップS15に制御を戻す。
また、 ステップS17において、直前に測定した測定ポイントが測定終了位置(最後の測定ポイント)であると判定された場合(ステップS17;YES)、論理和画像生成部76は、記憶部60に記憶された全ての撮像画像から論理和画像LD1を生成し、生成した論理和画像LD1を、表示装置45の表示画面46上に表示する(ステップS18)。
次に、抽出領域設定部70により、測定対象3の3次元形状データの算出に使用する画像の抽出領域Apを設定する(ステップS19)。また、ステップS18で設定された領域は、ステップS15で取得された位置検出部17より光プローブ20Aの座標情報とステージ31の回転位置情報と対応づけられて、記憶部60に記憶される。
そして、設定された抽出領域Apを基に、検出部20と測定対象3の測定光Laを投影する位置の相対位置情報を算出し、点群データを生成する。位置算出部56内の点群データ生成部56Aは、記憶部60から、光プローブ20Aにより検出された抽出領域Ap内の画像情報、及び座標検出部52により検出された光プローブ20Aの座標情報と、ステージ31の回転位置情報とを読み出し、これらの読み出した情報に基づいて、抽出領域Ap内の撮像画像の点群データを生成する。また、位置算出部56は、点群データ生成部56Aにより生成された抽出領域Ap内の点群データに基づいて、測定対象3の3次元形状データを算出する(ステップS21)。
このようにして、ティーチング工程での3次元形状データを出力して、これでよいかどうかユーザが判定する。その結果に基づき、本測定に移ることとなる。
以上説明したように、本実施形態の形状測定装置100では、撮像画像における点群データの抽出領域Apを、論理和画像LD1に基づいて設定することができようにし、この設定された抽出領域Ap内の点群データを基に、測定対象3の3次元形状データを算出する。このため、形状測定装置100によれば、複数枚の撮像画像について、まとめて抽出領域Apを設定することができる。したがって、形状測定装置100によれば、複数枚の撮像画像について、1枚ずつ抽出領域Apを設定する場合に比べて、抽出領域Apの設定時間を低減することができる。また、形状測定装置100によれば、抽出領域Apの範囲を少なくともパターンの像が測定対象3の最も外側に位置するときの撮像画像を有する画像から設定することができる。つまり、形状測定装置100によれば、複数枚の撮像画像のうち、測定対象3の両端の位置を撮像した撮像画像に基づいて、抽出領域Apの範囲を設定することができる。ここで、測定対象3の両端における撮像画像内の異常点の位置に基づいて、測定対象3の両端以外における撮像画像内の異常点の位置を求めることができる場合がある。この場合には、形状測定装置100によれば、測定対象3の両端における撮像画像に基づいて抽出領域Apを設定すれば、複数枚の撮像画像についてまとめて抽出領域Apを設定したとしても、抽出領域Apの範囲内に含まれる異常点を低減することができる。したがって、形状測定装置100によれば、複数枚の撮像画像についてまとめて抽出領域Apを設定したとしても、異常点を正しく省くようにして、点群データを生成することができる。
[第2実施形態]
上述した第1実施形態において、抽出領域Apの設定をユーザが行っている。これに対して、本実施形態においては、抽出領域設定部70Aがユーザの操作を介さずに抽出領域Apを設定する。
図12は、本発明の第2実施形態に係る形状測定装置100Aの構成を示すブロック図である。この図12に示す形状測定装置100Aは、図4に示す第1実施形態の形状測定装置100の構成と比較して、図4に示す抽出領域設定部70を、図12に示す抽出領域設定部70Aに置き換えた点が異なる。他の構成は、図4に示す形状測定装置100と同様である。このため、同一の構成部分には同一の符号を付し、重複する説明は省略する。
抽出領域設定部70Aは、撮像部22により撮像された測定対象3の光切断線PCLの撮像画像を基に、多重反射光像(ノイズN1)等の異常点が含まれる領域を判定し、異常点を除外した正常な領域を、抽出領域Apに設定する。図15のフローに沿って、説明する。なお、図11と同じステップ番号S11〜S21までは、図11で説明した事項と同じなので、個々での説明は省略する。新たに追加されたステップは、次の通りである。一つ目はステップS14のあとに、ステップS101として、光切断線PCLの形状を推定するステップを備えた。具体的には、S13で設定された投影方向及び撮影方向に基づき、既に入手されている設計データや標準サンプル品形状データから、各撮像画像で撮影される光切断線PCLの形状を推定する。もちろん、標準サンプル品を本測定装置で測定した際に取得された光切断線PCLの像を使って、光切断線PCLの形状を設定してもよい。ステップS15とステップS16を実施した後に、ステップS101で推定された光切断線PCLの形状を基に、撮像画像から最も近い形状の像を選択するステップを備えた。具体的には次のとおりである。ステップS15とステップS16を実施して、各撮像画像を記憶部60に記憶してゆく。次に、各撮像画像から推定された光切断線に最も近い形状の像を選択する(ステップS103)。このときに、周知のパターンマッチング手法を用いることで達成できる。その周知のパターンマッチング手法を適用する場合には、次のような工程を行うほうがよい。まず、記憶部60に記憶された撮像画像について、画像中に写っている像の輪郭抽出を行う。例えば、画像データを二値化して各像の明部と暗部のエッジを検出して、そのエッジを輪郭とする方法や、隣接画素間の輝度差や明度差などから、輪郭抽出を行う。一方、推定された光切断線PCLの像も同様に輪郭抽出を行う。撮像画像から取得された輪郭の位置情報と推定された像の輪郭の位置情報とを基に、最も類似性の高い像を撮像画像から抽出する。類似性については、輪郭画素位置が互いに近づくにつれて、スコアが変化するような評価手法を用いる。たとえば、このようなスコアを類似度と称する。この類似度を基に類似度がある閾値以上のものを、光切断線PCLの像と特定する。具体的には、特許文献2に開示された技術などを用いるとよい。
次に、各撮像画像に対して、特定された像だけが残り、他の像については消去された撮像画像を生成し、論理和画像生成用画像として、記憶部60に記憶する。
次に、各撮像画像から選択された像を残し、そのたの像は消し去った論理和画像生成用画像を記憶部60から読出し、この論理和画像生成用画像を使ってステップS18で論理和画像を生成する。そして、論理和画像を構成する各画像データのうち、ステップS103で選択された推定された光切断線に最も近い形状の像が少なくとも含むように、抽出領域を設定する。
このように、抽出領域設定部70Aは、撮像部22で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における複数の撮像画像のうち、少なくとも測定光の像が最も外側に位置するときの撮像画像を有する画像から抽出領域を設定する。
ステップS103を詳細に説明すると、抽出領域設定部70Aは、例えば、論理和画像に移っている各画像オブジェクトから、ステップS103で選択された推定光切断線に最も近い形状の像を含み、一方、それ以外の像を含まないように抽出領域を設定する。特に、各撮像画像から多重反射光像(ノイズNp1)であると判定できるパターンを有するものは、この多重反射光像(ノイズNp1)を異常点と判定する。
そして、抽出領域設定部70Aは、表示画面46において、多重反射光像(ノイズNp1)を含まない領域(例えば、図10における破線に囲まれた領域)を、点群データを生成する抽出領域Apとして設定する(ステップS104)。
以上説明したように、第2実施形態の形状測定装置100Aにおいては、測定対象3の撮像画像を基に、点群データを生成する抽出領域Apをユーザの操作を介さずに自動で設定することができる。
この自動抽出領域設定は、これだけに限られず、例えば、推定光切断線に最も近い形状を各撮像画像から選択したのちに、各撮像画像に共通の位置に画像中心点ICを設定し、画像中心点ICから予め設定された方向を正(逆方向を負)としたときに、方向毎に小さい値を持つ光切断線の像と最も大きい値を持つ光切断線の像とを選択光切断線像として選び出すことで、抽出領域を設定してもよい。
その一例を図16に示す。図16(a)は、図6の撮像画像から画像中心点ICから各方向L1P1〜L3P1ごとに距離を出したときの例であり、図16(b)は、図7の撮像画像から画像中心点ICから各方向L1P2〜L3P2ごとに距離を出したときの例であり、図16(c)は、図8の撮像画像から画像中心点ICから各方向L1P3〜L3P3ごとに距離を出したときの例である。ここで方向L1P1、方向L2P1、方向L3P1は図6の画像における方向L1P1、方向L2P1、方向L3P1の方向での距離データを示す。また、方向L1P2、方向L2P2、方向L3P2は図7の画像における方向L1P2、方向L2P2、方向L3P2の方向での距離データを示す。また、方向L1P3、方向L2P3、方向L3P3は図8の画像における方向L1P3、方向L2P3、方向L3P3の方向での距離データを示す。
本例の場合は次のようになる。方向L1P1<方向L1P2<方向L1P3、方向L2P1<方向L2P2<方向L2P3、方向L3P1<方向L3P2<方向L3P3。したがって、P1ではいずれの方向でも最小値を有する。また、P3ではいずれの方向でも最大値を有する。このように各撮像画像で、方向L1〜L3ごとに最大距離と最小距離を示す撮像画像を抽出し、抽出された撮像画像である2枚の画像(本例の場合は、図16(a)と図16(c)の画像)から、抽出領域を設定してもよい。なお、本例は、矢印で示した方向を正の値とし、矢印とは反対方向を負の値とする。
また、全ての撮像画像において、各矢印(又はその反対向きの矢印)の方向に推定光切断線に最も近い形状を有する像の一部が位置しないケースがある。この場合は、画像中心点IC方向を変えて、いずれの撮像画像にも対応する方向を選択することが好ましい。
なお、抽出領域設定部70Aは、撮像部22で撮像されたそれぞれ異なる測定領域における撮像画像から論理和画像を取得する論理和画像生成部76を備えていてもよい。この場合には、抽出領域設定部70Aは、論理和画像から撮像部22が生成する撮像画像への抽出領域Apを設定する。このように構成することにより、形状測定装置100Aは、論理和画像に基づいて、抽出領域Apを設定することができるため、抽出領域Apの範囲内に含まれる異常点を低減することができる。
また、上述の場合において、論理和画像生成部76は、測定領域が測定対象3の測定対象範囲の端部となった位置で撮像部22により得られた撮像画像を少なくとも1枚含めて、論理和画像を生成するように構成してもよい。ここで、測定対象範囲の端部となった位置で撮像部22により得られた撮像画像は、測定対象範囲の端部以外の位置で撮像部22により得られた撮像画像に比べて、撮像画像内の異常点の位置の特徴が現れやすい場合がある。よって、このような場合には、撮像画像内の異常点の位置を把握しやすくなる。したがって、このように構成することにより、撮像画像内の異常点の位置の特徴がよく現れた画像に基づいて、抽出領域Apを設定することができるため、抽出領域Apの範囲内に含まれる異常点を低減することができる。
また、上述の場合において、論理和画像生成部76は、測定対象3の複数の測定領域のうち、少なくとも2つの測定領域を撮像が撮像した少なくとも2つの撮像画像に基づいて、当該撮像画像の論理和を示す論理和画像を生成するように構成してもよい。このように構成することにより、ここで、撮像画像が複数ある場合には、撮像画像が1枚である場合に比べて、撮像画像内の異常点の位置の特徴が把握しやすい場合がある。したがって、このように構成することにより、撮像画像内の異常点の位置の特徴を把握しやすくして抽出領域Apを設定することができるため、抽出領域Apの範囲内に含まれる異常点を低減することができる。
また、抽出領域設定部70(または、抽出領域設定部70A)は、測定対象3の複数の測定領域のうち、少なくとも2つの測定領域において、形状が互いに異なる少なくとも2つの抽出領域を設定するように構成してもよい。このように構成することによっても、撮像画像内の異常点の位置の特徴を把握しやすくして抽出領域Apを設定することができるため、抽出領域Apの範囲内に含まれる異常点を低減することができる。
また、抽出領域設定部70(または、抽出領域設定部70A)は、撮像部22が生成した撮像画像内の抽出領域を、撮像部22が生成した撮像画像の情報量が低減された画像である論理和画像に基づいて設定するように構成してもよい。なお、この場合における、論理和画像とは、撮像部22が生成した撮像画像の情報量が低減された画像である。このように構成することにより、画像処理のための演算量を低減することができるため、形状測定に要する時間を低減することができる。
また、抽出領域設定部70(または、抽出領域設定部70A)は、撮像部22で撮影されたそれぞれ異なる測定領域における複数の撮像画像の各々に対して、測定対象3の概略形状から推定されるパターンの像と類似する対象画像を抽出し、複数の撮像画像から得られた複数の対象画像に基づいて、抽出領域Apを設定するように構成してもよい。このように構成することにより、撮像画像内の異常点の位置の特徴を把握しやすくして抽出領域Apを設定することができるため、抽出領域Apの範囲内に含まれる異常点を低減することができる。
[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態として、上述した第1の実施形態の形状測定装置100、第2の実施形態の形状測定装置100Aの、いずれかの形状測定装置を備えた構造物製造システムについて説明する。
図13は、本発明の第3実施形態に係る構造物製造システム200の構成を示すブロック図である。構造物製造システム200は、例えば、上述した形状測定装置100(または、形状測定装置100A)と、設計装置110と、成形装置120と、制御装置(検査装置)150と、リペア装置140とを備える。
設計装置110は、構造物の形状に関する設計情報を作製し、作成した設計情報を成形装置120に送信する。また、設計装置110は、作成した設計情報を制御装置150の後述する座標記憶部151に記憶させる。ここで、設計情報とは、構造物の各位置の座標を示す情報である。
成形装置120は、設計装置110から入力された設計情報に基づいて上記構造物を作製する。成形装置120の成形工程には、鋳造、鍛造、または切削等が含まれる。
形状測定装置100(または、形状測定装置100A)は、作製された構造物(測定対象3)の座標を測定し、測定した座標を示す情報(形状情報)を制御装置150へ送信する。
制御装置150は、座標記憶部151と、検査部152とを備える。座標記憶部151には、前述の通り、設計装置110により設計情報が記憶される。検査部152は、座標記憶部151から設計情報を読み出す。検査部152は、形状測定装置100(または、形状測定装置100A)から受信した座標を示す情報(形状情報)と座標記憶部151から読み出した設計情報とを比較する。
検査部152は、比較結果に基づき、構造物が設計情報通りに成形されたか否かを判定する。換言すれば、検査部152は、作成された構造物が良品であるか否かを判定する。検査部152は、構造物が設計情報通りに成形されていない場合、修復可能であるか否か判定する。修復できる場合、検査部152は、比較結果に基づき、不良部位と修復量を算出し、リペア装置140に不良部位を示す情報と修復量を示す情報とを送信する。なお、本発明は、この検査部152に用いられる形状測定装置により撮像画像L1〜L3から求められる抽出領域を設定することに限定されない。たとえば、成形装置120で製造される構造物がほぼ同じ形状の構造物を大量に作るものであれば、成形装置120から製造された構造物を一つ取り出し、検査部152は別の形状測定装置2で、検査部152による測定時に想定される方向からライン光を投影し、同様に検査部152による測定時に想定される方向から構造物に投影されたライン光の像を取得する。これを、複数の測定位置毎にライン光の像を取得して、前述のように論理和画像を生成して抽出領域を設定する。そのように設定された抽出領域を、検査部152に反映して、検査するようにしてもよい。
リペア装置140は、制御装置150から受信した不良部位を示す情報と修復量を示す情報とに基づき、構造物の不良部位を加工する。
図14は、構造物製造システム200による処理の流れを示したフローチャートである。
まず、設計装置110が、構造物の形状に関する設計情報を作製する(ステップS301)。次に、成形装置120は、設計情報に基づいて上記構造物を作製する(ステップS302)。次に、形状測定装置100(または、形状測定装置100A)は、作製された上記構造物の形状を測定する(ステップS303)。次に、制御装置150の検査部152は、形状測定装置100(または、形状測定装置100A)で得られた形状情報と、上記設計情報とを比較することにより、構造物が設計情報通りに作成されたか否か検査する(ステップS304)。
次に、制御装置150の検査部152は、作成された構造物が良品であるか否かを判定する(ステップS305)。作成された構造物が良品である場合(ステップS305;YES)、構造物製造システム200はその処理を終了する。一方、作成された構造物が良品でない場合(ステップS305;NO)、制御装置150の検査部152は、作成された構造物が修復できるか否か判定する(ステップS306)。
作成された構造物が修復できると検査部152が判断した場合(ステップS306;YES)、リペア装置140は、構造物の再加工を実施し(ステップS307)、ステップS303の処理に戻る。一方、作成された構造物が修復できないと検査部152が判断した場合(ステップS306;NO)、構造物製造システム200はその処理を終了する。以上で、本フローチャートの処理を終了する。
以上により、上記の実施形態における形状測定装置100(または、形状測定装置100A)が構造物の座標(3次元形状)を、撮像画像の異常点を容易に除外して測定することができるので、構造物製造システム200は、作成された構造物が良品であるか否かを正確に判定することができる。また、構造物製造システム200は、構造物が良品でない場合、構造物の再加工を実施し、修復することができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、ここで、本発明と上述した実施形態との対応関係について補足して説明しておく。
すなわち、本発明における投影部は、投影部21が対応し、本発明における撮像部は、撮像部22が対応する。また、本発明における抽出領域設定部は、抽出領域設定部70、70Aのいずれかが対応する。
また、本発明における構造物製造システムは、構造物製造システム200が対応し、本発明における設計装置は、設計装置110が対応し、本発明における成形装置は、成形装置120が対応し、本発明における検査装置は、制御装置150が対応する。
なお、上記実施形態において、構造物製造システム200は、構造物の形状に関する構造物設計情報を作製する設計装置110と、構造物設計情報に基づいて構造物を作製する成形装置120と、作成された前記構造物の形状を、撮像画像に基づいて測定する形状測定装置100(または、形状測定装置100A)と、測定によって得られた形状情報と、構造物設計情報とを比較する検査装置(制御装置150)とを含む。
これにより、構造物製造システム200は、形状測定装置100(または、形状測定装置100A)が構造物の座標(3次元形状)を、撮像画像の異常点を容易に除外して測定することができるので、構造物製造システム200は、作成された構造物が良品であるか否かを正確に判定することができる。
以上、本発明の実施形態を図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施形態に限られるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更を加えることができる。例えば、本発明の形状測定装置は必ずしも位置算出部を備えていなくてもよい。例えば、有線または無線のネットワークを介して形状測定装置と接続された別のコンピューター上に位置算出部が設けられていてもよい。
なお、上記の各実施形態における制御ユニット40及び各装置が備える制御部(以下、これらを総称して制御部CONTと記載する)又はこの制御部CONTが備える各部は、専用のハードウェアにより実現されるものであってもよく、また、メモリおよびマイクロプロセッサにより実現させるものであってもよい。
なお、この制御部CONT又はこの制御部CONTが備える各部は、専用のハードウェアにより実現されるものであってもよく、また、この制御部CONT又はこの制御部CONTが備える各部はメモリおよびCPU(中央演算装置)により構成され、制御部CONT、又はこの制御部CONTが備える各部の機能を実現するためのプログラムをメモリにロードして実行することによりその機能を実現させるものであってもよい。
また、制御部CONT又はこの制御部CONTが備える各部の機能を実現するためのプログラムをコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録されたプログラムをコンピュータシステムに読み込ませ、実行することにより、制御部CONT又はこの制御部CONTが備える各部による処理を行ってもよい。なお、ここでいう「コンピュータシステム」とは、OSや周辺機器等のハードウェアを含むものとする。
また、「コンピュータシステム」は、WWWシステムを利用している場合であれば、ホームページ提供環境(あるいは表示環境)も含むものとする。
また、「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、ROM、CD−ROM等の可搬媒体、コンピュータシステムに内蔵されるハードディスク等の記憶装置のことをいう。さらに「コンピュータ読み取り可能な記録媒体」とは、インターネット等のネットワークや電話回線等の通信回線を介してプログラムを送信する場合の通信線のように、短時間の間、動的にプログラムを保持するもの、その場合のサーバやクライアントとなるコンピュータシステム内部の揮発性メモリのように、一定時間プログラムを保持しているものも含むものとする。また上記プログラムは、前述した機能の一部を実現するためのものであってもよく、さらに前述した機能をコンピュータシステムにすでに記録されているプログラムとの組み合わせで実現できるものであってもよい。
1…測定機本体、2…基台、3…測定対象、20…検出部、21…投影部、22…撮像部、40…制御ユニット、41…入力装置、42…マウス、43…キーボード、45…表示装置、46…表示画面、51…制御部、52…座標検出部、53…間隔調整部、54…駆動制御部、55…移動指令部、56…位置算出部、56A…点群データ生成部、57…データ出力部、60…記憶部、61…CADデータ、62…形状データ、70,70A…抽出領域設定部、76…論理和画像生成部、100,100A…形状測定装置、110…設計装置、120…成形装置、140…リペア装置、150…制御装置、151…座標記憶部、152…検査部、200…構造物製造システム
本発明の一実施形態は、測定光を測定対象の測定領域へ投影する投影部と、前記測定光が投影されたときの前記測定領域の像を撮像する撮像部と、前記測定対象の測定領域の位置が変わるように、前記測定対象に対して相対的に前記投影部または前記撮像部を移動させる移動機構と、それぞれ異なる測定領域へ前記測定光を投影したときに前記撮像部により撮像された前記測定光の像と、前記それぞれ異なる測定領域へ前記測定光を投影したときに前記撮像部により撮像された、前記測定光の像とは異なる、前記測定対象に形成された像とに基づいて、前記撮像部で撮像された撮像画像から前記測定対象の位置を算出するために用いる画像情報の抽出領域を設定する抽出領域設定部とを備える形状測定装置である。
また、本発明の一実施形態は、測定光を測定対象の測定領域へ投影する投影部と、前記測定光が投影されたときの前記測定領域の像を撮像する撮像部と、前記測定対象の測定領域の位置が変わるように、前記測定対象に対して相対的に前記投影部または前記撮像部を移動させる移動機構と、前記撮像部で撮像されたそれぞれ異なる測定領域に前記測定光を投影したときの複数の撮像画像を前記複数の撮像画像の少なくとも一つに含まれる前記測定光の像及び前記測定光の像とは異なる前記測定対象に形成された像の情報を保持するように、重複して表示する表示部と、前記表示部で表示された画像をもとに、前記撮像画像の一部を選択する選択領域に関する情報を入力する入力部と前記撮像部で撮像された撮像画像のうち前記選択領域に関する情報に基づき前記撮像画像から測定対象の位置を算出する位置算出部を有する形状測定装置である。
また、本発明の一実施形態は、測定対象の測定領域を撮像した撮像画像を生成する撮像手順と、前記撮像手順において撮像される撮像画像が、前記測定対象の測定領域にパターンが投影された画像として撮像されるように、前記撮像手順において撮像されている方向と異なる方向から、前記パターンを前記測定対象に投影する投影手順と、前記測定対象のそれぞれ異なる測定領域を前記撮像手順において撮像することにより撮像された前記パターンの像と、前記それぞれ異なる測定領域を前記撮像手順において撮像することにより撮像された、前記パターンの像とは異なる、前記測定対象に形成された像とに基づいて、前記撮像部で撮像された撮像画像から抽出領域を設定する抽出領域設定手順と、前記撮像手順において生成された前記撮像画像内の前記抽出領域の前記撮像画像に基づいて、前記測定対象の位置を算出する位置算出手順とを有する形状測定方法である。
また、本発明の一実施形態は、コンピュータに、測定対象を撮像した撮像画像を生成する撮像手順と、前記撮像手順において撮像される撮像画像が、前記測定対象にパターンが投影された画像として撮像されるように、前記撮像手順において撮像している方向と異なる方向から、前記パターンを前記測定対象の測定領域に投影する投影手順と、前記測定対象のそれぞれ異なる測定領域を前記撮像手順において撮像することにより撮像された前記パターンの像と、前記それぞれ異なる測定領域を前記撮像手順において撮像することにより撮像された、前記パターンの像とは異なる、前記測定対象に形成された像とに基づいて撮像画像から前記測定対象の位置を算出するために用いる画像情報を抽出する抽出領域を設定する抽出領域設定手順と、を実行させるための形状測定プログラムである。

Claims (24)

  1. 測定光を測定対象の測定領域へ投影する投影部と、
    前記測定光が投影された前記測定領域の像を撮像する撮像部と、
    前記測定対象の測定領域の位置が変わるように、前記測定対象に対して相対的に前記投影部または前記撮像部を移動させる移動機構と、
    それぞれ異なる測定領域へ前記測定光を投影したときに前記撮像部により撮像された前記測定光の像の位置に基づいて、前記撮像部で撮像された撮像画像から前記測定対象の位置を算出するために用いる画像情報の抽出領域を設定する抽出領域設定部とを備える形状測定装置。
  2. 前記抽出領域設定部は、
    更に、前記撮像部で撮像されたそれぞれ異なる測定領域における撮像画像から論理和画像を生成する論理和画像生成部を備え、
    前記論理和画像から前記撮像部が生成する画像データへの抽出領域を設定可能にする
    請求項1に記載の形状測定装置。
  3. 前記論理和画像生成部は、
    前記複数の撮像画像に対して、同一画素毎に所定の条件を満たす画素値を当該画素位置とすることで、前記論理和画像を生成する請求項2に記載の形状測定装置。
  4. 前記論理和画像生成部は、
    前記測定対象の測定対象範囲の端部となった位置で前記測定光を投影したときに前記撮像部により得られた撮像画像を少なくとも1枚含めて、前記論理和画像を生成する
    請求項2または3に記載の形状測定装置。
  5. 前記論理和画像生成部は、
    前記測定対象の複数の前記測定領域のうち、少なくとも2つの前記測定領域を前記撮像部が撮像した少なくとも2つの前記撮像画像に基づいて、当該撮像画像の論理和を示す論理和画像を生成する
    請求項2または3に記載の形状測定装置。
  6. 前記抽出領域設定部は、前記撮像部で撮影されたそれぞれ異なる測定領域に前記測定光を投影したときの複数の撮像画像の各々に対して、前記測定対象に対する前記投影部及び前記撮像部の位置関係から推定される測定光の像と類似する対象画像を抽出し、前記複数の撮像画像から得られた複数の前記対象画像の位置に基づいて、抽出領域を設定する
    請求項1に記載の形状測定装置。
  7. 前記推定される前記測定光の像は、前記測定対象の設計データを基に推定された像である請求項6に記載の形状測定装置。
  8. 前記測定対象の概略形状データを保持する形状データ記憶部を備えた請求項7に記載の形状測定装置。
  9. 前記抽出領域設定部は、前記それぞれ異なる測定領域へ前記測定光を投影したときに前記撮像部により撮像された前記測定光の像のうち、前記測定光の像が最も外側に位置するときの撮像画像を含む画像情報から抽出領域を設定する請求項1に記載の形状測定装置。
  10. さらに、前記撮像部で撮像された撮像画像のうち、前記抽出領域設定部が設定した前記抽出領域内の画像情報に基づいて、前記測定対象の位置を算出する位置算出部を有する請求項1から請求項9のいずれか一項に記載の形状測定装置。
  11. 測定光を測定対象の測定領域へ投影する投影部と、
    前記測定光が投影された前記測定領域の像を撮像する撮像部と、
    前記測定対象の測定領域の位置が変わるように、前記測定対象に対して相対的に前記投影部または前記撮像部を移動させる移動機構と、
    前記撮像部で撮像されたそれぞれ異なる測定領域に前記測定光を投影したときの複数の撮像画像を重複して表示する表示部と、
    前記撮像画像の一部を選択する選択領域に関する情報を入力する入力部と、
    前記選択領域に関する情報を基に抽出領域を設定する抽出領域設定部と、
    前記撮像部で撮像された撮像画像のうち前記抽出領域内の撮像画像から測定対象の位置を算出する位置算出部を有する形状測定装置。
  12. 前記抽出領域設定部は、
    更に、前記撮像部で撮像されたそれぞれ異なる測定領域に前記測定光を投影したときの撮像画像から論理和画像を生成する論理和画像生成部と、
    前記論理和画像生成部が生成した前記論理和画像を表示する表示部と、
    前記表示部が表示する前記論理和画像に対して前記抽出領域を示す情報を入力するための入力部と
    を備え、
    前記入力部に入力された前記抽出領域を示す情報に基づいて、前記抽出領域を設定する
    請求項11に記載の形状測定装置。
  13. 前記抽出領域設定部は、
    更に、前記撮像部で撮影されたそれぞれ異なる測定領域に前記測定光を投影したときの前記撮像画像から論理和画像を生成する論理和画像生成部を備え、
    前記論理和画像から前記撮像部が生成する撮像画像への抽出領域を設定する
    請求項11に記載の形状測定装置。
  14. 前記論理和画像生成部は、
    前記複数の撮像画像に対して、同一画素毎に所定の条件を満たす画素値を当該画素位置の画素値とすることで、前記論理和画像を生成する請求項13に記載の形状測定装置。
  15. 前記論理和画像生成部は、
    前記測定領域が前記測定対象の測定対象範囲の端部となった位置で前記撮像部により得られた撮像画像を少なくとも1枚含めて、前記論理和画像を生成する
    請求項13または14に記載の形状測定装置。
  16. 前記論理和画像生成部は、
    前記測定対象の複数の前記測定領域のうち、少なくとも2つの異なる前記測定領域を前記撮像部で撮像した少なくとも2つの前記撮像画像に基づいて、当該撮像画像の論理和を示す論理和画像を生成する
    請求項13に記載の形状測定装置。
  17. 前記抽出領域設定部は、
    形状が互いに異なる少なくとも2つの前記抽出領域を設定する
    請求項1から請求項15のいずれか一項に記載の形状測定装置。
  18. 前記抽出領域設定部は、
    前記撮像部が生成した前記撮像画像内の抽出領域を、前記撮像部が生成した前記撮像画像の情報量が低減された画像に基づいて設定する
    請求項1または請求項10に記載の形状測定装置。
  19. 前記抽出領域設定部は、前記撮像部が生成した前記撮像画像の情報量が低減された画像として、階調数が低減された画像に基づいて設定する
    請求項18に記載の形状測定装置。
  20. 構造物の形状に関する構造物設計情報を作製する設計装置と、
    前記構造物設計情報に基づいて前記構造物を作製する成形装置と、
    作成された前記構造物の形状を、撮像画像に基づいて測定する請求項1または請求項10に記載の形状測定装置と、
    前記測定によって得られた形状情報と、前記構造物設計情報とを比較する検査装置と
    を含む構造物製造システム。
  21. 測定対象の測定領域を撮像した撮像画像を生成する撮像手順と、
    前記撮像手順において撮像される撮像画像が、前記測定対象にパターンが投影された画像として撮像されるように、前記撮像手順において撮像されている方向と異なる方向から、前記パターンを前記測定対象の測定領域に投影する投影手順と、
    前記測定対象のそれぞれ異なる測定領域を前記撮像手順において撮像された複数の前記撮像画像うち少なくとも前記測定領域における前記パターンの像が最も外側に位置するときの撮像画像を有する画像から前記撮像画像に抽出対象の画像を示す抽出領域を設定する抽出領域設定手順と、
    前記撮像手順において生成された前記撮像画像内の前記抽出領域の前記撮像画像に基づいて、前記測定対象の位置を算出する位置算出手順と
    を有する形状測定方法。
  22. 前記撮像手順において撮影されたそれぞれ異なる測定領域における画像データから論理和画像を取得する論理和画像生成手順
    を有し、
    前記抽出領域設定手順は、
    前記論理和画像生成手順において生成された前記論理和画像を表示する表示手順と、
    前記表示手順において表示される前記論理和画像に基づいて、前記抽出領域を示す情報を入力する入力手順と
    を有し、
    前記入力手順において入力された前記抽出領域を示す情報に基づいて、前記撮像手順において生成された前記撮像画像内の抽出領域を設定する
    請求項21に記載の形状測定方法。
  23. 構造物の形状に関する構造物設計情報を作製する工程と、
    前記構造物設計情報に基づいて前記構造物を作製する工程と、
    作成された前記構造物の形状を、請求項21または請求項22に記載の形状測定方法を用いて生成した撮像画像に基づいて測定する工程と、
    前記測定によって得られた形状情報と、前記構造物設計情報とを比較する工程と
    を含む構造物製造方法。
  24. コンピュータに、
    測定対象を撮像した撮像画像を生成する撮像手順と、
    前記撮像手順において撮像される撮像画像が、前記測定対象にパターンが投影された画像として撮像されるように、前記撮像手順において撮像している方向と異なる方向から、前記パターンを前記測定対象の測定領域に投影する投影手順と、
    前記測定対象のそれぞれ異なる測定領域を前記撮像手順において撮像された前記パターンの像に基づいて撮像画像から前記測定対象の位置を算出するために用いる画像情報を抽出する抽出領域を設定する抽出領域設定手順と、
    を実行させるための形状測定プログラム。
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