JP6598898B2 - 芯ズレ検出装置および芯ズレ検出方法 - Google Patents

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Description

この発明は、中心軸から外周部までの径方向の距離が周方向において増加と減少とを繰り返す外周形状を有するワークを検出対象物とし、ワークが回転軸回りに回転するときの回転軸に対する中心軸の芯ズレを検出する技術に関するものである。
例えば歯車のように、外周部に凹凸が繰り返して設けられたワークの外観を検査する装置として、例えば特許文献1に記載されたワーク検査装置がある。このワーク検査装置では、モータに連結されたホルダ部によりワークが保持される。そして、上記モータによりワークを回転させながら当該ワークを複数台のカメラで撮像し、それらの撮像画像に基づいてワークの外観を検査する。
特開2012−63268号公報
このようにワークを回転させつつ撮像を行う検査装置においては、外観検査を精度よく行うために、ワークを回転させるときの回転軸(回転中心)が、ワークの機械的な中心と一致していることが必要である。言い換えれば、回転するワークがあるとき、当該ワークの回転軸が機械中心と一致しているか、あるいは両者がどの程度ズレているかを検出するための技術が必要とされている。以下、ワークの中心と回転軸との間のズレを「芯ズレ」と称する。
ここで、ワークの外周部が円形もしくは例えば平歯車のように回転対称な形状であれば、例えばワークが1回転する間の外周部の位置変動を観察すること等により芯ズレを検出することは可能と考えられる。一方、外周部の形状が回転対称でないワークもある。例えばワークが欠歯歯車である場合、外周部に突出して設けられる歯の配置が周方向において等間隔でないため、ワークが1周する間の外周部の位置変動を継続的に検出することが難しくなる。このようなワークについても、芯ズレの有無やその大きさを評価するための技術が求められるが、そのような技術は確立されるに至っていない。
この発明は上記課題に鑑みなされたものであり、ワーク外周部の形状が回転対称でない場合であっても芯ズレを確実に検出することが可能な芯ズレ検出技術を提供することを目的とする。
この発明の一の態様は、中心軸から外周部までの径方向の距離が周方向において増加と減少とを繰り返す外周形状を有するワークが回転軸回りに回転するときの、前記回転軸に対する前記中心軸の芯ズレを検出する芯ズレ検出装置であって、上記目的を達成するため、前記外周部の一部に対応する基準パターンを記憶する記憶部と、前記外周部の少なくとも一部を撮像視野に含む定点撮像により、前記ワークの少なくとも1回転分について前記外周部を撮像する撮像部と、前記撮像部により撮像された画像に対しパターンマッチング処理を実行し前記基準パターンに対応する領域を検出する画像処理部と、検出された複数の前記領域それぞれの位置の情報に基づき前記芯ズレを検出する芯ズレ検出部とを備える。
また、この発明の他の一の態様は、中心軸から外周部までの径方向の距離が周方向において増加と減少とを繰り返す外周形状を有するワークが回転軸回りに回転するときの、前記回転軸に対する前記中心軸の芯ズレを検出する芯ズレ検出方法であって、上記目的を達成するため、前記外周部の少なくとも一部を撮像視野に含む定点撮像により、前記ワークの少なくとも1回転分について前記外周部を撮像する工程と、撮像された画像に対しパターンマッチング処理を実行し、前記外周部の一部に対応して予め定められた基準パターンに対応する領域を検出する工程と、検出された複数の前記領域それぞれの位置の情報に基づき前記芯ズレを検出する工程とを備えている。
これらの発明において、前記基準パターンは、前記外周部に、互いに合同な形状を有し前記中心軸回りの回転に対し互いに対称な位置関係で複数存在する特徴部位の形状に対応したものである。
このように構成された発明では、ワークの外周部全体としての形状が回転対称性を有していなくても、中心軸回りの回転に対し対称な位置関係で複数の特徴部位があれば、ワークの中心軸と回転軸との間の芯ズレを検出することが可能である。その理由は以下の通りである。
本発明では、回転するワークの外周部が定点撮像される。この場合、画像における不動点は、ワークの機械的な中心ではなく回転中心である。ただし回転中心が画像に含まれる必要は必ずしもない。
回転するワークの外周部を撮像した画像に対し、外周部の一部である特徴部位に対応する基準パターンを用いたパターンマッチング処理が実行される。これにより、撮像された外周部の画像中で特徴部位に対応する形状を有する領域が検出される。特徴部位に対応する形状が外周部に複数ある場合には、それらに対応する複数の領域がそれぞれ画像から検出されることになる。
ここで、複数の特徴部位が、ワークの機械的な中心軸回りの回転に対し互いに対称な位置にある場合を考える。もし回転するワークの中心軸と回転軸とが完全に一致していれば、外周部を定点撮像した画像において、複数の特徴部位それぞれに対応する複数の領域は回転軸から互いに等距離の位置に現れるはずである。一方、ワークの中心軸と回転軸との間に芯ズレがある場合、各特徴部位と回転軸との距離が必ずしも同じではない。このため、特徴部位に対応する領域が画像において検出される位置は、芯ズレのない場合の位置に対して、ワークの回転周期に対応する周期で変動することになる。
このような位置の変化から、芯ズレの有無やその大きさを検出することが可能である。複数の特徴部位はワークの中心軸からの距離が互いに等しく、一方、画像においては回転軸が不動点であるから、画像において検出された複数の領域それぞれと不動点との距離の変動から、ワークの中心軸と回転軸との間の芯ズレを検出することができる。
上記のように、本発明によれば、ワーク外周部に複数存在する特徴部位をパターンマッチング処理によって検出し、その位置の情報に基づきワークの中心軸と回転軸との間の芯ズレを検出する。そのため、ワーク外周部の形状が回転対称性を有する場合のみならず、そうでない場合であっても芯ズレを高精度に検出することが可能である。
本発明に係る芯ズレ検出装置の一実施形態を装備する検査装置の全体構成を示す図である。 検査装置の電気的構成を示すブロック図である。 ワーク保持ユニットの構成を示す斜視図である。 検査装置によるワークの検査動作を示すフローチャートである。 検査動作を模式的に示す図である。 本実施形態の芯ズレ検出方法を適用可能なワークの形状を例示する図である。 本実施形態の芯ズレ検出方法の原理を示す第1の図である。 本実施形態の芯ズレ検出方法の原理を示す第2の図である。 正弦関数における定数の意味を説明する図である。 この実施形態における芯ズレ検出処理を示すフローチャートである。 本実施形態のアウトライヤー除去の原理を示す図である。 本実施形態の芯ズレ検出を適用可能なワークの他の例である。
図1は、本発明に係る芯ズレ検出装置の一実施形態を装備する検査装置の全体構成を示す図である。また、図2は、図1に示す検査装置の電気的構成を示すブロック図である。この検査装置100は、例えば歯車や羽根車などのように、その機械的中心から外周部までの径方向の距離が周方向において増加と減少とを繰り返す外周形状を有するワークWの外観を検査する装置であり、ローディングユニット1、ワーク保持ユニット2、撮像ユニット3、アンローディングユニット4および制御ユニット5を有している。なお、ここでは、ワークWは図1に示すように軸部Waの上部に歯車Wbを設けた機械部品であり、例えば鍛造や鋳造処理によって形成される。そして、部品製造後に当該ワークWは外部搬送ロボットあるいはオペレータによってローディングユニット1に搬送される。
ローディングユニット1には、テーブルやストッカーなどのワーク収容部(図示省略)が設けられている。そして、外部搬送ロボットなどによりワークWがワーク収容部に一時的に収容されると、ワーク収容部に設けられたワーク検出センサ11(図2)がワークWを検出し、その旨の信号を装置全体を制御する制御ユニット5に送信する。また、ローディングユニット1には、ローダ12(図2)が設けられており、制御ユニット5からの動作指令に応じてワーク収容部に収容されている未検査のワークWを受け取り、ワーク保持ユニット2に搬送する。
図3はワーク保持ユニットの構成を示す斜視図である。ワーク保持ユニット2は、ローダ12により搬送されてきたワークWを保持する保持テーブル21A、21Bを装備している。これらの保持テーブル21A、21Bはともに同一構成を有し、歯車Wbが水平状態となる姿勢でワークWの軸部Waの一部を把持して保持可能となっている。以下、図3を参照しつつ保持テーブル21Aの構成について説明する一方、保持テーブル21Bは保持テーブル21Aと同一構成であるため、保持テーブル21Bについては同一符号を付して説明を省略する。
保持テーブル21Aでは、図3に示すように、チャック機構22、水平位置決め機構23、回転機構24および鉛直位置決め機構25が鉛直方向に積層配置されている。チャック機構22は、側面視で略L字状の可動部材221〜223と、制御ユニット5からの移動指令に応じて可動部材221〜223を放射状に連動して移動させる移動部224とを有している。各可動部材221〜223の上端面には突起部材225が突設されており、上端面と突起部材225とで軸部Waの段差部位と係合可能となっている。このため、制御ユニット5からの把持指令に応じて移動部224が可動部材221〜223を互いに近接移動させることでチャック機構22の中心軸(図5中の符号AX2)と軸部Waの軸芯とを一致させながらワークWを保持することができる。一方、制御ユニット5からの解放指令に応じて移動部224が可動部材221〜223を互いに離間移動させることで、ローディングユニット1による未検査ワークWのローディングやアンローディングユニット4による検査済ワークWのアンローディングを行うことが可能となる。
このように構成されたチャック機構22は水平位置決め機構23に支持されている。水平位置決め機構23は水平方向において互いに直交する方向に移動させる、いわゆるXYテーブルを有している。このため、制御ユニット5からの移動指令に応じてXYテーブルが駆動されてチャック機構22を水平面で高精度に位置決めすることが可能となっている。なお、XYテーブルとしては、モータとボールネジ機構とを組み合わせたものや、水平方向において互いに直交する2つのリニアモータを組み合わせたものなどを用いることができる。
回転機構24はモータ241を有している。モータ241の回転シャフト(図5中の符号242)が鉛直上方に延設されており、その上端部に水平位置決め機構23が連結されている。このため、制御ユニット5から回転指令が与えられると、モータ241が作動してモータ241の回転軸(図5中の符号AX3)まわりに水平位置決め機構23、チャック機構22、ならびにチャック機構22により把持されたワークWを一体的に回転させる。
ここで、本実施形態では、チャック機構22と回転機構24との間に水平位置決め機構23を設けているが、その技術的意義はチャック機構22の中心軸、チャック機構22に把持されたワークWの歯車Wbの構造上の機械的中心軸(図5中の符号AX4)およびモータ241の回転軸の相対的な位置関係を水平位置決め機構23によって調整可能とする点にある。すなわち、チャック機構22の中心軸とモータ241の回転軸とを一致させておくことで、チャック機構22で把持したワークWを軸部Waまわりに回転させることができる。しかしながら、歯車Wbの中心軸が軸部Waから外れている場合には、モータ241に対して芯ズレが発生しており、歯車Wbは偏心して回転してしまう。そこで、水平位置決め機構23を設け、ズレ量とズレ方向を補正するように駆動させることで歯車Wbの中心軸とモータ241の回転軸とを一致させることが可能となる。これによって、撮像ユニット3による歯車Wbの画像を高精度に撮像することが可能となり、ワークWの検査精度を向上させることができる。
鉛直位置決め機構25は、モータ241を保持する保持プレート251と、モータ241の下方位置に配置されたベースプレート252と、保持プレート251およびベースプレート252を連結する4本の連結ピン253と、ベースプレート252を鉛直方向に昇降させる昇降部254とを有している。昇降部254は制御ユニット5からの昇降指令に応じてベースプレート252を昇降させることで鉛直方向において回転機構24、水平位置決め機構23およびチャック機構22を一体的に移動させ、次に説明するプリアライメント位置PAおよび検査位置PIにおいてワークWの高さ位置を適正化することができる。
このように構成された保持テーブル21A、21Bは、図3に示すように、支持プレート261上に一定距離だけ離間して固定されている。また、保持テーブル21A、21Bの中間位置で支持プレート261が旋回駆動部262に支持されている。この旋回駆動部262は制御ユニット5からの旋回指令に応じて鉛直方向に延びる旋回軸AX1まわりに支持プレート261を180゜旋回可能となっており、図3に示すように保持テーブル21A、21Bがそれぞれプリアライメント位置PAおよび検査位置PIに位置する第1ポジションと、保持テーブル21A、21Bがそれぞれ検査位置PIおよびプリアライメント位置PAに位置する第2ポジションとの間で切替可能となっている。例えばプリアライメント位置PAに位置する保持テーブル21Aに保持されたワークWに対してプリアライメント処理を施すのと並行して、旋回駆動部262によって第1ポジションから第2ポジションに切り替えることで保持テーブル21Aがプリアライメント位置PAから検査位置PIにシフトし、プリアライメント処理済のワークWを検査位置PIに位置決めすることができる。また、当該ワークWの検査を終了した後、逆方向に旋回することで保持テーブル21Aが検査位置PIからプリアライメント位置PAにシフトし、検査処理済のワークWをプリアライメント位置PAに位置決めすることができる。このように本実施形態では、支持プレート261および旋回駆動部262によりワークWの位置を切り替えるポジション切替機構26が構成されている。
プリアライメント位置PAは上記したようにプリアライメント処理を行う位置であり、プリアライメント位置PAに位置決めされた保持テーブル21A(または21B)の上方にアライメントカメラ27が配置されている。このアライメントカメラ27は図3に示すようにワークWに対してモータ241の反対側、つまりワークWの上方側に配置されており、ワークWの中心軸AX4(図5参照)に対して径方向外側に延設されたラインセンサ271を有している。アライメントカメラ27は、ラインセンサ271の長手方向がワークWの径方向となるように設置されている。したがって、アライメントカメラ27の撮像視野FVはモータ回転軸AX3からワークWの径方向に沿って細長く延びる帯状となっている。また、ワークWが1周する間、常にワーク外周部の一部を含むように撮像視野FVが設定される。このため、ワークWを回転させながらラインセンサ271によりワークWの上面を撮像可能となっており、ワークWを少なくとも1周回転させることで歯車Wbの外周部に形成される凸部(歯末)および凹部(歯元)の全てを含む画像が得られる。
また、図3への図示を省略しているが、当該保持テーブル21A(または21B)に保持されたワークWを照明してアライメント処理を良好に行うためのアライメント照明部28(図2)が設けられている。このため、回転機構24によりワークWを回転させるとともに、アライメント照明部28によりワークWを照明しながらアライメントカメラ27によりワークWを撮像することができる。そして、ワークWの画像データが制御ユニット5に送られ、芯ズレを補正して歯車Wbの中心軸AX4とモータ241の回転軸AX3とを一致させる、つまりプリアライメント処理が実行される。
一方、検査位置PIは検査処理を行う位置であり、検査位置PIに位置決めされた保持テーブル21A(または21B)の上方に撮像ユニット3が配置されている。この検査位置PIでは、歯車Wbの中心軸AX4とモータ241の回転軸AX3とが一致した状態でワークWを回転させながらワークWを撮像ユニット3によって撮像することができる。そして、ワークWの画像データが制御ユニット5に送られ、歯車Wbにおける傷や欠陥などの有無を検査する検査処理が実行される。
この撮像ユニット3は、図2に示すように、複数の検査カメラ31と複数の検査照明部32とを有している。この撮像ユニット3では、検査位置PIに位置決めされた保持テーブル21A(または21B)に保持されるワークWを種々の方向から照明するように複数の検査照明部32が配置されている。そして、回転機構24によりワークWを回転させるとともに、検査照明部32によりワークWを照明しながら複数の検査カメラ31によりワークWを種々の方向から撮像することが可能となっている。これら複数の画像データが制御ユニット5に送られ、制御ユニット5によりワークWの検査が実行される。
こうして検査されたワークWを保持する保持テーブル21A(または21B)は上記したようにポジション切替機構26により検査位置PIからプリアライメント位置PAにシフトされる。そして、アンローディングユニット4により保持テーブル21A(または21B)から検査済のワークWが搬出される。なお、アンローディングユニット4は基本的にローディングユニット1と同一である。つまり、アンローディングユニット4は、検査済のワークWを一時的に収容するワーク収容部(図示省略)、ワーク検出センサ41(図2)およびアンローダ42(図2)を有しており、制御ユニット5からの動作指令に応じて検査済のワークWを保持テーブル21A(または21B)からワーク収容部に搬送する。
制御ユニット5は、図2に示すように、論理演算を実行する周知のCPU(Central Processing Unit)、初期設定等を記憶しているROM(Read Only Memory)、装置動作中の様々なデータを一時的に記憶するRAM(Random Access Memory)等から構成されている。制御ユニット5は、機能的には、演算処理部51、メモリ52、駆動制御部53、外部入出力部54、画像処理部55および照明制御部56を備えている。
上記駆動制御部53は、装置各部に設けられた駆動機構、例えばローダ12、チャック機構22などの駆動を制御する。外部入出力部54は、装置各部に装備されている各種センサ類からの信号を入力する一方、装置各部に装備されている各種アクチュエータ等に対して信号を出力する。画像処理部55は、アライメントカメラ27および検査カメラ31から画像データを取り込み、2値化等の画像処理を行う。照明制御部56はアライメント照明部28および検査照明部32の点灯および消灯等を制御する。
上記演算処理部51は、演算機能を有するものであり、上記メモリ52に記憶されているプログラムに従って駆動制御部53、画像処理部55、照明制御部56などを制御することで次に説明する一連の処理を実行する。
なお、図2中の符号6はオペレータとのインターフェースとして機能する表示ユニットであり、制御ユニット5と接続され、検査装置100の動作状態を表示する機能のほか、タッチパネルで構成されてオペレータからの入力を受け付ける入力端末としての機能も有する。また、この構成に限定されるものではなく、動作状態を表示するための表示装置と、キーボードやマウス等の入力端末を採用しても良い。
図4は図1に示す検査装置によるワークの検査動作を示すフローチャートである。また、図5は検査動作を模式的に示す図である。なお、図5においては、保持テーブル21A、21Bの動作を明確に区別するために、保持テーブル21Bおよび当該保持テーブル21Bにより保持されるワークWに対してドットを付している。
この検査装置100では、制御ユニット5のメモリ52に予め記憶された検査プログラムにしたがって演算処理部51が装置各部を制御して以下の動作を実行する。ここでは、1つのワークWに着目して当該ワークWに対して実行される各種動作について図4および図5を参照しつつ説明する。制御ユニット5は、図5の(a)欄に示すようにプリアライメント位置PAに位置している保持テーブル21AにワークWが存在せず、しかもワーク検出センサ11により未検査のワークWがローディングユニット1のワーク収容部に収容されていることを確認すると、保持テーブル21AへのワークWのローディングを開始する(ステップS1)。このローディング工程では、ローダ12がワーク収容部の未検査ワークWを把持し、ローディングユニット1から保持テーブル21Aに搬送する。なお、本実施形態では、ローディング工程および後の芯ズレの検出工程を円滑に行うために、保持テーブル21AへのワークWの搬送前に、図5の(a)欄に示すように水平位置決め機構23によりチャック機構22の中心軸AX2とモータ241の回転軸AX3とを一致させるとともに、3本の可動部材221〜223を互いに離間させてワークWの受け入れ準備を行っている。
ローダ12によりワークWが保持テーブル21Aに搬送されてくると、チャック機構22が上記したように3本の可動部材221〜223を互いに近接移動させてワークWの軸部Waの一部を挟み込んでワークWを把持する。より詳しくは、ローディング動作中に、可動部材221〜223は互いに近接移動し、可動部材221〜223の各上端面と突起部材225とが軸部Waの段差部位に係合してチャック機構22の中心軸AX2と軸部Waの軸芯とを一致させながらワークWを保持する(図5の(b)欄参照)。こうして、ローディング工程が完了し、この完了時点では、モータ241の回転軸AX3、チャック機構22の中心軸AX2および軸部Waの軸芯は一致している。しかしながら、鍛造や鋳造処理によって製造されたワークWでは、例えば図5の(b)欄に示すように歯車Wbの中心軸AX4が軸部Waの軸芯から外れ、モータ241に対するワークWの芯ズレが発生していることがある。
そこで、本実施形態では、アライメント照明部28(図2)により未検査ワークWを照明するとともに、保持テーブル21Aのモータ241により未検査ワークWを回転させながらアライメントカメラ27により歯車Wbを撮像し、その画像データをメモリ52に記憶する(ステップS2)。
この撮像完了後に、旋回駆動部262により第1ポジションから第2ポジションへの切替を行う。すなわち、旋回駆動部262が支持プレート261を旋回軸AX1まわりに180゜旋回させ、これによって図5の(c)欄に示すように未検査のワークWを保持する保持テーブル21Aがプリアライメント位置PAから検査位置PIに移動するとともに昇降部254によってワークWを撮像ユニット3により撮像可能な高さ位置に移動させる(ステップS3)。
また、本実施形態では、上記移動と並行して、メモリ52からワークWの画像データを読み出し、回転機構24(モータ241)に対するワークWの芯ズレ(本実施形態では、ズレ量とズレ方向とを含む情報に相当)を検出し(ステップS4)、それに続いて保持テーブル21Aにおける芯ズレ補正を行う(ステップS5)。なお、当該芯ズレの検出工程(ステップS4)については後で詳述する。この芯ズレ補正は上記ステップS4で検出された芯ズレを解消するように水平位置決め機構23によりチャック機構22を移動させる。これによって、図5の(c)欄に示すように、保持テーブル21Aが検査位置PIに到達した時点あるいは到達前後で歯車Wbの中心軸AX4とモータ241の回転軸AX3とが一致し、直ちにワーク撮像工程(ステップS6)を開始することができる。
このステップS6では、検査位置PIに位置決めされた保持テーブル21Aの回転機構24が作動し、ワーク回転を開始する。このとき、保持テーブル21Aに保持されたワークWは上記芯ズレ補正を受けた、いわゆる芯出し状態であり、中心軸AX4まわりに回転する。また、その回転に対応して複数の検査照明部32が点灯して回転中のワークWを複数の方向から照明する。なお、ここではワーク回転後に検査照明部32を点灯させているが、点灯タイミングはこれに限定されるものではなく、回転開始と同時、あるいは回転開始前に検査照明部32の点灯を開始してもよい。
こうしてワークWの回転と照明とを行っている間に、複数の検査カメラ31がワークWを種々の方向から撮像し、複数方向からのワークWの画像(以下「ワーク画像」という)の画像データを制御ユニット5に送信する。一方、制御ユニット5では上記画像データをメモリ52に記憶し、以下のタイミングで当該画像データに基づいてワークWの検査を行う。
こうした画像取得後、保持テーブル21Aではワーク回転が停止され、撮像ユニット3では検査照明部32が消灯される。また、旋回駆動部262が支持プレート261を旋回軸AX1まわりに180゜反転旋回させ、これによって保持テーブル21Aが検査済のワークWを保持したまま検査位置PIからプリアライメント位置PAに移動するとともに昇降部254によってワークWが元の高さ位置に移動する(ステップS7)。このワークWの移動と並行して、制御ユニット5はメモリ52から画像データを読み出し、ワーク画像に基づいて歯車Wbに傷や欠陥などが存在しているか否かを判定して保持テーブル21Aに保持されたワークWについてワーク検査を行う(ステップS8)。
プリアライメント位置PAに戻ってきたワークWはアンローダ42によって把持された後、可動部材221〜223による把持の解除により保持テーブル21Aからアンローダ42に受け渡される。それに続いて、アンローダ42がワークWをアンローディングユニット4に搬送し、ワーク収容部(図示省略)に搬送する(ステップS9)。上記した一連の工程(ステップS1〜S9)が保持テーブル21A、21Bにより交互に繰り返される。
次に、本実施形態において実行される芯ズレの検出工程(ステップS4)について説明する。本実施形態では、芯ズレの検出工程を実行するのに先立って、水平位置決め機構23によりチャック機構22の中心軸AX2とモータ241の回転軸AX3とを一致させており、チャック機構22により保持されたワークWの軸部Waはモータ241の回転軸AX3と一致している。しかしながら、鍛造などにより成形されたワークWでは、歯車Wbの中心軸AX4が軸部Waの軸芯からずれ、モータ241に対して芯ズレが発生していることがある。そこで、本実施形態では、以下に詳述する手順によって保持テーブル21AにローディングされたワークWの芯ズレを検出している。なお、保持テーブル21Bに保持されたワークWについても全く同様にして芯ズレが検出されるため、当該ワークWの芯ズレ検出に関する説明については省略する。
図6は本実施形態の芯ズレ検出方法を適用可能なワークの形状を例示する図である。図6(a)に示すワークW1の外周部は、例えば一般的な平歯車と同様に、ワークW1の機械的な中心軸AX4から径方向外側に突出するように放射状に、かつ周方向において等間隔に凸部(歯)T1が配置された形状となっている。一方、図6(b)に示すワークW2および図6(c)に示すワークW3はいずれも、図6(a)のワークW1から一部の歯を除去した形状の外周部を有している。このような外周形状を有する歯車は欠歯歯車と称され、間欠的な動力伝達に用いられる。このうちワークW2は、周方向における歯T2の配置が不均等であるが、中心軸AX4に対しては90度つまり(π/2)[rad]の回転対称性を有している。一方、ワークW3では、周方向における歯T3の配置は不均等であり、その外周形状は中心軸AX4回りの回転に対する回転対称性を有していない。
次に説明する本実施形態の芯ズレ検出方法は、これらのワークW1〜W3のいずれの形状にも対応可能なものであり、しかも、後述するように処理対象となるワークの外周形状はこれらに限定されるものでもない。また、ワークWはアライメントカメラ27により撮像される面の外周形状が本明細書で規定したものとなっていれば足り、それ以外の部分の構造は問わない。以下、本実施形態における芯ズレ検出方法の基本原理および具体的な処理フローについて順に説明する。これらの説明においては、一例として図6(b)に示す形状のワークW2を処理対象のワークWとした場合について説明することとする。しかしながら、ワークが他の形状である場合でも処理の内容に差異はない。
図7および図8は本実施形態の芯ズレ検出方法の原理を示す図である。より具体的には、図7は芯ズレがない場合にアライメントカメラ27により撮像される画像の特徴を示す図であり、図8は芯ズレがある場合にアライメントカメラ27により撮像される画像の特徴を示す図である。
まず、ワークWの機械的な中心軸AX4とモータ回転軸AX3とが一致する、つまり芯ズレがない場合について、図7を参照しつつ説明する。前述のように、アライメントカメラ27のラインセンサ271はモータ回転軸AX3からワークWの径方向を長手方向として配置されており、アライメントカメラ27の撮像視野FVも同方向に細長く延びたものとなる。
後の説明のために、図7(a)に示すように、モータ回転軸AX3を原点としワークWの径方向を動径r、周方向を偏角θとする二次元極座標を導入する。偏角θについては、便宜的にアライメントカメラ27の撮像視野FVの延びる方向を、θ=0とする。動径方向はワークWの径方向に対応し、偏角θはワークWの回転位相角に対応する。
ワークWが一定速度で回転されると、ワークWの外周部のうち撮像視野FVに含まれる箇所が刻々と変化してゆく。アライメントカメラ27は、ラインセンサ271から出力される撮像視野FV内の一次元ライン画像の画像データを順次取り込んで制御ユニット5へ出力する。制御ユニット5の画像処理部55は、アライメントカメラ27から順次送信されるライン画像の画像データを時系列順に配列することで、ライン画像をその長手方向と直交する方向に並べた二次元画像に対応する画像データを作成する。ノイズや照明ムラ等の影響を軽減するために、適宜の閾値で二次元画像が二値化されてもよい。
こうして作成される二次元画像は、概略円周状であるワークWの外周部を直線状に展開したものとなる。より具体的には、図7(b)上図に示すように、ワークWの外周部よりも内側の領域と外側の領域との境界Prの位置を、偏角θに対してプロットしたような画像となる。図7(a)に示すワークW(W2)では、歯元に対応する水平な直線から、歯T2に対応する部分がその配設位置に応じて上向きに突出した画像が得られる。この画像パターンはワーク1周分、すなわち偏角2π[rad]の周期で繰り返される。
こうして得られるワーク1周分の二次元画像に対し、ワークWが有する1つの歯T2に対応する画像パターンPTを基準パターンとしてパターンマッチング処理を実行した場合を考える。これにより、ワークWに設けられた複数の歯T2それぞれに対応する領域が画像中から検出される。画像中にいて基準パターンPTに対応する領域が検出された位置(動径r方向の位置)を偏角θに対しプロットすると、図7(b)下図のような結果が得られる。各領域の位置については、当該領域を代表する座標値によって表すことができる。例えば検出された領域の重心の座標、左上隅の座標等を用いることができる。検出される複数の領域について同一のルールで代表座標値が定められていればよい。
ワークWの各歯T2は、その形状が互いに合同で、かつ中心軸AX4回りの回転に対して互いに回転対称性を有している。つまり、各歯T2は、中心軸AX4に対して径方向には互いに等距離で、周方向には互いに異なる位置に設けられている。したがって、ワークWの中心軸AX4とモータ241の回転軸AX3とが一致していれば、基準パターンPTと対応するものとして検出される領域の動径方向の位置は、全ての歯T2に対して同一となるはずである。すなわち、検出された位置の座標を結ぶと単一の直線になると考えられる。
次に、図8(a)に示すように、ワークWの中心軸AX4とモータ241の回転軸AX3との間に芯ズレがある場合を考える。この場合、ワークWが回転するときの中心軸はモータ回転軸AX3であるから、ワークWの中心軸AX4は、点線矢印で示すようにモータ回転軸AX3の回りを周回することになる。
アライメントカメラ27とモータ241の回転軸AX3との位置関係は予め決まっているから、アライメントカメラ27により得られる画像においては、回転軸AX3は回転に対してその位置が変動しない不動点となっている。回転軸AX3が撮像視野FVの外部にある場合でも、画像内の各点の位置はモータ回転軸AX3からの距離によって表すことが可能である。つまり、画像内でモータ回転軸AX3からの距離が等しい点を結ぶと、図7(b)と同様に一直線となる。
一方、ワークWの各歯T2はワークWの中心軸AX4から互いに等距離に設けられている。そのため、中心軸AX4とモータ回転軸AX3とに位置ズレがある場合には、モータ回転軸AX3から各歯T2までの距離は必ずしも同じではない。その結果、アライメントカメラ27によりワークWの外周部を撮像することで得られる二次元画像においては、図8(b)に示すように、ワークWの内部と外部との境界Prの位置が、ワークWの回転周期に対応して周期的に変動することになる。
このケースの二次元画像に対し、前述の場合と同様に1つの歯T2の形状に対応する基準パターンPTに基づくパターンマッチング処理を実行すると、図8(c)に示すように、基準パターンPTに対応する領域の動径方向における検出位置も周期的に変動することになる。芯ズレが大きいほど、変動の振幅も大きくなる。
言い換えれば、パターンマッチング処理によって検出される領域の位置が動径方向への変動を有するか否か、またその変動の大きさを求めることによって、芯ズレの有無やその大きさを検出することが可能である。
図8(c)における検出位置の変動は、偏角θ方向において2π[rad]の周期を有する正弦関数(サイン関数)に則ったものと考えられる。したがって、パターンマッチング処理によって検出される各歯T2に対応する領域の位置座標を適宜の正弦関数によってフィッティングすれば、当該正弦関数は芯ズレを定量的に表すものとなり得る。
角度θを変数とする正弦関数f(θ)は一般に次のように記述することができる。下記の(式1)において定数A、B、C、Dの持つ物理的意味については、図9を参照して説明する。
Figure 0006598898
図9は正弦関数における定数の意味を説明する図である。図9(a)は、ワーク回転前の初期状態(θ=0)におけるワークWの中心軸AX4とモータ241の回転軸AX3との位置関係を例示している。同図からわかるように、モータ回転軸AX3とワーク中心軸AX4との距離Raは芯ズレ量、すなわち芯ズレの大きさを表している。また、偏角θaは芯ズレの方向を表している。
図9(b)は、ワークWの回転に伴い変化するモータ回転軸AX3に対するワーク中心軸AX4の位置関係と、当該位置関係が正弦曲線上のどの点に対応するかとを示したものである。上記のような芯ズレを有するワークWがモータ241により回転されるとき、基準パターンPTとのパターンマッチング処理によって検出される領域の位置を(式1)の正弦関数で近似したとき、図9(b)に示す関係から明らかなように、振幅を表す定数Aが芯ズレ量Raに対応する情報を有している。また、正弦曲線をθ方向にシフトさせる定数Cが芯ズレの方向θaに関わる情報を有している。
定数Bは正弦曲線の周期に関するものであるが、偏角θをワークWの回転位相角として考える場合には1としてよい。また、定数Dは画像の不動点であるモータ回転軸AX3から各歯T2までの距離に対応するオフセット量であるが、モータ回転軸AX3とワーク中心軸AX4との相対的な距離Raを求める上では考慮する必要がない。すなわち、D=0としてよい。したがって、実質的には(式1)の定数A、Cが求められれば、それらの値から芯ズレ量Raおよび芯ズレ方向θaを特定することが可能となる。
以上より、モータ回転軸AX3とワーク中心軸AX4との間の芯ズレ、具体的には芯ズレ量とそのズレ方向とを定量的に求めるためには、
(1)ワークWを回転させ、少なくともその1回転分について、ワークWの外周部を定点撮像したライン画像を取得する、
(2)ワークWの1周分のライン画像を並べて二次元画像を作成する、
(3)二次元画像に対しパターンマッチング処理を実行し、ワークW外周部の歯T2の形状に対応する基準パターンPTに対応する領域を検出する、
(4)検出された領域の位置の分布を近似する正弦関数を特定する、
(5)正弦関数の定数から芯ズレ量およびズレ方向を特定する、
という処理が順番に行われればよい。以下、その具体的な処理内容について説明する。
図10はこの実施形態における芯ズレ検出処理を示すフローチャートである。この処理は、図4のステップS4に対応する処理であり、制御ユニット5に設けられた演算処理部51が予め準備された制御プログラムを実行することで装置各部を制御して所定の動作を行わせることにより実現される。制御プログラムは、装置各部に上記した(1)〜(5)の手順を実行させる。
最初に、未検査のワークWをモータ241により回転させながら、少なくともワークWの1回転分について、ワークWの外周部の一部を含むライン画像をアライメントカメラ27により撮像する(ステップS401)。そして、1回転分のライン画像を時系列順に並べた二次元画像に対応する画像データを作成する(ステップS402)。なお、ここでは多数のライン画像のセットを二次元画像と同様に扱うことのできるような画像データが得られれば足り、実際に二次元画像を出力する必要はない。二次元画像データについては、後のパターンマッチング処理の便宜のために、適宜のフィルタによる平滑化処理や二値化処理が施されてもよい。
次に、予めメモリ52に記憶されている事前登録情報に基づき、基準パターンPTおよびパターンマッチング処理における画像中での探索範囲が設定される(ステップS403)。基準パターンPTは、ワークWの形状に応じて予め定められ、メモリ52に記憶されている。また、基準パターンPTに対応する領域は画像中でランダムに出現するわけではなく、ワークWの形状からある程度の予測が可能である。このような場合、予測に基づき探索範囲を制限することで、画像全体について探索を行う必要がなくなり、処理の高速化を図ることができる。このような探索範囲に関する設定情報も、予めメモリ52に記憶されている。演算処理部51は、処理対象であるワークWの種類に応じてこれらの情報をメモリ52から読み出し、パターンマッチング処理に適用する。処理時間において問題が生じなければ、探索範囲の絞り込みは省いてもよい。
続いて、設定された基準パターンPTおよび探索範囲に基づき、画像処理部55によりパターンマッチング処理が実行され、二次元画像中で基準パターンPTに対応する領域が探索される(ステップS404)。パターンマッチング処理としては公知の画像処理技術を適用することができ、例えば正規化相関法を用いることができる。基準パターンPTに対応する領域が検出されると、その位置を表す座標情報が特定されメモリ52に記憶される(ステップS405)。
こうして求められた位置情報のデータには、主としてマッチング処理における誤検出に起因する不要なデータ(アウトライヤー)が含まれ得る。そこで、正弦関数への近似に先立ってこのようなアウトライヤーを除去するための処理が、画像処理部55または演算処理部51により実行される(ステップS406)。
前記したように、パターンマッチング処理によって検出される領域の位置は、概ね1つの正弦関数曲線上に分布すると考えられる。しかしながら、基準パターンPTとの完全な一致を検出条件としないパターンマッチング処理においては、例えば画像上のノイズに起因して正弦関数曲線から大きく離れた位置が検出結果に含まれることがあり得る。このようなアウトライヤーを除去する方法としては種々のものがあり得るが、ここではその一例を示す。
図11は本実施形態のアウトライヤー除去の原理を示す図である。この処理は、異常なデータはランダムな値を取り得るが、適正なデータは平均値から大きく離れることがないという性質を利用したものである。この処理では、パターンマッチング処理により検出された複数の領域それぞれの二次元画像中の位置(動径方向)の座標値の集合を母集団として、当該母集団の平均μおよび標準偏差σの値を求めておく。
そして、図11(a)に示すように、母集団内の各要素と平均値μとの差Δ(θ)を、要素ごとに求める。適正なデータではこの値Δ(θ)は比較的小さいと考えられる。一方、図11(a)に符号P1、P2を付した要素は平均値μから大きく離れており、アウトライヤーとみなすべきものである。このような要素では、Δ(θ)の値が比較的大きい。こうして求められた各要素のΔ(θ)と標準偏差σとの比の値を、各要素の有意性を示す評価値ppとして用いる。すなわち、次式:
pp=|Δ(θ)|/σ
により評価値ppを求める。平均値からの乖離の大きさを評価するため、右辺の分子としては絶対値が用いられる。
図11(b)に示すように、適正なデータについては評価値ppは小さな値となる一方、アウトライヤーの蓋然性の高いデータでは評価値ppが大きくなる。そこで、評価値ppに対して適宜の閾値Thを定めておき、例えば評価値ppが閾値Thより大きいものをアウトライヤーとみなすことができる。
パターンマッチング処理で検出された領域の位置座標のうち、上記の処理でアウトライヤーとみなされたものを除外することで、図11(c)に示すように、正弦関数への近似に悪影響を及ぼすおそれのある異常なデータを除去することができる。こうしてアウトライヤーが除去されたデータに対し正弦関数近似を行うことで、最終的な芯ズレ量およびズレ方向の算出結果の精度を向上させることができる。
図10に戻って芯ズレ検出処理の説明を続ける。演算処理部51は、アウトライヤー除去(ステップS406)後のデータ(基準パターンPTに対応する領域の位置座標データ)を用いて(式1)へのフィッティングを行う。すなわち、求められたデータを最もよく近似するような(式1)の各定数を特定する。前記したように、芯ズレ量Raおよびズレ方向θaを求めるために必要な定数は振幅に関する変数Aと位相に関する変数Cとであり、変数B、Dについては考慮する必要はない。
このような関数近似を実現する方法としては種々のものが提唱されており、例えばLevenberg−Marquardt法、Gauss−Newton法などが知られている。本実施形態でもこれらの技術を適用することができ、ここでは一例としてGauss−Newton法について説明する。Gauss−Newton法の原理は公知であるためここでは詳しい説明を省略するが、基本原理は、定数の値を適宜に設定して得られる関数の値と実データサンプルとの残差を数値計算し、残差が最も小さくなるように各定数を収束させてゆくというものである。
本実施形態の場合、振幅Aの初期値A0としては、アウトライヤー除去後の位置座標データのうちの最大値(回転軸AX3から最も遠い座標)と最小値(回転軸AX3に最も近い座標)との差の半分を用いることができる。また、位相Cの初期値C0については0としておけばよい。前記した通り、定数Bは1、定数Dは0とすることができる。
具体的には、下記の連立方程式(式2)を作成し、変数A、Cの初期値A0、C0を(式2)に代入し、(ΔA,ΔC)を解く。その解ΔA、ΔCを更新しながら収束判定を行うことで、定数A、Cが定まり、これにより実データに対する誤差が最も小さくなる関数を得ることができる(ステップS407)。
Figure 0006598898
図9(b)に示す関係から明らかなように、求められた定数Aが芯ズレ量Raに対応している。より正確には、画素サイズを単位としたときの画像内での振幅Aに、ラインセンサ241の分解能を乗じた値が、実空間における芯ズレ量Raを表す。また、定数Cから(π/2)を差し引いた値(単位rad)が芯ズレの方向θaを表している。こうして芯ズレ量およびその方向が特定されると(ステップS408、S409)、芯ズレ検出処理は完了する。続く芯ズレの補正処理(図4のステップS5)では、前記したように、水平位置決め機構23が、求められた芯ズレをキャンセルするために必要なチャック機構22の移動を実行する。こうして芯ズレが補正されることで、ワークWの回転軸AX4とモータ回転軸AX3とを一致させることができる。
以上のように、本実施形態では、例えば歯車であるワークWを回転させ、その少なくとも1回転分について外周部を撮像した画像から、外周部に複数出現し、互いに合同かつワークの中心軸回りの回転に対して対称性を有する特徴的な部位(以下、「特徴部位」という;この例では1つの歯)の形状に対応する領域を検出する。具体的には、ワークWの外周部を撮像視野FVに含むラインセンサ241により取得される一次元ライン画像を時系列順に並べてなる二次元画像内において、特徴部位の形状に応じて予め設定された基準パターンPTに対応する領域が、パターンマッチング処理により探索される。
ワークWの機械的な中心軸AX4と、回転における回転軸AX3との間に芯ズレがある場合、パターンマッチング処理により検出される領域の位置(回転軸AX3からの距離)は、回転の周期に同期して周期的に変動する。この変動を検出することで、ワークWの中心軸AX4と回転軸AX3との芯ズレを特定することができる。具体的には、このような周期的変動を正弦関数によって近似し、その振幅から芯ズレの大きさ(芯ズレ量)を、位相から芯ズレの方向を特定する。こうして芯ズレの大きさと方向とがわかれば、それに応じた部材間の相対位置の補正により、芯ズレを解消することが可能である。
パターンマッチング処理を用いた本実施形態の芯ズレ検出処理は、ワークWの外周部に現れる種々の形状のうち繰り返し複数回現れる特徴部位を選択的に検出することが可能である。このため、パターンマッチング処理に用いられる基準パターンPTを適宜に設定することにより、種々の外周形状を有するワークに適用することが可能である。すなわち、図6(a)に示すワークW1のように、互いに同一形状の歯T1が一定の周期で配置されたもの、図6(b)に示すワークW2のように、ワーク自体は回転対称性を有するが歯T2の配置が一定周期ではないもの、図6(c)に示すワークW3のように回転対称性を有していないもののいずれに対しても、同一の処理によって芯ズレの検出を行うことが可能である。
なお、これらの各ワークでは、外周部に設けられた歯の形状は全て同一である。このため1つの歯の形状に対応した基準パターンPTが用いられる。しかしながら、基準パターンPTを適宜に設定することにより、複数の歯の間で形状が異なるワークについても同様に芯ズレ検出を行うことが可能である。その一部の例について以下に説明する。
図12は本実施形態の芯ズレ検出を適用可能なワークの他の例である。図12(a)に例示するワークW4では、その外周部に、互いに幅の異なる複数種の歯T41、T42、T43が設けられている。このようなワークW4において、いずれかの歯の形状に対応した基準パターンを設定した場合、他の形状の歯はパターンマッチング処理において検出されない。これによりサンプルとなる実データの数が少なくなると、関数近似の精度が低下し、結果として芯ズレ検出の精度も低下してしまうおそれがある。
このような場合、いずれの歯においても共通するような形状、例えば図に点線矩形で示されるように歯末の一部、歯元の一部およびそれらを接続する歯面を含むような基準パターンPTを設定することにより、歯幅の異なる歯T41、T42、T43のいずれについても、基準パターンPTと対応する部位をパターンマッチング処理によって検出することが可能となる。基準パターンPTの設定以外については上記した処理をそのまま適用することができる。すなわち、図12(a)に示すようなワークW4に対しても、本実施形態の芯ズレ検出処理を適用することが可能である。
また、図12(b)に例示するワークW5は、歯元からの突出高さが互いに異なる歯T51、T52を有し、しかもそれらの配置は周期的でない。これらの歯T51、T52においても、それぞれ点線矩形で囲んだ歯面と歯元との接続部分の形状は互いに合同で、しかも中心軸AX4からの距離が互いに等しい。このような部位を特徴部位として、これに対応する基準パターンPTを設定することにより、図12(b)に示すワークW5も、本実施形態の芯ズレ検出処理の適用対象とすることが可能となる。
その他、例えば鋸歯状の外周部を有するワークなど、各種の外周形状を有するワークについて本実施形態の芯ズレ検出処理を適用することが可能である。そのようなワークにおいて基準パターンの元となる特徴部位を抽出するときの原則(条件)は、
(1)ワークの外周部に複数回出現する形状パターンを有する、すなわち外周部の複数箇所に存在する互いに形状が合同な部位であること、
(2)ワークの中心軸回りの回転によって当該部位同士が互いに重なり合う、すなわち中心軸からの距離が互いに等しく中心軸回りの回転に対し互いに回転対称な位置関係にあること、
(3)同一または類似する形状パターンの部位が他に存在しないこと、
等である。
このうち条件(3)は、条件(1)、(2)には該当しないが同じような形状パターンを有する他の部位が検出されることで関数近似の精度が低下するのを防止するために導入される。しかしながら、例えばパターンマッチング処理における探索範囲の制限やアウトライヤー除去処理によってその影響を抑制することができる場合もあるため、この要件を省くことができる場合もある。
言い換えれば、これらの条件を満たす特徴部位を有する部材であれば、そのような部位に対応した基準パターンを用意することで、本実施形態の芯ズレ検出処理の対象物たるワークとすることが可能である。このように、本実施形態は、種々の外周形状を有するワークについて芯ズレ検出を行うことが可能である。
以上説明したように、上記実施形態においては、アライメントカメラ27が本発明の「撮像部」として機能する一方、メモリ52が「記憶部」として機能している。また、演算処理部51および画像処理部55がそれぞれ本発明の「芯ズレ検出部」および「画像処理部」として機能している。そして、回転機構24、アライメントカメラ27、演算処理部51および画像処理部55により本発明の「芯ズレ検出装置」が構成されている。
なお、本発明は上記した実施形態に限定されるものではなく、その趣旨を逸脱しない限りにおいて上述したもの以外に種々の変更を行うことが可能である。例えば上記実施形態では、例えば歯車のような機械部品がワークとされているが、ワークがどのような用途・目的で製造されたものであるかを問わない。少なくとも、中心軸から外周部までの径方向の距離が周方向において増加と減少とを繰り返す外周形状を有するものについて、本発明のワークとして適用することが可能である。
また、本実施形態は必ずしも周期的な配置でない複数の歯を有する歯車をワークとする場合に好適なものであるが、例えば図6(a)に示すように一定周期で歯が設けられたワークの検査専用に用いられてももちろん構わない。例えば、特に素材が脆い等、製造上の都合で歯の部分的な欠損が生じやすい部品の検査では、欠損によって結果的に歯の配置が非周期的となることがあるので、このようなケースにおいても芯ズレを的確に検出し補正するために、本発明を適用することが有効である。
また、上記実施形態では、パターンマッチング処理の結果に対してアウトライヤー除去処理が実行されているが、アウトライヤー除去処理を省いても芯ズレ検出処理は実行可能である。また、アウトライヤー除去処理の処理内容についても上記に限定されず他の方法によってもよい。その他、フィルタ処理や二値化処理等が必要に応じて組み合わせられてもよい。
以上、具体的な実施形態を例示して説明してきたように、本発明の芯ズレ検出においては、例えば検出された複数の領域の間における径方向の位置の変動量に基づき芯ズレを検出するように構成されてもよい。ワークの中心軸と回転軸との間の芯ズレは、回転中心からワーク外周部までの距離の変動を招く。したがって、径方向における位置変動量から芯ズレの大きさを見積もることが可能となる。
また例えば、撮像部は、径方向を撮像視野の長手方向とするラインセンサを有する構成であってもよい。このような構成によれば、ラインセンサの撮像視野がワーク外周部の一部を含むことで、ワーク外周部を含む一次元ライン画像が取得される。ワークが回転するとき、相対的取得することができる。
この場合、ラインセンサにより取得される一次元画像を撮像順に並べて得られる二次元画像に対しパターンマッチング処理が実行されてもよい。このようにして作成される二次元画像は、ワーク外周部の径方向の位置変化を時系列に沿って表した画像となっている。このため、パターンマッチング処理により検出される領域の位置変動が、芯ズレに起因するワーク外周部の位置変動を直接的に示すものとなり、芯ズレの程度を精度よく求めることが可能となる。
また例えば、二次元画像において検出された領域の位置座標を近似した正弦関数の振幅と位相角とに基づき芯ズレが求められてもよい。芯ズレがある状態でワークが回転するとき、ワークの中心軸は回転軸の周りを周回することになる。こうして中心軸の位置が変動することによる外周部の位置変動は正弦関数によって表すことができる。その場合の振幅は芯ズレの大きさを表し、位相角は芯ズレの方向を表すものとなる。すなわち、近似により得られた正弦関数の各定数から、芯ズレの大きさおよび方向を定量的に求めることが可能である。
また例えば、パターンマッチング処理により検出された複数の領域の位置のうち、有意でないものが除去される処理がさらに付加されてもよい。パターンマッチング処理では、画像中のノイズや基準パターンに類似した形状の部位が存在することによる誤検出の問題がある。このような検出結果を除外する処理を行うことで、芯ズレを定量的に求める際の誤差を抑制することができる。
この発明は、芯ズレ検出の対象となるワークが、中心軸から外周部までの径方向の距離が周方向において増加と減少とを繰り返す外周形状を有する場合に有効なものであり、ワーク外周部が回転対称性を有していなくてもその芯ズレを精度よく求めることができる。
1 検査装置
24 回転機構
27 アライメントカメラ(撮像部)
51 演算処理部(芯ズレ検出部)
52 メモリ(記憶部)
55 画像処理部
271 ラインセンサ
AX3 モータ回転軸(回転軸)
AX4 ワーク中心軸(中心軸)
PT 基準パターン
Ra 芯ズレ量
θa 芯ズレ方向
W ワーク

Claims (8)

  1. 中心軸から外周部までの径方向の距離が周方向において増加と減少とを繰り返す外周形状を有するワークが回転軸回りに回転するときの、前記回転軸に対する前記中心軸の芯ズレを検出する芯ズレ検出装置であって、
    前記外周部の一部に対応する基準パターンを記憶する記憶部と、
    前記外周部の少なくとも一部を撮像視野に含む定点撮像により、前記ワークの少なくとも1回転分について前記外周部を撮像する撮像部と、
    前記撮像部により撮像された画像に対しパターンマッチング処理を実行し前記基準パターンに対応する領域を検出する画像処理部と、
    検出された複数の前記領域それぞれの位置の情報に基づき前記芯ズレを検出する芯ズレ検出部と
    を備え、
    前記基準パターンは、前記外周部に、互いに合同な形状を有し前記中心軸回りの回転に対し互いに対称な位置関係で複数存在する特徴部位の形状に対応したものである芯ズレ検出装置。
  2. 前記芯ズレ検出部は、検出された複数の前記領域の間における前記径方向の位置の変動量に基づき前記芯ズレを検出する請求項1に記載の芯ズレ検出装置。
  3. 前記撮像部は、前記径方向を前記撮像視野の長手方向とするラインセンサを有する請求項1または2に記載の芯ズレ検出装置。
  4. 前記画像処理部は、前記ラインセンサにより取得される一次元画像を撮像順に並べて得られる二次元画像に対し前記パターンマッチング処理を実行する請求項3に記載の芯ズレ検出装置。
  5. 前記芯ズレ検出部は、前記二次元画像における前記領域の位置座標を近似した正弦関数の振幅と位相角とに基づき前記芯ズレを求める請求項4に記載の芯ズレ検出装置。
  6. 中心軸から外周部までの径方向の距離が周方向において増加と減少とを繰り返す外周形状を有するワークが回転軸回りに回転するときの、前記回転軸に対する前記中心軸の芯ズレを検出する芯ズレ検出方法であって、
    前記外周部の少なくとも一部を撮像視野に含む定点撮像により、前記ワークの少なくとも1回転分について前記外周部を撮像する工程と、
    撮像された画像に対しパターンマッチング処理を実行し、前記外周部の一部に対応して予め定められた基準パターンに対応する領域を検出する工程と、
    検出された複数の前記領域それぞれの位置の情報に基づき前記芯ズレを検出する工程と
    を備え、
    前記基準パターンは、前記外周部に、互いに合同な形状を有し前記中心軸回りの回転に対し互いに対称な位置関係で複数存在する特徴部位の形状に対応したものである芯ズレ検出方法。
  7. 前記径方向を前記撮像視野の長手方向とするラインセンサにより取得される一次元画像を撮像順に並べて得られる二次元画像に対し前記パターンマッチング処理が実行される請求項6に記載の芯ズレ検出方法。
  8. 前記パターンマッチング処理により検出された複数の前記領域の位置のうち有意でないものを除去する工程を備える請求項6または7に記載の芯ズレ検出方法。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6736798B1 (ja) * 2020-02-14 2020-08-05 ヤマザキマザック株式会社 加工装置のためのワークの据え付け方法、ワーク据え付け支援システム、及び、ワーク据え付け支援プログラム
JP7426874B2 (ja) * 2020-03-27 2024-02-02 株式会社Screenホールディングス 基板処理装置、および、基板処理方法
US11244474B1 (en) * 2020-10-01 2022-02-08 Kla Corporation Sample positioning system and method
CN116625243B (zh) * 2023-07-26 2023-09-19 湖南隆深氢能科技有限公司 基于边框卷料裁切机的智能检测方法、系统以及存储介质
CN117710375B (zh) * 2024-02-05 2024-04-12 常州市南方电机有限公司 一种电机转子与定子的对中性检测方法及系统

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5567604A (en) * 1978-11-16 1980-05-21 Oosakafu Gear automatic inspection unit
US5452078A (en) * 1993-06-17 1995-09-19 Ann F. Koo Method and apparatus for finding wafer index marks and centers
JP3430768B2 (ja) * 1996-01-17 2003-07-28 三菱電機株式会社 芯ずれ調整装置及び調整方法
JP2002280440A (ja) * 2001-03-16 2002-09-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 検査装置における回転ステージ自動位置補正制御方法
JP5564373B2 (ja) 2010-09-16 2014-07-30 本田技研工業株式会社 ワーク検査装置
US8723946B2 (en) 2010-09-16 2014-05-13 Honda Motor Co., Ltd. Workpiece inspecting apparatus and workpiece inspecting method
JP5695410B2 (ja) * 2010-12-20 2015-04-08 株式会社ミツトヨ 角度検出装置およびその偏心量推定方法
TWI640745B (zh) * 2013-03-27 2018-11-11 日商尼康股份有限公司 Shape measuring device, structure manufacturing system, shape measuring method, structure manufacturing method, and computer reading medium on which shape measuring program is recorded
JP6370177B2 (ja) * 2014-09-05 2018-08-08 株式会社Screenホールディングス 検査装置および検査方法
JP6486050B2 (ja) * 2014-09-29 2019-03-20 株式会社Screenホールディングス 検査装置および検査方法
US9824908B2 (en) * 2015-05-05 2017-11-21 Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha Conveying system, conveying robot and teaching method of the same
JP6466280B2 (ja) * 2015-08-05 2019-02-06 株式会社小野測器 軸振動計測装置
JP2017049742A (ja) * 2015-09-01 2017-03-09 キヤノン株式会社 画像処理方法、画像処理装置、ロボット装置、プログラム、及び記録媒体
US10495581B2 (en) * 2016-01-08 2019-12-03 SCREEN Holdings Co., Ltd. Defect detection device and defect detection method
US10417533B2 (en) * 2016-08-09 2019-09-17 Cognex Corporation Selection of balanced-probe sites for 3-D alignment algorithms
JP6832650B2 (ja) * 2016-08-18 2021-02-24 株式会社Screenホールディングス 検査装置および検査方法
JP6684684B2 (ja) * 2016-09-21 2020-04-22 株式会社Screenホールディングス 試料容器の位置ずれ検出方法およびそれを用いた撮像方法、ならびに試料容器の位置ずれ検出装置
CN106524934B (zh) * 2016-11-11 2019-11-15 北京工业大学 一种高精度小模数齿轮视觉测量方法
JP6671310B2 (ja) * 2017-03-13 2020-03-25 株式会社Screenホールディングス ワーク保持装置、検査装置およびワーク位置補正方法
JP6598807B2 (ja) * 2017-03-13 2019-10-30 株式会社Screenホールディングス 検査方法および検査装置
JP2020020670A (ja) * 2018-08-01 2020-02-06 株式会社ミツトヨ 真円度測定装置、測定ガイドシステムおよび測定ガイド方法

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