JPWO2010123063A1 - 光学フィルタ及びディスプレイ評価システム - Google Patents

光学フィルタ及びディスプレイ評価システム Download PDF

Info

Publication number
JPWO2010123063A1
JPWO2010123063A1 JP2011510357A JP2011510357A JPWO2010123063A1 JP WO2010123063 A1 JPWO2010123063 A1 JP WO2010123063A1 JP 2011510357 A JP2011510357 A JP 2011510357A JP 2011510357 A JP2011510357 A JP 2011510357A JP WO2010123063 A1 JPWO2010123063 A1 JP WO2010123063A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
optical filter
distribution
optical
image
opening
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2011510357A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5289561B2 (ja
Inventor
坂本 隆
坂本  隆
真哉 田畑
真哉 田畑
明男 太田
明男 太田
村瀬 浩
浩 村瀬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
IIX Inc
Original Assignee
IIX Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by IIX Inc filed Critical IIX Inc
Priority to JP2011510357A priority Critical patent/JP5289561B2/ja
Publication of JPWO2010123063A1 publication Critical patent/JPWO2010123063A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5289561B2 publication Critical patent/JP5289561B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/42Diffraction optics, i.e. systems including a diffractive element being designed for providing a diffractive effect
    • G02B27/46Systems using spatial filters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M11/00Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B11/00Filters or other obturators specially adapted for photographic purposes
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N17/00Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
    • H04N17/002Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for television cameras
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N25/00Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
    • H04N25/60Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
    • H04N25/63Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise applied to dark current

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biomedical Technology (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Blocking Light For Cameras (AREA)
  • Optical Elements Other Than Lenses (AREA)

Abstract

液晶パネル(10)を評価するためのディスプレイ評価システムは、光学調整装置(20)、撮影カメラ(30)、測定装置(35)から構成される。また、液晶パネル(10)には画像信号生成装置(15)が接続されている。撮影カメラ(30)は、CCDイメージセンサ(31)を備えている。光学調整装置(20)はレンズ(221,222)から構成されている。光学調整装置(20)においては、金属板を網目状に加工し、透過率勾配を持たせている光学フィルタ(21)を絞り位置に配置する。そして、デフォーカス位置に設置されたCCDイメージセンサ(31)において、ナイキスト周波数以上のレスポンスを抑制した形状にする。これにより、モアレ模様を抑制し、かつ1ピクセル単位で解像している画像を撮影することができる。

Description

本発明は、ディスプレイの画質を評価する場合に用いる光学フィルタ及びディスプレイ評価システムに関する。
今日、液晶パネル等のディスプレイの製造ラインは、均一な品質を実現できるように構築されている。しかし、このような製造ラインにおいても、個々のディスプレイには、製造バラツキが発生する。そこで、よりよい画像を出力するディスプレイを調整するために多様な検討が行なわれている(例えば、特許文献1参照。)。この特許文献1に記載の技術では、調整対象装置の画質を、目標装置の画質に近似するように調整する。
しかし、各種の撮像デバイスを用いたカメラを使用して周期的なパターンを持つ対象物を撮影した場合、撮影した画像にモアレ模様が発生することがあるが、実際には画面上にはそのようなモアレ模様は無い。モアレ模様は液晶パネルのような格子状の模様(ピクセル格子模様)とCCDの各画素の格子が干渉して生じる模様である。
そこで、モアレ模様を除去するための検討が行なわれている(例えば、特許文献2〜4を参照。)。
例えば、特許文献2には、フラットパネル表示器の画素欠陥を検出する画質検査装置において、画質検査に供する画像データからモアレ成分を除去するための技術が開示されている。この文献に記載された技術では、撮像装置で得られる画像データからモアレ成分を抽出し、このモアレ成分の周期を検出して周期毎に配置される画素値を結んで欠陥成分を除去した複数の平滑曲線を求める。この複数の平滑曲線上に位置する画素値と、元の画像データとの差を求めて欠陥画像データを取得し、複数の平滑曲線の平均を求めてモアレ模様を含まない平滑画像データを取得する。そして、この平滑画像データと欠陥画像データとを加算し、この加算結果を検査用画像データとして画像メモリに格納する。
また、特許文献3には、LCD検査装置において、モアレ模様を低減し、検査精度の向上を図るための技術が開示されている。この文献に記載された技術では、被検査対象物であるLCDパネルを撮影するカメラと、このカメラに接続されカメラによって撮影されたLCDパネルの画像を映し出すモニタとの間に、このLCDパネルを通過した光をLCDパネルのブラックマスク部分まで広げるオプチカルローパスフィルタを設ける。
また、特許文献4には、ソフトウェアによる処理を必要とせず、より安価で簡単な構造の光学部材のみを用いてモアレ模様のない撮像画像を得るための技術が開示されている。この文献に記載された技術では、カメラと検査対象画面との間のいずれかの位置に光を散乱させる散乱透過板を挿入して撮像する。
特許第4109702号公報(第1頁、図1) 特開平11−352011号公報(第1頁、図1) 特開平8−327496号公報(第1頁、図1) 特開平11−6786号公報(第1頁、図1)
従来技術は、いずれにおいても大幅な画像の不鮮明化を伴い、対象物に存在するパターン周期と同レベルのサイズの変化や欠陥を観察したり検出したりすることは困難になるという問題があった。
液晶パネルのムラ補正を行なうにあたり、モアレ模様が撮影されると本来のムラ模様との区別がつかず問題となる。また、細かいムラ模様を撮影するためには、不必要に画像をぼやかすこともできない。
ここで、モアレ模様はディジタル信号処理理論における折り返し歪みである。この折り返し歪みが模様として見えたのがモアレ模様である。折り返し歪みとは、ナイキスト周波数以上の周波数が、サンプリングによって低周波側に現れたものである。
図11は、光の量を調整するための一般的な円形絞り50を示したものであり、開口領域により光を透過させる。
図12は、一般的な円形絞り50でのボケの形状(点像強度分布関数PSF:Point Spread Function)の例であり、図13はこの形状を2次元で表示したものである。
このような円形絞り50を用いた場合、周波数特性は図14に示すようになる。高域成分が十分に減衰されていないことが分かる。
また、一般的な光学ローパスフィルタは、水晶板で構成されCCD直前に設置される。しかしながら、水晶ローパスフィルタは水晶の複屈折(ダブリング)を利用しているため、1つの点を僅かに分離した2つの点に2重に写すことが基本である。一般には水晶板を2枚重ねて、この効果を縦横2回使用することにより、1つの点を4つに分離した4重の点としてCCD上に写す。このようなローパスフィルタでは、モアレ模様を除去することはできない。
本発明は、上記課題を解決するためになされたものであり、その目的は、このナイキスト周波数に注目し、モアレ模様を抑制し、かつ1ピクセル単位で解像している画像を撮影するための光学フィルタ及びディスプレイ評価システムを提供することにある。
上記問題点を解決するために、本発明は、複数の受光画素を備えた固体撮像素子に適用する光学フィルタであって、前記固体撮像素子における受光画素のピッチに基づいて決まるナイキスト周波数以上の周波数における空間周波数成分を抑制した波形を生成する透過率分布を設けたことを要旨とする。
本発明によれば、高域周波数成分を十分に減衰させることが可能である。そして、PSFの大きさを適切に設定してナイキスト周波数を落ち始めの点に設定すれば、ナイキスト周波数以上の周波数成分を十分に減衰し、ナイキスト周波数以下の周波数成分は良く通す理想的な光学ローパスフィルタを作成することが可能となる。
本発明の好ましい態様において、前記透過率分布を設けるために、光学フィルタを横断する少なくとも一つの横断軸に対して、正規分布の開口幅を有する開口部が設けられる。
上記態様によれば、前記横断軸を、撮影対象の周期的パターン模様(例えば、液晶パネルのような格子状模様)に合わせることにより、高周波成分を減衰させることができる。
なお、上記態様において、前記開口部を、横断軸に対して対称に配置した2つの正規分布曲線により構成することが好ましい。
これにより、横断軸に対して直交する直交軸においても、「山」形状の開口部を得ることができるので、直交軸方向においても、高周波数成分の発生を抑制することができる。
本発明の好ましい態様では、前記透過率分布は、プレートに形成された開孔の密度分布を用いて構成される。
これにより、プレートの開孔の密度分布が光学フィルタにおける透過率分布、言い換えれば光学濃度分布に対応し、プレートに対する孔加工で精密に光学濃度分布を設定することができる。
本発明の別の態様では、前記透過率分布は、透明板に形成されたドットパターンの密度分布を用いて構成される。
これにより、透明板の強度を維持しながら、透過率を容易に高くすることができる。
本発明の好ましい態様では、前記透過率分布として、固体撮像素子の受光面における光強度が正規分布になるように構成した分布を用いる。
これにより、ナイキスト周波数以上の周波数を確実に減衰させることができる。
本発明はまた、複数の受光画素を備えた固体撮像素子と、評価対象のディスプレイの画像をフォーカスする光学系部材と、前記光学系部材の絞り位置に設置され、前記固体撮像素子における受光画素のピッチに基づいて決まるナイキスト周波数以上の周波数における空間周波数成分を抑制した波形を生成する透過率分布を設けた光学フィルタとを備えたことを要旨とする。
本発明によれば、ナイキスト周波数以上の周波数成分によるモアレ模様の発生を抑制して、ディスプレイの評価を的確に行なうことができる。
上記した本発明によれば、モアレ模様を抑制し、かつ1ピクセル単位で解像している画像を撮影するための光学フィルタ及びディスプレイ評価システムを提供することができる。
本発明の一実施形態のディスプレイ評価システムの説明図。 ディスプレイ評価システムにおける光線図。 本発明のフィルタを用いた場合の光強度分布の説明図。 本発明のフィルタを用いた場合の光強度分布(2次元)の説明図。 本発明のフィルタを用いた場合の光強度分布の周波数特性の説明図。 デフォーカス量と光強度分布の周波数特性との関係の説明図であって、(a)はデフォーカス量を2倍、(b)は基準、(c)は基準の半分に変化させたときの周波数特性。 本発明の一実施形態のフィルタの説明図。 本発明の第2実施形態のフィルタの説明図であって、(a)は撮影対象の画素、(b)はフィルタ構造の説明図。 本発明の他の実施形態のフィルタの説明図であって、(a)は一つの正規分布曲線を用いた開口部、(b)は曲線上の正規分布曲線を用いた開口部。 本発明の他の実施形態のフィルタの説明図。 従来の絞りの説明図。 従来の絞りを用いた場合の光強度分布の説明図。 従来の絞りを用いた場合の光強度分布(2次元)の説明図。 従来の絞りを用いた場合の光強度分布の周波数特性の説明図。
(第1実施形態)
以下、本発明の光学フィルタ及びディスプレイ評価システムについて説明する。本実施形態では、CCDイメージセンサを用いて、調整対象の表示パネルの画質を評価する場合を想定する。ここでは、図1に示すように、調整対象の表示パネルとして、液晶パネル10を用いる。この液晶パネル10は、所定の周期(第1ピッチ)で配置された画素素子により画像を形成する。
そして、この液晶パネル10を評価するためのディスプレイ評価システムは、光学調整装置20、撮影カメラ30、測定装置35から構成される。また、液晶パネル10には画像信号生成装置15が接続されている。
ここで、撮像手段(撮像装置)としての撮影カメラ30は、光学調整装置20を介して取得した画像を撮影し、出力画像データを測定装置35に供給する。本実施形態では、撮影カメラ30には、固体撮像素子としてのCCDイメージセンサ31を備えたモノクロカメラを用いる。CCDイメージセンサ31は、所定の周期(第1ピッチとは異なる第2ピッチ)で配置された画素センサにより画像を撮影する。
測定装置35は、CCDイメージセンサ31から取得した画像の画質を評価する。
画像信号生成装置15は、液晶パネル10に、画質評価のためのテストパターン信号を供給する。このテストパターン信号に応じて、液晶パネル10上にテストパターン画像が出力される。
光学調整装置20は、液晶パネル10上に表示された画像のフォーカスを調整する装置である。光学調整装置20は光学フィルタ21、画像をフォーカスする光学系部材としてのレンズ(221,222)から構成されている。後述するようにPSF形状をなめらかな「山」形状とするため、絞り部分に入れる光学フィルタ21の周辺部分の透過率を、ほぼ「0」にする必要がある。このように透過率の低いフィルタを入れるため、レンズ(221,222)としては、十分に明るいF値のレンズを用いて設計し、フィルタを入れた後の実効F値が目的の値になるように設計する。
(光学フィルタ)
本実施形態では、デフォーカス位置に設置されたCCDイメージセンサ31の受光面でのPSFを目的の形状に設定する。具体的には、CCDイメージセンサ31における画素のピッチに基づいて決まるナイキスト周波数以上の周波数における空間周波数成分を抑制した波形を生成する透過率分布を、光学フィルタ21に設ける。このため、光学調整装置20においては、レンズ(221,222)の絞り位置に、ローパスフィルタとして光学濃度勾配を持つ光学フィルタ21を挿入する。
本実施形態で用いる光学フィルタ21は、図7に示すように、金属板(プレート)を網目状に加工することにより形成され、それによって光学フィルタ21に目的の光学濃度勾配を持たせている。具体的には、光学フィルタ21に、開孔211を設ける。この開孔211の密度分布を、光学フィルタ21の中心からの位置(21a,21b,21c)により変える。すなわち、開孔211の分布密度が光学フィルタ21の中心から径方向外側に向かって同心円的に変化(減少)するように、開孔211が光学フィルタ21に設けられる。
このようにすれば、金属板の加工精度で精密に光学濃度分布を設定することが可能となる。この網目の遮蔽率が光学濃度分布に対応する。
開孔211からなる網目模様自体は、像面では極めて細かな模様となるために、解像されずに開孔211の密度分布に応じたグラデーションを得ることができる。
(デフォーカス量の決定)
次に、デフォーカス量の決定について説明する。
液晶パネル10の画素から発せられた光は、図2に示す光路に従ってCCDイメージセンサ31に達する。ここで、光学調整装置20の焦点位置からCCDイメージセンサ31までの距離をデフォーカス量(df)とする。この場合、絞りの形状がデフォーカス量(df)に比例した大きさでCCDイメージセンサ31上に投影される。従って、デフォーカス量(df)を調整することにより、自由な大きさのデフォーカス画像(ボケ)を作ることができる。なお、ボケの形はデフォーカス量(df)に依存しない。
図3に、本実施形態の目的のボケ形状、すなわちフィルタを用いた場合の光強度分布を示す。高さ方向が光の強度、XY軸はCCDイメージセンサ31面上での位置を示す。
図4は、この光強度分布を2次元で表示したものである。横軸目盛はCCDイメージセンサ31のピッチの長さがちょうど「1」になるように正規化している。縦軸目盛は、最大光強度で正規化されている。
図5は、この形状の周波数特性を示したものである。横軸の単位は周波数で、CCDイメージセンサ31のピッチにより決まるナイキスト周波数が「1」になるように正規化している。縦軸の単位はレスポンスでdB表示されており、−40dBの場合には「1/100」となる。
本実施形態のデフォーカス量(df)は、ボケの大きさが図5になるように調整されている。ボケの形は絞り位置に入れる光学フィルタ21により決定されており、デフォーカス量を変えても変化しない。
また、図5を基準としてデフォーカス量を変化させた周波数特性を図6に示す。ここで、図6の(a)はデフォーカス量を基準の2倍、(b)は基準と同じ、(c)基準の半分に変化させたときの周波数特性である。デフォーカス量を大きくするとボケが大きくなり、低い周波数から減衰してしまう代わりに、ナイキスト周波数以上の周波数を確実に減衰させることが可能である。デフォーカス量を小さくするとボケが小さくなり、低い周波数の減衰が抑えられる代わりに、ナイキスト周波数以上の周波数を減衰させることができずに増加してしまう。このように、デフォーカス量を変化させることにより、高域周波数の減衰量と、低周波成分の通過量とのトレードオフがとれる。
ここで、液晶パネル10上の点光源に対して、デフォーカス位置における光の強度「V(r)」は正規分布となるように設定されており、下記算出式により表される。
V(r)=exp(−2*r
ここで、「r」は原点(0,0)からの距離であり、CCDイメージセンサ31のピッチ間隔と等しい長さを「1」(単位)としている。本実施形態の光学フィルタ21の透過率分布も正規分布に近似しており、デフォーカス位置において光強度が正規分布になるように補正されている。なお、透過率分布は正規分布に近い方が望ましいが、実質的に正規分布からのズレがある場合にも、モアレの発生を低減することができる。
上記算出式では、「r」を大きくしても「0」にはならないので、厳密には光の存在範囲が無限になる。これでは製作不能であるので、適当な範囲で打ち切ることになる。この打ち切りを考慮した場合の最適形状は上式とは異なるが、結果的に上記算出式と良く似た形になる。
本実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
・本実施形態では、絞り位置において、透過率勾配(光学濃度勾配)を有する光学フィルタ21を設ける。このフィルタにより、画像においてナイキスト周波数成分以上を遮断する。ここで、本実施形態の周波数特性(図5)と通常の絞りの周波数特性(図14)とを比較する。図14と図5とにおいては、ボケの大きさを調整してナイキスト周波数でのレスポンスが同一になるようにしてある。両図の周波数特性を見比べると、目的の形状では高い周波数が良く減衰されているが、一般的な形状のボケでは高い周波数が減衰しないことが分かる。
モアレ模様の発生原因はディスプレイの格子模様であり、これは高い周波数に集中している。この高い周波数を効果的に減衰することができればモアレ模様の発生を抑えることができる。従って、モアレ模様を抑制して、ディスプレイの評価を的確に行なうことができる。
・ 本実施形態では、光学フィルタ21において目的の光学濃度勾配を実現するために、金属板を網目状に加工する。一般的な減光フィルタ(NDフィルタ)を用いて光学濃度分布を精密に変化させても、この光学濃度勾配を制御することは困難である。本実施形態では、金属板の網目の遮蔽率が光学濃度分布に対応し、金属加工精度で精密に光学濃度分布を設定することができる。
(第2実施形態)
上記第1実施形態においては、光学フィルタ21に開孔211をその分布密度が同心円的に変化するように設けることにより、光学フィルタ21に透過率分布を設けた。第2実施形態においては、正規分布の開口幅を有する開口部を用いた光学フィルタを説明する。
ここでは、図8(a)に示す液晶パネル10の画素11に対して、図8(b)に示す光学フィルタ21を用いる。この光学フィルタ21は、開口部213を有する。この開口部213は、横断軸214に対して対称に配置された2つの正規分布曲線を接合した形状の縁部により構成される。本実施形態では、この横断軸214を、光軸(光学フィルタ21)の中心を通るように配置する。
この光学フィルタ21を用いる場合には、RGB各色の画素11の配置された方向(図8(a)においては水平方向)に、横断軸214を合わせる。
本実施形態によれば、以下のような効果を得ることができる。
・ 本実施形態では、開口部213は、横断軸214に対して対称に配置された2つの正規分布曲線を接合した形状を有する。液晶パネル10においては、RGB各色の画素11の相対的な輝度が異なるため、縦縞の輝度模様(周期的パターン模様)が生じる。この周期パターン模様の発生方向(ここでは水平方向)に合わせて、正規分布曲線からなる開口部を設けることにより、モアレ模様を抑制して、ディスプレイの評価を的確に行なうことができる。
・ 本実施形態では、同じ形状の正規分布曲線を対称に接合した形状の開口部213を設けることにより、横断軸に直交する直交軸(図8では垂直方向)においても、「山」形状の開口幅分布を得ることができる。これにより、直交軸における高周波数成分の発生を抑制することができる。
・ 本実施形態では、開口部213の横断軸214を、光軸(光学フィルタ21)の中心を通るように構成する。これにより、レンズの収差の発生を抑制することができる。
また、上記実施形態は以下のように変更してもよい。
○ 上記実施形態においては、液晶パネル10のモアレ模様の抑制に適用したが、調整対象の表示パネルはこれに限定されるものではない。プラズマディスプレイ(PDP)、有機ELディスプレイ、投影型プロジェクタ等のような周期的な画素により構成された画像の出力装置に適用することも可能である。
○ 上記実施形態においては、所定の周期で配置された画素センサを備えたCCDイメージセンサ31を用いて画像を撮影したが、撮像素子はこれに限定されるものではない。ディスプレイの画素配置の周期に起因してモアレ模様が発生するような周期で配置された画素センサを備えた撮像素子(例えば、CMOS撮像素子)に適用することができる。
○ 上記実施形態においては、金属板を加工して光学フィルタ21を作成した。これに代えて、透明板(例えばガラス板)上に網目模様を印刷することにより光学フィルタ21を作成することもできる。ガラス板上に、ドットの分布密度が異なるドットパターンを形成する。ドットは例えば、その分布密度が光学フィルタ21の中心から径方向外側に向かって同心円的に変化(増大)するように配置される。金属板の加工の場合には、開孔の数が多くなると金属板の強度が落ちる場合があるが、ガラス板の場合には、透過率を容易に高くすることができる。
ただし、ガラス板を用いる場合には、ガラス板を含めたレンズ設計が必要である。また、ガラス表面での不必要な反射を抑制するために、レンズと同様の低反射コーティングを施す必要がある。
このとき使用するレンズについては、絞り位置での光線の通過位置とデフォーカス時の像面への到達位置の関係が、撮像エリア全般に亘って変化しないことが望ましい。従って、これは撮像エリア全般に亘って、ほぼ無収差のレンズを用いる。
○ 上記第2実施形態においては、開口部213の縁部を、横断軸214に対して対称に正規分布曲線を接合した曲線により構成した。この縁部の形状はこれに限定されるものではなく、開口部213の開口幅が横断軸に対して正規分布になっていればよい。例えば、図9(a)に示すように、直線と正規分布曲線とを縁部とする開口部を用いることも可能である。また、図9(b)に示すように、曲線上に正規分布の開口幅を設定することにより、開口部を形成することも可能である。
また、開口部213において、横断軸214上の開口幅の分布が正規分布に近ければよい。この場合、開口幅が部分的に正規分布又は正規分布に近い分布になっている場合にも、モアレの発生を低減することができる。
○ 上記第2実施形態においては、開口部213の横断軸214を、光軸(光学フィルタ21)の中心を通るように構成したが、この位置は中心に限定されるものではない。例えば、図10に示すように、横断軸214が光学フィルタ21の中心からずれている場合にも、モアレの発生を低減することができる。
10…液晶パネル、15…画像信号生成装置、20…光学調整装置、21…光学フィルタ、211…開孔、213…開口部、214…横断軸、221,222…レンズ、30…撮影カメラ、31…CCDイメージセンサ、35…測定装置。

Claims (7)

  1. 複数の受光画素を備えた固体撮像素子に適用する光学フィルタであって、
    前記固体撮像素子における受光画素のピッチに基づいて決まるナイキスト周波数以上の周波数における空間周波数成分を抑制した波形を生成する透過率分布を設けたことを特徴とする光学フィルタ。
  2. 前記透過率分布を設けるために、光学フィルタを横断する少なくとも一つの横断軸に対して、正規分布の開口幅を有する開口部を設けたことを特徴とする請求項1に記載の光学フィルタ。
  3. 前記開口部を、横断軸に対して対称に配置した2つの正規分布曲線により構成したことを特徴とする請求項2に記載の光学フィルタ。
  4. 前記透過率分布は、プレートに形成された開孔の密度分布を用いて構成することを特徴とする請求項1に記載の光学フィルタ。
  5. 前記透過率分布は、透明板に形成されたドットパターンの密度分布を用いて構成することを特徴とする請求項1に記載の光学フィルタ。
  6. 前記透過率分布として、固体撮像素子の受光面における光強度が正規分布になるように構成した分布を用いることを特徴とする請求項4又は5に記載の光学フィルタ。
  7. 複数の受光画素を備えた固体撮像素子と、
    評価対象のディスプレイの画像をフォーカスする光学系部材と、
    前記光学系部材の絞り位置に設置され、前記固体撮像素子における受光画素のピッチに基づいて決まるナイキスト周波数以上の周波数における空間周波数成分を抑制した波形を生成する透過率分布を設けた光学フィルタと
    を備えたことを特徴とするディスプレイ評価システム。
JP2011510357A 2009-04-22 2010-04-22 光学フィルタ及びディスプレイ評価システム Active JP5289561B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011510357A JP5289561B2 (ja) 2009-04-22 2010-04-22 光学フィルタ及びディスプレイ評価システム

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009104487 2009-04-22
JP2009104487 2009-04-22
JP2011510357A JP5289561B2 (ja) 2009-04-22 2010-04-22 光学フィルタ及びディスプレイ評価システム
PCT/JP2010/057142 WO2010123063A1 (ja) 2009-04-22 2010-04-22 光学フィルタ及びディスプレイ評価システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2010123063A1 true JPWO2010123063A1 (ja) 2012-10-25
JP5289561B2 JP5289561B2 (ja) 2013-09-11

Family

ID=43011179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011510357A Active JP5289561B2 (ja) 2009-04-22 2010-04-22 光学フィルタ及びディスプレイ評価システム

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP5289561B2 (ja)
KR (2) KR20120101182A (ja)
CN (1) CN102460271B (ja)
TW (1) TWI471550B (ja)
WO (1) WO2010123063A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016024257A (ja) * 2014-07-17 2016-02-08 株式会社ニコン 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015109590A1 (en) * 2014-01-27 2015-07-30 Empire Technology Development Llc Light field filter
WO2016009493A1 (ja) * 2014-07-15 2016-01-21 株式会社イクス 画像処理方法及び該画像処理方法を実行する画像処理装置
JP6877052B2 (ja) 2017-02-09 2021-05-26 株式会社イクス 画像処理方法及び画像処理方法を実行する画像処理装置
CN109708842B (zh) * 2018-10-18 2022-07-26 北京航空航天大学 一种基于单像素成像的相机镜头点扩散函数测量方法
CN110049256B (zh) * 2019-04-23 2024-02-20 光沦科技(深圳)有限公司 一种局部自适应成像系统以及局部自适应成像控制方法
JP7443034B2 (ja) * 2019-11-29 2024-03-05 キヤノン株式会社 撮像装置、撮像アクセサリ、および、中間アクセサリ

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5967565A (ja) * 1982-10-08 1984-04-17 Minolta Camera Co Ltd 静電潜像現像方法
JPS60178820U (ja) * 1984-05-09 1985-11-27 大日本スクリ−ン製造株式会社 ロ−パスフイルタ−
US4613896A (en) * 1984-03-30 1986-09-23 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Methods and apparatus for avoiding moire in color scanners for graphic art
JPS63301934A (ja) * 1987-06-01 1988-12-08 Canon Inc 焼き付け装置
JPH04144372A (ja) * 1990-10-04 1992-05-18 Fuji Photo Film Co Ltd 撮像装置
JPH08327496A (ja) * 1995-05-29 1996-12-13 Sony Corp Lcd検査装置
JP4300617B2 (ja) * 1999-02-25 2009-07-22 株式会社ニコン 光学装置
TW518883B (en) * 1999-06-24 2003-01-21 Minolta Co Ltd Luminance characteristic measurement method and instrument for CRT
JP2004198780A (ja) * 2002-12-19 2004-07-15 Daishinku Corp 光学ローパスフィルタ、および光学ローパスフィルタを用いた撮像装置
JP4144372B2 (ja) * 2003-02-18 2008-09-03 トヨタ自動車株式会社 筒内噴射式内燃機関の制御装置
JP2006080845A (ja) * 2004-09-09 2006-03-23 Nikon Corp 電子カメラ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016024257A (ja) * 2014-07-17 2016-02-08 株式会社ニコン 露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102460271A (zh) 2012-05-16
KR20120101182A (ko) 2012-09-12
WO2010123063A1 (ja) 2010-10-28
KR20120016215A (ko) 2012-02-23
KR101245985B1 (ko) 2013-03-20
CN102460271B (zh) 2014-09-03
JP5289561B2 (ja) 2013-09-11
TW201105955A (en) 2011-02-16
TWI471550B (zh) 2015-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5289561B2 (ja) 光学フィルタ及びディスプレイ評価システム
TWI390195B (zh) 顯示面板之檢查方法及檢查裝置
TWI484283B (zh) 影像計算量測方法、影像計算量測裝置及影像檢查裝置
US11002534B2 (en) Patterned light projection apparatus and method
US20110273569A1 (en) Monitoring of optical defects in an image capture system
JP2010256471A (ja) フォーカス調整装置
JP2011033570A (ja) 光学レンズの歪曲収差の評価方法
JP2005070025A (ja) 光源テストシステム及び光源のテスト方法
JP6920009B2 (ja) 欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥観察装置
JP4661576B2 (ja) 投写画像の位置調整方法
JP2008180602A (ja) 検査装置、検査方法、検査プログラムおよびコンピュータ読み取り可能な記録媒体
KR20080099431A (ko) 부분 경면 물체의 형상측정 장치 및 그 방법
KR20010042895A (ko) 물체 특히 방출 방향에 따라 휘도가 좌우되는 물체의휘도특성을 측정하기 위한 시스템
JP2015115726A (ja) 輝度測定方法、輝度測定装置及びこれらを用いた画質調整技術
JP6212843B2 (ja) 異物検査装置、異物検査方法
JP2004186789A (ja) 画像評価装置
JP2008175768A (ja) 表示パネルの欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP2009037011A (ja) 表示撮影装置
JP6196148B2 (ja) デフォーカス制御装置およびデフォーカス制御方法
JP4365955B2 (ja) フレア率測定装置
JPH08149358A (ja) モアレ除去方法
JPH0771930A (ja) スリット光プロジェクタ
JP2001201459A (ja) 周期性パターンのムラ検査方法及び装置
JPH06258249A (ja) スジ検査方法
JP6119785B2 (ja) 異物検査装置、異物検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20130212

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130301

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130521

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130604

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5289561

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250