JPWO2012039425A1 - ペースト及びその塗膜を電解質膜や電極膜とする高分子トランスデューサ - Google Patents
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Abstract
Description
具体的な非解離性粒子(C)として、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリアミド、ポリエチレンテレフタレート等の結晶性高分子からなる粒子;架橋ポリエチレン、架橋ポリプロピレン、架橋ポリスチレン、架橋ポリ塩化ビニル、架橋ポリメタクリル酸エステル、架橋ポリアクリル酸エステル、架橋ポリアクリロニトリル、架橋AS樹脂(アクリロニトリル−スチレン共重合体)粒子、架橋ABS樹脂(アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体)粒子、架橋ポリ(スチレン-メタクリル酸エステル)共重合体粒子、架橋ポリ(スチレン-アクリル酸エステル)共重合体粒子、架橋ポリテトラフルオロエチレン粒子、架橋ポリフッ化ビニリデン粒子、架橋ポリ塩化ビニリデン粒子、架橋ポリ酢酸ビニル粒子、架橋ポリビニルアルコール粒子、架橋ポリ(エチレン−酢酸ビニル)共重合体粒子、架橋ポリ(エチレン−ビニルアルコール)共重合体粒子、架橋ポリエチレングリコール粒子、架橋ポリプロピレングリコール粒子、架橋ポリエチレンテレフタレート粒子、架橋ポリブチレンテレフタレート粒子、架橋ポリアミド粒子、架橋ポリカーボネート粒子等の架橋高分子からなる粒子;ダイヤモンドパウダー、ガラスビーズ、アルミナビーズ、ジルコニアビーズ等の無機物粒子が挙げられる。
{(A)+(C)}/{(A)+(B)+(C)}×100(%)・・・(2)
式(2)中、それぞれ、(A)は高分子固体電解質、(B)は有機溶媒、(C)は非解離性粒子の質量を示す。
[{(A)+(C)+(D)}/{(A)+(B)+(C)+(D)}]×100(%)
・・・(3)
式(3)中、それぞれ、(A)は高分子固体電解質、(B)は有機溶媒、(C)は非解離性粒子、(D)は導電性微粒子の質量を示す。
膜状に成形した電解質層2の両面にペーストを塗工・乾燥することで相互に絶縁した電極膜3a,3bを形成し(図1)、必要に応じて集電体4a,4bを塗工法等により形成する(図2)方法;
フィルム基材5a上に必要に応じて集電体4aを形成した後、電極膜用ペーストを塗工・乾燥して電極層3aを形成し、その上に電解質膜用ペーストを塗工・乾燥して電解質層2を形成し、次いで電極膜用ペーストを塗工・乾燥して電極層3bを形成した後、必要に応じて集電体4bを形成し、さらに必要に応じてカバーとしてフィルム基材を貼合せる(図2)方法;
フィルム基材5a,5b上に必要に応じてそれぞれ集電体4a,4bを形成した後、電極膜用ペーストを塗工して乾燥しそれぞれ電極層3a,3bを形成し、次いで電解質膜用ペーストを、それぞれの電極層3a,3bに塗工して乾燥し、電極層3a−電解質層2、及び電極層3b−電解質層2の積層構造を形成させてできたフィルム状前駆体同士の電解質層2面同士を熱プレスし、ラミネートによって貼り合せる(図2)方法等を挙げられる。
(1)ポリα−メチルスチレン−b−ポリ(1,3−ブタジエン)−b−ポリα−メチルスチレンの水素添加物(mSEBmS):国際公開第02/40611号に開示されている方法と同様の方法で、ポリα−メチルスチレン−b−ポリ(1,3−ブタジエン)−b−ポリα−メチルスチレン型トリブロック共重合体を合成した。得られたトリブロック共重合体の数平均分子量は、ゲル浸透クロマトグラフィー(GPC)測定でポリスチレン換算により、76,000であり、核磁気共鳴(1H−NMR)から求められた1,3−ブタジエンに由来する1,4−結合量は55%、α−メチルスチレン単位の含有量は30質量%であった。合成したトリブロック共重合体のシクロヘキサン溶液を調製し、十分に窒素置換を行った耐圧容器に仕込んだ後、Ni/Al系のチーグラー型水素添加触媒を用いて、水素雰囲気下80℃で5時間の水素添加反応を行いmSEBmSを得た。得られたmSEBmSの水素添加率は1H−NMRより99.6mol%であった。
(2)無水酢酸:和光純薬工業株式会社より購入してそのまま用いた。
(3)濃硫酸:和光純薬工業株式会社より購入してそのまま用いた。
(4)ジクロロメタン:キシダ化学株式会社より購入し、モレキュラーシーブ(4A)に接触させたものを用いた。
(5)ジイソプロピルベンゼン:三井化学株式会社より購入し、そのまま用いた。
(6)1−ヘキサノール:和光純薬工業株式会社より購入し、そのまま用いた。
(7)導電性カーボンブラック:ライオン株式会社より購入した「ケッチェンブラックEC600JD」を、150℃で12時間、真空乾燥したものを用いた。一次粒径34nm。
(8)ガラスビーズ:ポッターズ・バロティーニ株式会社製「EGB731」。平均粒径20μm、アスペクト比1、真密度2.6g/cm3。
(9)架橋ポリメチルメタクリレート粒子(1):綜研化学株式会社製「MX2000」。平均粒径20μm、アスペクト比1、真密度1.2g/cm3。
(10)架橋ポリメチルメタクリレート粒子(2):綜研化学株式会社製「MX150」。平均粒径1.5μm、アスペクト比1、真密度1.2g/cm3。
(11)架橋ポリスチレン粒子:綜研化学株式会社製「SX130H」。平均粒径1.3μm、アスペクト比1、真密度1.1g/cm3。
(12)炭酸カルシウム(解離性):丸尾カルシウム株式会社製「スノーライト」。平均粒径1.7〜2.2μm。
(13)タルク(解離性):林化成株式会社製「ミクロンホワイト」。平均粒径2.8μm。
(14)ガラス繊維:オーウェンスコーニングジャパン株式会社製「チョップトストランド03−JA FT2A」。平均繊維長(長径)3mm、平均繊維径(短径)11μm。
mSEBmS355gを撹拌機付きのガラス製反応容器中にて1時間真空乾燥し、次いで、窒素で系内を置換した後、塩化メチレン3Lを加え、35℃にて2時間攪拌して溶解した。溶解後、塩化メチレン155mL中、0℃にて無水酢酸34.7mLと濃硫酸77.5mLとを反応させて得られたスルホン化剤(アセチルサルフェート)を、5分間かけて徐々に滴下した。35℃にて7時間攪拌後、10Lの蒸留水の中に攪拌しながら反応溶液を注ぎ、スルホン化mSEBmSを凝固析出した。析出した固形分を90℃の蒸留水で30分間洗浄し、さらに濾別した。この洗浄及び濾別の作業を洗浄水のpHに変化がなくなるまで繰返し、最後に濾集した重合体を真空乾燥してスルホン化mSEBmSを得た。得られたスルホン化mSEBmSのα−メチルスチレン単位のベンゼン環のスルホン化率は1H−NMR(核磁気共鳴)スペクトル測定から49.8mol%、プロトン交換容量は1.08mmol/gであった。
製造例1で得られたスルホン化mSEBmS(高分子固体電解質(A))26gを、ジイソプロピルベンゼン59gと1−ヘキサノール15gとの混合溶媒:(有機溶媒(B))に攪拌溶解させた。次いでこの溶液に、ガラスビーズ(非解離性粒子(C))12gを加えて、十分に混合してペースト(I−1)を調製した。
実施例1において、ガラスビーズ12gの代わりに、架橋ポリメチルメタクリレート(1)5.5gを用いる以外は同様の操作を行って、十分に混合してペースト(I−2)を調製した。
実施例1において、ガラスビーズ12gの代わりに、架橋ポリメチルメタクリレート(2)5.5gを用いる以外は同様の操作を行って、十分に混合してペースト(I−3)を調製した。
実施例1において、ガラスビーズ12gの代わりに、架橋ポリスチレン5gを用いる以外は同様の操作を行って、十分に混合してペースト(I−4)を調製した。
実施例1において、ガラスビーズを用いない以外は同様の操作を行ってペースト(比I−1)を調製した。
実施例1において、ガラスビーズの代わりに炭酸カルシウム12gを用いて、十分に混合してペースト(比I−2)を調製した。
実施例1において、ガラスビーズの代わりにタルク12gを用いて、十分に混合してペースト(比I−3)を調製した。
実施例1において、ガラスビーズの代わりにガラス繊維12gを用いて、十分に混合してペースト(比I−4)を調製した。
製造例1で得られたスルホン化mSEBmS(高分子固体電解質(A))23.6gを、ジイソプロピルベンゼン22.2gと1−ヘキサノール51.8gとの混合溶媒(有機溶媒(B))に攪拌溶解させた。次いで、この溶液にガラスビーズ(非解離性粒子(C))11.6g、及びケッチェンブラック(導電性微粒子(D))5.26gを加えて、精密分散乳化機(エム・テクニック株式会社製「クレアミックスCLM−0.8S」)を用い、ローター回転速度4500rpmで30分間分散処理を行うことによりペースト(II−1)を調製した。
実施例5において、ガラスビーズ11.6gの代わりに、架橋ポリメチルメタクリレート(1)5.35gを用いる以外は同様の操作を行ってペースト(II−2)を調製した。
実施例5において、ガラスビーズ11.6gの代わりに、架橋ポリメチルメタクリレート(2)5.35gを用いる以外は同様の操作を行ってペースト(II−3)を調製した。
実施例5において、ガラスビーズ11.6gの代わりに、架橋ポリスチレン4.91gを用いる以外は同様の操作を行ってペースト(II−4)を調製した。
製造例1で得られたスルホン化mSEBmS(高分子固体電解質(A))24gを、ジイソプロピルベンゼン21.6gと1−ヘキサノール50.4gとの混合溶媒(有機溶媒(B))に攪拌溶解させた。次いで、この溶液にケッチェンブラック(導電性微粒子(D))4.59gを加えて、精密分散乳化機(エム・テクニック株式会社製「クレアミックスCLM−0.8S」)を用い、ローター回転速度4500rpmで30分間分散処理を行うことによりペースト(比II−1)を調製した。
実施例5において、ガラスビーズ11.6gの代わりに炭酸カルシウム11.6gを用いてペースト(比II−2)を調製した。
実施例5において、ガラスビーズ11.6gの代わりにタルク11.6gを用いてペースト(比II−3)を調製した。
実施例5において、ガラスビーズ11.6gの代わりにガラス繊維12gを用いてペースト(比II−4)を調製した。
実施例1〜8及び比較例1〜8で得られたペーストの保存安定性評価と印刷特性評価とを行った。
ペースト(I−1)〜(I−4)、(比I−1)〜(比I−4)、(II−1)〜(II−4)及び(比II−1)〜(比II−4)を、それぞれガラス瓶に採り、蓋をした状態で25℃にて10日間静置した後、ペーストの状態を目視、及び棒でかき混ぜることにより確認した。その状態において、「変化なし」を○、「ゲル状物の発生あり又はゲル化」を△、「沈降物あり」を×、とする指標に従って評価した。
調製したペースト(I−1)〜(I−4)、(比I−1)〜(比I−4)、(II−1)〜(II−4)及び(比II−1)〜(比II−4)を、スクリーン印刷装置(ニューロング精密工業社製「LS−34TV」)を用いてテスト印刷を行った。この時、スクリーンはテトロン(ポリエステル)材料製、パターンサイズ20mm×20mm、乳材厚12μm、250メッシュのものを用いた。基材には、無延伸PPフィルム(東セロ株式会社製「GLC−50」、厚み50μm、片面コロナ処理)のコロナ処理面に繰返しテスト印刷を実施して、印刷特性に関して官能評価を行った。
A〜Dの4段階に分けた評価基準を以下に示す。
A: 問題なく印刷が可能であり、また得られた塗膜においてもダレ等による形状不良は発生しなかった
B: 問題なく印刷が可能であったが、得られた塗膜においてダレによる形状不良が発生した
C: ペーストがゲル化しており、スクリーン印刷による塗工は不可能であった
D: 印刷に用いたスクリーンのメッシュ部に、詰まりが生じ、印刷性は不良であった
また、実施例1〜4及び比較例1〜4の各ペーストは15μmの膜厚、さらに実施例5〜8及び比較例5〜8の各ペーストは100μmの膜厚に達するまでに必要な塗工回数を数えた。その所望の膜厚に達するまでの塗工回数が少ないほど、工業的経済性に有利な条件で塗膜が形成できるため好ましい。
ペースト(I−1)〜(I−4)及び(比I−1)〜(比I−4)を、離型処理を施したポリエチレンテレフタレート(PET)フィルム(帝人デュポンフィルム株式会社製、「ピューレックス A31」)の離型処理面に、クリアランス750μmのブロックコーターを用いて塗工し、100℃のホットプレート上で乾燥して塗膜を得た。この塗膜を10mm×30mmの長さにカットし、長さ方向の15mm分をクランプで挟み、固定したうえで、残りの15mmの部分を手で約10mm押し曲げた際の膜の変化について観察した。
市販の銀ペースト(藤倉化成株式会社製「ドータイトXA−954」)で集電体4a,4bを設けたポリプロピレン製フィルム5a,5b(東セロ株式会社 無延伸ポリプロピレンフィルム「GLC50」、膜厚50μm)上に、スクリーン印刷装置LS−34TVを用いて、比較例5で調製したペースト(比II−1)を塗工し、その後80℃で乾燥した。この工程を塗膜の厚みが100μmになるまで行い、電極膜3a,3bを形成し、積層体Aとした。
実施例1で調製したペースト(I−1)を、積層体Aの電極膜3a,3b上にスクリーン印刷装置LS−34TVを用いて塗工し、その後80℃で乾燥し電解質膜2を形成した。この工程を電解質膜2の膜厚が15μmになるまで行い、積層体Bを形成した。
積層体Bの二枚を、電解質膜2の面同士が接着するように重ね合わせてこの状態で100℃にて5分間プレスをすることで高分子トランスデューサ1を得た。この際、トランスデューサとしての評価を行うため、リード線12a,12bを設けた。
実施例9の電極膜と電解質膜と形成したペーストの代わりに、それぞれ実施例5、6、8及び比較例1で得られたペーストを用いること以外は、同様の作業を行い、高分子トランスデューサを製造した。電解質膜及び電極膜の組合せを表5及び表6に示す。
変形センサとしての応答感度は、高分子トランスデューサに一定変位を与えたときに発生した電圧と定義する。性能試験の測定における概要図を図3に示す。
実施例9〜13及び比較例9〜10で得られた高分子トランスデューサについて、センサ部1A(20mm×20mm)のうち、長さ方向の10mm分をクランプ11a,11bで挟み、変形センサ長で10mm分をフリーとして測定セルとした。リード線12a,12bを電圧計(キーエンス社製「NR−ST04」)に接続した。この状態で、高分子トランスデューサ1の固定端から5mmの場所に、変位発生器13の振動板13bから駆動伝達部材13aを介して1mmの変位を与えたときに発生した電圧をデータロガーで測定した。なおこの時、高分子トランスデューサ1の固定端から5mmの変位点Pの変位量を、レーザー変位計14(キーエンス社製「LK−G155」)を用いて同時に測定した。変形開始から20秒後に変形を解除した。
変形直後の発生電圧をレーザー変位計14で読み取った変形量で除して求めた信号強度(S0)、及び変形後20秒後の発生電圧をレーザー変位計で読み取った変形量で除して求めた信号強度(S20)、信号保持率=(S20/S0)×100(%)を評価した。S0及びS20は高い方が好ましく、信号保持率は100%に近いほど好ましい。実施例9〜13及び比較例9〜10における評価結果を表5及び表6に示す。
Claims (9)
- 下記化学式(1)
で示される単位を含む重合体ブロック(a−1)及び実質的にイオン基を有しておらず室温でゴム状の重合体ブロック(a−2)を含むブロック共重合体からなる高分子固体電解質(A)と、
沸点が最低でも150℃である有機溶媒(B)と、
前記有機溶媒(B)に不溶であって、長径が1μm〜100μmでアスペクト比が最大でも5である非解離性粒子(C)とを含有していることを特徴とするペースト。 - 前記アニオンY−が、カルボン酸アニオン、スルホン酸アニオン、ホスホン酸アニオンから選ばれるアニオンであることを特徴とする請求項1に記載のペースト。
- 前記非解離性粒子(C)が、非解離性重合体粒子であることを特徴とする請求項1に記載のペースト。
- 前記非解離性粒子(C)が、結晶性高分子からなる粒子、架橋高分子からなる粒子、及び無機物粒子から選ばれることを特徴とする請求項1に記載のペースト。
- 前記非解離性粒子(C)の長径に対して、最大でも1/50の平均粒子径である導電性微粒子(D)を含有していることを特徴とする請求項1に記載のペースト。
- 前記導電性微粒子(D)が、金属微粒子、金属化合物微粒子、導電性カーボン微粒子、及び導電性高分子の粉体から選ばれることを特徴とする請求項5に記載のペースト。
- 請求項1に記載のペーストを乾燥固化し膜状に形成されていることを特徴とする電解質膜。
- 請求項5に記載のペーストを乾燥固化し膜状に形成されていることを特徴とする電極膜。
- 少なくとも1つの電解質膜が、少なくとも一対の電極膜に挟まれた高分子トランスデューサであって、前記電解質膜と、導電性微粒子(D)を含有している前記電極膜との少なくとも何れかが、下記化学式(1)
で示される単位を含む重合体ブロック(a−1)及び実質的にイオン基を有しておらず室温でゴム状の重合体ブロック(a−2)を有するブロック共重合体からなる高分子固体電解質(A)と、
沸点が最低でも150℃である有機溶媒(B)と、
前記有機溶媒(B)に不溶であって、長径が1μm〜100μmでアスペクト比が最大でも5である非解離性粒子(C)とを含有しているペーストを乾燥固化して得た塗膜であることを特徴とする高分子トランスデューサ。
Priority Applications (1)
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