JPWO2011089911A1 - 荷電粒子線顕微鏡及びそれを用いた測定方法 - Google Patents
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Abstract
Description
12…照射レンズ、12’…照射レンズ制御回路、
13…コンデンサ絞り、13’…コンデンサ絞り制御回路、
14…軸ずれ補正用偏向器、14’…軸ずれ補正用偏向器制御回路、
15…スティグメータ、15’…スティグメータ制御回路、
16…イメージシフト用偏向器、16’…イメージシフト用偏向器制御回路、
17…走査用偏向器、17’…走査用偏向器制御回路、
18…対物レンズ、18’…対物レンズ制御回路、
19…試料ステージ、19’…試料ステージ制御回路、
20…投影レンズ、20’…投影レンズ制御回路、
21…軸ずれ補正用偏向器、21’…軸ずれ補正用偏向器制御回路、
22-1…明視野用電子線検出器、22’-1…明視野用電子線検出器制御回路、
22-2…暗視野用電子線検出器、22’-2…暗視野用電子線検出器制御回路、
22-3…2次電子線検出器、22’-3…2次電子線検出器制御回路、
22-4…反射電子線検出器、22’-4…反射電子線検出器制御回路、
23…散乱角度制限絞り、23’…散乱角度制限絞り制御回路、
24…エネルギー分散型X線分光器、24’…エネルギー分散型X線分光器制御回路、
25…エネルギー損失電子分光器、25’…エネルギー損失電子分光器制御回路、
26…ExB偏向器、26’…ExB偏向器制御回路、
27…反射板、
28…画像形成回路、
29…制御ソフトおよび画像処理ソフトを搭載した計算機、
29-1…複数の画像を記録する記録部、
29-2…画像間の像歪を測定する計算部、
29-3…測定された像歪に基づいて入力画像から補正画像を作成する補正部、
29-4…画像、計算結果及び補正結果を表示する表示部、
30…試料、
31…1次電子線、
32-1…低角散乱電子、
32-2…高角散乱電子、
32-3…2次電子、
32-4…反射電子、
32-5…弾性散乱透過電子線、
32-6…非弾性散乱透過電子線、
33…レーザー光、
34…レーザー光33を用いた試料高さセンサー、34’…高さセンサー制御回路
Claims (10)
- 荷電粒子発生源と、
該荷電粒子発生源から放出された荷電粒子を試料上に収束させる照射レンズと、
収束された前記荷電粒子を前記試料上で走査する偏向器と、
前記偏向器の制御部と、
前記試料を載せる試料ステージと、
前記荷電粒子を検出する検出器と、
前記偏向器の制御信号と前記検出器の出力信号から画像を形成する計算部と、
前記計算機に接続された表示部と、
を有する荷電粒子線顕微鏡であって、
前記偏向器の制御部は前記荷電粒子の走査速度を変更することが可能であり、
第1速度の走査画像と前記第1速度よりも低速の第2速度の走査画像を取得し、
前記第1速度の走査画像を用いて前記第2速度の走査画像の像歪を測定して補正する解析部を有することを特徴とする荷電粒子線顕微鏡。 - 請求項1に記載の荷電粒子線顕微鏡において、
前記解析部は、前記第1速度の走査画像と前記第2速度の走査画像を小領域に分割し、
前記第1速度の走査画像の小領域と前記第2速度の走査画像の小領域との間の視野ずれ量をパターンマッチングで測定し、
前記視野ずれ量の分布から像歪を求めることを特徴とする荷電粒子線顕微鏡。 - 請求項1に記載の荷電粒子線顕微鏡において、
前記解析部は、前記第1速度の走査画像と前記第2速度の走査画像を小領域に分割し、
前記第1速度の走査画像の小領域と前記第2速度の走査画像の小領域との間の視野ずれ量と相関値をパターンマッチングで測定し、
前記相関値が閾値以下の前記視野ずれ量は除外し、
前記視野ずれ量が除外された小領域の視野ずれ量をその周辺の小領域の視野ずれ量に基づいて補間することを特徴とする荷電粒子線顕微鏡。 - 荷電粒子発生源と、
該荷電粒子発生源から放出された荷電粒子を試料上に収束させる照射レンズと、
収束された前記荷電粒子を前記試料上で走査する偏向器と、
前記偏向器の制御部と、
前記試料を載せる試料ステージと、
前記荷電粒子を検出する検出器と、
前記偏向器の制御信号と前記検出器の出力信号から画像を形成する計算部と、
前記計算機に接続された表示部と、
を有する荷電粒子線顕微鏡であって、
前記偏向器の制御部は前記荷電粒子の走査速度を変更することが可能であり、
第1速度の走査画像と前記第1速度よりも低速の第2速度の走査画像を取得し、
前記第1速度の走査画像を用いて前記第2速度の走査画像の像歪を前記表示部に表示することを特徴とする荷電粒子線顕微鏡。 - 請求項4に記載の荷電粒子線顕微鏡において、
前記像歪に基づいて前記第2速度の走査画像の像歪を補正するか否かを選択することができることを特徴とする荷電粒子線顕微鏡。 - 請求項4に記載の荷電粒子線顕微鏡において、
前記像歪を測定して補正する解析部を有し、
前記解析部は、前記第1速度の走査画像と前記第2速度の走査画像を小領域に分割し、
前記第1速度の走査画像の小領域と前記第2速度の走査画像の小領域との間の視野ずれ量をパターンマッチングで測定し、
前記視野ずれ量の分布から像歪を求めることを特徴とする荷電粒子線顕微鏡。 - 請求項4に記載の荷電粒子線顕微鏡において、
前記像歪を測定して補正する解析部を有し、
前記解析部は、前記第1速度の走査画像と前記第2速度の走査画像を小領域に分割し、
前記第1速度の走査画像の小領域と前記第2速度の走査画像の小領域との間の視野ずれ量と相関値をパターンマッチングで測定し、
前記相関値が閾値以下の前記視野ずれ量は除外し、
前記視野ずれ量が除外された小領域の視野ずれ量をその周辺の小領域の視野ずれ量に基づいて補間することを特徴とする荷電粒子線顕微鏡。 - 試料上に荷電粒子線を走査し、試料から放出された二次信号に基づいて画像を形成する荷電粒子線顕微鏡像を用いた測定方法において、
第1速度で走査して画像を形成する第1工程と、
前記第1速度よりも低速で走査して画像を形成する第2工程と、
前記第1速度の走査画像を用いて前記第2速度の走査画像の像歪を測定する第3工程と、
測定された像歪に基づいて前記第2速度の走査画像を補正する第4工程と、
を有することを特徴とする荷電粒子線顕微鏡像を用いた測定方法。 - 請求項8に記載の荷電粒子線顕微鏡像を用いた測定方法において、
前記第3工程は、
前記第1速度の走査画像及び前記第2速度の走査画像を小領域に分割する工程と、
前記第1速度の走査画像の小領域と前記第2速度の走査画像の小領域との間の視野ずれ量をパターンマッチングで測定する工程と、
前記視野ずれ量の分布から像歪を求める工程と、
を有することを特徴とする荷電粒子線顕微鏡像を用いた測定方法。 - 請求項8記載の荷電粒子線顕微鏡像を用いた測定方法において、
前記第3工程は、
前記第1速度の走査画像と前記第2速度の走査画像を小領域に分割する工程と、
前記第1速度の走査画像の小領域と前記第2速度の走査画像の小領域との間の視野ずれ量と相関値をパターンマッチングで測定する工程と、
前記相関値が閾値以下の前記視野ずれ量は除外する工程と、
前記視野ずれ量が除外された小領域の視野ずれ量をその周辺の小領域の視野ずれ量に基づいて補間する工程と、
を有することを特徴とする荷電粒子線顕微鏡像を用いた測定方法。
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