JPWO2012172815A1 - 光ドライブシステム、光ドライブシステムに用いられるカートリッジ及び駆動装置並びに光ドライブシステムの清浄方法 - Google Patents

Abstract

本出願は、情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する回転可能な記録媒体が収容される収容空間を規定する壁部を有するカートリッジと、記録媒体を収容空間内で回転させる回転駆動部と、受光面に光を照射する光素子と、光素子が前記受光面に対向する内位置と、該内位置よりも前記記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、光素子を移動させる移動駆動部と、を含む駆動装置と、を備える光ドライブシステムを開示する。壁部には、外位置において、記録媒体の回転に伴って生じた気流によって収容空間内の空気が排気される排気口が形成される。排気口は、光素子の移動軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、第１面積よりも広い第２面積で開口した第２開口領域と、に区分される。第２開口領域は、記録媒体の回転方向において、第１開口領域よりも上流に位置することを特徴とする。

Description

本発明は、情報を光学的に処理する光ドライブシステム、光学的に処理される情報を格納する記録媒体を収容するカートリッジ、カートリッジ内の記憶媒体を駆動する駆動装置及び光ドライブシステムを清浄する方法に関する。

情報を光学的に処理する技術は、記録媒体の容量の増大に大きく貢献する。光学的な処理技術として、近接場光を用いて、情報を記録媒体に記録する技術や、情報を記憶媒体から再生する技術が開発されている。近接場光がこれらの情報処理に利用されるならば、高密度で情報を記録可能な記録媒体の利用が可能になる。

情報を記録及び／又は再生するための近接場光を生じさせる光学系として、ソリッドイマージョンレンズ（ＳＩＬ：Solid Immersion Lens）（以下、「ＳＩＬ」と称される）が例示される。ＳＩＬは、対物レンズ部に用いられる。

近接場光を用いて、情報を記録及び／又は再生するために、ＳＩＬが記録媒体に接近させる技術が開発されている。当該接近技術の下、ＳＩＬと記録媒体との距離が、使用される光の波長の１／２以下（例えば、使用される光の波長の約１／１０）となるように、ＳＩＬは、記録媒体に近接される。上述の光学系が、ＳＩＬと記録媒体との間で近接場光を発生させるならば、高密度の記録及び／又は再生（例えば、１以上の開口数（ＮＡ））が可能となる。

近接場光を用いて、情報を記録及び／又は再生する技術は、光ドライブシステムに適用される。光ドライブシステムは、記録媒体と対物レンズ部とを備える。対物レンズ部は、集光素子及び他の光学素子を含んでもよい。上述のＳＩＬは、例えば、集光素子に設置される。

集光素子上のＳＩＬの端面（以下、「ＳＩＬ端面」と称される）と記録媒体との間のギャップは、近接場光を発生させるために十分に短い距離（ニアフィールド）に設定される必要がある。短い波長のレーザ光が情報の記録及び／又は再生に用いられるならば、ＳＩＬ端面と記録媒体との間のギャップが、約数十ｎｍとなるように、光ドライブシステムは制御される必要がある。

特許文献１は、２軸の電磁アクチュエータを用いて、ＳＩＬと記録媒体の表面との間の距離を制御する光学的な制御技術を開示する。特許文献１の開示技術は、ディスク基板を記録媒体として利用する。特許文献１の開示技術にしたがって、ＳＩＬとディスク基板の表面との間の距離を適切に制御するためには、ディスク基板の表面は、高いレベルの平坦性を有し、且つ、ディスクの回転に起因する共振といった振動成分は十分に低減される必要がある。

光ドライブシステム内で浮遊する塵埃は、情報の記録及び／又は再生の妨げとなる。光ドライブシステムが近接場光を用いるならば、塵埃は特に重要な課題となる。例えば、記録媒体とＳＩＬ端面との間のギャップ制御にとって、ＳＩＬ端面に付着した塵埃は無視することができない。

ＳＩＬ端面に付着する塵埃として、空気中に浮遊する埃や衣類の繊維が例示される。塵埃の多くは、記録媒体とＳＩＬ端面との間のギャップの目標値より幅及び／又は高さにおいて大きい。したがって、ＳＩＬ端面に付着した大きな塵埃は、上述のギャップ制御を不能にすることもある。

記録媒体に対し、情報を光学的に処理する光学ヘッド、光学ヘッドが組み込まれた駆動装置や光ドライブシステムの製造時において、塵埃を除去することは、ある程度可能である。しかしながら、塵埃の完全な除去は、困難である。

製造工程の後の上述の装置の使用時においても、塵埃の付着が生ずることもある。使用時における塵埃の付着の防止のために、ハードディスクドライブのように、記録媒体として用いられるディスクと、ディスクを駆動する駆動装置とを一体化し、完全な密閉構造を設計することは有効である。しかしながら、光ドライブシステムに対して、記録媒体（光ディスク）のリムーバブル性が要求される。したがって、記録媒体を光ドライブシステム内に密閉及び固定することは望ましくない。

光ドライブシステムは、多くの場合、記録媒体を収容するカートリッジを備える。カートリッジは、塵埃の影響をある程度軽減する。しかしながら、塵埃は、カートリッジに形成された開口部から入り込むことがある。したがって、記録媒体が収容された収容空間から塵埃を完全に除去することは非常に困難である。

特許文献２は、記録媒体上の塵埃を除去する媒体クリーニング機構を開示する。媒体クリーニング機構は、クリーニングテープを用いて、記録媒体の表面に付着した塵埃を直接的に拭き取る。

記録媒体上の塵埃の除去は、塵埃の影響を低減する。しかしながら、ＳＩＬ端面に付着した塵埃は、上述のギャップ制御（特許文献１参照）を大きく妨げる。

特許文献２は、媒体クリーニング機構に加えて、レンズクリーニング機構も開示する。レンズクリーニング機構は、クリーニングテープをＳＩＬに接触させ、ＳＩＬ端面に付着した塵埃を除去する。この結果、適切なギャップ制御が可能となる。

図４２は、従来の光ドライブシステムに用いられる駆動装置９００の概略図である。図４２を参照して、駆動装置９００が説明される。

駆動装置９００は、光学ヘッド９１０と、サーボ制御系９２０と、スピンドルモータ９３０と、を備える。光学ヘッド９１０及びスピンドルモータ９３０は、サーボ制御系９２０の制御下で動作する。スピンドルモータ９３０は、記録媒体として用いられる光ディスク９５０を回転させる。

光学ヘッド９１０は、光源として用いられるレーザダイオード９１１（図４２中、「ＬＤ」との表記は、レーザダイオードを意味する）と、２つのコリメートレンズ９１２，９１３と、コリメートレンズ９１２から出射されたレーザ光を整形するアナモフィックプリズム９１４と、ビームスプリッタ９１５（図４２中、「ＢＳ」との表記は、ビームスプリッタを意味する）と、１／４波長板９１６（図４２中、「ＱＷＰ」との表記は、１／４波長板を意味する）と、色収差を補正するための補正レンズ９１７と、レーザ光を拡張するための拡張レンズ９１８と、ウォラストンプリズム９１９と、２つの集光レンズ９４１，９４２と、集光素子９４３と、２つのフォトデテクタ９４４，９４５（図４２中、「ＰＤ」との表記は、フォトデテクタを意味する）と、オートパワーコントローラ９４６（図４２中、「ＡＰＣ」との表記は、オートパワーコントローラを意味する）と、ＬＤドライバ９４７と、を備える。

ウォラストンプリズム９１９は、２つのプリズムからなる。ウォラストンプリズム９１９に入射された光は、互いに直交する２つの直線偏光として出射される。光ディスク９５０に記録された信号を再生するためのＲＦ再生信号、サーボ制御に必要とされるトラッキングエラー信号及びギャップエラー信号といった様々な信号は、フォトデテクタ９４４からサーボ制御系９２０へ出力される。

サーボ制御系９２０は、ギャップサーボモジュール９２１（フォーカシングサーボモジュール）と、トラッキングサーボモジュール９２２と、チルトサーボモジュール９２３と、スピンドルサーボモジュール９２４と、を備える。トラッキングサーボモジュール９２２は、トラッキングエラー信号に応じて、集光素子９４３に対するトラッキング制御を実行する。チルトサーボモジュール９２３は、集光素子９４３のチルト角を制御する。スピンドルサーボモジュール９２４は、スピンドルモータ９３０の回転を制御する。尚、ギャップサーボモジュール９２１は、後述される。

オートパワーコントローラ９４６は、フォトデテクタ９４５から出力された信号に応じて、所定の信号をＬＤドライバ９４７に出力する。ＬＤドライバ９４７は、オートパワーコントローラ９４６からの信号に応じて、レーザダイオード９１１から出射されるレーザのパワーを一定にする。

図４２を参照して、駆動装置９００の上述の光学系の動作が説明される。

図４２に示されるように、記録媒体として用いられる光ディスク９５０は、駆動装置９００にセットされる。その後、サーボ制御系９２０は、ギャップサーボモジュール９２１と、トラッキングサーボモジュール９２２と、チルトサーボモジュール９２３と、スピンドルサーボモジュール９２４と、を用いて、様々なサーボ制御を行う。

レーザダイオード９１１は、レーザ光をコリメートレンズ９１２に向けて出射する。コリメートレンズ９１２は、レーザ光を平行光にする。その後、アナモフィックプリズム９１４は、平行光を整形する。

整形されたレーザ光は、ビームスプリッタ９１５に入射する。ビームスプリッタ９１５は、入射したレーザ光を、１／４波長板９１６に入射する光と集光レンズ９４２に入射する光とに分割する。集光レンズ９４２に入射したレーザ光は、上述の如く、オートパワーコントローラ９４６に利用される。オートパワーコントローラ９４６は、受け取ったレーザ光に応じて、ＬＤドライバ９４７に信号を出力する結果、レーザダイオード９１１は、一定のパワーを有するレーザ光を出射することができる。

１／４波長板９１６は、入射したレーザ光を直線偏光から円偏光に変える。その後、補正レンズ９１７は、色収差を補正する。レーザ光は、補正レンズ９１７の後、拡張レンズ９１８及びコリメートレンズ９１３を通過し、集光素子９４３に入射する。

集光素子９４３は、入射したレーザ光を、光ディスク９５０に向けて集光し、近接場光を作り出す。この結果、光ディスク９５０に信号が記録される。尚、集光素子９４３による近接場光の生成は、後述される。

光ディスク９５０に向けた集光動作によって作り出された近接場光は、光ディスク９５０に記録された信号を読み出すために用いられてもよい。近接場光は、光ディスク９５０に入射する。光ディスク９５０は、近接場光を反射又は回折し、反射光又は回折光（以下、「戻り光」と称する）を作り出す。集光素子９４３は、戻り光を受ける。戻り光は、集光素子９４３の後、コリメートレンズ９１３、拡張レンズ９１８、補正レンズ９１７及び１／４波長板９１６を通過し、ビームスプリッタ９１５に入射する。ビームスプリッタ９１５は、戻り光を、ウォラストンプリズム９１９に向けて全反射する。その後、戻り光は、ウォラストンプリズム９１９及び集光レンズ９４１を通過し、フォトデテクタ９４４に入射する。フォトデテクタ９４４は、入射した戻り光に応じて、ＲＦ再生信号及びサーボ制御信号を生成する。サーボ制御信号は、フォトデテクタ９４４からサーボ制御系９２０に出力される。サーボ制御系９２０は、ギャップサーボモジュール９２１と、トラッキングサーボモジュール９２２と、チルトサーボモジュール９２３と、スピンドルサーボモジュール９２４と、を用いて、様々なサーボ制御を行う。

図４３は、光ディスク９５０の近くに配置された集光素子９４３の概略的な拡大図である。図４２及び図４３を参照して、集光素子９４３が説明される。

集光素子９４３は、光ディスク９５０に対向する。集光素子９４３は、ＳＩＬ９６１と、非球面レンズ９６２と、を備える。ＳＩＬ９６１及び非球面レンズ９６２は、近接場光を作り出す。

集光素子９４３は、レンズホルダ９６３を更に備える。レンズホルダ９６３は、ＳＩＬ９６１及び非球面レンズ９６２を収容する。

ＳＩＬ９６１は、光ディスク９５０に対向するＳＩＬ端面９６４を含む。光ディスク９５０は、ＳＩＬ端面９６４に対向する記録面９５１を含む。近接場光は、ＳＩＬ端面９６４から記録面９５１に照射される。

駆動装置９００は、レンズホルダ９６３に取り付けられた３軸アクチュエータ９６５を更に備える。３軸アクチュエータ９６５は、集光素子９４３を記録面９５１に対して離接させる離接機構の一部として用いられる。

図４２及び図４３において、３軸アクチュエータ９６５は、非常に簡略化されている。３軸アクチュエータ９６５は、例えば、３軸方向のコイルやヨークといった要素から形成される。サーボ制御系９２０は、３軸アクチュエータ９６５の各コイルに所定のサーボ電圧を印加する。この結果、３軸アクチュエータ９６５の各コイルに所定の電流が流れ、トラッキングサーボとギャップサーボとを含むフォーカシングサーボ及びチルトサーボの制御が実行される。

図４４は、光ディスク９５０の周囲の駆動装置９００の拡大概略図である。図４５は、図４４に対応する駆動装置９００の概略的な底面図である。図４４及び図４５を参照して、駆動装置９００が更に説明される。

駆動装置９００は、ＳＩＬ９６１をクリーニングするレンズクリーニング機構９７０と、光ディスク９５０の記録面９５１に接触し、記録面９５１をクリーニングするディスククリーニング機構９８０と、を更に備える。レンズクリーニング機構９７０は、ＳＩＬ端面９６４に接触する。レンズクリーニング機構９７０は、スピンドルモータ９３０に取り付けられた光ディスク９５０の外周縁９５２よりも、光ディスク９５０の回転軸ＲＸから離れている。

図４６Ａ乃至図４６Ｃは、レンズクリーニング機構９７０の概略図である。図４４乃至図４６Ｃを参照して、レンズクリーニング機構９７０が説明される。

図４６Ａ乃至図４６Ｃに示される如く、レンズクリーニング機構９７０は、クリーニングテープ９７１を用いて、ＳＩＬ９６１をクリーニングするクリーナー装置であってもよい。レンズクリーニング機構９７０は、２つのスピンドル９７２，９７３と、クリーニングテープ９７１の走行経路を規定する２つのアイドラ９７４，９７５と、を備える。スピンドル９７２，９７３の回転に伴って、クリーニングテープ９７１は、ＳＩＬ９６１上を走行する。クリーニングテープ９７１は、ＳＩＬ９６１に損傷を与えない程度に十分に柔らかい樹脂から形成される。

図４４及び図４５に示される如く、集光素子９４３は、光ディスク９５０の外に配置されたレンズクリーニング機構９７０に移動する。集光素子９４３は、レンズクリーニング機構９７０の下方において、上下動する。この結果、図４６Ａ乃至図４６Ｃに示される如く、ＳＩＬ端面９６４は、クリーニングテープ９７１に対して離接する。集光素子９４３は、上述の３軸アクチュエータ９６５（例えば、ギャップサーボ用のコイル）によって、上下に変位されてもよい。或いは、サーボ系以外の他の駆動機構（図示せず）によって、集光素子９４３が、上下に変位してもよい。代替的に、集光素子９４３ではなく、レンズクリーニング機構９７０が集光素子９４３に接近するようにレンズクリーニング機構９７０が設計されてもよい。

図４４及び図４５に示される如く、ディスククリーニング機構９８０は、光ディスク９５０の記録面９５１に対向するクリーニング部材９８１と、クリーニング部材９８１を支持する支持体９８２と、を備える。支持体９８２は、モータ（図示せず）によって、上下動される。クリーニング部材９８１は、光ディスク９５０の半径と略等しい長さの帯体であってもよい。クリーニング部材９８１は、例えば、繊維やメッシュ材料から形成される。望ましくは、クリーニング部材９８１は、レンズペーパといった材料から形成される。クリーニング部材９８１は、記録面９５１を傷つけることなく、記録面９５１に接触し、塵埃を除去する。

図４７は、信号の記録及び／又は再生の前に行われる駆動装置９００の様々な動作（例えば、クリーニング動作、初期チルト調整動作、ギャップサーボ動作）の概略的なフローチャートである。図４２、図４４、図４６Ａ乃至図４７を参照して、駆動装置９００の動作が説明される。

（ステップＳ９０５）
駆動装置９００の動作は、ステップＳ９０５から開始される。ステップＳ９０５において、集光素子９４３は、レンズクリーニング機構９７０の下方に移動される（図４４参照）。図４６Ａ及び図４６Ｂに示される如く、集光素子９４３は、上方へ移動する。この結果、ＳＩＬ９６１は、ＳＩＬ９６１がクリーニングテープ９７１から離間した離間位置からＳＩＬ９６１がテープに接触する接触位置に変位する。図４６Ｂに示される如く、ＳＩＬ９６１が接触位置に変位した後、クリーニングテープ９７１は走行し、ＳＩＬ端面９６４に付着した塵埃を除去する。クリーニングの終了後、集光素子９４３は、下方に移動する。その後、集光素子９４３は、光ディスク９５０の記録面９５１に対向する位置に戻り、ステップＳ９０５が終了する。その後、ステップＳ９０６が開始される。

（ステップＳ９１０）
ステップＳ９１０において、チルトサーボモジュール９２３は、集光素子９４３のチルト角を調整する。その後、ステップＳ９１５が実行される。

（ステップＳ９１５）
ステップＳ９１５において、ギャップサーボモジュール９２１は、ギャップサーボを開始する。その後、ステップＳ９２０が実行される。

（ステップＳ９２０）
ステップＳ９２０において、スピンドルモータ９３０は、光ディスク９５０を低速で回転させる。その後、ステップＳ９２５が実行される。

（ステップＳ９２５）
ステップＳ９２５において、ギャップサーボモジュール９２１は、光ディスク９５０が１回転する間において、ギャップエラーが所定の閾値を超える回数をカウントする。カウントされた数値が、所定の値（Ｎ）を下回るならば、ステップＳ９３０が実行される。他の場合には、ステップＳ９４５が実行される。

（ステップＳ９３０）
ステップＳ９３０において、スピンドルモータ９３０は、光ディスク９５０を所定の回転数で回転させる。その後、ステップＳ９３５が実行される。

（ステップＳ９３５）
ステップＳ９３５において、ギャップサーボモジュール９２１は、ギャップエラーの絶対値が所定の閾値を下回っているかを判定する。ギャップエラーの絶対値が所定の閾値を下回っているならば、ステップＳ９４０が実行される。他の場合には、駆動装置９００は、動作を停止する。

（ステップＳ９４０）
ステップＳ９００において、駆動装置９００は、光ディスク９５０に信号を記録する。或いは、駆動装置９００は、光ディスク９５０から信号を再生する。その後、駆動装置９００は、動作を終了する。

（ステップＳ９４５）
ステップＳ９４５において、スピンドルモータ９３０は、光ディスク９５０の回転を停止する。その後、ステップＳ９５０が実行される。

（ステップＳ９５０）
ステップＳ９５０において、ディスククリーニング機構９８０は、光ディスク９５０の記録面９５１をクリーニングする。その後、ステップＳ９５５が実行される。

（ステップＳ９５５）
ステップＳ９５５において、集光素子９４３が上方へ変位する。この結果、ＳＩＬ９６１は、光ディスク９５０の記録面９５１に接触する。その後、ステップＳ９６０が実行される。

（ステップＳ９６０）
ステップＳ９６０において、サーボ制御系９２０は、ビームスプリッタ９１５によって全反射された戻り光の量が所定の閾値を下回っているか否かを判定する。ビームスプリッタ９１５によって全反射された戻り光の量が所定の閾値を下回っているならば、ステップＳ９１５が再度実行される。他の場合には、ステップＳ９０５が再度実行される。

ステップＳ９０５において、クリーニングテープ９７１がＳＩＬ端面９６４に直接的に接触し、ＳＩＬ端面９６４に付着した塵埃を除去する。クリーニングテープ９７１による塵埃の拭き取りの結果、クリーニングテープ９７１に付着する。クリーニングテープ９７１に付着した塵埃は、ＳＩＬ端面９６４に再度付着することがある。

図４６Ａ乃至図４６Ｃに示されるレンズクリーニング機構９７０は、クリーニングテープ９７１を巻き取る。したがって、ＳＩＬ端面９６４に接触するクリーニングテープ９７１の面は、未使用の状態である。しかしながら、クリーニングテープ９７１の巻取工程の結果、ＳＩＬ端面９６４を拭き取ることができる回数は、大幅に少なくなる。加えて、クリーニングテープ９７１を用いた拭き取り機構及びテープの巻取機構は、駆動装置９００が組み込まれる光ドライブシステムを大型化させる。

特開２００４−３０８２１号公報 特開２００７−１２１２６号公報

本発明は、塵埃を適切に除去することを可能にする技術を提供する。

本発明の一局面に係る光ドライブシステムは、情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する回転可能な記録媒体が収容される収容空間を規定する壁部を有するカートリッジと、前記記録媒体を前記収容空間内で回転させる回転駆動部と、前記受光面に前記光を照射する光素子と、該光素子が前記受光面に対向する内位置と、該内位置よりも前記記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、前記光素子を移動させる移動駆動部と、を含む駆動装置と、を備える。前記壁部には、前記外位置において、前記記録媒体の回転に伴って生じた気流によって前記収容空間内の空気が排気される排気口が形成される。該排気口は、前記光素子の移動軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、前記第１面積よりも大きな第２面積で開口した第２開口領域と、に区分される。前記第２開口領域は、前記記録媒体の回転方向において、前記第１開口領域よりも上流に位置することを特徴とする。

本発明の他の局面に係るカートリッジは、情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する回転可能な記録媒体が収容される収容空間を規定する。カートリッジは、前記記録媒体の回転に伴って生じた気流によって前記カートリッジ内の空気が排気されるように、前記記録媒体の回転軸から離間した排気口が形成された壁部を備える。前記排気口は、前記光の走査軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、前記第１面積よりも大きな第２面積で開口した第２開口領域と、に区分される。前記第２開口領域は、前記記録媒体の回転方向において、前記第１開口領域よりも上流に位置する。

本発明の他の局面に係る駆動装置は、情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する記録媒体を回転させる回転駆動部と、受光面に光を照射する光素子と、該光素子が前記受光面に対向する内位置と、該内位置よりも前記記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、前記光素子を移動させる移動駆動部と、前記光素子を保持する保持部と、該保持部を弾性的に支持しながら、前記記録媒体のフォーカス方向及びトラッキング方向に前記保持部を駆動するアクチュエータと、を備える。該アクチュエータは、前記外位置において、前記光素子を、前記受光面に沿う平面に接近させる。

本発明の他の局面に係る光ドライブシステムを清浄する方法は、前記記録媒体を回転させる段階と、前記内位置から前記外位置へ、前記光素子を移動させる段階と、前記光素子を前記受光面に沿う平面に接近させ、前記記録媒体の回転に伴って生じた気流に前記光素子を曝す段階と、を有する。

本発明の他の局面に係る光ドライブシステムを清浄する方法は、前記第１シャッタ部を前記閉位置に移動させる段階と、前記記録媒体を回転させる段階と、を有する。

本発明は、塵埃を適切に除去することを可能にする。

本発明の目的、特徴及び利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。

光ドライブシステムに組み込まれる例示的な光学ヘッドの概略図である。 図１に示される光学ヘッドのホログラム素子の概略図である。 図１に示される光学ヘッドの光検出器の概略図である。 図１に示される光学ヘッドのシリンドリカルレンズの概略図である。 図３に示される光検出器の４分割受光領域の概略図である。 第１実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 ギャップに対する全反射戻り光量を表す概略的なグラフである。 図６に示される光ドライブシステムのカートリッジの概略的な平面図である。 図８Ａに示されるカートリッジの概略的な底面図である。 図８Ａに示されるカートリッジの周囲における光ドライブシステムの概略的な拡大断面図である。 図８Ａに示されるカートリッジの概略的な平面図である。 図８Ｂに示されるカートリッジの概略的な底面図である。 図８Ａに示されるカートリッジの周囲における光ドライブシステムの概略的な拡大断面図である。 図１０Ａに示されるＡ−Ａ線に沿うカートリッジの概略的な断面図である。 外位置において、開口部から吹き出される空気の流速に対する例示的な演算結果を表す写真である。 第２実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 図１４に示される光ドライブシステムのカートリッジの概略的な平面図である。 図１５に示されるＡ−Ａ線に沿うカートリッジの概略的な断面図である。 図１４に示される光ドライブシステムのＳＩＬ端面に対する清浄方法の概略的なフローチャートである。 第３実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 図１８に示される光ドライブシステムの光学ヘッドの概略図である。 図１８に示される光ドライブシステムのカートリッジの概略的な平面図である。 第４実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 図２１に示される光ドライブシステムのカートリッジの概略的な平面図である。 図２２Ａに示されるカートリッジの概略的な底面図である。 図２２Ａに示されるカートリッジの周囲における光ドライブシステムの概略的な拡大断面図である。 第５実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 図２４に示される光ドライブシステムのカートリッジの概略的な平面図である。 図２５Ａに示されるカートリッジの概略的な底面図である。 図２５Ａに示されるカートリッジの周囲における光ドライブシステムの概略的な拡大断面図である。 第６実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 図２７に示される光ドライブシステムのカートリッジの概略的な平面図である。 図２８Ａに示されるカートリッジの概略的な底面図である。 図２８Ａに示されるカートリッジの周囲における光ドライブシステムの概略的な拡大断面図である。 第７実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 第８実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 図３１に示される光ドライブシステムのシャッタ機構の概略的な底面図である。 図３２に示されるシャッタ機構の概略的な底面図である。 第９実施形態の光ドライブシステムの概略的な断面図である。 図３４に示される光ドライブシステムのシャッタ機構の概略的な底面図である。 図３５に示されるシャッタ機構の概略的な底面図である。 第１０実施形態の光ドライブシステムの概略的な断面図である。 図３７に示される光ドライブシステムのカートリッジの概略的な平面図である。 図３８Ａに示されるカートリッジの概略的な底面図である。 第１１実施形態の光ドライブシステムの概略図である。 図３９に示される光ドライブシステムのプラズモン装置の概略図である。 図３９に示される光ドライブシステムのカートリッジの概略図である。 従来の光ドライブシステムに用いられる駆動装置の概略図である。 図４２に示される駆動装置の集光素子の概略的な拡大図である。 図４２に示される駆動装置の拡大概略図である。 図４４に示される駆動装置の概略的な底面図である。 従来のレンズクリーニング機構の概略図である。 従来のレンズクリーニング機構の概略図である。 従来のレンズクリーニング機構の概略図である。 図４２に示される駆動装置の様々な動作の概略的なフローチャートである。

以下、例示的な光ドライブシステムに関する様々な特徴が図面を参照して説明される。尚、以下に説明される実施形態において、同様の構成要素に対して同様の符号が付されている。また、説明の明瞭化のため、必要に応じて、重複する説明は省略される。図面に示される構成、配置或いは形状並びに図面に関連する記載は、単に本実施形態の原理を容易に理解させることを目的とするものである。したがって、本実施形態の原理は、これらに何ら限定されるものではない。

（共通する特徴）
図１は、光ドライブシステムに組み込まれる例示的な光学ヘッド１００の概略図である。図１を参照して、光学ヘッド１００が説明される。尚、光学ヘッド１００は、以下の様々な実施形態の光ドライブシステムに共通して適用されてもよい。

光学ヘッド１００は、半導体レーザ１１０、リレーレンズ１２０、ビームスプリッタ１３０、コリメートレンズ１４０、対物レンズユニット１５０、アクチュエータ１６０、ホログラム素子１７０、シリンドリカルレンズ１８０及び光検出器１９０を備える。半導体レーザ１１０は、光源として機能し、リレーレンズ１２０に向けてレーザ光を出射する。レーザ光は、リレーレンズ１２０を通過し、ビームスプリッタ１３０に入射する。ビームスプリッタ１３０は、コリメートレンズ１４０に向けて、レーザ光を反射する。その後、レーザ光は、コリメートレンズ１４０を通過し、対物レンズユニット１５０に到達する。

図１には、回転可能な光ディスク２００が部分的に示されている。光ディスク２００は、カートリッジ内に収容されるが、図１には、カートリッジは示されていない。カートリッジの様々な特徴は、後述される。本実施形態において、光ディスク２００は、記録媒体として例示される。

対物レンズユニット１５０に到達したレーザ光は、その後、光ディスク２００に向けて出射される。光ディスク２００は、レーザ光を反射又は回折する。以下の説明において、反射又は回折されたレーザ光は、「戻り光」と称される。

戻り光は、対物レンズユニット１５０及びコリメートレンズ１４０を通過し、ビームスプリッタ１３０に再度入射する。ビームスプリッタ１３０は、戻り光の通過を許容するので、戻り光は、ホログラム素子１７０及びシリンドリカルレンズ１８０を通過し、最終的に、光検出器１９０に到達する。

対物レンズユニット１５０は、光ディスク２００に対向する。対物レンズユニット１５０は、ＳＩＬ１５１と非球面レンズ１５２と、を備える。ビームスプリッタ１３０によって反射されたレーザ光は、非球面レンズ１５２を通過し、ＳＩＬ１５１に到達する。戻り光は、ＳＩＬ１５１を通過し、非球面レンズ１５２に到達する。本実施形態において、ＳＩＬ１５１及び非球面レンズ１５２は、光素子として例示される。

対物レンズユニット１５０は、ＳＩＬ１５１及び非球面レンズ１５２を保持するレンズホルダ１５３を更に備える。ＳＩＬ１５１及び非球面レンズ１５２は、レンズホルダ１５３に収容される。本実施形態において、レンズホルダ１５３は、保持部として例示される。

ＳＩＬ１５１は、光ディスク２００に対向するＳＩＬ端面１５４を含む。光ディスク２００は、ＳＩＬ端面１５４に対向する記録面２１０を含む。記録面２１０は、ＳＩＬ端面１５４から出射された光を受ける。記録面２１０からの反射光は、ＳＩＬ１５１を通過する。ＳＩＬ端面１５４と記録面２１０との間で、情報が光学的に処理される。光学的な情報処理として、記録面２１０への信号の記録や記録面２１０からの信号の再生が例示される。本実施形態において、記録面２１０は、受光面として例示される。

上述の如く、半導体レーザ１１０は、光源として利用される。半導体レーザ１１０は、リレーレンズ１２０に向けて、レーザ光を出射する。リレーレンズ１２０は、半導体レーザ１１０とリレーレンズ１２０との間において、焦点距離を微調整する。リレーレンズ１２０を透過したレーザ光は、ビームスプリッタ１３０によって、コリメートレンズ１４０に向けて反射される。コリメートレンズ１４０は、レーザ光を平行光束に変換する。その後、平行光束は、対物レンズユニット１５０に入射する。

対物レンズユニット１５０に入射したレーザ光は、非球面レンズ１５２とＳＩＬ１５１とによって、光ディスク２００の記録面２１０に向けて集光され、近接場光になる。光学ヘッド１００は、近接場光を用いて、光ディスク２００の記録面２１０に信号を記録してもよい。代替的に、光学ヘッド１００は、近接場光を用いて、記録面２１０に記録された信号を読み出してもよい。記録面２１０によって反射された近接場光は、上述の戻り光となる。戻り光は、対物レンズユニット１５０に入射する。記録面２１０に記録された信号は、戻り光を用いて再生される。

アクチュエータ１６０は、対物レンズユニット１５０をフォーカス方向（光軸方向）とトラッキング方向（ラジアル方向）とに駆動する。アクチュエータ１６０は、対物レンズユニット１５０をフォーカス方向に移動させ、記録面２１０とＳＩＬ端面１５４との間の距離を適切に調整することができる。アクチュエータ１６０は、対物レンズユニット１５０をトラッキング方向に移動させ、ＳＩＬ１５１によって作り出された近接場光を用いて、記録面２１０を走査することができる。この結果、記録面２１０に亘って、信号を記録及び／又は再生することができる。

光ディスク２００の記録面２１０からの戻り光は、対物レンズユニット１５０及びコリメートレンズ１４０を通過し、ビームスプリッタ１３０に入射する。ビームスプリッタ１３０は、戻り光の透過を許容する。

ビームスプリッタ１３０を透過した戻り光は、ホログラム素子１７０に入射する。ホログラム素子１７０は、１ビーム法（ＡＰＰ法）に従って、トラッキングエラー信号を発生させる。

ホログラム素子１７０を透過した戻り光は、シリンドリカルレンズ１８０に到達する。シリンドリカルレンズ１８０をその後透過した戻り光は、光検出器１９０に入射する。

図２は、ホログラム素子１７０の概略図である。図１及び図２を参照して、ホログラム素子１７０が説明される。

図２のホログラム素子１７０中に描かれる実線は、ホログラム素子１７０の分割パターンを概略的に表す。図２のホログラム素子１７０中に描かれる点線は、ホログラム素子１７０を通過するレーザ光の形状（断面）を概略的に表す。

ホログラム素子１７０は、中央のメインビーム領域１７１と、メインビーム領域１７１の右及び左にそれぞれ配置されるＡＰＰメイン領域１７２，１７３と、ＡＰＰメイン領域１７２の上方及び下方に位置する２つのＡＰＰサブ領域１７４と、ＡＰＰメイン領域１７３の上方及び下方に位置する２つのＡＰＰサブ領域１７５と、に分割される。光ディスク２００の記録面２１０で回折された±１次光及び０次光の干渉光は、ＡＰＰメイン領域１７２，１７３に入射する。ＡＰＰサブ領域１７４，１７５には、０次光のみが入射する。

図３は、光検出器１９０の概略図である。図１乃至図３を参照して、ホログラム素子１７０と光検出器１９０との関係が説明される。

光検出器１９０は、ホログラム素子１７０に対向する受光面１９１を含む。受光面１９１は、４分割受光領域１９２と、ＡＰＰメイン受光部１９３，１９４と、ＡＰＰサブ受光部１９５，１９６と、を含む。ホログラム素子１７０のメインビーム領域１７１を通過したレーザ光は、４分割受光領域１９２に入射する。以下の説明において、メインビーム領域１７１を通過したレーザ光は、「メインビームＭＢ」と称される。ＡＰＰメイン領域１７２，１７３を通過したレーザ光は、ＡＰＰメイン受光部１９３，１９４にそれぞれ入射する。以下の説明において、ＡＰＰメイン領域１７２，１７３を通過したレーザ光は、「ＡＰＰメインビームＡＭＢ」と称される。ＡＰＰサブ領域１７４，１７５を通過したレーザ光は、ＡＰＰサブ受光部１９５，１９６に入射する。ＡＰＰサブ領域１７４，１７５を通過したレーザ光は、以下の設営において、「ＡＰＰサブビームＡＳＢ」と称される。

４分割受光領域１９２は、第１領域１０１と、第１領域１０１の右に位置する第２領域１０２と、第１領域１０１の下に位置する第３領域１０３と、第２領域１０２の下に位置する第４領域１０４と、を含む。第１領域１０１において検出された光に応じて生成された信号と第４領域１０４において検出された光に応じて生成された信号との和信号と、第２領域１０２において検出された光に応じて生成された信号と第３領域１０３において検出された光に応じて生成された信号との和信号と、の間の差に基づいて、フォーカスエラー信号が生成される。第１領域１０１において検出された光に応じて生成された信号と、第２領域１０２において検出された光に応じて生成された信号と、第３領域１０３において検出された光に応じて生成された信号と、第４領域１０４において検出された光に応じて生成された信号と、の総和に基づいて、ＲＦ信号が生成される。

ＡＰＰメイン受光部１９３，１９４においてそれぞれ検出された光に応じて生成された信号の差に基づいて、所謂プッシュプル信号が生成される。プッシュプル信号と、ＡＰＰサブ受光部１９５，１９６においてそれぞれ検出された光に応じて生成された信号と、を用いた所定の演算によって、所謂、ＡＰＰ法（アドバンスドプッシュプル法）に従うトラッキングエラー信号が生成される。トラッキングエラー信号を用いたトラッキングサーボ制御の下、対物レンズユニット１５０は、光ディスク２００の記録面２１０のトラックに対して追従される。

図４は、シリンドリカルレンズ１８０の概略図である。図３及び図４を参照して、シリンドリカルレンズ１８０が説明される。

シリンドリカルレンズ１８０は、コリメートレンズ１４０に対向する凹レンズ面１８１と、凹レンズ面１８１とは反対側のシリンドリカル面１８２と、を含む。シリンドリカル面１８２は、光軸に対して直交する面内において、前側焦線と後側焦線とによって規定される非点隔差を生じさせる。シリンドリカルレンズ１８０は、前側焦線と後側焦線との間に焦点を形成する。シリンドリカル面１８２は、光検出器１９０の４分割受光領域１９２に対して、略４５度傾斜している。

図５は、４分割受光領域１９２の概略図である。図１、図３乃至図５を参照して、４分割受光領域１９２が説明される。

４分割受光領域１９２が焦点位置に一致するように、光検出器１９０は位置決めされる。４分割受光領域１９２が焦点位置に一致しているならば、図５に示される如く、４分割受光領域１９２上のメインビームＭＢは、略円形である。

光ディスク２００の回転により記録面２１０がフォーカス方向に振動するならば、記録面２１０と対物レンズユニット１５０との間の相対距離は変動する。記録面２１０と対物レンズユニット１５０との間の相対距離の変動の結果、４分割受光領域１９２が前側焦線又は後側焦線に一致することもある。４分割受光領域１９２が前側焦線に一致するならば、図５に示される如く、メインビームＭＢは、第１領域１０１と第４領域１０４との間で延びる略楕円形となる。４分割受光領域１９２が後側焦線に一致するならば、図５に示される如く、メインビームＭＢは、第２領域１０２と第３領域１０３との間で延びる略楕円形となる。

（第１実施形態）
図６は、光ドライブシステム３００の概略図である。図１、図３及び図６を用いて、光ドライブシステム３００が説明される。

光ドライブシステム３００は、光ディスク２００が収容される収容空間４１１を規定する壁部４１０を有するカートリッジ４００と、光ディスク２００を収容空間４１１で駆動する駆動装置５００と、を備える。駆動装置５００は、光ディスク２００を収容空間４１１内で回転させる。加えて、駆動装置５００は、収容空間４１１内で回転する光ディスク２００に対して、信号の記録や信号の再生といった光学的な情報処理を行う。

カートリッジ４００は、チャック４３０と、ターンテーブル４２０と、を備える。光ディスク２００は、チャック４３０とターンテーブル４２０とによって挟持される。

駆動装置５００は、上述の光学ヘッド１００に加えて、スピンドルモータ５１０を備える。スピンドルモータ５１０は、ターンテーブル４２０に接続され、ターンテーブル４２０を回転させる。この結果、光ディスク２００は、収容空間４１１内で回転する。本実施形態において、スピンドルモータ５１０は、回転駆動部として例示される。代替的に、光ディスク２００を回転する他の装置が回転駆動部として用いられてもよい。

駆動装置５００は、光学ヘッド１００をトラッキング方向に移動させるトラバース装置５２０を更に備える。光学ヘッド１００は、トラバース装置５２０に取り付けられる。光学ヘッド１００がスピンドルモータ５１０によって規定された回転軸ＲＸの近くで光ディスク２００の記録面２１０に対向する内位置と、光学ヘッド１００が内位置よりも回転軸ＲＸから離れた位置で記録面２１０に対向する外位置と、の間で、トラバース装置５２０は、光学ヘッド１００を移動させる。この結果、記録面２１０上の光（光学ヘッド１００から出射された光）の点は、内位置と外位置との間で移動することとなる。本実施形態において、トラバース装置５２０は、移動駆動部として例示される。代替的に、光学ヘッド１００を内位置と外位置との間で移動させることができる他の装置が移動駆動部として用いられてもよい。

駆動装置５００は、制御回路５３０、信号処理回路５４０及び入出力回路（以下、「ＩＯ回路５５０」と称される）を更に備える。上述の如く、光学ヘッド１００は、光ディスク２００からの戻り光に応じて、様々な信号を生成する。光学ヘッド１００は、生成された信号を制御回路５３０に出力する。制御回路５３０は、光学ヘッド１００からの信号に応じて、フォーカス制御、トラッキング制御、トラバース制御やスピンドルモータ５１０に対する回転制御といった様々な制御を実行する。これらの制御は、既知の光学的情報処理技術に用いられている制御であってもよい。光学ヘッド１００は、光ディスク２００からの戻り光に応じて、再生信号を生成する。再生信号は、制御回路５３０を通じて、信号処理回路５４０に出力される。信号処理回路５４０は、再生信号に応じて、情報を再生する。信号処理回路５４０によって再生された情報を含む信号は、ＩＯ回路５５０に出力される。これらの再生処理は、既知の光学的処理技術に用いられている再生技術であってもよい。ＩＯ回路５５０は、光ディスク２００に記録される情報を含む信号を外部装置（図示せず）から受けてもよい。ＩＯ回路５５０に入力された信号は、信号処理回路５４０及び制御回路５３０を通じて、光学ヘッド１００に出力される。光学ヘッド１００は、ＩＯ回路５５０に入力された信号に応じて、光ディスク２００に情報を書き込んでもよい。これらの書き込み技術は、既知の光学処理技術に用いられている記録技術であってもよい。

カートリッジ４００の壁部４１０は、外位置から内位置まで延びる開口部４１２が形成された下壁４１３と、下壁４１３に対向する上壁４１４と、下壁４１３の外周縁と上壁４１４の外周縁とに接続された周壁４１５と、を含む。光ディスク２００が回転すると、収容空間４１１内で気流が発生する。収容空間４１１内の気流によって、収容空間４１１内の空気は、外位置の周囲において、開口部４１２から排出される。したがって、外位置の周囲における開口部４１２の領域は、排気口として機能する。尚、開口部４１２を通じた排気技術は、後述される。本実施形態において、下壁４１３は、第１壁として例示される。上壁４１４は、第２壁として例示される。

カートリッジ４００は、光ディスク２００を収容する。信号の記録や信号の再生といった処理の間、対物レンズユニット１５０の一部（例えば、ＳＩＬ１５１やレンズホルダ１５３）は、開口部４１２を通じて、収容空間４１１内に挿入される。

光ドライブシステム３００は、近接場光を用いて、信号の記録や信号の再生といった光学的な情報処理を行う。したがって、ＳＩＬ端面１５４と記録面２１０との間の距離が、近接場が生ずる距離（ニアフィールド）になるように、光ドライブシステム３００は、対物レンズユニット１５０を適切に制御する必要がある。一般的に、レーザ光の短波長化に伴って、ＳＩＬ端面と記録面との間の距離（ギャップ）は、約数十ｎｍに設定される必要がある。本実施形態において、ＳＩＬ端面１５４と記録面２１０との間の距離（ギャップ）は、２０ｎｍ〜３０ｎｍに設定される。光学ヘッド１００は、ＳＩＬ端面１５４と記録面２１０との間の距離（ギャップ）を検出するためのギャップ検出信号を生成する。制御回路５３０は、ギャップ検出信号を用いて、ＳＩＬ端面１５４と記録面２１０との間の距離（ギャップ）を一定に保つためのギャップ制御を行う。

上述の如く、光検出器１９０の４分割受光領域１９２は、ＳＩＬ端面１５４が反射する光を受ける。４分割受光領域１９２が受けた光量の総和（全反射戻り光量）が一定になるように、制御回路５３０が光学ヘッド１００を制御するならば、ＳＩＬ端面１５４と記録面２１０との間の距離は略一定に保たれる。

図７は、ギャップに対する全反射戻り光量を表す概略的なグラフである。図１、図６及び図７を参照して、例示的なギャップ制御が説明される。尚、図７のグラフの上には、４分割受光領域１９２上の光（ＳＩＬ端面１５４からの反射光）のスポット形状が示されている。

一般的に、１００ｎｍ以上のギャップは、「ファーフィールドの状態」と称される。１００ｎｍを下回るギャップは、「ニアフィールドの状態」と称される。これらの用語を用いて、ギャップ制御が説明される。尚、これらの用語の定義は、本実施形態の原理を何ら限定しない。

ＳＩＬ端面１５４と記録面２１０との間の関係がファーフィールドの状態であるならば、ＳＩＬ端面１５４において光を全反射する領域（全反射領域）に対応する光束が４分割受光領域１９２に入射する。したがって、４分割受光領域１９２上において、ドーナツ状の光分布が得られる。ＳＩＬ端面１５４が記録面２１０に接触するならば、ＳＩＬ端面１５４の全反射領域における反射がなくなる。この結果、ＳＩＬ端面１５４からの反射光量は、大幅に低下し、略０ｍＶとなる。尚、ＳＩＬ１５１と光ディスク２００の表面のカバー層（厚さ：約１μｍ）の屈折率は、ともに、略２に設定されている。

本実施形態において、約１５０ｍＶの全反射戻り光量が得られるように、制御回路５３０は、アクチュエータ１６０を制御し、対物レンズユニット１５０をフォーカス方向に変位させる。この結果、約２５ｎｍのギャップが得られる。尚、ギャップ制御は、光検出器１９０の受光面１９１のゲイン設定に依存する。したがって、上述の様々な数値は、本実施形態の原理を何ら限定しない。

対物レンズユニット１５０に対するフォーカスサーボは、既知の技術に基づいてもよい。例えば、非球面レンズ１５２とＳＩＬ１５１との相対的な位置関係が制御されてもよい。代替的に、コリメートレンズ１４０が光軸方向に変位されてもよい。

図８Ａは、カートリッジ４００の概略的な平面図である。図８Ｂは、カートリッジ４００の概略的な底面図である。図９は、カートリッジ４００の周囲における光ドライブシステム３００の概略的な拡大断面図である。図１、図６、図８Ａ乃至図９を用いて、光ドライブシステム３００が説明される。

上述の如く、カートリッジ４００は、光ディスク２００を収容する。したがって、光ディスク２００に塵埃は付着しにくくなる。本実施形態において、カートリッジ４００は、光ディスク２００だけでなく、ＳＩＬ端面１５４にも塵埃を付着させにくくする。

光ディスク２００は、ターンテーブル４２０上に設置される。その後、チャック４３０は、ターンテーブル４２０上の光ディスク２００を挟み込む。例えば、チャック４３０及びターンテーブル４２０は、例えば、マグネットの磁力を用いて、磁気的に光ディスク２００を挟持してもよい。

光ディスク２００は、ターンテーブル４２０に接続されたスピンドルモータ５１０の回転に伴って回転する。図８Ａ及び図８Ｂ中の矢印は、光ディスク２００の回転を表す。図９中の矢印は、スピンドルモータ５１０の回転を表す。本実施形態において、光ディスク２００は、時計回りに回転する。代替的に、光ディスク２００は、反時計回りに回転してもよい。

図１に示される如く、非球面レンズ１５２及びＳＩＬ１５１は、レンズホルダ１５３によって保持される。レンズホルダ１５３は、アクチュエータ１６０に弾性部材（例えば、サスペンション）を介して支持される。尚、レンズホルダ１５３の支持構造は、既知に支持技術に基づいてもよい。レンズホルダ１５３がアクチュエータ１６０に取り付けられるので、レンズホルダ１５３は、トラッキング方向（ラジアル方向）及びフォーカス方向に変位することができる。

図６に示される如く、光学ヘッド１００は、トラバース装置５２０に取り付けられる。トラバース装置５２０は、光学ヘッド１００を内位置と外位置との間で移動させる。尚、内位置と外位置との間での光学ヘッド１００の移動の間、レンズホルダ１５３の一部及びＳＩＬ１５１は、開口部４１２を通じて、収容空間４１１内に挿入されている。

光学ヘッド１００が内位置に存在するとき、ＳＩＬ端面１５４は、光ディスク２００の記録面２１０に対向する。光学ヘッド１００が外位置に存在するとき、ＳＩＬ端面１５４は、光ディスク２００の外周縁２１１の直下に位置する。

図１０Ａは、カートリッジ４００の概略的な平面図である。図１０Ｂは、カートリッジ４００の概略的な底面図である。図１１は、カートリッジ４００の周囲における光ドライブシステム３００の概略的な拡大断面図である。図１０Ａは、図８Ａに対応する。図１０Ｂは、図８Ｂに対応する。図１１は、図９に対応する。図１０Ａ乃至図１１を参照して、カートリッジ４００内の空気の流動が説明される。尚、図９とは異なり、図１１において、空気の流れを明瞭に表すために、レンズホルダ１５３やＳＩＬ１５１といった光学ヘッド１００の部品は表されていない。

図１０Ａは、光ディスク２００の上面とカートリッジ４００の上壁４１４との間において生ずる旋回流ＷＦを概略的に示す。光ディスク２００の回転にともなって、光ディスク２００の上面とカートリッジ４００の上壁４１４との間において、光ディスク２００の回転方向に旋回する旋回流ＷＦが生ずる。光ディスク２００の回転数が増加するならば、旋回流ＷＦの速度も増加する。旋回流ＷＦの速度は、光ディスク２００の回転軸ＲＸから離れるにつれて大きくなる。回転軸ＲＸの周囲における旋回流ＷＦの速度は低く、且つ、光ディスク２００の外周縁２１１の近くにおける旋回流ＷＦの速度は高いので、収容空間４１１内において、回転軸ＲＸからカートリッジ４００の周壁４１５に向かって増加する圧力分布が発生する。光ディスク２００の外周縁２１１の近くの圧力は、回転軸ＲＸの周りの圧力よりも高くなるように、光ディスク２００の上面とカートリッジ４００の上壁４１４との間において生ずる旋回流ＷＦは、回転軸ＲＸからカートリッジ４００の周壁４１５に向かう。

図１０Ｂは、光ディスク２００の下面（記録面２１０）とカートリッジ４００の下壁４１３との間において生ずる旋回流ＷＦを概略的に示す。光ディスク２００の回転にともなって、光ディスク２００の下面とカートリッジ４００の下壁４１３との間において、光ディスク２００の回転方向に旋回する旋回流ＷＦが生ずる。光ディスク２００の回転数が増加するならば、旋回流ＷＦの速度も増加する。旋回流ＷＦの速度は、光ディスク２００の回転軸ＲＸから離れるにつれて大きくなる。回転軸ＲＸの周囲における旋回流ＷＦの速度は低く、且つ、光ディスク２００の外周縁２１１の近くにおける旋回流ＷＦの速度は高いので、収容空間４１１内において、回転軸ＲＸからカートリッジ４００の周壁４１５に向かって増加する圧力分布が発生する。光ディスク２００の外周縁２１１の近くの圧力は、回転軸ＲＸの周りの圧力よりも高くなるように、光ディスク２００の下面とカートリッジ４００の下壁４１３との間において生ずる旋回流ＷＦは、回転軸ＲＸからカートリッジ４００の周壁４１５に向かう。

図１１に示される如く、カートリッジ４００の下壁４１３には、開口部４１２に加えて、中心穴４１６が形成されている。ターンテーブル４２０の回転が許容されるように、中心穴４１６は、ターンテーブル４２０よりも大きく設計される。したがって、ターンテーブル４２０の周囲には、空隙が生ずる。上述の如く、回転軸ＲＸの周囲の圧力は低いので、カートリッジ４００の外の空気は、ターンテーブル４２０の周囲の空隙を通じて、収容空間４１１内へ吸引される。この結果、旋回流ＷＦは増強される。したがって、カートリッジ４００の周壁４１５に向かう旋回流ＷＦの速度は増加する。回転軸ＲＸに近い内位置の周囲に存する開口部４１２の領域からも、回転軸ＲＸの周囲の低い圧力に起因して、空気が収容空間４１１内に流入する。

上述の如く、光ディスク２００の上面とカートリッジ４００の上壁４１４との間で発生する旋回流ＷＦ及び光ディスク２００の下面とカートリッジ４００の下壁４１３との間で発生する旋回流ＷＦは、カートリッジ４００の周壁４１５に向かって流れる。また、ターンテーブル４２０の周囲の空隙及び内位置の周囲における開口部４１２の領域において収容空間４１１内に空気が吸引される。この結果、外位置の周囲における開口部４１２の領域を通じて、収容空間４１１内の空気が排出されることとなる。尚、ターンテーブル４２０の周囲の空隙から吸引された空気の量と内位置の周囲における開口部４１２の領域において吸引された空気の量の総和は、外位置の周囲における開口部４１２の領域を通じて、排出される空気の量に略一致する。

図１２は、図１０Ａに示されるＡ−Ａ線に沿うカートリッジ４００の概略的な断面図である。図１０Ａ及び図１２を参照して、開口部４１２から吹き出される空気の流れが説明される。

開口部４１２から下方に向かう矢印は、開口部４１２から吹き出される空気の流速ベクトルである。矢印の長さは、開口部４１２から吹き出される空気の流速の大きさを表す。Ａ−Ａ断面において、空気は、ＳＩＬ端面１５４に対して斜めに当たっている。矢印が長いならば、ＳＩＬ端面１５４に付着した塵埃は効果的に除去される。特に、流速ベクトルの垂直成分が大きいならば、ＳＩＬ端面１５４の塵埃は、非接触式に効果的に除去されることとなる。

図１３は、外位置において、開口部４１２から吹き出される空気の流速に対する例示的な演算結果を表す。図１１乃至図１３を用いて、開口部４１２から吹き出される空気の流れが更に説明される。

光ディスク２００が６０００ｒｐｍで回転しているならば、開口部４１２から吹き出される空気の流速は、垂直方向において約５ｍ／ｓｅｃになる。開口部４１２に向かう空気は、ＳＩＬ端面１５４に直接的に吹きかけられるので、ＳＩＬ端面１５４に付着した塵埃は、非接触式に除去される。したがって、上述のギャップ制御は、安定化される。この結果、光ドライブシステム３００の信頼性が向上する。本実施形態の塵埃の除去原理は、接触式のレンズクリーニング機構を要求しない。したがって、光ドライブシステム３００に対する小型の設計が許容される。

図１３に示される演算結果は、例示的である。開口部４１２から吹き出される空気の流速の演算結果（空気の流速ベクトルの大きさ）は、光ディスク２００の回転数だけでなく、光ディスク２００とカートリッジ４００の上壁４１４との間の空気層の厚さ、光ディスク２００とカートリッジ４００の下壁４１３との間の空気層の厚さ、光ディスク２００の直径、光ディスク２００の外周縁２１１とカートリッジ４００の周壁４１５との間の距離、開口部４１２の面積、開口部４１２の位置やターンテーブル４２０の周囲の隙間の大きさに依存する。

図１３に示される演算結果において、光ディスク２００とカートリッジ４００の上壁４１４との間の空気層の厚さ及び光ディスク２００とカートリッジ４００の下壁４１３との間の空気層の厚さは、約１ｍｍに設計されている。ターンテーブル４２０の周囲の隙間の幅も約１ｍｍに設計されている。光ディスク２００の直径は、１２０ｍｍに設計されている。このとき、カートリッジ４００の外形寸法は、□７０ｍｍに設計されている。開口部４１２は、回転軸ＲＸ（カートリッジ４００の中心点）から１８ｍｍだけ離れた位置から６５ｍｍだけ離れた位置まで延びるように設計されている（ラジアル方向）。開口部４１２の幅（タンジェンシャル方向）は、１０ｍｍに設計されている（光ディスク２００の中心に対して対称）。

図１３に示される演算結果において、光ディスク２００は、時計回りに回転する。光ディスク２００の回転方向が反時計回りであっても、同様の演算結果が得られる。

（第２実施形態）
図１４は、第２実施形態の光ドライブシステム３００Ａの概略図である。図６及び図１４を参照して、光ドライブシステム３００Ａが説明される。尚、図１４において、第１実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ａは、第１実施形態に関連して説明された駆動装置５００に加えて、カートリッジ４００Ａを備える。カートリッジ４００Ａは、第１実施形態に関連して説明されたチャック４３０及びターンテーブル４２０に加えて、壁部４１０Ａを備える。壁部４１０Ａは、第１実施形態に関連して説明された上壁４１４及び周壁４１５に加えて、収容空間４１１を部分的に閉塞する下壁４１３Ａを含む。下壁４１３Ａには、第１実施形態に関連して説明された中心穴４１６に加えて、開口部４１２Ａが形成される。

図１５は、カートリッジ４００Ａの概略的な平面図である。図１４及び図１５を参照して、カートリッジ４００Ａが説明される。

図１５には、開口部４１２Ａ中のＳＩＬ１５１の移動軌跡Ｔ（即ち、ＳＩＬ１５１からの光による記録面２１０に対する走査軌跡）が示されている。トラバース装置５２０は、開口部４１２Ａに沿って（即ち、移動軌跡Ｔに沿って）、ＳＩＬ１５１を移動させる。この間、光ディスク２００の記録面２１０に対する光学的な情報処理が行われてもよい。

開口部４１２Ａは、外位置の近くの領域ＯＡと内位置近くの領域ＩＡとに点線によって概念的に区分されている。収容空間４１１中の空気は、領域ＯＡを通じて主に排出される。領域ＯＡは、移動軌跡Ｔによって、上流領域ＵＡと下流領域ＤＡとに概念的に区分される。光ディスク２００の回転方向において、上流領域ＵＡは、下流領域ＤＡよりも上流に位置する。上流領域ＵＡが、下流領域ＤＡよりも広くなるように開口部４１２Ａは形成される。本実施形態において、下流領域ＤＡは、第１開口領域として例示される。上流領域ＵＡは、第２開口領域として例示される。下流領域ＤＡの開口面積は、第１面積として例示される。上流領域ＵＡの開口面積は、第２面積として例示される。

図１６は、図１５に示されるＡ−Ａ線に沿うカートリッジ４００Ａの概略的な断面図である。図１５及び図１６を参照して、開口部４１２Ａから吹き出される空気が説明される。

上述の如く、上流領域ＵＡは、下流領域ＤＡよりも広い。したがって、第１実施形態と比べて、ＳＩＬ端面１５４に吹き付けられる空気の流速は大きくなる。この結果、ＳＩＬ端面１５４に付着した塵埃は、非接触式に効果的に除去されることとなる。

図１７は、ＳＩＬ端面１５４に対する清浄方法の概略的なフローチャートである。図１、図１４乃至図１７を参照して、ＳＩＬ端面１５４に対する清浄方法が説明される。

（ステップＳ１１０）
ＳＩＬ端面１５４に対する清浄方法は、ステップＳ１１０から開始される。ステップＳ１１０において、光ディスク２００が収容空間４１１内で回転される。その後、ステップＳ１２０が実行される。

（ステップＳ１２０）
ステップＳ１２０において、制御回路５３０は、トラバース装置５２０を制御し、ＳＩＬ１５１を内位置から外位置へ移動させる。その後、ステップＳ１３０が実行される。

（ステップＳ１３０）
ステップＳ１３０において、制御回路５３０は、アクチュエータ１６０を制御し、記録面２１０或いは記録面２１０からの延長面からＳＩＬ端面１５４までの距離を調整する。例えば、アクチュエータ１６０はＳＩＬ１５１をフォーカス方向に移動させ、ステップＳ１２０と比べて、ＳＩＬ端面１５４を記録面２１０に更に近づけてもよい。この結果、ＳＩＬ端面１５４は、開口部４１２Ａから吹き出す空気の流れに強く曝されることとなる。本実施形態において、記録面２１０及び記録面２１０からの延長面は、受光面に沿う平面として例示される。

（第３実施形態）
図１８は、第３実施形態の光ドライブシステム３００Ｂの概略図である。図６及び図１８を参照して、光ドライブシステム３００Ｂが説明される。尚、図１８において、第１実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ｂは、第１実施形態に関連して説明されたカートリッジ４００に加えて、駆動装置５００Ｂを備える。駆動装置５００Ｂは、第１実施形態に関連して説明されたトラバース装置５２０、制御回路５３０、信号処理回路５４０及びＩＯ回路５５０に加えて、光学ヘッド１００Ｂを備える。

図１９は、光学ヘッド１００Ｂの概略図である。図１及び図１９を参照して、光学ヘッド１００Ｂが説明される。

光学ヘッド１００Ｂは、第１実施形態と同様に、半導体レーザ１１０、リレーレンズ１２０、ビームスプリッタ１３０、コリメートレンズ１４０、対物レンズユニット１５０、ホログラム素子１７０、シリンドリカルレンズ１８０及び光検出器１９０を備える。光学ヘッド１００Ｂは、レンズホルダ１５３に取り付けられた弾性的な支持構造１６５と、支持構造１６５を介して、レンズホルダ１５３に接続されるアクチュエータ１６０Ｂと、を更に備える。アクチュエータ１６０Ｂは、支持構造１６５を通じて、レンズホルダ１５３に支持されたＳＩＬ１５１及び非球面レンズ１５２をフォーカス方向及びトラッキング方向（ラジアル方向）に移動させる。

図２０は、カートリッジ４００の概略的な平面図である。図２０を参照して、開口部４１２内でのＳＩＬ１５１の移動が説明される。

図２０には、開口部４１２の中心線ＣＬが示されている。中心線ＣＬは、光ディスク２００の回転軸ＲＸから半径方向に延びる。図２０には、ＳＩＬ１５１の移動軌跡Ｔが示されている。移動軌跡Ｔが、光ディスク２００の回転方向において、中心線ＣＬに対して下流にずれるように、支持構造１６５は、レンズホルダ１５３を保持する。

図２０において、開口部４１２は、外位置の近くの領域ＯＡと内位置近くの領域ＩＡとに点線によって概念的に区分されている。収容空間４１１中の空気は、領域ＯＡを通じて主に排出される。第２実施形態と同様に、領域ＯＡは、移動軌跡Ｔによって、上流領域ＵＡと下流領域ＤＡとに概念的に区分される。上流領域ＵＡは、下流領域ＤＡよりも上流に位置する。移動軌跡Ｔが中心線ＣＬに対してずらされているので、上流領域ＵＡは、下流領域ＤＡよりも広くなる。したがって、ＳＩＬ端面１５４に付着した塵埃は効果的に除去される。

本実施形態において、レンズホルダ１５３の保持位置が中心線ＣＬからずらされている。代替的に、光学ヘッド自身がタンジェンシャル方向にずらされてもよい。

（第４実施形態）
図２１は、第４実施形態の光ドライブシステム３００Ｃの概略図である。図６及び図２１を参照して、光ドライブシステム３００Ｃが説明される。尚、図２１において、第１実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ｃは、第１実施形態に関連して説明された駆動装置５００に加えて、カートリッジ４００Ｃを備える。カートリッジ４００Ｃは、第１実施形態に関連して説明されたチャック４３０及びターンテーブル４２０に加えて、壁部４１０Ｃを備える。壁部４１０Ｃは、第１実施形態に関連して説明された上壁４１４及び周壁４１５に加えて、収容空間４１１を部分的に閉塞する下壁４１３Ｃを含む。下壁４１３Ｃには、第１実施形態に関連して説明された開口部４１２及び中心穴４１６に加えて、排気口４１７が形成される。内位置から半径方向に延びる開口部４１２は、記録面２１０に対する走査のために専ら用いられる。したがって、トラバース装置５２０は、開口部４１２に沿ってＳＩＬ１５１を移動させる。開口部４１２よりも回転軸ＲＸから離間して形成された排気口４１７は、ＳＩＬ端面１５４の清浄のために用いられる。本実施形態において、排気口４１７の形成位置は、外位置として例示される。

図２２Ａは、カートリッジ４００Ｃの概略的な平面図である。図２２Ｂは、カートリッジ４００Ｃの概略的な底面図である。図２３は、カートリッジ４００Ｃの周囲における光ドライブシステム３００Ｃの概略的な拡大断面図である。図１、図２１乃至図２３を参照して、光ドライブシステム３００Ｃが説明される。

図２２Ａには、ＳＩＬ１５１の移動軌跡Ｔが示されている。開口部４１２は、移動軌跡Ｔに対して、線対称に形成されている一方で、排気口４１７は、移動軌跡Ｔに対して非対称である。排気口４１７は、移動軌跡Ｔによって、上流領域ＵＡＣと下流領域ＤＡＣとに概念的に区分される。光ディスク２００の回転方向において、上流領域ＵＡＣは、下流領域ＤＡＣよりも上流に位置する。上流領域ＵＡＣが、下流領域ＤＡＣよりも広くなるように排気口４１７は形成される。本実施形態において、下流領域ＤＡＣは、第１開口領域として例示される。上流領域ＵＡＣは、第２開口領域として例示される。下流領域ＤＡＣの開口面積は、第１面積として例示される。上流領域ＵＡＣの開口面積は、第２面積として例示される。

図２２Ｂには、開口部４１２の内端に存するＳＩＬ１５１、開口部４１２の外端に存するＳＩＬ１５１及び排気口４１７に配置されたＳＩＬ１５１が示されている。トラバース装置５２０は、開口部４１２の内端から排気口４１７までＳＩＬ１５１を移動させることができる。トラバース装置５２０は、開口部４１２の内端と外端との間でＳＩＬ１５１を移動させ、記録面２１０を光学的に走査してもよい。開口部４１２の外端に配置されたＳＩＬ１５１は、光ディスク２００の外周縁２１１の直下に位置する。制御回路５３０は、アクチュエータ１６０を制御し、ＳＩＬ１５１を下方に移動させてもよい。この結果、ＳＩＬ１５１は、開口部４１２から引き出される。その後、トラバース装置５２０は、ＳＩＬ１５１を外方に移動させることができる。ＳＩＬ１５１が排気口４１７に到達すると、制御回路５３０は、アクチュエータ１６０を制御し、ＳＩＬ１５１を排気口４１７に挿入してもよい。

排気口４１７は、開口部４１２の外端よりも回転軸ＲＸから離れているので、排気口４１７を通じて収容空間４１１から排出される空気量は、開口部４１２の外端領域と比べて多くなる。したがって、第１実施形態と比べて、収容空間４１１から排出される空気は、ＳＩＬ端面１５４に強く吹き付けられることとなる。したがって、光ドライブシステム３００Ｃは、高い信頼性を有する。

本実施形態において、排気口４１７は、移動軌跡Ｔに対して非対称である。代替的に、排気口４１７は、移動軌跡Ｔに対して対称であってもよい。

（第５実施形態）
図２４は、第５実施形態の光ドライブシステム３００Ｄの概略図である。図６及び図２４を参照して、光ドライブシステム３００Ｄが説明される。尚、図２４において、第１実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ｄは、第１実施形態に関連して説明された駆動装置５００に加えて、カートリッジ４００Ｄを備える。カートリッジ４００Ｄは、第１実施形態に関連して説明されたチャック４３０及びターンテーブル４２０に加えて、壁部４１０Ｄを備える。壁部４１０Ｄは、第１実施形態に関連して説明された下壁４１３及び周壁４１５に加えて、下壁４１３に対向する上壁４１４Ｄを含む。

第１実施形態とは異なり、上壁４１４Ｄには、流入口４１８が形成される。光ディスク２００の回転軸ＲＸは、流入口４１８を通過する。本実施形態において、上壁４１４Ｄに形成される流入口４１８は１つである。代替的に、複数の流入口が上壁に形成されてもよい。或いは、回転軸ＲＸを中心とする同心円状の開口部が流入口として形成されてもよい。

図２５Ａは、カートリッジ４００Ｄの概略的な平面図である。図２５Ｂは、カートリッジ４００Ｄの概略的な底面図である。図２６は、カートリッジ４００Ｄの周囲における光ドライブシステム３００Ｄの概略的な拡大断面図である。図２４乃至図２６を参照して、光ドライブシステム３００Ｄが説明される。

第１実施形態に関連して説明された如く、光ディスク２００の回転は、回転軸ＲＸの周りに負圧を生じさせる。上述の如く、上壁４１４Ｄには、回転軸ＲＸを取り巻く流入口４１８が形成される。したがって、下壁４１３に形成された中心穴４１６からだけでなく、流入口４１８からも収容空間４１１内に空気が流入する。収容空間４１１内に流入する空気が増加するので、外位置の周囲における開口部４１２の領域から排出される空気は、外位置に配置されたＳＩＬ１５１に強く当たることとなる。高い流速の空気がＳＩＬ端面１５４に吹き付けられるので、ＳＩＬ端面１５４に付着した塵埃は効果的に除去される。したがって、光ドライブシステム３００Ｄの信頼性は高くなる。本実施形態において、上壁４１４Ｄは、第２壁として例示される。

本実施形態の上壁４１４Ｄの構造は、第２実施形態乃至第４実施形態に適用されてもよい。この結果、効果的な非接触式の塵埃除去が達成される。本実施形態において、流入口４１８の中心は、回転軸ＲＸに一致する。代替的に、収容空間内への空気の吸引が達成されるならば、流入口が外位置よりも内位置の近くの任意の位置に形成されてもよい。

（第６実施形態）
図２７は、第６実施形態の光ドライブシステム３００Ｅの概略図である。図２４及び図２７を参照して、光ドライブシステム３００Ｅが説明される。尚、図２７において、第５実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ｅは、第５実施形態に関連して説明された駆動装置５００に加えて、カートリッジ４００Ｅを備える。カートリッジ４００Ｅは、第５実施形態に関連して説明されたチャック４３０、ターンテーブル４２０及び壁部４１０Ｄに加えて、フィルタ４４０を備える。フィルタ４４０は、光ディスク２００の上下にそれぞれ配置される。フィルタ４４０は、収容空間４１１内で浮遊する塵埃を捕集する。フィルタ４４０は、上壁４１４Ｄ及び下壁４１３に接着剤を用いて固定される。或いは、上壁４１４Ｄ及び下壁４１３に形成された溝部（図示せず）に嵌め込まれてもよい。

図２８Ａは、カートリッジ４００Ｅの概略的な平面図である。図２８Ｂは、カートリッジ４００Ｅの概略的な底面図である。図２９は、カートリッジ４００Ｅの周囲における光ドライブシステム３００Ｅの概略的な拡大断面図である。図２７乃至図２９を参照して、光ドライブシステム３００Ｅが説明される。

図２８Ａには、開口部４１２の延出方向に延びる中心線ＣＬ１及び中心線ＣＬ１に直交する中心線ＣＬ２が示されている。中心線ＣＬ１，ＣＬ２の交点は、光ディスク２００の回転軸ＲＸに相当する。開口部４１２は、中心線ＣＬ２の左に形成されるのに対し、フィルタ４４０は、中心線ＣＬ２の右に配置される。

第５実施形態に関連して説明された如く、光ディスク２００の回転に伴って、中心穴４１６及び流入口４１８を通じて、収容空間４１１内に空気が流入する。収容空間４１１内への空気の流入の結果、収容空間４１１内に塵埃も導入されることもある。

中心線ＣＬ１は、収容空間４１１を第１収容空間ＳＲ１と、第２収容空間ＳＲ２とに概念的に区分する。第１収容空間ＳＲ１内の旋回流ＷＦは、開口部４１２に向かうので、第１収容空間ＳＲ１内で浮遊する塵埃は、開口部４１２を通じて排出される。第２収容空間ＳＲ２内の旋回流ＷＦは、フィルタ４４０に向かうので、第２収容空間ＳＲ２内で浮遊する塵埃は、フィルタ４４０によって捕集される。

収容空間４１１内で浮遊する塵埃の粒子径は、典型的には、５０ｎｍ以上である。したがって、フィルタ４４０は、直径において５０ｎｍ以上の粒子を捕集できることが好ましい。フィルタ４４０を通過する旋回流ＷＦに含まれる塵埃の約５０％が捕集されるならば、ＳＩＬ１５１への塵埃の付着は生じにくくなる。尚、フィルタ４４０の捕集効率は、フィルタ４４０の圧力損失に応じて、５％乃至１００％の範囲で定められてもよい。

フィルタ４４０が、収容空間４１１内で浮遊する塵埃を大幅に低減させるので、ＳＩＬ端面１５４と記録面２１０との間への塵埃の侵入は生じにくくなる。したがって、光ドライブシステム３００Ｅは、高い信頼性を有することとなる。

フィルタ４４０は、第２乃至第４実施形態の光ドライブシステム３００Ａ乃至３００Ｃに組み込まれてもよい。光ドライブシステム３００Ａ乃至３００Ｃがフィルタ４４０を備えるならば、光ドライブシステム３００Ａ乃至３００Ｃは高い信頼性を有することとなる。

（第７実施形態）
図３０は、第７実施形態の光ドライブシステム３００Ｆの概略図である。図２４、図２７及び図３０を参照して、光ドライブシステム３００Ｆが説明される。尚、図３０において、第５実施形態及び第６実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ｆは、第５実施形態に関連して説明された駆動装置５００に加えて、カートリッジ４００Ｆを備える。カートリッジ４００Ｆは、第５実施形態に関連して説明されたチャック４３０、ターンテーブル４２０及び壁部４１０Ｄに加えて、フィルタ４４５を備える。フィルタ４４５は、流入口４１８に取り付けられ、流入口４１８から収容空間４１１へ流入する空気から塵埃を除去する。フィルタ４４５は、第６実施形態に関連して説明されたフィルタ４４０と同様の特性を有していてもよい。

（第８実施形態）
図３１は、第８実施形態の光ドライブシステム３００Ｇの概略的な断面図である。図２１及び図３１を参照して、光ドライブシステム３００Ｇが説明される。尚、図３１において、第４実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ｇは、第４実施形態と同様に、駆動装置５００とカートリッジ４００Ｃとを備える。光ドライブシステム３００Ｇは、シャッタ機構６００を更に備える。シャッタ機構６００は、壁部４１０Ｃを部分的に覆うシャッタ片６１０と、シャッタ片６１０を駆動するシャッタ駆動機構６２０と、を含む。

図３２は、シャッタ機構６００の概略的な底面図である。図３１及び図３２を参照して、シャッタ機構６００が説明される。

シャッタ片６１０は、カートリッジ４００Ｃの下壁４１３Ｃに隣接する下シャッタ板６１１を含む。下シャッタ板６１１は、光ディスク２００の回転軸ＲＸの近くに配置される内板６１２と、内板６１２よりも回転軸ＲＸから離れた外板６１３と、を含む。

図３２に示される下シャッタ板６１１は、開位置に存し、開口部４１２及び排気口４１７は、下シャッタ板６１１から露出している。したがって、下シャッタ板６１１が開位置に存する間、ＳＩＬ１５１は、開口部４１２の外端と内端との間で移動可能である。

下シャッタ板６１１が開位置に存するならば、内板６１２は、開口部４１２に隣接する。一方、内板６１２より細い外板６１３は、排気口４１７から大きく離間している。

シャッタ駆動機構６２０は、モータ６２１と、モータ６２１から開口部４１２の延出方向に対して直交する方向に延びるリードスクリュ６２２と、外板６１３とリードスクリュ６２２とに接続されたバネ部材６２３と、を備える。モータ６２１は、リードスクリュ６２２を回転させる。リードスクリュ６２２の回転の結果、バネ部材６２３によってリードスクリュ６２２に接続された下シャッタ板６１１は、リードスクリュ６２２の延出方向に移動する。

図３３は、シャッタ機構６００の概略的な底面図である。図３２及び図３３を参照して、シャッタ機構６００が説明される。

図３３に示される下シャッタ板６１１は、モータ６２１の駆動によって、図３２に示される開位置から閉位置に移動されている。下シャッタ板６１１が閉位置に存する間、内板６１２は、開口部４１２を閉塞する。一方、排気口４１７は、下シャッタ板６１１から露出している。したがって、下シャッタ板６１１が閉位置に存する間、ＳＩＬ１５１は、排気口４１７に挿入されてもよい。本実施形態において、下シャッタ板６１１は、第１シャッタ部として例示される。

下シャッタ板６１１が開口部４１２を閉じるので、排気口４１７から排出される空気の量が増大する。したがって、ＳＩＬ１５１に付着した塵埃の除去は効果的になる。

（第９実施形態）
図３４は、第９実施形態の光ドライブシステム３００Ｈの概略的な断面図である。図６、図３１及び図３４を参照して、光ドライブシステム３００Ｈが説明される。尚、図３４において、第１実施形態及び第８実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ｈは、第１実施形態と同様に、駆動装置５００とカートリッジ４００とを備える。光ドライブシステム３００Ｈは、シャッタ機構６００Ｈを更に備える。シャッタ機構６００Ｈは、第８実施形態と同様に、シャッタ駆動機構６２０を備える。シャッタ機構６００Ｈは、シャッタ駆動機構６２０によって駆動されるシャッタ片６１０Ｈを更に備える。

図３５は、シャッタ機構６００Ｈの概略的な底面図である。図３４及び図３５を参照して、シャッタ機構６００Ｈが説明される。

シャッタ片６１０Ｈは、カートリッジ４００の下壁４１３に隣接する下シャッタ板６１１Ｈを含む。下シャッタ板６１１Ｈは、光ディスク２００の回転軸ＲＸの近くに配置される内板６１２Ｈと、内板６１２Ｈよりも回転軸ＲＸから離れた外板６１３Ｈと、を含む。

図３５に示される下シャッタ板６１１Ｈは、開位置に存し、開口部４１２は、下シャッタ板６１１Ｈから露出している。したがって、下シャッタ板６１１Ｈが開位置に存する間、ＳＩＬ１５１は、開口部４１２の外端（即ち、外位置）と内端（即ち、内位置）との間で移動可能である。

下シャッタ板６１１Ｈが開位置に存するならば、内板６１２Ｈは、内位置の周囲の開口部４１２の領域に隣接する。一方、内板６１２Ｈより細い外板６１３Ｈは、開口部４１２から大きく離間している。

図３６は、シャッタ機構６００Ｈの概略的な底面図である。図３５及び図３６を参照して、シャッタ機構６００Ｈが説明される。

図３６に示される下シャッタ板６１１Ｈは、モータ６２１の駆動によって、図３５に示される開位置から閉位置に移動されている。下シャッタ板６１１Ｈが閉位置に存する間、開口部４１２の外端の周囲の領域は、下シャッタ板６１１Ｈから露出している。したがって、ＳＩＬ１５１が開口部４１２の外端に移動された後、下シャッタ板６１１Ｈは、ＳＩＬ１５１に干渉することなく閉位置へ移動することができる。本実施形態において、下シャッタ板６１１Ｈは、第１シャッタ部として例示される。

下シャッタ板６１１Ｈが開口部４１２を部分的に閉じるので、開口部４１２の外端領域から排出される空気の量が増大する。したがって、ＳＩＬ１５１に付着した塵埃の除去は効果的になる。

本実施形態のシャッタ機構６００Ｈは、第２実施形態及び第３実施形態の光ドライブシステム３００Ａ，３００Ｂに用いられてもよい。シャッタ機構６００Ｈが、光ドライブシステム３００Ａ，３００Ｂに用いられるならば、ＳＩＬ１５１に付着した塵埃は効果的に除去されることとなる。

（第１０実施形態）
図３７は、第１０実施形態の光ドライブシステム３００Ｉの概略的な断面図である。図２７、図３４及び図３７を参照して、光ドライブシステム３００Ｉが説明される。尚、図３７において、第６実施形態、第８実施形態及び第９実施形態に関連して説明された要素と同一の要素に対して、同一の符号が付されている。同一の符号が付された要素に関する説明は省略される。

光ドライブシステム３００Ｉは、第６実施形態と同様に、駆動装置５００とカートリッジ４００Ｅとを備える。光ドライブシステム３００Ｉは、シャッタ機構６００Ｉを更に備える。シャッタ機構６００Ｉは、第８実施形態と同様に、シャッタ駆動機構６２０を備える。シャッタ機構６００Ｉは、シャッタ駆動機構６２０によって駆動されるシャッタ片６１０Ｉを更に備える。

シャッタ片６１０Ｉは、カートリッジ４００Ｅの下壁４１３に隣接する下シャッタ板６１１Ｉと、上壁４１４Ｄに隣接する上シャッタ板６１９と、下シャッタ板６１１Ｉと上シャッタ板６１９とに接続された中間板６１８と、を含む。シャッタ駆動機構６２０のバネ部材６２３は、中間板６１８に接続される。シャッタ駆動機構６２０は、第８実施形態及び第９実施形態と同様に、シャッタ片６１０Ｉを開位置と閉位置との間で移動させる。上シャッタ板６１９及び下シャッタ板６１１Ｉは、中間板６１８によって接続されているので、上シャッタ板６１９及び下シャッタ板６１１Ｉは、連動して、開位置と閉位置との間で移動する。本実施形態において、下シャッタ板６１１Ｉは、第１シャッタ部として例示される。上シャッタ板６１９は、第２シャッタ部として例示される。

図３８Ａは、カートリッジ４００Ｅの概略的な平面図である。図３８Ｂは、カートリッジ４００Ｅの概略的な底面図である。図３７乃至図３８Ｂを参照して、カートリッジ４００Ｅ上での上シャッタ板６１９及び下シャッタ板６１１Ｉのスライド動作が説明される。

図３８Ａに示される上シャッタ板６１９は、閉位置に存する。図３８Ｂに示される下シャッタ板６１１Ｉも、閉位置に存する。上シャッタ板６１９が閉位置に存するならば、下シャッタ板６１１Ｉも閉位置に存する。上シャッタ板６１９が開位置に存するならば、下シャッタ板６１１Ｉも開位置に存する。

閉位置に配置された上シャッタ板６１９は、カートリッジ４００Ｅの上壁４１４Ｄに形成された流入口４１８を閉じる。開位置に配置された上シャッタ板６１９は、流入口４１８を開放する。

閉位置に配置された下シャッタ板６１１Ｉは、カートリッジ４００Ｅの下壁４１３に形成された開口部４１２を閉じる。開位置に配置された下シャッタ板６１１Ｉは、開口部４１２を開放する。

上シャッタ板６１９及び下シャッタ板６１１Ｉがともに閉位置に存する間、収容空間４１１内への塵埃の侵入経路は大幅に低減される。この間、光ディスク２００が数秒乃至数十秒回転されるならば、収容空間４１１内の塵埃の多くは、フィルタ４４０によって捕集されることとなる。収容空間４１１内で浮遊する塵埃が大幅に少なくなるので、光ドライブシステム３００Ｉは高い信頼性を有することとなる。

カートリッジ４００Ｅは、閉位置に存する上シャッタ板６１９と上壁４１４Ｄとの間に配置されたシール部材（図示せず）を備えてもよい。シール部材（例えば、シリコンゴム）が流入口４１８の周りを取り囲むならば、光ディスク２００が回転している間における流入口４１８からの塵埃の流入は大幅に低減される。

カートリッジ４００Ｅは、閉位置に存する下シャッタ板６１１Ｉと下壁４１３との間に配置されたシール部材（図示せず）を備えてもよい。シール部材（例えば、シリコンゴム）が開口部４１２の周りを取り囲むならば、光ディスク２００が回転している間における開口部４１２からの塵埃の流入は大幅に低減される。

本実施形態において、上シャッタ板６１９及び下シャッタ板６１１Ｉは、一体的に形成されている。代替的に、上シャッタ板及び下シャッタ板は、別個の部材であってもよい。

上述の様々なシャッタ機構は、カートリッジに取り付けられてもよい。或いは、シャッタ機構は、駆動装置に取り付けられてもよい。

（第１１実施形態）
上述の様々な塵埃除去技術の原理は、ＳＩＬから発せられる近接場光に関連して説明されている。しかしながら、上述の様々な塵埃除去技術の原理は、ＳＩＬ以外の光学素子を用いた光ドライブシステムにも適用可能である。

図３９は、プラズモン共鳴を用いた例示的な光ドライブシステム３００Ｊの概略図である。

光ドライブシステム３００Ｊは、光ディスク２００Ｊに対して光学的な情報処理（信号の記録又は再生）を行うプラズモン装置７００を備える。プラズモン装置７００は、第１実施形態乃至第１０実施形態の光学ヘッド及びトラバース装置に対応する機能を果たす。

プラズモン装置７００は、光ディスク２００Ｊに対して、信号の記録及び／又は再生を行うプラズモンヘッド７１０と、プラズモンヘッド７１０を保持するスライダ７２０と、を備える。スライダ７２０は、光ディスク２００Ｊの回転によって発生した気流によって、光ディスク２００Ｊから離間する方向へ変位する。尚、光ディスク２００Ｊを回転させるための機構は、第１実施形態乃至第１０実施形態に関連して説明された駆動機構と同様である。

プラズモン装置７００は、柔らかな板バネ構造（一般的に、「ジンバル」と呼ばれる）を介して、スライダ７２０を保持するサスペンション７３０と、サスペンション７３０を保持する保持部材７４０と、保持部材７４０を光ディスク２００Ｊの面内で回動させるボイスコイルモータ７５０と、を更に備える。ボイスコイルモータ７５０は、例えば、回転シャフト、コイル、マグネットやヨークといった様々な部品を備えてもよい。

光ドライブシステム３００Ｊは、プラズモンヘッド７１０に記録信号を供給したり、プラズモンヘッド７１０からの再生信号を伝送したりするＦＰＣ（図示せず）、プラズモンヘッド７１０からの信号を増幅するヘッドアップ（図示せず）、これらを制御或いは動作させるための回路基板、機械的部品や電子部品を備える。プラズモン装置７００は、プラズモン共鳴を利用して、情報を処理する既知の装置と同様の構造を有してもよい。したがって、本実施形態の原理は、図示された詳細な構造に限定されない。

図４０は、光ディスク２００Ｊに対して光学的な情報処理を行うプラズモン装置７００の概略図である。図３９及び図４０を参照して、プラズモン装置７００が更に説明される。

プラズモン装置７００は、スライダ７２０に取り付けられた半導体レーザ７６０及び導波路７７０を更に備える。半導体レーザ７６０から出射されたレーザ光は、導波路７７０を通じて、プラズモンヘッド７１０に導かれる。

光ディスク２００Ｊは、プラズモンヘッド７１０に対向する記録面２１０を形成する記録膜２１９を含む。本実施形態において、記録膜２１９は、相変化材料を含む。

半導体レーザ７６０がプラズモンヘッド７１０にレーザ光を出射すると、プラズモンヘッド７１０と記録膜２１９との間でプラズモン共鳴が生ずる。この結果、局所的な温度上昇が記録膜２１９に生ずる。記録膜２１９上の局所的な温度上昇の結果、記録膜２１９の結晶構造がクリスタルとアモルファスとの間で変化する。プラズモンヘッド７１０と記録膜２１９との間の共鳴の大きさは、記録膜２１９の結晶構造（クリスタル又はアモルファス）に依存する。記録膜２１９の結晶構造の変化を利用して、プラズモンヘッド７１０と記録膜２１９との間の共鳴の大きさに基づき、情報の記録及び／又は再生が行われる。

光ドライブシステム３００Ｊは、共鳴の大きさに基づき、再生信号を検出する検出部（図示せず）を備えてもよい。プラズモンヘッド７１０から出射されたレーザ光の反射光又は透過光は、プラズモンヘッド７１０と記録膜２１９との間でのプラズモン共鳴の状態に応じて変化する。検出部は反射光又は透過光の変化に応じて、情報を再生してもよい。本実施形態において、プラズモンヘッド７１０は、光素子として例示される。

図４１は、光ドライブシステム３００Ｊに組み込まれるカートリッジ４００Ｊの概略図である。図３９及び図４１を参照して、カートリッジ４００Ｊが説明される。

プラズモンヘッド７１０は、第１実施形態乃至第１０実施形態のＳＩＬと異なり、弧状の軌跡ＡＴを描く。カートリッジ４００Ｊには、弧状の軌跡ＡＴに沿って、弧状の開口部４１２Ｊが形成される。プラズモンヘッド７１０が開口部４１２Ｊの外端（光ディスク２００Ｊの回転軸ＲＸから最も離れた端部）の近くに配置されているときに、光ディスク２００Ｊが回転されるならば、カートリッジ４００Ｊ内で生じた旋回流によってプラズモンヘッド７１０に付着した塵埃は効果的に除去される。弧状の軌跡ＡＴに対して上流の開口面積が下流の開口面積よりも大きくなるように、開口部４１２Ｊが形成されるならば、塵埃の除去は、より効果的になる。

開口部４１２Ｊよりも回転軸ＲＸから離間した位置に排気口が形成されてもよい。排気口は、プラズモンヘッド７１０に付着した塵埃の除去に専ら利用されてもよい。

第１実施形態乃至第１０実施形態に関連して説明された様々な特徴（例えば、フィルタ構造やシャッタ構造）は、本実施形態の光ドライブシステム３００Ｊに好適に適用される。

上述の一連の実施形態は、光ドライブシステムの例にすぎない。したがって、上述の説明は、上述の実施形態の原理の適用範囲を限定するものではない。上述の原理の真意及び範囲を逸脱することなしに、当業者は、様々な変形や組み合わせを行うことが可能であることは容易に理解されるべきである。

上述の様々な実施形態に関連して説明された例示的な光ドライブシステムは、以下の特徴を主に備える。

上述の実施形態の一局面に係る光ドライブシステムは、情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する回転可能な記録媒体が収容される収容空間を規定する壁部を有するカートリッジと、前記記録媒体を前記収容空間内で回転させる回転駆動部と、前記受光面に前記光を照射する光素子と、該光素子が前記受光面に対向する内位置と、該内位置よりも前記記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、前記光素子を移動させる移動駆動部と、を含む駆動装置と、を備える。前記壁部には、前記外位置において、前記記録媒体の回転に伴って生じた気流によって前記収容空間内の空気が排気される排気口が形成される。該排気口は、前記光素子の移動軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、前記第１面積よりも大きな第２面積で開口した第２開口領域と、に区分される。前記第２開口領域は、前記記録媒体の回転方向において、前記第１開口領域よりも上流に位置することを特徴とする。

上記構成によれば、カートリッジの壁部は、記憶媒体が収容される収容空間を規定する。駆動装置の回転駆動部は、記録媒体を収容空間内で回転させる。駆動装置の光素子は、記録媒体の受光面に光を照射する。駆動装置の移動駆動部は、内位置と、内位置よりも記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、光素子を移動させる。この結果、光素子からの光は、受光面を走査する。内位置において、光素子は受光面に対向するので、光は、光素子から受光面に照射される。この結果、情報は、光学的に処理される。

記録媒体の回転に起因する気流は、外位置において、正圧を生じさせる。壁部には、外位置において、排気口が形成されるので、収容空間内の空気は、排気口を通じて排気される。したがって、収容空間内において、塵埃は滞留しにくくなる。

排気口は、光素子の移動軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、第１面積よりも広い第２面積で開口した第２開口領域と、に区分される。第２開口領域は、記録媒体の回転方向において、第１開口領域よりも上流に位置するので、移動駆動部によって外位置に移動された光素子は、排気口から吹き出される空気に強く当たることとなる。したがって、光素子に付着した塵埃は、非接触式に除去される。この結果、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上記構成において、前記排気口は、前記外位置から前記内位置まで延びる開口部であってもよい。前記移動駆動部は、前記開口部に沿って、前記光素子を移動させ、前記情報が光学的に処理されてもよい。

上記構成によれば、移動駆動部は、外位置から内位置まで延びる開口部に沿って、光素子を移動させてもよい。光素子の移動の間、光素子からの光は、受光面を走査し、情報を光学的に処理することができる。

記録媒体の回転に起因する気流は、外位置において、正圧を生じさせるので、収容空間内の空気は、外位置の周囲の開口部から排気される。したがって、開口部は、外位置の周囲において、排気口として機能する。移動駆動部によって外位置に移動された光素子は、開口部から吹き出される空気に強く当たる。したがって、光素子に付着した塵埃は、非接触式に除去される。この結果、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上記構成において、前記壁部には、前記内位置から延びる開口部が形成されてもよい。前記移動駆動部は、前記開口部に沿って、前記光素子を移動させ、前記受光面を走査してもよい。前記排気口は、前記開口部よりも前記回転軸から離れた位置に形成されてもよい。

上記構成によれば、移動駆動部は、内位置から延びる開口部に沿って、光素子を移動させてもよい。光素子の移動の間、光素子からの光は、受光面を走査し、情報を光学的に処理することができる。

排気口は、開口部よりも回転軸から離れた位置に形成されるので、移動駆動部によって外位置に移動された光素子は、開口部から吹き出される空気に強く当たる。したがって、光素子に付着した塵埃は、非接触式に除去される。この結果、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上記構成において、前記壁部は、前記排気口が形成された第１壁と、該第１壁に対向する第２壁と、を含んでもよい。該第２壁には、前記収容空間内に空気が流入する流入口が形成されてもよい。該流入口は、前記外位置よりも前記内位置の近くに形成されてもよい。

上記構成によれば、排気口が形成された第１壁に対向する第２壁には、外位置よりも内位置の近くに形成された流入口が形成される。記録媒体の回転に起因する気流は、内位置において、負圧を生じさせるので、空気は、流入口を通じて、収容空間内に流入する。流入口から排気口へ向かう空気の流量は増加するので、移動駆動部によって外位置に移動された光素子は、排気口から吹き出される空気に強く当たる。したがって、光素子に付着した塵埃は、非接触式に除去される。この結果、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上記構成において、光ドライブシステムは、前記開口部を少なくとも部分的に閉じる閉位置と前記開口部を開く開位置との間で移動する第１シャッタ部を有するシャッタ機構を更に備えてもよい。

上記構成によれば、第１シャッタ部は、閉位置と開位置との間で移動するので、開口部の面積が可変になる。したがって、移動駆動部によって外位置に移動された光素子に当たる空気の流量は、第１シャッタ部を用いて適切に調整される。

上記構成において、前記第１シャッタ部は、前記閉位置において、前記排気口を閉じてもよい。

上記構成によれば、第１シャッタ部は、閉位置で、排気口を閉じるので、塵埃は、排気口を通じて収容空間に入り込みにくくなる。

上記構成において、前記光ドライブシステムは、前記開口部を閉じる閉位置と前記開口部を開く開位置との間で移動する第１シャッタ部と、該第１シャッタ部に連動して移動する第２シャッタ部と、を含むシャッタ機構を更に備えてもよい。前記第１シャッタ部が前記閉位置に存するならば、前記第２シャッタ部は、前記流入口を閉じてもよい。

上記構成によれば、第１シャッタ部は、閉位置で、排気口を閉じるので、塵埃は、排気口を通じて収容空間に入り込みにくくなる。第１シャッタ部が閉位置に存するならば、第２シャッタ部は、流入口を閉じる。したがって、塵埃は、流入口を通じて収容空間に入り込みにくくなる。

上記構成において、前記カートリッジは、前記収容空間内の塵埃を捕集するフィルタを含んでもよい。

上記構成によれば、フィルタは、収容空間内の塵埃を捕集するので、収容空間内で浮遊する塵埃は少なくなる。したがって、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上記構成において、前記カートリッジは、前記流入口に取り付けられたフィルタを備えてもよい。該フィルタは、前記収容空間に流入する前記空気から塵埃を捕集してもよい。

上記構成によれば、流入口に取り付けられたフィルタは、収容空間に流入する空気から塵埃を捕集するので、収容空間に流入する塵埃は少なくなる。したがって、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上記構成において、前記カートリッジは、前記収容空間内の塵埃を捕集するフィルタを含んでもよい。前記第１シャッタ部が前記閉位置に存する間、前記回転駆動部は、前記記録媒体を回転してもよい。

上記構成によれば、第１シャッタ部が閉位置に存する間、回転駆動部は、記録媒体を回転するので、収容空間内で気流が生ずる。したがって、フィルタは、収容空間内で塵埃を効率的に捕集することができる。この結果、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上記構成において、前記光素子は、前記光を用いて、前記受光面を走査し、前記記録媒体への情報の記録及び前記記録媒体に格納された情報の再生のうち少なくとも一方の光学的な情報処理を行ってもよい。

上記構成によれば、光素子は、光を用いて、受光面を走査し、記録媒体への情報の記録及び記録媒体に格納された情報の再生のうち少なくとも一方の光学的な情報処理を行う。光ドライブシステムは、高い信頼性を有するので、光学的な情報処理が適切に実行される。

上記構成において、前記光素子は、前記受光面に、前記光を集光し、近接場光を作り出してもよい。

上記構成によれば、光素子は、受光面に、光を集光し、近接場光を作り出すので、情報は、近接場光を用いて処理される。

上記構成において、前記駆動装置は、前記光素子を保持する保持部と、該保持部を弾性的に支持しながら、前記記録媒体のフォーカス方向及びトラッキング方向に前記保持部を駆動するアクチュエータと、を含んでもよい。

上記構成によれば、アクチュエータは、光素子を保持する保持部を弾性的に支持する。アクチュエータは、記録媒体のフォーカス方向及びトラッキング方向に保持部を駆動するので、受光面は適切に走査される。

上述の様々な実施形態に関連して説明された例示的なカートリッジは、以下の特徴を主に備える。

上述の実施形態の一局面に係るカートリッジは、情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する回転可能な記録媒体が収容される収容空間を規定する。カートリッジは、前記記録媒体の回転に伴って生じた気流によって前記カートリッジ内の空気が排気されるように、前記記録媒体の回転軸から離間した排気口が形成された壁部を備える。前記排気口は、前記光の走査軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、前記第１面積よりも大きな第２面積で開口した第２開口領域と、に区分される。前記第２開口領域は、前記記録媒体の回転方向において、前記第１開口領域よりも上流に位置する。

上記構成によれば、カートリッジの壁部は、記憶媒体が収容される収容空間を規定する。記録媒体の回転に起因する気流は、外位置において、正圧を生じさせる。壁部には、外位置において、排気口が形成されるので、収容空間内の空気は、排気口を通じて排気される。したがって、収容空間内において、塵埃は滞留しにくくなる。

排気口は、光の走査軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、第１面積よりも広い第２面積で開口した第２開口領域と、に区分される。第２開口領域は、記録媒体の回転方向において、第１開口領域よりも上流に位置するので、外位置において、光に干渉する塵埃は適切に除去される。

上述の様々な実施形態に関連して説明された例示的な駆動装置は、以下の特徴を主に備える。

上述の実施形態の一局面に係る駆動装置は、情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する記録媒体を回転させる回転駆動部と、前記受光面に光を照射する光素子と、該光素子が前記受光面に対向する内位置と、該内位置よりも前記記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、前記光素子を移動させる移動駆動部と、前記光素子を保持する保持部と、該保持部を弾性的に支持しながら、前記記録媒体のフォーカス方向及びトラッキング方向に前記保持部を駆動するアクチュエータと、を備える。該アクチュエータは、前記外位置において、前記光素子を、前記受光面に沿う平面に接近させる。

上記構成によれば、駆動装置の回転駆動部は、記録媒体を収容空間内で回転させる。駆動装置の光素子は、記録媒体の受光面に光を照射する。駆動装置の移動駆動部は、内位置と、内位置よりも記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、光素子を移動させる。この結果、光素子からの光は、受光面を走査する。内位置において、光素子は受光面に対向するので、光は、光素子から受光面に照射される。この結果、情報は、光学的に処理される。

記録媒体の回転に起因する気流は、外位置において、正圧を生じさせる。アクチュエータは、外位置において、光素子を、受光面に沿う平面に接近させるので、移動駆動部によって外位置に移動された光素子は、排気口から吹き出される空気に強く当たることとなる。したがって、光素子に付着した塵埃は、非接触式に除去される。この結果、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上述の様々な実施形態に関連して説明された例示的な光ドライブシステムを清浄する方法は、以下の特徴を主に備える。

上述の実施形態の一局面に係る光ドライブシステムを清浄する方法は、前記記録媒体を回転させる段階と、前記内位置から前記外位置へ、前記光素子を移動させる段階と、前記光素子を前記受光面に沿う平面に接近させ、前記記録媒体の回転に伴って生じた気流に前記光素子を曝す段階と、を有する。

上記構成によれば、記録媒体の回転に起因する気流は、外位置において、正圧を生じさせる。外位置に移動された光素子は、受光面に沿う平面に接近されるので、気流に強く当たることとなる。したがって、光素子に付着した塵埃は、非接触式に除去される。この結果、光ドライブシステムは、高い信頼性を有することとなる。

上述の実施形態の他の局面に係る光ドライブシステムを清浄する方法は、前記第１シャッタ部を前記閉位置に移動させる段階と、前記記録媒体を回転させる段階と、を有する。

上記構成によれば、第１シャッタ部は、閉位置に移動されるので、収容空間内に塵埃は入り込みにくくなる。フィルタは、記録媒体の回転に起因する気流を利用して、収容空間内の塵埃を効率的に捕集することができる。

上述の様々の実施形態の原理は、記録媒体が収容される収容空間内に浮遊する塵埃や記録媒体に光を出射する光素子に付着した塵埃を適切に除去することができる。したがって、上述の実施形態の原理は、記録媒体とレンズとの狭い間隙を必要とする装置（例えば、ＳＩＬ）に特に有効である。塵埃の適切な除去の結果、狭い間隙に塵埃が挟まりにくくなるので、上述の実施形態の原理を利用する装置（例えば、コンピュータの外部記憶装置、映像データが記録される映像記録装置や映像データを再生する映像再生装置）は、大容量のデータを取り扱うことができる。上述の実施形態の原理は、データを記憶及び／又は再生する機能を有する様々な装置（例えば、カーナビゲーションシステム、携帯型の音楽プレーヤー、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ）にも利用可能である。

Claims (17)

1. 情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する回転可能な記録媒体が収容される収容空間を規定する壁部を有するカートリッジと、
   前記記録媒体を前記収容空間内で回転させる回転駆動部と、前記受光面に前記光を照射する光素子と、該光素子が前記受光面に対向する内位置と、該内位置よりも前記記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、前記光素子を移動させる移動駆動部と、を含む駆動装置と、を備え、
   前記壁部には、前記外位置において、前記記録媒体の回転に伴って生じた気流によって前記収容空間内の空気が排気される排気口が形成され、
   該排気口は、前記光素子の移動軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、前記第１面積よりも大きな第２面積で開口した第２開口領域と、に区分され、
   前記第２開口領域は、前記記録媒体の回転方向において、前記第１開口領域よりも上流に位置することを特徴とする光ドライブシステム。
2. 前記排気口は、前記外位置から前記内位置まで延びる開口部であり、
   前記移動駆動部は、前記開口部に沿って、前記光素子を移動させ、前記情報が光学的に処理されることを特徴とする請求項１に記載の光ドライブシステム。
3. 前記壁部には、前記内位置から延びる開口部が形成され、
   前記移動駆動部は、前記開口部に沿って、前記光素子を移動させ、前記受光面を走査し、
   前記排気口は、前記開口部よりも前記回転軸から離れた位置に形成されることを特徴とする請求項１に記載の光ドライブシステム。
4. 前記壁部は、前記排気口が形成された第１壁と、該第１壁に対向する第２壁と、を含み、
   該第２壁には、前記収容空間内に空気が流入する流入口が形成され、
   該流入口は、前記外位置よりも前記内位置の近くに形成されることを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の光ドライブシステム。
5. 前記開口部を少なくとも部分的に閉じる閉位置と前記開口部を開く開位置との間で移動する第１シャッタ部を有するシャッタ機構を更に備えることを特徴とする請求項２乃至４のいずれか１項に記載の光ドライブシステム。
6. 前記第１シャッタ部は、前記閉位置において、前記排気口を閉じることを特徴とする請求項５に記載の光ドライブシステム。
7. 前記開口部を閉じる閉位置と前記開口部を開く開位置との間で移動する第１シャッタ部と、該第１シャッタ部に連動して移動する第２シャッタ部と、を含むシャッタ機構を更に備え、
   前記第１シャッタ部が前記閉位置に存するならば、前記第２シャッタ部は、前記流入口を閉じることを特徴とする請求項４に記載の光ドライブシステム。
8. 前記カートリッジは、前記収容空間内の塵埃を捕集するフィルタを含むことを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光ドライブシステム。
9. 前記カートリッジは、前記流入口に取り付けられたフィルタを備え、
   該フィルタは、前記収容空間に流入する前記空気から塵埃を捕集することを特徴とする請求項４に記載の光ドライブシステム。
10. 前記カートリッジは、前記収容空間内の塵埃を捕集するフィルタを含み、
    前記第１シャッタ部が前記閉位置に存する間、前記回転駆動部は、前記記録媒体を回転することを特徴とする請求項６又は７に記載の光ドライブシステム。
11. 前記光素子は、前記光を用いて、前記受光面を走査し、前記記録媒体への情報の記録及び前記記録媒体に格納された情報の再生のうち少なくとも一方の光学的な情報処理を行うことを特徴とする請求項１乃至１０のいずれか１項に記載の光ドライブシステム。
12. 前記光素子は、前記受光面に、前記光を集光し、近接場光を作り出すことを特徴とする請求項１乃至１１のいずれか１項に記載の光ドライブシステム。
13. 前記駆動装置は、前記光素子を保持する保持部と、該保持部を弾性的に支持しながら、前記記録媒体のフォーカス方向及びトラッキング方向に前記保持部を駆動するアクチュエータと、を含むことを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の光ドライブシステム。
14. 情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する回転可能な記録媒体が収容される収容空間を規定するカートリッジであって、
    前記記録媒体の回転に伴って生じた気流によって前記カートリッジ内の空気が排気されるように、前記記録媒体の回転軸から離間した排気口が形成された壁部を備え、
    前記排気口は、前記光の走査軌跡によって、第１面積で開口した第１開口領域と、前記第１面積よりも大きな第２面積で開口した第２開口領域と、に区分され、
    前記第２開口領域は、前記記録媒体の回転方向において、前記第１開口領域よりも上流に位置することを特徴とするカートリッジ。
15. 情報を光学的に処理するための光を用いて走査される受光面を有する記録媒体を回転させる回転駆動部と、
    前記受光面に光を照射する光素子と、
    該光素子が前記受光面に対向する内位置と、該内位置よりも前記記録媒体の回転軸から離れた外位置と、の間で、前記光素子を移動させる移動駆動部と、
    前記光素子を保持する保持部と、
    該保持部を弾性的に支持しながら、前記記録媒体のフォーカス方向及びトラッキング方向に前記保持部を駆動するアクチュエータと、を備え、
    該アクチュエータは、前記外位置において、前記光素子を、前記受光面に沿う平面に接近させることを特徴とする駆動装置。
16. 請求項１乃至１３のいずれか１項に記載の光ドライブシステムを清浄する方法であって、
    前記記録媒体を回転させる段階と、
    前記内位置から前記外位置へ、前記光素子を移動させる段階と、
    前記光素子を前記受光面に沿う平面に接近させ、前記記録媒体の回転に伴って生じた気流に前記光素子を曝す段階と、を有することを特徴とする方法。
17. 請求項１０に記載の光ドライブシステムを清浄する方法であって、
    前記第１シャッタ部を前記閉位置に移動させる段階と、
    前記記録媒体を回転させる段階と、を有することを特徴とする方法。

Images